JP7397169B2 - 光ファイバ母材の製造方法および加熱炉 - Google Patents

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Description

本発明は、光ファイバ母材の製造方法および加熱炉に関する。
本願は、2020年3月25日に日本に出願された特願2020-054118号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
特許文献1には、光ファイバ母材を加熱して焼結・脱水するための炉心管が開示されている。炉心管には、不活性ガスの供給路と、不要なガスを排出する排気路と、が接続されている。排気路には電磁弁が設けられ、差圧計が測定した炉心管の内圧に応じて電磁弁の開閉量を制御するように構成されている。
日本国特開2000-169173号公報
特許文献1のように、電磁弁の開閉量を制御する方式では、電磁弁を駆動させて目標とする開閉量に達するまでの時間が大きくなる傾向があり、応答速度の面で改善の余地があった。電磁弁の応答速度が不充分であると、炉心管の内圧が適切に制御されずに光ファイバ母材の品質が不安定になる場合がある。
本発明はこのような事情を考慮してなされ、排気路に設けられた弁の応答速度を高めて光ファイバ母材の品質を安定させることが可能な光ファイバ母材の製造方法または加熱炉を提供する。
本発明の第1態様に係る光ファイバ母材の製造方法は、未処理母材を挿入可能な開口部を有する炉心管と、前記炉心管の外側から前記未処理母材を加熱するヒータと、前記ヒータを収容する収容室と、前記炉心管の内圧P1と前記収容室の内圧P2との差圧ΔP(=P1-P2)を測定する差圧計と、前記炉心管に接続された第1排気管および第2排気管と、前記第1排気管を通過する排気ガスの流量を制限する絞り弁と、前記第2排気管の開閉を切り替える開閉弁と、を備えた加熱炉を用意し、前記炉心管に不活性ガスを供給し、前記開閉弁が閉じられた状態で前記差圧ΔPが上昇するように前記絞り弁の通過流量を設定し、前記差圧ΔPが所定の上限値に到達したときに前記開閉弁を開き、前記差圧ΔPが所定の下限値に到達したときに前記開閉弁を閉じる。
また、本発明の第2態様に係る加熱炉は、未処理母材を挿入可能な開口部を有する炉心管と、前記炉心管の外側から前記未処理母材を加熱するヒータと、前記ヒータを収容する収容室と、前記炉心管の内圧P1と前記収容室の内圧P2との差圧ΔP(=P1-P2)を測定する差圧計と、前記炉心管に接続された第1排気管および第2排気管と、前記第1排気管を通過する排気ガスの流量を制限する絞り弁と、前記第2排気管の開閉を切り替える開閉弁と、前記開閉弁を制御する制御部と、を備え、前記絞り弁の通過流量は、前記開閉弁が閉じられた状態で前記差圧ΔPが上昇するように設定され、前記制御部は、前記差圧ΔPが所定の上限値に到達したときに前記開閉弁を開き、前記差圧ΔPが所定の下限値に到達したときに前記開閉弁を閉じるように構成されている。
本発明の上記態様によれば、排気路に設けられた弁の応答速度を高めて光ファイバ母材の品質を安定させることが可能となる。
本実施形態に係る加熱炉の模式図である。 本実施形態の開閉弁の制御内容を説明するための図である。
以下、本実施形態の加熱炉および当該加熱炉を用いた光ファイバ母材の製造方法について、図面に基づいて説明する。
図1に示すように、加熱炉1は、炉心管2と、ヒータ3と、収容室4と、差圧計5と、排気路6と、絞り弁7と、開閉弁8と、制御部9と、供給路10と、を備える。
炉心管2は、有底筒状に形成されており、上端に開口部2aを有している。開口部2aを通して、光ファイバ母材Mを炉心管2内に挿入したり、炉心管2から取り出したりすることができる。炉心管2は、光ファイバ母材Mに不純物が混入しないように、石英ガラスによって形成されている。
ヒータ3は、炉心管2の外周に配置されており、炉心管2ごと光ファイバ母材Mを加熱するように構成されている。ヒータ3は、収容室4内に配置され、外気から遮断されている。
差圧計5は、炉心管2および収容室4に接続されており、炉心管2の内圧P1と収容室4の内圧P2との差圧ΔP(=P1-P2)を測定するように構成されている。
排気路6は、炉心管2に接続されており、炉心管2内の不要な排気ガスを排気するように構成されている。図1の例では、排気路6は、接続部6aと、第1排気管6bと、第2排気管6cと、を有している。接続部6aの一端は炉心管2に接続され、他端は第1排気管6bおよび第2排気管6cに接続されている。言い換えると、第1排気管6bおよび第2排気管6cは接続部6aから分岐しており、炉心管2に間接的に接続されている。なお、接続部6aを設けず、第1排気管6bおよび第2排気管6cをそれぞれ直接炉心管2に接続してもよい。
絞り弁7は、第1排気管6bに設けられており、第1排気管6bを通過する排気ガスを所定の流量(以下、第1流量F1という)に制限するように構成されている。第1流量F1の設定は、手動で行われてもよいし、電気制御によって行われてもよい。ただし、第1流量F1の値は焼結工程および脱水工程を通して一定とする。第1流量F1の詳細については後述する。
開閉弁8は、第2排気管6cに設けられており、第2排気管6cの開閉を切り替えるように構成されている。開閉弁8が開いている場合は、所定の流量(以下、第2流量F2という)の排気ガスが、第2排気管6cから排出される。一方、開閉弁8が閉じている場合には、排気ガスは第2排気管6cからは排出されない。排気路6の全体から排出される排気ガスの流量をFと表すと、開閉弁8が開いている場合はF=F1+F2となり、開閉弁8が閉じている場合はF=F1となる。つまり、排気路6から排出される排気ガスの流量Fは、開閉弁8が開いている場合に大きくなり、開閉弁8が閉じている場合に小さくなる。
制御部9は、差圧計5および開閉弁8に電気的に接続されており、差圧計5が測定した差圧ΔPの値に応じて、開閉弁8の開閉を制御するように構成されている。制御部9としては、例えばマイクロコントローラ、IC(Integrated Circuit)、LSI(Large-scale Integrated Circuit)、またはASIC(Application Specific Integrated Circuit)などの集積回路を用いることができる。開閉弁8は、制御部9が出力した指令(制御信号等)に応じて、第2排気管6cを開いたり閉じたりするように構成されている。
供給路10の第1端部は炉心管2に接続され、第2端部は不活性ガスの供給源に接続されている。不活性ガスとしては、ヘリウムガス(He)、またはアルゴンガス(Ar)等が用いられる。供給路10は、不活性ガスを炉心管2内に供給するように構成されている。図1では供給路10が炉心管2の底壁に接続されているが、供給路10は炉心管2の周壁に接続されてもよい。
次に、光ファイバ母材の製造方法について説明する。本実施形態では、VAD法(Vapor-phase Axial Deposition method)、およびOVD(Outside Vapor Deposition method)法などのスート法を用いる場合について説明するが、他の製法を採用してもよい。
スート法によって光ファイバ母材を製造する際、まず、不図示の反応容器内に設置されたバーナから、酸素ガス、水素ガス、不活性ガスなどを流し、これらのガスを反応させた火炎中に、SiClなどのガラス原料ガスを投入する。これにより、ガラス微粒子が生成される。このガラス微粒子を、反応容器内で回転するターゲットに付着させることで、ターゲットの外周にスートが堆積する。これにより、焼結前の光ファイバ母材M(以下、未処理母材Mという)が得られる。
次に、未処理母材Mを回転させながら下降させて、開口部2aを通して炉心管2内に挿入する。
次に、供給路10から不活性ガスを供給しながら、ヒータ3によって未処理母材Mを加熱する。これにより、未処理母材Mはその下部から上部に向かって徐々に加熱され、スートが焼結する(焼結工程)。これにより、焼結後の光ファイバ母材Mが得られる。焼結工程の際に、または焼結工程の前に、脱水工程を行ってもよい。さらに、焼結工程の前あるいは焼結工程と同時に、光ファイバ母材Mにドーパントを添加するドープ工程を行ってもよい。
また、加熱炉1から取り出した光ファイバ母材Mを線引きすることで、光ファイバが得られる。
ここで、ヒータ3が光ファイバ母材Mを加熱する際には、炉心管2の周壁も同時に加熱される。炉心管2は石英ガラスにより形成されているため、加熱によってある程度軟化する。したがって、先述の差圧ΔPが負の値になると、炉心管2の周壁が内側に向けて変形し、光ファイバ母材Mの品質が低下する場合がある。このため、差圧ΔPは正の値に維持されることが求められる。一方、差圧ΔPが正の値であっても、その値が大きすぎると、炉心管2の周壁が外側に向けて膨張したり、破損したりする可能性がある。
そこで本実施形態では、差圧ΔPの値が負の値にならず、かつ所定の上限値を超えないように、絞り弁7の流量設定および開閉弁8の開閉動作が行われる。以下、図2を用いてより詳しく説明する。
図2(a)、(b)の横軸は時間を示している。図2(a)の縦軸は差圧計5により測定された差圧ΔPを示している。図2(b)の縦軸は、排気路6を通じて排出される排気ガスの流量Fを示している。
t=0の時点では、開閉弁8が閉じられているため、F=F1となっている。絞り弁7の流量F1は、開閉弁8が閉じられている場合に差圧ΔPが上昇するように設定されている。このため、図2(a)に示すように、t=0~t1の間は、差圧ΔPが上昇している。なお、t=0の時点における差圧ΔPの値は、正の値であれば、図2(a)のように下限値L2でなくてもよい。
制御部9は、差圧ΔPが上昇して所定の上限値L1に到達した場合に、開閉弁8を開く指令を出力するように構成されている。このため、図2(a)、(b)に示すように、差圧ΔPが上限値L1まで上昇した時(t=t1)に制御部9により開閉弁8が開かれ、流量FがF1+F2に増加している。t=t1~t2の間は、流量F=F1+F2に増加していることで、差圧ΔPが低下する。
制御部9は、差圧ΔPが減少して所定の下限値L2に到達した場合に、開閉弁8を閉じる指令を出力するように構成されている。このため、図2(a)、(b)に示すように、差圧ΔPが下限値L2まで減少した時(t=t2)に制御部9により開閉弁8が閉じられ、流量FがF1に戻っている。t=t2~t3の間は、流量F=F1に戻っているため、差圧ΔPが再び上昇する。
以降同様に、差圧ΔPが上限値L1に到達すると制御部9は開閉弁8を開き(t=t3)、差圧ΔPが下限値L2に到達すると制御部9は開閉弁8を閉じる(t=t4)。図示は省略するが、時刻t=t4以降も同様の動作が繰り返される。
図2(a)に示すように、本明細書では、開閉弁8を開いてから開閉弁8を閉じるまでの時間をΔT1と表し、開閉弁8を閉じてから開閉弁8を開くまでの時間をΔT2と表す。
ΔT1の値は、供給路10を通じて炉心管2に供給される不活性ガスの流量(以下、供給流量という)、第1排気管6b(絞り弁7の設定による)および第2排気管6cの許容流量、並びに、上限値L1および下限値L2等によって定まる。
ΔT2の値は、前記供給流量、第1排気管6b第2排気管6cの許容流量、並びに、上限値L1および下限値L2等によって定まる。
ΔT1、ΔT2の値は、一つの焼結工程および脱水工程の間に変動してもよい。
ΔT1の値は、例えば0.25~1分の範囲内であることが好ましい。また、ΔT2の値は、1~10分の範囲内であることが好ましい。適切なΔT1、ΔT2の値にすることで、一回の焼結工程における開閉弁8の動作頻度を適切に設定したり、差圧ΔPが不意に上限値L1を超えたり下限値L2を下回ったりすることを抑制できる。
以上説明したように、本実施形態の光ファイバ母材の製造方法は、未処理母材を挿入可能な開口部2aを有する炉心管2と、炉心管2の外側から未処理母材を加熱するヒータ3と、ヒータを収容する収容室4と、炉心管2の内圧P1と収容室4の内圧P2との差圧ΔP(=P1-P2)を測定する差圧計5と、炉心管2に接続された第1排気管6bおよび第2排気管6cと、第1排気管6bを通過する排気ガスの流量を制限する絞り弁7と、第2排気管6cの開閉を切り替える開閉弁8と、を備えた加熱炉1を用意する。
そして、炉心管2に不活性ガスを供給し、開閉弁8が閉じられた状態で差圧ΔPが上昇するように絞り弁7の通過流量を設定し、差圧ΔPが所定の上限値L1に到達したときに開閉弁8を開き、差圧ΔPが所定の下限値L2に到達したときに開閉弁8を閉じる。
このような構成により、開閉弁8を開閉するという簡易な制御内容で、差圧ΔPを所定の上限値L1および下限値L2の範囲内に維持することが可能となる。開閉弁8の動作は単純な開閉のみであるため、差圧ΔPに合わせて流量を制御する方式の弁と比較して、応答速度を高めることができ、光ファイバ母材の品質を安定させることができる。さらに、下限値L2をゼロ以上の値に設定することで、差圧ΔPが負の値になることを容易に防ぐことができる。
また、開閉弁8を開いてから開閉弁8を閉じるまでの時間ΔT1が0.25~1分の範囲内であってもよい。ΔT1が0.25分(15秒)以上であることで、開閉弁8の応答速度がΔT1に対して遅くなりすぎ、差圧ΔPの制御が不安定になることを抑制できる。ΔT1が1分以下となるように第2排気管6cの許容流量(第2排気管6cの内径等)を設定することで、例えば差圧ΔTが過大となったときに速やかに排気ガスを排出することができる。
また、開閉弁8を閉じてから開閉弁8を開くまでの時間ΔT2が1~10分の範囲内であってもよい。ΔT2が1分以上であることで、一回の焼結工程の間における開閉弁8の動作頻度が過剰になることを抑制できる。したがって、開閉弁8の故障の発生を抑制できる。また、ΔT2が10分以下であることで、開閉弁8が閉じているときの差圧ΔTの一定時間あたりの上昇量を、より確実に正の値にすることができる。すなわち、開閉弁8を閉じているにも関わらず差圧ΔTが減少し、差圧ΔTが負の値になり光ファイバ母材の品質に悪影響が及ぼされることを抑制できる。
また、差圧ΔPの下限値L2が50Pa以上であってもよい。この場合、例えば開閉弁8の応答速度等が原因となり、制御部9が指令を出力してから開閉弁8が実際に閉じられるまでのタイムラグが生じても、差圧ΔPが負の値になることを抑制できる。
また、本実施形態の加熱炉1は、未処理母材を挿入可能な開口部2aを有する炉心管2と、炉心管2の外側から前記未処理母材を加熱するヒータ3と、ヒータ3を収容する収容室4と、炉心管2の内圧P1と収容室4の内圧P2との差圧ΔP(=P1-P2)を測定する差圧計5と、炉心管2に接続された第1排気管6bおよび第2排気管6cと、第1排気管6bを通過する排気ガスの流量を制限する絞り弁7と、第2排気管6cの開閉を切り替える開閉弁8と、開閉弁8を制御する制御部9と、を備える。
絞り弁7の通過流量は、開閉弁8が閉じられた状態で差圧ΔPが上昇するように設定され、制御部9は、差圧ΔPが所定の上限値L1に到達したときに開閉弁8を開き、差圧ΔPが所定の下限値L2に到達したときに開閉弁8を閉じるように構成されている。
このように、単純な開閉のみを行う開閉弁8を用いることで、差圧ΔPに合わせて流量を制御する方式の弁を用いる場合と比較して、応答速度を高めることができ、光ファイバ母材の品質を安定させることができる。
なお、本発明の技術的範囲は前記実施形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、前記実施形態で説明した下限値L2、ΔT1、ΔT2等の数値はあくまで一例であり、適宜変更してもよい。
その他、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、上記した実施形態における構成要素を周知の構成要素に置き換えることは適宜可能であり、また、上記した実施形態や変形例を適宜組み合わせてもよい。
例えば、上記実施形態では主として焼結工程に関して記載したが、光ファイバ母材の製造時に行う焼結工程以外の工程に上記実施形態を適用してもよい。すなわち、先述の「未処理母材」は、焼結前の光ファイバ母材(未焼結母材)であってもよいし、その他の処理を行う前の光ファイバ母材であってもよい。また、いくつかの種類の工程を連続して行う場合に、前記実施形態を適用することも可能である。
1…加熱炉 2…炉心管 2a…開口部 3…ヒータ 4…収容室 5…差圧計 6b…第1排気管 6c…第2排気管 7…絞り弁 8…開閉弁 9…制御部

Claims (5)

  1. 未処理母材を挿入可能な開口部を有する炉心管と、前記炉心管の外側から前記未処理母材を加熱するヒータと、前記ヒータを収容する収容室と、前記炉心管の内圧P1と前記収容室の内圧P2との差圧ΔP(=P1-P2)を測定する差圧計と、前記炉心管に接続された第1排気管および第2排気管と、前記第1排気管を通過する排気ガスの流量を制限する絞り弁と、前記第2排気管の開閉を切り替える開閉弁と、を備えた加熱炉を用意し、
    前記炉心管に不活性ガスを供給し、
    前記開閉弁が閉じられた状態で前記差圧ΔPが上昇するように前記絞り弁の通過流量を設定し、
    前記差圧ΔPが所定の上限値に到達したときに前記開閉弁を開き、
    前記差圧ΔPが所定の下限値に到達したときに前記開閉弁を閉じる、光ファイバ母材の製造方法。
  2. 前記開閉弁を開いてから前記開閉弁を閉じるまでの時間が0.25~1分の範囲内である、請求項1に記載の光ファイバ母材の製造方法。
  3. 前記開閉弁を閉じてから前記開閉弁を開くまでの時間が1~10分の範囲内である、請求項1または2に記載の光ファイバ母材の製造方法。
  4. 前記下限値が50Pa以上である、請求項1から3のいずれか1項に記載の光ファイバ母材の製造方法。
  5. 未処理母材を挿入可能な開口部を有する炉心管と、
    前記炉心管の外側から前記未処理母材を加熱するヒータと、
    前記ヒータを収容する収容室と、
    前記炉心管の内圧P1と前記収容室の内圧P2との差圧ΔP(=P1-P2)を測定する差圧計と、
    前記炉心管に接続された第1排気管および第2排気管と、
    前記第1排気管を通過する排気ガスの流量を制限する絞り弁と、
    前記第2排気管の開閉を切り替える開閉弁と、
    前記開閉弁を制御する制御部と、を備え、
    前記絞り弁の通過流量は、前記開閉弁が閉じられた状態で前記差圧ΔPが上昇するように設定され、
    前記制御部は、前記差圧ΔPが所定の上限値に到達したときに前記開閉弁を開き、前記差圧ΔPが所定の下限値に到達したときに前記開閉弁を閉じるように構成されている、加熱炉。
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