JPH01141303A - 3次元加工用ティーチングセンサ - Google Patents
3次元加工用ティーチングセンサInfo
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- JPH01141303A JPH01141303A JP62299359A JP29935987A JPH01141303A JP H01141303 A JPH01141303 A JP H01141303A JP 62299359 A JP62299359 A JP 62299359A JP 29935987 A JP29935987 A JP 29935987A JP H01141303 A JPH01141303 A JP H01141303A
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Links
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- 238000003754 machining Methods 0.000 claims description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
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Landscapes
- Laser Beam Processing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
この発明は、3次元レーザ加工機に利用するティーチン
グセンサに関する。
グセンサに関する。
[従来の技術]
3次元レーザ加工においては、レーザビームと加工面と
の角度、および焦点位置が加工性能を大きく左右する要
因となっている。すなわち、高性能の加工を行うために
は、レーザビームが加工面に垂直に入射し、かつレーザ
ビームの焦点距離が加工面までの距離と一致していなけ
ればならない。
の角度、および焦点位置が加工性能を大きく左右する要
因となっている。すなわち、高性能の加工を行うために
は、レーザビームが加工面に垂直に入射し、かつレーザ
ビームの焦点距離が加工面までの距離と一致していなけ
ればならない。
このような加工を、自動的に行わせるには、3次元加工
データをあらかじめティーチングしておき、この加工デ
ータに追従してレーザビームを移動させ、加工する方法
が広くとられている。
データをあらかじめティーチングしておき、この加工デ
ータに追従してレーザビームを移動させ、加工する方法
が広くとられている。
この場合、ティーチング装置には、次のような機能が必
要である。
要である。
■自動ティーチング機能。
■加工対象(以下、ワークという)との距離、および加
工面とレーザビームとの角度を検出する機能。
工面とレーザビームとの角度を検出する機能。
■トレース線をトレースする機能。
このような機能を備えた装置として、三菱電機株式会社
の装置が知られている。
の装置が知られている。
これは、加工ヘッドのノズルチップを取り外して、その
代わりに光学的な計測センサヘヅド(トレースセンサ)
を取り付け、このトレースセンサを、第5図に示すよう
に、トレース線TLと交差する方向にジグザグに移動さ
せ(ライビングさせ)、トレースm’rt、とトレース
センサからの光ビームとが交差した時点を計測点として
検出し、この計測点の座標(x、y、z)および姿勢角
A、、A、を記憶しておき、この記憶データからティー
チングデータを自動的に作成するものである。
代わりに光学的な計測センサヘヅド(トレースセンサ)
を取り付け、このトレースセンサを、第5図に示すよう
に、トレース線TLと交差する方向にジグザグに移動さ
せ(ライビングさせ)、トレースm’rt、とトレース
センサからの光ビームとが交差した時点を計測点として
検出し、この計測点の座標(x、y、z)および姿勢角
A、、A、を記憶しておき、この記憶データからティー
チングデータを自動的に作成するものである。
この場合、トレースセンサの方向が、ワーク面と常に垂
直となるように制御しつつ、トレース線TLを倣ってい
く。また、上記ライビングのピッチしおよび振り幅Wを
あらかじめ設定することができるようになっている。
直となるように制御しつつ、トレース線TLを倣ってい
く。また、上記ライビングのピッチしおよび振り幅Wを
あらかじめ設定することができるようになっている。
[発明が解決しようとする問題点]
ところで、上述した従来の装置には、次のような欠点が
あった。
あった。
■トレースセンサ自体を移動させつつ、ライビングさせ
る必要があるため、トレースの速度が遅い。
る必要があるため、トレースの速度が遅い。
また、ティーチングのためのソフトウェアが複雑になっ
てしまう。
てしまう。
■トレースセンサをジグザグにライビングさせなければ
ならないため、トレース線が急に曲がったような場合に
は、交差点(計測点)が得にくく、十分な計測精度がで
ない。
ならないため、トレース線が急に曲がったような場合に
は、交差点(計測点)が得にくく、十分な計測精度がで
ない。
01個のトレースセンサで、ワークとの距離、ワーク加
工面とレーザビームとの傾き(角度)、およびトレース
線の検出を行っているセンサは、従来なかった。
工面とレーザビームとの傾き(角度)、およびトレース
線の検出を行っているセンサは、従来なかった。
この発明は、このような背景の下になされたもので、1
個のセンサでワークとの距離、傾き、トレース線の検出
を行うことができる3次元加工用自動ティーチングセン
サを提供することを目的とする。
個のセンサでワークとの距離、傾き、トレース線の検出
を行うことができる3次元加工用自動ティーチングセン
サを提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段]
上記問題点を解決するためにこの発明は、トレース線と
交差する方向に、一定の範囲にわたって、光束を走査す
る光束スキャナと、該光束スキャナから発光された光束
の、走査面からの反射光を受光して光電変換する位置検
出型の受光素子と、前記光束スキャナのスキャン信号と
、前記受光素子の出力信号を時分割処理し、各特待の走
査面からの距離を計測、演算し、前記受光素1’と走査
面との傾きを演算する第1の演算手段と、前記受光素子
の出力信号の急激な変化をとらえて、前記光束とトレー
ス線との交差点を検出する手段と、前記交差点の検出タ
イミングに基づき、前記トレース線の位置を演算する第
2の演算手段とを具備することを特徴とする。
交差する方向に、一定の範囲にわたって、光束を走査す
る光束スキャナと、該光束スキャナから発光された光束
の、走査面からの反射光を受光して光電変換する位置検
出型の受光素子と、前記光束スキャナのスキャン信号と
、前記受光素子の出力信号を時分割処理し、各特待の走
査面からの距離を計測、演算し、前記受光素1’と走査
面との傾きを演算する第1の演算手段と、前記受光素子
の出力信号の急激な変化をとらえて、前記光束とトレー
ス線との交差点を検出する手段と、前記交差点の検出タ
イミングに基づき、前記トレース線の位置を演算する第
2の演算手段とを具備することを特徴とする。
[作用 ]
上記構成によれば、次の作用を果たすことが可能である
。
。
■位置検出型の受光素子から出力される2系統のTi流
の比により、ワークまでの距離が求められる。
の比により、ワークまでの距離が求められる。
■レーザビームをスキャニングさせることにより、各時
点での距離がらとまるから、この距離に基づいて、ワー
ク加工面のスキャニング方向の傾きを求めることができ
る。
点での距離がらとまるから、この距離に基づいて、ワー
ク加工面のスキャニング方向の傾きを求めることができ
る。
■加工面との距離が分かるから、複数回のスキャニング
を行えば、スキャニング方向と直交する方向の傾きも求
めることができる。
を行えば、スキャニング方向と直交する方向の傾きも求
めることができる。
■位置検出型受光素子の出力電流が急激に変化する点を
検出することにより、トレース線の位置を算出すること
ができる。
検出することにより、トレース線の位置を算出すること
ができる。
[実施例コ
以下、図面を参照して、本発明の詳細な説明する。
第1実施例
第1図は、この発明の一実施例の構成を示すブロック図
である。図において、lは検出対象面である。検出対象
面1には、トレース線1aが描かれており、これと交差
する方向(矢印B方向;交差角は90度とは限ら゛ない
)に光束2がスキャニングされる。
である。図において、lは検出対象面である。検出対象
面1には、トレース線1aが描かれており、これと交差
する方向(矢印B方向;交差角は90度とは限ら゛ない
)に光束2がスキャニングされる。
光束2は、発光ダイオード(LED)等からなる光源3
より出力された光線を、投光レンズ4で収束した後、回
転するスキャナミラー5により反射したもので、この図
の矢印B方向にスキャニングする。
より出力された光線を、投光レンズ4で収束した後、回
転するスキャナミラー5により反射したもので、この図
の矢印B方向にスキャニングする。
スキャナミラー5は、モータ5aにより回転駆動され、
その回転位置がパルスジェネレータ5bにより検出され
るようになっている。
その回転位置がパルスジェネレータ5bにより検出され
るようになっている。
上記検出対象面lで反射された光束2は、受光レンズ6
で収束されてP S D (Po5ition Sen
singDetector)タイプの受光素子7に受光
される。
で収束されてP S D (Po5ition Sen
singDetector)タイプの受光素子7に受光
される。
受光素子7は、いわゆる半導体装置検出素子と呼ばれて
いるもので、高感度の大型PTNシリコンフォトダイオ
ード8の両面に、均一な抵抗率を有する抵抗層8a、8
bを形成し、一方の抵抗層8aの両端に、一対の平行電
極9a、9bを対向させて設けたものである。
いるもので、高感度の大型PTNシリコンフォトダイオ
ード8の両面に、均一な抵抗率を有する抵抗層8a、8
bを形成し、一方の抵抗層8aの両端に、一対の平行電
極9a、9bを対向させて設けたものである。
上記大型PINシリコンフォトダイオード8の面に光ス
ポットを結像すると、結像位置から光電流が発生し、こ
の光電流が抵抗層8aを流れ、電極9a、9bから取り
出される。この電流it、 i2の大きさは、各電極9
a、9bから光スポットまでの距離、つまり、抵抗値に
対応して分割される。
ポットを結像すると、結像位置から光電流が発生し、こ
の光電流が抵抗層8aを流れ、電極9a、9bから取り
出される。この電流it、 i2の大きさは、各電極9
a、9bから光スポットまでの距離、つまり、抵抗値に
対応して分割される。
よって、電極9a、9bから出力された電流11゜12
に一定の演算を施せば、光スポットの位置が求まる。
に一定の演算を施せば、光スポットの位置が求まる。
演算回路lOは、上記演算を実行するもので、各電流i
f、 i2を増幅する増幅器11a、llbと、増幅器
11a、11bの出力の比i2/ilを算出する除算器
12と、各電流i1. i2を微分する微分回路13a
、13bとを有している。
f、 i2を増幅する増幅器11a、llbと、増幅器
11a、11bの出力の比i2/ilを算出する除算器
12と、各電流i1. i2を微分する微分回路13a
、13bとを有している。
上記除算器12の出力i2/ilは、サンプルボールド
回路14によりサンプルホールドされ、演算処理装置1
5に供給される。また、微分回路13a、13bの出力
も演算処理装置15に供給される。なお、演算処理装置
15にはパルスジェネレータ5bから同期パルスSPが
供給され、スキャナミラー5の回転位置が求められるよ
うになっている。
回路14によりサンプルホールドされ、演算処理装置1
5に供給される。また、微分回路13a、13bの出力
も演算処理装置15に供給される。なお、演算処理装置
15にはパルスジェネレータ5bから同期パルスSPが
供給され、スキャナミラー5の回転位置が求められるよ
うになっている。
なお、上記構成において、スキャナミラー5とモータ5
aとパルスジェネレータ5bが光束スキャナを構成し、
演算回路10と演算処理装置!5が第1.第2の演算手
段をなし、微分回路13a。
aとパルスジェネレータ5bが光束スキャナを構成し、
演算回路10と演算処理装置!5が第1.第2の演算手
段をなし、微分回路13a。
+3bと演算処理装置が交差点を検出する手段を構成し
ている。
ている。
このような構成において、投光レンズ4と検出対象面l
との間の距離をQ1投光レンズ4と受光レンズ6との間
の距離をA1受光レンズ6の焦点距離をf、受光素子7
の受光範囲をC1受光素子7の中心と受光スポットとの
距離をXとすると、次の式が成立する。
との間の距離をQ1投光レンズ4と受光レンズ6との間
の距離をA1受光レンズ6の焦点距離をf、受光素子7
の受光範囲をC1受光素子7の中心と受光スポットとの
距離をXとすると、次の式が成立する。
i2/1l=(C/ 2− x)/(C/ 2− x)
−−(1)1)=Af/x ・・・・・・ (2)
これらの式から、 Q= (2A f(i2/il+ 1 ))/ (C(
i2/il −1))・・・・・・(3) が成立する。
−−(1)1)=Af/x ・・・・・・ (2)
これらの式から、 Q= (2A f(i2/il+ 1 ))/ (C(
i2/il −1))・・・・・・(3) が成立する。
したがって、比i2/ilを計測することにより、検出
対象面Iまでの距離Qを求めることができる。
対象面Iまでの距離Qを求めることができる。
この場合、スキャナミラー5のドライブモータ5aの回
転位置を、パルスジェネレータ5bから出力された同期
パルス信号SPにより計測すれば、各回転位置毎の距離
Q、、 Qt、 Q、、・・・・・・Qnを知ることが
できる。また、複数回のスキャニングを行い、各スキャ
ニング毎の距離を求めることにより、スキャニング方向
と直交する方向の、検出対象面lの傾きを求めることが
できる。
転位置を、パルスジェネレータ5bから出力された同期
パルス信号SPにより計測すれば、各回転位置毎の距離
Q、、 Qt、 Q、、・・・・・・Qnを知ることが
できる。また、複数回のスキャニングを行い、各スキャ
ニング毎の距離を求めることにより、スキャニング方向
と直交する方向の、検出対象面lの傾きを求めることが
できる。
さらに、微分回路13a、13bにより、電流i1.
i2の急激な低下をとらえることにより、トレース線1
aと、スキャニングビーム2とが交差したタイミングを
知ることができる。
i2の急激な低下をとらえることにより、トレース線1
aと、スキャニングビーム2とが交差したタイミングを
知ることができる。
こうして、上述した「作用」の欄で述べた各機能を果た
すことができる。
すことができる。
第2実施例
第3図、第4図は、この発明の第2実施例の要部の構成
を示すものである。
を示すものである。
これは、−列に並べられた多数のLEDからなるスキャ
ナ21を有し、上記LEDひとっを順次点灯することに
より、スキャニングビーム2を形成するものである。
ナ21を有し、上記LEDひとっを順次点灯することに
より、スキャニングビーム2を形成するものである。
第4図は、このスキャナ21の電気的構成を示すもので
、シフトレジスタ22と、その並列出力端01〜Onに
接続されたトランジスタTrl=Trnからなるドライ
バ23とから構成され、シフトレジスタ22に入力され
るクロックにより、スキャナ21のLEDが順次点灯さ
れるようになっている。なお、第4図中、Cは平滑用の
コンデンサ、Rは電源供給用の抵抗である。
、シフトレジスタ22と、その並列出力端01〜Onに
接続されたトランジスタTrl=Trnからなるドライ
バ23とから構成され、シフトレジスタ22に入力され
るクロックにより、スキャナ21のLEDが順次点灯さ
れるようになっている。なお、第4図中、Cは平滑用の
コンデンサ、Rは電源供給用の抵抗である。
この第2実施例でも第1実施例と同様の作用・効果が得
られることは明らかである。
られることは明らかである。
[発明の効果]
以上説明した構成としたので、この発明は、次の効果を
上げることができる。
上げることができる。
01個のセンサで、ワークとの距離、傾き、およびトレ
ース線の検出が可能である。このため、高速かつ安価な
自動ティーチング装置を提供することができる。
ース線の検出が可能である。このため、高速かつ安価な
自動ティーチング装置を提供することができる。
■センサをジグザグに動かす必要がないため、高速、か
つ高精度でトレースが可能である。
つ高精度でトレースが可能である。
第1図はこの発明の第1実施例の構成を示すブロック図
、第2図は同実施例の演算部の構成を示すブロック図、
第3図はこの発明の第2実施例の要部の構成を示す斜視
図、第4図は同実施例のスキャナの構成を示す回路図、
第5図は従来の装置の動作を説明するための図である。 1・・・・・・検出対象面、la・・・・・・トレース
線、5・・・・・・スキャナミラー、5a・・・・・・
モータ、5b・・・・・・パルスジェネレータ、7・・
・・・・PSD (受光素子)、10・・・・・・演算
回路、12・・・・・・除算回路、13a。 tab・・・・・・微分回路、15・・・・・・演算処
理装置。
、第2図は同実施例の演算部の構成を示すブロック図、
第3図はこの発明の第2実施例の要部の構成を示す斜視
図、第4図は同実施例のスキャナの構成を示す回路図、
第5図は従来の装置の動作を説明するための図である。 1・・・・・・検出対象面、la・・・・・・トレース
線、5・・・・・・スキャナミラー、5a・・・・・・
モータ、5b・・・・・・パルスジェネレータ、7・・
・・・・PSD (受光素子)、10・・・・・・演算
回路、12・・・・・・除算回路、13a。 tab・・・・・・微分回路、15・・・・・・演算処
理装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 トレース線と交差する方向に、一定の範囲にわたって
、光束を走査する光束スキャナと、 該光束スキャナから発光された光束の、走査面からの反
射光を受光して光電変換する位置検出型の受光素子と、 前記光束スキャナのスキャン信号と、前記受光素子の出
力信号を時分割処理し、各時毎の走査面からの距離を計
測、演算し、前記受光素子と走査面との傾きを演算する
第1の演算手段と、 前記受光素子の出力信号の急激な変化をとらえて、前記
光束とトレース線との交差点を検出する手段と、 前記交差点の検出タイミングに基づき、前記トレース線
の位置を演算する第2の演算手段とを具備することを特
徴とする3次元加工用ティーチングセンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62299359A JPH01141303A (ja) | 1987-11-27 | 1987-11-27 | 3次元加工用ティーチングセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62299359A JPH01141303A (ja) | 1987-11-27 | 1987-11-27 | 3次元加工用ティーチングセンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01141303A true JPH01141303A (ja) | 1989-06-02 |
Family
ID=17871534
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62299359A Pending JPH01141303A (ja) | 1987-11-27 | 1987-11-27 | 3次元加工用ティーチングセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01141303A (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61108485A (ja) * | 1984-10-29 | 1986-05-27 | Mitsubishi Electric Corp | レーザ加工機の自動ティーチング方法 |
JPS61242779A (ja) * | 1985-04-18 | 1986-10-29 | アマダ エンジニアリング アンド サ−ビス カンパニ− インコ−ポレ−テツド | レ−ザ加工装置におけるレ−ザ光の傾斜及び焦点を検出する方法 |
JPS6215063A (ja) * | 1985-07-10 | 1987-01-23 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 罫書き線追従装置における距離、姿勢制御装置 |
JPS62228106A (ja) * | 1985-12-03 | 1987-10-07 | Yukio Sato | 形状計測方法及び装置 |
-
1987
- 1987-11-27 JP JP62299359A patent/JPH01141303A/ja active Pending
Patent Citations (4)
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