JPH01148937A - ポリゴンスキャナのジッタ測定装置 - Google Patents
ポリゴンスキャナのジッタ測定装置Info
- Publication number
- JPH01148937A JPH01148937A JP30745787A JP30745787A JPH01148937A JP H01148937 A JPH01148937 A JP H01148937A JP 30745787 A JP30745787 A JP 30745787A JP 30745787 A JP30745787 A JP 30745787A JP H01148937 A JPH01148937 A JP H01148937A
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- JP
- Japan
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- signal
- jitter
- polygon scanner
- pulse signal
- voltage comparator
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- Pending
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- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Lasers (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は例えばレーザプリンタ等に用いられる回転多面
鏡（ポリゴンスキャナ）の回転むらや、ポリゴンスキャ
ナの多面ミラーの回転軸への取付は位置のずれとかレー
ザ光以外の外部光の変化等によるジッタの測定装置に関
するものである。
鏡（ポリゴンスキャナ）の回転むらや、ポリゴンスキャ
ナの多面ミラーの回転軸への取付は位置のずれとかレー
ザ光以外の外部光の変化等によるジッタの測定装置に関
するものである。
（従来技術）
第３図は従来のポリゴンスキャナのジッタ測定装置の説
明図である、第４図はその測定装置によって得られる信
号の波形を示す説明図である。第３図においてｌはドラ
イブモータＭに取付けられたポリゴンスキャナである。
明図である、第４図はその測定装置によって得られる信
号の波形を示す説明図である。第３図においてｌはドラ
イブモータＭに取付けられたポリゴンスキャナである。
このポリゴンスキャナはレーザプリンタ等に組み込む前
にジッタ測定して規格に適合するか否かを判定していた
。この場合のジッタ測定方法は、ポリゴンスキャナ１の
ミラー面２にレーザ３からレーザ光を照射し、そのミラ
ー面２の異なる２点からの反射光Ｌｌ、Ｌ２をフォトダ
イオード等の光検出器４によって光／電気変換し、その
電気信号を波形整形回路５により波形整形して第４図ａ
、 ｂのパルスを得、同図Ｃに示される両パルスの時
間差Ｔ１、Ｔ２をタイムインターバルカウンタ６により
計測して時間差をデジタル的に求めるようにしている。
にジッタ測定して規格に適合するか否かを判定していた
。この場合のジッタ測定方法は、ポリゴンスキャナ１の
ミラー面２にレーザ３からレーザ光を照射し、そのミラ
ー面２の異なる２点からの反射光Ｌｌ、Ｌ２をフォトダ
イオード等の光検出器４によって光／電気変換し、その
電気信号を波形整形回路５により波形整形して第４図ａ
、 ｂのパルスを得、同図Ｃに示される両パルスの時
間差Ｔ１、Ｔ２をタイムインターバルカウンタ６により
計測して時間差をデジタル的に求めるようにしている。
この両パルス信号の時間差Ｔ１、Ｔ２の変化は測定時の
ジッタに起因するものであり、その変化はジッタそのも
のである。そこで従来はこの両パルス信号の時間差ＴＩ
、Ｔ２の変化を高速カウンタ等で測定してジッタを測定
していた。
ジッタに起因するものであり、その変化はジッタそのも
のである。そこで従来はこの両パルス信号の時間差ＴＩ
、Ｔ２の変化を高速カウンタ等で測定してジッタを測定
していた。
（発明が解決しようとする問題点）
上記のジッタ測定方法で測定されるジッタにはポリゴン
スキャナ自体の回転むらやその鏡面の加工精度、回転軸
の取付は位置のずれといったポリゴンスキャナ自体の要
因にょるジッタの外に、測定に用いるレーザ、受光素子
、波形整形回路等で発生するノイズ、レーザ光以外の外
部光などのいわゆる外部雑音の影響が全て含まれている
。このためどうしても測定誤差が生じてしまう。
スキャナ自体の回転むらやその鏡面の加工精度、回転軸
の取付は位置のずれといったポリゴンスキャナ自体の要
因にょるジッタの外に、測定に用いるレーザ、受光素子
、波形整形回路等で発生するノイズ、レーザ光以外の外
部光などのいわゆる外部雑音の影響が全て含まれている
。このためどうしても測定誤差が生じてしまう。
このような誤差要因があると受光素子４で検出される信
号の波形はすべて一定ではなく、第５図ａの信号ＡＩ（
’１Ｂｌのように広がりやレベルの異なるものが混在す
る。このような検出信号を第５図ａのしきい値レベルＳ
Ｌでスレッシュホールドすると第５図すのようにパルス
幅の異なるパルスＡ２．Ｂ２となる。
号の波形はすべて一定ではなく、第５図ａの信号ＡＩ（
’１Ｂｌのように広がりやレベルの異なるものが混在す
る。このような検出信号を第５図ａのしきい値レベルＳ
Ｌでスレッシュホールドすると第５図すのようにパルス
幅の異なるパルスＡ２．Ｂ２となる。
従って第３図の波形整形回路５により波形整形されるパ
ルスは実際には＠４図ａ、 ｂのようにパルス幅が均
一ではなく、第ｓｏｂのようにパルス幅の異なるパルス
Ａ２．Ｂ２となる。このため第３図の二つの受光素子４
で検出されるパルスは例えば第６図ａ、 ｂのように
なり、両パルスの時間差Ｔｌ、Ｔ２の変化には本来のジ
ッタ以外の要因による誤差も含まれることになり、精度
の高いジッタ測定が困難であった。
ルスは実際には＠４図ａ、 ｂのようにパルス幅が均
一ではなく、第ｓｏｂのようにパルス幅の異なるパルス
Ａ２．Ｂ２となる。このため第３図の二つの受光素子４
で検出されるパルスは例えば第６図ａ、 ｂのように
なり、両パルスの時間差Ｔｌ、Ｔ２の変化には本来のジ
ッタ以外の要因による誤差も含まれることになり、精度
の高いジッタ測定が困難であった。
（発明の目的）
本発明の目的は外的環境の影響を受けにくく、ポリゴン
スキャナ自体の要因による本来のジッタ成分だけを測定
可能な測定装置を提供することにある。
スキャナ自体の要因による本来のジッタ成分だけを測定
可能な測定装置を提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
本発明のポリゴンスキャナ用ジッタ測定装置は、レーザ
３からポリゴンスキャナ１のミラー面２にレーザ光を照
射し、そのミラー面２の異なる２点からの反射光を電気
信号に変換し、その変換された入力信号ａを波形整形回
路１５で波形整形し、波形整形された信号の時間差の変
動をジッタ量として測定するポリゴンスキャナのジッタ
測定装置において、上記波形成形回路１５は、入力信号
ａを予め定められているしきい値レベルと比較してパル
ス信号すを出力する電圧コンパレータ１１と、入力信号
ａを微分する微分器１３と、微分信号ＣのＯボルトクロ
ス点Ｏを検出し且つそのクロス点においてレベル変化す
るパルス信号ｄを出力する０ボルト検出手段１４と、こ
の０ボルト検出手段１４からのパルス信号ｄと上記電圧
コンパレータ１１からのパルス信号すとに基づいて微分
信号Ｃのゼロクロス点０においてレベル変化するパルス
信号ｅを出力する出力手段１２とを備えたものである。
３からポリゴンスキャナ１のミラー面２にレーザ光を照
射し、そのミラー面２の異なる２点からの反射光を電気
信号に変換し、その変換された入力信号ａを波形整形回
路１５で波形整形し、波形整形された信号の時間差の変
動をジッタ量として測定するポリゴンスキャナのジッタ
測定装置において、上記波形成形回路１５は、入力信号
ａを予め定められているしきい値レベルと比較してパル
ス信号すを出力する電圧コンパレータ１１と、入力信号
ａを微分する微分器１３と、微分信号ＣのＯボルトクロ
ス点Ｏを検出し且つそのクロス点においてレベル変化す
るパルス信号ｄを出力する０ボルト検出手段１４と、こ
の０ボルト検出手段１４からのパルス信号ｄと上記電圧
コンパレータ１１からのパルス信号すとに基づいて微分
信号Ｃのゼロクロス点０においてレベル変化するパルス
信号ｅを出力する出力手段１２とを備えたものである。
（作用）
本発明では第１図のようにポリゴンスキャナｌのミラー
面２にレーザ３からレーザ光を照射すると、ミラ、−面
２の異なる２点から反射光Ｌ１．Ｌ２が反射され、夫々
の反射光が光検出器４により光／電気変換され、その変
換された入力信号（第２図ａ）が増幅器ｌＯで増幅され
て波形整形回路１５に入力される。その入力信号は波形
整形回路１５の電圧コンパレータ１１において予め定め
られているしきい値レベルＳＬと比較されて第２図すの
パルス信号が得られる。
面２にレーザ３からレーザ光を照射すると、ミラ、−面
２の異なる２点から反射光Ｌ１．Ｌ２が反射され、夫々
の反射光が光検出器４により光／電気変換され、その変
換された入力信号（第２図ａ）が増幅器ｌＯで増幅され
て波形整形回路１５に入力される。その入力信号は波形
整形回路１５の電圧コンパレータ１１において予め定め
られているしきい値レベルＳＬと比較されて第２図すの
パルス信号が得られる。
一方、第２図ａの入力信号ａは微分器１３によって微分
されて出力波形が第２図Ｃのようになり、その出力の０
ボルトレベル（第２図Ｃの０点）が０ボルト検出手段１
４によって検出され、同検出手段１４からその０ボルト
点が立下りとなるパルス（第２図ｄ）が出力される。
されて出力波形が第２図Ｃのようになり、その出力の０
ボルトレベル（第２図Ｃの０点）が０ボルト検出手段１
４によって検出され、同検出手段１４からその０ボルト
点が立下りとなるパルス（第２図ｄ）が出力される。
次に第２図ｄのパルス信号と、第２図すのパルス信号と
が出力手段１２に入力され、再入力信号がプラスレベル
の場合にのみ出力手段１２からパルス信号ｅが出力され
る。そのパルス信号ｅは第２図すのパルスの立ち上りで
立ち上り、第２図ｄのパルスの立ち下りで立ち下る。
が出力手段１２に入力され、再入力信号がプラスレベル
の場合にのみ出力手段１２からパルス信号ｅが出力され
る。そのパルス信号ｅは第２図すのパルスの立ち上りで
立ち上り、第２図ｄのパルスの立ち下りで立ち下る。
この第２図ｄのパルス信号はポリゴンミラーの二点から
の反射光に基づいて第４図ａ、ｂのように出力され、両
パルスの時間差Ｔ１、Ｔ２の変化を測定することにより
ポリゴンミラーのジッタが測定される。
の反射光に基づいて第４図ａ、ｂのように出力され、両
パルスの時間差Ｔ１、Ｔ２の変化を測定することにより
ポリゴンミラーのジッタが測定される。
（実施例）
第１図は本発明の実施例における波形整形回路１５のブ
ロック図である。
ロック図である。
同図において１はポリゴンスキャナ、２はミラー面、３
はレーザ、４は受光素子などの光検出器、１０は増幅器
、１５が本発明の特徴とする波形整形回路である。
はレーザ、４は受光素子などの光検出器、１０は増幅器
、１５が本発明の特徴とする波形整形回路である。
この波形整形回路１５は電圧コンパレータ１１と、微分
回路１３と、ゼロクロスディテクタなどによる電圧コン
パレータ１４とＡＮＤ回路などによる出力手段１２とか
ら構成される。
回路１３と、ゼロクロスディテクタなどによる電圧コン
パレータ１４とＡＮＤ回路などによる出力手段１２とか
ら構成される。
電圧コンパレータ１１は入力された信号と第２図ａに示
すしきい値レベルＳＬとを比較するもので、比較結果と
して第２図すに示す信号を出力する。
すしきい値レベルＳＬとを比較するもので、比較結果と
して第２図すに示す信号を出力する。
微分器１３は第２図ａの信号を同図Ｃの微分信号とする
ものである。
ものである。
電圧コンパレータ１４は微分器１３からの入力信号とＯ
ｖ電位とを比較するもので、比較結果として第２［ｉｌ
ｄのパルス信号が得られる。
ｖ電位とを比較するもので、比較結果として第２［ｉｌ
ｄのパルス信号が得られる。
出力手段１２は電圧コンパレータ１４からのパルス信号
ｄと電圧コンパレータ１１からのパルス信号すとが共に
プラスである場合にのみ第２図ｅのパルス信号を出力す
る。第２図ｅのパルス信号は立ち下がりが第２図ａの入
力信号の頂点の位置となっている。即ち、入力信号の波
形が第５ 図ａ ′のＡＩのように裾野の狭い
鋭いものであっても、同図ａのＢｌのように裾野の広い
なだらかなものであっても第２図ａの入力信号の頂点Ｐ
の位置が正確に検出されている。従って本発明では波形
整形回路１５の出力信号ｅを信号処理することにより第
４図Ｃのように時間差Ｔ１．Ｔ２を求めることができ、
その時間差Ｔ１．Ｔ２の変化からジッタを正確に測定す
ることができる。
ｄと電圧コンパレータ１１からのパルス信号すとが共に
プラスである場合にのみ第２図ｅのパルス信号を出力す
る。第２図ｅのパルス信号は立ち下がりが第２図ａの入
力信号の頂点の位置となっている。即ち、入力信号の波
形が第５ 図ａ ′のＡＩのように裾野の狭い
鋭いものであっても、同図ａのＢｌのように裾野の広い
なだらかなものであっても第２図ａの入力信号の頂点Ｐ
の位置が正確に検出されている。従って本発明では波形
整形回路１５の出力信号ｅを信号処理することにより第
４図Ｃのように時間差Ｔ１．Ｔ２を求めることができ、
その時間差Ｔ１．Ｔ２の変化からジッタを正確に測定す
ることができる。
（発明の効果）
本発明によれば、ポリゴンスキャナ１のミラー面２から
の反射光の頂点Ｐの位置を正確に検出できるので、入力
信号ａの波形の広がりやレベルが外部環境の変化により
変化してもその影響を受けないパルスｅを得ることがで
きる。このため外部環境の影響をほとんど受けることな
く、ポリゴンスキャナ自体の要因によるジッタ成分だけ
を検出することができ、精度の高いジッタ測定が可能と
なる。
の反射光の頂点Ｐの位置を正確に検出できるので、入力
信号ａの波形の広がりやレベルが外部環境の変化により
変化してもその影響を受けないパルスｅを得ることがで
きる。このため外部環境の影響をほとんど受けることな
く、ポリゴンスキャナ自体の要因によるジッタ成分だけ
を検出することができ、精度の高いジッタ測定が可能と
なる。
第１＠は本発明の測定装置の一実施例のブロッ表図、第
２図ａ−ｅは第１図の測定装置の動作を示す波形説明図
、第３図は従来のポリゴンスキャナのジッタ測定装置の
構成図、第４図ａ−Ｃ及び第５図ａ、ｂはその従来の測
定装置の動作時の波形説明図、第６図＆”−Ｃは反射光
が外部環境の影響を受けた場合の波形説明図である。 ｌはポリゴンスキャナ ２はミラー面 ３はレーザ １１は電圧コンパレータ １２は出力手段 １３は微分器 １４はＯボルト検出手段 １５は波形整形回路 第６図 （Ｃ）Ｔｈ■ 手続補正書 昭和６３年２月２９日 １＄件の表示 特願昭６２−３０７４５７号２ 発
明の名称 ポリゴンスキャナのジッタ測定装置３
補正をする者 事件との関係 特許出願人 名称 アクト電子株式会社４ 代理人
〒１０１ ’ｆｆｉ、ｏ ３−８６６−３３２７住
所 東京都千代田区岩本町３−４−５５ 補正命令の
日付 昭和６３年２月２３日６ 補正の対象
明細書の図面の簡単な説明の欄補正の内容 明細書９頁１７行目に「第２図ａ−ｅは」とあるを「第
２図は」と訂正します。
２図ａ−ｅは第１図の測定装置の動作を示す波形説明図
、第３図は従来のポリゴンスキャナのジッタ測定装置の
構成図、第４図ａ−Ｃ及び第５図ａ、ｂはその従来の測
定装置の動作時の波形説明図、第６図＆”−Ｃは反射光
が外部環境の影響を受けた場合の波形説明図である。 ｌはポリゴンスキャナ ２はミラー面 ３はレーザ １１は電圧コンパレータ １２は出力手段 １３は微分器 １４はＯボルト検出手段 １５は波形整形回路 第６図 （Ｃ）Ｔｈ■ 手続補正書 昭和６３年２月２９日 １＄件の表示 特願昭６２−３０７４５７号２ 発
明の名称 ポリゴンスキャナのジッタ測定装置３
補正をする者 事件との関係 特許出願人 名称 アクト電子株式会社４ 代理人
〒１０１ ’ｆｆｉ、ｏ ３−８６６−３３２７住
所 東京都千代田区岩本町３−４−５５ 補正命令の
日付 昭和６３年２月２３日６ 補正の対象
明細書の図面の簡単な説明の欄補正の内容 明細書９頁１７行目に「第２図ａ−ｅは」とあるを「第
２図は」と訂正します。
Claims (1)
- レーザ３からポリゴンスキャナ１のミラー面２にレーザ
光を照射し、そのミラー面２の異なる２点からの反射光
を電気信号に変換し、その変換された入力信号ａを波形
整形回路１５で波形整形し、波形整形されたパルス信号
の時間差の変動をジッタ量として測定するポリゴンスキ
ャナのジッタ測定装置において、上記波形成形回路１５
は、入力信号ａを予め定められているしきい値レベルと
比較してパルス信号ｂを出力する電圧コンパレータ１１
と、入力信号ａを微分する微分器１３と、微分信号ｃの
０ボルトクロス点Ｏを検出し且つそのクロス点において
レベル変化するパルス信号ｄを出力する０ボルト検出手
段１４と、０ボルト検出手段１４からのパルス信号ｄと
上記電圧コンパレータ１１からのパルス信号ｂとに基づ
いて微分信号ｃのゼロクロス点Ｏにおいてレベル変化す
るパルス信号ｅを出力する出力手段１２とを備えたこと
を特徴とするポリゴンスキャナのジッタ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30745787A JPH01148937A (ja) | 1987-12-07 | 1987-12-07 | ポリゴンスキャナのジッタ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30745787A JPH01148937A (ja) | 1987-12-07 | 1987-12-07 | ポリゴンスキャナのジッタ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01148937A true JPH01148937A (ja) | 1989-06-12 |
Family
ID=17969294
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30745787A Pending JPH01148937A (ja) | 1987-12-07 | 1987-12-07 | ポリゴンスキャナのジッタ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01148937A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59176678A (ja) * | 1983-03-28 | 1984-10-06 | Toshiba Corp | 回転精度検査装置 |
| JPS61280074A (ja) * | 1985-06-04 | 1986-12-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学デイスク装置 |
-
1987
- 1987-12-07 JP JP30745787A patent/JPH01148937A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59176678A (ja) * | 1983-03-28 | 1984-10-06 | Toshiba Corp | 回転精度検査装置 |
| JPS61280074A (ja) * | 1985-06-04 | 1986-12-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学デイスク装置 |
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