JPS6316252A - 側部表面上のカケの自動検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、板状物等の光反射性表面を有する側部表面上
のカケの自動検査方法に関する。

〔従来の技術およびその問題点〕

従来、タイル等の板状物表面欠陥を検査するには、主に
人の目視検査に頼っていた。し・かし目視による検査で
は■選別精度のバラツキ、および０寸法的に大きい重大
欠陥の人為的な見逃し等の欠点がある。従って、目視等
の感覚に依存しない機械的自動検査方法が検査精度およ
び能率等の観点から望ましい。

本発明者等は先に、光反射性表面を有する板状物の反射
光を利用する総合的表面検査方法を開発したが、該総合
的検査方法によっては側部表面上のカケ等の欠陥を充分
に検出することは、実質的に不可能であった。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明によって、一定方向に用送中の板状物等の被検査
体の光反射性表面を有するε１ｊ部表面上に、スポット
状又は縦方向に線状の検査光を照射し、該側部表面上の
該検査光の反射像を、該検査光の照射方向から角度をも
って設置された反射光検出装置にて検出し、線像の正常
位置からのズレにより該被検査体側部のカケを検出する
ことを特徴とする、側部カケ検査方法が提供される。

上記の方法において、各用語について以下に記述する。

（ｉ）検査光は、レーザー光のように非点減光であるの
が望ましいが、点滅周期が極めて短かい高周波光であっ
てもよい。線状に照射するとは、スポット光を高速度に
て線状に走査してもよく、または特殊レンズもしくはス
リットを用いた線状光であってもよい意味である。

（ｉｉ）反射光検出装置とは、反射光の位置変化および
光量変化を側光する固体撮像素子もしくは光電素子（ホ
トダイオード等）を有するカメラ装置を一般に意味し、
代表的には電荷転送デバイス（ＣＴ’Ｄ）、例えばｔ＝
ｉセンサーデバイス（ＰＳＤ）、電荷結合デバイス（Ｃ
ＯＤ）等のカメラ装置が好ましく使用される。

（血）本発明の方法が適用される光反射性側部表面を有
する被検査体とは、ＣＣＤカメラ、ＰＳＤカメラ等の光
検出装置により検出し得る程度の光反射性の側部表面を
有する、板状物等を意味する。

該側部表面は通常実質的に平坦であるが、ゆるい湾曲面
であってもよい。

〔実施態様〕

本発明の検査方法について、単色ブライト釉のタイルの
検査を例として、添付図面を参照しながら以下に具体的
に説明する。

（ｉ）反射光検出装置としてＣＣＤカメラを用いる本願
方法の装置の一具体例の斜視図を第１図に示す。タイル
１の搬送方向Ｘと直交するＡＢ綿線上、レーザー光発振
器（半導体レーザー）３、集光レンズ４およびシリンド
リカルレンズ５がタイル１の側面両側に（タイル搬送路
の左右、−左側は図示を省略する）設けられている。発
振器３からのレーザー光２は集光レンズへおよびシリン
ドリカルレンズ５により、タイル１の側面上に縦方向に
線状りこ照射される。一方、タイル搬送路の左右には、
レーザー光の照射方向に対し約４５°傾いた位置１＝約
４５°）に各１個のＣＣＤカメラ６（一方の側のカメラ
は図示を省略）が設置されている。ここで、タイル１、
発振器３お、よびカメラ６は実質的に同一の平面上に設
けられている。８はＣＣＤカメラ視野である。

第２および第３図は、タイル側面に線状レーザー光を照
射した場合のＣＣＤカメラ６から見た該レーザー光の像
を模式的に示した図面である。正常なタイル側面におい
てはレーザー光像Ｐ１はカメラ６からみて直線状であり
（第２図（ａ）参照）、これに対応してカメラ６の出力
信号ｓ１も　直線状となる（第２図（ｂ）参照）。一方
、カケｆのあるタイル側面においては、レーザー光の像
Ｐ２は線状からずれた形となり（第３図（ａ）参照）、
これに対応してカメラ６の出力信号ｓ２も直線状からず
れた形となる（第３図（ｂ）参照）。従って、ＣＣＤカ
メラの出力信号の乱れにより、タイル側面のカケが検出
できる。

上記の工程で、同−搬送系にてタイル１を９０’回転し
て再度検査することにより、タイルの前例側面および後
側面のカケも検出できる。また線状光の代りにスポット
光を検査光として用いて線状に走査してもよい。光照射
方向と光検出装置との角度０は通常的４５°±１０″で
ある。ＰＳＤカメラの場合も同様に実施できるが、以下
に他の態様を例示する。

（ｎ）反射光検出装置としてＰＳＤカメラを使用する本
願方法の装置の一具体例の斜視図を第４図に示す。タイ
ル１の搬送方向Ｘに対し４５°の角度をもってタイル１
の両側面上にスポット状にレーザー光２を照射するレー
ザー光発振器３（−左側の発振器３は図示を省略）がタ
イル１の側面の両側に対向して設けられている。またレ
ーザー光の照射方向に対してｅ’　（＝　９０°）の角
度をもって、一対のＰＳＤカメラ７（−左側のカメラ７
は図示を省略）が設けられている。タイル１とレーザー
光発振器３とＰＳＤカメラ７は同一平面上にある。

８′はＰＳＤカメラ視野である。

正常なタイル側面においてはレーザー光２によろ該タイ
ル側面上のスポット像Ｐ１′は常に同−位置に見え、Ｐ
ＳＤカメラ７による出力信号Ｓ１′に変化はない（第５
図（ａ）および（ｂ）参照）。

タイル側面にカケｆがあると、レーザー光のスポット像
Ｐ２′の位置がずれるため、カメラ７による出力信号８
２′に変化が生じる（第６図（ａ）および（ｂ）参照）
。この変化量の大小を信号処理して、タイル１側面の良
、不良の判定がされる。

この搬送系でタイルを９０°回転して再度検査すること
によって、四方の側部カケが検出できる。

なお、ＣＣＤカメラ装置を用いても同様に実施できる。

このようにして、目立ちやすい約０．１ｍｍ平方以上そ
して特に０．２ｍｍ平方以上のカケが、効果的に検出て
きる。

〔作用および効果〕

彼検査体側面上に線状またはスポット状に照射された検
査光を、照射方向と角度をもって設置された反射光検出
装置から見た場合、正常側面においては直線状または正
常なスポット状となる。カケのある側面においては該直
線または該スポット像が乱れた形となる。これに対応し
て、前者の出力信号は直線そして後者の出力信号は非直
線となって、側面のカケが検出される。

本方法によって、通常の総合表面検査方法によっては検
出が実質的に不可能な垂直側面のカケが検出てきる。

本発明の方法は、種々の他の個別欠陥（例えばヘコミ、
斑点、擦傷等）の検査方法および／または迎合的欠陥検
査方法と組合せて完全自動検査ラインの一工程としても
採用することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はＣＣＤカメラを使用する側部カケ検査装置のａ
賂斜視図；第２図は（ａ）正常タイル側面での線状レー
ザー光のＣＣＤカメラによる検出像、および（ｂ）該検
出像に対応する出力信号のフローチャート；第３図は、
（ａ）側面にカケを有するタイルのカケ部分での線状レ
ーザー光のＣＣＤカメラによる検出像、および（ｂ）該
検出像に対応する出力信号のフローチャート；第４図は
ＰＳＤカメラを使用する側部カケ検査装置のｙ１賂斜視
図；第５図は（ａ）正常タイル側面でのレーザー光スポ
ツト像を示す模式図および（ｂ）該スポット像に対応す
るＰ’ＳＤカメラ出力信号のフローチャート；そして第
６図は（、ａ　）　側面にカケを有するタイルのカケ部
分でのレーザー光スポツト像を示す模式図および（ｂ）
該スポット像に対応するＰＳＤカメラ出力信号のフロー
チャートである。 １・・・被検査体（タイル）、　２・・・レーザー光、
３・・・レーザー光発振器、　６・・・ＣＣＤカメラ、
７・・・ＰＳＤカメラ、　　ｆ・・・側部カケ欠陥。 特許出願人　株式会社　イナックス ｐ、　　（ａ）　　　第２図　　　ｃｂ。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）一定方向に搬送中の被検査体の光反射性表面を有
   する側部表面上に、スポット状又は縦方向に線状の検査
   光を照射し、該側部表面上の該検査光の反射像を、該検
   査光の照射方向から角度をもって設置された反射光検出
   装置にて検出し、該像の正常位置からのズレにより該被
   検査体側部のカケを検出することを特徴とする、側部カ
   ケ検査方法。
2. （２）上記の検査光の照射装置および上記の反射光検出
   装置をそれぞれ被検査体搬送路の左右両側に設置して、
   被検査体の二つの側部のカケを同時に検出する、特許請
   求の範囲第１項の方法。
3. （３）上記の側部カケ検査を、同一搬送系にて被検査体
   を水平面内で９０°回転して再度実施する、特許請求の
   範囲第１又は第２項の方法。