JPH01140155A - レジスト剥離剤 - Google Patents

レジスト剥離剤

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Publication number
JPH01140155A
JPH01140155A JP29765487A JP29765487A JPH01140155A JP H01140155 A JPH01140155 A JP H01140155A JP 29765487 A JP29765487 A JP 29765487A JP 29765487 A JP29765487 A JP 29765487A JP H01140155 A JPH01140155 A JP H01140155A
Authority
JP
Japan
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stripping agent
resist
resist stripping
alcohol
circuit board
Prior art date
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Pending
Application number
JP29765487A
Other languages
English (en)
Inventor
Akio Asano
浅野 昭雄
Kazuki Jinushi
地主 一樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Glass Co Ltd filed Critical Asahi Glass Co Ltd
Priority to JP29765487A priority Critical patent/JPH01140155A/ja
Publication of JPH01140155A publication Critical patent/JPH01140155A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/42Stripping or agents therefor
    • G03F7/422Stripping or agents therefor using liquids only
    • G03F7/426Stripping or agents therefor using liquids only containing organic halogen compounds; containing organic sulfonic acids or salts thereof; containing sulfoxides

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はプリント基板や半導体の製造時に用いられるレ
ジスト剥離剤に関するものである。
[従来の技術] プリント基板や半導体回路を作成する場合、最終的にエ
ツチング後のレジストを剥離する工程がある。従来、こ
の工程に塩化メチレン、テトラクロルエチレン、0−ジ
クロルベンセン等の塩素系溶剤が使われている。
[発明の解決し、ようとする問題点] 本発明は従来使用されていた塩素系溶剤は地下水汚染の
点から好ましくないため、その使用量を抑えるべく塩素
系溶剤にかわる新規のレジスト剥離剤を提供することを
目的とするものである。
E問題点を解決するための手段] 本発明は前述の目的を達成すべくなされたものであり、
ジクロロジフルオロエタンを有効成分として含有するレ
ジスト剥離剤を提供するものである。
本発明のレジスト剥離剤の有効成分であるジクロロジフ
ルオロエタンは、不燃性でレジスト剥離力に優れ、プリ
ント基板や半導体の材質に悪影響の少ない優れた溶剤で
ある。ジクロロジフルオロタンは、1.2−ジクロロ−
1,2−ジフルオロエタン(以下R132という)、1
.1−ジクロロ−2,2−ジフルオロエタン(以下RI
’32aとい’))、1.2−ジクロロ−1,1−ジフ
ルオロエタン(以下RI32bという)、及び1.1−
ジクロロ−1,2−ジフルオロエタン(以下R132c
という)の4種類の異性体が知られているが、これらを
単独であるいはこれら2種以上の混合物として用いるこ
とができる。
本発明のレジスト剥離剤には、各種の目的に応じてその
他の各種成分を含有させることができる。例えば、レジ
スト剥離力を高めるために、炭化水素類、アルコール類
、ケトン類、塩素化炭化水素類、芳香族類又はエステル
類等の有機溶剤から選ばれる少なくとも1g!を含有さ
せることができる。これらの有機溶剤のレジスト剥離剤
中の含有割合は、0〜50重量%、好ましくは10〜4
0重量%、さらに好ましくは20〜30重量%である。
ジクロロジフルオロエタンと有機溶剤との混合物に共沸
組成が存在する場合には、その共沸組成での使用が好ま
しい。
炭化水素類としては炭素数1−15の直鎖又は環状の飽
和又は不飽和炭化水素類が好ましく、n−ペンタン、イ
ソペンタン、n−ヘキサン、イソヘキサン、2−メチル
ペンタン、2.2−ジメチルブタン、2.3−ジメチル
ブタン、n−へブタン、イソへブタン、3−メチルヘキ
サン、2.4−ジメチルペンタン、n−オクタン、2−
メチルへブタン、3−メチルへブタン、4−メチルへブ
タン、2.2−ジメチルヘキサン、2.5−ジメチルヘ
キサン、3.3−ジメチルヘキサン、2−メチル−3−
エチルペンタン、3−メチル−3−エチルペンタン、2
゜3、3− トリメチルペンタン、2.3.4−トリメ
チルペンタン、2.2.3− トリメチルペンタン、イ
ソオクタン、ノナン、2.2.5−トリメチルヘキサン
、デカン、ドデンカン、1−ペンテン、2−ペンテン、
l−ヘキセン、1−オクテン、1−ノネン、1−デセン
、シクロペンタン、メチルシクロペンタン、シクロヘキ
サン、メチルシクロヘキサン、エチルシクロヘキサン、
ビシクロヘキサン、シクロヘキセン、a・−ピネン、ジ
ペンテン、デカリン、テトラリン、アミジノ、アミルナ
フタレン等から選ばれるものである。より好ましくは、
n−ペンタン、n−ヘキサン、n−へブタン等である。
アルコール類としては、炭素数1−ITの鎖状又は環状
の飽和又は不飽和アルコール類が好ましく、メタノール
、エタノール、n−プロピルアルコール、イソプロピル
アルコール、n−ブチルアルコール、5ec−ブチルア
ルコール、イソブチルアルコール、ter L−ブチル
アルコール。
ペンチルアルコール、5eC−アミルアルコール、l−
エチル−1−プロパツール、2−メチル−1−ブタノー
ル、イソペンチルアルコール、tert−ペンチルアル
コール、3−メチル−2−ブタノール、ネオペンチルア
ルコール、1−ヘキサノール、2−メチル−1−ペンタ
ノール、4−メチル−2−ペンタノール、2−エチル−
1−ブタノール、1−ヘプタツール、2−ヘプタツール
、3−ヘプタツール、l−オクタノール、2−オクタノ
ール、2−エチル−I−ヘキサノール、1−ノヂノール
、3.5.5− トリメチル−1°−ヘキサノール、1
−デカノール、1−ウンデカノール、1−ドデカノール
、アリルアルコール、プロパルギルアルコール、ベンジ
ルアルコール、シクロヘキサノール、I−メチルシクロ
ヘキサノール、2−メチルシクロヘキサノール、3−メ
チルシクロヘキサノール、4−メチルシクロヘキサノー
ル、a−テルピネオール、アビニチノール、2.6−シ
メチルー4−ヘプタツール、トリメチルノニルアルコー
ル、テトラデシルアルコール、ヘプタデシルアルコール
等から選ばれるものである。より好ましくはメタノール
、エタノール、イソプロピルアルコール等である。
ケトン類としては%R−CD−R’ 、 R−CD、 
R−CD−R” −「二  Hlli ] CQ−R”、R−CQ−R’、 R−co−F (ここ
で、R,It’、R”は炭素数1〜9の飽和又は不飽和
炭化水素基)のいずれかの一般式で示されるものが好ま
しく、アセトン、メチルエチルケトン、2−ペンタノン
、3−ペンタノン、2−ヘキサノン、メチル−n−ブチ
ルケトン、メチルブチルケトン、2−ヘプタノン、4−
ヘプタノン、ジイソブチルケトン、アセトニルアセトン
、メシチルオキシド、ホロン、メチル−n−アミルケト
ン、エチルブチルケトン、メチルへキシルケトン、シク
ロヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、イソホロン、
2.4−ペンタンジオン、ジアセトンアルコール、アセ
トフェノン、フェンチョン等から選ばれるものである。
より好ましくはアセトン、メチルエチルケトン等である
塩素化炭化水素類としては、炭素数1〜2の飽和又は不
飽和、塩素化炭化水素類が好ましく、塩化メチレン、四
塩化炭素、1.1−ジクロルエタン、1.2−ジクロロ
エタン、I、 1. i トリクロルエタン、1,1.
2−トリクロルエタン、l、 l、 1.2−テトラク
ロルエタン、1,1.2.2−テトラクロルエタン、ペ
ンタクロルエタン、1.1−ジクロルエチレン、1.2
−ジクロルエチレン、トリクロルエチレン、テトラクロ
ルエチレン等から選ばれるものである。より好ましくは
塩化メチレン、1、 I、l−トリクロルエタン、トリ
クロルエチレン、テトラクロルエチレン等である。
芳香族類としては、ベンセン誘導体、ナフタレン誘導体
が好ましく、ベンセン、トルエン、キシレン、エチルベ
ンゼン、イソプロピルベンゼン、ジエチルベンゼン、第
2ブチルベンセン、トリエチルベンゼン、ジイソプロピ
ルベンセン、スチレン、アルキルベンゼンスルホン酸、
フェノール、メシチレン、ナフタレン、テトラリン、ブ
チルベンゼン、p−シメン、シクロヘキシルベンゼン、
ペンチルベンゼン、ジベンチルベンゼン、ドデシルベン
ゼン、ビフェニル、0−クレゾール、m−クレゾール、
キシレノール等から選ばれるものである。より好ましく
は、アルキルベンゼンスルホン酸、フェノール等である
エステル類としては、次の一般式で示されるものが好ま
しく、R,−COO−R2,R1−C−R3−C00−
R,。
OR。
0OR4 (ここでRr、 L、 Ra、 R4,Rs、 Reは
11又は011又は炭素数1〜19の飽和ないし、不飽
和結合を有する炭化水素基。) 具体的には、ギ酸メチル、ギ酸エチル、ギ酸プロピル、
ギ酸ブチル、ギ酸イソブチル、ギ酸ペンチル、酢酸メチ
ル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸イソプロピル、酢
酸ブチル、酢酸イソブチル、酢酸5ec−ブチル、酢酸
ペンチル、酢酸イソペンチル、3−メトキシブチルアセ
テート、酢酸5ec−ヘキシル、2−エチルブチルアセ
テート、2−エチルヘキシルアセテート、酢酸シクロヘ
キシル、酢酸ベンジル、プロピオン酸メチル、プロピオ
ン酸エチル、プロピオン酸ブチル、プロピオン酸イソペ
ンチル、酪酸メチル、酪酸エチル、酪酸ブチル、酪酸イ
ソペンチル、イソ酪酸イソブチル、2−ヒドロキシ−2
−メチルプロピオン酸エチル、ステアリン酸ブチル、ス
テアリン酸ペンチル、安息香酸メチル、安息香酸エチル
、安息香酸プロピル、安息香酸ブチル、安息香酸イソペ
ンチル、安息香酸ベンジル、アビエチン酸エチル、アビ
エチン酸ベンジル、アジピン酸ビス−2−エチルヘキシ
ル、γ−プチロラクト、シュウ酸ジエチル、シュウ酸ジ
ブチル、シュウ酸ジベンチル、マロン酸ジエチル、マレ
イン酸ジメチル、マレイン酸ジエチル、マレイン酸ジブ
チル、酒石酸ジブチル、クエン酸トリブチル、セバシン
酸ジブチル、セバシン酸ビス−2−エチルヘキシル、フ
タル酸ジメチル、フタル酸ジエチル、フタル酸ジブチル
、フタル酸ビス−2−エチルヘキシル、フタル酸ジオク
チル等から選ばれるものある。より好ましくは酢酸メチ
ル、酢酸エチル等である。
本発明により剥離し得るレジストとしては、何ら限定さ
れず、ポジ形またはネガ形の光露光用レジスト、遠紫外
露光用レジスト、X線又は電子線用レジストを挙げるこ
とができる。光露光用レジストの材質にはフェノール及
びクレゾールノボラック樹脂なベースにしたキノンジア
ジド系、シス−1,4−ポリイソプレンを主成分とする
環化ゴム系、ポリけい皮酸系等があり、遠紫外用レジス
トにはポリメチルメタアクリレート、ポリメチルイソプ
ロペニルケトン等があり、電子線、X線レジストにはポ
リメタフルル酸メチル1、メタクリル酸グリシジル−ア
クリル酸エチル共重合体、メタアクリル酸メチル−メタ
クリル酸共重合体等が知られているが、本発明のレジス
ト剥離剤はいずれにも有効である。
レジスト剥離方法も何ら限定されず、通常のスプレー法
、浸漬して攪拌したり、揺動したり、超音波を作用させ
たりする方法等を採用することができる。
[実施例] 実施例1−10 下記第1表に示すレジスト剥離剤を用いてレジスト剥離
試験を行なった。フォトレジストフィルム(Lamin
er  ;ダイナケム社製)がラミネートされたプリン
ト基板(銅張積層板)を用い露光、現像、エツチング工
程にて回路を作成後、レジスト剥離剤に常温で15分間
浸漬し、取出後顕微鏡にて硬化膜の剥離状況を観察した
結果を第1表に示す。
第1表 ()内は混合比[重量%] O:良好に剥離できる Δ:少量残存 ×:かなり残存 [発明の効果] 本発明のレジスト剥離剤は実施例から明らかなようにレ
ジスト剥離効果に優れたものである。
又、従来の塩素系剥離剤に比べ、プリント配線板に使わ
れるプラスチック等に対し悪影響が少ない点も有利であ
る。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ジクロロジフルオロエタンを有効成分として含有
    するレジスト剥離剤。
  2. (2)レジスト剥離剤中には、炭化水素類、アルコール
    類、ケトン類、塩素化炭化水素類、芳香族類又はエステ
    ル類から選ばれる少なくとも1種が含まれている特許請
    求の範囲第1項記載のレジスト剥離剤。
JP29765487A 1987-11-27 1987-11-27 レジスト剥離剤 Pending JPH01140155A (ja)

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JP29765487A JPH01140155A (ja) 1987-11-27 1987-11-27 レジスト剥離剤

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5066417A (en) * 1989-07-20 1991-11-19 E. I. Du Pont De Nemours And Company Binary azeotropic compositions of 2,2-dichloro-1,2-difluoroethane with methanol, ethanol, or trans-1,2-dichloroethylene
US5240634A (en) * 1990-03-12 1993-08-31 E. I. Du Pont De Nemours And Company Ternary azeotropic compositions of 1,1-dichloro-1,2-difluoroethane and cis-1,2-dichloroethylene with methanol or ethanol or n-propanol

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5066417A (en) * 1989-07-20 1991-11-19 E. I. Du Pont De Nemours And Company Binary azeotropic compositions of 2,2-dichloro-1,2-difluoroethane with methanol, ethanol, or trans-1,2-dichloroethylene
US5240634A (en) * 1990-03-12 1993-08-31 E. I. Du Pont De Nemours And Company Ternary azeotropic compositions of 1,1-dichloro-1,2-difluoroethane and cis-1,2-dichloroethylene with methanol or ethanol or n-propanol

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