JP7313401B2 - ウェーハ検査システムおよびそのウェーハ検査装置 - Google Patents
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Description
110 載置ユニット
111 キャリア
112 チャック
120 ウェーハ載置領域
200 ブリッジモジュール
210 伝導ユニット
220 マウントブラケット
300 プローブカード
310 プロービング部
320 導電部
322 スルーホール
330 基板
340 窓
400 ウェーハ
410 ダイ
500 光検出装置
AA’ 断面線
CR 導電部の内縁から外縁までの最短距離
TP テストループ
VM 垂直方向
Claims (13)
- プロービング部と、前記プロービング部の周辺に配置された導電部と、を備えたプローブカードと、
マウントブラケットと、前記マウントブラケット上に配置された複数の伝導ユニットとを備え、前記マウントブラケットは、載置装置に着脱可能に取り付けられて、被検査ウェーハが載置ユニットに置かれてからブリッジモジュールが前記載置装置に取り付けられ、前記載置装置に取り付けられた前記ブリッジモジュールは前記伝導ユニットを前記載置ユニットに結合させることができるようにするブリッジモジュールと、
を含み、載置装置に載置された被検査ウェーハを検査するためのウェーハ検査装置であって、
前記伝導ユニットは、前記プローブカードの前記プロービング部が前記被検査ウェーハに接触した時、前記導電部が前記伝導ユニットの少なくとも1つに結合されることができるために用いられるウェーハ検査装置。 - 前記プローブカードは、基板を備え、前記導電部が前記基板の底面に配置された導電層であり、前記導電層の一側面が前記伝導ユニットの一端の接触のために用いられる請求項1に記載のウェーハ検査装置。
- 前記マウントブラケットの下縁は、前記マウントブラケットが嵌合方法で前記載置装置の上縁に取り付けられるため、前記載置装置の上縁の形状に適合する請求項2に記載のウェーハ検査装置。
- 前記導電層は、スルーホールを有し、前記プロービング部が前記スルーホールから突出している請求項3に記載のウェーハ検査装置。
- 前記導電層のスルーホールは、前記導電層の中央部位に配置され、前記導電層のスルーホール縁端から前記導電層の外縁までの長さが前記被検査ウェーハの半径より大きいかまたは等しい請求項4に記載のウェーハ検査装置。
- 前記基板は、前記スルーホールに対応できる窓を有し、前記基板の頂側に配置された光検出装置に前記窓を通じて前記被検査ウェーハから放出された光を受け取ることができる請求項5に記載のウェーハ検査装置。
- 被検査ウェーハを載置するための載置ユニットを備え、前記載置ユニットにウェーハ載置領域が画定される載置装置と、
前記載置装置に対向するよう配置され、プロービング部と、前記プロービング部の周辺に配置され、接触面を有する導電部と、を備えたプローブカードと、
マウントブラケットと、前記マウントブラケット上に配置された複数の伝導ユニットとを備え、前記マウントブラケットは、前記載置装置に着脱可能に取り付けられて、前記被検査ウェーハが前記載置ユニットに置かれてからブリッジモジュールが前記載置装置に取り付けられ、前記載置装置に取り付けられた前記ブリッジモジュールは前記伝導ユニットを前記載置ユニットに結合させることができるようにするブリッジモジュールと、
を含むウェーハ検査システムであって、
前記プローブカードの前記プロービング部が前記被検査ウェーハの頂面の被検査点に接触した時、前記導電部の前記接触面は、前記伝導ユニットの少なくとも1つと結合関係を形成することで、前記プローブカードから出力されたテスト信号が前記被検査ウェーハを通過して底面から前記載置ユニットに伝送された後、前記伝導ユニットの少なくとも1つおよび前記導電部を介して前記プローブカードに送り返され、テストループを形成することができるウェーハ検査システム。 - 前記プローブカードは、基板を備え、前記導電部が前記基板の底面に配置された導電層である請求項7に記載のウェーハ検査システム。
- 前記導電層は、スルーホールを有し、前記プロービング部が前記スルーホールから突出している請求項8に記載のウェーハ検査システム。
- 前記導電層のスルーホールは、前記導電層の中央部位に位置し、前記導電層のスルーホール縁端から前記導電層の外縁までの延長長さが前記被検査ウェーハの半径より大きいかまたは等しい請求項9に記載のウェーハ検査システム。
- 前記基板は、前記スルーホールに対応できる窓を有し、前記基板の頂側に配置された光検出装置に前記窓を通じて前記被検査ウェーハから放出された光を受け取ることができる請求項9に記載のウェーハ検査システム。
- 前記マウントブラケットの下縁は、前記マウントブラケットが嵌合方法で前記載置装置の上縁に取り付けられるため、前記載置装置の上縁の形状に適合する請求項7に記載のウェーハ検査システム。
- 前記伝導ユニットは、前記ウェーハ載置領域の周囲に分布され、前記プローブカードが前記被検査ウェーハの各被検査点を逐次検査する時、前記プローブカードの前記導電部が前記伝導ユニットの少なくとも1つに結合することができる請求項7に記載のウェーハ検査システム。
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