JP6983012B2 - イオンポンプ内のイオン軌道操作アーキテクチャ - Google Patents

イオンポンプ内のイオン軌道操作アーキテクチャ Download PDF

Info

Publication number
JP6983012B2
JP6983012B2 JP2017172662A JP2017172662A JP6983012B2 JP 6983012 B2 JP6983012 B2 JP 6983012B2 JP 2017172662 A JP2017172662 A JP 2017172662A JP 2017172662 A JP2017172662 A JP 2017172662A JP 6983012 B2 JP6983012 B2 JP 6983012B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cathode
opening
anode
cathode plate
ion pump
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017172662A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018056117A (ja
Inventor
ウィノフラド アンソニー
ランゲバーグ ジョエル
Original Assignee
エドワーズ バキューム リミテッド ライアビリティ カンパニー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エドワーズ バキューム リミテッド ライアビリティ カンパニー filed Critical エドワーズ バキューム リミテッド ライアビリティ カンパニー
Publication of JP2018056117A publication Critical patent/JP2018056117A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6983012B2 publication Critical patent/JP6983012B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J3/00Details of electron-optical or ion-optical arrangements or of ion traps common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J3/04Ion guns
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F04POSITIVE - DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS FOR LIQUIDS OR ELASTIC FLUIDS
    • F04BPOSITIVE-DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS
    • F04B37/00Pumps having pertinent characteristics not provided for in, or of interest apart from, groups F04B25/00 - F04B35/00
    • F04B37/02Pumps having pertinent characteristics not provided for in, or of interest apart from, groups F04B25/00 - F04B35/00 for evacuating by absorption or adsorption
    • F04B37/04Selection of specific absorption or adsorption materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J41/00Discharge tubes for measuring pressure of introduced gas or for detecting presence of gas; Discharge tubes for evacuation by diffusion of ions
    • H01J41/12Discharge tubes for evacuating by diffusion of ions, e.g. ion pumps, getter ion pumps
    • H01J41/18Discharge tubes for evacuating by diffusion of ions, e.g. ion pumps, getter ion pumps with ionisation by means of cold cathodes
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F04POSITIVE - DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS FOR LIQUIDS OR ELASTIC FLUIDS
    • F04BPOSITIVE-DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS
    • F04B19/00Machines or pumps having pertinent characteristics not provided for in, or of interest apart from, groups F04B1/00 - F04B17/00
    • F04B19/006Micropumps
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F04POSITIVE - DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS FOR LIQUIDS OR ELASTIC FLUIDS
    • F04BPOSITIVE-DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS
    • F04B37/00Pumps having pertinent characteristics not provided for in, or of interest apart from, groups F04B25/00 - F04B35/00
    • F04B37/10Pumps having pertinent characteristics not provided for in, or of interest apart from, groups F04B25/00 - F04B35/00 for special use
    • F04B37/14Pumps having pertinent characteristics not provided for in, or of interest apart from, groups F04B25/00 - F04B35/00 for special use to obtain high vacuum
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J41/00Discharge tubes for measuring pressure of introduced gas or for detecting presence of gas; Discharge tubes for evacuation by diffusion of ions
    • H01J41/12Discharge tubes for evacuating by diffusion of ions, e.g. ion pumps, getter ion pumps

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

超高真空は、10-7パスカル(10-9ミリバール、約10-9トル)よりも低い圧力によって特徴付けられる真空形態である。イオンポンプは、超高真空を確立するために一部の設定に使用される。イオンポンプにおいて、円筒形陽極管のアレイは、各管の開口部が陰極板のうちの1つに面するように2つの陰極板の間に配置される。電位は、陽極と陰極の間に印加される。同時に、陰極板の両側の磁石は、陽極円筒体の軸線に位置合わせされた磁場を発生させる。
イオンポンプは、電位と磁場との組合せを通して円筒形陽極内に電子を捕捉することによって作動する。ガス分子が陽極のうちの1つに流れ込む時に、捕捉された電子は、分子に衝突して分子をイオン化させる。得られる正に帯電したイオンは、陰極板のうちの1つに向けて陽極と陰極の間の電位によって加速され、円筒形陽極内の剥離電子を他のガス分子の更に別のイオン化に使用されるように残す。正に帯電したイオンは、最終的には陰極によって捕捉され、それによって真空空間から除去される。典型的には、正に帯電したイオンは、正に帯電したイオンによって陰極からの材料がポンプの真空チャンバの中にスパッタされるスパッタリング事象を通して捕捉される。このスパッタされた材料は、ポンプ内の面を被覆し、ポンプ内を移動する追加の粒子を捕捉するように作用する。すなわち、スパッタされた材料の量を最大にすることが望ましい。
以上の議論は、単に一般的な背景情報に対して提供したものであり、特許請求する主題の範囲を決定するのを助けるために使用するように意図していない。特許請求する主題は、背景技術に示すいずれか又は全ての欠点を解決する実施に制限されない。
イオンポンプは、陽極と、陽極に向けて延びる少なくとも1つの面構造を有する裏打ち面と、陽極と裏打ち面の間に位置決めされ、少なくとも1つの面構造が開口部に位置合わせされるような開口部を有する陰極とを備えている。
更に別の実施形態では、イオンポンプは、開口部を有する円筒形陽極と、円筒形陽極の開口部に位置合わせされた開口部を有する陰極板とを備えている。
更に別の実施形態では、方法は、陽極と陰極の間に第1の電位差を印加して陽極の近くの空間に形成されたイオンを陰極に向けて移動させる段階を含む。第2の電位差が、ポストと陰極の間に印加され、イオンが陰極に向けて移動してイオンを陰極に衝突させるようにイオンを誘導する。
この「発明の概要」は、「発明を実施するための形態」において以下で更に説明する選択された概念を簡素化した形態で紹介するために提供するものである。この「発明の概要」は、特許請求する主題の重要な特徴又は本質的な特徴を特定するように意図しておらず、特許請求する主題の範囲を決定するのを助けるために使用されるようにも意図していない。
イオンポンプの断面図である。 従来技術のイオンポンプの一部分の斜視断面図である。 図2に示すイオンポンプの部分の側面断面図である。 一実施形態によるイオンポンプの一部分の斜視断面図である。 図4に示すイオンポンプの部分の側面断面図である。 図5の陰極板の背面図である。 第2の実施形態によるイオンポンプの一部分の斜視断面図である。 第7に示すイオンポンプの部分の側面断面図である。 図8の陰極板の前面図である。 更に別の実施形態によるイオンポンプの一部分の斜視図である。
図1は、イオンポンプ100の断面図を提供する。イオンポンプ100は、真空にされるシステムに接続するための接続フランジ106に溶接されたチャンバ壁104によって定められた真空チャンバ102を備えている。2つのフェライト磁石108及び110は、チャンバ壁104に対して外部に位置付けられ、イオンポンプ100の両側に装着される。磁束ガイド112は、フェライト磁石108及び110の各々の外側に位置決めされ、矢印130及び132によって示すようにイオンポンプ100の下に延びてフェライト磁石108及び110の各々の外部の間で磁束を案内する。フェライト磁石108及び110は、真空チャンバ102を通過する磁場Bを生成する。一部の実施形態により、磁場は、1200ガウス(.12テスラ)の強度を有する。
真空チャンバ102内では、円筒形陽極114のアレイは、各陽極円筒体の開口部が陰極板に面するように2つの陰極板116及び118の間に位置決めされる。
円筒形陽極114及びチャンバ壁104は、接地電位に維持されるが、陰極板116及び118は、電力ケーブル122によってイオンポンプ100に接続された外部電源120によって負電位に維持される。一部の実施形態により、円筒形陽極114と陰極板116及び118との間の電位差は、7kVである。
作動中に、フランジ106は、真空にされるシステムのフランジに接続される。接続された状態で、真空にされるシステム内の粒子は、真空チャンバ102内に進行し、最終的に円筒形陽極114のうちの1つの内部に移動する。磁場B及び陽極114と陰極板116及び118との間の電位の組合せにより、電子は、円筒形陽極114の各々内に捕捉される。円筒形陽極114内に捕捉されているが、電子は、粒子が円筒形陽極114に入る時にそれらが捕捉電子によって衝突されて粒子をイオン化させるように運動している。得られる正に帯電したイオンは、陽極114と陰極板116及び118との間の電位差によって加速され、正に帯電したイオンを円筒形陽極114の内部から陰極板116及び118のうちの一方に向けて移動させる。
図2及び3は、従来技術のイオンポンプの一部分の断面斜視図及び側面断面図を提供する。図2に示す部分は、単一円筒形陽極114、陰極板116の一部分、及びチャンバ壁104の一部分を示している。図2に示すように、従来技術の一部の陰極板は、傾斜面202及び204のような傾斜面で構成されたターゲット区域200を含む。ターゲット区域200内の傾斜面は、陰極板116全体を通過せず、代わりに陽イオンが陰極板116に衝突する角度を変えるように設計される。傾斜面なしでは、イオンは、ほぼ90°で陰極板に衝突するであろうと考えられる。傾斜面を陰極板116内に切り込むことにより、この角度は、90°未満の何らかの角度まで低減することができると考えられる。
当業技術では、正に帯電したイオンの全ては、円筒形陽極114に面する面である陰極板116の面208に沿って陰極板116に衝突すると考えられている。具体的には、イオンは、ターゲット200に衝突してターゲット200からの材料を陰極板116から外向きにスパッタさせると考えられている。
しかし、本発明者は、正に帯電したイオンが陰極板に達した時に必ずしもスパッタせず、代わりに図3の経路300、302、及び304に示すように陰極板を通過することを発見した。それらの経路によって示すように、陽イオンが陰極板116の他方の側に達した状態で、それらは、チャンバ壁104と陰極板116間の電位差の影響を受け、それらを陰極板116に向けて逆戻りさせる。戻る粒子の多くは、再度陰極板116を通過し、次に、陽極円筒体114と陰極板116間の電場によって陰極板116に向けて逆戻りさせられる。すなわち、一部のイオンは、最終的にスパッタするまで陰極板116を通って前後に振動し続ける。
これらの振動は、加速粒子が直ちにスパッタしないので非効率的である。これに加えて、粒子が陰極板116に衝突する角度に対する制御が従来技術では存在しない。この制御の欠如は、陰極板116によってスパッタされる材料の量が、粒子が陰極板116に衝突する角度に依存するので、非効率的なスパッタリングをもたらす。衝突角度は従来技術の下では制御することができないので、イオンの多くは、最適スパッタリング角度未満で陰極板に衝突する。
様々な実施形態により、粒子が効率的方式で衝突角度の望ましい範囲内で陰極板に衝突するように陰極板に向けて加速される粒子の軌道を制御する電場を形成する構造が、チャンバ壁104及び/又は陰極板116及び118に形成される。一部の実施形態により、構造は、円筒形陽極内の開口部に位置合わせされ開口部を陰極板116、118に含む。一部の実施形態では、構造は、陰極板内の開口部に向けて真空チャンバ壁104から延びる面構造又はポストを更に含む。特に、面構造及びポストは、陰極板に向けて真空チャンバ壁104の裏打ち面から延びる。一実施形態により、ポスト及び裏打ち面は、円筒形陽極114と同じ電圧に維持され、面構造/ポストと陰極板116の間に電圧又は電位差を生成する。この電圧差は、粒子が望ましい衝突角度の範囲で陰極板に衝突して陰極板材料の効率的なスパッタリングを引き起こすように陰極板に向けて移動するイオン粒子の軌道を制御する電場をもたらす。
図4は、一実施形態によるイオンポンプ400の一部分の斜視断面図を提供する。図5は、図4に示すイオンポンプ400の部分の側面断面図を提供する。イオンポンプ400は、円筒形陽極414、陰極板416、及び真空チャンバ壁404を含む。円筒形陽極414は、陰極板416内の開口部434に位置合わせされた開口部436を含む。図4及び5に示すように、真空チャンバ壁404は、陰極板416に面する裏打ち面432を含む。ポスト430は、裏打ち面432から陰極板416の開口部434に向けて、及び従って円筒形陽極414に向けて延びる。一実施形態により、ポスト430は、円錐形先端431を含み、開口部436の軸線及び円筒形陽極414の開口部434の軸線上に中心がある。
陰極板416は、一実施形態では6mmの距離456だけ円筒形陽極414から分離され、陰極板416は、一実施形態では6mmの距離458だけ真空チャンバ壁404の裏打ち面432から分離される。円筒形陽極414の開口部436は、一実施形態では19mmの直径450を有し、陰極板416の開口部434は、一実施形態では12.8mmの直径452を有し、ポスト430は、一実施形態では6.4mmの直径454を有する。ポスト430は、一実施形態では6mmの距離460だけ裏打ち面432から延びる。
図5に示すように、円筒形陽極414と陰極板416の間に第1の電位差が印加され、第2の電位は、真空チャンバ壁404/面構造/ポスト430と陰極板416の間に印加される。図5では、これら2つの電位差は、接地のような共通電圧にチャンバ壁404、面構造/ポスト403、及び円筒形陽極414を維持することによって同じ値に維持されるが、陰極板416は、真空ハウジング壁404、面構造/ポスト430、及び陽極414に対して負電圧に維持される。一実施形態により、陰極板416は、真空ハウジング壁404、面構造/ポスト430、及び陽極414に対して−7kVに維持される。他の実施形態では、第1の電位差及び第2の電位差は互いに異なる。
円筒形陽極414と陰極板416の間の電位差は、陽極414の近くの空間に形成された正に帯電したイオンを軌道経路440、442、444、及び446のような軌道経路に沿って陰極板416に向けて加速させる。ポスト430及び開口部434の形状及び位置、並びにポスト430と陰極板416の間の電位差は、正に帯電したイオンが、弧に沿って向きを変えて陰極板416の背面470に衝突する前に開口部434を通過するように、経路440、442、444、及び446に沿って陽イオンの軌道を制御する電場を形成する。特に、陽イオンは、衝突角度472、474、476、及び478のような衝突角度で面474に衝突する。それらの衝突角度の各々は、面470からの材料のスパッタリングを最大にするための理想的な衝突角度に関して中心がある衝突角度の範囲にある。異なるイオンは、異なる質量を有することになり、従って、異なる経路を辿って異なる角度で衝突することになることに注意されたい。しかし、従来技術と比較すると、より多くの正に帯電したイオンは、スパッタリングのための理想的な衝突角度により近い衝突角度で面470に衝突することになる。
図6は、面470を示す陰極板416の背面図を提供する。図6では、円形衝突区域480は、開口部434に関して中心があるように示されており、イオンが陰極板416に衝突する区域を表している。開口部434のような他の開口部(図示せず)のための追加の衝突区域482、484、486、488、490、及び492も図6に示されている。区域480は、一般的に、従来技術の陰極板に関連付けられた衝突区域よりも大きく、従って、イオンは、従来技術よりも様々な実施形態においてよりよく分配されている。
正に帯電したイオンが開口部434を通して誘導されるので、陰極板416の前面495上に「非蒸発性ゲッター(NEG)」層494を追加することが可能である。前面495は、円筒形陽極414に面し、NEG層494は、非荷電粒子と化学的に反応して粒子を捕捉し、それによってイオンポンプの作動を改良するゲッターとして作用する。
図7は、第2の実施形態による斜視断面図を提供し、図8は、イオンポンプ700の一部分の側面断面図を提供する。イオンポンプ700は、円筒形陽極714、陰極板716、及び真空チャンバ壁704を含む。イオンポンプ700のその部分において、図7及び8に示すように、円筒形陽極714は、陽極714の開口部736が陰極板716に面するように陰極板716に対して位置決めされる。陰極板716内の開口部734は、円筒形陽極714の開口部736と同軸であり、従って、これに位置合わせされている。円錐形先端731を有する面構造/ポスト730は、真空チャンバ壁704の裏打ち面732から延び、その結果、ポスト730は、陰極板716の開口部734の中にそれを通って陽極714に向けて延びる。
陰極板716は、一実施形態では6mmの距離779だけ円筒形陽極714から分離され、陰極板716は、一実施形態では6mmの距離758だけ真空チャンバ壁704の裏打ち面732から分離される。円筒形陽極714の開口部736は、一実施形態では19mmの直径750を有し、陰極板416の開口部734は、一実施形態では12.8mmの直径752を有し、ポスト730は、一実施形態では6.4mmの直径754を有する。ポスト730は、一実施形態では12.4mmの距離760だけ裏打ち面732から延び、一実施形態では3mmの距離761だけ陰極板716の面795を超えて延びる。
図8に示すように、第1の電位差は、円筒形陽極714と陰極板716の間に印加され、第2の電位は、真空チャンバ壁704/面構造/ポスト730と陰極板716の間に印加される。図8では、これら2つの電位差は、接地のような共通電圧にチャンバ壁704、面構造/ポスト703、及び円筒形陽極714を維持することによって同じ値に維持されるが、陰極板716は、真空ハウジング壁704、面構造/ポスト730、及び陽極714に対して負電圧に維持される。一実施形態により、陰極板716の電圧は、陽極714、真空チャンバ壁704、及びポスト730の電圧よりも7kV低い。他の実施形態では、第1の電位差及び第2の電位差は、互いに異なる。
ポスト730と陰極板716の間の電位差及び陽極714と陰極板716の間の電位差は、陽極714の近くの空間に形成された陽イオンを陰極板716に向けて加速させて図8の経路740、742、744、及び746のうちの1つのような湾曲経路に沿って移動させる電場を発生させる。これらの湾曲経路は、それぞれの角度772、774、776、及び778で陰極板716の前面795に衝突する陽イオンをもたらす。角度772、774、776、及び778は、陰極板116からスパッタされる材料の量が最大になる理想的なスパッタリング角度上に中心がある角度の範囲に含まれる。従って、陽極714、陰極板716、及びポスト730によって生成される電場は、陽極714に形成されるイオンの軌道を制御し、それによってイオンポンプ700内のスパッタリングの効率を改善する。
図9は、面795、開口部734、及びポスト730を示す陰極板716の前面図である。図9では、ポスト730によって生成される電場によって案内されるイオンのための円形衝突区域780が示されている。他のポスト及び開口部に関連付けられた追加の衝突区域は、衝突区域782、784、786、788、790、及び792として示されている。
ポスト730及び開口部734は、イオンを陰極板716の前面795に誘導するので、背面770は、イオンによって影響を受けない。このために、NEG層794は、背面770上に堆積させることができ、陰極板716と真空チャンバ壁704の間に入り込む粒子をゲッタリングするのに使用することができる。
単に1つの円筒形陽極、1つの陰極板内の1つの開口部、及び1つのポストが、図4、5、7、及び8の実施形態に示されているが、イオンポンプ400及び700では、図1に示すように、円筒形陽極のアレイと円筒形陽極のアレイの各側に配置された2つの陰極板とが存在することを当業者は認識するであろう。更に、複数の円筒形陽極の各々に対して、イオンポンプ400及び700内に2つの陰極板の各々に対応する開口部が存在する。従って、陰極板に複数の開口部が存在し、各開口部は、複数の円筒形陽極のうちの1つにおけるそれぞれの開口部に位置合わせされる。これに加えて、陰極板の各開口部に対して、陰極板内の開口部に向けて延びてこれに位置合わせされた対応する面構造/ポストと、それぞれの円筒形陽極内の対応する開口部とが存在する。図4及び5の実施形態に対して、それらのポストの各々は、陰極板の手前まで延びる。図7及び8の実施形態に対して、それらのポストの各々は、陰極板内の対応する開口部を通って延びる。
図10は、イオンポンプ1000の更に別の実施形態の一部分の斜視断面図を提供する。図10では、陰極板1016の一部分及び真空チャンバ壁1004の一部分を示している。面構造/ポストのアレイは、真空チャンバ壁1004の裏打ち面1093から陰極板1016及び陽極のアレイ(図示せず)に向けて延びる。イオンポンプ1000では、様々なポストの長さが、図8に示す長さ760のような長さを有する一部のポスト、及び図5の460のような長さを有する他のポストと共に使用される。従って、複数の面構造の一部は、複数の面構造の他のものよりも陰極板及びそれぞれの陽極に向けてより遠くに延びる。陰極板1016では、開口部1050、1052、及び1054のような密集形成で配置された複数の開口部が存在する。開口部1050及び1054のような開口部の一部に対して、ポスト1056及び1058のようなポストは、開口部を通って延び、開口部1052のような他の開口部に対して、ポスト1060は、陰極板1016の裏側に留まり、開口部1052を通過しない。従って、図10の実施形態は、図5及び8の実施形態の組合せである。
陰極板1016内の開口部の各々は、円筒形陽極に形成された正に帯電したイオンが陰極板1016に向けて加速されるように円筒形陽極に位置合わせされる。開口部1050及び1054を通って延びるポスト1056及び1058のようにポストが開口部を通って延びる場合に関して、ポスト1056、1058、陰極板1016、及び関連の円筒形陽極によって発生される電場は、衝突区域1070及び1072のような円形衝突区域を形成する陰極板1016の前面1095にイオンが衝突するように、正に帯電したイオンの軌道を制御する。類似の衝突区域が、図10に実線円で示されている。ポスト1060及び開口部1052のように開口部の中をポストが通らない場合に、ポスト1060、陰極板1016、及び関連の円筒形陽極によって生成される電場は、正に帯電したイオンが開口部1052のための衝突区域1074のような円形衝突区域内で背面1096に衝突するように、開口部を通して正に帯電したイオンを加速させ、陰極板1016の背面1096に向けて湾曲して戻させる。背面1096上の類似の衝突区域が、図10に点線円によって示されている。図10に示すポストのアレイは、従って、陰極板の前面及び背面の両方にイオンの衝突を制御方式で分散し、効率的なスパッタリングを形成し、陰極板1016の両面の使用をより効率的にする。
好ましい実施形態を参照して本発明を説明したが、当業者は、本発明の精神及び範囲から逸脱することなく形態及び詳細に変更を行うことができることを認識するであろう。

Claims (15)

  1. 陽極と、
    前記陽極に向けて延びる少なくとも1つの面構造を有する裏打ち面と、
    前記陽極と前記裏打ち面の間に位置決めされ、前記少なくとも1つの面構造が開口部に位置合わせされるような開口部を有する陰極と、を備えている、
    ことを特徴とするイオンポンプ。
  2. 前記陽極は、円筒体を備え、
    前記陰極内の前記開口部は、前記円筒体内の開口部に位置合わせされる、
    請求項1に記載のイオンポンプ。
  3. 前記少なくとも1つの面構造は、前記陰極内の前記開口部の中に延びる、
    請求項1に記載のイオンポンプ。
  4. 複数の陽極を更に備え、
    前記陰極は、複数の開口部を更に備え、
    前記裏打ち面は、複数の面構造を更に備え、各面構造が、それぞれの陽極に向けて延び、前記陰極内のそれぞれの開口部に位置合わせされる、
    請求項1に記載のイオンポンプ。
  5. 前記複数の陽極の各々が、円筒体を備え、
    前記陰極内の各開口部が、前記複数の陽極のうちの1つにおけるそれぞれの開口部に位置合わせされる、
    請求項4に記載のイオンポンプ。
  6. 前記複数の面構造の一部が、該複数の面構造の他のものよりも前記それぞれの陽極に向けてより遠くに延びる、
    請求項4に記載のイオンポンプ。
  7. 前記陽極に面する前記陰極の側面上にNEG材料を更に備えている、
    請求項1に記載のイオンポンプ。
  8. 前記裏打ち面に面する前記陰極の側面上にNEG材料を更に備えている、
    請求項1に記載のイオンポンプ。
  9. 開口部を有する円筒形陽極と、
    前記円筒形陽極の前記開口部に位置合わせされた開口部を有する陰極板を有し該陰極版の開口部が前記陰極を欠いている陰極と、
    前記陰極板の開口部に位置合わせされたポストと、を備え、
    前記ポストと陰極板の間の電位差が前記陰極板に向かって動くイオンの軌跡を該イオンが前記陰極板に衝突するように制御する、
    ことを特徴とするイオンポンプ。
  10. 前記ポストは、前記陰極板内の前記開口部の中に延びている、
    請求項に記載のイオンポンプ。
  11. 各々がそれぞれの開口部を有する複数の円筒形陽極を更に備え、
    前記陰極板は、前記複数の円筒形陽極のうちのそれぞれの1つにおけるそれぞれの開口部に各々が位置合わせされた複数の開口部を更に備えている、
    請求項9に記載のイオンポンプ。
  12. 陽極と陰極の間に第1の電位差を印加して該陽極の近くの空間に形成されたイオンを該陰極に向けて移動する段階と、
    ポストと前記陰極の間に第2の電位差を印加して、前記イオンを該陰極に衝突させるために該イオンが該陰極に向けて移動するように該イオンを誘導する段階と、を含む、
    ことと特徴とする方法。
  13. 前記ポストは、前記陰極内の開口部に位置合わせされる、
    請求項12に記載の方法。
  14. 前記陽極は、円筒形であり、前記陰極内の前記開口部は、該円筒体内の開口部に位置合わせされる、
    請求項13に記載の方法。
  15. 前記ポストと前記陰極の間の前記電位差は、該陰極からの材料のスパッタリングを最大にするように設計された角度でイオンを該陰極に衝突させる、
    請求項12に記載の方法。
JP2017172662A 2016-09-08 2017-09-08 イオンポンプ内のイオン軌道操作アーキテクチャ Active JP6983012B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/259,424 US10550829B2 (en) 2016-09-08 2016-09-08 Ion trajectory manipulation architecture in an ion pump
US15/259,424 2016-09-08

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018056117A JP2018056117A (ja) 2018-04-05
JP6983012B2 true JP6983012B2 (ja) 2021-12-17

Family

ID=59686884

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017172662A Active JP6983012B2 (ja) 2016-09-08 2017-09-08 イオンポンプ内のイオン軌道操作アーキテクチャ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10550829B2 (ja)
EP (1) EP3293753B1 (ja)
JP (1) JP6983012B2 (ja)
CN (1) CN107808810B (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2578138A (en) 2018-10-18 2020-04-22 Edwards Ltd Non-mechanical vacuum pumping system and analytical instrument
GB2578293A (en) 2018-10-18 2020-05-06 Edwards Ltd A set of pumps, and a method and system for evacuating a vacuum chamber in a radioactive environment
GB2576968B (en) 2019-05-24 2021-12-08 Edwards Ltd A vacuum pumping system having multiple pumps
GB2592655B (en) * 2020-03-05 2023-01-11 Edwards Vacuum Llc Pump module

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL229703A (ja) * 1957-07-24
US3324729A (en) 1964-09-14 1967-06-13 Gen Electric Method and apparatus for detecting leaks
US3460745A (en) * 1967-08-23 1969-08-12 Varian Associates Magnetically confined electrical discharge getter ion vacuum pump having a cathode projection extending into the anode cell
US3452923A (en) * 1967-09-19 1969-07-01 Varian Associates Tetrode ion pump
JPS5822855B2 (ja) * 1981-06-19 1983-05-11 株式会社東芝 三極形イオンポンプ
JPS5853144A (ja) * 1981-09-24 1983-03-29 Toshiba Corp 三極形イオンポンプ
IT1156530B (it) * 1982-09-14 1987-02-04 Varian Spa Pompa ionica con catodo a struttura perfezionata particolarmente per il pompaggio di gas nobili
JP3092814B2 (ja) * 1990-10-17 2000-09-25 株式会社日立製作所 スパッタイオンポンプ
JP3079494B2 (ja) * 1991-01-24 2000-08-21 アネルバ株式会社 スパッタイオンポンプ
US5655886A (en) * 1995-06-06 1997-08-12 Color Planar Displays, Inc. Vacuum maintenance device for high vacuum chambers
EP0782174A1 (en) * 1995-12-26 1997-07-02 Nihon Shinku Gijutsu Kabushiki Kaisha Sputter ion pump
US6004104A (en) * 1997-07-14 1999-12-21 Duniway Stockroom Corp. Cathode structure for sputter ion pump
JP3024602B2 (ja) * 1997-08-06 2000-03-21 日本電気株式会社 微小真空ポンプおよび微小真空ポンプ搭載装置
IT1307236B1 (it) * 1999-04-02 2001-10-30 Varian Spa Pompa ionica.
US6498344B1 (en) * 1999-10-01 2002-12-24 Siemens Energy & Automation, Inc. Triode ion pump
JP2001357814A (ja) * 2000-06-15 2001-12-26 Jeol Ltd 極高真空スパッタイオンポンプ
US6835048B2 (en) * 2002-12-18 2004-12-28 Varian, Inc. Ion pump having secondary magnetic field
US20070286738A1 (en) * 2006-06-12 2007-12-13 Varian, Inc. Vacuum ion-getter pump with cryogenically cooled cathode
EP2151849B1 (en) * 2008-08-08 2011-12-14 Agilent Technologies Italia S.p.A. Vacuum pumping system comprising a plurality of sputter ion pumps
CN102074758B (zh) * 2010-07-30 2012-06-20 比亚迪股份有限公司 一种电池的加热电路
US9960026B1 (en) * 2013-11-11 2018-05-01 Coldquanta Inc. Ion pump with direct molecule flow channel through anode
JP6327974B2 (ja) * 2014-06-30 2018-05-23 国立研究開発法人情報通信研究機構 積層型超高真空作成装置
JP5855294B1 (ja) * 2015-02-06 2016-02-09 株式会社日立製作所 イオンポンプおよびそれを用いた荷電粒子線装置
US10262845B2 (en) 2015-02-10 2019-04-16 Hamilton Sundstrand Corporation System and method for enhanced ion pump lifespan

Also Published As

Publication number Publication date
EP3293753A1 (en) 2018-03-14
CN107808810B (zh) 2022-01-04
JP2018056117A (ja) 2018-04-05
CN107808810A (zh) 2018-03-16
US10550829B2 (en) 2020-02-04
EP3293753B1 (en) 2019-07-31
US20180068836A1 (en) 2018-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6983012B2 (ja) イオンポンプ内のイオン軌道操作アーキテクチャ
TW200305185A (en) Ion beam mass separation filter and its mass separation method, and ion source using the same
US6320321B2 (en) Ion beam processing apparatus for processing work piece with ion beam being neutralized uniformly
US4471224A (en) Apparatus and method for generating high current negative ions
JPS6340241A (ja) イオンビ−ム装置
US20180306175A1 (en) Magnetic focusing in an ion pump using internal ferrous materials
US2921212A (en) Gun system comprising an ion trap
JP2003270400A (ja) 中性子発生管用pig型負イオン源
JPS60240039A (ja) イオン銃
JP3079494B2 (ja) スパッタイオンポンプ
RU2205467C2 (ru) Ионный источник
JP5663973B2 (ja) ガスクラスターイオンビーム装置
JPH0384838A (ja) 電子ビーム発生機用イオントラップ
GB1410262A (en) Field optical systems
JP2007234508A (ja) イオンビーム用質量フィルタ及びイオンビーム装置
JPH0750637B2 (ja) 高速原子線源
JP4263806B2 (ja) イオン発生方法およびイオン源
JPH08236030A (ja) 負イオン源
JP2791083B2 (ja) 負イオン源
JPS6276144A (ja) ビ−ムプラズマ型イオン銃
JPS5947423B2 (ja) 固体表面分析装置
JPH02234338A (ja) イオン源
JPH02199742A (ja) イオン源
JPH05174763A (ja) 空間電荷中和装置
JPH03190098A (ja) シンクロトロン放射光発生装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200616

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210510

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20210810

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211008

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20211025

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20211122

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6983012

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150