JP7065996B2 - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7065996B2
JP7065996B2 JP2020550306A JP2020550306A JP7065996B2 JP 7065996 B2 JP7065996 B2 JP 7065996B2 JP 2020550306 A JP2020550306 A JP 2020550306A JP 2020550306 A JP2020550306 A JP 2020550306A JP 7065996 B2 JP7065996 B2 JP 7065996B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
washing
probe
sample
cleaning
automatic analyzer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2020550306A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2020071163A1 (ja
Inventor
雄大 福士
高通 森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Tech Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Tech Corp filed Critical Hitachi High Tech Corp
Publication of JPWO2020071163A1 publication Critical patent/JPWO2020071163A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7065996B2 publication Critical patent/JP7065996B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1004Cleaning sample transfer devices
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L13/00Cleaning or rinsing apparatus
    • B01L13/02Cleaning or rinsing apparatus for receptacle or instruments
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L3/00Containers or dishes for laboratory use, e.g. laboratory glassware; Droppers
    • B01L3/02Burettes; Pipettes
    • B01L3/0282Burettes; Pipettes mounted within a receptacle
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L3/00Containers or dishes for laboratory use, e.g. laboratory glassware; Droppers
    • B01L3/50Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes
    • B01L3/502Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes with fluid transport, e.g. in multi-compartment structures
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L2200/00Solutions for specific problems relating to chemical or physical laboratory apparatus
    • B01L2200/02Adapting objects or devices to another
    • B01L2200/025Align devices or objects to ensure defined positions relative to each other
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L2200/00Solutions for specific problems relating to chemical or physical laboratory apparatus
    • B01L2200/10Integrating sample preparation and analysis in single entity, e.g. lab-on-a-chip concept
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L2200/00Solutions for specific problems relating to chemical or physical laboratory apparatus
    • B01L2200/14Process control and prevention of errors
    • B01L2200/141Preventing contamination, tampering
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L2200/00Solutions for specific problems relating to chemical or physical laboratory apparatus
    • B01L2200/16Reagents, handling or storing thereof
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L2300/00Additional constructional details
    • B01L2300/06Auxiliary integrated devices, integrated components
    • B01L2300/0627Sensor or part of a sensor is integrated
    • B01L2300/0663Whole sensors
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L2400/00Moving or stopping fluids
    • B01L2400/04Moving fluids with specific forces or mechanical means
    • B01L2400/0475Moving fluids with specific forces or mechanical means specific mechanical means and fluid pressure
    • B01L2400/0487Moving fluids with specific forces or mechanical means specific mechanical means and fluid pressure fluid pressure, pneumatics
    • B01L2400/049Moving fluids with specific forces or mechanical means specific mechanical means and fluid pressure fluid pressure, pneumatics vacuum
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/75Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
    • G01N21/77Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Clinical Laboratory Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Hematology (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

本発明は、自動分析装置に関する。
試料の定性・定量分析を行う自動分析装置においては、一定量の試料と一定量の試薬とを反応容器内に吐出して混合および反応させ、この反応液の反応を光学的に測定することにより試料である検体の成分や濃度等の分析を行う。このような自動分析装置においては、分析対象である試料の分注に用いるプローブを適宜洗浄することによりクロスコンタミネーションの発生を抑制して分析精度の維持を図っている。
このようなプローブの洗浄に係る技術として、例えば、特許文献1には、試薬や分析対象である検体を反応容器に分注する分注用ノズルと、前記分注用ノズルを繰返し使用するために洗浄する洗浄手段を具備し、反応容器内で化学反応させた反応液の吸光度を測定して成分分析を行う自動分析装置おいて、前記洗浄後に前記分注用ノズルの外壁に残存した洗浄水を真空吸引し、非接触で除去、乾燥し得る自動分析装置が開示されている。
特開2002-340913号公報
ところで、自動分析装置におけるプローブの洗浄には洗浄水として多量の水を必要とするが、洗浄水が多く確保出来ない場合、例えば、洗浄水を多く確保できない地域で自動分析装置を使用する場合には分析を継続的に実施できないことが考えられる。
本発明は上記に鑑みてなされたものであり、プローブの洗浄における洗浄水の使用量を削減することができる自動分析装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明は、分析対象の試料と試薬とを反応させる複数の反応容器に分注対象を分注するプローブと、前記反応容器の前記試料と前記試薬の反応液を測定する測定部と、前記プローブの洗浄を行う洗浄槽と、前記プローブ、前記測定部、及び前記洗浄槽の動作を制御する制御装置とを備えた自動分析装置において、前記洗浄槽は、前記プローブを浸漬して洗浄するための洗浄水を貯留し、前記プローブを上方から挿入して洗浄する洗浄プールと、ポンプから前記洗浄プールへ供給される洗浄水の通流と遮断とを切り換える供給弁と、前記洗浄プールの側方に離間して設けられ、前記プローブを上方から挿入して前記プローブの表面に付着した洗浄水を前記プローブの先端方向に吸引する乾燥槽とを有し、前記制御装置は、前記洗浄プールへの洗浄水の供給を前記供給弁により遮断した状態で、前記洗浄プールに前記プローブを挿入して洗浄水に浸漬させることで洗浄し、洗浄水に浸漬させて洗浄した後に、前記洗浄プールから抜き出し、前記洗浄プールから抜き出した後に移動して前記乾燥槽に挿入し、前記プローブの表面の洗浄水を吸引させるものとする。
本発明によれば、プローブの洗浄における洗浄水の使用量を削減することができる。
第1の実施の形態に係る自動分析装置の全体構成を概略的に示す図である。 洗浄槽の構成を示す縦断面図である。 第1の実施の形態に係る洗浄処理の処理内容を示すフローチャートである。 第1の実施の形態に係る試料プローブの位置の移動の様子を示す図である。 第2の実施の形態に係る洗浄処理の処理内容を示すフローチャートである。 第2の実施の形態に係る試料プローブの位置の移動の様子を示す図である。 第3の実施の形態に係る洗浄処理の処理内容を示すフローチャートである。 第3の実施の形態に係る試料プローブの位置の移動の様子を示す図である。
本発明の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。
<第1の実施の形態>
本発明の第1の実施の形態を図1~図4を参照しつつ説明する。
図1は、本実施の形態に係る自動分析装置の全体構成を概略的に示す図である。
図1において、自動分析装置100は、反応容器2に試料と試薬とを各々分注して反応させ、この反応させた液体を測定する装置であり、試料搬送機構17と、試薬ディスク9と、反応ディスク1と、第1試料分注機構11および第2試料分注機構12と、試薬分注機構7,8と、攪拌機構5,6と、光源4aと、分光光度計4と、洗浄機構3と、制御装置21とから概略構成されている。
反応ディスク1には、反応容器2が円周状に並んでいる。反応容器2は試料と試薬とを混合させた混合液を収容するための容器であり、反応ディスク1上に複数並べられている。反応ディスク1の近くには、分析対象の試料を収容した試料容器15を一つ以上搭載した試料ラック16を搬送する試料搬送機構17が配置されている。
反応ディスク1と試料搬送機構17との間には、回転および上下動可能な第1試料分注機構11および第2試料分注機構12が配置されている。
第1試料分注機構11は、その先端を下方に向けて配置された試料プローブ11aを有しており、試料プローブ11aには、試料用ポンプ19が接続されている。第1試料分注機構11は、図示しない洗浄水タンクから試料用ポンプ19により送出される洗浄水(以下、内洗水と記載)を試料プローブ11aから吐出可能であるように構成されている。また、第1試料分注機構11は、水平方向への回転動作および上下動作が可能なように構成されており、試料プローブ11aを試料容器15に挿入して試料用ポンプ19を作動させて試料を吸引し、試料プローブ11aを反応容器2に挿入して試料を吐出することにより、試料容器15からから反応容器2への試料の分注を行う。
第1試料分注機構11の稼動範囲には、試料プローブ11aを洗浄水により洗浄する洗浄槽13および特別な洗浄液により洗浄する洗浄容器23が配置されている。試料プローブ11aを試料容器15に挿入して試料を吸引する位置を第1試料吸引位置とし、試料プローブ11aを反応容器2に挿入して試料を吐出する位置を第1試料吐出位置とすると、洗浄槽13および洗浄容器23は第1試料吸引位置と第1試料吐出位置との間に配置されている。
第2試料分注機構12は、その先端を下方に向けて配置された試料プローブ12aを有しており、試料プローブ12aには、試料用ポンプ19が接続されている。第2試料分注機構12は、図示しない洗浄水タンクから試料用ポンプ19により送出される洗浄水(内洗水)を試料プローブ12aから吐出可能であるように構成されている。第2試料分注機構12は、水平方向への回転動作および上下動作が可能なように構成されており、試料プローブ12aを試料容器15に挿入して試料用ポンプ19を作動させて試料を吸引し、試料プローブ12aを反応容器2に挿入して試料を吐出することにより、試料容器15からから反応容器2への試料の分注を行う。
第2試料分注機構12の稼動範囲には、試料プローブ12aを洗浄水により洗浄する洗浄槽14および特別な洗浄液により洗浄する洗浄容器24が配置されている。試料プローブ12aを試料容器15に挿入して試料を吸引する位置を第2試料吸引位置とし、試料プローブ12aを反応容器2に挿入して試料を吐出する位置を第2試料吐出位置とすると、洗浄槽14および洗浄容器24は第2試料吸引位置と第2試料吐出位置との間に配置されている。
洗浄槽13,14は、試料分注後の試料プローブ11a,12aの外側および内側の洗浄を試料分注のたびに行うものである。また、洗浄容器23,24は、予め登録された検体種別の試料に対して、予め登録された分析項目の測定依頼があった場合に、その試料を分析する前に試料プローブ11a,12aに対して追加洗浄処理を行うものである。
試薬ディスク9は、分析に用いる試薬を収容した複数の試薬ボトル10を円周上に載置可能であって、試薬ボトル10の保管庫としての役割も有しており、試薬ボトル10を保冷する機能を有している。
反応ディスク1と試薬ディスク9との間には、水平方向への回転移動および上下動作が可能に構成され、試薬ボトル10から反応容器2に試薬を分注するための試薬分注機構7,8が設置されており、それぞれその先端を下方に向けて配置された試薬プローブ7a,8aを備えている。試薬プローブ7a,8aには、試薬用ポンプ18が接続されている。この試薬用ポンプ18により、試薬プローブ7a,8aを介して試薬ボトル10等から吸引した試薬、洗剤、希釈液、前処理用試薬等を反応容器2に分注する。
試薬分注機構7の稼動範囲には試薬プローブ7aを洗浄水により洗浄する洗浄槽32が、試薬分注機構8の稼動範囲には試薬プローブ8aを洗浄水により洗浄する洗浄槽33が配置されている。
反応ディスク1の周囲には、攪拌機構5,6や、光源4aから反応容器2の反応液を介して得られる透過光を測定することにより、反応液の吸光度を測定する分光光度計4や、使用済みの反応容器2を洗浄する洗浄機構3等が配置されている。
攪拌機構5,6は、水平方向への回転動作および上下動作が可能なように構成されており、反応容器2に挿入することにより試料と試薬との混合液(反応液)の攪拌を行う。攪拌機構5,6の稼動範囲には、攪拌機構5,6を洗浄水により洗浄する洗浄槽30,31が配置されている。また、洗浄機構3には、洗剤吐出機構20が接続されている。
制御装置21は、コンピュータ等から構成され、自動分析装置100の全体の動作を制御するとともに、血液や尿等の液体試料中の所定の成分の濃度を求める演算処理を行う。なお、図1においては、図示の簡単のため、自動分析装置100を構成する各機構と制御装置21との接続関係を一部省略して示している。
以上のように構成した自動分析装置100による分析対象の試料の分析処理では、まず、試料搬送機構17によって反応ディスク1近くに搬送された試料ラック16の上に載置された試料容器15内の試料を、第1試料分注機構11の試料プローブ11aまたは第2試料分注機構12の試料プローブ12aにより反応ディスク1上の反応容器2へと分注する。次に、分析に使用する試薬を、試薬ディスク9上の試薬ボトル10から試薬分注機構7,8の試薬プローブ7a,8aにより先に試料を分注した反応容器2に対して分注する。続いて、攪拌機構5,6で反応容器2内の試料と試薬との混合液の撹拌を行う。その後、光源4aら発生させた光を混合液の入った反応容器2を透過させ、透過光の光度を分光光度計4により測定する。分光光度計4により測定された光度を、A/Dコンバータおよびインターフェイスを介して制御装置21に送信する。そして制御装置21によって演算を行い、試薬に応じた分析項目の所定の成分の濃度を求め、結果を表示部(不図示)等にて表示させたり、記憶部(不図示)に記憶させたりする。なお、光源4a、分光光度計4、及び、制御装置21は、反応容器2の試料と試薬の反応液を測定する測定部を構成する。
ここで、以降の説明においては、試料プローブ11aの洗浄槽13を代表して説明するが、他の試料プローブ12aおよび試薬プローブ7a,8aの洗浄槽14,32,33の構造、及び、洗浄処理においても試料プローブ11aの場合と同様である。
図2は、洗浄槽の構成を示す縦断面図である。
図2において、試料プローブ11aの洗浄槽13は、試料プローブ11aを浸漬して洗浄するための洗浄水を貯留する洗浄プール36と、試料プローブ11aの表面に付着した洗浄水を吸引する乾燥槽37と、試料プローブ11aに洗浄水を掛け流して洗浄する外洗部38とを有している。
また、洗浄槽13には、洗浄プール36からオーバーフローした廃液(洗浄水)、及び、外洗部38のノズル41から吐出された洗浄水を外部の廃液タンクまたは下水設備(ともに図示せず)に排出する廃液口13aが設けられている。
洗浄プール36は、浸漬位置39に移動された試料プローブ11aを貯留された洗浄水に浸漬して洗浄するものである。洗浄プール36には、洗浄水を供給するためのポンプ101によって、洗浄プール36に貯留された洗浄水の液面よりも低い位置(例えば、洗浄プール36の底部)から洗浄水(例えば、蒸留水などのシステム水)が供給される。ポンプ101から洗浄プール36への洗浄水の供給は、ポンプ101と洗浄プール36の間の洗浄水の流路に設けられた電磁弁35bの開閉を制御装置21によって開状態に制御することより行われる。ポンプ101から電磁弁35bを介して洗浄プール36に洗浄水が供給されることにより、洗浄プール36内の洗浄水が置換され、洗浄プール36からオーバーフローした洗浄水は廃液口13aを経て排出される。なお、洗浄プール36に試料プローブ11aを浸漬した状態で洗浄液を供給することにより、洗浄効果を向上することができる。
乾燥槽37は、乾燥位置40に移動された試料プローブ11aを挿入し、真空吸引によって表面の洗浄水を除去するものである。このとき、試料プローブ11aからの内洗水(洗浄水)の吐出も同時に行われる。乾燥槽37には、負圧を保つための真空タンク102と真空タンク102を減圧するための真空ポンプ103とが、真空瓶34を介して接続されている。真空瓶34は、乾燥槽37に挿入された試料プローブ11aの表面から真空吸引によって除去された洗浄水や試料プローブ11aから吐出される内洗水をトラップするものである。真空ポンプ103が動作すると真空ポンプ103に接続された真空タンク102内が減圧される。乾燥槽37での真空吸引は、真空タンク102と真空瓶34との間に設けられた電磁弁35cの開閉を制御装置21によって開状態に制御することにより行われる(ことのとき、電磁弁35aは閉状態に制御する)。また、真空瓶34からの廃液の排出は、真空瓶34からの廃液の流路に設けられた電磁弁35aの開閉を制御装置21によって開状態に制御することにより行われる(このとき、電磁弁35cは閉状態に制御する)。乾燥槽37の真空吸引によって、試料プローブ11aの表面の洗浄水が汚れ等と一緒に除去される。
外洗部38は、洗浄位置42に移動された試料プローブ11aに洗浄水を掛け流して表面を洗浄するものである。外洗部38には、試料プローブ11aの表面に洗浄水を吐出して掛け流すノズル41が設けられている。ノズル41への洗浄水の供給は、ポンプ101とノズル41の間の洗浄水の流路に設けられた電磁弁35bの開閉を制御装置21によって開状態に制御することにより行われる。
ここで、試料プローブ11a,12a及び試薬プローブ7a,8aの洗浄槽13,14,32,33による洗浄処理の処理内容について説明する。
図3は、洗浄処理の処理内容を示すフローチャートである。また、図4は、試料プローブの位置の移動の様子を示す図である。
図3及び図4において、制御装置21は、試料プローブ11aを試料容器15から検体を吸引するサンプル吸引位置44に移動して試料を吸引させた後、反応容器位置43に移動させて検体を反応容器2に吐出させ、分注処理を終了する(ステップS1)。
続いて、制御装置21は、試料プローブ11aを浸漬位置39に移動させ(ステップS2)、試料プローブ11aを洗浄プール36に貯留された洗浄水に浸漬して引き上げる(ステップS3)。試料プローブ11aを洗浄プール36の洗浄水に浸漬した後に引き上げることにより、試料プローブ11aの表面に付着した汚れが洗浄水の表面張力によりに引っ張られて除去され、試料プローブ11aの側面の汚れの付着量が低減する。
続いて、制御装置21は、試料プローブ11aを乾燥位置40に移動させ(ステップS4)、試料プローブ11aを乾燥槽37に挿入させて、真空吸引によって表面の洗浄水を除去し、同時に、試料プローブ11aからシステム水を吐出して試料プローブ11aの内部を洗浄する(ステップS5)。
次に、分析動作を継続するかどうかを判定し(ステップS6)、判定結果がNOの場合には、制御装置21は、試料プローブ11aを洗浄位置42(基本位置)に移動させつつ分析処理の終了動作を行って自動分析装置100を停止する(ステップS61)。また、ステップS6での判定結果がYESの場合には、制御装置21は、分注動作を継続し(ステップS7)、続いて、洗浄動作を予め定めた回数だけ実施したかどうかを判定する(ステップS8)。なお、分注動作の回数は制御装置21でカウントされて記憶部(図示せず)に記憶されている。ステップS8での判定結果がNOの場合には、ステップS1の処理に戻る。
また、ステップS8での判定結果がYESの場合には、制御装置21は、電磁弁35bを開状態に制御して開放し(ステップS81)、洗浄プール36に貯留された洗浄水を置換し(ステップS82)、電磁弁35bを閉状態に制御して閉じ(ステップS83)、洗浄回数をリセットして(ステップS84)、ステップS1の処理に戻る。
洗浄動作(ステップS2~S5)が繰り返されると洗浄プール36に貯留された洗浄水は序所に汚染されるため、洗浄動作が規定の回数繰り返された場合には洗浄プール36に溜められた洗浄水を新しい洗浄水と置換する。このとき、洗浄プール36に貯留された洗浄水の交換回数を少なく調整することで洗浄水の使用量を削減することが出来る。
以上のように構成した本実施の形態の効果を説明する。
自動分析装置におけるプローブの洗浄には洗浄水として多量の水を必要とするが、洗浄水が多く確保出来ない場合、例えば、洗浄水を多く確保できない地域で自動分析装置を使用する場合には分析を継続的に実施できないことが考えられる。
これに対して本実施の形態においては、分析対象の試料と試薬とを反応させる複数の反応容器2に分注対象を分注するプローブ(例えば、試料プローブ11a,12a、試薬プローブ7a,8a)と、反応容器2の試料と試薬の反応液を測定する測定部(第2試料分注機構12、光源4a、及び、制御装置21)と、プローブの洗浄を行う洗浄槽と、プローブ、測定部、及び洗浄槽13,14,32,33の動作を制御する制御装置21とを備えた自動分析装置100において、洗浄槽13,14,32,33は、プローブを浸漬して洗浄するための洗浄水を貯留する洗浄プール36と、プローブの表面に付着した洗浄水を吸引する乾燥槽37とを有し、制御装置21は、洗浄プール36の洗浄水にプローブを浸漬させて洗浄した後に、乾燥槽37でプローブの表面の洗浄水を吸引させるように構成したので、試料プローブ11a,12a及び試薬プローブ7a,8aの洗浄における洗浄水の使用量を削減することができる。
<第2の実施の形態>
本発明の第2の実施の形態を図5及び図6を参照しつつ説明する。本実施の形態では、第1の実施の形態との相違点についてのみ説明するものとし、図面における第1の実施の形態と同様の部材には同じ符号を付し、説明を省略する。
本実施の形態は、洗浄動作において、乾燥槽37による真空吸引の後に、さらに、洗浄位置42に移動して外洗部38での洗浄を行うものである。
図5は、洗浄処理の処理内容を示すフローチャートである。また、図6は、試料プローブの位置の移動の様子を示す図である。
図5及び図6において、制御装置21は、試料プローブ11aを試料容器15から検体を吸引するサンプル吸引位置44に移動して試料を吸引させた後、反応容器位置43に移動させて検体を反応容器2に吐出させ、分注処理を終了する(ステップS1)。
続いて、制御装置21は、試料プローブ11aを浸漬位置39に移動させ(ステップS2)、試料プローブ11aを洗浄プール36に貯留された洗浄水に浸漬して引き上げる(ステップS3)。
続いて、制御装置21は、試料プローブ11aを乾燥位置40に移動させ(ステップS4)、試料プローブ11aを乾燥槽37に挿入させて、真空吸引によって表面の洗浄水を除去し、同時に、試料プローブ11aからシステム水を吐出して試料プローブ11aの内部を洗浄する(ステップS5)。
続いて、制御装置21は、試料プローブ11aを洗浄位置42に移動させ(ステップS51)、電磁弁35dを開閉制御することで外洗部38において試料プローブ11aにノズル41から洗浄水を吐出して外洗を行う(ステップS52)。このとき、外洗前に真空吸引して試料プローブ11aの表面の洗浄水を汚れとともに除去しているので、洗浄動作の効果を維持しつつ、外洗に使用する洗浄水の水量を抑制することができる。
次に、分析動作を継続するかどうかを判定し(ステップS6)、判定結果がNOの場合には、制御装置21は、試料プローブ11aを洗浄位置42(基本位置)に移動させつつ分析処理の終了動作を行って自動分析装置100を停止する(ステップS61)。また、ステップS6での判定結果がYESの場合には、制御装置21は、分注動作を継続し(ステップS7)、続いて、洗浄動作を予め定めた回数だけ実施したかどうかを判定する(ステップS8)。なお、分注動作の回数は制御装置21でカウントされて記憶部(図示せず)に記憶されている。ステップS8での判定結果がNOの場合には、ステップS1の処理に戻る。
また、ステップS8での判定結果がYESの場合には、制御装置21は、電磁弁35bを開状態に制御して開放し(ステップS81)、洗浄プール36に貯留された洗浄水を置換し(ステップS82)、電磁弁35bを閉状態に制御して閉じ(ステップS83)、洗浄回数をリセットして(ステップS84)、ステップS1の処理に戻る。
洗浄動作(ステップS2~S52)が繰り返されると洗浄プール36に貯留された洗浄水は序所に汚染されるため、洗浄動作が規定の回数繰り返された場合には洗浄プール36に溜められた洗浄水を新しい洗浄水と置換する。このとき、洗浄プール36に貯留された洗浄水の交換回数を少なく調整することで洗浄水の使用量を削減することが出来る。
その他の構成は第1の実施の形態と同様である。
以上のように構成した本実施の形態においても第1の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
また、外洗前に真空吸引して試料プローブ11aの表面の洗浄水を汚れとともに除去しているので、洗浄動作の効果を維持しつつ、外洗に使用する洗浄水の水量を抑制することができる。
<第3の実施の形態>
本発明の第3の実施の形態を図7及び図8を参照しつつ説明する。本実施の形態では、第1及び第2の実施の形態との相違点についてのみ説明するものとし、図面における第1の実施の形態と同様の部材には同じ符号を付し、説明を省略する。
本実施の形態は、洗浄動作において、乾燥槽37による真空吸引の後の洗浄位置42に移動しての外洗部38での洗浄の後に、さらに、乾燥槽37による真空吸引を行うものである。
図7は、洗浄処理の処理内容を示すフローチャートである。また、図8は、試料プローブの位置の移動の様子を示す図である。
図7及び図8において、制御装置21は、試料プローブ11aを試料容器15から検体を吸引するサンプル吸引位置44に移動して試料を吸引させた後、反応容器位置43に移動させて検体を反応容器2に吐出させ、分注処理を終了する(ステップS1)。
続いて、制御装置21は、試料プローブ11aを浸漬位置39に移動させ(ステップS2)、試料プローブ11aを洗浄プール36に貯留された洗浄水に浸漬して引き上げる(ステップS3)。
続いて、制御装置21は、試料プローブ11aを乾燥位置40に移動させ(ステップS4)、試料プローブ11aを乾燥槽37に挿入させて、真空吸引によって表面の洗浄水を除去し、同時に、試料プローブ11aからシステム水を吐出して試料プローブ11aの内部を洗浄する(ステップS5)。
続いて、制御装置21は、試料プローブ11aを洗浄位置42に移動させ(ステップS51)、電磁弁35dを開閉制御することで外洗部38において試料プローブ11aにノズル41から洗浄水を吐出して外洗を行う(ステップS52)。
続いて、制御装置21は、試料プローブ11aを乾燥位置40に移動させ(ステップS53)、試料プローブ11aを乾燥槽37に挿入させて、真空吸引によって表面の洗浄水を除去し、同時に、試料プローブ11aからシステム水を吐出して試料プローブ11aの内部を洗浄する(ステップS54)。このとき、外洗前の真空吸引による汚れの除去と外洗後の真空吸引を行うようので、洗浄動作の効果を維持しつつ、使用する洗浄水の水量をさらに抑制することができる。
次に、分析動作を継続するかどうかを判定し(ステップS6)、判定結果がNOの場合には、制御装置21は、分析処理の終了動作を行って自動分析装置100を停止する(ステップS61)。また、ステップS6での判定結果がYESの場合には、制御装置21は、分注動作を継続し(ステップS7)、続いて、洗浄動作を予め定めた回数だけ実施したかどうかを判定する(ステップS8)。なお、分注動作の回数は制御装置21でカウントされて記憶部(図示せず)に記憶されている。ステップS8での判定結果がNOの場合には、ステップS1の処理に戻る。
また、ステップS8での判定結果がYESの場合には、制御装置21は、電磁弁35bを開状態に制御して開放し(ステップS81)、洗浄プール36に貯留された洗浄水を置換し(ステップS82)、電磁弁35bを閉状態に制御して閉じ(ステップS83)、洗浄回数をリセットして(ステップS84)、ステップS1の処理に戻る。
洗浄動作(ステップS2~S54)が繰り返されると洗浄プール36に貯留された洗浄水は序所に汚染されるため、洗浄動作が規定の回数繰り返された場合には洗浄プール36に溜められた洗浄水を新しい洗浄水と置換する。このとき、洗浄プール36に貯留された洗浄水の交換回数を少なく調整することで洗浄水の使用量を削減することが出来る。
その他の構成は第1及び第2の実施の形態と同様である。
以上のように構成した本実施の形態においても第1の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
またあ、外洗前の真空吸引による汚れの除去と外洗後の真空吸引を行うようので、洗浄動作の効果を維持しつつ、使用する洗浄水の水量をさらに抑制することができる。
<付記>
なお、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内の様々な変形例や組み合わせが含まれる。また、本発明は、上記の実施の形態で説明した全ての構成を備えるものに限定されず、その構成の一部を削除したものも含まれる。
例えば、洗浄プール36での浸漬効果を向上するために洗浄プール36内に表面活性剤などの洗剤を添加することも有効である。
また、洗浄プール36内で洗浄水の流れをつくることでより汚れをより剥離しやすい状態にして良い。例えば、プローブの浸漬時、内洗水を洗浄プール内で吐出することで洗浄プール36内で乱流を起こしたり、洗浄プール36内にプロペラ(図示せず)を設置したりすることで洗浄水の渦を作ることで実現可能である。
さらに、洗浄層に洗浄プールを2つ以上備え、1つ目の洗浄プールでは浸漬し、2つ目の洗浄プールでは洗浄プール内に洗浄水の流れを起こし、より剥離しやすい状態にすることでプローブの外洗水使用量を抑えることもできる。内洗水の吐出位置は乾燥槽37とすることで真空吸引された汚れが乾燥槽37と真空瓶34との間の流路に付着しても洗い流すことができ、流路の詰まりを防ぐことが出来る。
また、反応容器2に分注対象を吐出後、プローブ側面についた検体を直接、乾燥位置40で真空吸引動作を行ったとしても、真空吸引動作によりプローブ側面に付着した検体は低減させることが可能となるので、その後に行う洗浄位置42での洗浄時間は少なくなり、結果として洗浄水の低減につなげることが出来る。
また、乾燥槽37は真空吸引する方法に代えて、試料プローブ11aの直角方向から気流を吹き付けて液滴や汚れを吹き飛ばす方式を用いても良い。
また、上記の各構成、機能等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等により実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。
1…反応ディスク、2…反応容器、3…洗浄機構、4…分光光度計、4a…光源、5…攪拌機構、6…攪拌機構、7…試薬分注機構、7a…試薬プローブ、8…試薬分注機構、8a…試薬プローブ、9…試薬ディスク、10…試薬ボトル、11…第1試料分注機構、11a…試料プローブ、12…第2試料分注機構、12a…試料プローブ、13,14…洗浄槽、13a…廃液口、15…試料容器、16…試料ラック、17…試料搬送機構、18…試薬用ポンプ、19…試料用ポンプ、20…洗剤吐出機構、21…制御装置、23…洗浄容器、24…洗浄容器、30,31…洗浄槽、32,33…洗浄槽、34…真空瓶、35a…電磁弁、35b…電磁弁、35c…電磁弁、35d…電磁弁、36…洗浄プール、37…乾燥槽、38…外洗部、39…浸漬位置、40…乾燥位置、41…ノズル、42…洗浄位置、43…反応容器位置、44…サンプル吸引位置、100…自動分析装置、101…ポンプ、102…真空タンク、103…真空ポンプ

Claims (9)

  1. 分析対象の試料と試薬とを反応させる複数の反応容器に分注対象を分注するプローブと、前記反応容器の前記試料と前記試薬の反応液を測定する測定部と、前記プローブの洗浄を行う洗浄槽と、前記プローブ、前記測定部、及び前記洗浄槽の動作を制御する制御装置とを備えた自動分析装置において、
    前記洗浄槽は、
    前記プローブを浸漬して洗浄するための洗浄水を貯留し、前記プローブを上方から挿入して洗浄する洗浄プールと、
    ポンプから前記洗浄プールへ供給される洗浄水の通流と遮断とを切り換える供給弁と、
    前記洗浄プールの側方に離間して設けられ、前記プローブを上方から挿入して前記プローブの表面に付着した洗浄水を前記プローブの先端方向に吸引する乾燥槽とを有し、
    前記制御装置は、
    前記洗浄プールへの洗浄水の供給を前記供給弁により遮断した状態で、前記洗浄プールに前記プローブを挿入して洗浄水に浸漬させることで洗浄し、
    前記プローブを洗浄水に浸漬させて洗浄した後に前記洗浄プールから抜き出し、
    前記プローブを前記洗浄プールから抜き出した後に移動して前記乾燥槽に挿入し、前記プローブの表面の洗浄水を吸引させることを特徴とする自動分析装置。
  2. 請求項1記載の自動分析装置において、
    前記制御装置は、前記乾燥槽で前記プローブの表面の洗浄水を吸引させると同時に、前記プローブから洗浄水を吐出させることを特徴とする自動分析装置。
  3. 請求項1記載の自動分析装置において、
    前記洗浄槽は、前記プローブに洗浄水を掛け流して洗浄する外洗部を有し、
    前記制御装置は、前記乾燥槽で前記プローブの表面の洗浄水を吸引させた後に、前記外洗部で前記プローブの洗浄を行うことを特徴とする自動分析装置。
  4. 請求項3記載の自動分析装置において、
    前記制御装置は、前記外洗部で前記プローブの洗浄を行った後に、前記乾燥槽で前記プローブの表面の洗浄水を吸引させることを特徴とする自動分析装置。
  5. 請求項1記載の自動分析装置において、
    前記洗浄槽の前記洗浄プールは、洗浄水を供給するためのポンプによって前記洗浄水の液面よりも低い位置に前記洗浄水が供給されることを特徴とする自動分析装置。
  6. 請求項1記載の自動分析装置において、
    前記制御装置は、前記洗浄プールの洗浄水に前記プローブを浸漬させた状態で、前記洗浄プールに前記洗浄水を供給することを特徴とする自動分析装置。
  7. 請求項1記載の自動分析装置において、
    前記洗浄槽は、前記洗浄プールを複数有することを特徴とする自動分析装置。
  8. 請求項3記載の自動分析装置において、
    前記洗浄槽は、前記洗浄プールと前記外洗部との間に前記乾燥槽を配置したことを特徴とする自動分析装置。
  9. 請求項1記載の自動分析装置において、
    前記制御装置は、前記洗浄プールの洗浄水に前記プローブを浸漬させて洗浄した回数が予め定めた回数である場合に、前記洗浄プールに貯留された洗浄水を置換することを特徴とする自動分析装置。
JP2020550306A 2018-10-02 2019-09-20 自動分析装置 Active JP7065996B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018187779 2018-10-02
JP2018187779 2018-10-02
PCT/JP2019/037098 WO2020071163A1 (ja) 2018-10-02 2019-09-20 自動分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2020071163A1 JPWO2020071163A1 (ja) 2021-12-02
JP7065996B2 true JP7065996B2 (ja) 2022-05-12

Family

ID=70055917

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020550306A Active JP7065996B2 (ja) 2018-10-02 2019-09-20 自動分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11953513B2 (ja)
EP (1) EP3832316A4 (ja)
JP (1) JP7065996B2 (ja)
CN (1) CN112689764A (ja)
WO (1) WO2020071163A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116438460A (zh) * 2020-12-11 2023-07-14 株式会社日立高新技术 自动分析装置
ES2958601A1 (es) * 2022-07-15 2024-02-12 Productos Citrosol S A Cámara de mezcla

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002340913A (ja) 2001-05-16 2002-11-27 Hitachi Ltd 自動分析装置
JP2004325422A (ja) 2003-04-30 2004-11-18 Institute Of Physical & Chemical Research マイクロアレイ作製方法、マイクロアレイ作製用ヘッドおよび装置
JP2005257491A (ja) 2004-03-12 2005-09-22 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2011095276A (ja) 2004-06-17 2011-05-12 Abbott Lab プローブ洗浄カップおよび方法
WO2015037339A1 (ja) 2013-09-12 2015-03-19 株式会社日立ハイテクノロジーズ ノズル洗浄方法及び自動分析装置
WO2017141627A1 (ja) 2016-02-19 2017-08-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置および分注プローブの洗浄方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55162063A (en) 1979-06-05 1980-12-17 Hitachi Koki Co Ltd Washing/drying device for sucking nozzle
JPS62242858A (ja) * 1986-04-15 1987-10-23 Nippon Tectron Co Ltd プロ−ブの洗浄装置
US5827744A (en) * 1995-11-06 1998-10-27 Dade International Inc. Method and apparatus for cleaning a liquid dispensing probe
JP4079680B2 (ja) * 2002-04-26 2008-04-23 独立行政法人産業技術総合研究所 画像合成装置及び方法
US7186378B2 (en) 2003-07-18 2007-03-06 Dade Behring Inc. Liquid sampling probe and cleaning fluidics system
JP2009145149A (ja) * 2007-12-13 2009-07-02 Shimadzu Corp 分光光度計
US9056856B2 (en) * 2011-02-01 2015-06-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Heterocyclic compound
EP2877297A1 (en) * 2012-07-25 2015-06-03 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Apparatus, systems, and methods to clean probes in clinical analyzers
CN104903729B (zh) * 2013-01-21 2018-05-22 株式会社日立高新技术 自动分析装置
JP6261941B2 (ja) * 2013-10-24 2018-01-17 東芝メディカルシステムズ株式会社 自動分析装置
JP6227441B2 (ja) * 2014-02-24 2017-11-08 株式会社日立ハイテクノロジーズ 分析装置及びその方法
US10690690B2 (en) 2015-04-24 2020-06-23 Hitachi High-Tech Corporation Automatic analyser and method

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002340913A (ja) 2001-05-16 2002-11-27 Hitachi Ltd 自動分析装置
JP2004325422A (ja) 2003-04-30 2004-11-18 Institute Of Physical & Chemical Research マイクロアレイ作製方法、マイクロアレイ作製用ヘッドおよび装置
JP2005257491A (ja) 2004-03-12 2005-09-22 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2011095276A (ja) 2004-06-17 2011-05-12 Abbott Lab プローブ洗浄カップおよび方法
WO2015037339A1 (ja) 2013-09-12 2015-03-19 株式会社日立ハイテクノロジーズ ノズル洗浄方法及び自動分析装置
WO2017141627A1 (ja) 2016-02-19 2017-08-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置および分注プローブの洗浄方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN112689764A (zh) 2021-04-20
WO2020071163A1 (ja) 2020-04-09
EP3832316A1 (en) 2021-06-09
EP3832316A4 (en) 2022-05-11
US11953513B2 (en) 2024-04-09
US20220057422A1 (en) 2022-02-24
JPWO2020071163A1 (ja) 2021-12-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2014175018A1 (ja) 自動分析装置
JP6742065B2 (ja) 自動分析装置および洗浄方法
US20140377132A1 (en) Automatic analyzer
JP7065996B2 (ja) 自動分析装置
JPWO2015019880A1 (ja) 自動分析装置
JP2019074311A (ja) 自動分析装置および分注プローブの洗浄方法
JP7451252B2 (ja) 自動分析装置
JP6249626B2 (ja) 自動分析装置
JP4443271B2 (ja) 自動分析装置
JP2008224245A (ja) 洗浄装置および自動分析装置
JP2010071897A (ja) 自動分析装置
JP2008224244A (ja) 洗浄装置および自動分析装置
JP2019178938A (ja) 自動分析装置および自動分析方法
JP2011106828A (ja) 分注装置、自動分析装置及び分注方法
JP2004251797A (ja) 自動分析装置
JP2010286420A (ja) 分注ノズルの洗浄方法,自動分析装置、および容器
JPH11352131A (ja) 自動分析装置
US20220196695A1 (en) Automatic analyzer
JP6935023B2 (ja) 自動分析装置および洗浄方法
JP6999527B2 (ja) 試験方法、分注装置
JP7110222B2 (ja) 自動分析装置およびプローブの洗浄方法
JP7499918B2 (ja) 自動分析装置
JP2019211329A (ja) 自動分析装置
WO2020170751A1 (ja) 自動分析装置
WO2022224521A1 (ja) 自動分析装置とその制御方法

Legal Events

Date Code Title Description
A529 Written submission of copy of amendment under article 34 pct

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A5211

Effective date: 20210216

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210216

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211102

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211129

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220405

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220426

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7065996

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150