JP7273179B2 - 実装基板、電子装置、および電子モジュール - Google Patents

実装基板、電子装置、および電子モジュール Download PDF

Info

Publication number
JP7273179B2
JP7273179B2 JP2021553624A JP2021553624A JP7273179B2 JP 7273179 B2 JP7273179 B2 JP 7273179B2 JP 2021553624 A JP2021553624 A JP 2021553624A JP 2021553624 A JP2021553624 A JP 2021553624A JP 7273179 B2 JP7273179 B2 JP 7273179B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mounting
light
film
frame portion
electronic device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2021553624A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2021085413A1 (ja
Inventor
明彦 舟橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Publication of JPWO2021085413A1 publication Critical patent/JPWO2021085413A1/ja
Priority to JP2023073840A priority Critical patent/JP2023109770A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7273179B2 publication Critical patent/JP7273179B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/12Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto
    • H01L31/16Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto the semiconductor device sensitive to radiation being controlled by the light source or sources
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • H01L25/165Containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/12Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/04Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
    • H01L23/053Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • H01L25/167Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits comprising optoelectronic devices, e.g. LED, photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/18Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0203Containers; Encapsulations, e.g. encapsulation of photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0232Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L31/02327Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements being integrated or being directly associated to the device, e.g. back reflectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/483Containers
    • H01L33/486Containers adapted for surface mounting
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4803Insulating or insulated parts, e.g. mountings, containers, diamond heatsinks
    • H01L21/4807Ceramic parts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • H01L21/565Moulds

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Description

本開示は、受発光素子等が実装される実装基板、電子装置および電子モジュールに関するものである。
受光素子および発光素子が実装される実装基板が知られている。(WO2017/203953号公報参照)。このような実装基板は発光素子が発した光は、検出対象で反射された後、受光素子によって受光することで検出される。
一般的に受光素子および発光素子を有する実装基板において、受光素子および発光素子は、基板の上面でかつ、同一平面上に実装される場合がある。このとき、発光素子が発した光を直接受光素子が受光しないように例えば筐体等で壁を設ける対応がなされていた。
しかしながら、近年、実装基板は小型化が要求されている。このため、受光素子と発光素子との間を可能な限り狭くするために実装基板に凹部を設け、凹部の中に受光素子を、凹部の上(実装基板の表面)に発光素子を実装する構造が考えられている。ただし、この構造であると、受光素子と発光素子との間に筐体等で壁を設けることが難しくなる。その結果、発光素子からの光の一部が凹部の側壁で反射されその反射された光が受光素子に届いてしまう懸念があった。これにより、電子装置が誤作動することが懸念されていた。また、誤作動を低減させるために実装基板の凹部を深くすることで電子装置の小型化の妨げになることが懸念されていた。
本開示の1つの態様に係る実装基板は、基部および枠部を有している。基部は第1実装領域を含む第1上面を有する。枠部は第1実装領域を囲み、第1上面より上方に延びる内壁面と、該内壁面と交わり、第2実装領域を含む第2上面とを有する。枠部の内壁面は、第2上面と接続する第1部分と、第1実装領域を間に挟んで第1部分と対向して位置する第2部分と、を有している。第2部分には、枠部の内壁面の反射率よりも低い反射率を有する第1膜が位置している。
本開示の1つの態様に係る電子装置は、実装基板と、第1実装領域に実装された受光素子と、第2実装領域に実装された発光素子と、を備えている。
本開示の1つの態様に係る電子モジュールは、電子装置と、電子装置に位置した蓋体と、を備えている。
本開示の第1の実施形態に係る実装基板および電子装置の外観を示す上面図である。 図1AのX1-X1線に対応する縦断面図である。 本開示の第1の実施形態に係る実装基板および電子モジュールの外観を示す上面図である。 図2AのX2-X2線に対応する縦断面図である。 本開示の第2の実施形態に係る実装基板および電子モジュールの外観を示す上面図である。 図3AのX3-X3線に対応する縦断面図である。 図4は本開示の第1の実施形態のその他の態様に係る実装基板および電子装置の縦断面図である。 図5は本開示の第1の実施形態のその他の態様に係る実装基板および電子装置の縦断面図である。 図6は本開示の第2の実施形態のその他の態様に係る実装基板および電子装置の縦断面図である。 図7は本開示の第2の実施形態のその他の態様に係る実装基板および電子装置の縦断面図である。 図8は本開示の第2の実施形態のその他の態様に係る実装基板および電子装置の縦断面図である。 図9は本開示の第2の実施形態のその他の態様に係る実装基板および電子装置の縦断面図である。 図10は本開示の第2の実施形態のその他の態様に係る実装基板および電子装置の縦断面図である。
<実装基板および電子装置の構成>
以下、本開示のいくつかの例示的な実施形態について図面を参照して説明する。なお、以下の説明では、実装基板に受光素子および発光素子が実装され、実装基板を蓋体で覆われた構成を電子装置または電子モジュールとする。実装基板および電子装置は、いずれの方向が上方若しくは下方とされてもよいが、便宜的に、直交座標系xyzを定義するとともに、z方向の正側を上方とする。
(第1の実施形態)
図1A~図2B、図4~図5を参照して本開示の第1の実施形態に係る実装基板1、並びにそれを備えた電子装置21について説明する。なお、図1Aは電子装置21の上面図、図1Bは電子装置21の縦断面図を示しており、図4~図5は装置の縦断面図を示している。なお、図1A~図2Bにおいては蓋体12を省略した図を示している。
実装基板1は、基部2aと枠部2bを有している。基部2aは第1実装領域4aを含む第1上面6aを有する。第1実装領域4aには、受光素子10と電気的に接続される第1電極パッド3aを有していてもよい。枠部2bは第2実装領域4bを含む第2上面6bと第2上面6bと交差する内壁面7とを有するとともに、基部2aの第1上面6aに第1実装領域4aを囲んで位置している。第2実装領域4には、少なくとも1つの発光素子11が実装されるとともに、発光素子11と電気的に接続される少なくとも1つの第2電極パッド3bが位置している。枠部2bは、基部2aの第1上面6aであって第1実装領域4aを囲んで位置している。枠部2bの内壁面7は、第2上面6bと接続する第1部7aと、第1実装領域4aを間に挟んで第1部分7aと対向して位置する第2部分7bとを有している。
実装基板1は、基部2aと枠部2bを有している。基部2aは第1上面6aに受光素子10と電気的に接続される第1電極パッド3aが位置した第1実装領域4aを有する。枠部2bは第2上面6bに少なくとも1つの発光素子11が実装される。また、枠部2bは、第2上面6bに発光素子11と電気的に接続される少なくとも1つの第2電極パッド3bが位置した少なくとも1つの第2実装領域4bを有する。第1実装領域4aとは、少なくとも1つ以上の受光素子10が実装される領域であり、例えば後述する第1電極パッド3aの最外周の内側または枠部2bの内部で適宜定めることが可能である。また、第1実装領域4aに実装される部品は受光素子10以外にも電子部品がさらに実装されていてもよく、受光素子10または/および電子部品の個数は指定されない。第2実装領域4bとは、少なくとも1つ以上の発光素子11が実装される領域であり、例えば後述する第2電極パッド3bの最外周の内側または枠部2bの内部で適宜定めることが可能である。また、このとき発光素子11以外の電子部品がさらに実装されていてもよい。また、発光素子11および電子部品の個数は指定されない。ここで、基部2aと枠部2bを合わせたものを基板2と称する。
図1Bおよび図2Bに示す実装基板1では、基部2aおよび枠部2bは複数の層で構成されている。この複数の層は、複数の絶縁層であり、図4および図5に示す例のように例えばモールドで形成された構成、金型等の押圧で形成された構成またはその他、1層のみの構成等であってもよい。基板2を構成する絶縁層の材料は例えば、電気絶縁性セラミックスまたは樹脂が含まれる。
基板2を形成する絶縁層の材料として使用される電気絶縁性セラミックスとしては例えば、酸化アルミニウム質焼結体、ムライト質焼結体、炭化珪素質焼結体、窒化アルミニウム質焼結体、窒化珪素質焼結体またはガラスセラミック焼結体等が含まれる。基板2を形成する絶縁層の材料として使用される樹脂としては例えば、熱可塑性の樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、アクリル樹脂、フェノール樹脂またはフッ素系樹脂等が含まれる。フッ素系樹脂としては例えば、四フッ化エチレン樹脂が含まれる。
基板2は、図1Bおよび図2Bに示すように9層から形成されていてもよいし、8層以下または10層以上の複数の層から形成されていてもよい。複数の層が8層以下の場合には、実装基板1の薄型化を図ることができる。また、複数の層が10層以上の場合には、実装基板1の剛性を高めることができる。また、各層に開口部を設け、設けた開口部の大きさを異ならせた上面に段差部を形成していてもよく、後述する第1電極パッド3aおよびその他の電極が段差部に設けられていてもよい。
実装基板1は例えば、最外周の1辺の大きさは0.3mm~10cmであり、上面視において実装基板1が四角形状あるとき、正方形であってもよいし長方形であってもよい。また例えば、実装基板1の厚みは0.2mm以上である。
基部2aの側面または下面および枠部2bの第2上面6bまたは側面には、外部回路接続用電極が設けられていてもよい。外部回路接続用電極は、実装基板1と外部回路基板、あるいは電子装置21と外部回路基板とを電気的に接続していてもよい。
さらに基板2の第1上面6aまたは下面には、第1電極パッド3a、第2電極パッド3bまたは/および外部回路接続用電極以外に、絶縁層間に形成される電極、内部配線導体および内部配線導体同士を上下に接続する内部貫通導体が設けられていてもよい。これら電極、内部配線導体または内部貫通導体は、基板2の表面に露出していてもよい。この電極、内部配線導体または内部貫通導体によって、第1電極パッド3a、第2電極パッド3bまたは/および外部回路接続用電極はそれぞれ電気的に接続されていてもよい。
第1電極パッド3a、第2電極パッド3b、外部回路接続用電極、電極、内部配線導体または/および内部貫通導体は、基板2が電気絶縁性セラミックスから成る場合には、タングステン(W)、モリブデン(Mo)、マンガン(Mn)、パラジウム(Pd)、銀(Ag)若しくは銅(Cu)またはこれらから選ばれる少なくとも1種以上の金属材料を含有する合金等が含まれる。また、銅(Cu)のみからなっていてもよい。また、第1電極パッド3a、第2電極パッド3b、外部回路接続用電極、電極、内部配線導体または/および内部貫通導体は、基板2が樹脂から成る場合には、銅(Cu)、金(Au)、アルミニウム(Al)、ニッケル(Ni)、モリブデン(Mo)、パラジウム(Pd)若しくはチタン(Ti)またはこれらから選ばれる少なくとも1種以上の金属材料を含有する合金等が含まれる。
第1電極パッド3a、第2電極パッド3b、外部回路接続用電極、電極、内部配線導体または/および貫通導体の露出表面に、さらにめっき層を有していてもよい。この構成によれば、外部回路接続用の電極、導体層および貫通導体の露出表面を保護して酸化を低減することができる。また、この構成によれば、第1電極パッド3aと受光素子10と、をワイヤボンディング等の接続部材13を介して良好に電気的接続することができる。めっき層は、例えば、厚さ0.5μm~10μmのNiめっき層を被着させるか、またはこのNiめっき層および厚さ0.5μm~3μmの金(Au)めっき層を順次被着させてもよい。
枠部2bは、基部2aの第1上面6aであって第1実装領域4aを囲んで位置している。言い換えると、基板2は枠部2bと基部2aとで凹部を有し、第1実装領域4aに実装される受光素子10は凹部の内側に実装される。
実装基板1は、基部2aおよび枠部2bを有している。基部2bは第1上面6aに受光素子10が実装される第1実装領域4aを有する。枠部2bは第2上面6bに少なくとも1つの発光素子11が実装される少なくとも1つの第2実装領域4bを有する。枠部2bは、基部2aの上面に、第1実装領域4aを囲んで位置している。光を吸収するコートである第1膜6は、枠部2bの第2実装領域4bが位置する第2上面6bと接続した第1部分7aに対向した第2部分7bに位置している。光を吸収するとは、第1膜6の反射率が、枠部2bの内壁面7の反射率よりも低いことを意味する。この反射率とは、発光素子11から発光される光に対する反射率のことである。また、散乱光である可視光に対する反射率であってもよい。反射率は、対象物の材料からの特定あるいは、測色計等で測定することができる。
一般的に近年、電子装置は小型化が要求されている。これに対し受光素子と発光素子との間を可能な限り狭くするために実装基板に凹部を設け、凹部の中に受光素子を、凹部の上(実装基板の表面)に発光素子を実装する構造が考えられている。しかしながらこの構造であると、受光素子と発光素子との間に筐体等で壁を設けることが難しくなり、発光素子からの光の一部が凹部の側壁で反射されその反射された光が受光素子に届いてしまう懸念があった。これにより、電子装置が誤作動することが懸念されていた。また、誤作動を低減するために実装基板の凹部を深くすることで電子装置の小型化の妨げになることが懸念されていた。
これに対し、本実施形態では実装基板1は枠部2bの第2部分7bに、光を吸収する第1膜6を有している。これにより、発光素子11からの光の一部が枠部2bの内壁面7に到達した場合においても、光を吸収する第1膜6で吸収され、枠部2bで反射が発生することを低減させることが可能となる。よって、枠部2bの内壁面7で反射された光が受光素子10に届き電子装置21が誤作動することを低減させることが可能となる。また、発光素子11と受光素子10との間に筐体等による壁を設けることなく電子装置21の誤作動を低減させることが可能となるため、電子装置21の小型化が可能となる。
光を吸収する第1膜6は内壁面7における第1部分7aと対向して位置した第2部分7bに位置している。第2実装領域4bは複数あってもよく、その場合光を吸収する第1膜6も同様に複数あってもよい。例えば、実装基板1が矩形状であるとき、第2実装領域4bは4辺にあってもよくこのとき、光を吸収する第1膜6は枠部2bの内壁面7の全て、全周に設けられている。また、第2実装領域4bが1面であっても、光を吸収する第1膜6は複数面有ってもよい。言い換えれば、第1膜6は第2実装領域4bの数以上であればよい。
枠部2bは図4および図5に示す例のように、例えばモールドのような成型加工されたものであってもよいし、図1Bに示す例のように複数の層から成っていてもよい。どちらの場合においても少なくとも枠部2bの内壁面7と比較して、光を吸収する第1膜6を塗布することで本実施形態の効果を奏することが可能となる。
図1B、図2Bおよび図5に示す例のように、第1膜6は、枠部2aの上面にまで位置していてもよい。これにより、枠部2bの第2上面6bで光の乱反射が起きることを低減させることが可能となり、枠部2bの内壁面7で光の反射が発生することをさらに低減させることが可能となる。よって、本実施形態の効果を向上させることが可能となる。
枠部2bが図1B、図2Bおよび後述する第2実施形態の図3Bに示す例のように複数の層を有するとき、枠部2bは各層の間に内部配線を設けることが可能となる。よって、実装基板1の配線に自由度を持たせることが可能となるとともに、電子装置21の電気的な特性を向上させることが可能となる。また、枠部2bが複数の層であるときには、枠部2bの厚みを層の厚みおよび/または層数で容易に変更することができる。よって、発光素子11の位置等の条件における枠部2bの高さをより適切に設計し作製することが可能となる。
枠部2bが図1B、図2B、後述する第2実施形態の図3B、図6~図10に示す例のように複数の層を有するとき、第1膜6は、断面視において枠部2bの第2部分7bの一部に設けられていてもよいし、断面視において枠部2bの層の全ての層に設けられていてもよい。少なくとも内壁面7における第1部分7aに対向する第2部分7bに第1膜6を有していることによって、本実施形態の効果を奏することが可能となる。
枠部2bが複数の層が積層されており、複数の層のうち、最上層から順に、第1層8a、第2層8bとしたとき、最上層である第1層8aが第1膜6を有していてもよい。また、図8に示すように、第1膜6は、第1層8aから第2層8bに亘って位置していてもよい。この構成により、第1膜6を枠部2bに位置した場合においても実装基板1を大型化することなく第2実装領域4bを確保することが可能となり、本実施形態の効果を奏することが可能となる。
枠部2bの高さは、枠部2b内に受光素子10が収容される高さを有している。枠部2b内に受光素子10が収容される高さを枠部2bが有していることで、外部からの光を拾うことを低減させることが可能となる。
第1膜6は、内壁面7の全周に位置していてもよい。これにより、発光素子11からの光が対向する面側以外にも届いた場合においても、その光の一部が枠部2bの内壁面7で反射された場合において受光素子10へ反射することを低減させることが可能となる。よって、枠部2bの内壁面7で反射された光が受光素子10に届き電子装置21が誤作動することを低減させることが可能となる。
基部2aおよび枠部2bは、セラミック材料を主成分としていてもよく、このときこのセラミック材料は黒色であってもよい。基部2aおよび枠部2bがセラミック材料を主成分としていることで、枠部2bを金型等の打ち抜きで加工することが可能となる。よって、枠部2bからのダストの発生を低減させることが可能となる。よって、ダストが受光素子10の表面に付着しノイズとなることを低減させることが可能となる。また枠部2bの内壁面7の粗さを小さくすることが可能となる。よって、発光素子11から発生した光が枠部2bの内壁面7に到達した場合においても乱反射し受光素子10へ光が到達することを低減させることが可能となる。また、セラミック材料が黒色であることで、発光素子11から発生した光が枠部2bの内壁面7に到達した際に、反射することを低減させることが可能となる。よって本実施形態の効果を奏することが可能となる。
基部2aおよび枠部2bは樹脂材料を主成分としていてもよい。これにより、枠部2bをモールドのような成型加工で作製することが可能となる。また、樹脂材料であることで枠部2bに含まれるガラス成分を低減させることが可能となる。よって、枠部2bの内壁面7で光の反射が発生することを低減させることが可能となる。
ここで、光を吸収する第1膜6の主成分がセラミック材料であり、枠部2bの主成分がセラミック材料であるときには、ガラス焼結で枠部2bと光を吸収する第1膜6とをより強固に接合させることが可能となる。よって、電子装置21が経年劣化したとしても、第1膜6が枠部2bから剥離することを低減させることが可能となり、本実施形態の効果を長期間奏することが可能となる。また、光を吸収する第1膜6がセラミック材料を主成分としているとき、セラミック材料は黒色であってもよい。第1膜6のセラミック材料としては、例えば、炭化珪素質焼結体が挙げられる。第1膜6が黒色のセラミック材料であることで、発光素子11から発生した光が枠部2bの内壁面7に到達した際に、反射することをより低減させることが可能となる。よって本実施形態の効果をより向上させることが可能となる。
また、光を吸収する第1膜6が樹脂材料を主成分としているときには、枠部2bに含まれるガラス成分を低減させることが可能となる。よって、枠部2bの内壁面7で光の反射が発生することを低減させることが可能となる。よって、本実施形態の効果を向上させることが可能となる。
<電子装置の構成>
図1A~図2Bおよび後述する第2実施形態の図3A~図3Bに電子装置21の例を示す。電子装置21は、実装基板1と、実装基板1の第1実装領域4aに実装された受光素子10と、第2実装領域4bに実装された発光素子11と、を備えている。
電子装置21は、実装基板1と、第1実装領域4aに実装された受光素子10と第2実装領域4bに実装された発光素子11を有している。受光素子10の一例としては、例えば反射型CMOSセンサまたはPDセンサ等がある。発光素子11の一例としては、LED(Light Emitting Diode)またはVCSEL素子等がある。受光素子10および発光素子11と実装基板1とは例えば接続部材13で電気的に接続されていてもよい。
電子装置21は、本実施形態に示す実装基板1を有することで、上面視において受光素子10と発光素子11との間を小さくすることが可能となり、小型化が可能となる。
電子装置21は、断面視において、発光素子11の下端よりも受光素子10の上端が下方に位置している。これにより、発光素子11からの光の一部が枠部2bの内壁面7で反射された場合においても受光素子10へ反射することをより低減させることが可能となる。よって、本実施形態の効果をより向上させることが可能となる。また、第1膜6は、受光素子10の上端よりも上方に位置していてもよい。このことによって、より発光素子11からの光が当たりやすい箇所に第1膜6が位置することになるため、発光素子11からの光の一部が枠部2bの内壁面7で反射された場合においても受光素子10へ反射することをより低減させることが可能となる。
図10に示すように、電子装置21は、断面視において、受光素子10の中心と発光素子11の中心とを結ぶ仮想線Aよりも上方に枠部2bの第2上面6bが位置している、特に枠部2bの第2上面6bの内端が位置していてもよい。これにより、発光素子11からの光の一部が枠部2bの内壁面7で反射された場合においても受光素子10へ反射することをより低減させることが可能となる。よって、本実施形態の効果をより向上させることが可能となる。
<電子モジュールの構成>
電子モジュール31は、電子装置21と電子装置21の上面に位置する蓋体12とを有している。
電子モジュール31は、電子装置21を覆った蓋体12を有していてもよい。蓋体12は、平板状であってもよいし、筐体(レンズホルダー)のような形状を有していてもよい。蓋体12は、金属または樹脂を材料とする筐体と樹脂またはガラス材を材料とする板状の透明部材が合わさった形状であってもよいし、ガラス板のように平板状であってもよい。蓋体12が筐体と板材が合わさった形状を有することでより気密性の向上または外部からの応力が直接電子装置21に加えられることを低減することが可能となる。なお、電子モジュール31は電子装置21に蓋体12が接合されている上で、さらに電子装置21を覆う筐体を有していてもよい。筐体をさらに有することでより気密性の向上または外部からの応力が直接電子装置21に加えられることを低減することが可能となる。筐体および蓋体12は、例えば樹脂または金属材料等から成る。また、蓋体12がレンズホルダーであるとき蓋体12は、樹脂、液体、ガラスまたは水晶等からなるレンズが1個以上組み込まれていてもよい。また、蓋体12は、上下左右の駆動を行う駆動装置等が付いていて、実装基板1の表面に位置するパッド等と半田などの接合材を介して電気的に接続されていてもよい。
なお、蓋体12は上面視において4方向の少なくとも一つの辺において開口部が設けられていてもよい。そして、蓋体12の開口部から外部回路基板が挿入され実装基板1と電気的に接続していてもよい。また蓋体12の開口部は、外部回路基板が電子素子実装用基板1と電気的に接続された後、樹脂等の封止材等で開口部の隙間を閉じて電子モジュール31の内部が気密されていてもよい。なお、電子モジュール31は、別にさらに受光素子10を覆う蓋を有していてもよい。また、電子モジュール31が蓋体12とは別に筐体を有する場合には、筐体にも開口部を有していてもよい。この場合にも同様に、樹脂等の封止材等で開口部の隙間を閉じて電子モジュール31の内部が気密されていてもよい。
<実装基板および電子装置の製造方法>
次に、本実施形態の実装基板1および電子装置21の製造方法の一例について説明する。なお、下記で示す製造方法の一例は、多数個取り配線基板を用いた基板2の製造方法である。
(1)まず、基板2(基部2aおよび枠部2b)を構成するセラミックグリーンシートを形成する。例えば、酸化アルミニウム(Al)質焼結体である基板2を得る場合には、Alの粉末に焼結助材としてシリカ(SiO)、マグネシア(MgO)またはカルシア(CaO)等の粉末を添加する。ここに、さらに適当なバインダー、溶剤および可塑剤を添加し、次にこれらの混合物を混錬してスラリー状となす。その後、ドクターブレード法またはカレンダーロール法等の成形方法によって多数個取り用のセラミックグリーンシートを得る。
なお、基板2が、例えば樹脂から成る場合は、所定の形状に成形できるような金型を用いて、トランスファーモールド法、インジェクションモールド法または金型等での押圧等で成形することによって基板2を形成することができる。また、基板2は、例えばガラスエポキシ樹脂のように、ガラス繊維から成る基材に樹脂を含浸させたものであってもよい。この場合には、ガラス繊維から成る基材にエポキシ樹脂の前駆体を含浸させ、このエポキシ樹脂前駆体を所定の温度で熱硬化させることによって基板2を形成できる。
(2)次に、スクリーン印刷法等によって、上記(1)の工程で得られたセラミックグリーンシートに第1電極パッド3a、第2電極パッド3b、外部回路接続用電極、電極、内部配線導体または/および内部貫通導体となる部分に、金属ペーストを塗布または充填する。この金属ペーストは、前述した金属材料から成る金属粉末に適当な溶剤およびバインダーを加えて混練することによって、適度な粘度に調整して作製される。なお、金属ペーストは、基板2との接合強度を高めるために、ガラスまたはセラミックスを含んでいても構わない。
また、基板2が樹脂から成る場合には、第1電極パッド3a、第2電極パッド3b、外部回路接続用電極、電極、内部配線導体または/および内部貫通導体は、スパッタ法、蒸着法等によって作製することができる。また、表面に金属膜を設けた後に、めっき法を用いて作製してもよい。
(3)次に、前述のグリーンシートを金型等によって加工する。ここで基板2が開口部またはノッチ等を有する場合、基板2となるグリーンシートの所定の箇所に、開口部またはノッチ等を形成してもよい。
(4)次に基板2の各絶縁層となるセラミックグリーンシートを積層して加圧する。このことにより各絶縁層となるグリーンシートを積層し、基板2となるセラミックグリーンシート積層体を作製してもよい。また、このとき、複数層を積層したセラミックグリーンシートの所定の位置に、金型、パンチング、またはレーザー等を用いて枠部2bの開口部を設けてもよい。なお、セラミックグリーンシートまたはセラミックグリーンシート積層体に開口部を設けたのちに光を吸収するコートである第1膜6を枠部2bの少なくとも内壁面7の第2部分7bに塗布することで、作製することができる。
(5)次に、このセラミックグリーンシート積層体を約1500℃~1800℃の温度で焼成して、実装基板1が複数配列された多数個取り配線基板を得る。なお、この工程によって、前述した金属ペーストは、実装基板1となるセラミックグリーンシートと同時に焼成され、第1電極パッド3a、第2電極パッド3b、外部回路接続用電極、電極、内部配線導体または/および内部貫通導体となる。
(6)次に、焼成して得られた多数個取り配線基板を複数の実装基板1に分断する。この分断においては、実装基板1の外縁となる箇所に沿って多数個取り配線基板に分割溝を形成しておき、この分割溝に沿って破断させて分割する方法またはスライシング法等により実装基板1の外縁となる箇所に沿って切断する方法等を用いることができる。なお、分割溝は、焼成後にスライシング装置により多数個取り配線基板の厚みより小さく切り込むことによって形成することができる。この他にも、多数個取り配線基板用のセラミックグリーンシート積層体にカッター刃を押し当てたり、スライシング装置によりセラミックグリーンシート積層体の厚みより小さく切り込んだりすることによって形成してもよい。なお、上述した多数個取り配線基板を複数の実装基板1に分割する前もしくは分割した後に、それぞれ電解または無電解めっき法を用いて、第1電極パッド3a、第2電極パッド3b、外部接続用パッドおよび露出した配線導体にめっきを被着させてもよい。
(7)次に、実装基板1の第1実装領域4aに受光素子10を、第2実装領域4bに発光素子11を実装する。受光素子10はワイヤボンディング等の接続部材13で実装基板1と電気的に接合させる。またこのとき、受光素子10または実装基板1に接着材等を設け、実装基板1に固定しても構わない。また、受光素子10と発光素子11を実装基板1に実装した後、蓋体12を接合してもよい。
以上(1)~(7)の工程のようにして実装基板1を作製し、受光素子10と発光素子11を実装することで、電子装置21を作製することができる。なお、上記(1)~(7)の工程順番は加工可能な順番であれば指定されない。
(第2の実施形態)
本実施形態における実装基板1において、第1の実施形態の実装基板1と異なる点は、第2部分7bが傾斜面5を有しており、傾斜面5の表面に光を吸収する第1膜6を有している点である。
図3B、図6~図10に示す例では、実装基板1の傾斜面5に、光を吸収する第1膜6が位置している。言い換えると、光を吸収する第1膜6が位置する枠部2bの内壁面7は、断面視において、基部2aの第1上面6bから遠ざかるにつれて第1部分7bから遠ざかるように傾斜した傾斜面5を有しているとともに、傾斜面5を有する内壁面7の開口の径(幅)が上方に向かうにつれて大きくなっている。このような構造であることで、発光素子11からの光の一部が枠部2bの内壁面7に到達した場合においても、光を吸収する第1膜6で光を吸収しつつ、さらに傾斜面5により、発光素子11からの光の一部が吸収されきれずに反射したとしても、吸収しきれなかった光が受光素子10に入らない方向に反射される。このため、受光素子10に発光素子11からの直接の光および散乱した光が到達することを低減させることが可能となる。よって、枠部2bの内壁面7で反射された光が受光素子10に届き電子装置21が誤作動することを低減させることが可能となる。また、発光素子11と受光素子10との間に筐体12による壁を設けることなく電子装置21の誤作動を低減させることが可能となるため、電子装置21の小型化が可能となる。このとき、枠部2bは複数の層を有していてもよく、図3B、図6及び図8~図10に示す例のように、傾斜面5は複数の層に亘って位置していてもよい。これにより、傾斜面5の大きさおよび傾きを任意に設定することが容易となる。よって、第1膜6の塗布が容易となるとともに、発光素子11からの光が受光素子10側へ反射し辛い角度を容易に作成することが可能となり、本実施形態の効果をより向上させることが可能となる。
実装基板1の傾斜面5の傾斜角度は、第1上面6aに対して30°~60°であってもよい。傾斜面5の角度が第1上面6aに対して30°~60°であることで、発光素子11からの光が傾斜面5に到達したときより、枠部2bの上方側へ反射させる効果を持たせることを可能としつつ、枠部2bの第2上面6bに発光素子11を実装する第2実装領域4bを確保することが容易となる。よって、本実施形態の効果を奏することが可能となるとともに、電子装置21の小型化が可能となる。
図3B、図7~9に示すように、傾斜面5の全面に光を吸収する第1膜6が位置していてもよく、図6に示す例のように傾斜面5の一部にのみ光を吸収する第1膜6が位置していてもよい。図3B、図7~9に示す例のように傾斜面5の全面に光を吸収する第1膜6が位置していることで、発光素子11からの光が様々な角度・位置で枠部2bの内壁面7に到達した場合においても本実施形態の効果を奏することが可能となる。また、図6に示す例のように傾斜面5の一部にのみ光を吸収する第1膜6が位置していることで、電子装置21が低背化した場合においても、接続部材13と第1膜6とが接触することを低減させることが可能となる。また、電子装置21が小型化および低背化した場合において第1膜6が影となって受光素子10へ本来到達するはずの反射光を遮ることを低減させることが可能となる。よって、電子装置21の小型化および低背化が可能となる。
第1膜6は、傾斜面5に沿って位置している。このような場合においても本実施形態の効果を奏することが可能となる。またこのとき、第1膜6の厚みは一定であってよい。これにより、発光素子11からの光を均一に吸収することが可能となり、発光素子11からの光の角度により光の吸収度合いの差を低減させることが可能となる。よって、より電子装置21の動作を安定させることが可能となる。
また、第1膜6の一部が厚くなっていてもよい。第1膜6の一部が厚くなっていることで、発光素子11からの光が集中しやすい箇所の第1膜6を厚くすることで本実施形態の効果をより向上させることが可能となる。
また、図10に示す例のように電子装置21は、断面視において、受光素子10の中心と発光素子11の中心とを結ぶ仮想線Aよりも上方に枠部2bの第2上面6bが位置している、特に枠部2bの第2上面6bの内端が位置していてもよい。これにより、発光素子11からの光の一部が枠部2bの内壁面7で反射された場合においても受光素子10へ反射することをより低減させることが可能となる。よって、本実施形態の効果をより向上させることが可能となる。また、電子装置21は受光素子10の中心と発光素子11の中心とを結ぶ仮想線Aよりも下方まで第1膜6は延びていてもよい。これにより、本実施形態の効果をより向上させることが可能となる。
図3A~図3B、図6~図10に示す実装基板1および電子装置21の製造方法は第1実施形態および第2実施形態のそれぞれの工程を併せることで作製することが可能となる。つまり、第1実施形態の工程に沿って傾斜面5を作製し、そのあと傾斜面5の表面に光を吸収する第1膜6を塗布または印刷することで作製することが可能となる。
なお、本開示は上述の実施形態の例に限定されるものではなく、数値などの種々の変形は可能である。また、例えば、各図に示す例では、第1電極パッド3a、第2電極パッド3bの形状は上面視において矩形状であるが、円形状やその他の多角形状であってもかまわない。また、本実施形態における第1電極パッド3a、第2電極パッド3bの配置、数、形状および電子素子の実装方法などは指定されない。なお、本実施形態における特徴部の種々の組み合わせは上述の実施形態の例に限定されるものでない。また、各実施形態同士の組み合わせも可能である。
1・・・・実装基板
2・・・・基板
2a・・・基部
2b・・・枠部
3a・・・第1電極パッド
3b・・・第2電極パッド
4a・・・第1実装領域
4b・・・第2実装領域
5・・・・傾斜面
6・・・・第1膜
6a・・・第1上面
6b・・・第2上面
7・・・・内壁面
7a・・・第1部分
7b・・・第2部分
8a・・・第1層
8b・・・第2層
10・・・受光素子
11・・・発光素子
12・・・蓋体
13・・・接続部材
21・・・電子装置
31・・・電子モジュール
A・・・・仮想線

Claims (16)

  1. 第1実装領域を含む第1上面を有する基部と、
    前記第1実装領域を囲むとともに前記第1上面より上方に延びる内壁面と、該内壁面と交わるとともに第2実装領域を含む第2上面と、を有する枠部と、を備えており、
    前記枠部の前記内壁面は、前記第2上面と接続する第1部分と、前記第1実装領域を間に挟んで前記第1部分と対向して位置する第2部分と、を有しており、
    前記第2部分には、前記枠部の前記内壁面の反射率よりも低い反射率を有する第1膜が位置しており、
    前記第2部分は、前記基部の前記第1上面から遠ざかるにつれて前記第1部分から遠ざかるように傾斜した傾斜面を有している、実装基板。
  2. 前記第1膜は、前記枠部の前記第2上面にまで位置している、請求項1に記載の実装基板。
  3. 前記第1膜は、前記傾斜面に位置している、請求項1または2に記載の実装基板。
  4. 前記枠部は、積層された複数の層を有しており、
    前記複数の層は、前記枠部の前記第2上面から順に、第1層と第2層とを含み、
    前記第2部分は、前記第1層と前記第2層とに亘って位置するとともに、
    断面視において、前記第1膜は、前記第1層から前記第2層に亘って位置している、請求項1~のいずれか1つに記載の実装基板。
  5. 前記枠部は、積層された複数の層を有しており、
    前記傾斜面は、前記複数の層のうち少なくとも2層に亘って位置している、請求項1~3のいずれか1つに記載の実装基板。
  6. 前記第1上面に対する前記傾斜面の傾斜角度は、30°~60°である、請求項1、2、3、5のいずれか1つに記載の実装基板。
  7. 前記第1膜は、厚みが均一である、請求項1~のいずれか1つに記載の実装基板。
  8. 前記第1膜は、前記内壁面の全周に位置している、請求項1~のいずれか1つに記載の実装基板。
  9. 前記第1膜は、セラミック材料を主成分とする、請求項1~のいずれか1つに記載の実装基板。
  10. 前記セラミック材料は、黒色である、請求項に記載の実装基板。
  11. 請求項1~10のいずれか1つに記載の実装基板と、
    前記第1実装領域に実装された受光素子と、
    前記第2実装領域に実装された発光素子と、を備えた電子装置。
  12. 第1実装領域を含む第1上面を有する基部と、
    前記第1実装領域を囲むとともに前記第1上面より上方に延びる内壁面と、該内壁面と交わるとともに第2実装領域を含む第2上面と、を有する枠部と、を備えており、
    前記枠部の前記内壁面は、前記第2上面と接続する第1部分と、前記第1実装領域を間に挟んで前記第1部分と対向して位置する第2部分と、を有しており、
    前記第2部分には、前記枠部の前記内壁面の反射率よりも低い反射率を有する第1膜が位置している、実装基板と、
    前記第1実装領域に実装された受光素子と、
    前記第2実装領域に実装された発光素子と、を備えた電子装置。
  13. 前記発光素子の下端よりも前記受光素子の上端が下方に位置している請求項12に記載の電子装置。
  14. 前記受光素子の中心と前記発光素子の中心とを結ぶ仮想線よりも上方に前記枠部の上面が位置している請求項12または13に記載の電子装置。
  15. 前記第1膜は前記受光素子の上端よりも上方に位置している請求項12~14のいずれか1つに記載の電子装置。
  16. 請求項12~15のいずれか1つに記載の電子装置と、
    前記電子装置に位置した蓋体と、を備えた電子モジュール。
JP2021553624A 2019-10-30 2020-10-27 実装基板、電子装置、および電子モジュール Active JP7273179B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2023073840A JP2023109770A (ja) 2019-10-30 2023-04-27 実装基板、電子装置、および電子モジュール

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019197453 2019-10-30
JP2019197453 2019-10-30
PCT/JP2020/040233 WO2021085413A1 (ja) 2019-10-30 2020-10-27 実装基板、電子装置、および電子モジュール

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2023073840A Division JP2023109770A (ja) 2019-10-30 2023-04-27 実装基板、電子装置、および電子モジュール

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2021085413A1 JPWO2021085413A1 (ja) 2021-05-06
JP7273179B2 true JP7273179B2 (ja) 2023-05-12

Family

ID=75715998

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021553624A Active JP7273179B2 (ja) 2019-10-30 2020-10-27 実装基板、電子装置、および電子モジュール
JP2023073840A Withdrawn JP2023109770A (ja) 2019-10-30 2023-04-27 実装基板、電子装置、および電子モジュール

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2023073840A Withdrawn JP2023109770A (ja) 2019-10-30 2023-04-27 実装基板、電子装置、および電子モジュール

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20230268453A1 (ja)
JP (2) JP7273179B2 (ja)
CN (1) CN114600241A (ja)
WO (1) WO2021085413A1 (ja)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008235864A (ja) 2007-02-21 2008-10-02 Kyocera Corp 電子装置
JP2017152530A (ja) 2016-02-24 2017-08-31 京セラ株式会社 撮像素子用パッケージ、撮像装置および撮像モジュール
JP2018164021A (ja) 2017-03-27 2018-10-18 イビデン株式会社 キャビティ付き配線板
JP2019129224A (ja) 2018-01-24 2019-08-01 京セラ株式会社 パッケージおよび電子装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008235864A (ja) 2007-02-21 2008-10-02 Kyocera Corp 電子装置
JP2017152530A (ja) 2016-02-24 2017-08-31 京セラ株式会社 撮像素子用パッケージ、撮像装置および撮像モジュール
JP2018164021A (ja) 2017-03-27 2018-10-18 イビデン株式会社 キャビティ付き配線板
JP2019129224A (ja) 2018-01-24 2019-08-01 京セラ株式会社 パッケージおよび電子装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20230268453A1 (en) 2023-08-24
JP2023109770A (ja) 2023-08-08
WO2021085413A1 (ja) 2021-05-06
JPWO2021085413A1 (ja) 2021-05-06
CN114600241A (zh) 2022-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5823043B2 (ja) 電子素子搭載用基板、電子装置および撮像モジュール
WO2019082923A1 (ja) 撮像素子実装用基板、撮像装置および撮像モジュール
JP2022186944A (ja) 電子部品パッケージおよび電子装置
JP7072644B2 (ja) 電子素子実装用基板、電子装置、および電子モジュール
JP2019096778A (ja) 蓋体および光学装置
JP7011395B2 (ja) 電子素子実装用基板、電子装置および電子モジュール
JP7273179B2 (ja) 実装基板、電子装置、および電子モジュール
JP7242870B2 (ja) 実装基板および電子装置
JP7209740B2 (ja) 電子部品実装用基板および電子装置
JP7163409B2 (ja) 電子素子実装用基板、および電子装置
JP7237990B2 (ja) 電子素子実装用基板、および電子装置
JP7088749B2 (ja) 電子素子実装用基板、電子装置、および電子モジュール
JP7210191B2 (ja) 電子素子実装用基板、電子装置、および電子モジュール
WO2020241775A1 (ja) 電子素子実装用基板、電子装置、および電子モジュール
JP7227019B2 (ja) 電子素子実装用基板、電子装置、および電子モジュール
US20190008064A1 (en) Electronic component mounting board, electronic device, and electronic module
JP7209749B2 (ja) 電子部品実装用基体および電子装置
JP7212783B2 (ja) 電子素子実装用基板、電子装置、電子モジュールおよび電子素子実装用基板の製造方法
JP2021158322A (ja) 実装基板、電子装置、および電子モジュール
WO2022163599A1 (ja) 電子素子実装用基板
JP2019009381A (ja) 撮像装置用蓋体および撮像装置
WO2022163598A1 (ja) 電子素子実装用基板
JP6022888B2 (ja) 電子素子搭載用基板および電子装置
JP2021034554A (ja) 蓋体および光学装置
JP2014045012A (ja) 多数個取り配線基板

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220414

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230117

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230316

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230328

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230427

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7273179

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150