JP7495551B2 - 半導体装置 - Google Patents
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Description
半導体装置は、一般に、樹脂又はセラミックなどにより、パッケージとして封止された状態、又は、プリント配線基板上に封止された状態で提供される。例えば、パッケージの表面の樹脂を切削すること、又は、プリント配線基板にその裏側から孔を設けること、などにより、半導体装置に集積された電子回路を曝露する攻撃(以下、「切削攻撃」という)が試みられることがある。曝露された状態で電子回路が動作すると、半導体装置の内部で処理する信号の秘匿性及び/又は真正性が損なわれるおそれがある。
半導体装置にレーザ、電磁パルス、又は電子ビームなどを照射し、半導体装置の出力端子又は磁界プローブなどを介して半導体装置の応答を観測することにより、半導体装置の動作を非破壊的に解析することが知られている。秘匿性及び/又は真正性が求められる信号を処理する半導体装置に対してこのような非破壊的アクセスを行って信号を読み取る攻撃(以下、「擾乱注入攻撃」という)が試みられることがある。
てもよい。
第3の実施形態では、第1及び第2の実施形態の組み合わせについて説明する。
第1~第3の実施形態に係る半導体装置の保護回路は、電子回路15の一部として設けられることに限定されず、他の位置に設けられてもよい。
第1の実施形態では、図2に示すように、半導体基板11が、複数の配線層12a及び複数の誘電体層12bを含む多層配線12及び電子回路15を上面に有し、その下面に配線導体13aを有する場合を示したが、本発明はこれに限定されるものではない。そこで、第5の実施形態では、図2に示した1つの半導体基板11を2層構造にした場合について説明することとする。
ところで、上記第5の実施形態では、配線導体13aをパッケージ基板2と接する面に形成した場合を示したが、本発明はこれに限定されるものではない。このため、第6の実施形態では、配線導体13aを回路基板1Fに接する面側に設けた場合について説明することとする。
ところで、上記第5の実施形態では、配線導体13aをパッケージ基板2と接する面に形成した場合を示し、上記第6の実施形態では、回路基板1Gの配線導体13aを回路基板1Fに接する面側に設けた場合を示したが、本発明はこれに限定されるものではない。このため、第7の実施形態では、配線導体13aを回路基板1Gの内部に設けた場合について説明することとする。
2…パッケージ基板、
3…パッド導体、
4…ボンディングワイヤ、
5…バンプ、
6…配線層、
11,11a,11b…半導体基板、
12…多層配線、
12a…配線層、
12aa…配線導体、
12ab…絶縁誘電体、
12b…誘電体層、
12ac…パッド導体、
13a,13aA,13aB,13b…配線導体、
14,14a,14b,14c…ビア導体、
15…電子回路、
15a…回路素子、
16,16C…ウェル、
16a~16c…浅いウェル、
16d…深いウェル、
16e…ポケット、
16f…埋め込み不純物層、
16g…トレンチ、
17…電極、
21~23…スイッチング素子、
24…ラッチ回路、
31…ウェル接続線、
32…演算増幅器、
33…ディジタル/アナログ変換器(DAC)、
34…比較器、
41…ディジタル/アナログ変換器(DAC)、
42…演算増幅器、
43…ウェル接続線、
51,55…ウェル接続線、
52,54…演算増幅器、
53…反転利得器、
56…ウェルの内部抵抗、
61~66…保護回路、
101…半導体基板、
102a,102b…保護回路、
103…パッド導体、
104…ビア導体、
N1~N48…ノード、
SW…スイッチ。
Claims (3)
- 多層配線及び電子回路が形成された第1の回路基板と、
複数のストリップ導体を含む配線導体と、半導体基板とを有する第2の回路基板と、
を積層し、
前記配線導体の断線に伴う攻撃を前記電子回路に設けられた保護回路が検出し、
前記第1の回路基板及び/又は前記第2の回路基板に設けられた所定のビア導体を介して、前記多層配線と前記配線導体とを電気的に接続し、
前記配線導体は、
前記半導体基板の前記第1の回路基板と接する面に埋め込み形成され、前記第1の回路基板に形成される第1のビア導体及び/又は前記第2の回路基板に形成される第2のビア導体を介して前記多層配線及び前記配線導体とが電気的に接続された、
半導体装置。 - 前記保護回路は前記電子回路の一部である、
請求項1に記載の半導体装置。 - 前記配線導体は、ミアンダ状、ストライプ状、又はメッシュ状に形成された、
請求項1又は2に記載の半導体装置。
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