JP7165878B2 - 現像装置の洗浄液および洗浄方法 - Google Patents
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Description
プリント基板製造工程における現像工程中で発生するスカムを溶解除去する洗浄液であって、
70質量%以上90質量%以下の有機溶剤と、
アミン類と、
水で構成されることを特徴とする。
上記の洗浄液をスカムが付着した被洗浄物に接触させる工程と、前記工程を一定時間維持する工程を有することを特徴とする。
被洗浄物に付着したスカムを分析した。分析はLC-MS(Liquid Chromatography Mass Spectrometry:液体クロマトグラフィ質量分析装置)を使って行った。分析の結果、5つのピークを確認することができた。そのうち、メイン成分(最も含有量が多いと考えられるもの:以下「最大成分」と呼ぶ。最大成分は、主成分と同義である。)は、2,2’-ビス(2-クロロフェニル)-4,4’,5,5’-テトラフェニル-1,2’-ビイミダゾール((2)式参照)であった。
サンプル洗浄液に対して、スカムが付着したノズル部品を浸漬し15分攪拌した後、水洗、エアブローで水分除去を行い、室温で24時間放置した。洗浄前と放置後のノズル部品の重さの差からスカムの除去量を測定した。コントロール(比較例1)は、水酸化ナトリウム水溶液とした。除去量が、水酸化ナトリウム水溶液の除去量よりも多いものは丸(記号「〇」:好適を意味する。)とした。さらに、被洗浄物の表面にスカムが目視で確認できない程スカムを除去(溶解)できたもの(ノズル1つ当たり0.05g以上のスカムを除去できた場合に相当する)は、二重丸(記号「◎」:より好適を意味する。)とした。
実施例1のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
水酸化ナトリウム(NaOH) 3質量%
1メトキシ2プロパノール(1M2P) 10質量%
水(DI) 87質量%
実施例2のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
水酸化ナトリウム 3質量%
エチレングリコール(EG) 10質量%
水 87質量%
実施例3のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
水酸化ナトリウム 3質量%
N-メチルピロリドン(NMP) 10質量%
水 87質量%
実施例4のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
水酸化ナトリウム 3質量%
ジエチレングリコールモノブチルエーテル(BDG) 10質量%
水 87質量%
実施例5のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
水酸化ナトリウム 3質量%
ジメチルホルムアミド(DMF) 10質量%
水 87質量%
実施例6のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
水酸化ナトリウム 3質量%
エタノール(EOH) 10質量%
水 87質量%
実施例7のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
水酸化ナトリウム 3質量%
アセトン(AC) 10質量%
水 87質量%
実施例8のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
水酸化ナトリウム 3質量%
γブチロラクトン(γBL) 10質量%
水 87質量%
実施例9のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
1アミノ2プロパノール(1A2P) 10質量%
γブチロラクトン(γBL) 10質量%
水 80質量%
実施例10のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
1アミノ2プロパノール(1A2P) 10質量%
γブチロラクトン(γBL) 20質量%
水 70質量%
実施例11のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
1アミノ2プロパノール(1A2P) 10質量%
γブチロラクトン(γBL) 80質量%
水 10質量%
実施例12のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
1アミノ2プロパノール(1A2P) 55質量%
ジエチレングリコールモノブチルエーテル(BDG) 30質量%
水 15質量%
実施例13のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
1アミノ2プロパノール(1A2P) 1質量%
トリエチレングリコールジメチルエーテル(TEGDM) 39質量%
水 60質量%
実施例14のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
1アミノ2プロパノール(1A2P) 5質量%
トリエチレングリコールジメチルエーテル(TEGDM) 80質量%
水 15質量%
実施例15のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
1アミノ2プロパノール(1A2P) 5質量%
トリエチレングリコールジメチルエーテル(TEGDM) 60質量%
ジエチレングリコールモノブチルエーテル(BDG) 20質量%
したがって、有機溶剤は合計80質量%となる。
水 15質量%
実施例16のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
1アミノ2プロパノール(1A2P) 5質量%
トリエチレングリコールジメチルエーテル(TEGDM) 40質量%
ジエチレングリコールモノブチルエーテル(BDG) 40質量%
したがって、有機溶剤は合計80質量%となる。
水 15質量%
実施例17のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
1アミノ2プロパノール(1A2P) 5質量%
トリエチレングリコールジメチルエーテル(TEGDM) 20質量%
ジエチレングリコールモノブチルエーテル(BDG) 60質量%
したがって、有機溶剤は合計80質量%となる。
水 15質量%
比較例1のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
水酸化ナトリウム 3質量%
水 97質量%
比較例2のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
1アミノ2プロパノール(1A2P) 65質量%
ジエチレングリコールモノブチルエーテル(BDG) 20質量%
水 15質量%
比較例3のサンプル洗浄液を以下の組成で調製した。
1アミノ2プロパノール(1A2P) 1質量%
トリエチレングリコールジメチルエーテル(TEGDM) 34質量%
水 65質量%
Claims (4)
- プリント基板製造工程における現像工程中で発生するスカムを溶解除去する洗浄液であって、
70 質量%以上90質量%以下の有機溶剤と、
アミン類 と、
水で構成される洗浄液。 - 前記有機溶剤は、
水溶性一価アルコール、
水溶性二価アルコール、
水溶性三価アルコール、
水溶性グリコールエーテル、
γブチロラクトン、テトラヒドロフラン、
水溶性ケトンから選ばれる少なくとも一種類以上である請求項1に記載された洗浄液。 - 前記スカムは、2,2’-ビス(2-クロロフェニル)-4,4’,5,5’-テトラフェニル-1,2’-ビイミダゾールを最大成分とする請求項1または2の何れか一の請求項に記載された洗浄液。
- 請求項1乃至3のいずれか一の洗浄液を、プリント基板製造工程における現像工程中で発生するスカムが付着した被洗浄物に接触させる工程と、
前記工程を一定時間維持する工程を有する洗浄方法。
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