JP7045194B2 - レンズ測定装置およびレンズ測定方法 - Google Patents

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Description

本発明は、レンズ形状を測定するレンズ測定装置およびレンズ測定方法に関する。
従来、高い形状精度を要求されるレンズでは、その表面形状を接触式の形状測定装置によって測定することが行われている。例えば、特許文献1には、直線移動式の形状測定機によってレンズの表面の倣い測定を行うことにより、レンズの断面形状を測定することが記載されている。
近年、広角レンズなどの非球面レンズには、基準とする球面からのずれ量が大きいレンズが存在しており、このようなレンズの表面形状を高精度に測定することが困難になっている。なお、ここで説明するずれ量とは、球面の曲率中心から見たときの球面とレンズの実表面の変位である。
例えば、図17に示すように、レンズLの有効角度領域R1が、基準球面Sの曲率中心Cを中心とする約90度の範囲(光軸Aoに対して±45度の範囲)である場合、この有効角度領域R1では、基準球面Sからの最大ずれ量Δd1が比較的小さい。このため、接触子401は、徐々に異なる部位でレンズLの表面に接触するものの、その部位は比較的狭い範囲に留まる。このため、レンズLを問題なく倣い測定することができる。
しかし、図17に示すように、レンズLの有効角度領域R2が、曲率中心Cを中心とする約140度の範囲(光軸Aoに対して±70度の範囲)である場合、この有効角度領域R2では、基準球面Sからの最大ずれ量Δd2が比較的大きい。このため、接触子401は、徐々に異なる部位でレンズLの表面に接触することで、接触子401のうちの広い範囲に亘る部位が、レンズLの表面に接触する。例えば、接触子401において、レンズLの頂点付近に接触する部位と、レンズLの有効角度領域R2の縁に接触する部位とは大きく異なる。このため、接触子401の真球度が測定精度に大きく影響を及ぼし、測定精度が低下してしまう。
上述の問題を解決する方法として、特許文献2に記載された形状測定方法が存在する。この形状測定方法では、レンズを回転台に載置した後、レンズの片側半分の表面に沿ってスタイラスを傾斜させる。そして、傾斜したスタイラスを用いてレンズの片側半分の表面を測定した後、回転台を180度回転させ、レンズの残りの片側半分の表面を同様に測定する。得られた2回分の測定データは、互いに座標系が異なるため、繋ぎ処理を実施することにより、レンズの断面形状を示すデータとなる。このような形状測定方法によれば、スタイラスの接触子は、従来の倣い測定よりも狭い範囲でレンズの表面に接触する。
特開2010-164532号公報 国際公開2013/121196号
しかし、特許文献2に記載された形状測定方法では、スタイラスをレンズの片側半分の表面に沿って傾斜させるため、装置構成およびその制御が複雑化する。また、座標系が異なる2つの測定データを繋ぎ処理する必要があるため、データ処理が煩雑となる。
本発明の目的は、レンズ形状を高精度かつ簡単に測定することができるレンズ測定装置およびレンズ測定方法を提供することにある。
本発明のレンズ測定装置は、回転軸周りに回転するテーブルと、測定対象であるレンズを保持し、前記レンズの光軸が前記回転軸に直交するように前記テーブルに載置されるレンズ保持具と、前記レンズの表面のうちのレンズ測定面に接触する接触子と、前記テーブルの回転角度を検出する角度センサと、前記接触子の変位を検出する変位検出部と、前記テーブルの回転角度ごとの前記接触子の変位量に基づき、前記レンズ測定面の座標情報を、前記回転軸を原点とする極座標として算出し、算出した前記極座標を直交座標に変換するデータ処理部と、を備えることを特徴とする。
本発明において、レンズ測定面は、レンズの表面において測定者が任意に設定可能な領域であり、例えば、凸状または凹状の非球面であってもよいし、球面(凸面または凹面)であってもよい。また、レンズを保持したレンズ保持具がテーブルに載置されたとき、レンズ測定面は、テーブルの回転方向に沿って配置されることが好ましい。
本発明において、レンズが配置されたテーブルが所定角度回転すると、接触子は、レンズ測定面に接触しながら滑動し、レンズ測定面の形状に従って変位する。すなわち、接触子は、テーブルの回転方向に沿ってレンズ測定面を倣い走査する。
前述の倣い走査の間、接触子はレンズ測定面に対してほぼ一定の角度で接触する。
例えばレンズ測定面が球面である場合、接触子はレンズ測定面に対して一定の角度で接触し、接触子の同一の部位がレンズ測定面に接触する。
また、レンズ測定面が非球面である場合、球面からの非球面のずれ量の分に応じて、レンズ測定面に対する接触子の角度が変化するが、レンズ測定面に接触する接触子の部位は、従来の倣い走査に比べて十分に狭い範囲に留まる。
なお、レンズ測定面とテーブルの回転方向との配置関係に多少のずれが含まれている場合であっても、レンズ測定面に接触する接触子の部位は、従来の倣い測定に比べて十分に狭い範囲に留まる。
よって、本発明によれば、接触子の真球度が測定精度に及ぼす影響を抑制し、高精度な測定を行うことができる。
また、前述の倣い走査を実施する構成として、従来の真円度測定機を利用することができ、複雑な装置構成やその制御を必要としない。また、データ処理部は、レンズ測定面の極座標を連続的な測定データとして取得することができ、従来のような座標系の異なる測定データをつなげる処理は不要である。また、データ処理部は、極座標から直交座標へ既知の公式を利用した座標変換によって、レンズ測定面の輪郭情報を簡単に取得できる。
従って、本発明によれば、レンズ形状を高精度かつ簡単に測定することができるレンズ測定装置が提供される。
本発明のレンズ測定装置において、前記レンズ保持具は、前記レンズ測定面のうち所定領域の曲率中心が前記回転軸に一致するように、前記テーブルに載置されていることが好ましい。
このような構成によれば、レンズ測定面をテーブル回転方向に沿って好適に配置することができる。これにより、レンズに接触する接触子の部位をより小さな範囲に抑えることができる。なお、曲率中心を定めるレンズ測定面の所定領域は、特に限定されないが、例えばレンズ測定面のうち光軸に交わる領域である。
本発明のレンズ測定装置は、前記接触子を前記回転軸に沿って前記レンズ測定面に接触するように移動させる移動機構と、前記移動機構による前記接触子の移動情報に基づき、前記レンズの光軸が前記回転軸に直交した状態になるように前記レンズの姿勢を調整するための粗調整量を算出する調整量算出部と、を備えることが好ましい。
このような構成において、接触子が回転軸に沿ってレンズ測定面に接触するとは、連続的な接触であってもよいし、断続的な接触であってもよい。すなわち、レンズ測定面を回転軸に沿って倣い測定してもよいし、多点測定してもよい。
調整量算出部は、移動機構による接触子の移動情報により、現在のレンズ測定面の姿勢を求めることができるため、レンズの光軸が回転軸に直交した状態になるようにレンズの姿勢を調整するための粗調整量を算出することができる。そして、粗調整量に基づいてレンズの姿勢を調整することより、後にレンズの姿勢をより精密に調整したり、レンズ測定面をより正確に測定したりすることができる。
なお、一般に、移動機構による接触子の移動情報は、接触子の変位量に比べて精度が低いため、ここでのレンズの姿勢は粗く求められる。よって、粗調整量とは、粗く求められたレンズの姿勢を調整するための情報である。
本発明のレンズ測定装置において、前記調整量算出部は、前記回転軸に沿った方向において異なる位置で得られる複数の前記直交座標に基づいて、前記レンズの光軸が前記回転軸に直交した状態になるように前記レンズの姿勢を調整するための微調整量を算出することが好ましい。
このような構成では、調整量算出部は、レンズ測定面の直交座標とレンズの設計値とを比較する等によって、レンズの姿勢を調整するための微調整量を、粗調整量よりも精密に算出することができる。この微調整量に基づいてレンズの姿勢を調整することにより、レンズ測定面をより正確に測定することができる。
本発明のレンズ測定方法は、回転軸周りに回転するテーブルと、前記テーブルに載置された測定対象に接触する接触子と、前記テーブルの回転角度を検出する角度センサと、前記接触子の変位を検出する検出器と、を備えるレンズ測定装置を用いて、前記測定対象としてのレンズを当該レンズの光軸が前記回転軸に直交するように、前記テーブルに配置するレンズ配置工程と、前記レンズが配置された前記テーブルを所定角度回転させることにより、前記接触子が前記レンズの表面の所定領域であるレンズ測定面に接触する倣い走査工程と、前記テーブルの回転角度ごとの前記接触子の変位量に基づき、前記レンズ測定面の座標情報を、前記回転軸を原点とする極座標として算出する座標算出工程と、算出した前記極座標を直交座標に変換する座標変換工程と、を含むことを特徴とする。
このような方法によれば、前述のレンズ測定装置と同様、レンズ形状を高精度かつ簡単に測定することができる。
本発明のレンズ測定方法において、前記レンズ配置工程は、前記レンズ測定面のうち所定領域の曲率中心が前記回転軸に一致するように、前記レンズを配置することが好ましい。
このような方法によれば、レンズ測定面をテーブル回転方向に沿って好適に配置することができる。これにより、レンズに接触する接触子の部位をより小さな範囲に抑えることができる。
本発明のレンズ測定方法において、前記レンズ配置工程の後かつ前記倣い走査工程の前に、前記接触子を前記回転軸に沿って前記レンズ測定面に接触するように移動させる移動工程と、前記移動機構による前記接触子の移動情報に基づき、前記レンズの光軸が前記回転軸に直交した状態になるように前記レンズの姿勢を調整するための粗調整量を算出する粗調整量算出工程と、前記粗調整量に従って前記レンズの姿勢を調整する粗調整工程と、を含むことが好ましい。
このような方法によれば、前述のレンズ測定装置と同様、後の微調整工程をより精密に実施したり、レンズ測定面をより正確に測定したりすることができる。
本発明のレンズ測定方法において、前記粗調整量算出工程の後かつ前記倣い走査工程の前に、前記回転軸に沿った方向において互いに異なる位置で、前記レンズ測定面を事前に測定する事前測定工程と、前記事前測定工程によって得られた複数の前記直交座標に基づいて、前記レンズの光軸が前記回転軸に直交した状態になるように前記レンズの姿勢を調整するための微調整量を算出する微調整量算出工程と、前記微調整量に従って、前記レンズの姿勢を調整する微調整工程と、を含むことが好ましい。
このような方法によれば、前述のレンズ測定装置と同様、レンズ測定面をより正確に測定することができる。
本発明によれば、レンズ形状を高精度かつ簡単に測定することができるレンズ測定装置およびレンズ測定方法が提供される。
本発明の一実施形態に係るレンズ測定装置を示す斜視図。 前記実施形態のレンズ測定装置の構成を示すブロック図。 前記実施形態のテーブル、レンズ保持具、検出器を示す模式図。 前記実施形態のレベル出し動作の第1段階を示すフローチャート。 前記実施形態のレベル出し動作の第1段階におけるレンズおよび接触子の関係を示す模式図。 前記実施形態のレベル出し動作の第1段階におけるレンズを示す模式図。 前記実施形態のレベル出し動作の第2段階を示すフローチャート。 前記実施形態のレベル出し動作の第2段階におけるレンズを示す模式図。 前記実施形態のレンズ測定動作を示すフローチャート。 前記実施形態のレンズ測定動作におけるレンズおよび接触子の関係を示す模式図。 前記実施形態のレンズ測定動作におけるレンズおよび接触子の関係を示す模式図。 前記実施形態のレンズ測定動作におけるレンズおよび接触子の関係を示す模式図。 前記実施形態のレンズ測定動作におけるレンズに対する接触子の相対的な移動を示す模式図。 前記実施形態のテーブルのXY座標およびレンズの測定点の例を示す図。 前記実施形態のテーブルのXY座標およびレンズの測定点の他の例を示す図。 前記実施形態のテーブルのXY座標およびレンズの測定点の他の例を示す図。 従来のレンズ測定方法を説明するための模式図。
以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。
〔レンズ測定装置〕
図1に示すように、レンズ測定装置1は、測定装置本体10と、測定装置本体10の駆動を制御するとともに、測定装置本体10で得られた測定データを取り込み処理する制御装置60とを備えている。
測定装置本体10は、既存の真円度測定機を利用して構成可能である。
具体的には、測定装置本体10は、ベース11と、このベース11の上面110に設けられたテーブル20と、テーブル20に隣接して設けられた検出器移動機構30と、検出器移動機構30に支持された検出器40とを備えている。
テーブル20は、テーブル20内に設置された回転駆動機構25(図2参照)によって回転駆動される。テーブル20の回転軸Crは、ベース11の上面110に対する垂直方向(Z軸方向)に沿って配置される。テーブル20内には、テーブル20の回転角度θを読み取る角度センサ26(図2参照)が設けられている。
テーブル20は、ベース11に回転可能に設置された円筒状の本体21と、本体21の上面に設置された円盤状の載置板22と、本体21に対する載置板22の配置および傾斜を調整可能な調整機構23とを有する。調整機構23は、回転軸Crに対する直交面(XY平面)方向に載置板22を移動可能な機構と、XY平面に対して載置板22を傾斜させる機構とを有しており、各機構はモータによって駆動される。
検出器移動機構30は、本発明の移動機構であり、ベース11の上面110であってテーブル20のX軸+方向に隣接した部位に設置されている。検出器移動機構30は、ベース11の上面110からZ軸方向に延びたコラム31と、コラム31に装着されたスライダ32と、スライダ32に装着されてX軸方向に延びたアーム33とを備えている。アーム33のX軸-方向の先端には、スタイラス41を有する検出器40が取り付けられている。
アーム33は、スライダ32に内蔵された図示しないX軸駆動機構により、スライダ32に対してX軸方向に移動可能である。スライダ32は、図示しないZ軸駆動機構により、コラム31に対してZ軸方向に移動可能である。これにより、検出器移動機構30は、テーブル20に対する検出器40のX軸位置およびZ軸位置をぞれぞれ調整可能である。
検出器40は、スタイラス41と、スタイラス41の変位を検出する変位検出部42とを有する。スタイラス41は、例えばX軸-方向およびZ軸-方向に向かって延びており、スタイラス41の先端には、測定対象であるレンズLに接触可能な球状の接触子43が形成されている。
検出器40は、スタイラス41がX軸方向に変位可能であるように構成されている。変位検出部42は、スタイラス41がX方向に変位したとき、その変位量Δrに比例した信号を出力する。
測定装置本体10は、測定対象であるレンズLを保持するレンズ保持具50をさらに備えている。
レンズ保持具50は、既存のレンズホルダを利用して構成可能であり、レンズLを着脱可能に保持する。図3に示すように、レンズ保持具50は、レンズLを保持した状態で載置板22に載置される。本実施形態では、レンズ保持具50は、レンズLの縁を把持する把持部51と、把持部51が設けられたL字型のブロック体52とを有する。
レンズ保持具50は、レンズLの光軸Aoがテーブル20の回転軸Crに直交するように、レンズLを保持することが好ましい。
図2に示すように、制御装置60は、既存のパーソナルコンピュータ等により構成され、所定の制御用ソフトウェアを実行することにより、移動制御部61、角度検出部62、接触位置検出部63、データ処理部64、調整量算出部65として機能する。これらは共同して、以下に説明するレベル出し動作およびレンズ測定動作を実行する。また、制御装置60は、測定対象であるレンズLの設計値などが記憶された記憶部66を有する。
また、制御装置60は、キーボード等の操作部67と、ディスプレイ等の表示部68を有し、これらを介して作業者Pは、測定装置本体10の操作および情報読み取りが可能である。
なお、本実施形態では、制御装置60が測定装置本体10と別体とされているが、制御装置60は測定装置本体10に組み込まれていてもよい。
〔レベル出し動作〕
次に、レンズ測定装置1を用いたレンズ測定方法について説明する。
本実施形態のレンズ測定方法では、レンズLのレベル出し動作を行った後、レンズ測定動作を行う。レベル出し動作とは、テーブル20の回転軸Crに対してレンズLの光軸Aoを直交に配置させるための動作である。
レベル出し動作の第1段階について、図4のフローチャートを参照して説明する。なお、本実施形態において、レンズ測定面Lmは、レンズLの凸状の非球面である。
まず、作業者Pなどが、レンズLを保持したレンズ保持具50をテーブル20の上面に載置する(処理S11;レンズ配置工程)。このとき、図5に示すように、レンズ測定面Lmが検出器40側(X軸+側)を向くようにレンズLを配置する。
また、処理S11では、図5に示すように、レンズLの光軸AoがX軸方向に略一致することが好ましい。また、回転軸Cr方向から見たとき、レンズ測定面Lmのうち光軸Aoに交わる領域の曲率中心Ccが回転軸Crに略一致することが好ましい。このようなレンズLの配置によれば、レンズ測定面Lmは、テーブル20の回転方向に沿って好適に配置される。なお、図5では、回転軸Cr方向から見たとき、レンズ測定面Lmのうち光軸Aoに交わる領域の曲率半径を半径とし、曲率中心Ccを中心とする円を、レンズ測定面Lmの近似円VCとして仮想線(一点鎖線)で示している。
処理S11の後、検出器40は、レンズ測定面LmをZ軸方向に倣い測定する(処理S12;移動工程)。具体的には、移動制御部61が、検出器移動機構30を介して検出器40をZ軸方向およびX軸方向に移動制御することにより、スタイラス41は、Z軸方向に沿ってレンズ測定面Lmに接触しながら滑動する。言い換えると、スタイラス41は、レンズ測定面Lmの表面形状に追従しながらZ軸方向に移動する(図6の矢印M1参照)。また、調整量算出部65は、検出器移動機構30に設けられたスケール等から、検出器40の追従移動情報を取得することにより、接触子43の走査線によるレンズ測定面Lmの輪郭情報(XZ断面情報)を算出する。
なお、図6では、処理S12におけるレンズLを実線で示し、光軸Aoが回転軸Crに直交した理想姿勢のレンズLiを仮想線(二点鎖線)で示しており、説明のためにレンズLiに対するレンズLの傾き(レンズLの光軸Aoが回転軸Crに直交した状態からのずれ)を実際よりも大きく示している。
調整量算出部65は、処理S12によって得られたレンズ測定面Lmの輪郭情報と、記憶部66に記憶されているレンズLの設計値とを比較することにより、テーブル20に載置されたレンズLの姿勢(光軸Aoの状態)を解析し、レンズLの姿勢が収束条件を満たすか否かを判断する(処理S13)。なお、収束条件とは、レンズLの姿勢が理想姿勢に許容誤差範囲内で調整されるための条件であり、例えばレベル出し動作の第2段階を実施するために十分な程度に設定されている。
レンズLの姿勢が収束条件を満たすと判断した場合(処理S13;Yes)、レベル出し動作の第1段階を終了する。
一方、レンズLの姿勢が収束条件を満たさないと判断した場合(処理S13;No)、レンズLの姿勢を調整するための粗調整量を算出する(処理S14;粗調整量算出工程)。
なお、一般に、スタイラス41の追従移動量は、スタイラス41の変位量Δrに比べて精度が低いため、処理S13では、レンズLの姿勢は粗く求められる。よって、粗調整量とは、粗く求められたレンズLの姿勢を調整するための情報である。
移動制御部61は、処理S14によって算出された粗調整量に基づいて、調整機構23を制御し、テーブル20の載置板22の姿勢を調整する(処理S15;粗調整工程)。あるいは、作業者Pが、処理S13によって算出された粗調整量を表示部68で確認し、調整機構23を手作業で操作してもよい。これにより、レンズLの光軸Aoが回転軸Crに直交するように粗調整される。言い換えると、レンズLの光軸Aoは、回転軸Crの直交面に対して、大まかにレベル出しされる。
その後、処理S12に戻り、レンズLの姿勢が収束条件を満たすまで、処理S12~S15を繰り返す。
レベル出し動作の第1段階が終了した後、次の第2段階を開始する。レベル出し動作の第2段階について、図7のフローチャートを参照して説明する。
まず、移動制御部61が検出器移動機構30および回転駆動機構25を制御することによって、検出器40は、Z軸方向における複数の任意の位置で、テーブル20の回転方向にレンズLを倣い測定する(処理S21;事前測定工程)。処理S21による倣い測定は、測定位置がZ軸方向における複数の任意の位置であること以外、後述のレンズ測定動作(処理S31~S35)とほぼ同様の工程であるため、ここでの詳細な説明は省略する。
処理S21によれば、Z軸方向における複数の任意の位置におけるレンズ測定面Lmの輪郭情報(XY断面情報)が取得される。
処理S21によれば、Z軸方向において互いに異なる複数の位置で、テーブル20の回転方向にレンズLが倣い測定される。図8では、処理S21による倣い測定の方向を矢印M2で例示している。これにより、Z軸方向において互いに異なる位置でのレンズ測定面Lmの輪郭情報が取得される。
なお、図8では、処理S21におけるレンズLを実線で示し、光軸Aoが回転軸Crに直交した理想姿勢のレンズLiを仮想線(二点鎖線)で示しており、説明のためにレンズLiに対するレンズLの傾き(レンズLの光軸Aoが回転軸Crに直交した状態からのずれ)を実際よりも大きく示している。ただし、図8中のレンズLの傾きは、図6中のレンズLの傾きよりも小さい。
調整量算出部65は、処理S21によって取得された測定データと、記憶部66に記憶されているレンズLの設計値とを比較することにより、テーブル20に載置されたレンズLの姿勢(光軸Aoの状態)を解析し、レンズLの傾きが収束条件を満たすか否かを判断する(処理S22)。なお、レベル出し動作の第2段階における収束条件は、次の測定動作を行うために十分な程度に設定されており、例えば第1段階における収束条件よりも厳しく設定されている。
レンズLの姿勢が収束条件を満たすと判断した場合(処理S22;Yes)、レベル出し動作の第2段階を終了する。
一方、レンズLの姿勢が収束条件を満たさないと判断した場合(処理S22;No)、レンズLの姿勢を調整するための微調整量を算出する(処理S23;微調整量算出工程)。
移動制御部61は、処理S23によって算出された微調整量に基づいて、調整機構23を制御し、テーブル20の載置板22の傾きを調整する(処理S24;微調整工程)。あるいは、作業者Pが処理S24によって算出された微調整量を表示部68で確認し、調整機構23を手作業で操作してもよい。これにより、第1段階よりも精密に、レンズLの光軸Aoが回転軸Crに直交するように調整される。
その後、処理S21に戻り、レンズLの姿勢が収束条件を満たすまで、処理S21~S42を繰り返す。
以上により、レンズLの光軸Aoは、回転軸Crの直交面に対して十分にレベル出しされる。
〔測定動作〕
レンズ測定装置1は、レベル出し動作が終了した後、レンズ測定面Lmの測定動作を行う。
レンズ測定装置1の測定動作について、図9のフローチャートを参照して説明する。なお、以下の説明では、レンズLの光軸Aoを通る断面の輪郭を測定するものとする。
まず、移動制御部61は、検出器移動機構30を制御することにより、接触子43を測定位置Pz,Pxに位置合わせする(処理S31)。
測定位置Pzは、Z軸方向におけるレンズLの光軸Ao位置に合わせた位置である(図10参照)。測定位置PzはレンズLの設計値等に基づいて予め設定されていてもよいし、移動制御部61が前述のレベル出し動作によって測定位置Pzを検出してもよい。
一方、測定位置Pxは、測定位置Pzにおいて、接触子43をレンズ測定面Lmにアプローチさせ、接触子43が所定の圧力でレンズ測定面Lmに接触した位置である(図5参照)。
処理S31の後、移動制御部61は、回転駆動機構25を制御することにより、図5に示す状態のテーブル20を所定角度θp1だけ回転させる。これにより、接触子43は、レンズLの測定開始点Psに接触する(処理S32、図11参照)。所定角度θp1はレンズLの設計値等に基づいて予め設定されていてもよいし、移動制御部61が前述のレベル出し動作による測定データに基づいて所定角度θp1を設定してもよい。
処理S32の後、移動制御部61は、回転駆動機構25を制御することにより、図11に示す状態のテーブル20を所定角度θp2だけ回転させる。これにより、接触子43は、測定開始点Psから測定終了点Pfまでレンズ測定面Lmに接触しながら滑動し、レンズ測定面Lmの形状に従って変位する(図12参照)。すなわち、接触子43は、レンズ測定面Lmをテーブル20の回転方向に沿って倣い走査する(処理S33;倣い走査工程)。
なお、所定角度θp2は、接触子43がレンズ測定面Lmを所望の範囲だけ倣い走査するための角度である。所定角度θp2はレンズLの設計値等に基づいて予め設定されていてもよいし、移動制御部61が前述のレベル出し動作による測定データに基づいて所定角度θp2を設定してもよい。
処理S33の間、スタイラス41がレンズ測定面Lmの形状に従ってX方向に変位し、変位検出部42は、スタイラス41の変位に比例した変位信号(変位量Δr)を出力する。
また、処理S33の間、角度検出部62は、角度センサ26を介して現在のテーブル20の回転角度θを読み取り、接触位置検出部63は、回転角度θの任意の角度ごとに、検出器40から出力された変位量Δrを記録する。
図13は、処理S33によりテーブル20が回転する間、接触子43がレンズ測定面Lmに対して相対的に移動する様子を示す図である。図13に示すように、テーブル20の回転方向Mは、レンズLの近似円VCと一致しているため、テーブル20が回転する間、接触子43は、レンズ測定面Lmに対してほぼ一定の角度で接触する。このため、接触子43のほぼ同じ部位が、レンズ測定面Lmに接触する。
なお、レンズLが非球面であるため、レンズLの近似円VCからレンズ測定面Lmまでの若干のずれ量が存在し、このずれ量の分に応じて接触子43の角度が若干変化するが、レンズ測定面Lmに接触する接触子43の範囲は、従来の倣い測定に比べて十分に狭い範囲に留まる。
処理S33の後、データ処理部64は、取得された回転角度θおよび変位量Δrに基づいて、レンズ測定面Lmの座標情報を、接触子43の走査線に沿って配置される複数の測定点の極座標として算出する(処理S34;座標算出工程)。なお、複数の測定点の数は特に限定されない。
図14には、回転軸Crを原点とするテーブル20上のXY座標系が示されており、処理S34によって算出された測定点P1~P5が例示されている。
なお、本実施形態では、接触子43が測定位置Pxに位置合わせされた時点(処理S31)において、テーブル20上のY軸は、測定装置本体10のX軸と略平行であり、テーブル20上のX軸は、測定装置本体10のY軸と略平行である。
また、図14では、測定位置Pxに位置する接触子43(Px)と回転軸Crとの間の距離Rを半径とする基準円VSを仮想線(一点鎖線)で示している。
測定点P1~P5の極座標は、各測定点P1~P5の変位量Δrに距離Rを加えた値がr値として算出され、各測定点P1~P5の回転角度θがθ値として算出される。
具体的には、測定点P1の極座標は(R+Δr1,θ1)であり、測定点P2の極座標は(R+Δr2,θ2)であり、測定点P3(初期位置)の極座標は(R+Δr3,θ3)であり、測定点P4の極座標は(R+Δr4,θ4)であり、測定点P5の極座標は(R+Δr5,θ5)である。
次に、データ処理部64は、処理S34によって算出された各測定点P1~P5の極座標を、直交座標(XY座標)に変換する(処理S35;座標変換工程)。この変換には、以下の式(1)が用いられる。
x=rcosθ
y=rsinθ ・・・式(1)
処理S35によれば、各測定点P1~P5のXY座標が得られる。これにより、レンズLの光軸Aoを通る断面形状について、その輪郭の座標情報がXY座標として求められる。
以上により、レンズ測定装置1の測定動作が終了する。
〔実施形態の効果〕
本実施形態では、接触子43がテーブル20の回転方向に沿ってレンズ測定面Lmを倣い走査することにより、レンズLの測定動作が行われる。この倣い走査の間、接触子43はレンズ測定面Lmに対してほぼ一定の角度で接触するため、レンズ測定面Lmに接触する接触子43の範囲は、従来の直線倣い走査と比べて、十分に狭い範囲となる。よって、接触子43の真球度が測定精度に及ぼす影響を抑制し、高精度な測定を行うことができる。
また、本実施形態における倣い走査には、従来の真円度測定機の構成を利用することができ、複雑な装置構成やその制御を必要としない。また、データ処理部64が極座標を直交座標に変換することによって、レンズ測定面Lmの輪郭情報を簡単に取得できる。
従って、本実施形態によれば、レンズ形状を高精度かつ簡単に測定することができる。
本実施形態では、レベル出し動作の第1段階を実施しており、調整量算出部65が算出した粗調整量に基づいてレンズLの姿勢を調整している。これにより、後に実施するレベル出し動作の第2段階をより精密に実施することができる。
また、本実施形態では、レベル出し動作の第2段階を実施しており、調整量算出部65が算出した微調整量に基づいてレンズLの姿勢を調整している。これにより、後に実施するレンズ測定面Lmをより正確に測定することができる。
本実施形態では、レンズ測定面Lmの曲率中心Ccがテーブル20の回転軸Crに一致するようにレンズLが配置される。このようなレンズLの配置によれば、テーブル20の回転方向に沿ってレンズ測定面Lmを好適に配置することができる。これにより、レンズLに接触する接触子43の部位をより小さな範囲に抑えることができる。
〔変形例〕
本発明は、前述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形などは本発明に含まれる。
処理S11について説明したテーブル20上のレンズLの配置は、厳密な位置合わせを必要とせず、ある程度のずれを許容することができる。
例えば、図15に示すように、レンズ測定面Lmの光軸Aoと交わる領域の曲率中心Ccが、テーブル20の回転軸Crからずれており、レンズ測定面Lmの近似円VCは、距離Rを半径とする基準円VSとは異なっていてもよい。また、測定位置Pxの接触子43(Px)は、レンズLの光軸Aoが通る表面(頂点)以外の部位に接触してもよい。
このような配置によっても、レベル出し動作およびレンズ測定動作を前記実施形態と同様に行うことができ、レンズ測定面Lmに接触する接触子43の部位は、従来の倣い測定に比べて十分に狭い範囲に留まる。このため、本発明では、一般的な真円度測定に実施されるワークの芯だしを行う必要はない。
また、変形例として、レンズ測定面Lmのうち光軸Aoと交わる領域以外のいずれかの領域の曲率中心がテーブル20の回転軸Crに一致するように配置されてもよい。
ただし、テーブル20上のレンズLの配置について、接触子43がレンズLをテーブル20の回転方向に倣い走査するときのスタイラス41の変位量Δrが、スタイラス41の変位可能範囲に収まることが好ましい。
そこで、図16に示すように、測定点P1~P5の変位量Δrが比較的大きくなる可能性がある場合、例えばレベル出し動作の処理S12により、レンズLの傾きだけでなく、レンズLの配置を検出してもよい。そして、レンズLの配置が許容範囲(変位量Δrがスタイラス41の変位可能範囲に収まる範囲)から外れると判定した場合、テーブル20の載置板22を移動させたり、テーブル20を回転させたりすることにより、レンズLの配置を調整してもよい。
前記実施形態では、レベル出し動作の第1段階において、検出器40はレンズ測定面LmをZ軸方向に倣い測定しているが、本発明はこれに限定されない。例えば、接触子43がZ軸方向に沿って断続的に接触することによって、レンズ測定面Lmを多点測定してもよい。
前記実施形態では、レンズ測定動作において、レンズLの光軸Aoを通る断面形状の輪郭を測定している。このため、処理S31で接触子43が配置される測定位置Pzは、Z軸方向におけるレンズLの光軸Aoの位置であるが、本発明はこれに限定されない。例えば、測定位置Pzは、レンズLの測定対象となる断面形状に応じて、Z方向の任意の位置に設定可能である。
前記実施形態では、処理S31で接触子43が配置される測定位置Pxは、接触子43をレンズ測定面Lmにアプローチさせたときに、接触子43が所定の圧力でレンズ測定面Lmに接触する位置であるが、本発明はこれに限定されない。例えば、処理S11にてレンズLがある程度の正確さをもってテーブル20に配置される場合、測定位置Pxは、レンズLの設計値などに基づいて予め設定された基準の位置であってもよい。
前記実施形態では、レンズ測定動作の前にレベル出し動作を行っているが、これは必須ではない。
また、レベル出し動作を行う場合、第1段階のみまたは第2段階のみを行ってもよい。例えば第1段階のみを行う場合、処理S13におけるレンズLの姿勢の収束条件を、次の測定動作を行うために十分な程度に設定すればよい。
また、レベル出し動作の第1段階においてレンズLの姿勢の収束条件を設けず、一度の粗調整後に第2段階を行ってもよい。
本発明において測定対象となるレンズは、特に限定されず、凸レンズ、凹レンズおよび非球面レンズなど、様々なレンズであってもよい。
前記実施形態では、レンズ測定面Lmは、凸状の非球面であるが、これに限定されず、凹状の非球面でもよいし、球面(凹面または凸面)であってもよい。
例えばレンズ測定面Lmが凹状の非球面または球面(凹面)である場合、処理S11において、前記実施形態と同様、レンズ測定面Lmの光軸Aoを交わる領域の曲率中心Ccが、回転軸Crに略一致するように配置することが好ましい。また、処理S21および処理S33において、接触子43がレンズ測定面Lmを倣い走査する間、接触子43が凹状のレンズ測定面Lmに過度に押しつけられないように、適宜、検出器40をX軸方向に移動させてもよい。
前記実施形態では、レンズ保持具50は、レンズLの縁を把持するように構成されているが、レンズLのレンズ測定面Lmとは反対側の面を吸引保持するように構成されてもよい。また、本発明のレンズ保持具は、これらの構成に限定されず、既存のレンズホルダの構成を適宜利用できる。
本発明は、レンズ形状を高精度かつ簡単に測定することができるレンズ測定装置およびレンズ測定方法として利用できる。
1…レンズ測定装置、10…測定装置本体、11…ベース、110…上面、20…テーブル、21…本体、22…載置板、23…調整機構、25…回転駆動機構、26…角度センサ、30…検出器移動機構(移動機構)、31…コラム、32…スライダ、33…アーム、40…検出器、41…スタイラス、42…変位検出部、43…接触子、50…レンズ保持具、51…把持部、52…ブロック体、60…制御装置、61…移動制御部、62…角度検出部、63…接触位置検出部、64…データ処理部、65…調整量算出部、66…記憶部、67…操作部、68…表示部、Ao…光軸、Cc…曲率中心、Cr…回転軸、L…レンズ、Lm…レンズ測定面、P1~P5…測定点、Pf…測定終了点、Ps…測定開始点、Px…X軸方向の測定位置、Pz…Z軸方向の測定位置、R…距離、VC…近似円、VS…基準円、Δr…変位量、θ…回転角度、θp1,θp2…所定角度。

Claims (6)

  1. 回転軸周りに回転するテーブルと、
    測定対象であるレンズを保持し、前記レンズの光軸が前記回転軸に直交するように前記テーブルに載置されるレンズ保持具と、
    前記レンズの表面のうちのレンズ測定面に接触する接触子と、
    前記テーブルの回転角度を検出する角度センサと、
    前記接触子の変位を検出する変位検出部と、
    前記テーブルの回転角度ごとの前記接触子の変位量に基づき、前記レンズ測定面の座標情報を、前記回転軸を原点とする極座標として算出し、算出した前記極座標を直交座標に変換するデータ処理部と、
    前記接触子を前記回転軸に沿って前記レンズ測定面に接触するように移動させる移動機構と、
    前記移動機構による前記接触子の移動情報に基づき、前記レンズの光軸が前記回転軸に直交した状態になるように前記レンズの姿勢を調整するための粗調整量を算出する調整量算出部と、を備えることを特徴とするレンズ測定装置。
  2. 回転軸周りに回転するテーブルと、
    測定対象であるレンズを保持し、前記レンズの光軸が前記回転軸に直交するように前記テーブルに載置されるレンズ保持具と、
    前記レンズの表面のうちのレンズ測定面に接触する接触子と、
    前記テーブルの回転角度を検出する角度センサと、
    前記接触子の変位を検出する変位検出部と、
    前記テーブルの回転角度ごとの前記接触子の変位量に基づき、前記レンズ測定面の座標情報を、前記回転軸を原点とする極座標として算出し、算出した前記極座標を直交座標に変換するデータ処理部と、
    前記接触子を前記回転軸に沿って前記レンズ測定面に接触するように移動させる移動機構と、
    前記回転軸に沿った方向において異なる位置で得られる複数の前記直交座標に基づいて、前記レンズの光軸が前記回転軸に直交した状態になるように前記レンズの姿勢を調整するための微調整量を算出する調整量算出部と、を備えることを特徴とするレンズ測定装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載されたレンズ測定装置において、
    前記レンズ保持具は、前記レンズ測定面のうち所定領域の曲率中心が前記回転軸に一致するように、前記テーブルに載置されていることを特徴とするレンズ測定装置。
  4. 回転軸周りに回転するテーブルと、前記テーブルに載置された測定対象に接触する接触子と、前記テーブルの回転角度を検出する角度センサと、前記接触子の変位を検出する検出器と、を備えるレンズ測定装置を用いて、
    前記測定対象としてのレンズを当該レンズの光軸が前記回転軸に直交するように、前記テーブルに配置するレンズ配置工程と、
    前記レンズが配置された前記テーブルを所定角度回転させることにより、前記接触子が前記レンズの表面の所定領域であるレンズ測定面に接触する倣い走査工程と、
    前記テーブルの回転角度ごとの前記接触子の変位量に基づき、前記レンズ測定面の座標情報を、前記回転軸を原点とする極座標として算出する座標算出工程と、
    算出した前記極座標を直交座標に変換する座標変換工程と、を含むレンズ測定方法において、
    前記レンズ配置工程の後かつ前記倣い走査工程の前に、
    前記接触子を前記回転軸に沿って前記レンズ測定面に接触するように移動させる移動工程と、
    前記移動工程における前記接触子の移動情報に基づき、前記レンズの光軸が前記回転軸に直交した状態になるように前記レンズの姿勢を調整するための粗調整量を算出する粗調整量算出工程と、
    前記粗調整量に従って前記レンズの姿勢を調整する粗調整工程と、を含むことを特徴とするレンズ測定方法。
  5. 回転軸周りに回転するテーブルと、前記テーブルに載置された測定対象に接触する接触子と、前記テーブルの回転角度を検出する角度センサと、前記接触子の変位を検出する検出器と、を備えるレンズ測定装置を用いて、
    前記測定対象としてのレンズを当該レンズの光軸が前記回転軸に直交するように、前記テーブルに配置するレンズ配置工程と、
    前記レンズが配置された前記テーブルを所定角度回転させることにより、前記接触子が前記レンズの表面の所定領域であるレンズ測定面に接触する倣い走査工程と、
    前記テーブルの回転角度ごとの前記接触子の変位量に基づき、前記レンズ測定面の座標情報を、前記回転軸を原点とする極座標として算出する座標算出工程と、
    算出した前記極座標を直交座標に変換する座標変換工程と、を含むレンズ測定方法において、
    前記レンズ配置工程の後かつ前記倣い走査工程の前に、
    前記回転軸に沿った方向において互いに異なる位置で、前記レンズ測定面を事前に測定する事前測定工程と、
    前記事前測定工程によって得られた複数の前記直交座標に基づいて、前記レンズの光軸が前記回転軸に直交した状態になるように前記レンズの姿勢を調整するための微調整量を算出する微調整量算出工程と、
    前記微調整量に従って、前記レンズの姿勢を調整する微調整工程と、を含むことを特徴とするレンズ測定方法。
  6. 請求項4または請求項5に記載されたレンズ測定方法において、
    前記レンズ配置工程は、前記レンズ測定面のうち所定領域の曲率中心が前記回転軸に一致するように、前記レンズを配置することを特徴とするレンズ測定方法。
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