JPH01112435A - マイクロプロセッサーの機能検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、マイクロプロセッサ−の入出力、タイマー、
割り込み等の機能検査を行う場合に用いられるもので、
予めプログラムとしてＲＯＭ内に書き込まれ、外部より
特定の方法によって起動することのできるマイクロプロ
セッサ−の機能検査方法に関するものである。

従来の技術 従来のこの種のマイクロプロセッサ−の機能検査方法の
ブロック図を第２図に示す。１１はマイクロプロセッサ
−の特定の端子の状態を検出して、検査を行なうかどう
かを判別する判別部で、例えば、特定の１個の入力端子
の印加電圧がＨｉｇｈレベル（以下Ｈｉと略す）が、Ｌ
ｏｗレベ／ｌ／（以下Ｌｏと略す）かの判別を行ない、
もしもＨｉであれば検査部１２に移行し、Ｌ。

であれば制御部１３に移行するべく判別を行なう。

検査部１２は、各機能の検査を行うだめの複数の検査処
理部１４．１５．１６わら構成されていて、例えば、あ
る入力端子で入力したデータを、ある出力端子にそのま
ま出力することで、入出力゛端子のバード的な検査を行
ったり、割込端子に、割込信号を入力してタイマーを起
動し、一定時間後にある出力端子に所定の信号を出力す
ることでタイマーおよび、割込機能の検査を行って各機
能の検査がすべて終了した後に制御部１３に移行するよ
うに構成されている。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、検査部１２に移行
するか、制御部１３に移行するかは、判別部１１の特定
の１個の入力端子のＨｉ、Ｌ。

によって判別を行っているもので、もし、前記入力端子
が短絡故障によって電源電圧がそのまま印加され続けた
ら！Ｐｌｊ別部１１は、常に検査部１２に移行する判別
を行うことになる。

１だ、暴走あるいはノイズによって検査部１２に移行し
た場合には、検査部１２のすべての検査処理が終ｒする
までは、制御部１３に移行することはない。

通常、検査部１２では、制御部１３とは全く述うた信号
の入呂力を行っているので、機器に組み込まれた状態で
検査部１２が起動すると、正常な制御ができないばかり
か、マイクロプロセッサ−目体の破損、場合によっては
機器の異常制御により人身に危害を与えるといった危険
があった。例えば、ある出力端子でモーターの制御を行
っていてこのモーターが停止していなければならない時
に検査部に移行してしまい、前記出力端子にモータ駆動
の信号が出力されて、前記モータが動いて人身に危害を
与えるといった危険性があった。

本発明は、前記問題点を解消し、確実で安全性の高いマ
イクロプロセッサ−の機能検査方法を提供するものであ
る。

問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために、本発明のマイクロプロセ
ッサ−の機能検査方法は、マイクロプロセッサ−の所定
の端子よシコードの入力を行う第１のコード入力部と、
所定の制御処理を行う制御部と、所定の検査処理を行う
検査部と、１１７Ｊ記コードが検査処理を行こなうため
の所定のコードであれば検査部へ、所定のコード以外で
あれば制御部へ移行する第１の判別部を備え、前記検査
部はマイクロプロセッサ−の所定の端子よりコードの入
力を行う第２のコード入力部と複数の検査処理部と、前
記コードが所定のコード以外であれば制御部に移行し、
所定のコードであればコードに応じたそれぞれの検査処
理部へ移行する第２の判別部とからなり、それぞれの検
査処理部の終γ後、第２のコード入力部へ移行するよう
にしたものである。

作　　　用 上記構成により、検査部に移行し難く、かつ検査部に移
行しても即座に、検査部から抜は出し、適切な制御を行
うことができる。

実施例 以下、本発明の一笑施例を添付図面にもとづいて説明を
おこなう。

第１図は、本発明のマイクロプロセッサーの機能検査方
法のプロ・ツク図を示したもので、１はコードの入力を
行う第１のコード入力部、２は前記コードが検査処理を
おこなうための所定のコードであれば検査部３へ、所定
のコード以外であれば、所定の制御処理を行う制御部４
へ移行する第１の判別部であり、検査部３は、コードの
入力を行う第２のコード入力部５と、前記コードが所定
のコード以外であれば、制御部３に移行し、所定のコー
ドであればコードに応じたそれぞれの検査部すなわち入
力端子の検査処理部７、出力端子の検査処理部８、タイ
マーの検査処理部９へ移行する第２の判別部６とからな
シ、それぞれの検査処理の終了後、第２のコード入力部
５へ移行するようになっている。

ここで、第１のコード入力部１はマイクロプロセッサ−
のある特定の３個の入力端子のＨＬ、Ｌ。

を３桁のパイナリイコードＡとして入力し、第１の判別
部２は表１に示すような判定基準により、前記パイナリ
イΦコードＡが１１１１１”であれば検査部３へ移行し
、Ｊ１１／／以外であれば制御部４へ移行するべく判定
を行なう。

第２のコード入力部５は、前記ある特定の３個の入力端
子のＨｉ、Ｌｏを３桁のバイナリイ・コードＢとして入
力し、第２の判別部６は表２に示すような！ｆｌＪ定基
準により、前記バイナリイ・コードＢが、”１１１“で
あれば、入力端子の検査処理部７へ、”０１０“であれ
ば、出力端子の検査処理部８へ”１００“であれば、タ
イマーの検査処理部９へ、前記のコード以外であれば、
制御部３へ、それぞれ移行するぺ〈判定を行う。

上記構成において、それぞれの検査処理部７．８．９の
終了後は、再び、前記第２の判別部６に移行するように
なっている。

以上のように、検査部３への移行は、３個の入力端子の
Ｈｉ　、　Ｌ　ｏによって決定される３桁のバイナリイ
・コードＡによって判定されるので、判定が確実であり
、誤まって検査部３へ移行することがない。

また、もしも暴走、あるいはノイズによって前記検査部
３に処理が移行したとしても、前記第２の判別部６によ
って、バイナリイ・コードＢがゞ′１１１“、１１　ｏ
　１ｏ　Ｌ／、Ｉｔ　１ｏ　ｏ　／／のいずれかに該当
しなければ即座に制御部３へ移行することができる。

さらに、暴走、あるいはノイズによって、前記検査処理
部７．８．９のいずれかに処理が移行したとしても、そ
の検査処理部を終了したら、再び前記第２の判別部６に
よってバイナリイ・コードＢがゝゝ１１１“、”０１０
”　、”１００“のいずれかに該当しなければ即座に制
御部３へ移行するこ　。

とができる。１つの検査処理部は、極めて短時間で終了
するので、暴走あるいはノイズによる被害をできるだけ
小さくすることができる。

発明の効果 以上のように本発明によるマイクロプロセッサ−の機能
検査方法によると、３桁のコードによって検査部への移
行を’ｌ’ｌＪ定しているので誤１って検査部へ移行す
ることはない。

たとえ暴走、あるいはノイズによって通常、移行しては
ならない検査部に誤って移行したとしても、即座に検査
部から抜は出すことができ、被害をできるだけ小さくす
ることができる。

したがって、機器に組み込筐れた場合において、たとえ
暴走、あるいはノイズによって、検査部に誤って移行し
ても、即座に検査部から抜は出すことで人身に危害を与
えるといった危険を防止できる。

また、検査部の中の複数の検査処理部は、それぞれ、コ
ードによって選択できるので、目的の検査のみを行なう
ことができる。

したがって、マイクロプロセッサ−のハード的な品質が
安定した時点で不要な検査項目を省略し、て検査を行な
うことが、プログラムの変更とすることなく可能となり
、検査の時間短縮ができるというメリットもある。

表１ 以下余白 表２

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一失施例を示すマイクロプロセッサ
−の機能検査方法のブロック図、第２図は従来のマイク
ロプロセッサ−の機能検査方法のブロック図である。 １・・・・・・第１コード入カ部、２・・・・・・第１
の判別部、３・・・・・・検査部、４・・・・・・制御
部、５・・・・・・第２のコード入力部、６・・・・・
・第２の制御部、７．８．９・・川・検査処理部。 第１図 筬２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）マイクロプロセッサーの所定の端子よりコードの
   入力を行う第１のコード入力部と、所定の制御処理を行
   う制御部と、所定の検査処理を行う検査部と、前記コー
   ドが検査処理をおこなうための所定のコードであれば検
   査部へ、所定のコード以外であれば、制御部へ移行する
   第１の判別部を備え、前記検査部は、マイクロプロセッ
   サーの所定の端子よりコードの入力を行う第２のコード
   入力部と、複数の検査処理部と、前記コードが所定のコ
   ード以外であれば制御部に移行し所定のコードであれば
   、コードに応じたそれぞれの検査処理部へ移行する第２
   の判別部とからなり、それぞれの検査処理部の終了後、
   第２のコード入力部へ移行するようにしたマイクロプロ
   セッサーの機能検査方法。