JP7180967B2 - レーザ加工装置 - Google Patents

レーザ加工装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7180967B2
JP7180967B2 JP2017094346A JP2017094346A JP7180967B2 JP 7180967 B2 JP7180967 B2 JP 7180967B2 JP 2017094346 A JP2017094346 A JP 2017094346A JP 2017094346 A JP2017094346 A JP 2017094346A JP 7180967 B2 JP7180967 B2 JP 7180967B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
substrate
laser
mirror
laminate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017094346A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017205806A (ja
JP2017205806A5 (ja
Inventor
舜平 山崎
吉晴 平形
直人 楠本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd filed Critical Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Publication of JP2017205806A publication Critical patent/JP2017205806A/ja
Publication of JP2017205806A5 publication Critical patent/JP2017205806A5/ja
Priority to JP2022184050A priority Critical patent/JP2023021128A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7180967B2 publication Critical patent/JP7180967B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof  ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
    • H01L29/7869Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film having a semiconductor body comprising an oxide semiconductor material, e.g. zinc oxide, copper aluminium oxide, cadmium stannate
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • B23K26/064Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms
    • B23K26/0648Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms comprising lenses
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • B23K26/064Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms
    • B23K26/0643Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms comprising mirrors
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • B23K26/073Shaping the laser spot
    • B23K26/0738Shaping the laser spot into a linear shape
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/08Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
    • B23K26/083Devices involving movement of the workpiece in at least one axial direction
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/12Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring in a special atmosphere, e.g. in an enclosure
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/12Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring in a special atmosphere, e.g. in an enclosure
    • B23K26/1224Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring in a special atmosphere, e.g. in an enclosure in vacuum
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/1259Multistep manufacturing methods
    • H01L27/1262Multistep manufacturing methods with a particular formation, treatment or coating of the substrate
    • H01L27/1266Multistep manufacturing methods with a particular formation, treatment or coating of the substrate the substrate on which the devices are formed not being the final device substrate, e.g. using a temporary substrate
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2101/00Articles made by soldering, welding or cutting
    • B23K2101/36Electric or electronic devices
    • B23K2101/40Semiconductor devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/1222Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or crystalline structure of the active layer
    • H01L27/1225Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or crystalline structure of the active layer with semiconductor materials not belonging to the group IV of the periodic table, e.g. InGaZnO

Description

本発明の一態様は、レーザ加工装置、積層体の加工装置、および積層体の加工方法に関する。
なお、本発明の一態様は、上記の技術分野に限定されない。本発明の一態様の技術分野としては、半導体装置、表示装置、発光装置、蓄電装置、記憶装置、電子機器、照明装置、入力装置、入出力装置、それらの駆動方法、それらを製造する装置、またはそれらの製造方法を一例として挙げることができる。
なお、本明細書等において、半導体装置とは、半導体特性を利用することで機能しうる装置全般を指す。トランジスタ、半導体回路、演算装置、記憶装置等は半導体装置の一態様である。また、撮像装置、電気光学装置、発電装置(薄膜太陽電池、有機薄膜太陽電池等を含む)、および電子機器は半導体装置を有している場合がある。
近年、エレクトロルミネッセンス(Electroluminescence:EL)を利用した発光素子の研究開発が盛んに行われている。当該発光素子は自発光型であるため、視認性がよい、バックライトが不要、消費電力が少ない、応答速度が高い等の利点を有する。
さらに、可撓性を有する基板を支持体として上述の発光素子を設けた、薄型軽量型の発光装置も知られている。例えば、有機EL素子が適用された可撓性を有する発光装置が特許文献1に開示されている。
また、特許文献2には、可撓性を有する発光装置等の作製に用いることができる加工装置が開示されている。
特開2014-197522号公報 特開2015-173088号公報
フレキシブルディスプレイに代表されるフレキシブルデバイスは、可撓性を有する基板(フィルム)上に、トランジスタなどの半導体素子や、そのほかの素子を形成することにより実現できる。しかしながら、可撓性を有する基板はガラス基板などに比べて耐熱性が乏しいため、可撓性を有する基板上に直接トランジスタ等を形成する方法では、トランジスタの電気特性および信頼性を高められない場合がある。
そこで特許文献1に記載されているように、剥離層を形成したガラス基板上に形成した半導体素子や発光素子などを剥離し、フレキシブル基板に転置する方法が検討されている。この方法では、半導体素子の形成温度を高めることが可能で、信頼性の高いフレキシブルデバイスを作製することが可能である。
また、剥離層に樹脂を用いた場合は、レーザ光などを照射して基板と当該樹脂との間の密着性を低下させる工程が用いられる。当該工程を行うレーザ照射装置は、レーザ発振器および光学系を備え非常に高価である。したがって、レーザ照射装置は一工程を担うだけでなく、複数の工程に適用できる機能を有していることが好ましい。
また、剥離工程は材料コスト、製品歩留り、および製品の信頼性などに大きく影響する。したがって、剥離工程およびその前後のプロセスが安定に行える装置を用いることが好ましい。
本発明の一態様は、光路の切り替えが可能なレーザ加工装置を提供することを目的の一つとする。または、平板状の構造物に対して第1の面側からのレーザ照射と、第1の面とは逆の面側からのレーザ照射とを切り替えることができるレーザ加工装置を提供することを目的の一つとする。または、第1の基板、第2の基板およびそれらで挟持される構造物を有する積層体において、第1の基板を第3の基板に置換する積層体の加工装置を提供することを目的の一つとする。または、第1の基板、第2の基板およびそれらで挟持される構造物を有する積層体において、第1の基板を第3の基板に置換し、第2の基板を第4の基板に置換する積層体の加工装置を提供することを目的の一つとする。または、新規な積層体の加工装置を提供することを目的の一つとする。または、低コストで量産性の高い積層体の加工装置を提供することを目的の一つとする。または、積層体の加工方法を提供することを目的の一つとする。
なお、これらの課題の記載は、他の課題の存在を妨げるものではない。なお、本発明の一態様は、これらの課題の全てを解決する必要はないものとする。なお、これら以外の課題は、明細書、図面、請求項などの記載から、自ずと明らかとなるものであり、明細書、図面、請求項などの記載から、これら以外の課題を抽出することが可能である。
本発明の一態様は、レーザ加工装置または積層体の加工装置に関する。
本発明の一態様は、レーザ発振器と、光学系ユニットと、加工対象の構造物の固定機構と、第1のミラーと、第2のミラーと、第3のミラーと、第4のミラーと、第1のレンズと、第2のレンズと、を有し、光学系ユニットは、レーザ発振器から出力された第1のレーザ光を伸張して第2のレーザ光に成形する機能を有し、固定機構は、構造物を固定するステージと、ステージを水平方向に移動させる駆動機構と、を有し、第1のミラーは、第2のレーザ光を反射させて第1のレンズに入射させる機能を有し、第1のレンズは、第1のミラーから入射した第2のレーザ光を集光して第1の線状ビームを構成する機能を有し、第2のミラーは、第2のレーザ光を反射させて第3のミラーに入射させる機能を有し、第3のミラーは、第2のミラーから入射した第2のレーザ光を反射させて第4のミラーに入射させる機能を有し、第4のミラーは、第3のミラーから入射した第2のレーザ光を反射させて第2のレンズに入射させる機能を有し、第2のレンズは、第4のミラーから入射した第2のレーザ光を集光して第2の線状ビームを構成する機能を有し、ステージは第2のレンズから入射した第2のレーザ光を透過させる機能を有し、第1のミラーの位置を変化させることにより、選択的に第1のミラーまたは第2のミラーに第2のレーザ光を入射させる機能を有し、固定機構は、水平方向への移動動作に伴って光学系ユニットと重なる領域を有し、レーザ発振器から、第1のレーザ光を発振させながら固定機構を移動させることで、構造物の所望の領域に第1の線状ビームまたは第2の線状ビームを照射することを特徴とするレーザ加工装置である。
上記ステージには石英板を用いることが好ましい。
第1のミラーを第2のミラーの位置まで移動させることにより、第1のミラーを第2のミラーとして作用させてもよい。
上記構成において、第1の石英窓および第2の石英窓を有するチャンバーを設け、固定機構、第3のミラー、第4のミラー、および第2のレンズはチャンバー内に設置し、第1のレンズを透過した第2のレーザ光は、第1の石英窓を透過して第1の線状ビームを構成し、第2のミラーを反射した第2のレーザ光は、第2の石英窓を透過して第3のミラーに入射する構成としてもよい。
または、上記構成において、第1の石英窓、第2の石英窓、第3の石英窓および第4の石英窓を有するチャンバー設け、固定機構、第3のミラー、第4のミラー、および第2のレンズはチャンバー内に設置し、第1のレンズを透過した第2のレーザ光は、第1の石英窓を透過して第1の線状ビームを構成し、第2のミラーを反射した第2のレーザ光は、第2の石英窓および第3の石英窓を透過して第3のミラーに入射し、第2のレンズを透過した第2のレーザ光は、第4の石英窓を透過して第2の線状ビームを構成する構成としてもよい。
また、本発明の他の一態様は、第1の基板と、第1の層と、第2の層と、第3の層と、第2の基板と、が当該順序で貼り合わされた第1の積層体の第1の基板および第2の基板のいずれか一方を第3の基板に置換して第2の積層体を形成する積層体の加工装置であって、第1の室と、第2の室と、第3の室と、第4の室と、第5の室と、を有し、第1の室は、第1の積層体のロード室および第2の積層体のアンロード室としての機能を有し、第2の室は、第1の積層体、加工中の第1の積層体または第2の積層体を搬送する機能を有し、第3の室は、第1の基板を介した第1の層へのレーザ照射、または第2の基板を介した第3の層へのレーザ照射を選択的に行える機能を有し、第4の室は、第1の積層体から第1の基板または第2の基板を分離する機能を有し、第5の室は、露出した第1の層または第3の層上に第3の基板を貼り合わせる機能を有することを特徴とする積層体の加工装置である。
また、本発明の他の一態様は、第1の基板と、第1の層と、第2の層、第3の層と、第2の基板と、が当該順序で貼り合わされた第1の積層体を、第3の基板と、第1の層と、第2の層と、第3の層と、第4の基板と、が当該順序で貼り合わされた第2の積層体に加工する積層体の加工装置であって、第1の室と、第2の室と、第3の室と、第4の室と、第5の室と、第6の室と、第7の室と、第8の室と、第9の室と、を有し、第1の室は、第1の積層体のロード室としての機能を有し、第2の室は、第1の積層体または加工中の第1の積層体を搬送する機能を有し、第3の室は、第1の基板を介した第1の層へのレーザ照射、または第2の基板を介した第3の層へのレーザ照射を選択的に行える機能を有し、第4の室は、第1の積層体から第1の基板を分離する機能を有し、第5の室は、露出した第1の層上に第3の基板を貼り合わせる機能を有し、第6の室は、加工中の第1の積層体または第2の積層体を搬送する機能を有し、第7の室は、加工中の第1の積層体から第2の基板を分離する機能を有し、第8の室は、露出した第3の層上に第4の基板を貼り合わせて第2の積層体を形成する機能を有し、第9の室は、第2の積層体のアンロード室としての機能を有することを特徴とする積層体の加工装置である。
第1の層および第3の層は、樹脂であることが好ましい。
また、第3の室には、集塵機構が設けられていてもよい。
なお、本明細書等における「第1」、「第2」などの序数詞は、構成要素の混同を避けるために付すものであり、数的に限定するものではないことを付記する。
本発明の一態様を用いることにより、光路の切り替えが可能なレーザ加工装置を提供することができる。または、平板状の構造物に対して第1の面側からのレーザ照射と、第1の面とは逆の面側からのレーザ照射とを切り替えることができるレーザ加工装置を提供することができる。または、第1の基板、第2の基板およびそれらで挟持される構造物を有する積層体において、第1の基板を第3の基板に置換する積層体の加工装置を提供することができる。または、第1の基板、第2の基板およびそれらで挟持される構造物を有する積層体において、第1の基板を第3の基板に置換し、第2の基板を第4の基板に置換する積層体の加工装置を提供することができる。または、新規な積層体の加工装置を提供することができる。または、低コストで量産性の高い積層体の加工装置を提供することができる。または、積層体の加工方法を提供することができる。
なお、これらの効果の記載は、他の効果の存在を妨げるものではない。なお、本発明の一態様は、必ずしも、これらの効果の全てを有する必要はない。なお、これら以外の効果は、明細書、図面、請求項などの記載から、自ずと明らかとなるものであり、明細書、図面、請求項などの記載から、これら以外の効果を抽出することが可能である。
レーザ加工装置を説明する図。 レーザ加工装置を説明する図。 レーザ加工装置を説明する図。 レーザ加工装置を説明する図。 レーザ加工装置を説明する図。 構造体の構成およびレーザ加工を説明する図。 レーザ加工装置を説明する図。 搬送機構を説明する図。 積層体の加工装置を説明する図。 積層体の加工装置における剥離工程を説明する図。 積層体の加工装置の構成および搬送経路を説明する図。 積層体の加工装置における剥離工程を説明する図。 積層体の加工装置の構成および搬送経路を説明する図。 積層体の加工装置の構成および搬送経路を説明する図。 積層体の加工装置の構成を説明する図。 積層体の加工装置の構成および搬送経路を説明する図。 フレキシブルデバイスの作製方法の一例を示す図。 フレキシブルデバイスの作製方法の一例を示す図。 フレキシブルデバイスの作製方法の一例を示す図。 フレキシブルデバイスの作製方法の一例を示す図。 フレキシブルデバイスの作製方法の一例を示す図。 フレキシブルデバイスの作製方法の一例を示す図。 表示装置を説明する斜視図。 表示装置を説明する断面図。 電子機器を説明する図。 積層体の加工装置の動作を説明するフローチャート。 積層体の加工装置の動作を説明するフローチャート。 積層体の加工装置の動作を説明するフローチャート。
実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。但し、本発明は以下の説明に限定されず、本発明の趣旨およびその範囲から逸脱することなくその形態および詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。したがって、本発明は以下に示す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。なお、以下に説明する発明の構成において、同一部分または同様な機能を有する部分には同一の符号を異なる図面間で共通して用い、その繰り返しの説明は省略することがある。
(実施の形態1)
本実施の形態では、本発明の一態様のレーザ加工装置について説明する。なお、当該レーザ加工装置の用途は限定されないが、特に可撓性基板を有する半導体装置、表示装置、発光装置、蓄電装置、または発電装置等の製造工程に用いることが有用である。
本発明の一態様は、例えば平板状の構造物に対して、当該構造物の第1の面にレーザ照射を行う工程と、当該構造物の第1の面とは逆の面にレーザ照射を行う工程とを、光路を切り替えることにより選択的に行うことができるレーザ加工装置である。
この機能により、強度的な問題で当該構造物を反転させられない場合に対応することができる。また、構造物を反転して固定することにより発生する傷などの問題を抑制することができる。また、構造物を反転するための機構などを不要とすることができる。また、レーザ発振器および光学系ユニットなどを共有しつつ、レーザ光の照射方向を変えられるため、安価にレーザ加工装置を構成することができる。
当該レーザ光は照射面での形状が略矩形の線状レーザであり、当該構造物を水平方向に移動させながらレーザ光を照射することで、当該構造物の第1面またはその逆の面の全体の所望の領域を加工することができる。
例えば、二つの基板で挟持された樹脂を含む構造物に対して、一方の基板を透過させたレーザ光を樹脂に照射して加工し、一方の基板を剥離する用途に用いることができる。
なお、本発明の一態様において、上記構造物の第1面およびその逆の面に対して同時にレーザ光を照射することは意図していない。したがって、光路の切り替えには反射率の高い全反射ミラーを用いることが好ましい。当該ミラーの反射率は、使用する特定の波長のレーザ光に対して90%以上、好ましくは95%以上、より好ましくは98%以上とし、ミラーとしてハーフミラーなどの透過光量が大きいものは適さない。
図1は、本発明の一態様のレーザ加工装置200を説明する上面図である。レーザ加工装置200は、ロード/アンロード室210、トランスファー室220、レーザ加工室230、光学系ユニット280およびレーザ発振器270等を有する構成とすることができる。
ロード/アンロード室210は、加工の対象となる構造物211を収納するカセットを設置することができる。当該カセットから構造物211を搬出し、加工後の構造物211を搬入する。なお、二つのカセットを設置し、一方のカセットから加工前の構造物211を搬出し、加工後の構造物211を他方のカセットに搬入できる形態であってもよい。または、ロード室とアンロード室を別々に設けてもよい。
トランスファー室220には、構造物211をロード/アンロード室210またはレーザ加工室230に搬出入するための搬送機構221が設けられる。搬送機構221には、例えば、構造物211の一方の面を支持するフォークを有するアーム型ロボットなどを用いることができる。
レーザ発振器270は、加工の目的に適した波長および強度の光が出力できればよく、代表的にはパルスレーザが好ましいがCWレーザであってもよい。例えば、基板側からレーザ光を樹脂に照射し、樹脂の一部を脆弱化させる場合、当該基板に対する透過率が高く、当該樹脂に対する吸収が高い光を発するレーザ発振器を選べばよい。当該用途では、代表的には波長351-353nm(XeF)、308nm(XeCl)などの光を照射できるエキシマレーザを用いることができる。または、固体レーザ(YAGレーザ、ファイバーレーザなど)の二倍波(515nm、532nmなど)または三倍波(343nm、355nmなど)を用いてもよい。また、レーザ発振器270は複数であってもよい。
光学系ユニット280は、例えばミラー、ビームエクスパンダ、ビームホモジナイザ等を有し、レーザ発振器270から出力されるレーザ光のエネルギーの面内分布を均一化させつつ伸張させる。本実施の形態では、構造物の加工面でのビーム形状を線状とするため、光学系ユニット280から出力されるレーザ光は矩形に成形されていることが好ましい。
図2(A)にレーザ発振器270、光学系ユニット280、レーザ加工室230の内部およびその他の光学部品の側面から見た構成を示す。
レーザ加工室230には、構造物211の固定機構231が設けられる。固定機構231は水平移動機構234よって水平方向に移動することができる。水平移動機構234には、例えば、モータで駆動するボールネジ機構などを用いることができる。当該ボールネジ機構と固定機構231の支軸232はベアリングを有するナットを介して接続することができる。
レーザ加工室230の外部には、ミラー281、ミラー282、レンズ285が設けられる。また、レーザ加工室230の内部には、ミラー283、ミラー284、レンズ286が設けられる。また、レーザ加工室230の上部には石英窓287、288が設けられる。ミラー281乃至284には、例えば誘電体多層膜ミラーを用いることができる。レンズ285、286には、例えばシリンドリカルレンズを用いることができる。また、ミラー281乃至284は、レーザ光の入射角が略45°となるように設置する。
なお、図2(A)では、レーザ加工室230としてチャンバーを設けた形態を図示しているが、当該チャンバーを設けない構成とすることもできる。その場合、石英窓287、288は不要である。
本発明の一態様のレーザ加工装置200は、ミラー281を移動させることにより光路を切り替えることができる。ここで、固定機構231のステージ233上に設置した構造物211に対する上面からのレーザ照射について図2(A)、図3を用いて説明する。なお、図3では、チャンバーおよび石英窓287、288は図示していない。
まず、レーザ発振器270から出力されたレーザ光271aは、光学系ユニット280で矩形に伸張されたレーザ光271bに成形され、ミラー281に入射する。このとき、レーザ光271bは複数に分割されていてもよい。また、図3に示すように光学系ユニットから射出するレーザ光271bは、平行光として図示しているが、射出方向に広がりを有する光であってもよい。
ミラー281で反射されたレーザ光271bは、レンズ285に入射し、石英窓287を介して集光し、構造物211における所望の位置で線状ビーム271cを形成する。このように線状ビーム271cが構造物211に照射される状態で固定機構231を水平方向に移動させることで、構造物211の所望の領域をレーザ加工することができる。
次に、固定機構231のステージ233上に設置した構造物211に対する下面からのレーザ照射について図2(B)、図4を用いて説明する。なお、図4では、チャンバーおよび石英窓287、288は図示していない。
まず、ミラー281を光学系ユニット280から射出するレーザ光271bが入射しない位置に移動させる。例えば、図2(B)および図4に示すように定位置の上方に移動させて光路から外す。または、図2(C)に示すようにミラー281の一端を軸として回転させて光路から外してもよい。または、図2(D)に示すようにミラー281をミラー282の定位置まで移動させて、ミラー282として機能させてもよい。この場合、定位置に設置するミラー282は不要とすることができる。なお、ミラー281の移動機構は図示していないが、精度よく定位置に戻すことができる機構であればよい。例えば、ステッピングモータを用いたスライド機構や回転機構などを用いればよい。
レーザ発振器270から出力されたレーザ光271aは、光学系ユニット280で矩形に伸張されたレーザ光271bに成形され、ミラー282に入射する。
ミラー282で反射されたレーザ光271bは、石英窓288を介してミラー283に入射する。ミラー283で反射されたレーザ光271bは、ミラー284に入射する。
ミラー284で反射されたレーザ光271bは、レンズ286に入射し、ステージ233を介して集光し、構造物211における所望の位置で線状ビーム271dを形成する。このように線状ビーム271dが構造物211に照射される状態で固定機構231を水平方向に移動させることで、構造物211の所望の領域をレーザ加工することができる。
なお、ステージ233は、紫外光でも透過率が高い石英板とすることが好ましい。ただし、構造物211の加工に必要な線状ビーム271dのエネルギー密度が十分に得られる場合は、ステージ233をガラス板などで代用してもよい。または、構造物211に対する所望の加工領域に線状ビーム271dが照射されるようにステージ233に開口部が設けられていてもよい。この場合、ステージ233は金属やセラミクスなどのレーザ光を透過しない材料で形成してもよい。
なお、図示はしていないが、構造物211はステージ233に設けられた真空吸着機構などで固定することができる。また、構造物211を搬出入する際は、プッシャーピンによって構造物211を上下に移動させることができる。
また、図5(A)に示すように、構造物211の端部までレーザ加工したとき、光学系ユニット280と固定機構231は互いに重なる領域を有することが好ましい。このような構成とすることで、レーザ加工装置全体のフットプリントを小さくすることができる。
また、そのためには、図1乃至図5に示しているように光学系ユニット280を起点として、ミラー282をミラー281よりも遠い位置に設け、ミラー281を移動させることで光路が切り替えられる構成とすることが好ましい。ミラー282をミラー281よりも光学系ユニット280の近い位置に設け、ミラー282を移動させることでも光路を切り替える構成とすることができるが、固定機構231を光学系ユニット280と重なる位置まで移動させると光路を遮ることになる。そのため、これを解消するには固定機構231を光学系ユニット280が重ならないようにフットプリントを大きくしなければならない。
なお、レーザ加工室230のチャンバーは、前述したように図2(A)に示す形態およびチャンバーなしの形態のほか、図5(B)に示すようにレーザ発振器270以外の要素全体をチャンバー内に設けてもよい。このような構成とし、チャンバー内の雰囲気制御などを行うことでミラーやレンズなどの光学部品の劣化を防止することができる。なお、レーザ光271aがチャンバーに入射する領域には石英窓291が必要になるが、石英窓287および288は不要になる。
または、図5(C)に示すように、ミラー281乃至284、レンズ285、286がレーザ加工室230のチャンバーの外に設けられる構成としてもよい。この場合、石英窓289、290が必要となるが、光路調整などのメンテナンスは容易に行うことができる。
なお、石英窓288乃至291の一部または全ては、線状ビーム271c、271dに必要なエネルギー密度が得られる前提において、ガラス窓に置き換えることもできる。
ここで、図6(A)、(B)、(C)を用いて、線状ビーム271c、271dと加工の対象となる構造物211の関係について説明する。なお、図6(A)、(B)、(C)では線状ビーム271cを例として説明するが、線状ビーム271dも同様の説明を適用できる。
構造物211は、基板211a、基板211bおよび当該二つの基板で挟持された層212の構成とする。基板211aおよび基板211bはガラス基板などであって、必要なエネルギー密度の線状ビーム271c、271dが形成できるレーザ光が透過できる材料とする。また、層212は、例えば樹脂層を含み、一定強度以上の線状ビーム271c、271dが照射されることによって当該樹脂層の加工が可能である層とする。また、基板211a、基板211bおよび層212の上面形状は矩形とする。
図6(A)は、基板211aおよび基板211bの内側に設けられた層212を層212の短軸の長さより長い線状ビーム271cを照射することにより加工領域213aを設ける様子を示している。
この場合、層212の短軸方向は全域に渡って加工することができる。また、層212の長軸方向も全域に渡って加工することは可能であるが、線状ビーム271cの照射の開始位置を調整することで、図6(A)に図示するように加工しない領域213bを設けることもできる。
図6(B)は、基板211aおよび基板211bの内側に設けられた層212を層212の短軸の長さより短い線状ビーム271cを照射することにより加工領域213aを設ける様子を示している。
この場合、層212の短軸方向には加工しない領域が発生する。また、層212の長軸方向は短軸方向の端部を除いて全域に渡って加工することは可能であるが、線状ビーム271cの照射の開始位置を調整することで、図6(B)に図示するように加工しない領域213bを設けることもできる。なお、短軸方向の全域を照射したい場合は、別途構造物211を移動するための移動機構を設け、線状ビーム271cを折り返して照射すればよい。
図6(C)は、基板211aおよび基板211bの一面の同サイズに設けられた層212を基板211aおよび基板211bの短軸の長さより長い線状ビーム271cを照射することにより加工領域213aを設ける様子を示している。
この場合、層212全域に渡って加工することは可能である。また、層212の長軸方向は、線状ビーム271cの照射の開始位置を調整することで、加工しない領域を設けることもできる。
以上のように、基板211aおよび基板211bの大きさ、線状ビーム271cの長さ、および層212を形成する領域の大きさを適宜選択することで、層212の所望の領域を加工することができる。
図1乃至図5では、レーザ光の光路を切り替えることにより構造物211の第1面またはその逆の面に線状ビームを照射する構成を説明したが、構造物211に悪影響がなければ、構造物211を反転させてレーザ光を照射してもよい。
図7(A)は、構造物211の反転が可能なレーザ加工装置201の上面図である。また、図7(B)は、レーザ発振器270、光学系ユニット280、レーザ加工室230の内部およびその他の光学部品の側面から見た構成を示す図である。
レーザ加工装置201の基本構成はレーザ加工装置200と同等であるが、トランスファー室220に設けられる搬送機構222は構造物211を反転する機構を有する。
図8(A)乃至(D)は搬送機構222および構造物211を反転する動作を説明する図である。なお、構造物211において、前述した層212は図示していない。
搬送機構222はアーム型ロボットであり、昇降機構229、関節機構223a、223b、223c、アーム227、228、反転機構224、およびフォーク225などを有する。関節機構223a、223bを軸にしたアーム227、228の伸縮動作、昇降機構229の昇降動作などによって、構造物211の搬送を行うことができる。
反転機構224は、図8(D)に示すように支持部224aと回転部224bを有し、回転部224bが回転することでフォーク225を回転することができる。
また、構造物211は、吸着機構226によってフォーク225に支持される。したがって、図8(B)、(C)に示すように、フォーク225を傾けた状態および反転した状態でも構造物211を支持することができる。なお、吸着機構226には例えば真空吸着機構を用いることができる。また、吸着機構226は吸盤を有していてもよい。
搬送機構222で構造物211の反転が行える場合は、レーザ照射を一方向から行えればよいため、図7(B)に示すようにステージ233側からのレーザ照射を行うためのミラーおよびレンズは不要となる。
以上のように本発明の一態様のレーザ加工装置を用いることで平板状の構造物に対して第1の面側からのレーザ照射と、第1の面とは逆の面側からのレーザ照射とを容易に行うことができる。
なお、本実施の形態は、本明細書で示す他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。
(実施の形態2)
本実施の形態では、実施の形態1で説明した本発明の一態様のレーザ加工装置を含む、積層体の加工装置について説明する。
図9(A)は、本発明の一態様の積層体の加工装置1000の構成および積層体80乃至84が搬送される経路を説明する模式図である。ここで、積層体80は、図6(A)乃至(C)などに示すレーザ照射前の構造物211とする。また、加工後の積層体を積層体84とする。また、加工途中の積層体を積層体81乃至83とする。
本実施の形態で説明する積層体の加工装置1000は、積層体80が有する基板211bを基板211cに置換する工程を行うことができる。また、基板211aを分離するための予備工程を行うことができる。
加工装置1000は、図1に示すレーザ加工装置200のレーザ照射を行うための構成(レーザ発振器270、光学系ユニット280、レーザ加工室230およびその他の光学部品等)を有する第1のユニット1010と、レーザ加工装置200の基板を搬出入するための構成(ロード/アンロード室210、トランスファー室220)、第1の加工室240、第2の加工室260および基板回収室250を有する第2のユニット1020と、第3のユニット1030を有する構成となっている。
第1の加工室240は、積層体80から基板211bを剥離する加工を行うことができる。当該加工は、例えば図10(A)に示すような複数の吸着機構1351を用いることができる。吸着機構1351には真空吸着機構および昇降機構が接続され、基板211bの端部近傍を吸着して上昇させることにより剥離を行う。また、ステージ1370は真空吸着機構などによって積層体80の基板211aを固定することができる。
なお、積層体80からの基板211bの剥離は、層212をレーザ加工することにより、基板211bと層212との密着性が低下した状態で行う。したがって、図6(A)、(B)などのように層212にレーザ照射を行っていない領域がある場合は、まず、図10(A)に示すように、ナイフ状の治具1360等でレーザ照射を行っていない領域を切断する。その後、図10(B)、(C)に示すように吸着機構1351を順次上昇させて基板211bを剥離する。なお、図6(C)に示すように層212全体が加工できる場合は、治具1360による工程は不要である。
また、第1の加工室240には、洗浄機構が設けられていてもよい。
基板回収室250は、積層体80から剥離した基板211aを回収する機能を有する。なお、基板回収室250の機能は、第1の加工室240が有していてもよい。
第2の加工室260は、基板211aを剥離した積層体80に基板211cを貼り合わす加工を行うことができる。第2の加工室260では、例えば、露出した層212に接着剤を塗布し、基板211cを重ねあわせ、ローラ等で押圧しながら層212に基板211cを貼り合わせる。
第3のユニット1030は、基板211cを第2の加工室260に供給する機能を有する。なお、第3のユニット1030については、実施の形態3で詳細な説明を行う。
積層体80の加工の詳細を図26のフローチャートを用いて説明する。なお、以下の説明にある搬送経路番号は、図中に示してある。
まず、ロード/アンロード室210に積層体80を収納したカセットを設置する(S1)。
次に、積層体80をレーザ加工室230に搬送する(搬送経路1、S2)。そして、レンズ285を介して成形した線状ビーム271cを積層体80の所望の領域に照射する(図2(A)、図3参照、S3)。ここで、レーザ加工をした積層体80を積層体81とする。
次に、積層体81を第1の加工室240に搬送する(搬送経路2、S4)。そして、図10に示した一例の方法等を用いて基板211bを剥離する(S5)。剥離した基板211bは、基板回収室250に搬送して回収する。ここで、積層体81から基板211bを剥離した積層体を積層体82とする。
次に、積層体82を第2の加工室260に搬送する(搬送経路3、S6)。そして、前述の一例の方法等を用いて、露出した層212に第3のユニット1030から供給された基板211cを貼り合わせる(S7)。ここで、積層体82に基板211cを貼り合わせた積層体を積層体83とする。
次に、積層体83をレーザ加工室230に搬送する(搬送経路4、S8)。そして、レンズ286を介して成形した線状ビーム271cを積層体83の所望の領域に照射する(図2(B)、図4参照、S9)。ここで、レーザ加工をした積層体83を積層体84とする。
そして、積層体84をロード/アンロード室210に搬送する(搬送経路5、S10)。
以上の工程は、基板211bを基板211cに置換する工程および基板211aを剥離するための予備工程の説明である。基板211aを分離するための予備工程を行わない場合は、図9(B)の搬送経路に示す順序で工程を行えばよい。この場合は、第2の加工室260で形成した積層体83をロード/アンロード室210に搬送する。
以上により、積層体80を積層体84または積層体83に加工することができる。
なお、本実施の形態は、本明細書で示す他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。
(実施の形態3)
本実施の形態では、実施の形態2で説明した積層体の加工装置を含む、別の形態の積層体の加工装置について説明する。
図11は本発明の一態様の積層体の加工装置1001の構成および積層体80乃至86が搬送される経路を説明する模式図である。ここで、積層体80は、図6(A)乃至(C)などに示すレーザ照射前の構造物211とする。また、加工後の積層体を積層体86とする。また、加工途中の積層体を積層体81乃至85とする。
本実施の形態で説明する積層体の加工装置1001は、積層体80が有する基板211bを基板211c1に置換する工程、および積層体80が有する基板211aを基板211c2に置換する工程を行うことができる。
加工装置1001は、大きく4つのユニットに分けられ、加工装置1000と同等の構成の第1のユニット1010、第2のユニット1020および第3のユニット1030と、ロード/アンロード室310、トランスファー室320、第3の加工室340、第4の加工室360および基板回収室350を有する第4のユニット1040を有する構成となっている。なお、便宜上4ユニットに分類したが、それぞれのユニットの構成は限定しない。
第4のユニット1040が有するロード/アンロード室310およびトランスファー室320は、実施の形態1で説明したレーザ加工装置200が有するロード/アンロード室210およびトランスファー室220と同等の構成とすることができる。
第3の加工室340は、図9(A)に示す積層体84に相当する積層体から、基板211c1および層212を剥離する加工、すなわち基板211aを分離する加工を行うことができる。
当該加工には、例えば図12(A)に示すような複数の吸着機構1352およびクランプ治具1390を用いることができる。吸着機構1352には真空吸着機構および昇降機構が接続され、基板211c1および層212の端部近傍を吸着して上昇させることにより基板211aの分離を行う。また、クランプ治具1390を基板211c1および層212に張力がかかる方向に移動させ、分離動作を補助する。また、ステージ1370は真空吸着機構などによって積層体80の基板211aを固定することができる。
なお、積層体84からの基板211c1および層212の剥離は、層212をレーザ加工することにより、基板211aと層212との密着性が低下した状態で行う。また、図6(A)、(B)などのように層212にレーザ照射を行っていない領域がある場合は、まず、図12(A)に示すように、ナイフ状の治具1380等でレーザ照射を行っていない領域が分離するように基板211c1および層212に切断領域1381を形成し、基板211c1および層212の端部を吸着機構1352で持ち上げる。
その後、図12(B)、(C)に示すようにクランプ治具1390で基板211c1および層212の端部近傍を保持し、基板211c1および層212に張力がかかる方向に移動させて、分離動作を行う。なお、層212と基板211aとの密着力が十分に低下している場合は、クランプ治具1390を用いない分離動作を行ってもよい。
なお、図6(C)に示すように層212全体をレーザ加工する場合は、治具1380による切断領域1381を形成する工程は不要である。
基板回収室350は、積層体84から分離した基板211aを回収する機能を有する。なお、基板回収室250の機能は第3の加工室340が有していてもよい。
第4の加工室360は、基板211aを分離した積層体80に基板211c2を貼り合わす加工を行うことができる。第4の加工室360では、例えば、露出した層212に接着剤を塗布し、基板211c2を重ねあわせ、ローラ等で押圧しながら層212に基板211c2を貼り合わせる。
なお、基板211c2を貼り合わせる工程においては、基板211aを分離した積層体80を事前に反転させておくことが好ましい。当該反転は、例えば、トランスファー室320が有する搬送機構を図7(A)、図8(A)乃至(D)に示すような反転機構を有する搬送機構とすることで行うことができる。または、他の反転機構を第3の加工室340または第4の加工室360に設けてもよい。なお、反転動作を行わずに、基板211c1側からローラ等で押圧して基板211c2に貼り合わせを行ってもよい。
第3のユニット1030は、基板211c1を第2の加工室260に供給し、基板211c2を第4の加工室360に供給する機能を有する。なお、基板211c1および基板211c2は同一の構成であるが、ここでは便宜上異なる基板として説明する。なお、基板211c1および基板211c2は、具体的には樹脂フィルムなどの可撓性基板である。
第3のユニット1030は領域A乃至Gを有する。各領域の機能ならびに基板211c1および基板211c2の形成手順を図27のフローチャートを用いて説明する。なお、領域A乃至Fには、適切な搬送機構が設けられていることとする。
まず、領域Aに基板211c1および基板211c2の原反211eを設置し、巻出しを行う(S1)。
次に、領域Bで巻きだされた原反211eを裁断し、基板211dを形成する(S2)。なお、裁断した基板211dをストックする領域を設けてもよい。
次に、領域Cで基板211dから基板211fを剥離し、基板211cを形成する。なお、基板211fは、具体的にはセパレートフィルムなどである。また、基板211fは領域Dに回収される(S3)。基板211fが無い場合は、領域C、Dの機能を不要とすることができる。
次に、領域Eで基板211cの表面のクリーニングを行う(S4)。ここで表面とは、後に層212と貼り合わせられる面である。表面クリーニングは、例えば、超音波ドライクリーナーなどを用いることができる。超音波ドライクリーナーは、超音波振動させた空気または窒素などの気体を基板表面に噴射する機構およびその近傍で吸引を行う機構を有する集塵機構であり、パーティクルなどを効率良く除去することができる。
次に、領域Fで基板211cの表面改質を行う(S5)。当該表面改質は、活性化とも呼ばれ、例えばUVランプなどを用いて短波長の光を照射することにより、基板211cの表面に官能基を生成させる。当該表面改質によって、後工程における接着剤との濡れ性および接着性を向上させることができる。また、基板211cの表面改質は、コロナ放電などで行ってもよい。
領域Gには搬送機構が設けられ、領域Fで処理した基板211cを基板211c1として第2の加工室260に搬送する。または、領域Fで処理した基板211cを基板211c2として第4の加工室360に搬送する(S6)。
第4のユニット1040における積層体84の加工の詳細を図28のフローチャートを用いて説明する。以下の説明にある搬送経路番号は、第4のユニット1040の図中に示してある。積層体84は、第2のユニット1020において、積層体80を加工して形成する。当該加工の方法は実施の形態2を参照することができる。このとき、積層体84の構成は、下から基板211a、層212、基板211c1とする。
まず、ロード/アンロード室310に第2のユニット1020で形成した積層体84を収納したカセットを設置する(S1)。
次に、積層体84を第3の加工室340に搬送する(搬送経路6、S2)。そして、図12に示す一例の方法等を用いて基板211c1および層212を剥離する(S3)。分離した基板211aは、基板回収室350に搬送して回収する。ここで、基板211aを分離した積層体84を積層体85とする。
次に、積層体85を第4の加工室360に搬送する(搬送経路7、S4)。そして、前述の一例の方法を用いて、露出した層212に基板211c2を貼り合わせる(S5)。ここで、積層体85に基板211c2を貼り合わせた積層体を積層体86とする。
そして、積層体86をロード/アンロード室310に搬送する(搬送経路8、S6)。
以上の工程は、第2のユニット1020で基板211bを基板211c1に置換する工程および基板211aを剥離するための予備工程を行う場合の説明である。第2のユニット1020で基板211aを分離するための予備工程を行わない場合は、図13の搬送経路に示す順序で工程を行えばよい。この場合は、第2のユニット1020において、第2の加工室260で形成した積層体83をロード/アンロード室210に搬送する。そして、第4のユニット1040から積層体83をレーザ加工室230に搬送してレーザ加工、すなわち基板211aを剥離するための予備工程を行えばよい。
また、図11および図13は、第2のユニット1020内での処理を完了した積層体84または積層体83をロード/アンロード室210から取り出し、第4のユニット1040のロード/アンロード室310に積層体84または積層体83を設置して後の工程を行う装置構成であるが、図14に示すようにレーザ加工室230に受け渡し室としての機能を持たせてもよい。この場合、ロード/アンロード室210はロード室としてのみ機能し、ロード/アンロード室310はアンロード室としてのみ機能する。
また、レーザ加工室230は、超音波ドライクリーナーなどの集塵機構を有していてもよい。図15(A)は集塵機構330が設置されたレーザ加工室230を有する加工装置1001の上面図、および図15(B)は当該レーザ加工室230の内部およびその他の要素の側面から見た構成を説明する図である。このように、集塵機構330を水平移動機構234の動作によって、積層体87の上面がクリーニングできる位置に設ければよい。ここで、積層体87とは、前述した積層体80乃至86のいずれかの積層体である。
集塵機構330を用いたクリーニングは任意のタイミングで行ってよい。たとえば、図13に示した搬送経路を基準として、基板211bを剥離した後および基板211aを分離した後に露出した層212の表面クリーニングを行う場合の搬送経路を図16に示す。
まず、搬送経路1で積層体80をロード/アンロード室210からレーザ加工室230に搬送し、レーザ加工して積層体81を形成する。
次に、搬送経路2で積層体81を第1の加工室240に搬送し、基板211bを剥離し、積層体82を形成する。
次に、搬送経路3で積層体82をレーザ加工室230に搬送し、集塵機構330で層212の表面のクリーニングを行う。
次に、搬送経路4で積層体82を第2の加工室260に搬送し、層212に基板211c1を貼り付けて積層体83を形成する。
そして、搬送経路5で積層体83をロード/アンロード室210に搬送する。
次に、積層体83をロード/アンロード室310に設置し、搬送経路6で積層体83をレーザ加工室230に搬送し、レーザ加工して積層体84を形成する。
次に、搬送経路7で積層体84を第3の加工室340に搬送し、基板211aを分離し、積層体85を形成する。
次に、搬送経路8で積層体85をレーザ加工室230に搬送し、集塵機構330で層212の表面のクリーニングを行う。なお、層212が上面になるように、レーザ加工室230に搬送するまでに積層体85を反転させる。
次に、搬送経路9で積層体85を第4の加工室360に搬送し、層212に基板211c2を貼り付けて積層体86を形成する。
そして、搬送経路10で積層体86をロード/アンロード室310に搬送する。
なお、レーザ加工室230が集塵機構330を有する構成は、実施の形態1に示すレーザ加工装置200、実施の形態2に示す加工装置1000にも適用することができる。また、集塵機構330をレーザ加工室230に設けず、独立のユニットとして設けてもよい。
以上のいずれかの構成の加工装置1001を用い、それぞれの構成に適した方法で動作させることにより、積層体80を積層体86に加工することができる。
なお、本実施の形態は、本明細書で示す他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。
(実施の形態4)
本実施の形態では、本発明の一態様である構造物の剥離方法およびフレキシブルデバイスの作製方法について説明する。なお、当該構造物の剥離およびフレキシブルデバイスの作製には、本発明の一態様のレーザ加工装置または積層体の加工装置を用いることができる。
本発明の一態様は、基板上に樹脂層を形成し、樹脂層上に、チャネル形成領域に酸化物半導体を有するトランジスタを形成し、線状ビームに成形したレーザ光を樹脂層に照射し、トランジスタと基板とを分離する、剥離方法である。
トランジスタのチャネル形成領域には、酸化物半導体を用いる。酸化物半導体を用いることで、低温ポリシリコン(LTPS(Low Temperature Poly-Silicon))を用いる場合よりも、プロセスの最高温度を低くすることができる。
トランジスタのチャネル形成領域にLTPSを用いる場合、プロセスの最高温度が500℃から550℃程度に達するため、樹脂層に耐熱性が求められる。また、レーザ結晶化の工程での周辺の絶縁層等へのダメージを緩和するため、樹脂層の厚膜化が必要となる。また、樹脂層にレーザ光を照射する際に、完成したトランジスタのチャネル形成領域にレーザ光が照射されることによる特性劣化を抑制するためにも、樹脂層の厚膜化が必要である。
一方、酸化物半導体を用いたトランジスタは、高温での熱処理は必要とせず、350℃以下、さらには300℃以下で形成することができる。そのため、樹脂層に高い耐熱性は求められない。したがって、樹脂層に比較的安価な耐熱温度の低い樹脂を用いることができる。また、酸化物半導体を用いたトランジスタは、レーザ結晶化の工程が不要である。さらに、酸化物半導体のバンドギャップは2.5eV以上3.5eV以下と広く、特定の波長のレーザ光の吸収がシリコンに比べて少ないため、樹脂層の厚さを薄くしても問題がない。樹脂層に高耐熱性が要求されず、薄膜化できることで、デバイス作製の大幅なコストダウンが期待できる。また、LTPSを用いる場合に比べて、工程が簡略化でき好ましい。
本発明の一態様では、樹脂層の耐熱温度以下の温度でトランジスタ等を形成する。ここで、樹脂層の耐熱性は、例えば、加熱による重量減少率、具体的には5%重量減少温度等で評価できる。樹脂層の5%重量減少温度は、450℃以下が好ましく、400℃以下がより好ましく、350℃未満がさらに好ましい。例えば、トランジスタは、350℃以下、さらには300℃以下の温度で作製する。
本発明の一態様では、感光性の材料を用いて樹脂層を作製してもよい。感光性の材料を用いることで、所望の形状の樹脂層を容易に形成することができる。例えば、開口を有する樹脂層、またはそれぞれ厚さの異なる2以上の領域を有する樹脂層を、容易に形成することができる。これにより、樹脂層が、バックゲート、外部接続端子、貫通電極等の作製の妨げになることを防止できる。
本発明の一態様では、線状ビームに成形したレーザ光を用いる。LTPS等の製造ラインのレーザ装置を使用することができるため、これらの装置の有効利用が可能である。レーザ光は、矩形長尺状に集光(線状ビームに成形)して、樹脂層に照射する。
本発明の一態様の構造物の剥離方法を用いて、フレキシブルデバイスを作製することができる。図17および図18を用いて、フレキシブルデバイスの作製方法の一例を示す。
まず、図17(A)に示すように、積層体110と積層体120を接着層132で貼り合わせた積層体130とする。
積層体110は、例えば、基板111、樹脂層112、絶縁層113、第1の素子層114、および第2の素子層131を有する。
積層体120は、例えば、基板121、樹脂層122、絶縁層123、および機能層124を有する。ここで、積層体130は、実施の形態1乃至3で説明した構造物211または積層体80に相当する。また、基板111は、基板211aおよび基板211bの一方に相当し、基板121は、基板211aおよび基板211bの他方に相当する。また、樹脂層112、絶縁層113、第1の素子層114、および第2の素子層131、機能層124、絶縁層123および樹脂層122は、層212に相当する。
基板111、121には硬質基板を用いることができ、例えばガラス基板などを用いることができる。後の工程でレーザ光を基板111、121を介して樹脂層112、122に照射することから、基板111、121は当該レーザ光の透過率が高いことが好ましい。
樹脂層112、122には、例えば感光性および熱硬化性を有する材料を用いることができる。
絶縁層113、123には、例えば無機絶縁層を用いることができる。
第1の素子層114は、例えばチャネル形成領域に酸化物半導体を用いたトランジスタを有することができる。
第2の素子層131は、例えばEL素子を有することができる。
機能層124は、例えば、カラーフィルタ等の着色層、ブラックマトリクス等の遮光層、およびタッチセンサ等の検知素子のうち、少なくとも一つを有することができる。
次に、図17(B)に示すように、基板121を介して樹脂層122に線状ビームに成形したレーザ光160を照射する。レーザ光160は、基板121に対して相対的に移動させながら照射すればよい。ここでは、基板121を基板111よりも先に分離する例を示すが、これに限られない。基板111を先に分離する場合は、基板111を介して樹脂層112にレーザ光160を照射すればよい。
次に、図17(C)に示すように、積層体130から基板121を分離する。図17(C)では、樹脂層122中で分離が生じる例を示す。基板121上には樹脂層の一部(樹脂層122a)が残存する。絶縁層123側に残存する樹脂層122は図17(B)に比べて薄膜化されている。なお、作製条件(樹脂層122の材料、レーザ照射条件等)によっては、基板121と樹脂層122の界面で分離が生じる場合がある。
次に、図17(D)に示すように、露出した樹脂層122と基板151を貼り合わせる。基板151は、可撓性を有することが好ましい。例えば、樹脂層112と基板151は、接着剤を用いて貼り合わせることができる。
次に、図18(A)に示すように、基板111を介して樹脂層112に線状ビームに成形したレーザ光160を照射する。レーザ光160は、基板111に対して相対的に移動させながら照射すればよい。
次に、図18(B)に示すように、図18(A)に示す積層体から基板111を分離する。図18(B)では、樹脂層112中で分離が生じる例を示す。基板111上には樹脂層の一部(樹脂層112a)が残存する。絶縁層113側に残存する樹脂層112は図18(B)に比べて薄膜化されている。
次に、図18(C)に示すように、露出した樹脂層112と基板141を貼り合わせる。基板141は、可撓性を有することが好ましい。
以上の工程により、図18(D)に示すフレキシブルデバイス100を作製することができる。
本発明の一態様の構造物の剥離方法およびフレキシブルデバイスの作製方法では、トランジスタのチャネル形成領域に酸化物半導体を用いることで、トランジスタの作製工程を比較的低温で行うことができる。また、耐熱性が高くない樹脂層を用いることができ、比較的薄い膜厚で工程を行うことができる。したがって、樹脂層の材料の選択の幅が広い、低コストで量産性が高い、大判基板を用いて行うことができる等のメリットを有する。
以下では、本発明の一態様のフレキシブルデバイスの作製方法について、図19乃至図22を用いて、より具体的に説明する。ここでは、フレキシブルデバイスとして、トランジスタおよび有機EL素子を有する表示装置を作製する場合を例に挙げて説明する。当該表示装置は、基板に可撓性を有する材料を用いることで、折り曲げ可能な有機EL表示装置とすることができる。
まず、基板14上に、感光性および熱硬化性を有する材料で樹脂層23を形成する(図19(A)参照)。
基板14には、例えば、ガラス、石英、セラミック、サファイヤ、樹脂などを用いることができる。ガラスとしては、例えば、無アルカリガラス、バリウムホウケイ酸ガラス、アルミノホウケイ酸ガラス等が挙げられる。
樹脂層23は、感光性および熱硬化性を有する材料を塗布し、加熱することで厚さが0.1μm以上3μm以下となるように形成する。特に、樹脂層23上に形成する各層の作製温度よりも高い温度で加熱することが好ましい。例えば、トランジスタの作製温度が350℃までである場合、樹脂層23となる膜を350℃より高く450℃以下で加熱することが好ましく、400℃以下がより好ましく、400℃未満がさらに好ましく、375℃未満がさらに好ましい。これにより、トランジスタの作製工程における、樹脂層23からの脱ガスを大幅に抑制することができる。
樹脂層23は、感光性を有する材料を用いて形成するため、フォトリソグラフィ法により、一部を除去することができる。具体的には、材料を成膜した後に溶媒を除去するための熱処理(プリベーク処理ともいう)を行った後、選択的に露光を行う。続いて、現像処理を施すことで、不要な部分を除去することができる。また、その後に熱処理(ポストベーク処理ともいう)を行うことが好ましい。ポストベーク処理では、樹脂層23上に形成する各層の作製温度よりも高い温度で加熱することが好ましい。
樹脂層23は、可撓性を有する。基板14は、樹脂層23よりも可撓性が低い。基板14上に樹脂層23を形成することで、樹脂層23の搬送を容易にすることができる。
樹脂層23には、感光性のポリイミド樹脂(photo sensitive polyimide、PSPIともいう)を有することが好ましい。そのほか、樹脂層23に用いることができる材料としては、例えば、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミドアミド樹脂、シロキサン樹脂、ベンゾシクロブテン系樹脂、フェノール樹脂等が挙げられる。
樹脂層23の厚さは、0.01μm以上10μm未満であることが好ましく、0.1μm以上3μm以下であることがより好ましく、0.5μm以上1μm以下であることがさらに好ましい。
樹脂層23の形成方法としては、スピンコート、ディップ、スプレー塗布、インクジェット、ディスペンス、スクリーン印刷、オフセット印刷等の方法、ドクターナイフ、スリットコート、ロールコート、カーテンコート、ナイフコート、ダイコート等のツールが挙げられる。
樹脂層23の熱膨張係数は、0.1ppm/℃以上20ppm/℃以下であることが好ましく、0.1ppm/℃以上10ppm/℃以下であることがより好ましい。樹脂層23の熱膨張係数が低いほど、加熱により、トランジスタ等が破損することを抑制できる。
表示装置の表示面側に樹脂層23が位置する場合、樹脂層23は、可視光に対する透光性が高いことが好ましい。
次に、樹脂層23上に、絶縁層31を形成する(図19(B)参照)。
絶縁層31は、樹脂層23の耐熱温度以下の温度で形成する。また、前述の樹脂層23の加熱工程における加熱温度より低い温度で形成することが好ましい。
絶縁層31は、樹脂層23に含まれる不純物が、後に形成するトランジスタや表示素子に拡散することを防ぐバリア層として用いることができる。例えば、絶縁層31は、樹脂層23を加熱した際に、樹脂層23に含まれる水分等がトランジスタや表示素子に拡散することを防ぐことができる。
絶縁層31としては、例えば、窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、酸化シリコン膜、窒化酸化シリコン膜、酸化アルミニウム膜、窒化アルミニウム膜などの無機絶縁膜を用いることができる。また、上述の絶縁膜を2以上積層して用いてもよい。特に、樹脂層23上に窒化シリコン膜を形成し、窒化シリコン膜上に酸化シリコン膜を形成することが好ましい。無機絶縁膜は、成膜温度が高いほど緻密でバリア性の高い膜となるため、高温で形成することが好ましい。
樹脂層23の表面に凹凸がある場合、絶縁層31は当該凹凸を平坦化する平坦化層としての機能を有していてもよい。例えば、絶縁層31として、有機絶縁材料と無機絶縁材料の積層を用いることができる。有機絶縁材料としては、樹脂層23に用いることができる樹脂が挙げられる。
次に、絶縁層31上に、トランジスタ40を形成する(図19(C)参照)。ここではトランジスタ40の一例として、酸化物半導体層44を有する、ボトムゲート構造のトランジスタを作製する例を示す。シリコンよりもバンドギャップが広く、且つキャリア密度の小さい半導体材料をトランジスタの半導体膜に用いると、トランジスタのオフ状態における電流を低減することができる。
トランジスタ40の構造は特に限定されない。例えば、プレーナ型のトランジスタとしてもよいし、スタガ型のトランジスタとしてもよいし、逆スタガ型のトランジスタとしてもよい。また、トップゲート構造またはボトムゲート構造のいずれのトランジスタ構造としてもよい。または、チャネルの上下にゲート電極が設けられていてもよい。
トランジスタ40は、樹脂層23の耐熱温度以下の温度で形成する。また、前述の樹脂層23の加熱工程における加熱温度より低い温度で形成することが好ましい。
具体的には、まず、絶縁層31上に導電層41を形成する。導電層41は、導電膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該導電膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することで形成できる。
導電層41には、アルミニウム、チタン、クロム、ニッケル、銅、イットリウム、ジルコニウム、モリブデン、銀、タンタル、もしくはタングステン等の金属、またはこれを主成分とする合金を単層構造または積層構造として用いることができる。または、酸化インジウム、インジウム錫酸化物、タングステンを含むインジウム酸化物、タングステンを含むインジウム亜鉛酸化物、チタンを含むインジウム酸化物、チタンを含むインジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを添加した酸化亜鉛、またはシリコンを含むインジウム錫酸化物等の透光性を有する導電性材料を用いてもよい。
続いて、絶縁層32を形成する。絶縁層32は、絶縁層31に用いることのできる無機絶縁膜を援用できる。
続いて、酸化物半導体層44を形成する。酸化物半導体層44は、酸化物半導体膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該酸化物半導体膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することで形成できる。
酸化物半導体膜の成膜時の基板温度は、350℃以下が好ましく、室温以上200℃以下がより好ましく、室温以上130℃以下がさらに好ましい。
酸化物半導体膜はスパッタ法で成膜することができ、成膜時における酸素の流量比は、0%以上30%以下が好ましく、5%以上30%以下がより好ましく、7%以上15%以下がさらに好ましい。
酸化物半導体膜の成膜に用いることができる酸化物ターゲットは、In-M-Zn系酸化物(Mは、Al、Ga、Y、またはSn)を用いることができる。特に、In-Ga-Zn系酸化物を好適に用いることができる。
酸化物半導体膜は、スパッタ法のほか、例えばPLD(Pulsed Laser Deposition)法、CVD(Chemical Vapor Deposition)法、PECVD(Plasma Enhanced CVD)法、ALD(Atomic Layer Deposition)法、真空蒸着法などを用いてもよい。CVD法の例としては、MOCVD(Metal Organic CVD)法が挙げられる。
続いて、導電層43aおよび導電層43bを形成する。導電層43aおよび導電層43bは、導電膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該導電膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することにより形成できる。
なお、導電層43aおよび導電層43bの加工の際に、レジストマスクに覆われていない酸化物半導体層44の一部がエッチングにより薄膜化する場合がある。
以上の工程で、トランジスタ40を作製することができる。トランジスタ40において、導電層41の一部はゲートとして機能し、絶縁層32の一部はゲート絶縁層として機能し、導電層43aおよび導電層43bは、それぞれソースまたはドレインのいずれか一方として機能する。
次に、トランジスタ40を覆う絶縁層33を形成する。絶縁層33は、絶縁層32と同様の方法により形成することができる。
また、絶縁層33として、酸素を含む雰囲気下で比較的低温で成膜した酸化シリコン膜や酸化窒化シリコン膜等の酸化物絶縁膜を用いることが好ましい。さらに、当該酸化シリコンや酸化窒化シリコン膜上に窒化シリコン膜などの酸素を拡散、透過しにくい絶縁膜を積層することが好ましい。酸素を含む雰囲気下で、比較的低温で形成した酸化物絶縁膜は、加熱により多くの酸素を放出しやすい絶縁膜とすることができる。このような酸素を有する酸化絶縁膜と、酸素を拡散、透過しにくい絶縁膜を積層した状態で、加熱処理を行うことにより、酸化物半導体層44に酸素を供給することができる。その結果、酸化物半導体層44中の酸素欠損、および酸化物半導体層44と絶縁層33の界面の欠陥を修復し、欠陥準位を低減することができる。これにより、極めて信頼性の高い半導体装置を実現できる。
以上の工程により、樹脂層23上に絶縁層31、トランジスタ40、および絶縁層33を形成することができる(図19(D)参照)。
この段階において、後述する方法を用いて基板14と絶縁層31とを分離することで、表示素子を有さないフレキシブルデバイスを作製することができる。例えば、トランジスタ40や、トランジスタ40に加えて容量素子、抵抗素子、および配線などを形成することで、半導体回路を有するフレキシブルデバイスを作製することができる。
次に、絶縁層33上に絶縁層34を形成する(図19(E)参照)。絶縁層34は、後に形成する表示素子の被形成面を有する層であるため、平坦化層として機能することが好ましい。絶縁層34は、絶縁層31に適用できる有機絶縁膜または無機絶縁膜を用いることができる。
絶縁層34は、樹脂層23の耐熱温度以下の温度で形成する。また、前述の樹脂層23の加熱工程における加熱温度より低い温度で形成することが好ましい。
次に、絶縁層34および絶縁層33に、導電層43b等に達する開口を形成する。
その後、導電層61を形成する。導電層61は、その一部が表示素子60の画素電極として機能する。導電層61は、導電膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該導電膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することにより形成できる。
導電層61は、樹脂層23の耐熱温度以下の温度で形成する。また、前述の樹脂層23の加熱工程における加熱温度より低い温度で形成することが好ましい。
次に、導電層61の端部を覆う絶縁層35を形成する(図20(A)参照)。絶縁層35は、絶縁層31に適用できる有機絶縁膜または無機絶縁膜を用いることができる。
絶縁層35は、樹脂層23の耐熱温度以下の温度で形成する。また、前述の樹脂層23の加熱工程における加熱温度より低い温度で形成することが好ましい。
次に、EL層62および導電層63を形成する(図20(B)参照)。導電層63は、その一部が表示素子60の共通電極として機能する。
EL層62は、蒸着法、塗布法、印刷法、吐出法などの方法で形成することができる。EL層62を画素毎に作り分ける場合、メタルマスクなどのシャドウマスクを用いた蒸着法、またはインクジェット法等により形成することができる。EL層62を画素毎に作り分けない場合には、メタルマスクを用いない蒸着法を用いることができる。
導電層63は、蒸着法やスパッタ法等を用いて形成することができる。
EL層62および導電層63は、それぞれ、樹脂層23の耐熱温度以下の温度で形成する。また、前述の樹脂層23の加熱工程における加熱温度より低い温度で形成することが好ましい。
以上の工程で表示素子60を形成することができる。表示素子60は、一部が画素電極として機能する導電層61と、EL層62と、一部が共通電極として機能する導電層63が積層された構成を有する。
ここでは、表示素子60として、トップエミッション型の発光素子を作製する例を示したが、本発明の一態様はこれに限られない。発光素子は、トップエミッション型、ボトムエミッション型、デュアルエミッション型のいずれであってもよい。光を取り出す側の電極には、可視光を透過する導電膜を用いる。また、光を取り出さない側の電極には、可視光を反射する導電膜を用いることが好ましい。
また、上述とは別の工程で、基板91上に、感光性および熱硬化性を有する材料を用いて、樹脂層93を形成する(図20(C)参照)。
樹脂層93は、可撓性を有する。基板91は、樹脂層93よりも可撓性が低い。基板91上に樹脂層93を形成することで、樹脂層93の搬送を容易にすることができる。
樹脂層93には、ポリイミド樹脂を用いることが好ましい。樹脂層93の厚さは、0.1μm以上3μm以下であることが好ましく、0.5μm以上1μm以下であることがより好ましい。そのほか、樹脂層93の材料および形成方法については、樹脂層23の記載を援用できる。
表示装置の表示面側に樹脂層93が位置する場合、樹脂層93は、可視光に対する透光性が高いことが好ましい。
基板91については、基板14の記載を援用できる。
次に、樹脂層93上に絶縁層95、着色層97および遮光層98を形成する(図20(C)参照)。
絶縁層95については、絶縁層31の記載を援用できる。
着色層97として、カラーフィルタ等を用いることができる。着色層97は表示素子60の表示領域と重なるように配置する。
遮光層98として、ブラックマトリクス等を用いることができる。遮光層98は、絶縁層35と重なるように配置する。
次に、基板14の樹脂層23等が形成されている面と、基板91の樹脂層93等が形成されている面とを接着層99を用いて貼り合わせる(図20(C)参照)。
次に、基板14を介して樹脂層23にレーザ光65を照射する(図21(A)参照)。ここでは、基板14を基板91よりも先に分離する例を示す。
次に、図21(A)に示す積層体から基板14を分離する(図21(B)参照)。図21(B)では、樹脂層23中で分離が生じる例を示す。基板14上には樹脂層の一部(樹脂層23a)が残存する。絶縁層31側に残存する樹脂層23は図21(A)に比べて薄膜化されている。そして、露出した樹脂層23と基板29とを接着層28を用いて貼り合わせる。
次に、基板91を介して樹脂層93にレーザ光65を照射する(図22(A)参照)。
次に、基板91と絶縁層95とを分離する(図22(B)参照)。図22(B)では、樹脂層93中で分離が生じる例を示す。基板91上には樹脂層の一部(樹脂層93a)が残存する。絶縁層95側に残存する樹脂層93は図22(B)に比べて薄膜化されている。そして、露出した樹脂層93と基板22とを接着層13を用いて貼り合わせる(図22(B)参照)。
接着層13、28には、紫外線硬化型等の光硬化型接着剤、反応硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、嫌気型接着剤等の各種硬化型接着剤を用いることができる。なお、これらの接着剤の形態は液状に限らず、シート状であってもよい。
基板22、29には可撓性を有する基板を用いることができる。例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)等のポリエステル樹脂、ポリアクリロニトリル樹脂、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、ポリカーボネート(PC)樹脂、ポリエーテルスルホン(PES)樹脂、ポリアミド樹脂(ナイロン、アラミド等)、ポリシロキサン樹脂、シクロオレフィン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリ塩化ビニリデン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)樹脂、ABS樹脂、セルロースナノファイバー等を用いることができる。
図22(B)において、表示素子60の発光は、着色層97および樹脂層93を通して、表示装置の外部に取り出される。そのため、樹脂層93の可視光の透過率は高いことが好ましい。本発明の一態様の剥離方法では、樹脂層93の厚さを薄くすることができる。そのため、樹脂層93の可視光の透過率を高めることができる。
図22(C)に示すように、樹脂層93を除去し、接着層13を用いて絶縁層95に基板22を貼り合わせてもよい。
以上の工程により、トランジスタに酸化物半導体が適用され、EL素子にカラーフィルタ方式が適用された表示装置を作製することができる。
本実施の形態で説明したように、本発明の一態様の剥離方法では、トランジスタの作製工程を、低温で行うことができる。また、樹脂層を、薄膜で耐熱性が低い層とすることができる。したがって、樹脂層の材料の選択の幅が広い、低コストで量産性が高い、大判基板を用いて行うことができる等のメリットを有する。また、樹脂層の厚さ起因でフレキシブルデバイスが反ることを抑制できることがある。
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。
(実施の形態5)
本実施の形態では、フレキシブルデバイスについて図面を用いて説明する。本実施の形態では、表示装置の一例を説明する。なお、当該表示装置の作製には、本発明の一態様のレーザ加工装置または積層体の加工装置を用いることができる。
表示装置が有する表示素子には、例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical System)を利用した光学素子、EL素子、LED等の発光素子、液晶素子、電気泳動素子などを適用することができる。
本発明の一態様が適用された表示装置の厚さは、例えば30μm以上300μm以下とすることができ、50μm以上200μm以下が好ましく、50μm以上150μm以下がより好ましく、50μm以上100μm以下がさらに好ましい。表示装置の機械的強度を高めるために、表示装置の厚さは50μm以上とすることが好ましい。表示装置の可撓性を高めるために、表示装置の厚さは、200μm以下、さらには100μm以下とすることが好ましい。例えば、厚さが100μm以下であると、曲率半径1mmでの曲げ、または曲率半径5mmでの繰り返し(例えば10万回以上)の曲げが可能な表示装置を実現できる。
図23は、表示装置400Aの斜視概略図である。表示装置400Aは、基板471と基板472とが貼り合わされた構成を有する。図23では、基板472を破線で明示している。
表示装置400Aは、表示部481および駆動回路部482を有する。表示装置400Aには、FPC(Flexible Printed Circuit)473およびIC474が実装されている。
表示部481は、複数の画素を有し、画像を表示する機能を有する。
画素は、複数の副画素を有する。例えば、赤色を呈する副画素、緑色を呈する副画素、および青色を呈する副画素によって1つの画素が構成されることで、表示部481ではフルカラーの表示を行うことができる。なお、副画素が呈する色は、赤、緑、および青に限られない。画素には、例えば、白、黄、マゼンタ、またはシアン等の色を呈する副画素を用いてもよい。なお、本明細書等において、副画素を単に画素と記す場合がある。
表示装置400Aは、走査線駆動回路および信号線駆動回路のうち、一方または双方を有していてもよい。または、走査線駆動回路および信号線駆動回路の双方を有していなくてもよい。表示装置400Aが、タッチセンサ等のセンサを有する場合、表示装置400Aは、センサ駆動回路を有していてもよい。本実施の形態では、駆動回路部482として、走査線駆動回路を有する例を示す。走査線駆動回路は、表示部481が有する走査線に、走査信号を出力する機能を有する。
表示装置400Aでは、IC474が、COG(Chip On Glass)方式などの実装方式により、基板471に実装されている。IC474は、例えば、信号線駆動回路、走査線駆動回路、およびセンサ駆動回路のうち、いずれか一以上を有する。
表示装置400Aには、FPC473が電気的に接続されている。FPC473を介して、IC474および駆動回路部482には外部から信号および電力が供給される。また、FPC473を介して、IC474から外部に信号を出力することができる。
FPC473には、COF(Chip On Film)方式等により、ICが実装されていてもよい。例えば、FPC473には、信号線駆動回路、走査線駆動回路、およびセンサ駆動回路のうち、いずれか一以上を有するICが実装されていてもよい。
表示部481および駆動回路部482には、配線407から、信号および電力が供給される。当該信号および電力は、IC474から、またはFPC473を介して外部から、配線407に入力される。
図24(A)は、表示装置400Aの表示部481、駆動回路部482、および配線407を含む断面図である。表示装置400Aは、カラーフィルタ方式が適用されたトップエミッション構造の表示装置である。
表示装置400Aは、基板471、絶縁層478、複数のトランジスタ、容量素子405、配線407、絶縁層412、絶縁層413、絶縁層414、絶縁層415、発光素子404、導電層455、スペーサ416、接着層417、着色層425、遮光層426、絶縁層476、および基板472を有する。
基板471および基板472は、それぞれ、本発明の一態様の剥離方法によって基板から剥離された樹脂層を含んでいてもよい。または、基板471および基板472は、それぞれ、フィルムを含んでいてもよい。フィルムは、本発明の一態様の剥離方法によって基板から剥離された表面に、接着剤等を用いて貼り付けられている。
駆動回路部482はトランジスタ401を有する。表示部481は、トランジスタ402およびトランジスタ403を有する。
各トランジスタは、ゲート、絶縁層411、半導体層、ソース、およびドレインを有する。ゲートと半導体層は、絶縁層411を介して重なる。絶縁層411の一部は、ゲート絶縁層としての機能を有し、他の一部は、容量素子405の誘電体としての機能を有する。トランジスタ402のソースまたはドレインとして機能する導電層は、容量素子405の一方の電極を兼ねる。
図24(A)では、ボトムゲート構造のトランジスタを示す。駆動回路部482と表示部481とで、トランジスタの構造が異なっていてもよい。駆動回路部482および表示部481は、それぞれ、複数の種類のトランジスタを有していてもよい。
容量素子405は、一対の電極と、その間の誘電体とを有する。容量素子405は、トランジスタのゲートと同一の材料、および同一の工程で形成した導電層と、トランジスタのソースおよびドレインと同一の材料、および同一の工程で形成した導電層と、を有する。
絶縁層412、絶縁層413、および絶縁層414は、それぞれ、トランジスタ等を覆って設けられる。トランジスタ等を覆う絶縁層の数は特に限定されない。絶縁層414は、平坦化層としての機能を有する。絶縁層412、絶縁層413、および絶縁層414のうち、少なくとも一層には、水または水素などの不純物が拡散しにくい材料を用いることが好ましい。外部から不純物がトランジスタに拡散することを効果的に抑制することが可能となり、表示装置の信頼性を高めることができる。
図24(A)では、絶縁層414が表示装置の一面全体にわたって設けられている。図24(A)の構成では、本発明の一態様のフレキシブルデバイスの作製工程の歩留まりを高めることができるため、好ましい。
絶縁層414として有機材料を用いる場合、表示装置の端部に露出した絶縁層414を通って発光素子404等に表示装置の外部から水分等の不純物が侵入する恐れがある。不純物の侵入により、発光素子404が劣化すると、表示装置の劣化につながる。そのため、図24(B)に示すように、絶縁層414が、表示装置の端部に位置しないことが好ましい。図24(B)の構成では、有機材料を用いた絶縁層が表示装置の端部に位置しないため、発光素子404に不純物が侵入することを抑制できる。
発光素子404は、電極421、EL層422、および電極423を有する。発光素子404は、光学調整層424を有していてもよい。発光素子404は、着色層425側に光を射出する、トップエミッション構造である。
トランジスタ、容量素子、および配線等を、発光素子404の発光領域と重ねて配置することで、表示部481の開口率を高めることができる。
電極421および電極423のうち、一方は、陽極として機能し、他方は、陰極として機能する。電極421および電極423の間に、発光素子404の閾値電圧より高い電圧を印加すると、EL層422に陽極側から正孔が注入され、陰極側から電子が注入される。注入された電子と正孔はEL層422において再結合し、EL層422に含まれる発光物質が発光する。
電極421は、トランジスタ403のソースまたはドレインと電気的に接続される。これらは、直接接続されてもよいし、他の導電層を介して接続されてもよい。電極421は、画素電極として機能し、発光素子404ごとに設けられている。隣り合う2つの電極421は、絶縁層415によって電気的に絶縁されている。
EL層422は、発光性の物質を含む層である。
電極423は、共通電極として機能し、複数の発光素子404にわたって設けられている。電極423には、定電位が供給される。
発光素子404は、接着層417を介して着色層425と重なる。スペーサ416は、接着層417を介して遮光層426と重なる。図24(A)では、電極423と遮光層426との間に隙間がある場合を示しているが、これらが接していてもよい。図24(A)では、スペーサ416を基板471側に設ける構成を示したが、基板472側(例えば遮光層426よりも基板471側)に設けてもよい。
カラーフィルタ(着色層425)とマイクロキャビティ構造(光学調整層424)との組み合わせにより、表示装置からは、色純度の高い光を取り出すことができる。光学調整層424の厚さは、各画素の色に応じて変化させる。
着色層425は特定の波長帯域の光を透過する有色層である。例えば、赤色、緑色、青色、または黄色の波長帯域の光を透過するカラーフィルタなどを用いることができる。
なお、本発明の一態様は、カラーフィルタ方式に限られず、塗り分け方式、色変換方式、または量子ドット方式等を適用してもよい。
遮光層426は、隣接する着色層425の間に設けられている。遮光層426は隣接する発光素子404からの光を遮光し、隣接する発光素子404間における混色を抑制する。ここで、着色層425の端部を、遮光層426と重なるように設けることにより、光漏れを抑制することができる。遮光層426としては、発光素子が発する光を遮る材料を用いることができる。なお、遮光層426は、駆動回路部482などの表示部481以外の領域に設けると、導波光などによる意図しない光漏れを抑制できるため好ましい。
図24(B)に示すように、表示装置は、着色層425および遮光層426を覆うオーバーコート436を有していてもよい。オーバーコート436は、着色層425に含有された不純物等の発光素子への拡散を防止することができる。オーバーコート436は、発光素子からの発光を透過する材料から構成され、例えば窒化シリコン膜、酸化シリコン膜等の無機絶縁膜、または、アクリル膜、ポリイミド膜等の有機絶縁膜を用いることができ、有機絶縁膜と無機絶縁膜との積層構造としてもよい。
また、接着層417の材料を着色層425および遮光層426上に塗布する場合、オーバーコートの材料として接着層417の材料に対して濡れ性の高い材料を用いることが好ましい。例えば、オーバーコート436として、インジウム錫酸化物膜などの酸化物導電膜、または透光性を有する程度に薄いAg膜等の金属膜を用いることが好ましい。
オーバーコート436の材料に、接着層417の材料に対して濡れ性の高い材料を用いることで、接着層417の材料を均一に塗布することができる。これにより、一対の基板を貼り合わせた際に気泡が混入することを抑制でき、表示不良を抑制できることができる。
基板471の一方の表面には絶縁層478が形成されている。また、基板472の一方の表面には絶縁層476が形成されている。絶縁層476および絶縁層478に防湿性の高い膜を用いることが好ましい。一対の防湿性の高い絶縁層の間に発光素子404およびトランジスタ等を配置することで、これらの素子に水等の不純物が侵入することを抑制でき、表示装置の信頼性が高くなるため好ましい。
防湿性の高い絶縁膜としては、窒化シリコン膜、窒化酸化シリコン膜等の窒素と珪素を含む膜、および、窒化アルミニウム膜等の窒素とアルミニウムを含む膜等が挙げられる。また、酸化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、酸化アルミニウム膜等を用いてもよい。
例えば、防湿性の高い絶縁膜の水蒸気透過量は、1×10-5[g/(m・day)]以下、好ましくは1×10-6[g/(m・day)]以下、より好ましくは1×10-7[g/(m・day)]以下、さらに好ましくは1×10-8[g/(m・day)]以下とする。
接続部406は、配線407および導電層455を有する。配線407と導電層455は、電気的に接続されている。配線407は、トランジスタのソースおよびドレインと同一の材料、および同一の工程で形成することができる。導電層455は、駆動回路部482に外部からの信号や電位を伝達する外部入力端子と電気的に接続する。ここでは、外部入力端子としてFPC473を設ける例を示している。接続層419を介してFPC473と導電層455は電気的に接続する。
接続層419としては、様々な異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)または異方性導電ペースト(ACP:Anisotropic Conductive Paste)などを用いることができる。
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。
(実施の形態6)
本実施の形態では、本発明の一態様の加工装置を用いて作製することのできるフレキシブルデバイスを利用した電子機器について、図面を用いて説明する。
電子機器としては、例えば、テレビジョン装置、デスクトップ型もしくはノート型のパーソナルコンピュータ、コンピュータ用などのモニタ、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、デジタルフォトフレーム、携帯電話機、携帯型ゲーム機、携帯情報端末、音響再生装置、パチンコ機などの大型ゲーム機などが挙げられる。
当該電子機器は、様々な機能を有することができる。例えば、様々な情報(静止画、動画、テキスト画像など)を表示部に表示する機能、タッチパネル機能、カレンダー、日付または時刻などを表示する機能、様々なソフトウェア(プログラム)を実行する機能、無線通信機能、記録媒体に記録されているプログラムまたはデータを読み出す機能等を有することができる。
さらに、複数の表示部を有する電子機器においては、一つの表示部を主として画像情報を表示し、別の一つの表示部を主として文字情報を表示する機能、または複数の表示部に視差を考慮した画像を表示することで立体的な画像を表示する機能等を有することができる。さらに、受像部を有する電子機器においては、静止画または動画を撮影する機能、撮影した画像を自動または手動で補正する機能、撮影した画像を記録媒体(外部または電子機器に内蔵)に保存する機能、撮影した画像を表示部に表示する機能等を有することができる。なお、本発明の一態様の電子機器が有する機能はこれらに限定されず、様々な機能を有することができる。
図25(A)、(B)、(C)に、湾曲した表示部7000を有する電子機器の一例を示す。表示部7000はその表示面が湾曲して設けられ、湾曲した表示面に沿って表示を行うことができる。なお、表示部7000は可撓性を有していてもよい。
図25(A)に携帯電話機の一例を示す。図25(A)に示す携帯電話機7110は、筐体7101、表示部7000、操作ボタン7103、外部接続ポート7104、スピーカ7105、マイク7106、カメラ7107等を有する。
携帯電話機7110は、表示部7000にタッチセンサを備える。電話を掛ける、或いは文字を入力するなどのあらゆる操作は、指やスタイラスなどで表示部7000に触れることで行うことができる。
また、操作ボタン7103の操作により、電源のON、OFF動作や、表示部7000に表示される画像の種類を切り替えることができる。例えば、メール作成画面から、メインメニュー画面に切り替えることができる。
また、携帯電話機内部に、ジャイロセンサまたは加速度センサ等の検出装置を設けることで、携帯電話機の向き(縦か横か)を判断して、表示部7000の画面表示の向きを自動的に切り替えるようにすることができる。また、画面表示の向きの切り替えは、表示部7000を触れること、操作ボタン7103の操作、またはマイク7106を用いた音声入力等により行うこともできる。
図25(B)に携帯情報端末の一例を示す。図25(B)に示す携帯情報端末7210は、筐体7201および表示部7000を有する。さらに、操作ボタン、外部接続ポート、スピーカ、マイク、アンテナ、カメラ、またはバッテリ等を有していてもよい。表示部7000にはタッチセンサを備える。携帯情報端末の操作は、指やスタイラスなどで表示部7000に触れることで行うことができる。
本実施の形態で例示する携帯情報端末は、例えば、電話機、手帳または情報閲覧装置等から選ばれた一つまたは複数の機能を有する。具体的には、スマートフォンとしてそれぞれ用いることができる。本実施の形態で例示する携帯情報端末は、例えば、移動電話、電子メール、文章閲覧および作成、音楽再生、インターネット通信、コンピュータゲームなどの種々のアプリケーションを実行することができる。
携帯情報端末7210は、文字および画像情報等をその複数の面に表示することができる。例えば、3つの操作ボタン7202を一の面に表示し、矩形で示す情報7203を他の面に表示することができる。図25(B)では、携帯情報端末7210の上側に操作ボタン7202が表示され、携帯情報端末7210の横側に情報7203が表示される例を示す。なお、例えば携帯情報端末7210の横側に操作ボタン7202を表示し、例えば携帯情報端末7210の上側に情報7203を表示してもよい。また、携帯情報端末7210の3面以上に情報を表示してもよい。
情報7203の例としては、SNS(ソーシャル・ネットワーキング・サービス)の通知、電子メールや電話などの着信を知らせる表示、電子メールなどの題名もしくは送信者名、日時、時刻、バッテリの残量、アンテナ受信の強度などがある。または、情報7203が表示されている位置に、情報の代わりに、操作ボタン、アイコンなどを表示してもよい。
図25(C)にテレビジョン装置の一例を示す。テレビジョン装置7300は、筐体7301に表示部7000が組み込まれている。ここでは、スタンド7303により筐体7301を支持した構成を示している。
図25(C)に示すテレビジョン装置7300の操作は、筐体7301が備える操作スイッチや、別体のリモコン操作機7311により行うことができる。または、表示部7000にタッチセンサを備えていてもよく、指等で表示部7000に触れることで操作してもよい。リモコン操作機7311は、当該リモコン操作機7311から出力する情報を表示する表示部を有していてもよい。リモコン操作機7311が備える操作キーまたはタッチパネルにより、チャンネルおよび音量の操作を行うことができ、表示部7000に表示される映像を操作することができる。
なお、テレビジョン装置7300は、受信機およびモデムなどを備えた構成とする。受信機により一般のテレビ放送の受信を行うことができる。また、モデムを介して有線または無線による通信ネットワークに接続することにより、一方向(送信者から受信者)または双方向(送信者と受信者間、あるいは受信者間同士など)の情報通信を行うことも可能である。
図25(D)、(E)、(F)に、可撓性を有し、曲げることのできる表示部7001を有する携帯情報端末の一例を示す。
表示部7001は、本発明の一態様の表示装置等を用いて作製される。例えば、曲率半径0.01mm以上150mm以下で曲げることができる表示装置等を適用できる。また、表示部7001はタッチセンサを備えていてもよく、指等で表示部7001に触れることで携帯情報端末を操作することができる。表示部7001は、本発明の一態様の加工装置を用いて作製した表示装置等を用いて作製することができる。
図25(D)に腕時計型の携帯情報端末の一例を示す。携帯情報端末7800は、バンド7801、表示部7001、入出力端子7802、操作ボタン7803等を有する。バンド7801は、筐体としての機能を有する。また、携帯情報端末7800は、可撓性を有するバッテリ7805を搭載することができる。バッテリ7805は、例えば表示部7001またはバンド7801等と重ねて配置してもよい。
バンド7801、表示部7001、およびバッテリ7805は可撓性を有する。そのため、携帯情報端末7800を所望の形状に湾曲させることが容易である。
操作ボタン7803は、時刻設定のほか、電源のオン、オフ動作、無線通信のオン、オフ動作、消音モードの実行および解除、省電力モードの実行および解除など、様々な機能を持たせることができる。例えば、携帯情報端末7800に組み込まれたオペレーティングシステムにより、操作ボタン7803の機能を自由に設定することもできる。
また、表示部7001に表示されたアイコン7804に指等で触れることで、アプリケーションを起動することができる。
また、携帯情報端末7800は、通信規格に準拠した近距離無線通信を実行することが可能である。例えば無線通信可能なヘッドセットと相互通信することによって、ハンズフリーで通話することもできる。
また、携帯情報端末7800は入出力端子7802を有していてもよい。入出力端子7802を有する場合、他の情報端末とコネクタを介して直接データのやりとりを行うことができる。また入出力端子7802を介して充電を行うこともできる。なお、本実施の形態で例示する携帯情報端末の充電動作は、入出力端子を介さずに非接触電力伝送により行ってもよい。
図25(E)、(F)に、折りたたみ可能な携帯情報端末の一例を示す。図25(E)では、表示部7001が内側になるように折りたたんだ状態、図25(F)では、表示部7001が外側になるように折りたたんだ状態の携帯情報端末7650を示す。携帯情報端末7650は表示部7001および非表示部7651を有する。携帯情報端末7650を使用しない際に、表示部7001が内側になるように折りたたむことで、表示部7001の汚れおよび傷つきを抑制できる。なお、図25(E)、(F)では携帯情報端末7650を2つ折りにした構成を示しているが、携帯情報端末7650は3つ折りにしてもよいし、4つ折り以上にしてもよい。また、携帯情報端末7650は、操作ボタン、外部接続ポート、スピーカ、マイク、アンテナ、カメラ、またはバッテリ等を有していてもよい。
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。
13 接着層
14 基板
22 基板
23 樹脂層
23a 樹脂層
28 接着層
29 基板
31 絶縁層
32 絶縁層
33 絶縁層
34 絶縁層
35 絶縁層
40 トランジスタ
41 導電層
43a 導電層
43b 導電層
44 酸化物半導体層
60 表示素子
61 導電層
62 EL層
63 導電層
65 レーザ光
80 積層体
81 積層体
82 積層体
83 積層体
84 積層体
85 積層体
86 積層体
87 積層体
91 基板
93 樹脂層
93a 樹脂層
95 絶縁層
97 着色層
98 遮光層
99 接着層
100 フレキシブルデバイス
110 積層体
111 基板
112 樹脂層
112a 樹脂層
113 絶縁層
114 第1の素子層
120 積層体
121 基板
122 樹脂層
122a 樹脂層
123 絶縁層
124 機能層
130 積層体
131 第2の素子層
132 接着層
141 基板
151 基板
160 レーザ光
200 レーザ加工装置
201 レーザ加工装置
210 ロード/アンロード室
211 構造物
211a 基板
211b 基板
211c 基板
211c1 基板
211c2 基板
211d 基板
211e 原反
211f 基板
212 層
213a 加工領域
213b 領域
220 トランスファー室
221 搬送機構
222 搬送機構
223a 関節機構
223b 関節機構
223c 関節機構
224 反転機構
224a 支持部
224b 回転部
225 フォーク
226 吸着機構
227 アーム
228 アーム
229 昇降機構
230 レーザ加工室
231 固定機構
232 支軸
233 ステージ
234 水平移動機構
240 加工室
250 基板回収室
260 加工室
270 レーザ発振器
271a レーザ光
271b レーザ光
271c 線状ビーム
271d 線状ビーム
280 光学系ユニット
281 ミラー
282 ミラー
283 ミラー
284 ミラー
285 レンズ
286 レンズ
287 石英窓
288 石英窓
289 石英窓
290 石英窓
291 石英窓
310 ロード/アンロード室
320 トランスファー室
330 集塵機構
340 加工室
350 基板回収室
360 加工室
400A 表示装置
401 トランジスタ
402 トランジスタ
403 トランジスタ
404 発光素子
405 容量素子
406 接続部
407 配線
411 絶縁層
412 絶縁層
413 絶縁層
414 絶縁層
415 絶縁層
416 スペーサ
417 接着層
419 接続層
421 電極
422 EL層
423 電極
424 光学調整層
425 着色層
426 遮光層
436 オーバーコート
455 導電層
471 基板
472 基板
473 FPC
474 IC
476 絶縁層
478 絶縁層
481 表示部
482 駆動回路部
1000 加工装置
1001 加工装置
1010 第1のユニット
1020 第2のユニット
1030 第3のユニット
1040 第4のユニット
1351 吸着機構
1352 吸着機構
1360 治具
1370 ステージ
1380 治具
1381 切断領域
1390 クランプ治具
7000 表示部
7001 表示部
7101 筐体
7103 操作ボタン
7104 外部接続ポート
7105 スピーカ
7106 マイク
7107 カメラ
7110 携帯電話機
7201 筐体
7202 操作ボタン
7203 情報
7210 携帯情報端末
7300 テレビジョン装置
7301 筐体
7303 スタンド
7311 リモコン操作機
7650 携帯情報端末
7651 非表示部
7800 携帯情報端末
7801 バンド
7802 入出力端子
7803 操作ボタン
7804 アイコン
7805 バッテリ

Claims (1)

  1. レーザ発振器から出力されたレーザ光を成形する光学系ユニットと、レーザ加工室と、加工対象の構造物の固定機構と、前記固定機構を水平方向に移動させる水平移動機構と、第1のミラーと、第2のミラーと、第3のミラーと、第4のミラーと、第1のレンズと、第2のレンズと、を有し、
    前記固定機構の上方から第1の線状ビームを照射する機能と、前記固定機構の下方から第2の線状ビームを照射する機能と、を有し、
    前記第1のミラーと前記第2のミラーと前記第1のレンズとは、前記レーザ加工室の外部に位置し、
    前記第3のミラーと前記第4のミラーと前記第2のレンズとは、前記レーザ加工室の内部に位置し、
    前記第2のミラーと前記第3のミラーと前記第4のミラーと前記第1のレンズと前記第2のレンズとは、固定されており、
    前記第4のミラーと前記第2のレンズとは、前記固定機構と前記水平移動機構との間に位置し、
    前記第1の線状ビームは、前記光学系ユニットにより成形された前記レーザ光を、前記第1のミラーにより反射して、前記第1のレンズにより集光することで形成され、
    前記第2の線状ビームは、前記レーザ光を、前記第2のミラー乃至前記第4のミラーにより反射して、前記第2のレンズにより集光することで形成され、
    前記固定機構が有するステージは、前記第2のレンズから入射した前記レーザ光を透過する機能を有し、
    前記第1のミラーを移動させることにより、前記レーザ光の光路を切り替え、前記第1の線状ビームの形成をするか、前記第2の線状ビームの形成をするかを調整するレーザ加工装置。
JP2017094346A 2016-05-12 2017-05-11 レーザ加工装置 Active JP7180967B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022184050A JP2023021128A (ja) 2016-05-12 2022-11-17 加工装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016096205 2016-05-12
JP2016096205 2016-05-12

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018011289A Division JP6532556B2 (ja) 2016-05-12 2018-01-26 加工装置
JP2022184050A Division JP2023021128A (ja) 2016-05-12 2022-11-17 加工装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2017205806A JP2017205806A (ja) 2017-11-24
JP2017205806A5 JP2017205806A5 (ja) 2020-06-25
JP7180967B2 true JP7180967B2 (ja) 2022-11-30

Family

ID=60295245

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017094346A Active JP7180967B2 (ja) 2016-05-12 2017-05-11 レーザ加工装置
JP2018011289A Active JP6532556B2 (ja) 2016-05-12 2018-01-26 加工装置
JP2022184050A Withdrawn JP2023021128A (ja) 2016-05-12 2022-11-17 加工装置

Family Applications After (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018011289A Active JP6532556B2 (ja) 2016-05-12 2018-01-26 加工装置
JP2022184050A Withdrawn JP2023021128A (ja) 2016-05-12 2022-11-17 加工装置

Country Status (2)

Country Link
US (2) US10804407B2 (ja)
JP (3) JP7180967B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102624578B1 (ko) * 2020-09-14 2024-01-15 세메스 주식회사 기판 처리 설비 및 기판 처리 방법
CN113751728B (zh) * 2021-09-02 2023-03-14 湖北华程三维科技有限公司 一种用于多材料增材制造的三维打印设备
KR102535802B1 (ko) * 2022-11-16 2023-05-26 링크온코리아 주식회사 레이저를 이용한 슬롯홈의 스패터 제거 장치

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002172479A (ja) 2000-09-20 2002-06-18 Seiko Epson Corp レーザ割断方法、レーザ割断装置、液晶装置の製造方法並びに液晶装置の製造装置
JP2004130342A (ja) 2002-10-09 2004-04-30 Seishin Shoji Kk 板状体の両面加工装置
JP2004306048A (ja) 2003-04-02 2004-11-04 Nissan Motor Co Ltd レーザ溶接装置及びレーザ溶接方法
JP2008203434A (ja) 2007-02-19 2008-09-04 Fujitsu Ltd 走査機構、被加工材の加工方法および加工装置
JP2008252101A (ja) 2008-04-18 2008-10-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd El表示装置およびその作製方法
WO2009084276A1 (ja) 2007-12-27 2009-07-09 Mitsuboshi Diamond Industrial Co., Ltd. レーザ加工装置
JP2011098381A (ja) 2009-11-06 2011-05-19 Sumitomo Bakelite Co Ltd ガラス繊維強化樹脂フィルムおよびその切断方法、ならびにガラス繊維強化樹脂パネルおよびその製造方法

Family Cites Families (63)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3695756A (en) 1970-10-29 1972-10-03 Xerox Corp Sheet stripping apparatus
US5624525A (en) 1993-08-02 1997-04-29 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Sheet sticking apparatus
US5972452A (en) 1993-12-07 1999-10-26 Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. Sheet shaped oxygen absorbing member and method for manufacture thereof
JP3177401B2 (ja) 1995-04-12 2001-06-18 富士重工業株式会社 塗装樹脂製品の塗膜剥離装置
CA2233127C (en) 1997-03-27 2004-07-06 Canon Kabushiki Kaisha Method and apparatus for separating composite member using fluid
JPH1197065A (ja) 1997-04-23 1999-04-09 Hydro Quebec 超薄層固体リチウム電池及びその製造方法
JP4014271B2 (ja) 1998-01-09 2007-11-28 富士機械製造株式会社 プリント基板支持方法,プリント基板支持装置の製作方法および製作用治具
KR100543024B1 (ko) 1998-01-21 2006-05-25 삼성전자주식회사 액정표시장치의 편광판 제거장치
JPH11238999A (ja) 1998-02-19 1999-08-31 Fuji Mach Mfg Co Ltd 電気部品供給方法および装置
US6556189B1 (en) 1998-04-24 2003-04-29 Nissha Printing Co., Ltd. Touch panel device
JP3604559B2 (ja) 1998-05-06 2004-12-22 Tdk株式会社 スライダの製造方法および製造用補助具
JPH11316928A (ja) 1998-05-06 1999-11-16 Tdk Corp スライダの製造方法および装置
JP3619058B2 (ja) 1998-06-18 2005-02-09 キヤノン株式会社 半導体薄膜の製造方法
US6427748B1 (en) 1998-07-27 2002-08-06 Canon Kabushiki Kaisha Sample processing apparatus and method
TW564471B (en) 2001-07-16 2003-12-01 Semiconductor Energy Lab Semiconductor device and peeling off method and method of manufacturing semiconductor device
US7351300B2 (en) 2001-08-22 2008-04-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Peeling method and method of manufacturing semiconductor device
JP4397571B2 (ja) * 2001-09-25 2010-01-13 株式会社半導体エネルギー研究所 レーザ照射方法およびレーザ照射装置、並びに半導体装置の作製方法
JP3949564B2 (ja) 2001-11-30 2007-07-25 株式会社半導体エネルギー研究所 レーザ照射装置及び半導体装置の作製方法
FR2834381B1 (fr) 2002-01-03 2004-02-27 Soitec Silicon On Insulator Dispositif de coupe de couche d'un substrat, et procede associe
JP4326190B2 (ja) 2002-07-10 2009-09-02 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 可とう性成形型及びその製造方法
KR101032337B1 (ko) 2002-12-13 2011-05-09 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광장치 및 그의 제조방법
US7187162B2 (en) 2002-12-16 2007-03-06 S.O.I.Tec Silicon On Insulator Technologies S.A. Tools and methods for disuniting semiconductor wafers
TWI351566B (en) 2003-01-15 2011-11-01 Semiconductor Energy Lab Liquid crystal display device
TWI356658B (en) 2003-01-23 2012-01-11 Toray Industries Members for circuit board, method and device for m
JP4543688B2 (ja) 2003-02-04 2010-09-15 東レ株式会社 回路基板の製造方法および製造装置
JP2005026413A (ja) 2003-07-01 2005-01-27 Renesas Technology Corp 半導体ウエハ、半導体素子およびその製造方法
JP3971391B2 (ja) 2004-02-05 2007-09-05 富士フイルム株式会社 光ディスク製造用のアライメント装置
US7282380B2 (en) 2004-03-25 2007-10-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing semiconductor device
US8058146B2 (en) 2004-09-24 2011-11-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Peeling method
CN101036422B (zh) 2004-10-01 2010-04-14 东丽株式会社 长条薄膜电路基板、其制造方法及其制造装置
JP4285536B2 (ja) 2006-12-19 2009-06-24 セイコーエプソン株式会社 半導体装置の製造方法
CN101271869B (zh) 2007-03-22 2015-11-25 株式会社半导体能源研究所 发光器件的制造方法
JP2009094144A (ja) 2007-10-04 2009-04-30 Canon Inc 発光素子の製造方法
JP5171425B2 (ja) 2007-10-22 2013-03-27 日東電工株式会社 加熱発泡型再剥離性アクリル系粘着テープ又はシート、及び剥離方法
JP2009117181A (ja) 2007-11-06 2009-05-28 Hitachi Displays Ltd 有機el表示装置およびその製造方法
US8048690B2 (en) 2007-11-08 2011-11-01 Nitto Denko Corporation Pressure-sensitive adhesive sheet and process for producing semiconductor device having same
JP5376707B2 (ja) 2008-01-24 2013-12-25 株式会社半導体エネルギー研究所 レーザアニール装置
CN102089858B (zh) 2008-02-20 2013-03-13 夏普株式会社 柔性半导体基板的制造方法
JP5155454B2 (ja) 2009-08-31 2013-03-06 旭硝子株式会社 剥離装置
JP5902406B2 (ja) 2010-06-25 2016-04-13 株式会社半導体エネルギー研究所 分離方法および半導体装置の作製方法
KR102010429B1 (ko) 2011-02-25 2019-08-13 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광 장치 및 발광 장치를 사용한 전자 기기
US8845859B2 (en) 2011-03-15 2014-09-30 Sunedison Semiconductor Limited (Uen201334164H) Systems and methods for cleaving a bonded wafer pair
US8657994B2 (en) 2011-04-01 2014-02-25 Alta Devices, Inc. System and method for improved epitaxial lift off
JP5913974B2 (ja) 2011-12-28 2016-05-11 株式会社アルバック 有機elデバイスの製造装置、及び有機elデバイスの製造方法
JP5992696B2 (ja) 2012-02-29 2016-09-14 株式会社ディスコ リフトオフ装置
KR102079188B1 (ko) 2012-05-09 2020-02-19 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광 장치 및 전자 기기
US9702985B2 (en) 2012-10-24 2017-07-11 Hitachi Metals, Ltd. Method for producing radiation detector
KR102117890B1 (ko) 2012-12-28 2020-06-02 엘지디스플레이 주식회사 플렉서블 표시 장치 및 플렉서블 표시 장치 제조 방법
KR102309244B1 (ko) 2013-02-20 2021-10-05 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치
JP5921473B2 (ja) 2013-03-21 2016-05-24 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
JP6034228B2 (ja) 2013-03-29 2016-11-30 株式会社アルバック 有機el薄膜形成基板の製造方法
JP2015023137A (ja) 2013-07-18 2015-02-02 株式会社ディスコ 剥離装置及び剥離方法
TWI618131B (zh) 2013-08-30 2018-03-11 半導體能源研究所股份有限公司 剝離起點形成裝置及形成方法、疊層體製造裝置
CN107731716A (zh) 2013-08-30 2018-02-23 株式会社半导体能源研究所 叠层体的加工装置及加工方法
TWI705861B (zh) 2013-08-30 2020-10-01 日商半導體能源研究所股份有限公司 支撐體供應裝置及供應支撐體的方法
US9925749B2 (en) 2013-09-06 2018-03-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Bonding apparatus and stack body manufacturing apparatus
US9981457B2 (en) 2013-09-18 2018-05-29 Semiconductor Emergy Laboratory Co., Ltd. Manufacturing apparatus of stack
JP2015064468A (ja) 2013-09-25 2015-04-09 東レ株式会社 表示装置の製造方法
CN106597697A (zh) 2013-12-02 2017-04-26 株式会社半导体能源研究所 显示装置及其制造方法
US9427949B2 (en) 2013-12-03 2016-08-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Peeling apparatus and stack manufacturing apparatus
JP2015133342A (ja) 2014-01-09 2015-07-23 京セラサーキットソリューションズ株式会社 配線基板の製造方法
JP2016021560A (ja) 2014-06-20 2016-02-04 株式会社半導体エネルギー研究所 剥離装置
JP5911029B2 (ja) 2014-08-01 2016-04-27 日東電工株式会社 可撓性薄膜構造の表示セルに光学機能フィルムを貼り合わせる方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002172479A (ja) 2000-09-20 2002-06-18 Seiko Epson Corp レーザ割断方法、レーザ割断装置、液晶装置の製造方法並びに液晶装置の製造装置
JP2004130342A (ja) 2002-10-09 2004-04-30 Seishin Shoji Kk 板状体の両面加工装置
JP2004306048A (ja) 2003-04-02 2004-11-04 Nissan Motor Co Ltd レーザ溶接装置及びレーザ溶接方法
JP2008203434A (ja) 2007-02-19 2008-09-04 Fujitsu Ltd 走査機構、被加工材の加工方法および加工装置
WO2009084276A1 (ja) 2007-12-27 2009-07-09 Mitsuboshi Diamond Industrial Co., Ltd. レーザ加工装置
JP2008252101A (ja) 2008-04-18 2008-10-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd El表示装置およびその作製方法
JP2011098381A (ja) 2009-11-06 2011-05-19 Sumitomo Bakelite Co Ltd ガラス繊維強化樹脂フィルムおよびその切断方法、ならびにガラス繊維強化樹脂パネルおよびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20200365738A1 (en) 2020-11-19
JP2017205806A (ja) 2017-11-24
US10804407B2 (en) 2020-10-13
US20170330973A1 (en) 2017-11-16
JP2023021128A (ja) 2023-02-09
JP6532556B2 (ja) 2019-06-19
JP2018063959A (ja) 2018-04-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10079353B2 (en) Light-emitting device with flexible substrates
US9770894B2 (en) Peeling apparatus and stack manufacturing apparatus
JP6621883B2 (ja) 積層体の作製装置
JP2020004979A (ja) 剥離装置
JP6882061B2 (ja) 表示装置
JP6815096B2 (ja) 剥離装置
JP2023078260A (ja) 表示装置
JP2023021128A (ja) 加工装置
JP7004452B2 (ja) 半導体装置の作製方法
KR102446583B1 (ko) 레이저 가공 장치, 적층체의 가공 장치, 및 레이저 가공 방법
JP2024050630A (ja) 半導体装置
JP2017188395A (ja) 積層体の加工装置および加工方法
JP2017188626A (ja) 表示装置の作製方法
JP2017188394A (ja) 積層体の加工装置および加工方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200511

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200511

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210601

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211102

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220510

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220620

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20221025

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20221117

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7180967

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150