JPH01140154A - レジスト剥離剤 - Google Patents

レジスト剥離剤

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JPH01140154A
JPH01140154A JP29765387A JP29765387A JPH01140154A JP H01140154 A JPH01140154 A JP H01140154A JP 29765387 A JP29765387 A JP 29765387A JP 29765387 A JP29765387 A JP 29765387A JP H01140154 A JPH01140154 A JP H01140154A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resist
stripping agent
fluoroethane
dichloro
alcohol
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP29765387A
Other languages
English (en)
Inventor
Akio Asano
浅野 昭雄
Kazuki Jinushi
地主 一樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Priority to JP29765387A priority Critical patent/JPH01140154A/ja
Publication of JPH01140154A publication Critical patent/JPH01140154A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/42Stripping or agents therefor
    • G03F7/422Stripping or agents therefor using liquids only
    • G03F7/426Stripping or agents therefor using liquids only containing organic halogen compounds; containing organic sulfonic acids or salts thereof; containing sulfoxides

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はプリント基板や半導体の製造時に用いられるレ
ジスト剥離剤に関するものである。
[従来の技術] プリント基板や半導体回路を作成する場合。
最終的にエツチング後のレジストを剥離する工程がある
。従来、この工程に塩化メチレン、テトラクロルエチレ
ン、O−ジクロルベンセン等の塩素系溶剤が使われてい
る。
[発明の解決しようとする間層点] 本発明は従来使用されていた塩素系溶剤は地下水汚染の
点から好ましくないため、その使用量を抑えるべく塩素
系溶剤にかわる新規のレジスト剥離剤を提供することを
目的とするものである。
[問題点を解決するための手段] 本発明は前述の目的を達成すべ(なされたものであり、
 1.1−ジクロロ−2−フルオロエタン(以下RI4
1aという)、1.1−ジクロロ−l−フルオロエタン
(以下R141bという)を有効成分として含有するレ
ジスト剥離剤を提供するものである。
本発明のレジスト剥離剤の有効成分であるRI41a 
、RI41b (これらは混合して用いてもよい)はレ
ジスト剥離力に優れ、プリント基板や半導体の材質に悪
影響の少ない優れた溶剤である。
本発明のレジスト剥離剤には、各種の目的に応じてその
他の各種成分を含有させることができる0例えば、レジ
スト剥離力を高めるために、炭化水素類、アルコール類
、ケトン類、塩素化炭化水素類、芳香族類又はエステル
類等の有機溶剤から選ばれる少なくとも1種を含有させ
ることができる。これらの有機溶剤のレジスト剥離剤中
の含有割合は、0〜50重量%、好ましくは10〜40
重量%、さらに好ましくは20〜30重量%である。 
R141a又はR141bと有機溶剤との混合物に共沸
組成が存在する場合には、その共沸組成での使用が好ま
しい。
炭化水素類としては炭素数1−15の直鎖又は環状の飽
和又は不飽和炭化水素類が好ましく、n−ペンタン、イ
ソペンタン、n−ヘキサン、イソヘキサン、2−メチル
ペンタン、2.2−ジメチルブタン、2.3−ジメチル
ブタン、n−へブタン、イソへブタン、3−メチルヘキ
サン、2.4−ジメチルペンタン、n−オクタン、2−
メチルヘプタン、3−メチルへブタン、4−メチルへブ
タン、2.2−ジメチルヘキサン、2.5−ジメチルヘ
キサン、3.3−ジメチルヘキサン、2−メチル−3−
エチルペンタン、3−メチル−3−エチルペンタン、2
゜3.3−トリメチルペンタン、2.3.4−トリメチ
ルペンタン、 2.2.34リメチルペンクン、イソオ
クタン、ノナン、2.2.5− トリメチルヘキサン、
デカン、ドデンカン、l−ペンテン、2−ペンテン、1
−ヘキセン、1−オクテン、1−ノネン、1−デセン、
シクロペンタン、メチルシクロペンタン、シクロヘキサ
ン、メチルシクロヘキサン、エチルシクロヘキサン、ビ
シクロヘキサン、シクロヘキセン、a−ピネン、ジペン
テン、デカリン、テトラリン、アミジノ、アミルナフタ
レン等から選ばれるものである。より好ましくは、n−
ペンタン、n−ヘキサン、n−へブタン等である。
アルコール類としては、炭素数l〜17の鎖状又は環状
の飽和又は不飽和アルコール類が好ましく、メタノール
、エタノール、n−プロピルアルコール、イソプロピル
アルコール、n−ブチルアルコール、5ec−ブチルア
ルコール、イソブチルアルコール、tert−ブチルア
ルコール、ペンチルアルコール、 5ec−アミルアル
コール、1−エチル−1−プロパツール、2−メチル−
1−ブタノール、イソペンチルアルコール、jerL−
ペンチルアルコール、3−メチル−2−ブタノール、ネ
オペンチルアルコール、l−ヘキサノール、2−メチル
−1−ペンタノール、4−メチル−2−ペンタノール、
2−エチル−1−ブタノール、1−ヘプタツール、2−
ヘプタツール、3−ヘプタツール、I−オクタノール、
2−オクタノール、2−エチル−1−ヘキサノール、!
−ノナノール、3.5.5−トリメチル−1−ヘキサノ
ール、!−デカノール、1−ウンデカノール、トドデカ
ノール、アリルアルコール、プロパルギルアルコール、
ベンジルアルコール、シクロヘキサノール、l−メチル
シクロヘキサノール、2−メチルシクロヘキサノール、
3−メチルシクロヘキサノール、4−メチルシクロヘキ
サノール、a−テルピネオール、アビニチノール、2.
6−シメチルー4−ヘプタツール、トリメチルノニルア
ルコール、テトラデシルアルコール、ヘプタデシルアー
ルコール等から選ばれるものである。より好ましくはメ
タノール、エタノール、イソプロピルアルコール等であ
る。
ケトン類としては、R−CO−R’ 、 R−CO,R
−CO−R’ −「コ  r−C1)! −+ C0−R”、R−CD−R’、 R−CO−R’ (こ
こで、R,R’、R″は炭素数1.〜9の飽和又は不飽
和炭化水素基)のいずれかの一般式で示されるものが好
ましく、アセトン、メチルエチルケトン、2−ペンタノ
ン、3−ペンタノン、2−ヘキサノン、メチル−ロープ
チルケトン、メチルブチルケトン、2−ヘプタノン、4
−ヘプタノン、ジイソブチルケトン、アセトニルアセト
ン、メシチルオキシド、ホロン、メチル−〇−アミルケ
トン、エチルブチルケトン、メチルへキシルケトン、シ
クロヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、イソホロン
、2.4−ベンタンジオン、ジアセトンアルコール、ア
セトフェノン、フエンチョン等から選ばれるものである
。より好ましくはアセトン、メチルエチルケトン等であ
る。
塩素化炭化水素類としては、炭素数1〜2の飽和又は不
飽和、塩素化炭化水素類が好ましく、塩化メチレン、四
塩化炭素、1.1−ジクロルエタン、1.2−ジクロロ
エタン、I、 l、 i トリクロルエタン、I、 1
.2− )ジクロルエタン、l、 l、 1.2−テト
ラクロルエタン、1.1,2.2−テトラクロルエタン
、ペンタクロルエタン、1.1−ジクロルエチレン、1
.2−ジクロルエチレン、トリクロルエチレン、テトラ
クロルエチレン等から選ばれるものである。より好まし
くは塩化メチレン、1、 I、iトリクロルエタン、ト
リクロルエチレン、テトラクロルエチレン等である。
芳香族類としては、ベンヤン誘導体、ナフタレン誘導体
が好ましく、ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベ
ンセン、イソプロピルベンセン、ジエチルベンセン、第
2ブチルベンセン、トリエチルベンセン、ジイソプロピ
ルベンゼン、スチレン、アルキルベンセンスルホン酸、
フェノール、メシチレン、ナフタレン、テトラリン、ブ
チルベン七ン、p−シメン、シクロへキシルベンセン、
ペンチルベンセン、ジベンチルベンゼン、ドデシルベン
セン、ピフェニル、0−クレゾール、m−クレゾール、
キシレノール等から選ばれるものである。より好ましく
は、アルキルベンセンスルホン酸、フェノール等である
エステル類としては、次の一般式で示される■ ものが好ましく、R+−COG−Ri、 R+−C−R
a−COO−Rn。
oR。
0OR4 (ここでり、 Ri、 Rs、 Ra、 Rs、 Re
は1)又は0■又は炭素数1〜19の飽和ないし、不飽
和結合を有する炭化水素基。) 具体的には、ギ酸メチル、ギ酸エチル、ギ酸プロピル、
ギ酸ブチル、ギ酸イソブチル、ギ酸ペンチル、酢酸メチ
ル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸イソプロピル、酢
酸ブチル、酢酸イソブチル、酢酸5ec−ブチル、酢酸
ペンチル、酢酸イソペンチル、3−メトキシブチルアセ
テート、酢s 5ec−ヘキシル、2−エチルブチルア
セテート、2−エチルヘキシルアセテート、酢酸シクロ
ヘキシル、酢酸ベンジル、プロピオン酸メチル、プロピ
オン酸エチル、プロピオン酸ブチル、プロピオン酸イソ
ペンチル、酪酸メチル、酪酸エチル、酪酸ブチル、酪酸
イソペンチル、イソ醋酸イソブチル、2−ヒドロキシ−
2−メチルプロピオン酸エチル、ステアリン酸ブチル、
ステアリン酸ペンチル、安息香酸メチル、安息6酸エチ
ル、安息香酸プロピル、安息香酸ブチル、安息6酸イソ
ペンチル、安息香酸ベンジル、アビエチン酸エチル、ア
ビエチン酸ベンジル、アジピン酸ビス−2−エチルヘキ
シル、γ−ブチロラクト、シュウ酸ジエチル、シュウ酸
ジブチル、シュウ酸ジペンチル、マロン酸ジエチル、マ
レイン酸ジメチル、マレイン酸ジエチル、マレイン゛酸
ジブデル、酒石酸ジブチル、クエン酸トリブチル、セバ
シン酸ジブチル、セバシン酸ビス−2−エチルヘキシル
、フタル酸ジブチル、フタル酸ジエチル、フタル酸ジブ
チル、フタル酸ビス−2−エチルヘキシル、フタル酸ジ
オクチル等から選ばれるものある。より好ましくは酢酸
メチル、酢酸エチル等である。
本発明により剥離し得るレジストとしては、何ら限定さ
れず、ポジ形またはネガ形の光露光用レジスト、遠紫外
露光用レジスト、X線又は電子線用レジストを挙げるこ
とができる。光露光用レジストの材質にはフェノール及
びクレゾールノボラック樹脂をベースにしたキノンジア
ジド系、シス−1,4−ポリイソプレンを主成分とする
環化ゴム系、ポリけい皮酸系等があり、遠紫外用レジス
トにはポリメチルメタアクリレート、ポリメチルイソプ
ロペニルケトン等があリ、?It子a、xiレジストに
はポリメタフルル酸メチル1、メタクリル酸グリシジル
−アクリル酸エチル共重合体、メタアクリル酸メチル−
メタクリル酸共重合体等が知られているが、本発明のレ
ジスト剥離剤はいずれにも有効である。
レジスト剥離方法も何ら限定されず、通常のスプレー法
、浸漬して攪拌したり、揺動したり、超音波を作用させ
たりする方法等を採用することができる。
[実施例] 実施例1〜8 下記第1表に示すレジスト剥離剤を用いてレジスト剥離
試験を行なった。フォトレジストフィルム(Lam1n
er Hダイナケム社製)がラミネートされたプリント
基板(銅張積層板)を用い露光、現像、エツチング工程
にて回路を作成後、レジスト剥離剤に常温で15分間浸
漬し、取出後顕微鏡にて硬化膜の剥離状況を観察した。
結果を第1表に示す。
第1表 ()内は混合比[重量%] 0:良好に剥離できる Δ:少量残ひ X:かなり残存 [発明の効果] 本発明のレジスト剥離剤は実施例から明らかなようにレ
ジスト剥離効果に優れたものである。
又、従来の塩素系剥離剤に比べ、プリント配線板に使わ
れるプラスチック等に対し悪E 19が少ない点も有利
である。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)1,1−ジクロロ−2−フルオロエタン又は1,
    1−ジクロロ−1−フルオロエタンを有効成分として含
    有するレジスト剥離剤。
  2. (2)レジスト剥離剤中には、炭化水素類、アルコール
    類、ケトン類、塩素化炭化水素類、芳香族類又はエステ
    ル類から選ばれる少なくとも1種が含まれている特許請
    求の範囲第1項記載のレジスト剥離剤。
JP29765387A 1987-11-27 1987-11-27 レジスト剥離剤 Pending JPH01140154A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2665907A1 (fr) * 1990-08-14 1992-02-21 Atochem Composition nettoyante a base de 1,1-dichloro-1-fluoroethane, de chlorure de methylene et de methanol.
EP0473083A2 (de) * 1990-08-30 1992-03-04 Kali-Chemie Aktiengesellschaft Reinigungszusammensetzungen mit wasserstoffhaltigen Fluorchlorkohlenwasserstoffen
WO1994001522A1 (en) * 1992-07-10 1994-01-20 Allied-Signal Inc. 1,1-dichloro-1-fluoroethane based dry cleaning composition

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2665907A1 (fr) * 1990-08-14 1992-02-21 Atochem Composition nettoyante a base de 1,1-dichloro-1-fluoroethane, de chlorure de methylene et de methanol.
EP0474528A1 (fr) * 1990-08-14 1992-03-11 Elf Atochem S.A. Composition nettoyante à base de 1,1-dichloro-1-fluoroéthane, de chlorure de méthylène et de méthanol
EP0473083A2 (de) * 1990-08-30 1992-03-04 Kali-Chemie Aktiengesellschaft Reinigungszusammensetzungen mit wasserstoffhaltigen Fluorchlorkohlenwasserstoffen
WO1994001522A1 (en) * 1992-07-10 1994-01-20 Allied-Signal Inc. 1,1-dichloro-1-fluoroethane based dry cleaning composition

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