JP7339498B2 - 電池の封止構造 - Google Patents

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Description

本開示は、電池の封止構造に関するものである。
例えば、電池では、電解液等の漏れを抑制する目的で、電極外部端子と封口板との間に絶縁性のガスケットを介在させて封止性を確保することがある(例えば、特許文献1を参照)。
特開2008-251213号公報
特許文献1では、長期使用時の封止構造の耐久性について検討されていない。
本開示は、電池の封止構造において、長期使用に耐える十分な耐久性を確保することを課題とする。
前記の課題を解決するため、第1の態様に係る電池の封止構造は、貫通孔(2a)を有した板状の部材(2)と、
前記貫通孔(2a)の周縁(2b)の全周に沿って設けられた筒部(3a)と、該筒部(3a)に設けられた基部(3b)と、を有した高分子成形体(3)と、
前記筒部(3a)の内周(3g)側に配置された柱部(11a)と、該柱部(11a)に設けられた板部(11b)と、を有した電極(11)と、
を備え、
前記部材(2)の裏面(2c)は、前記高分子成形体(3)の基部(3b)の表面(3e)と接触しており、
前記電極(11)の板部(11b)の表面(11c)は、前記高分子成形体(3)の基部(3b)の裏面(3f)と接触しており、
前記部材(2)の裏面(2c)及び前記電極(11)の板部(11b)の表面(11c)の少なくとも一方は、前記貫通孔(2a)の周囲であって該高分子成形体(3)の基部(3b)に向かって凸状に設けられた環状の突起部(51)を備えており、
前記突起部(51)の高さをh、前記突起部(51)の幅をw、前記高分子成形体(3)の基部(3b)の厚さをHとしたときに、h/Hは0.1以上0.7以下であり且つh/wは0.1以上1.0以下であり、
前記突起部(51)の断面(51a)において、該突起部(51)の輪郭(51b)は、滑らかな曲線及び内角(51c)が160°以上360°未満の複数の直線の少なくとも一方であり、
前記突起部(51)の前記断面(51a)の面積は、前記hと前記wとの積で表される値h・wの50%以上96%以下であることを特徴とする。
この構成では、長期使用に耐える十分な耐久性を確保することができる。
第2の態様は、第1の態様において、
前記h/Hは0.15以上0.65以下であり且つ前記h/wは0.1以上0.9以下であることを特徴とする。
第3の態様は、第2の態様において、
前記h/Hは0.2以上0.6以下であり且つ前記h/wは0.2以上0.8以下であることを特徴とする。
第4の態様は、第3の態様において、
前記h/Hは0.2以上0.55以下であり且つ前記h/wは0.25以上0.75以下であることを特徴とする。
第5の態様は、第4の態様において、
前記h/Hは0.25以上0.5以下であり且つ前記h/wは0.3以上0.7以下であることを特徴とする。
第6の態様は、第5の態様において、
前記h/Hは0.3以上0.5以下であり且つ前記h/wは0.35以上0.65以下であることを特徴とする。
第7の態様は、第6の態様において、
前記h/Hは0.3以上0.5以下であり且つ前記h/wは0.4以上0.6以下であることを特徴とする。
第8の態様は、第1~7の態様のいずれか1項において、
前記高分子成形体(3)の原料は、非接着性の樹脂であることを特徴とする。
第9の態様は、第1~8の態様のいずれか1項において、
前記高分子成形体(3)の原料は、フッ素系の樹脂であることを特徴とする。
第10の態様は、第1~9の態様のいずれか1項において、
前記電池(10)はリチウムイオン電池であることを特徴とする。
図1は、リチウムイオン電池の封止構造を例示する。 図2は、金属蓋の底面図を示す。 図3は、シミュレーションに用いた封止構造の軸対称モデルの断面図を示し、図1の封止構造の拡大図に相当する。 図4は、図3の符号IVで示す部分の拡大図を示す。 図5は、シミュレーションによって得られた、種々の圧縮率h/Hにおける「アスペクト比(h/w)」と10年経過後の「シール面圧」との関係を例示する。 図6は、シミュレーションによって得られた、種々の圧縮率h/Hにおける「アスペクト比(h/w)」と10年経過後の「最大主ひずみ」との関係を例示する。 図7は、シミュレーションによって得られた、種々の圧縮率h/Hにおける「アスペクト比(h/w)」と10年経過後の「押圧力」との関係を例示する。 図8は、図4の突起部の変形例を示す。 図9は、シミュレーションによって得られた、h=0.3mm、w=0.6mmの突起部(51)の断面(51a)の輪郭(51b)を正多角形で表現したときの「内角(51c)」と「シール面圧」との関係を例示する。 図10は、シミュレーションによって得られた、h=0.3mm、w=0.6mmの突起部(51)の断面(51a)の輪郭(51b)を正多角形で表現したときの「内角(51c)」と「最大主ひずみ」との関係を例示する。 図11は、図4の突起部の変形例を示す。 図12は、シミュレーションによって得られた、h=0.3mm、w=0.4mmの突起部のRの違いによる「経過時間」と「シール面圧」との関係を例示する。 図13は、シミュレーションによって得られた、h=0.3mm、w=0.4mmの突起部のRの違いによる「経過時間」と「最大主ひずみ」との関係を例示する。 図14は、実施形態2の封止構造の図3相当図を示す。 図15は、実験例1のシミュレーションによって得られた、「d関連値β (d/H)」と10年経過後の「シール面圧」との関係を例示する。 図16は、実験例1のシミュレーションによって得られた、「d関連値β (d/H)」と10年経過後の「最大主ひずみ」との関係を例示する。 図17は、実験例1のシミュレーションによって得られた、「d関連値β (d/H)」と10年経過後の「押圧力」との関係を例示する。 図18は、シミュレーションによって得られた、圧縮率の違いによる「d関連値β (d/H)」と10年経過後の「シール面圧」との関係を例示する。 図19は、シミュレーションによって得られた、圧縮率の違いによる「d関連値β (d/H)」と10年経過後の「最大主ひずみ」との関係を例示する。 図20は、シミュレーションによって得られた、圧縮率の違いによる「d関連値β (d/H)」と10年経過後の「押圧力」との関係を例示する。 図21は、圧縮率αとd関連値βとの関係を例示する。 図22は、他の実施形態に係る封止構造の図1相当図である。 図23は、他の実施形態に係る封止構造の図1相当図である。
《実施形態1》
〈方向〉
図1,図2に示すように、金属蓋(2)の貫通孔(2a)の軸(A1)方向を貫通方向(A)、径方向を径方向(B)と称する。便宜的に、図1の上側を上側、下側を下側とする。上側及び下側は、それぞれ表側及び裏側ともいう。
〈封止構造〉
図1は、リチウムイオン電池(10)の封止構造(10a)を例示する。封止構造(10a)は、封止部材(1)と、電極(11)とを備える。
〈封止部材の構成〉
封止部材(1)は、前記の部材(2)に該当する金属部材である金属蓋(2)と、高分子成形体(3)とを備えている。金属蓋(2)と高分子成形体(3)とは、非接着状態で互いに固定されている。
-金属蓋-
図2は、金属蓋(2)の底面図を示す。この金属蓋(2)は、例えばアルミニウム等の金属で形成される。この例では、図2に示すように、金属蓋(2)は、貫通孔(2a)を有した板状の部材である。より具体的には、金属蓋(2)は、円形の貫通孔(2a)を有した円形ワッシャ状の形態を有している。
-高分子成形体-
高分子成形体(3)は、図1に示すように、筒状の部分(以下、筒部(3a)という)と、下側の板状の部分(以下、基部(3b)という)と、上側の板状の部分(以下、上部(3c))とを備えている。筒部(3a)は、貫通孔(2a)の周縁(2b)の全周に沿って設けられている。筒部(3a)は、貫通孔(2a)と同軸の孔(3d)を有する。基部(3b)は、筒部(3a)の一端側に設けられている。上部(3c)は、筒部(3a)の他端側に設けられている。高分子成形体(3)は、軸(A1)周りに回転対称な軸対称形状(回転体形状)である。軸対称形状は例示であり、非軸対称形状の高分子成形体(3)でもかまわない。
高分子成形体(3)は、貫通孔(2a)の周縁(2b)に固定されている(図1参照)。具体的に、本実施形態では、インサート成形によって封止部材(1)が形成されている。インサート成形では、成形用の金型内に挿入された金属蓋(2)の周りに、高分子成形体(3)の原料である樹脂が注入されて、金属蓋(2)と高分子成形体(3)とが一体化される。換言すると、金属蓋(2)と高分子成形体(3)とは一体成形品である。この例では、金属蓋(2)と高分子成形体(3)とは、非接着状態で互いに固定されている。この例では、高分子成形体(3)の原料には、フッ素系の樹脂、より具体的には、テトラフルオロエチレンとパーフルオロアルキルビニルエーテルの共重合体(略称:PFA)を用いている。高分子成形体(3)の原料としてこの樹脂を採用した理由については後述する。
〈電極の構成〉
電極(11)は、柱状の部分(以下、柱部(11a)という)と、板状の部分(以下、板部(11b)という)とを有する。柱部(11a)は、筒部(3a)の孔(3d)の内周(3g)側に配置されている。板部(11b)は、柱部(11a)の一端側に設けられている。柱部(11a)の他端側には、ワッシャ(以下、外ワッシャ(12)という)が固定されている。図1に示すように、このリチウムイオン電池(10)では、封止部材(1)が外ワッシャ(12)と電極(11)の板部(11b)との間に挟み込まれている。リチウムイオン電池(10)では、この封止部材(1)によって、当該リチウムイオン電池(10)のケーシング(図示を省略)の内部に封入されている電解液(L)が封止される。この封止部材(1)は、大気中からの水分のリチウムイオン電池(10)のケーシングの内部への流入を防止する。
封止部材(1)では、電極(11)と金属蓋(2)とが接触しないように、高分子成形体(3)が両者の間に介在している(図1等を参照)。高分子成形体(3)の原料として採用したPFAは、絶縁性を有している。高分子成形体(3)は、金属蓋(2)と電極(11)とを電気的に絶縁する機能を有している。
〈封止構造のシール機能〉
金属蓋(2)の表面(2d)は、高分子成形体(3)の上部(3c)の裏面(3j)と接触している。金属蓋(2)の裏面(2c)は、高分子成形体(3)の基部(3b)の表面(3e)と接触している。金属蓋(2)の貫通孔(2a)の周縁(2b)は高分子成形体(3)の筒部(3a)の外周(3h)と接触している。これらの接触部分を第1接触部分(S1)と称する。
電極(11)の板部(11b)の表面(11c)は、高分子成形体(3)の基部(3b)の裏面(3f)と接触している。電極(11)の柱部(11a)の外側面(11d)は、高分子成形体(3)の筒部(3a)の孔(3d)の内周(3g)と接触している。外ワッシャ(12)の裏面(12a)は、高分子成形体(3)の上部(3c)の表面(3k)と接触している。これらの接触部分を第2接触部分(S2)と称する。
封止構造(10a)は、2箇所のシール面においてシールを行う。一つ目のシール面は、上述の第1接触部分(S1)である。もう一つのシール面は、上述の第2接触部分(S2)である(図3を参照)。封止構造(10a)では、封止部材(1)が外ワッシャ(12)と板部(11b)に接し、外ワッシャ(12)によって押圧される(図1参照)。封止構造(10a)では、十分なシール性(十分なシール面圧)を発揮できる。
〈突起部〉
図2~図4に示すように、金属蓋(2)の裏面(2c)には、貫通孔(2a)の周囲であって該高分子成形体(3)の基部(3b)に向かって凸状に設けられた環状の突起部(51)が形成されている。
本実施形態に係る封止構造(10a)は、突起部(51)のサイズ及び形状に特徴がある。
-突起部のサイズについて-
図3に示すように、突起部(51)の高さ、すなわち突起部(51)の貫通方向(A)の高さをhとする。突起部(51)の幅、すなわち突起部(51)の径方向(B)の長さをwとする。高分子成形体(3)の基部(3b)の厚さ、すなわち貫通方向(A)の高さをHとする。h/Hは、高分子成形体(3)の圧縮率を表している。h/wは突起部(51)のアスペクト比である。
以下、圧縮率h/H及びアスペクト比h/wについて、シミュレーションにより検討した結果を説明する。
具体的には、図3に示すように、軸(A1)周りの回転体形状である軸対称モデルを作成した。図3の軸対称モデルについて、圧縮率h/Hを変化させたときのアスペクト比h/wと、シール面圧(MPa)、最大主ひずみ、及び押圧力(kN)との関係を算出した。シミュレーションでは、図4に示す突起部(51)の断面(51a)において、輪郭(51b)は、円弧、又は、円弧及び直線を含む滑らかな曲線である半円形又は半円形に近い形状に設定した(図4及び図11参照)。断面(51a)において、後述する断面(51a)の面積のh・wに対する割合が約80%となるように設定した。シミュレーションでは、電極(11)を固定し、金属蓋(2)に下方向、大きさhの強制変位を与えた。シミュレーションでは、Mises降伏条件を満たす弾塑性モデルと修正時間硬化型クリープモデルを用いて、常温締結後、常温にて90,000時間(約10年間)保持した高分子成形体(3)の挙動を求めた。結果を図5~図7に示す。シミュレーションに用いた数値は以下のとおりである。
h=0.06mm、0.12mm、0.18mm、0.24mm、0.30mm、0.36mm、0.42mm
w=0.06mm、0.12mm、0.18mm、0.24mm、0.30mm、0.36mm、0.42mm
H=0.6mm
a=3.3mm
b=0.5mm
「シール面圧」は、図3に示す第1接触部分(S1)及び第2接触部分(S2)に生じる最大シール面圧のうちで最も小さいものである。例えば、第1接触部分(S1)の最大シール面圧及び第2接触部分(S2)の最大シール面圧のうち小さい方が本明細書における「シール面圧」である。90,000時間経過後(本明細書では、「10年経過後」ともいう。)のシール面圧は、好ましくは1.1MPa以上、より好ましくは2MPa以上、特に好ましくは5MPa以上である。シール面圧が1.1MPa未満では十分なシール性を確保することができない。
図5に示すように、圧縮率h/Hが0.1以上0.7以下の全てのポイントにおいて10年経過後のシール面圧は1.1MPa以上となることが判った。図5の結果から、本実施形態の封止構造(10a)では、突起部(51)を設けたことによって十分なシール面圧を得られることが判る。
本実施形態に係る封止構造(10a)では、10年経過後においても十分なシール面圧が得られることが判ったが、耐久性の観点から、10年経過後の最大主ひずみについても考慮する必要がある。
本明細書において、「最大主ひずみ」は、高分子成形体(3)に生じる主ひずみの最大値である。10年経過後の最大主ひずみは、好ましくは1.7以下、より好ましくは1.6以下、特に好ましくは1.5以下であることが望ましい。最大主ひずみが1.7を超えると、高分子成形体(3)の十分な耐久性が確保できない。
図6に示すように、圧縮率h/Hの増加に伴い、10年経過後の最大主ひずみは増加傾向にある。アスペクト比h/wが約0.5以上では、アスペクト比h/wの増加に伴い、10年経過後の最大主ひずみは増加傾向にある。アスペクト比h/wが約0.5未満では、10年経過後の最大主ひずみは、いずれの圧縮率h/Hにおいても極小値を有する。アスペクト比h/wがその極小値より大きい領域では、アスペクト比h/wの減少に伴って10年経過後の最大主ひずみは減少傾向にある。アスペクト比h/wがその極小値より小さい領域では、アスペクト比h/wの減少に伴って10年経過後の最大主ひずみは増加傾向にある。
突起部(51)は高分子成形体(3)に局所的な変形をもたらし得るから、押圧力についても考慮することが望ましい。「押圧力」は、金属蓋(2)が高分子成形体(3)を押圧する力である。10年経過後の押圧力は、限定されるものではないが、好ましくは1kN以下、より好ましくは0.6kN以下、特に好ましくは0.3kN以下である。10年経過後の押圧力が1kNを超えると、初期の押圧力が大きくなりすぎ、金属蓋(2)が曲げ変形する虞がある。
例えば、図7に示すように、圧縮率h/Hが0.5以下では、10年経過後の押圧力は1kN以下である。例えば、圧縮率h/Hが0.6以上では、アスペクト比h/wが約0.4以上であれば、10年経過後の押圧力は1kN以下となる。
図5~図7の結果から、本実施形態に係る封止構造(10a)では、圧縮率h/Hは、0.1以上0.7以下、好ましくは0.15以上0.65以下、より好ましくは0.2以上0.6以下、特に好ましくは0.2以上0.55以下、特により好ましくは0.25以上0.5以下である。圧縮率h/Hが0.1未満では、封止構造(10a)の十分なシール性を確保することが困難となる虞がある。圧縮率h/Hが0.7超では、封止構造(10a)の十分な耐久性を確保することが困難となる虞がある。
公差、組付け工程の誤差の影響を抑制する観点から、圧縮率h/Hの下限値は大きい方が望ましい。
10年経過後の最大主ひずみを低下させる観点から、圧縮率h/Hの上限値は小さい方が望ましい。特に、図6のアスペクト比h/wが約0.3近傍における各圧縮率h/Hの最大主ひずみの値を比較すると、圧縮率h/H=0.1~0.5の値に比べて圧縮率h/H=0.6,0.7では最大主ひずみの値の増加量が大きい。公差、組付け工程の誤差を考えると、全体の設計の安定性を確保する観点から、圧縮率h/Hは0.5以下が好ましい。
図5~図7の結果から、本実施形態に係る封止構造(10a)では、アスペクト比h/wは、0.1以上1.0以下、好ましくは0.1以上0.9以下、より好ましくは0.2以上0.8以下、より好ましくは0.25以上0.75以下、より好ましくは0.3以上0.7以下、より好ましくは0.35以上0.65以下、より好ましくは0.4以上0.6以下である。アスペクト比h/wが0.1未満では、10年経過後において、圧縮率の変化に伴う高分子成形体(3)に生じる最大主ひずみの変化が大きくなりすぎ、封止構造(10a)の設計が不安定となる。アスペクト比h/wが1.0超では、10年経過後において、最大主ひずみが大きくなりすぎ、高分子成形体(3)の十分な耐久性が確保できない虞がある。図5に示すように、アスペクト比h/wが小さいほど10年経過後のシール面圧は増加傾向であるから、この点からも、アスペクト比h/wは1.0以下であることが望ましい。長期に亘って十分なシール性及び耐久性を確保する観点から、アスペクト比h/wの上限は小さい方が望ましい。10年経過後の最大主ひずみの値を抑制する観点から、アスペクト比h/wの下限値は大きい方が望ましい。圧縮率h/Hの変化に対する最大主ひずみの変化の割合を抑制することにより、公差、組付け工程の誤差の影響を低減させて、全体の設計の安定性を確保する観点から、アスペクト比h/wの下限値は大きい方が望ましい。
-突起部の形状について-
図4、図8及び図11は、突起部(51)の形状の例を示している。
[輪郭]
以下、図4、図8~図11を参照して、突起部(51)の輪郭(51b)について説明する。
突起部(51)の断面(51a)において、突起部(51)の輪郭(51b)は、滑らかな曲線及び複数の直線の少なくとも一方である。
本明細書において、滑らかな曲線とは、例えば、円弧(図4参照)、波形、一部直線で繋がれた円弧(図11参照)等である。輪郭(51b)が複数の直線とは、輪郭(51b)の全体又は一部が多角形の一部からなること(図8参照)等をいう。
以下、図8~図10を参照して、輪郭(51b)が複数の直線からなる場合の内角(51c)について説明する。本明細書において、内角(51c)は0°以上360°未満の角度を意味する。
突起部(51)の輪郭(51b)として、円形(図4参照)を正多角形(図8参照)で表現したときの、内角(51c)と10年経過後のシール面圧及び最大主ひずみとの関係をシミュレーションにより求めた。結果を図9及び図10に示す。
シミュレーションの条件は、h=0.3mm、w=0.6mm、H=0.6mm(圧縮率h/H=0.5、アスペクト比h/w=0.5)とした以外は、上述の図5~図7のシミュレーションと同一の条件である。
図9に示すように、10年経過後のシール面圧は、内角(51c)が約150°以上で安定的となることが判る。図10に示すように、10年経過後の最大ひずみは、内角(51c)が160°以上で安定することが判る。シミュレーション結果より、10年経過後のシール面圧及び最大主ひずみの双方の安定性を確保する観点から、内角(51c)は、160°以上であることが望ましいことが判る。
図9及び図10の結果から、本実施形態に係る封止構造(10a)では、複数の直線の内角(51c)は、160°以上360°未満である。内角(51c)が160°未満では、10年経過後の最大主ひずみの安定性を確保することが難しくなる。
輪郭(51b)は、滑らかな曲線と内角(51c)が160°以上360°未満の複数の直線との組合せであってもよい。
[断面積]
以下、図11~図13を参照して、突起部(51)の断面(51a)の面積(本明細書において、突起部(51)の断面積ともいう。)について説明する。
図11に示すように、突起部(51)の輪郭(51b)を直線と半径Rの円弧とにより構成した例を考える。半径Rの円弧は、断面(51a)において、突起部(51)の下側の2箇所の角に配置されている。
半径Rの大きさを変化させると、削る領域(51d)の大きさが変化し、延いては断面(51a)の面積が変化する。h・wに対する削る領域(51d)の大きさの割合(百分率)は、[2(R-Rπ/4)/h・w]×100で表される。h・wに対する断面(51a)の面積の割合(百分率)は、[1-2(R-Rπ/4)/h・w]×100で表される。
Rの大きさを0.05から0.20の範囲で変化させたときの、経過時間とシール面圧及び最大主ひずみとの関係をシミュレーションにより求めた。結果を図12及び図13に示す。図12及び図13において、右端は10年経過後に相当する。
シミュレーションの条件は、h=0.3mm、w=0.4mm、H=0.6mm(圧縮率h/H=0.5、アスペクト比h/w=0.75)とした以外は、上述の図5~図7のシミュレーションと同一である。
図12に示すように、時間経過とともに、全体としてシール面圧は低下傾向であり、Rの大きさの違いによるシール面圧の違いは小さくなる。10年経過後のシール面圧はRの大きさによらず10MPa以上あり、断面(51a)の面積の違いが10年経過後のシール面圧に与える影響は小さい。
図13に示すように、Rの大きさの違いにより最大主ひずみは大きく異なる。時間経過とともに、全体として最大主ひずみは上昇傾向である。R≧0.10であれば、最大主ひずみは、10年経過後においても1.7以下である。R≧0.10を満たす断面(51a)の面積のh・wに対する割合(百分率)は、96%以下である。図13においてR≧0.11であれば、10年経過後の最大主ひずみは、1.5以下であることが予測される。R≧0.11を満たす断面(51a)の面積のh・wに対する割合(百分率)は、95%以下である。
突起部(51)の断面積は、hとwとの積で表される値h・wの50%以上96%以下、好ましくは50%以上95%以下である。h・wに対する断面(51a)の面積の割合が50%未満では、断面(51a)の面積が小さすぎ、突起部(51)の先端が細くなりすぎる虞がある。図13から、突起部(51)の断面(51a)の面積のh・wに対する割合が96%超では、10年経過後における最大主ひずみが1.7を超え、高分子成形体(3)の十分な耐久性が確保できない虞がある。
〈実施形態1の効果〉
本実施形態のリチウムイオン電池(10)の封止構造(10a)は、貫通孔(2a)を有した板状の金属蓋(2)を備える。封止構造(10a)は、前記貫通孔(2a)の周縁(2b)の全周に沿って設けられた筒部(3a)と、該筒部(3a)に設けられた基部(3b)と、を有した高分子成形体(3)を備える。封止構造(10a)は、前記筒部(3a)の内周(3g)側に配置された柱部(11a)と、該柱部(11a)に設けられた板部(11b)と、を有した電極(11)を備える。前記金属蓋(2)の裏面(2c)は、前記高分子成形体(3)の基部(3b)の表面(3e)と接触している。前記電極(11)の板部(11b)の表面(11c)は、前記高分子成形体(3)の基部(3b)の裏面(3f)と接触している。前記金属蓋(2)の裏面(2c)及び前記電極(11)の板部(11b)の表面(11c)の少なくとも一方は、前記貫通孔(2a)の周囲であって該高分子成形体(3)の基部(3b)に向かって凸状に設けられた環状の突起部(51)を備える。前記突起部(51)の高さをh、前記突起部(51)の幅をw、前記高分子成形体(3)の基部(3b)の厚さをHとしたときに、h/Hは0.1以上0.7以下であり且つh/wは0.1以上1.0以下である。前記突起部(51)の断面(51a)において、該突起部(51)の輪郭(51b)は、滑らかな曲線及び内角(51c)が160°以上360°未満の複数の直線の少なくとも一方である。前記突起部(51)の前記断面(51a)の面積は、前記hと前記wとの積で表される値h・wの50%以上96%以下である。
上記構成によれば、例えば10年という長期に亘る使用に対しても、十分なシール性及び耐久性を有する封止構造(10a)をもたらすことができる。
本実施形態の封止構造(10a)において、前記h/Hは0.15以上0.65以下であり且つ前記h/wは0.1以上0.9以下であることが望ましい。
本実施形態の封止構造(10a)において、前記h/Hは0.2以上0.6以下であり且つ前記h/wは0.2以上0.8以下であることが望ましい。
本実施形態の封止構造(10a)において、前記h/Hは0.2以上0.55以下であり且つ前記h/wは0.25以上0.75以下であることが望ましい。
本実施形態の封止構造(10a)において、前記h/Hは0.25以上0.5以下であり且つ前記h/wは0.3以上0.7以下であることが望ましい。
本実施形態の封止構造(10a)において、前記h/Hは0.3以上0.5以下であり且つ前記h/wは0.35以上0.65以下であることが望ましい。
本実施形態の封止構造(10a)において、前記h/Hは0.3以上0.5以下であり且つ前記h/wは0.4以上0.6以下であることが望ましい。
圧縮率h/Hの下限値は大きい方が、公差、組付け工程の誤差の影響を効果的に抑制できる。圧縮率h/Hの上限値は小さい方が、10年経過後の最大主ひずみを効果的に低下できる。特に、圧縮率h/Hは0.5以下では、公差、組付け工程の誤差の影響を低減し、全体の設計の安定性を効果的に確保できる。
アスペクト比h/wの上限は小さい方が、長期に亘って十分なシール性及び耐久性をより効果的に確保できる。アスペクト比h/wの下限値は大きい方が、10年経過後の最大主ひずみの値を効果的に抑制できる。アスペクト比h/wの下限値は大きい方が、圧縮率h/Hの変化に対する最大主ひずみの変化の割合を効果的に抑制でき、公差、組付け工程の誤差の影響を低減させて、全体の設計の安定性を効果的に確保できる。
《実施形態2》
以下、図14~図21を参照して、実施形態2に係るリチウムイオン電池(10)の封止構造(10a)について説明する。
図14に示すように、実施形態2に係る封止構造(10a)は、突起部(51)を2つ備えている点で、実施形態1の封止構造(10a)と異なる。具体的に、実施形態2の封止構造(10a)は、突起部(51)としての第1突起部(51)及び第2突起部(52)を備える。
〈第1突起部及び第2突起部〉
図14に示すように、本実施形態に係る封止構造(10a)は、金属蓋(2)の裏面(2c)に設けられた第1突起部(51)を備えている。第1突起部(51)は、図3に示す実施形態1の突起部(51)と同様の構成である。本実施形態に係る封止構造(10a)は、電極(11)の板部(11b)の表面(11c)に設けられた第2突起部(52)を備える。第2突起部(52)は、貫通孔(2a)の周囲に環状に設けられており、高分子成形体(3)の基部(3b)に向かって凸状に設けられている。
-第1突起部及び第2突起部の位置関係-
第2突起部(52)は、第1突起部(51)に比べて、径方向(B)の内側に設けられている。第1突起部(51)及び第2突起部(52)の高さhを、それぞれh1及びh2とする。第1突起部(51)及び第2突起部(52)間の距離をdとする。第1突起部(51)及び第2突起部(52)間の距離dは、第1突起部(51)及び第2突起部(52)の頂点間の距離とした。第1突起部(51)及び第2突起部(52)の頂点とは、それぞれ高さh1及びh2の基準となる点である。高分子成形体(3)の基部(3b)の厚さをHとする。
本実施形態に係る封止構造(10a)は、下記式(1)で表されるα及びβの値が、所定の関係を満たすことを特徴とする。
α=(h1+h2)/H,β=d/H ・・・(1)
αは、第1突起部(51)及び第2突起部(52)による高分子成形体(3)の「圧縮率」を示している。圧縮率αは理論上0<α≦2の値を取り得るが、0.1以上1.4以下であることが望ましい。圧縮率αが0.1未満では、突起部の形成が極めて困難となる虞がある。圧縮率αが1.4超では、高分子成形体(3)の形状の変化が大きすぎ、最大主ひずみが大きくなりすぎる虞がある。
βは、第1突起部(51)及び第2突起部(52)間の距離dを高分子成形体(3)の厚さHで除したものである。βは、距離dの高分子成形体(3)に対する影響を高分子成形体(3)の厚さHに関連づけて評価するためのものである。本明細書において、βを便宜的に「d関連値」と称する。
以下、圧縮率α及びd関連値βとの関係について、シミュレーションを用いて検討した結果を説明する。
具体的には、図14の軸対称モデルを作成した。図14の軸対称モデルは、軸(A1)周りの回転体形状を有する。第1突起部(51)の断面(51a)において、輪郭(51b)は、円弧、又は、円弧及び直線を含む滑らかな曲線である半円形又は半円形に近い形状とした。第1突起部(51)の断面(51a)において、断面(51a)の面積のh・wに対する割合が約80%となるように設定した。第2突起部(52)の断面の形状及びサイズは、第1突起部(51)と同一とした。
図14の軸対称モデルについて、αを一定としたとき及びαを変化させたときのβと10年経過後のシール面圧(MPa)、最大主ひずみ、及び押圧力(kN)との関係を算出した。シミュレーションでは、電極(11)を固定し、金属蓋(2)に下方向、大きさ2h1(=h1+h2、但しh1=h2)の強制変位を与えた。シミュレーションでは、Mises降伏条件を満たす弾塑性モデルと修正時間硬化型クリープモデルを用いて、常温締結後、常温にて10年間保持した高分子成形体(3)の挙動を求めた。結果を図15~図20に示す。シミュレーションに用いた数値は表1及び以下に示すとおりである。
Figure 0007339498000001
d=0~2.0mm、0.1mm毎
H=0.6mm
a=3.3mm
b=0.5mm
βの変化については以下の(A)~(C)の3種類について検討した。
(A)図14において、第2突起部(52)の位置を固定し、第1突起部(51)の位置を外側から内側に向かって移動させることにより、dの値を減少させてβの値を減少させる。(B)図14において、第1突起部(51)の位置を固定し、第2突起部(52)の位置を内側から外側に向かって移動させることにより、dの値を減少させてβの値を減少させる。(C)図14において、第1突起部(51)の位置を外側から内側、第2突起部(52)の位置を内側から外側に向かって移動させることにより、dの値を減少させてβの値を減少させる。
図15~図17は、例示として、表1に示す実験例1のシミュレーション結果である。
図15及び図17に示すように、10年経過後のシール面圧及び押圧力は、上記(C)が上記(A)及び(B)の中間程度の値を示すことが判る。図16に示すように、10年経過後の最大主ひずみは、(A)~(C)の違いによらず、同様の挙動を示していることが判る。限定する意図ではないが、上記(C)を採用することが、10年経過後のシール面圧、最大主ひずみ、及び押圧力に対するβの影響を検討する上で望ましいと考えられる。
図18~図20は、上記(C)の場合について、実験例1~5のシミュレーション結果をまとめたものである。
図18に示すように、いずれの実験例においても、10年経過後のシール面圧は5MPa以上となっており、十分なシール性を有することが判る。各実験例を比較すると、実験例1~3では圧縮率αによらずシール面圧はほぼ同様の値を示している。実験例4,5では、圧縮率αが増加するにつれてシール面圧も増加する。実験例1~5のいずれにおいても、βが増加するにつれて10年経過後のシール面圧は安定化する。
図19に示すように、圧縮率αが1の実験例5では、d関連値βが0.9以下では、10年経過後の最大主ひずみが1.7を超えると考えられる。圧縮率αが0.8の実験例4では、d関連値βが0.25以下で、最大主ひずみが1.7を超えると考えられる。最大主ひずみの数値を考慮すると、最大主ひずみが1.7以下の条件を満たす圧縮率α及びd関連値βの範囲があると考えられる。
実験例1~5のシミュレーションにより得られた結果から、圧縮率αとd関連値βとの関係を図示すると図21となる。
圧縮率αが0.1以上0.7以下の範囲では、d関連値βは0以上であればよい。圧縮率αが0.7超1.4以下の範囲では、d関連値βは、図21中符号Xで表される直線上か当該直線よりも上の領域の値であればよい。直線Xは、β=0.5+5(α-0.7)/3=(5α-2)/3で表される。これらをまとめると、α及びβの許容範囲は、下記式(2)の範囲、すなわち図21のうちドットで示す範囲となる。
Figure 0007339498000002
圧縮率αは、公差、組付け工程の誤差の影響を低減させる観点からは、大きい方が望ましく、好ましくは0.15以上、より好ましくは0.2以上である。圧縮率αは、最大主ひずみを低減させる観点からは、小さい方が望ましく、好ましくは1以下である。
押圧力は、上述したように、1kN以下であることが望ましい。図20を参照すると、圧縮率αが1の実験例5では、押圧力は、d関連値βの値によらず、約1kNか、1kNを超えている。圧縮率αが0.8の実験例4では、押圧力は、d関連値βの値によらず、1kNを下回っている。圧縮率αは、押圧力を低減させる観点からは、0.8以下であることが望ましい。圧縮率αは、最大主ひずみ及び押圧力を低減させる観点からは、0.7以下であることがより好ましい。
図18,図19を参照すると、シール面圧及び最大主ひずみは、d関連値βが大きいほど安定傾向にある。公差、組付け工程における誤差の影響を低減させて、全体の設計の安定性を確保する観点からは、d関連値βは、好ましくは0.5以上、より好ましくは1.0以上である。d関連値βは、限定されるものではないが、電極(11)の大きさと第1突起部(51)及び第2突起部(52)の機能とのバランスを考慮すると、10以下であることが好ましい。d関連値βは、上記バランスに加え、さらに高分子成形体(3)のコンパクト性を考慮すると、5以下であることがより好ましい。
〈実施形態2の効果〉
本実施形態に係るリチウムイオン電池(10)の封止構造(10a)は、貫通孔(2a)を有した金属蓋(2)を備える。封止構造(10a)は、前記貫通孔(2a)の周縁(2b)の全周に沿って設けられた筒部(3a)と、該筒部(3a)に設けられた基部(3b)と、を有した高分子成形体(3)を備える。前記筒部(3a)の内周(3g)側に配置された柱部(11a)と、該柱部(11a)に設けられた板部(11b)と、を有した電極(11)を備える。前記金属蓋(2)の裏面(2c)は、前記高分子成形体(3)の基部(3b)の表面(3e)と接触している。前記電極(11)の板部(11b)の表面(11c)は、前記高分子成形体(3)の基部(3b)の裏面(3f)と接触している。前記金属蓋(2)の裏面(2c)は、前記貫通孔(2a)の周囲であって該高分子成形体(3)の基部(3b)に向かって凸状に設けられた環状の第1突起部(51)を備えている。前記電極(11)の板部(11b)の表面(11c)は、前記貫通孔(2a)の周囲であって該高分子成形体(3)の基部(3b)に向かって凸状に設けられた環状の第2突起部(52)を備える。前記第1突起部(51)及び前記第2突起部(52)の高さをそれぞれh1及びh2、前記第1突起部(51)及び前記第2突起部(52)間の距離をd、前記高分子成形体(3)の基部(3b)の厚さをHとしたときに、下記式(1)で表されるα及びβの値が、下記式(2)を満たす。
α=(h1+h2)/H,β=d/H ・・・(1)
Figure 0007339498000003
α及びβを、上記式(2)で表される領域の範囲内とすることにより、長期に亘る使用に対しても、十分なシール性及び耐久性を有する封止構造(10a)をもたらすことができる。
本実施形態に係る封止構造(10a)において、前記α及び前記βの値は、好ましくは下記式(3)、より好ましくは下記式(4)又は式(5)、特に好ましくは下記式(6)、特により好ましくは下記式(7)を満たすことが望ましい。これにより、10年経過後においても、十分なシール性及び耐久性を有する封止構造(10a)をもたらすことができる。
Figure 0007339498000004
0.1≦α≦0.7,β≧1.0 ・・・(4)
0.15≦α≦0.7,β≧0.5 ・・・(5)
0.2≦α≦0.7,0.5≦β≦10 ・・・(6)
0.2≦α≦0.7,1.0≦β≦5 ・・・(7)
《その他の実施形態》
封止構造(10a)の用途は、リチウムイオン電池には限定されない。封止構造(10a)は、リチウムイオン電池以外の、例えば鉛蓄電池、ニッケルカドミウム電池、ナトリウム硫黄電池、ナトリウムイオン電池等の二次電池にも適用できる。封止構造(10a)は、非水電解液二次電池に好適である。
高分子成形体(3)の原料(PFA)は例示である。高分子成形体(3)用の原料として、PFA以外のフッ素系の樹脂の採用が可能であるし、フッ素系の樹脂とは異なる種類の樹脂及びポリマー組成物の採用も可能である。フッ素系の樹脂としては、上述のPFAに加え、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、テトラフルオロエチレン-ヘキサフルオロエチレン共重合体(FEP)、エチレンテトラフルオロエチレン共重合体(ETFE)、テトラフルオロエチレン-クロロトリフルオロエチレン-パフルオロビニルエーテル共重合体、エチレン-テトラフルオロエチレン-ヘキサフルオロプロピレン共重合体、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)、フッ化ビニリデンーテトラフルオロエチレン-ヘキサフルオロエチレン共重合体等が例示される。フッ素系の樹脂とは異なる種類の樹脂及びポリマー組成物としては、ポリエチレン系の樹脂、ポリアミド系の樹脂、ポリエステル系の樹脂、ポリウレタン樹脂、ゴム類等が例示される。ポリエチレン系の樹脂は、例えばリニア低密度ポリエチレン(LLPE)、低密度ポリエチレン(LPE)、高密度ポリエチレン(HDPE)、エチレン-酢酸ビニル共重合体(EVA)等である。ポリアミド系の樹脂は、例えばPA6、PA12、PA66等である。ポリエステル系の樹脂は、例えばポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテレフタレート(PBT)等である。ゴム類は、例えばブチルゴム(イソブチエン・イソプレンゴム(IIR))、エチレン・プロピレンゴム(EPM)、エチレン・プロピレン・ジエンゴム(EPDM)、ウレタンゴム(U)、シリコーンゴム(Si,Q)、フッ素ゴム(FKM)等である。高分子成形体(3)の原料として、上記例示の樹脂及びポリマー組成物の1種又は2種以上を採用することができる。
高分子成形体(3)の原料は、非接着性の樹脂及び非接着性のポリマー組成物であることが望ましい。
封止部材(1)の耐久性能を向上させる観点から、高分子成形体(3)用原料の「破断伸び」を、より望ましくは150%以上、更に望ましくは200%以上とするのがよい。
金属蓋(2)は、円板状のものには限定されないし、貫通孔(2a)も円形には限定されない。例えば、金属蓋(2)の外形は方形であってもよい。
金属蓋(2)の貫通孔(2a)も例えば方形であってもよい(この場合は、高分子成形体(3)も貫通方向(A)から見ると方形である)。
部材(2)として、金属蓋(2)を例示したが、金属蓋(2)は、金属以外の材料のものに置き換えてもよい。一例として、樹脂の蓋の採用も可能である。
金属蓋(2)の材料としてアルミニウムを例示したが、金属蓋(2)の材料は、封止構造(10a)の用途などに応じて適宜選択すればよい。金属蓋(2)の材料としては、例えば、上述のアルミニウムに加え、アルミニウム合金、銅、銅合金、鉄、ステンレススチール、ニッケル等の金属を採用できる。
封止部材(1)はインサート成形以外の方法により製造されてもよい。金属蓋(2)と高分子成形体(3)とは一体成形品でなくてもよい。高分子成形体(3)は、分割構造を有していてもよい。図22及び図23は、分割構造の例を示している。図22に示す高分子成形体(3)では、筒部(3a)、基部(3b)及び上部(3c)が、分割面(PL1,PL2)で互いに分割され、3つの部品により構成されている。図23に示す高分子成形体(3)では、筒部(3a)が分割面(PL3)で分割され、2つの部品により構成されている。2つの部品は、筒部(3a)の下側部分と基部(3b)とを含む部品、及び、筒部(3a)の上側部分と上部(3c)とを含む部品である。高分子成形体(3)に分割構造を採用する場合には、分割されてなる複数の部分をそれぞれ異なる材料で形成してもよい。こうすることで、種々のバリエーション展開が可能になる。分割されてなる複数の部分は互いの分割面において非接着状態であってもよいし、接着状態であってもよい。
実施形態1の突起部(51)は、電極(11)の板部(11b)の表面(11c)に設けられていてもよい。突起部(51)は、金属蓋(2)の裏面(2c)及び電極(11)の板部(11b)の表面(11c)のいずれか又は両方のそれぞれに複数設けられていてもよい。実施形態2は、金属蓋(2)の裏面(2c)及び電極(11)の板部(11b)の表面(11c)の両方に1つずつ突起部(51)(第1突起部(51)及び第2突起部(52))が設けられた一例である。実施形態2では、図14に示すように、第1突起部(51)が第2突起部(52)よりも径方向(B)外側に配置される構成であったが、第1突起部(51)が第2突起部(52)よりも径方向(B)内側に配置される構成であってもよい。
以上、実施形態および変形例を説明したが、特許請求の範囲の趣旨および範囲から逸脱することなく、形態や詳細の多様な変更が可能なことが理解されるであろう。以上の実施形態および変形例は、本開示の対象の機能を損なわない限り、適宜組み合わせたり、置換したりしてもよい。
本開示は、電池の封止構造について有用である。
2 金属蓋(部材)
2a 貫通孔
2b 周縁
2c (金属蓋の)裏面(部材の裏面)
3 高分子成形体
3a 筒部
3b 基部
3e (基部の)表面
3f (基部の)裏面
3g 内周
10 リチウムイオン電池(電池)
11 電極
11a 柱部
11b 板部
11c (板部の)表面
51 突起部、第1突起部
51a 断面
51b 輪郭
51c 内角
52 第2突起部(突起部)

Claims (10)

  1. 貫通孔(2a)を有した板状の部材(2)と、
    前記貫通孔(2a)の周縁(2b)の全周に沿って設けられた筒部(3a)と、該筒部(3a)の一端側に設けられた板状の基部(3b)と、を有した高分子成形体(3)と、
    前記筒部(3a)の内周(3g)側に配置された柱部(11a)と、該柱部(11a)に設けられた板部(11b)と、を有した電極(11)と、
    を備え、
    前記部材(2)の裏面(2c)は、前記高分子成形体(3)の基部(3b)の表面(3e)と接触しており、
    前記電極(11)の板部(11b)の表面(11c)は、前記高分子成形体(3)の基部(3b)の裏面(3f)と接触しており、
    前記部材(2)の裏面(2c)及び前記電極(11)の板部(11b)の表面(11c)の少なくとも一方は、前記貫通孔(2a)の周囲であって該高分子成形体(3)の基部(3b)に向かって凸状に設けられた環状の突起部(51)を備えており、
    前記突起部(51)の高さをh、前記突起部(51)の幅をw、前記高分子成形体(3)の基部(3b)の厚さをHとしたときに、h/Hは0.1以上0.7以下であり且つh/wは0.1以上1.0以下であり、
    前記突起部(51)の断面(51a)において、該突起部(51)の輪郭(51b)は、滑らかな曲線、又は、滑らかな曲線と内角(51c)が160°以上360°未満の複数の直線との組合せであり、
    前記突起部(51)の前記断面(51a)の面積は、前記hと前記wとの積で表される値h・wの50%以上96%以下であることを特徴とする電池の封止構造。
  2. 請求項1において、
    前記h/Hは0.15以上0.65以下であり且つ前記h/wは0.1以上0.9以下であることを特徴とする電池の封止構造。
  3. 請求項2において、
    前記h/Hは0.2以上0.6以下であり且つ前記h/wは0.2以上0.8以下であることを特徴とする電池の封止構造。
  4. 請求項3において、
    前記h/Hは0.2以上0.55以下であり且つ前記h/wは0.25以上0.75以下であることを特徴とする電池の封止構造。
  5. 請求項4において、
    前記h/Hは0.25以上0.5以下であり且つ前記h/wは0.3以上0.7以下であることを特徴とする電池の封止構造。
  6. 請求項5において、
    前記h/Hは0.3以上0.5以下であり且つ前記h/wは0.35以上0.65以下であることを特徴とする電池の封止構造。
  7. 請求項6において、
    前記h/Hは0.3以上0.5以下であり且つ前記h/wは0.4以上0.6以下であることを特徴とする電池の封止構造。
  8. 請求項1~7のいずれか1項において、
    前記高分子成形体(3)の原料は、非接着性の樹脂であることを特徴とする電池の封止構造。
  9. 請求項1~8のいずれか1項において、
    前記高分子成形体(3)の原料は、フッ素系の樹脂であることを特徴とする電池の封止構造。
  10. 請求項1~9のいずれか1項において、
    前記電池(10)はリチウムイオン電池であることを特徴とする電池の封止構造。
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