JP7180588B2 - 樹脂組成物、硬化物、パターン硬化物、硬化物の製造方法、層間絶縁膜、表面保護膜及び電子部品 - Google Patents
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- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)
Description
この加熱硬化温度に対して、低温硬化の要求が高まっており、従来であれば、370℃程度の高温でポリイミド前駆体の加熱硬化が行われていたが、300℃以下の加熱硬化が求められている。
さらに、本発明者らは、鋭意研究を行った結果、テトラエチレングリコールジメタクリレートを用いた場合、良好な接着性を発現する架橋構造を形成するが、薬液耐性に悪影響を与えることが分かった。そして、架橋剤の架橋点の数と分子長の観点から、さらに研究を行い、本発明に至った。
1.(a)ポリイミド又はポリイミド前駆体と、
(d1)下記式(11)又は(12)で表される化合物と、
(d2)下記式(13)で表される化合物、下記式(14)で表される化合物、下記式(15)で表される化合物、及び下記式(16)で表される化合物からなる群から選択される1以上の化合物とを含有する樹脂組成物。
複数のR111、R113~R115及びL1は、それぞれ同一でもよく、異なっていてもよい。R116及びR117が複数ある場合、複数のR116及びR117はそれぞれ同一でもよく、異なっていてもよい。)
2.前記(a)ポリイミド又はポリイミド前駆体が、ポリイミド前駆体である1に記載の樹脂組成物。
3.前記ポリイミド前駆体が、下記式(1)で表される構造単位を有する1又は2に記載の樹脂組成物。
4.前記ポリイミド前駆体が、下記式(1A)~(1C)で表される構造単位を含む1~3のいずれかに記載の樹脂組成物。
5.前記(d1)成分が、前記式(11)で表される化合物である1~4のいずれかに記載の樹脂組成物。
6.前記(d2)成分が、前記式(13)で表される化合物である1~5のいずれかに記載の樹脂組成物。
7.前記式(13)において、R111がアクリロイル基である1~6のいずれかに記載の樹脂組成物。
8.さらに(b)感光剤を含有し、感光性樹脂組成物である1~7のいずれかに記載の樹脂組成物。
9.前記(b)成分が、(b1)下記式(21)で表される化合物及び下記式(22)で表される化合物からなる群から選択される1以上の化合物、及び(b2)下記式(31)で表される化合物及び下記式(32)で表される化合物からなる群から選択される1以上の化合物からなる群から選択される1以上の化合物を含有する8に記載の樹脂組成物。
10.1~9のいずれかに記載の樹脂組成物の硬化物。
11.8又は9に記載の樹脂組成物のパターン硬化物。
12.1~9のいずれかに記載の樹脂組成物を支持基板上に塗布、乾燥し、樹脂膜を形成する工程、
及び前記樹脂膜を加熱処理する工程を含む、硬化物の製造方法。
13.前記加熱処理の温度が250℃以下である12に記載の硬化物の製造方法。
14.前記加熱処理の温度が230℃以下である12に記載の硬化物の製造方法。
15.10に記載の硬化物又は11に記載のパターン硬化物を用いて作製された層間絶縁膜又は表面保護膜。
16.15に記載の層間絶縁膜又は表面保護膜を含む電子部品。
「~」を用いて示された数値範囲は、「~」の前後に記載される数値をそれぞれ最小値及び最大値として含む範囲を示す。また、本明細書において組成物中の各成分の含有量は、組成物中に各成分に該当する物質が複数存在する場合、特に断らない限り、組成物中に存在する当該複数の物質の合計量を意味する。さらに、例示材料は特に断らない限り単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
さらに、架橋剤が架橋構造を維持したまま、硬化物中に存在しているために、良好な接着性と薬液耐性を発現させることができ、かつ、硬化収縮が小さくなり、多層膜にした場合の平坦性を確保できる。
複数のR111、R113~R115及びL1は、それぞれ同一でもよく、異なっていてもよい。R116及びR117が複数ある場合、複数のR116及びR117はそれぞれ同一でもよく、異なっていてもよい。)
これらは、1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせてもよい。
炭素-炭素不飽和二重結合を有する1価の有機基としては、例えば、(メタ)アクリロイル基を有する有機基が挙げられる。具体的には、アルキル基の炭素数が1~10の(メタ)アクリロキシアルキル基が挙げられる。
アルキル基の炭素数が1~10の(メタ)アクリロキシアルキル基としては、(メタ)アクリロキシエチル基、(メタ)アクリロキシプロピル基、(メタ)アクリロキシブチル基等が挙げられる。
通常、式(1A)で表される構造単位は、式(1B)で表される構造単位又は式(1C)で表される構造単位と結合する。
式(1B)で表される構造単位に対応するジアミン化合物としては、上述したジアミン化合物のうち、式(1B)で表される構造単位に対応するジアミン化合物等が挙げられる。
また、式(1C)で表される構造単位に対応するジアミン化合物としては、上述したジアミン化合物のうち、式(1C)で表される構造単位に対応するジアミン化合物等が挙げられる。
これらは、1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせてもよい。
重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー法によって測定することができ、標準ポリスチレン検量線を用いて換算することによって求めることができる。
ポリイミド前駆体及びポリイミドを、併用してもよい。
上記範囲内であることで、良好な接着性を発現することができる。
複数のR111、R113~R115及びL1は、それぞれ同一でもよく、異なっていてもよい。R116及びR117が複数ある場合、複数のR116及びR117はそれぞれ同一でもよく、異なっていてもよい。)
式(14)において、R113はアクリロイル基であることが好ましい。
式(15)において、R114はアクリロイル基であることが好ましい。
式(16)において、R115は水素原子又はアクリロイル基であることが好ましい。
環形成原子数3~20の複素環の置換基としては、後述の任意の置換基と同様のものが挙げられる。
テトラメチロールメタンテトラアクリレート、テトラメチロールメタンテトラメタクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサメタクリレート、エトキシ化ペンタエリスリトールテトラアクリレート、エトキシ化イソシアヌル酸トリアクリレート、エトキシ化イソシアヌル酸トリメタクリレート、アクリロイルオキシエチルイソシアヌレート、メタクリロイルオキシエチルイソシアヌレート等が挙げられる。
上記範囲内であることで、硬化物の薬液耐性を向上することができる。
(b)成分は、活性光線照射によりラジカルを発生しうる化合物であれば特に制限はない。活性光線は、i線等の紫外線、可視光線及び放射線等が挙げられる。
(b1)成分は、活性光線に対する感度が後述する(b2)成分より高いことが好ましく、高感度な感光剤であることが好ましい。
R15は、好ましくは-O(CH2)2OHである。b1は好ましくは0又は1である。R16は、好ましくは炭素数1~6のアルキル基であり、より好ましくはメチル基又はヘキシル基である。R17は、好ましくは炭素数1~6のアルキル基又はフェニル基であり、より好ましくはメチル基又はフェニル基である。
(b2)成分は、活性光線に対する感度が(b1)成分より低いことが好ましく、標準的な感度の感光剤であることが好ましい。
また、(b)成分は、(b1)成分及び(b2)成分を含むことが好ましい。
(b1)成分として上記式(21)で表される化合物を用い、かつ、(b2)成分として上記式(32)で表される化合物を用いると、より好ましい。
上記範囲内であることで、広範囲の露光量において、残膜率の維持と良好な解像性とを両立できる。
(c)成分としては、好ましいものとして、例えば、ガンマブチロラクトン、N-メチル-2-ピロリドン、N-アセチル-2-ピロリドン、N,N-ジメチルアセトアミド、N,N-ジメチルスルホキシド、ヘキサメチルホスホルトリアミド、ジメチルイミダゾリジノン、テトラエチルウレア、テトラメチルウレア、乳酸エチル、3-メトキシ-N、N-ジメチルプロパンアミド及びN-アセチル-ε-カプロラクタム、等の極性溶剤が挙げられる。
具体的には、例えば、アセトン、ジエチルケトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、シュウ酸ジエチル、マロン酸ジエチル、ジエチルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジクロロメタン、1,2-ジクロロエタン、1,4-ジクロロブタン、トリクロロエタン、クロロベンゼン、o-ジクロロベンゼン、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、ベンゼン、トルエン、キシレン、1-メトキシ-2-プロパノール、1-メトキシ-2-アセトキシプロパン、プロピレングリコール1-モノメチルエーテル2-アセタート等を使用することができる。
本発明の樹脂組成物の、例えば、80質量%以上、90質量%以上、95質量%以上、98質量%以上又は100質量%が、溶剤((c)成分)を除いて、
(a)、(d1)及び(d2)成分、
(a)、(b)、(d1)及び(d2)成分又は
(a)、(b)、(d1)及び(d2)成分、及び任意に(e)~(h)成分、溶解促進剤、界面活性剤、レベリング剤からなっていてもよい。
感光性樹脂組成物とする場合、本発明の硬化物は、パターンが形成された硬化物(以下、パターン硬化物と呼ぶ)として用いてもよく、パターンがない硬化物として用いてもよい。
本発明の硬化物の膜厚は、1~20μmが好ましい。
塗布の方法としては、浸漬法、スプレー法、スクリーン印刷法、回転塗布法等があげられる。
得られる感光性樹脂膜の膜厚は、1~20μmが好ましい。
加熱処理の時間は、20分間~6時間が好ましく、30分間~3時間がより好ましい。
多段階加熱を行ってもよい。
本発明の層間絶縁膜及び表面保護膜は、電子部品等に用いることができる。これにより、信頼性が高い電子部品を得ることができる、
本発明の電子部品は、半導体装置や多層配線板等に使用することができる。前記半導体装置や多層配線板は、各種電子デバイス等に使用できる。
本発明の電子部品は、上述の表面保護膜、層間絶縁膜等を有すること以外は特に制限されず、様々な構造をとることができる。
攪拌機、温度計を備えた1.0リットルのフラスコ中に、4,4’-オキシジフタル酸二無水物62.0g(199.9mmol)、2-ヒドロキシエチルメタクリレート5.2g(40.0mmol)及び触媒量の1,4-ジアザビシクロ[2.2.2.]オクタントリエチレンジアミンを250.0gのN-メチル-2-ピロリドン中に溶解して、45℃で1時間攪拌した後25℃まで冷却し、m-フェニレンジアミン5.5g(50.9mmol)、オキシジアニリン(4,4’-ジアミノジフェニルエーテル)23.8g(118.9mmol)及び乾燥したN-メチル-2-ピロリドン100mLを加えた後45℃で150分攪拌した後、室温へ冷却した。この溶液へトリフルオロ酢酸無水物78.5g(373.8mmol)を滴下した後、20分攪拌した後、2-ヒドロキシエチルメタクリレート53.1g(408.0mmol)を加え45℃で20時間攪拌した。この反応液を蒸留水に滴下し、沈殿物をろ別して集め、減圧乾燥することによってポリアミド酸エステルを得た。これをポリマーIとする。
ゲルパーミエーションクロマトグラフ(GPC)法を用いて、標準ポリスチレン換算により、以下の条件で、重量平均分子量を求めた。ポリマーIの重量平均分子量は35,000であった。
測定装置:検出器 株式会社島津製作所製RID-20AD
ポンプ :株式会社島津製作所社製LC-20AD
測定条件:カラム Gelpack GL-S300MDT-5×2本
溶離液 :THF/DMF=1/1(容積比)
LiBr(0.03mol/l)、H3PO4(0.06mol/l)
流速 :1.0ml/min、検出器:UV270nm
攪拌機、温度計を備えた1.0リットルのフラスコ中に、4,4’-オキシジフタル酸二無水物62.0g(199.9mmol)、2-ヒドロキシエチルメタクリレート5.2g(40.0mmol)及び触媒量の1,4-ジアザビシクロ[2.2.2.]オクタントリエチレンジアミンを250.0gのN-メチル-2-ピロリドン中に溶解して、45℃で1時間攪拌した後25℃まで冷却し、2,2’-ジメチルベンジジン35.95g(169.8mmol)及び乾燥したN-メチル-2-ピロリドン100mLを加えた後45℃で150分攪拌した後、室温へ冷却した。この溶液へトリフルオロ酢酸無水物78.5g(373.8mmol)を滴下した後、20分攪拌した後、2-ヒドロキシエチルメタクリレート53.1g(408.0mmol)を加え45℃で20時間攪拌した。この反応液を蒸留水に滴下し、沈殿物をろ別して集め、減圧乾燥することによってポリアミド酸エステルを得た。これをポリマーIIとする。
ポリマーIIの重量平均分子量を、合成例1と同様に求めた。ポリマーIIの重量平均分子量は35,000であった。
(樹脂組成物の調製)
表1に示した成分及び配合量にて樹脂組成物を調製した。表1の配合量は、(a)成分100質量部に対する、(b)~(h)成分の質量部である。
B1:G-1820(PDO)(Lambson社製、1-フェニル-1,2-プロパンジオン-2-(o-エトキシカルボニル)オキシム)
NMP:N-メチル-2-ピロリドン
D1-1:TEGDMA(サートマー社製、テトラエチレングリコールジメタクリレート
D2-1:A-TMMT(新中村化学工業株式会社製、テトラメチロールメタンテトラアクリレート、下記式D2-1で表される化合物)
D2-2:A-9300(新中村化学工業株式会社製、エトキシ化イソシアヌル酸トリアクリレート、下記式D2-2で表される化合物)
D2-3:M-215(新中村化学工業株式会社製、アクリロイルオキシエチルイソシアヌレート、下記式D2-3で表される化合物)
D2-4:A-TMPT(新中村化学工業株式会社製、トリメチロールプロパントリアクリレート、下記式D2-4で表される化合物)
D2-5:DPE-6A(新中村化学工業株式会社製、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート、下記式D2-5で表される化合物)
E1:4,4’-ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン
G1:UCT-801(United Chemical Technologies社製、3-ウレイドプロピルトリエトキシシラン)
H1:1,2,3-ベンゾトリアゾール(和光純薬株式会社製)
H2:5-アミノテトラゾール
得られた樹脂組成物を、6インチシリコンウエハ上にスピンコート法によって塗布し、110℃のホットプレート上で4分間加熱し、溶剤を揮発させ硬化後膜厚が13μmとなる塗膜を得た。これを、縦型拡散炉(光洋サーモシステム株式会社製)を用いて、窒素雰囲気下、225℃で1時間加熱硬化して、硬化物を得た。
上記硬化物の製造において、110℃のホットプレート上で4分間加熱後の膜厚及び硬化後の膜厚を、Filmetrics(Filmetrics社製)を用いて測定した(膜厚の測定は以下同様である)。硬化後の膜厚10μmを、110℃のホットプレート上で4分間加熱後の膜厚で割った後、百分率にし、硬化後の残膜率を求めた。結果を表1に示す。
上記硬化物に、GTN-68P(千住金属工業株式会社製)をピペットで塗布した。塗布後の硬化物を、245℃のホットプレート上に置き、1分間保持した。その後、ホットプレートから硬化物を移動し、室温まで冷却した。冷却後の硬化物をイソプロピルアルコールで洗浄し、乾燥した後、膜厚を測定した。
GTN-68P塗布前後の膜厚変化から、膜厚変化率(%)を算出した。値が正であれば膜の膨潤、値が負であれば膜の溶解を意味する。結果を表1に示す。
GTN-68Pに代えて、WS-600(Alpha Advanced Materials社製)を用いた以外、GTN-68P薬液耐性と同様に測定した。結果を表1に示す。
6インチシリコンウエハに代えて、Cu基板を用いた以外、上記(硬化物の製造)と同様に、硬化物を得た。
上述のCu基板上での硬化物の製造で得られた硬化物に、クロスカットガイド(コーテック株式会社製)を用いて、カミソリで、10×10の碁盤目の切り込みを入れて、硬化物を100個の小片に分割した。
そこに粘着テープ(スリーエムジャパン株式会社製)を貼り付け、前記粘着テープを剥がした。粘着テープを剥がす際に、基板から剥離した硬化物の小片の数により、接着性を下記のように評価した。結果を表1に示す。
A:残ったマスが、100~80であった
B:残ったマスが、80未満であった
(樹脂組成物の調製)
表2に示した成分及び配合量にて樹脂組成物を調製した。表2の配合量は、(a)成分100質量部に対する、各成分の質量部である。
B2:IRGACURE OXE-02(BASFジャパン株式会社製、エタノン-1-[9-エチル-6-(2-メチルベンゾイル)-9H-カルバゾール-3-イル]-1-(o-アセチルオキシム)
B3:IRGACURE 819(BASFジャパン株式会社製、ビス(2,4,6-トリメチルベンゾイル)-フェニルフォスフィンオキサイド)
H2:5-アミノテトラゾール
得られた樹脂組成物について、実施例1~7及び比較例1と同様に、硬化物を製造し、GTN-68P薬液耐性、WS-600薬液耐性及び接着性を評価した。結果を表2に示す。
この明細書に記載の文献及び本願のパリ優先の基礎となる国際出願の内容を全てここに援用する。
Claims (13)
- (a)ポリイミド前駆体と、
(b1)下記式(21)で表される化合物と、
(b2)下記式(31)で表される化合物及び下記式(32)で表される化合物からなる群から選択される1以上の化合物と、
(d1)下記式(11)又は(12)で表される化合物と、
(d2)下記式(13)で表される化合物、下記式(14)で表される化合物、下記式(15)で表される化合物、及び下記式(16)で表される化合物からなる群から選択される1以上の化合物とを含有する樹脂組成物。
複数のR111、R113~R115及びL1は、それぞれ同一でもよく、異なっていてもよい。R116及びR117が複数ある場合、複数のR116及びR117はそれぞれ同一でもよく、異なっていてもよい。) - 前記(d1)成分が、前記式(11)で表される化合物である請求項1~3のいずれかに記載の樹脂組成物。
- 前記(d2)成分が、前記式(13)で表される化合物である請求項1~4のいずれかに記載の樹脂組成物。
- 前記式(13)において、R111がアクリロイル基である請求項1~5のいずれかに記載の樹脂組成物。
- 請求項1~6のいずれかに記載の樹脂組成物の硬化物。
- 請求項1~6のいずれかに記載の樹脂組成物のパターン硬化物。
- 請求項1~6のいずれかに記載の樹脂組成物を支持基板上に塗布、乾燥し、樹脂膜を形成する工程、
及び前記樹脂膜を加熱処理する工程を含む、硬化物の製造方法。 - 前記加熱処理の温度が250℃以下である請求項9に記載の硬化物の製造方法。
- 前記加熱処理の温度が230℃以下である請求項9に記載の硬化物の製造方法。
- 請求項7に記載の硬化物又は請求項8に記載のパターン硬化物を用いて作製された層間絶縁膜又は表面保護膜。
- 請求項12に記載の層間絶縁膜又は表面保護膜を含む電子部品。
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