JPH03218536A - データ処理装置の診断方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明はデータ処理装置の診断方式に係わり、特に複
数の命令語を組合せたテスト命令列による診断方式に関
するものである。

［従来の技術］ 従来からデータ処理装置の動作を保証する手段として，
単体命令語による診断ｈ式や複数命令語による診断方式
が採用されているが、特に、先行制御機構を備えたデー
タ処理装置やキャッシュ制御機構を備えたデータ処理装
置において、複数命令語の組合せ診断が前記制御機構の
診断に効果があることが一般に知られている。

第３図は、従来の複数命令語による診断方式を説明する
ためのデータ処理装置の構成を示すブロック図である。

図において，１はデータ処理装置、２はデータ処理装置
１に備えられた主記憶装置、３はデータ処理装置１に備
えられた基本処理装置、４は主記憶装Ｍ２上で動作する
テスト・プログラム２ａの実行を制御する実行制御部，
５はテスト・プログラム２ａのテスト内容を規定したテ
スト命令列，７はテスト命令列５を実行した結果が正し
いかどうかを判定する実行結果判定部、８はデータ処理
装置１に接続される補助記憶装置である。

次に，第４図のフローチャートを参照しながら、第３図
に示した従来技術の動作について説明する。

まず，テスト・プログラム２ａの実行を開始（ステップ
ＳＬ）すると，実行制御部４は実行可能状態にある複数
のテスト命令列５の中から一つを選択し実行する（ステ
ップＳ２、Ｓ３）。この実行結果が正しいかどうかを，
実行制御部４は実行結果判定部７を起動して判定する（
ステップＳ４）。ここで異常を検出した場合には異常終
了し，正常な結果であれば、次のテスト命令列の実行に
移り（ステップＳ５，Ｓ６）．全てのテスト命令列５が
実行されるまで、上記ステップＳ３，Ｓ４，Ｓ５，Ｓ６
を繰り返す。

［発明が解決しようとする課題］ 従来のこの種の診断方式は上述したようになされていた
ので、テスト命令列内のどの命令語で不具合が発生した
のかが判別できず、原因追求が困難であり，また、同一
原因に対して複数のテスト命令列で不具合が発生するこ
とが一般的であり、不具合の存在は認識できても、不具
合の発生する条件（命令語の組合せ）を整理することが
困難であるなどの問題点があった。

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、異常が検出されたテスト命令列に着目し，こ
の命令列を徐々に小さく（縮退）しながら実行と結果判
定を繰り返し、不具合の発生する最小の命令列を自動検
索できるデータ処理装置の誇断方式を提供することを目
的とする。

［課題を解決するための手段］ この発明に係るデータ処理装置の診断方式は，テスト命
令列５から１命令語ずつ削除した縮退命令列を生成する
とともに、生成した縮退命令列が正しく実行された場合
の実行結果を生成する縮退命令列生成部６を備え，前記
テスト命令列５を実行した結果，異常と判定された場合
には、当該テスト命令列５から縮退命令列を生成して実
行し、その実行結果が正常と判定されるか、又は縮退命
令列が１命令語となるまで，縮退命令列の生成，実行，
判定を繰り返すようにしたものである。

［作用］ この発明における縮退命令列生成部６は、実行制御部４
により実行され，実行結果判定部７により異常が検出さ
九たテスト命令列５から１命令語を削除した縮退命令列
を生成して、この縮退命令列を実行制御部４で実行させ
るようにするとともに，当該縮退命令列が正しく実行さ
れた場合の実行結果を生成して，上記縮退命令列の実行
結果を実行結果判定部７で比較判定できるようにする。

また、一度縮退生成した縮退命令列の実行結果が異常と
判定された場合には，当該縮退命令列から更に縮退した
命令列を生成する。

［実施例］ 以下、この発明の一実施例を図について説明する． 第１図は、この発明の一実施例による診断方式を説明す
るためのデータ処理装置の構成を示すブロック図であり
、前記第３図に示した構成要素に対応するものには同一
の符号を付して、その説明は省略する。図において、６
はテスト・プログラム２ａの一部分として備えられ，実
行制御部４により起動される縮退命令列生成部であり、
実行制御部４で実行され，実行結果判定部７で異常と判
定されたテスト命令列５又は既に縮退生成されて実行，
異常判定された縮退命令列からその最終命令語を取り除
いた縮退命令列を生成して，実行制御部４にテスト命令
列として与えるとともに、当該縮退命令列が正しく実行
された場合の実行結果，すなわち予測される正解値を生
成して実行結果判定部７に与えるものである。

次に，第２図のフローチャートを参照しながら、第１図
に示した本発明の実施例の動作について説明する。

まず、実行を開始（ステップＳｌ）すると、従来同様、
実行制御部４は複数のテスト命令列５の中から１命令列
を選択し実行する（ステップＳ２，Ｓ３）。実行制御部
４は当該テスト命令列の実行結果に関して実行結果判定
部７を起動して正しいかどうかを判定する（ステップＳ
４）。実行結果が正しければ、最後のテスト命令列にな
るまで順次選択し、実行と結果判定を繰り返す（ステッ
プＳ５，Ｓ６，Ｓ３．Ｓ４）。

一方、ステップＳ４の実行結果判定にて異常が検出され
たならば、実行制御部４は縮退命令列生成部６を起動し
て、当該テスト命令列から最後の１命令語を取り除いた
縮退命令列を生成し（ステップＳ７）、この縮退命令列
が正しく実行された場合の正解値を予測生成する（ステ
ップＳ８）。実行制御部４は、前記縮退命令列を実行し
（ステップＳ９）、その実行結果を実行結果判定部７を
起動して比較判定し（ステップＳ１０）、判定結果が正
しければ直前に縮退された最終命令語が異常の主要因と
して異常終了処理（２）を行なう。また、判定結果が異
常を示したならば、ステップＳｌｌで命令列が１命令語
になるまで更に命令列を縮退して実行，判定を繰り返す
（ステップＳ７，Ｓ８，Ｓ９，ＳＩＯ）。縮退命令列生
成部６の生成した縮退命令列が１命令語から成る単一命
令テストの場合に実行結果判定部７が異常を示したなら
ば、当該命令語を誤りの主要因として異常終Ｙ処理（１
）を行なう（ステップＳ１１）。

なお、上記実施例では、縮退命令列生成部６をテスト・
プログラム２ａの一部分として構成したが、全く独立の
別プログラムとして構成しても良い。また、縮退命令列
生成部６や実行結果判定部７を独立させて実行制御部４
から起動するようにしたが、これらを実行制御部４に含
ませるようにしても良い。

また、縮退の方法として、命令列の最後の命令語を取り
除く方法を示したが、命令語を取り除く代わりにＮｏ−
０ρｅｒａｔｉｏｎ命令語と置き換え、実質的に削除し
たのと同様の結果を得るようにしても良い。

［発明の効果］ 以上のように、本発明によれば、異常を検出したテスト
命令列から不具合を発生させた要因に無関係と思われる
命令語を徐々に削除するように構成したので，不具合を
発生させた条件の整理がし易くなり、不具合の原因追求
が容易となって短時間で行なえるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例による診断方式を説明する
ためのデータ処理装置の構成を示すブロック図、第２図
はこの実施例の動作を示すフローチャート、第３図は従
来の診断方式を説明するためのデータ処理装置の構成を
示すブロック図、第４図はこの従来例の動作を示すフロ
ーチャ−１−である。 １はデータ処理装置、２は主記憶装置、２ａはテスト・
プログラム，３は基本処理装置、４は実行制御部、５は
テスト命令列、６は縮退命令列生成部，７は実行結果判
定部、８は補助記憶装置。 なお，図中、同一符号は同一，又は相当部分を示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 複数の命令語を組合せて成るテスト命令列を用い、この
   命令列を実行制御部で実行し、その実行結果が正しいか
   否かを実行結果判定部で判定するデータ処理装置の診断
   方式において、 前記テスト命令列から１命令語ずつ削除した縮退命令列
   を生成するとともに、生成した縮退命令列が正しく実行
   された場合の実行結果を生成する縮退命令列生成部を備
   え、前記テスト命令列を実行した結果、異常と判定され
   た場合には、当該テスト命令列から縮退命令列を生成し
   て実行し、その実行結果が正常と判定されるか、又は縮
   退命令列が１命令語となるまで、縮退命令列の生成、実
   行、判定を繰り返すようにしたことを特徴とするデータ
   処理装置の診断方式。