JP7192035B2 - 熱感知探針を利用して特定空間の熱分布を測定するための方法及び装置 - Google Patents
熱感知探針を利用して特定空間の熱分布を測定するための方法及び装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7192035B2 JP7192035B2 JP2021092828A JP2021092828A JP7192035B2 JP 7192035 B2 JP7192035 B2 JP 7192035B2 JP 2021092828 A JP2021092828 A JP 2021092828A JP 2021092828 A JP2021092828 A JP 2021092828A JP 7192035 B2 JP7192035 B2 JP 7192035B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- light
- thermal
- light source
- beam spot
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
- G01Q60/58—SThM [Scanning Thermal Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SThM probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K13/00—Thermometers specially adapted for specific purposes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K17/00—Measuring quantity of heat
- G01K17/003—Measuring quantity of heat for measuring the power of light beams, e.g. laser beams
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K3/00—Thermometers giving results other than momentary value of temperature
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q10/00—Scanning or positioning arrangements, i.e. arrangements for actively controlling the movement or position of the probe
- G01Q10/02—Coarse scanning or positioning
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q90/00—Scanning-probe techniques or apparatus not otherwise provided for
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K3/00—Thermometers giving results other than momentary value of temperature
- G01K3/08—Thermometers giving results other than momentary value of temperature giving differences of values; giving differentiated values
- G01K3/14—Thermometers giving results other than momentary value of temperature giving differences of values; giving differentiated values in respect of space
- G01K2003/145—Hotspot localization
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
1110…ヘッド
1111…Zスキャナ
1112…プローブハンド
1120…XYステージ
1130…XYスキャナ
1140…Zステージ
1150…固定フレーム
1160…ビジョン装置
1161…鏡筒
1162…カメラ
1163…対物レンズ
1164…照明ソース
100…熱感知探針
Claims (9)
- 特定空間の熱分布を測定するための方法であって、
温度変化を測定できる熱感知探針を前記特定空間内で線形的に移動させるステップ;
前記移動させるステップの間、前記熱感知探針から得られる連続的な温度変化値を利用して前記特定空間の熱分布を算出するステップ;
光源からのビームスポットが結像するように、前記光源が第1方向に光を照射するステップ;及び
前記熱感知探針の端が前記第1方向と略反対方向に向かいながら前記ビームスポットが結像した周辺部に位置されるように、熱感知探針を位置させるステップ;
を備え、
前記熱感知探針を線形的に移動させるステップが、
前記熱感知探針を前記第1方向と略垂直な方向に移動させながら、温度変化値を測定するステップ
を含み、
前記特定空間の熱分布を算出するステップが、
測定された前記温度変化値からビームスポットを検出するステップを含む、方法。 - 前記温度変化を測定できる熱感知探針は、前記温度変化によって変動する抵抗に基づいて温度変化を測定するように構成される、請求項1に記載の方法。
- 前記光源が第1方向に照射する前記光の経路上に中性濃度フィルタを配置して、前記光の透過量を減少させるステップ、を更に備える、
請求項2に記載の方法。 - 前記中性濃度フィルタの透過率を変更するステップを更に備える、請求項3に記載の方法。
- 特定空間の熱分布を測定するための装置であって、
温度変化を測定可能な熱感知探針と、
前記熱感知探針を前記特定空間内で線形的に移動させるように構成された移動手段と、
前記移動の間、前記熱感知探針から得られる連続的な温度変化値を利用して前記特定空間の熱分布を算出するように構成された制御装置と、
光源を含み、前記光源から光が特定箇所でビームスポットを形成するように構成される光学系と、
を備え、
前記熱感知探針は、前記光源からの光の進行方向と略反対方向に向かって探針の端が向かうように配置され、
前記制御装置は、前記移動手段の移動を制御し、前記熱感知探針から情報を得て前記熱感知探針の移動経路上の温度変化を計算するように構成される、装置。 - 前記温度変化を測定できる熱感知探針は、前記温度変化によって変動する抵抗に基づいて温度変化を測定するように構成される、請求項5に記載の装置。
- 前記ビームスポットの形状が視認可能であるようにCCDカメラを更に備える、請求項6に記載の装置。
- 前記光源からの前記光の経路上に配置され、前記光の透過量を減少させるように構成される中性濃度フィルタを更に備える、請求項6または7に記載の装置。
- 前記中性濃度フィルタは、透過率が変更可能に構成される、請求項8に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020200066191A KR102414946B1 (ko) | 2020-06-02 | 2020-06-02 | 광원의 빔스팟을 검출하기 위한 방법 및 장치 |
KR10-2020-0066191 | 2020-06-02 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021189185A JP2021189185A (ja) | 2021-12-13 |
JP7192035B2 true JP7192035B2 (ja) | 2022-12-19 |
Family
ID=78706038
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021092828A Active JP7192035B2 (ja) | 2020-06-02 | 2021-06-02 | 熱感知探針を利用して特定空間の熱分布を測定するための方法及び装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11598788B2 (ja) |
JP (1) | JP7192035B2 (ja) |
KR (1) | KR102414946B1 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014057849A1 (ja) | 2012-10-12 | 2014-04-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 近接場光検出方法及び熱アシスト磁気ヘッド素子の検査装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4941753A (en) | 1989-04-07 | 1990-07-17 | International Business Machines Corp. | Absorption microscopy and/or spectroscopy with scanning tunneling microscopy control |
JP3468300B2 (ja) | 2000-08-18 | 2003-11-17 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 薄膜熱電物質の熱的及び電気的特性を測定する方法及び装置 |
US7073938B2 (en) | 2001-10-31 | 2006-07-11 | The Regents Of The University Of Michigan | Micromachined arrayed thermal probe apparatus, system for thermal scanning a sample in a contact mode and cantilevered reference probe for use therein |
KR20090028981A (ko) * | 2007-09-17 | 2009-03-20 | 엘지전자 주식회사 | 온도 측정 장치 및 온도 측정 방법 |
US8458810B2 (en) * | 2011-04-07 | 2013-06-04 | Michael E. MCCONNEY | Scanning thermal twisting atomic force microscopy |
JP5874995B2 (ja) * | 2011-09-06 | 2016-03-02 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | カンチレバーのバネ定数特定方法およびその方法を採用した走査型プローブ顕微鏡 |
JP2015155847A (ja) * | 2014-02-20 | 2015-08-27 | 一般財団法人生産技術研究奨励会 | パッシブ型近接場顕微鏡における探針位置合わせ方法及び装置 |
WO2017010884A1 (en) * | 2015-07-16 | 2017-01-19 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Thermal probe for a near-field thermal microscope and method for generating a thermal map |
JP6588278B2 (ja) * | 2015-09-01 | 2019-10-09 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 走査プローブ顕微鏡および走査プローブ顕微鏡の光軸調整方法 |
-
2020
- 2020-06-02 KR KR1020200066191A patent/KR102414946B1/ko active IP Right Grant
-
2021
- 2021-06-01 US US17/335,094 patent/US11598788B2/en active Active
- 2021-06-02 JP JP2021092828A patent/JP7192035B2/ja active Active
-
2023
- 2023-01-30 US US18/103,474 patent/US12038455B2/en active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014057849A1 (ja) | 2012-10-12 | 2014-04-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 近接場光検出方法及び熱アシスト磁気ヘッド素子の検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR102414946B1 (ko) | 2022-07-04 |
US20210373046A1 (en) | 2021-12-02 |
US11598788B2 (en) | 2023-03-07 |
KR20210149919A (ko) | 2021-12-10 |
US20230184808A1 (en) | 2023-06-15 |
US12038455B2 (en) | 2024-07-16 |
JP2021189185A (ja) | 2021-12-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7323684B2 (en) | Scanning probe microscope and specimen observation method and semiconductor device manufacturing method using said scanning probe microscope | |
US5260567A (en) | Cantilever unit and atomic force microscope, magnetic force microscope, reproducing apparatus and information processing apparatus using the cantilever unit | |
JP3258385B2 (ja) | 光学式基板検査装置 | |
US20110138506A1 (en) | Method of probe alignment | |
US7966867B2 (en) | Scanning probe microscope | |
JP5403618B2 (ja) | 熱物性測定装置および熱伝導イメージング装置 | |
JP7545001B2 (ja) | 顕微鏡システム及びこの顕微鏡システムを用いた試料の観察方法 | |
JP2009128139A (ja) | 走査プローブ顕微鏡及び走査プローブ顕微鏡用探針ユニット | |
JP6135820B2 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡 | |
JP7192035B2 (ja) | 熱感知探針を利用して特定空間の熱分布を測定するための方法及び装置 | |
Manske et al. | Multisensor technology based on a laser focus probe for nanomeasuring applications over large areas | |
US10371501B2 (en) | Method for determining height information of a sample, and scanning microscope | |
JP2998333B2 (ja) | 原子間力顕微鏡 | |
JP4555925B2 (ja) | 立体形状測定装置 | |
JP4177188B2 (ja) | 動的形状及び動的位置の同時測定方法、装置、光学素子 | |
US12130228B2 (en) | Super-resolution thermoreflectance thermal measurement system | |
JP2007139557A (ja) | 複合型顕微鏡 | |
JP5055607B2 (ja) | 荷電粒子ビーム描画装置を用いた荷電粒子ビーム描画方法 | |
US20240125692A1 (en) | Super-resolution thermoreflectance thermal measurement system | |
KR101243213B1 (ko) | 간섭신호를 이용한 광섬유 이미징 장치, 이미지 기반의 샘플 위치 추적 장치, 간섭신호를 이용한 광섬유 이미징 방법, 이미지 기반의 샘플 위치 추적 방법 및 그 기록매체 | |
JPH08334520A (ja) | 走査型近接場顕微鏡 | |
JPH0683037A (ja) | レチクルマスク形状欠陥検査装置 | |
JP2005085984A (ja) | 荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法 | |
JPH0886792A (ja) | 走査型プローブ顕微鏡 | |
JP2005069993A (ja) | 校正機能付き原子間力/水平力顕微鏡と原子間力/水平力顕微鏡の感度校正方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210602 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220531 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220705 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20221005 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20221021 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20221108 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20221207 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7192035 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |