JP7425701B2 - 基板搬送装置 - Google Patents
基板搬送装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7425701B2 JP7425701B2 JP2020155483A JP2020155483A JP7425701B2 JP 7425701 B2 JP7425701 B2 JP 7425701B2 JP 2020155483 A JP2020155483 A JP 2020155483A JP 2020155483 A JP2020155483 A JP 2020155483A JP 7425701 B2 JP7425701 B2 JP 7425701B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- arm
- link
- substrate
- transport
- linear motion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012546 transfer Methods 0.000 title claims description 79
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 211
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 71
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 33
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 claims description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 5
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 92
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 64
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 33
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 description 12
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 10
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 8
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 5
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000026058 directional locomotion Effects 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67703—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H01L21/67706—Mechanical details, e.g. roller, belt
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67161—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
- H01L21/67173—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers in-line arrangement
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
- B65G47/00—Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
- B65G47/74—Feeding, transfer, or discharging devices of particular kinds or types
- B65G47/90—Devices for picking-up and depositing articles or materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67161—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
- H01L21/67167—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers surrounding a central transfer chamber
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67161—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
- H01L21/67178—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers vertical arrangement
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67703—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H01L21/67712—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrate being handled substantially vertically
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67742—Mechanical parts of transfer devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67748—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber horizontal transfer of a single workpiece
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68707—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a robot blade, or gripped by a gripper for conveyance
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Robotics (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
[基板処理装置]
まず、本実施形態の基板搬送装置1が適用される基板処理装置100の概要を、図1及び図2を参照して説明する。図1は、基板処理装置100の全体構成を示す平面図である。図2は、基板搬送装置1の斜視図である。基板処理装置100は、複数の基板処理を行うチャンバ141を備え、前工程でカセットCA(FOUP)に複数枚収容されて搬送されてきた基板Wに対して、各チャンバ141内で1枚ずつ処理を行う枚葉処理の装置である。基板Wは、例えば、円盤形状の半導体ウエーハである。処理としては、例えば、エッチング、レジスト剥離、リンス、洗浄などである。但し、基板Wは、これには限定されず、表示装置用の基板W等、枚葉処理を行う各種の基板Wを対象とすることができる。
カセット搭載エリア120は、処理室110の前面に沿って、複数のカセットCAが幅方向に一列に配置されるエリアである。カセットCAは、複数枚の水平方向の基板Wが、所定の間隔で積層された状態で収容されるケースである。カセットCAとしては、一般的なFOUPを適用できる。カセット搭載エリア120の個々のカセットCAの搭載位置には、カセットCAのドアを開閉するオープナー121が設けられている。カセットCAは、図示しない天井走行のロボットによって、カセット搭載エリア120の各オープナー121の位置に搬入、搬出される。
第1の搬送エリア130は、バッファユニット131、搬送ロボット132、移動機構133を有し、移動機構133により移動する搬送ロボット132によって、カセットCAとバッファユニット131との間で、基板Wを搬送するエリアである。第1の搬送エリア130は、カセット搭載エリア120の後方に構成されている。
チャンバ配置エリア140は、各種の処理を行う複数のチャンバ141が配置されたエリアである。各チャンバ141は、シャッターにより開閉する開口141a、処理される基板Wが載置される載置台141bを有している。なお、基板Wに対して処理液の供給を行うノズル等、各チャンバ141内において処理のために必要な構成については説明を省略する。各チャンバ141は、載置台141bに載置された1枚の基板Wに対して、処理を行う。
第2の搬送エリア150は、本実施形態の基板搬送装置1が配置され、バッファユニット131とチャンバ141との間、チャンバ141同士の間で、基板Wを搬送するエリアである。基板搬送装置1は、上アーム22と下アーム23を含むダブルアーム構成の搬送アーム2を備えている。搬送アーム2は、上アーム22でバッファユニット131から未処理の基板Wを搬出するとともに、下アーム23で処理済の基板Wをバッファユニット131に搬入する。また、搬送アーム2は、下アーム23で処理済みの基板Wをチャンバ141から搬出するとともに、上アーム22で未処理の基板Wをチャンバ141に搬入する。
付帯エリア160は、処理室110の後部に設けられている。付帯エリア160は、液供給装置161と、制御装置162を収容する。液供給装置161は、チャンバ141に、例えば、エッチング液、レジスト剥離液、リンス液、洗浄液などの各種の処理液を供給する。制御装置162は、演算装置、記憶装置、信号送受信装置、入出力装置などからなるコンピュータである。制御装置162は、記憶装置に記憶された基板処理情報や各種プログラムなどを実行することにより、基板処理装置100の各部を制御する。
本実施形態の基板搬送装置1の詳細について、図2~図6を参照して説明する。図2に示すように、基板搬送装置1は、搬送アーム2、昇降リンク3、駆動部4を有する。搬送アーム2は、上記のように、バッファユニット131との間での基板Wの交換及びチャンバ141との間での基板Wの交換を行う。昇降リンク3は、チャンバ141の高さに合わせて搬送アーム2を昇降させる。駆動部4は、昇降リンク3を駆動する。以下、各部を詳述する。
搬送アーム2は、テーブル21、上アーム22、下アーム23、アームベース24を有する。テーブル21は、天面が水平方向となるように配置された台である。テーブル21の天面は、その外縁内に水平方向の基板Wが収まる大きさである。例えば、テーブル21の幅は、基板Wの直径と等しいか、僅かに長い程度である。僅かに長いとは、基板Wの外縁から数cm以内の長さである。また、テーブル21は、下アーム23(後述するウェットアーム)に保持され、液盛りされた状態の基板Wから液が移動機構151に落ちるのを防ぐための水受けとして機能するものである。
昇降リンク3は、基体31、支柱32、上リンク33、下リンク34、接続リンク35を有する。基体31は、基板搬送装置1の全体を支持する部材である。基体31は、移動ベース151bに固定され、又は移動ベース115bと一体的に構成されている。支柱32は、基体31に角度不動に立設された部材である。本実施形態の支柱32は、予め決められた所定の角度で立ち上げられた角柱状の部材である。この角度は、本実施形態では、上端が後方に僅かに倒れた角度である。
駆動部4は、図2、図4及び図5に示すように、直動機構41、変換部42を有する。直動機構41は、駆動源41aによって駆動され、上リンク33及び下リンク34の回動の軸に直交する方向に沿って、直線状に往復動する直動部41bを有する機構である。なお、駆動部4は、基板Wに処理を行うチャンバ141の開口よりも低い位置に配置されている(図8参照)。
以上のような基板処理装置100及び基板搬送装置1の動作について説明する。
(搬送アームの昇降動作)
まず、上アーム22、下アーム23の高さを、チャンバ141の開口の高さに合わせるために、搬送アーム2を昇降させる動作を、以下に説明する。図4に示すように、搬送アーム2が最下端にある場合には、直動部41bは後端にある。
上記のような昇降動作を行っている間に、排気ポート37に接続された排気装置による排気がおこなわれる。つまり、通気孔38a、39aを介して連通している支柱32、上リンク33、下リンク34、接続リンク35、補助リンク33a、外筒38及び内筒39の内部の空気が、下方の排気ポート37から排気される。これにより、動作部分から生じる塵埃が、基板処理装置100内部に流出せずに、外部に排出される。基板処理装置100内部の空気は、複数の連結部分において、ラビリンス構造となった僅かな隙間を介して流入するため、1か所の大きな開口から集中して吸引されることがなく、気流の乱れも少ない。
次に、基板搬送装置1が、バッファユニット131とチャンバ141との間で、基板Wを受け渡す動作を説明する。まず、基板処理装置100での説明の通り、搬送ロボット132によりカセットCAから取り出された未処理の基板Wが、バッファユニット131に収容されているものとする。また、基板搬送装置1の下アーム23は、チャンバ141において処理済の基板Wを把持しているものとする。
(1)本実施形態の基板搬送装置1は、基板搬送用の搬送アーム2と、基体31に角度不動に立設された支柱32と、一端に搬送アーム2を支持し、支柱32に回動可能に連結され、回動に従って搬送アーム2を昇降させる上リンク33と、支柱32における上リンク33との連結部分よりも下方に、上リンク33の回動の軸と平行な軸を中心に回動可能に連結された下リンク34と、下リンク34の回動に従って上リンク33が回動するように、上リンク33及び下リンク34に回動可能に連結された接続リンク35と、下リンク34を回動させる駆動部4と、を有する。
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、下記に示す他の実施形態も包含する。また、本発明は、上記実施形態及び下記の他の実施形態を全て又はいずれかを組み合わせた形態も包含する。さらに、これらの実施形態を発明の範囲を逸脱しない範囲で、種々の省略や置き換え、変更を行うことができ、その変形も本発明に含まれる。
2 搬送アーム
3 昇降リンク
4 駆動部
21 テーブル
22 上アーム
23 下アーム
24 アームベース
24a 昇降軸
25 駆動アーム
26 連結部
27 把持アーム
27a 可動押え
27b 梁部
27c 固定押え
31 基体
32 支柱
33 上リンク
33a 補助リンク
34 下リンク
35 接続リンク
36 錘
37 排気ポート
38 外筒
38a 通気孔
38b ベアリング
39 内筒
39a 通気孔
41 直動機構
41a 駆動源
41b 直動部
42 変換部
42a 揺動アーム
51b 直動部
100 基板処理装置
110 処理室
115b 移動ベース
120 カセット搭載エリア
121 オープナー
130 第1の搬送エリア
131 バッファユニット
132 搬送ロボット
132a,132b アーム
133 移動機構
140 チャンバ配置エリア
141 チャンバ
141a 開口
141b 載置台
150 第2の搬送エリア
151 移動機構
151a 直線レール
151b 移動ベース
160 付帯エリア
161 液供給装置
162 制御装置
Claims (8)
- 基板搬送用の搬送アームと、
基体に角度不動に立設された支柱と、
一端に前記搬送アームを支持し、前記支柱に回動可能に連結され、回動に従って前記搬送アームを昇降させる上リンクと、
前記支柱における前記上リンクとの連結部分よりも下方に、前記上リンクの回動の軸と平行な軸を中心に回動可能に連結された下リンクと、
前記下リンクの回動に従って前記上リンクが回動するように、前記上リンク及び前記下リンクに回動可能に連結された接続リンクと、
前記下リンクを回動させる駆動部と、
を有することを特徴とする基板搬送装置。 - 前記駆動部は、
駆動源により駆動され、前記上リンク及び前記下リンクの回動の軸に直交する方向に沿って、直線状に往復移動する直動部を有する直動機構と、
前記直動部と前記下リンクとを接続し、前記直動部の移動を前記下リンクの回動に変換する変換部と、
を有することを特徴とする請求項1記載の基板搬送装置。 - 前記駆動源は、前記直動部の一対の移動端のうち、前記搬送アームから遠い側の移動端に配置されていることを特徴とする請求項2記載の基板搬送装置。
- 前記搬送アームが下方の移動端にある場合に、前記直動部が、前記搬送アームから遠い側の移動端にあることを特徴とする請求項2又は請求項3記載の基板搬送装置。
- 前記駆動部は、単一の駆動源によって前記直動部を駆動することを特徴とする請求項2乃至4のいずれかに記載の基板搬送装置。
- 前記支柱、前記上リンク、前記下リンク、前記接続リンク及びこれらの連結部分を含み構成される昇降リンクの内部は、気体が流通可能となるように互いに連通しており、
前記昇降リンクの内部を、前記駆動部側から排気するための排気ポートを有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の基板搬送装置。 - 前記駆動部は、前記基板に処理を行うチャンバの開口よりも低い位置に配置されていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の基板搬送装置。
- 前記搬送アームは、
水平方向に回動可能に設けられ、上下に重なる位置に収容される一対の上アーム、下アームを有することを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載の基板搬送装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020155483A JP7425701B2 (ja) | 2020-09-16 | 2020-09-16 | 基板搬送装置 |
CN202110979256.1A CN114267620A (zh) | 2020-09-16 | 2021-08-25 | 基板搬送装置 |
TW110132241A TWI790731B (zh) | 2020-09-16 | 2021-08-31 | 基板搬送裝置 |
US17/476,368 US11996310B2 (en) | 2020-09-16 | 2021-09-15 | Substrate carrying apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020155483A JP7425701B2 (ja) | 2020-09-16 | 2020-09-16 | 基板搬送装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022049332A JP2022049332A (ja) | 2022-03-29 |
JP7425701B2 true JP7425701B2 (ja) | 2024-01-31 |
Family
ID=80627080
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020155483A Active JP7425701B2 (ja) | 2020-09-16 | 2020-09-16 | 基板搬送装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11996310B2 (ja) |
JP (1) | JP7425701B2 (ja) |
CN (1) | CN114267620A (ja) |
TW (1) | TWI790731B (ja) |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003197712A (ja) | 2001-12-28 | 2003-07-11 | Juki Corp | 基板搬送装置、及び基板収納カセット搬送装置 |
JP2003243471A (ja) | 2002-02-15 | 2003-08-29 | Thk Co Ltd | 搬送装置 |
DE10227213A1 (de) | 2002-06-18 | 2004-01-15 | Asys Automatic Systems Gmbh & Co. Kg | Umsetzvorrichtung für Mikrosysteme |
JP2005319550A (ja) | 2004-05-10 | 2005-11-17 | Rorze Corp | バランサ装置及びこれを備えた装置、垂直回動型ロボット、薄板状物製造設備 |
JP2006016144A (ja) | 2004-07-01 | 2006-01-19 | Daihen Corp | トランスファロボット |
WO2011148633A1 (ja) | 2010-05-27 | 2011-12-01 | 株式会社アルバック | トラバース装置及び基板処理装置 |
JP2014159076A (ja) | 2014-04-16 | 2014-09-04 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 基板搬送ロボット |
JP2015178161A (ja) | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 株式会社安川電機 | 搬送ロボットおよび搬送システム |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1187461A (ja) | 1997-09-11 | 1999-03-30 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板搬送装置およびそれを適用した基板処理装置 |
WO2008032591A1 (fr) * | 2006-09-12 | 2008-03-20 | Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki | Appareils de transfert de pièces à travailler |
US8006850B2 (en) * | 2009-01-30 | 2011-08-30 | Randy Rotheisler | Articulated jib |
JP5408212B2 (ja) * | 2011-09-07 | 2014-02-05 | 株式会社安川電機 | 作業用ロボットおよび加工設備 |
JP5403378B2 (ja) * | 2011-09-08 | 2014-01-29 | 株式会社安川電機 | ロボットハンド及びロボット |
FR2981339B1 (fr) * | 2011-10-18 | 2016-02-19 | Commissariat Energie Atomique | Manipulateur de charge a equilibrage ameliore |
KR101863475B1 (ko) * | 2014-01-28 | 2018-05-31 | 가와사끼 쥬고교 가부시끼 가이샤 | 기판 반송 시스템 및 방법 |
JP6877480B2 (ja) * | 2019-04-09 | 2021-05-26 | 株式会社荏原製作所 | 搬送装置、ワーク処理装置、搬送装置の制御方法、プログラムを記憶する記録媒体 |
-
2020
- 2020-09-16 JP JP2020155483A patent/JP7425701B2/ja active Active
-
2021
- 2021-08-25 CN CN202110979256.1A patent/CN114267620A/zh active Pending
- 2021-08-31 TW TW110132241A patent/TWI790731B/zh active
- 2021-09-15 US US17/476,368 patent/US11996310B2/en active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003197712A (ja) | 2001-12-28 | 2003-07-11 | Juki Corp | 基板搬送装置、及び基板収納カセット搬送装置 |
JP2003243471A (ja) | 2002-02-15 | 2003-08-29 | Thk Co Ltd | 搬送装置 |
DE10227213A1 (de) | 2002-06-18 | 2004-01-15 | Asys Automatic Systems Gmbh & Co. Kg | Umsetzvorrichtung für Mikrosysteme |
JP2005319550A (ja) | 2004-05-10 | 2005-11-17 | Rorze Corp | バランサ装置及びこれを備えた装置、垂直回動型ロボット、薄板状物製造設備 |
JP2006016144A (ja) | 2004-07-01 | 2006-01-19 | Daihen Corp | トランスファロボット |
WO2011148633A1 (ja) | 2010-05-27 | 2011-12-01 | 株式会社アルバック | トラバース装置及び基板処理装置 |
JP2015178161A (ja) | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 株式会社安川電機 | 搬送ロボットおよび搬送システム |
JP2014159076A (ja) | 2014-04-16 | 2014-09-04 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 基板搬送ロボット |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20220084861A1 (en) | 2022-03-17 |
CN114267620A (zh) | 2022-04-01 |
TWI790731B (zh) | 2023-01-21 |
JP2022049332A (ja) | 2022-03-29 |
TW202213604A (zh) | 2022-04-01 |
US11996310B2 (en) | 2024-05-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6898403B2 (ja) | 基板搬送システム、基板処理装置、及び基板搬送方法 | |
US9472432B1 (en) | Dedicated hot and cold end effectors for improved throughput | |
TWI773092B (zh) | 具有整合的暫存區之晶圓傳送組件 | |
TWI495031B (zh) | 傳送室設計及使用傳送室方法 | |
JP5139253B2 (ja) | 真空処理装置及び真空搬送装置 | |
JPWO2012017653A1 (ja) | 基板処理システム、搬送モジュール、基板処理方法及び半導体素子の製造方法 | |
JPWO2012098871A1 (ja) | 真空処理装置 | |
KR101453189B1 (ko) | 반송 장치 | |
WO2018016257A1 (ja) | 基板処理装置 | |
EP3796368B1 (en) | Transport device having local purge function | |
US20170154799A1 (en) | Substrate transfer chamber and container connecting mechanism | |
KR20090124118A (ko) | 기판 처리 시스템 | |
JP7425701B2 (ja) | 基板搬送装置 | |
JP6187983B2 (ja) | リンク式搬送ロボット | |
KR20220139945A (ko) | 로봇 및 이를 구비한 기판 반송 시스템 | |
US8127713B2 (en) | Multi-channel developer system | |
JP2012169534A (ja) | 基板処理装置及び半導体装置の製造方法 | |
JP4383636B2 (ja) | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 | |
JPH1187461A (ja) | 基板搬送装置およびそれを適用した基板処理装置 | |
JP3856726B2 (ja) | 半導体製造装置 | |
JP2005347667A (ja) | 半導体製造装置 | |
US20030194299A1 (en) | Processing system for semiconductor wafers | |
KR102139613B1 (ko) | 기판 반송 장치 및 기판 처리 장치 | |
KR100763446B1 (ko) | 듀얼암을 갖는 로드락 챔버 | |
TW202336919A (zh) | 用於高產能的套疊式大氣機械臂 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230303 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20231221 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20240109 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240119 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7425701 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |