JPH01134360A - レジスト剥離剤 - Google Patents

レジスト剥離剤

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JPH01134360A
JPH01134360A JP29056687A JP29056687A JPH01134360A JP H01134360 A JPH01134360 A JP H01134360A JP 29056687 A JP29056687 A JP 29056687A JP 29056687 A JP29056687 A JP 29056687A JP H01134360 A JPH01134360 A JP H01134360A
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JP
Japan
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resist
methyl
releasing agent
alcohol
agent
Prior art date
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Pending
Application number
JP29056687A
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English (en)
Inventor
Akio Asano
浅野 昭雄
Kazuki Jinushi
地主 一樹
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AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Glass Co Ltd filed Critical Asahi Glass Co Ltd
Priority to JP29056687A priority Critical patent/JPH01134360A/ja
Publication of JPH01134360A publication Critical patent/JPH01134360A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/42Stripping or agents therefor
    • G03F7/422Stripping or agents therefor using liquids only
    • G03F7/426Stripping or agents therefor using liquids only containing organic halogen compounds; containing organic sulfonic acids or salts thereof; containing sulfoxides

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野1 本発明はプリント基板や半導体の製造時に用いられるレ
ジスト剥離剤に関するものである。
[従来の技術] プリント基板や半導体回路を作成する場合、最終的にエ
ツチング後のレジストを剥離する工程がある。従来、こ
の工程に塩化メチレン、テトラクロルエチレン、0−ジ
クロルベンヤン等の塩素系溶剤が使われている。
[9!明の解決しようとする問題点〕 本発明は従来使用されていた塩素系溶剤は地下水汚染の
点から好ましくないため、その使用用を抑えるべく塩素
系溶剤にかわる新規のレジスト剥離剤を提0(すること
をl]的とするものである。
E問題点を解決するための手段] 本発明は前述の目的を達成すべくなされたものであり、
ジクロロトリフルオロエタンを有効成分として含有する
レジスト剥離剤を提供するものである。
本発明のレジスト剥離剤の有効成分であるジクロロトリ
フルオロエタンは、不燃性でレジスト剥離力に優れ、プ
リント基板や半導体の材質に悪影響の少ない優れた溶剤
である。ジクロロトリフルオロエタンには!、1−ジク
ロロー2.2.2−トリフルオロエタン(以下R123
という) 、 1.2−ジクロロ−1,2,2−トリフ
ルオロエタン(以下RI23aという)、1.1−ジク
ロロ−1,2,2−トリフルオロエタン(以下RI23
bという)の3種類の異性体が知られているが、これら
を単独であるいはこれら2種以」二の混合物として用い
ることができる。
本発明のレジスト剥離剤には、各種の目的に応じてその
他の各種成分を含イ了させることができる。例えば、レ
ジスト剥離力を高めるために、炭化水素類、アルコール
類、ケトン類、塩素化炭化水素類、芳香族類又はエステ
ル類等の有機溶剤から選ばれる少なくとも1種を含有さ
せることができる。これらの有機溶剤のレジスト剥離剤
中の含有割合は、0〜50fliii%、好ましくは1
0〜40重量%、さらに好ましくは20〜30jn E
11%である。ジクロロトリフルオロエタンと有機溶剤
との混合物に共沸組成が存在する場合には、その共沸組
成での使用が好ましい。
炭化水素類としては炭素数1〜15の直鎖又は環状の飽
和又は不飽和炭化水素類が好ましく、n−ペンタン、イ
ソペンタン%n−ヘキサン、イソヘキサン、2−メチル
ペンタン、2.2−ジメチルブタン、2.3−ジメチル
ブタン、n−へブタン、イソへブタン、3−メチルヘキ
サン、2.4−ジメチルペンタン、n−オクタン、2−
メチルへブタン、3−メチルへブタン、4−メチルへブ
タン、2.2−ジメチルヘキサン、2.5−ジメチルヘ
キサン%3,3−ジメチルヘキサン、2−メチル−3−
エチルペンタン、3−メチル−3−エチルベンクン、2
゜3、3− )ジメチルペンタン、2.3.4−トリメ
チルペンタン、2.2.3− トリメチルペンタン、イ
ソオクタン、ノナン、 2,2.5−トリメチルヘキサ
ン、デカン、ドデンカン、1−ペンテン、2−ペンテン
、1−ヘキセン、1−オクテン、l−ノネン、ドデセン
、シクロペンタン、メチルシクロペンタン、シクロヘキ
サン、メチルシクロヘキサン、エチルシクロヘキサン、
ビシクロヘキサン、シクロヘキセン、a−ピネン、ジペ
ンテン、デカリン、テトラリン、アミジノ、アミルナフ
タレン等から選ばれるものである。より好ましくは、n
−ペンタン、n−ヘキサン、n−へブタン等である。
アルコール類としては、炭素数l〜17の鎖状又は環状
の飽和又は不飽和アルコール類が好ましく、メタノール
、エタノール、n−プロピルアルコール、イソプロピル
アルコール、n−ブチルアルコール、5ec−ブチルア
ルコール、イソブチルアルコール、LerL−ブチルア
ルコール、ペンチルアルコール、 5ec−アミルアル
コール。
1−エチル−1−プロパツール、2−メチル−1−ブタ
ノール、イソペンチルアルコール、terL−ペンデル
アルコール、3−メチル−2−ブタノール、ネオペンチ
ルアルコール、1−ヘキサノール、2−メチル−1−ペ
ンタノール、4−メチル−2−ペンタノール、2−エチ
ル−1−ブタノール、1−ヘプタツール、2−ヘプタツ
ール、3−ヘプタツール、l−オクタノール、2−オク
タツール、2−エチル−1−ヘキサノール、!−ノナノ
ール、 3,5.5−1−ツメチル−1−ヘキサノール
、1〜デカノール、1−ウンデカノール、1−ドデカノ
ール、アリルアルコール、プロパルギルアルコール、ベ
ンジルアルコール、シクロヘキサノール、1−メチルシ
クロヘキサノール、2−メチルシクロヘキサノール、3
−メチルシクロヘキサノール、4−メチルシクロヘキサ
ノール、a−テルピネオール、アビニチノール、2.6
−シメチルー4−ヘプタツール、トリメチルノニルアル
コール、テトラデシルアルコール、ヘプタデシルアルコ
ール等から選ばれるものである。より好ましくはメタノ
ール、エタノール。
イソプロピルアルコール等である。
ケトン類としては、R−CO−R’ 、 R−C口、 
R−CO−R’ −「コ  7′Cll1 ] CD−R“、R−CO−R’、 R−CO−R’ (こ
こで、 R,R′、R“は炭素数1〜9の飽和又は不飽
和炭化水素基)のいずれかの一般式で示されるものが好
ましく、アセトン、メチルエチルケトン、2−ペンタノ
ン、3−ペンタノン、2−ヘキサノン、メチル−n−ブ
チルケトン、メチルブチルケトン、2−ヘプタノン、4
−ヘプタノン、ジイソブチルケトン、アセトニルアセト
ン、メジデルオキシド、ホロン、メチル−〇−アミルケ
トン、エチルブチルケトン、メチルへキシルケトン、シ
クロヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、イソホロン
、2.4−ペンタンジオン、ジアセトンアルコール、ア
セトフェノン、フェンチジン等から選ばれるものである
。より好ましくはアセトン、メチルエチルケトン等であ
る。
塩素化炭化水素類としては、炭素数1〜2の飽和又は不
飽和、塩素化炭化水素類が好ましく、塩化メチレン、四
塩化炭素、1.1−ジクロルエタン%1.2−ジクロロ
エタン、1.1. i トリクロルエタン、!、1.2
−トリクロルエタン、1.1.1.2−テトラクロルエ
タン、1.1,2.2−テトラクロルエタン、ペンタク
ロルエタン、1.1−ジクロルエチレン、1.2−ジク
ロルエチレン、トリクロルエチレン、テトラクロルエチ
レン等から選ばれるものである。より好ましくは塩化メ
チレン、1、 I、 I−トリクロルエタン、トリクロ
ルエチレン、テトラクロルエチレン等である。
芳呑族類としては、ベンヤン誘導体、ナフタレン誘導体
が好ましく、ベンセン、トルエン、キシレン、エチルベ
ンセン、イソプロピルベンゼン、ジエチルベンセン、第
2ブチルベンゼン、トリエチルベンセン、ジイソプロピ
ルベンセン、スチレン、アルキルベンセンスルホン酸、
フェノール、メシチレン、ナフタレン、デトラリン、ブ
チルベンセン、p−シメン、シクロへキシルベンセン、
ペンチルベンセン、ジベンチルベンセン、ドデシルベン
ゼン、ビフェニル、O−クレゾール、m−クレゾール、
キシレノール等から選ばれるものである。より好ましく
は、アルキルベンセンスルホン酸、フェノール等である
エステル類としては1次の一般式で示されるR、1 C0OR。
(ここでR,、R,、R,、R,、Rs、R,はII又
は旧1又は炭素数1〜19の飽和ないし、不飽和結合を
有する炭化水素基。) 具体的には、ギ酸メチル、ギ酸エチル、ギ酸プロピル、
ギ酸ブチル、ギ酸イソブチル、ギ酸ペンデル、酢酸メチ
ル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸イソプロピル、酢
酸ブチル、酢酸イソブチル、酢酸5ec−ブチル、酢酸
ペンチル、酢酸イソペンチル、3−メトキシブチルアセ
テート、酢酸5aC−ヘキシル、2−エチルブチルアセ
デート、2−エチルヘキシルアセテート、酢酸シクロヘ
キシル、酢酸ベンジル、プロピオン酸メチル、プロピオ
ン酸エチル、プロピオン酸メチル、プロピオン酸イソペ
ンチル、酪酸メチル。
酪酸エチル、酪酸ブチル、酪酸イソペンチル、イソ酪酸
イソブチル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン酸
エチル、ステアリン酸ブチル、ステアリン酸ペンチル、
安息香酸メチル、安息香酸エチル、安息香酸プロピル、
安息香酸ブチル、安息香酸イソペンチル、安息香酸ベン
ジル、アビエチン酸エチル、アビエチン酸エチル、アジ
ピン酸ビス−2−エチルヘキシル、γ−ブチロラクト、
シュウ酸ジエチル、シュウ酸ジブチル、シュウ酸ジベン
チル、マロン酸ジエチル、マレイン酸ジブチル、マレイ
ン酸ジエチル、マレイン酸ジブチル、酒石酸ジブチル、
クエン酸トリブチル、セバシン酸ジブチル、セバシン酸
ビス−2−エチルヘキシル、フタル酸ジメチル、フタル
酸ジエチル、フタル酸ジブチル、フタル酸ビス−2−エ
チルヘキシル、フタル酸ジオクチル笠から選ばれるもの
ある。より好ましくは酢酸メチル、酢酸エチル等である
本発明により剥離し得るレジストとしては。
何ら限定されず、ポジ形またはネガ形の光露光用レジス
ト、遠紫外露光用レジスト、X線又は電子線用レジスト
を挙げることができる。光露光用レジストの材質にはフ
ェノール及びタレゾールノボラック樹脂をベースにした
キノンジアジド系、シス−1,4−ポリイソプレンを主
成分とする環化ゴム系、ポリけい皮酸系等があり、遠紫
外用レジストにはポリメチルメタアクリレート、ポリメ
チルイソプロペニルケトン等があり、電子線、X線レジ
ストにはポリメタフルル酸メチル1.メタクリル酸グリ
シジル−アクリル酸エチル共fQ合体、メタアクリル酸
メチル−メタクリル酸共1n合体簀が知られているが、
本発明のレジスト剥離剤はいずれにもイ■効である。
レジスト剥離方法も何ら限定されず1通常のスプレー法
、浸漬して攪拌したり、揺動したり、超音波を作用させ
たりする方法等を採用することができる。
[実施例] 実施例1〜9 下記第1表に示すレジスト剥離剤を用いてレジスト剥離
試験を行なった。フォトレジストフィルム(Lam1n
er ;ダイナケム社製)がラミネートされたプリント
基板(銅張積層板)を用い露光、現像、エッヂング工程
にて回路を作成後、レジスト剥離剤に常温で15分間浸
漬し、取出後顕微鏡にて硬化膜の剥離状況を観察した。
結果を第1表に示す。
第1表 ()内は混合比[重臣%] O:良好に剥離できる Δ:少量残存 ×:かなり残存 [発明の効果] 本発明のレジスト剥離剤は実施例から明らかなようにレ
ジスト剥離効果に優れたものである。
又、従来の塩素系剥離剤に比べ、プリント配線板に使わ
れるプラスチック等に対し悪影響が少ない点も有利であ
る。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ジクロロトリフルオロエタンを有効成分として含
    有するレジスト剥離剤。
  2. (2)レジスト剥離剤中には、炭化水素類、アルコール
    類、ケトン類、塩素化炭化水素類、芳香族類又はエステ
    ル類から選ばれる少なくとも1種が含まれている特許請
    求の範囲第1項記載のレジスト剥離剤。
JP29056687A 1987-11-19 1987-11-19 レジスト剥離剤 Pending JPH01134360A (ja)

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