JPH01120742A - X線発生装置 - Google Patents

X線発生装置

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JPH01120742A
JPH01120742A JP27562187A JP27562187A JPH01120742A JP H01120742 A JPH01120742 A JP H01120742A JP 27562187 A JP27562187 A JP 27562187A JP 27562187 A JP27562187 A JP 27562187A JP H01120742 A JPH01120742 A JP H01120742A
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JP
Japan
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ray
extraction window
space
vacuum valve
vacuum
Prior art date
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Pending
Application number
JP27562187A
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English (en)
Inventor
Isao Ochiai
落合 勲
Yasuo Kato
加藤 靖夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 、本発明は、X線リソグラフィまたはX線顕微鏡等の光
源に用いる高寿命なX線発生装置に関するものである。
〔従来の技術〕
サブミクロン半導体の製造に用いるプラズマX線発生装
置は、一般に、X線を発生させるためのレーザ照射や放
電などによる高温高密度プラズマ発生機構と、上記高温
高密度プラズマ発生機構の電極部を収納する真空容器と
、該真空容器の一部に取付けられ、上記プラズマから発
生するX線を外部に取出すためのX線取出し窓とを備え
ており、上記X線取出し窓の材料としては軟X線を透過
しやすいベリリウム箔が使われている。
なお、この種の装置として関連するものに1例えば特開
昭60−42830号、特開昭60−150547号等
が挙げられるが、いずれも上記のような構成を有してい
る。
〔発明が解決しようとする問題点〕
X線を発生させるための高温高密度プラズマからは、X
線とともに、電子、イオン、中性粒子が発生しX線取出
し窓に飛来する。上記xl取出し窓は、X線を効率よく
取出すために非常に薄いベリリウム等で形成されていて
、上記粒子の衝突により破損しやすい。X線取出し窓が
破損すると、プラズマ形成部の真空容器内に大気が混入
し、電気放電を用いた方法では大気圧放電となり、電極
の消耗や電流供給部の電気破壊を招く。また、復帰後に
おいても、真空容器内が大気にさらされたために、高出
力で安定性がよいX線を得るためには、放電洗浄やベー
キング等のコンディショニングが再び必要になる。上記
X線取出し窓が破損しない場合でも、プラズマから飛来
する粒子の堆積が上記取出し窓に生じ、X線の透過率を
悪くする。
このため、定期的に上記X線取出し窓を交換する必要が
ある。
上記従来技術はこれらの点に関して配慮されておらず、
大気圧放電を生じたり窓を交換する際に、上記のように
コンディショニングが必要になるという問題があった。
本発明の目的は、X線取出し窓が破損したり、上記取出
し窓を交換する際に、プラズマ形成部に対する大気の混
入を少なくシ、長期にわたり再現性がよいX線強度が得
られ、また、X線取出し窓の交換が容易なX線発生装置
を得ることにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、プラズマ発生部とX線取出し窓との間を仕
切るリモートコントロール可能な真空バルブを設け、上
記真空バルブで仕切られたX線取出し窓側の空間を給排
気できる装置と、圧力上昇を検知するセンサを設け、セ
ンサの信号により上記真空バルブの開閉およびプラズマ
発生機構の運転を制御することにより達成される。
〔作用〕
本発明では、プラズマ発生部とX線取出し窓との間に設
けたゲートバルブを、X線取出し窓側の空間またはプラ
ズマ発生部の空間に配置した圧力上昇センサによって制
御する。したがって、X線取出し窓が破損した場合は、
すぐに圧力上昇センサの信号を受けてゲートバルブが閉
じられるため、大気の流入を制限することができる。ま
た、同時に上記センサの信号はプラズマ発生機構を停止
して、大気中放電が発生するのを防止する。このため、
プラズマ発生部の大気汚染や電極消耗などを防止できる
ので、再現性がよく寿命が長いX線発生装置を実現させ
ることができる。
さらに、本発明では、ゲートバルブで仕切られたX線取
出し窓側の空間を給排気する装置を設けている。上記給
排気装置により、X線取出し窓の破損や汚染により上記
取出し窓の交換が必要になった場合に、プラズマ発生部
を真空状態にしたままで、上記X線取出し窓の交換がで
きるので、X線発生装置の保守が容易である。
〔実施例〕
つぎに本発明の実施例を図面とともに説明する。
第1図は本発明によるXm発生装置の一実施例を示す構
成図、第2図は上記実施例におけるX線取出し窓の正面
断面図、第3図は上記取出し窓の下面図、第4図はX線
取出し窓の他の例を示す断面図である。第1図、に示す
実施例は、放電を利用したX線発生方式であるプラズマ
フォーカス装置に本発明を実施した場合の例を示す。X
線を発生させるための放電管は、同軸円筒状に配置した
内側電極1と外側電極2、および画電極を絶縁し沿面放
電による初期プラズマを作る絶縁体3と、放電空間14
を取囲む真空容器13とにより構成されている。上記電
極1および2には、あらかじめ充電装置20により充電
されたコンデンサ4から、制御系9によって制御される
ギャップスイッチ5を経て電圧が印加されるようになっ
ている。放電空間14をゲートバルブ19と真空ポンプ
18とによりあらかじめ真空に排気し、ネオン、アルゴ
ン、クリプトン等の希ガスが充填されたボンベ17から
数10T orr充填し、上記電極1,2に電圧を印加
すると、絶縁体3が放電空間14に接している表面に沿
面放電が起り、リング状のプラズマが形成される。
上記プラズマは、プラズマ中を流れる電流とその電流が
形成する磁界によって生じるローレンツ力により、電極
1,2で囲まれる空間を、その開放端に向って進行する
。上記プラズマが内側電極1の先端部に到達すると、電
流自身が形成する磁界によりプラズマは圧縮(ピンチ)
され、内側電極1の先端空間10に高温、高密度のプラ
ズマ柱が形成される。このプラズマから波長1〜20人
の軟X線が放射される。上記軟X線は軸方向に設けたX
線取出し窓7により大気中に取出される。放電管と上記
X線取出し窓7との間には、本発明の特徴であるゲート
バルブ6を設けている。バルブ11と真空ポンプ12と
は、上記ゲートバルブ6とX線取出し窓7との間の空間
15を排気するものであり、上記空間15の真空度を真
空計8により測定するようにしである。図において、2
1は上記空間15を大気圧にするためのリークバルブで
あり、22は荷電粒子を偏向するための磁石である。真
空計8で測定した真空度の情報は制御系9に取込まれ、
この情報をもとにゲートバルブ6の開閉と、放電の停止
を制御できる構成になっている。X線を取出す場合はゲ
ートバルブ6を開いて放電を行う。波長1〜20人の軟
X線を効率よく取出すために、X線取出し窓7の材料と
しては、厚さ5〜25μmのベリリウム箔を用いている
。上記ベリリウム箔は、大気圧をささえているほか、プ
ラズマから飛来する中性ガス、荷電粒子、放電に伴うス
パッタリング等により電極1,2から発生する金属粉末
の衝突にさらされている。このため、長期間使用すると
ベリリウム箔が破損したり、物質が堆積してX線の透過
率が低下する。上記ベリリウム窓7が破損した場合には
、ベリリウム箔を通して空気が流入し、上記空間15の
真空度が悪くなる。上記真空度の低下を真空計8で検知
し、制御系9はゲートバルブ6を閉めると同時に、放電
を停止させる。
また、ゲートバルブ6を閉めリークバルブ21を開いて
空間15を大気圧にすることにより、ベリリウム箔を定
期的に交換できるようになっている。
本実施例では、第2図および第3図に示すようなX線取
出し窓を用いた。上記第2図、第3図はX線取出し窓が
取付けられた状態を示しているが、上記X線取出し窓は
フランジ29.ベリリウム箔26゜○リング23、ベリ
リウム箔押さえ25と、それらを固定するねじ24とか
ら構成されており、フランジ押さえ28によって真空容
器13に固定されている。
上記X線取出し窓は水平に90度回転することにより、
容易に外れるような構造になっている。
上記のように本実施例では、X線取出し窓6の破損や交
換の際に、放電管内を大気さらすことがないため、上記
放電管内が清浄に保たれ、放電洗浄やベーキングなどを
再度行うことなく、常に安定したX線出力を得ることが
可能になった。また、放電管内部が大気圧放電になるこ
とがないため。
放電管部の損傷が少なくなった。
本実施例では第2図および第3図に示すような構造のX
線取出し窓を用いたが、第4図に示すように、荷電粒子
偏向用の磁石22とフランジ29の一部に取付けた磁性
体27との吸引力を利用して、X線取出しベリリウム窓
26を固定してもよい。
〔発明の効果〕
上記のように本発明によるX線発生装置は、X線を発生
させるための高温高密度プラズマ発生機構と、該発生機
構の電極部を収納する真空容器と、該真空容器の一部に
設けたX線取出し窓とを備えたX線発生装置において、
上記プラズマの発生部と上記X線取出し窓との間を仕切
る、真空バルブを備えたことにより、上記X線取出し窓
が破損した場合に、上記プラズマの発生部に大気が混入
するのを防止でき、また、大気圧放電を生じることがな
くなるため、X線発生部の損傷を防止することができる
。さらに、定期的にX線取出し窓を交換する場合にも、
X線発生部に大気を流入させることなく、交換を容易に
行うことが可能になる。
このため、従来必要であった放電洗浄やベーキング等を
再度行うことなく、常に安定したX線出力を維持できる
とともに、放電洗浄等に伴うX線発生部の損傷がないた
め、X線発生部が長寿命になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるX線発生装置の一実施例を示す構
成図、第2図は上記実施例におけるxt!取出し窓の正
面断面図、第3図は上記取出し窓の下面図、第4図はX
線取出し窓の他の例を示す断面図である。 1・・・内側電極    2・・・外側電極3・・・絶
縁体 6・・・真空バルブ(ゲートバルブ) 7・・・X線取出し窓  8・・・圧力センサ9・・・
制御系     11・・・バルブ12・・・真空ポン
プ   13・・・真空容器21・・・リークバルブ 代理人弁理士  中 村 純之助 第1図 6:1宇ハ′°ルブ′(プ:1−トハ′°1シブノ  
7:×5家耳1とし刈\8:丘刀セレ寸  9:陶)G
P季  11:バ)しデ12:1い各ボ°レフ013.
ブ至そしg  21:1,1−クハ”ルフ゛。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、X線を発生させるための高温高密度プラズマ発生機
    構と、該発生機構の電極部を収納する真空容器と、該真
    空容器の一部に設けたX線取出し窓とを備えたX線発生
    装置において、上記プラズマの発生部と上記X線取出し
    窓との間を仕切る、真空バルブを備えたことを特徴とす
    るX線発生装置。 2、上記真空バルブで仕切られたX線取出し窓側の空間
    は、該空間を給排気する装置を備えたことを特徴とする
    特許請求の範囲第1項に記載したX線発生装置。 3、上記プラズマの発生部または真空バルブで仕切られ
    たX線取出し窓側の空間は、圧力上昇を検知する圧力セ
    ンサを備え、上記圧力センサの信号により、プラズマの
    発生および上記真空バルブの開閉を制御する手段を設け
    たことを特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項
    に記載したX線発生装置。
JP27562187A 1987-11-02 1987-11-02 X線発生装置 Pending JPH01120742A (ja)

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JP27562187A JPH01120742A (ja) 1987-11-02 1987-11-02 X線発生装置

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JP27562187A JPH01120742A (ja) 1987-11-02 1987-11-02 X線発生装置

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JPH01120742A true JPH01120742A (ja) 1989-05-12

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ID=17558001

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JP27562187A Pending JPH01120742A (ja) 1987-11-02 1987-11-02 X線発生装置

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JP (1) JPH01120742A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008218600A (ja) * 2007-03-02 2008-09-18 Komatsu Ltd 極端紫外光源装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008218600A (ja) * 2007-03-02 2008-09-18 Komatsu Ltd 極端紫外光源装置

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