JP6960278B2 - 流量測定システムを検査する方法 - Google Patents

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Description

本開示の実施形態は、流量測定システムを検査する方法に関する。
基板処理では、チャンバ本体の内部空間の中に基板が配置され、当該内部空間にガスが供給され、供給されたガスによって基板が処理される。基板処理では、チャンバ本体の内部空間に供給されるガスの流量が、流量制御器によって制御される。ガスの流量の制御の精度は、基板処理の結果に影響する。したがって、流量制御器によって出力されるガスの流量が測定され、測定された流量を用いて基板処理のためのプロセスレシピが調整される。故に、ガスの流量が高精度に測定されることが必要である。
ガスの流量の測定手法の一つとして、ビルドアップ法が用いられている。ビルドアップ法については、特許文献1に記載されている。特許文献1に記載されたビルドアップ法では、ガス流路の容積が予め求められる。そして、ガス流路内の圧力の上昇速度、ガス流路内の温度、及び、求められた容積から、流量が求められる。
特開2012−32983号公報
ビルドアップ法では、その容積が求められたときのガス流路内の温度と、流量の算出に必要な他のパラメータが取得されるときのガス流路の温度とが異なると、ガスの流量を正確に求めることができない。したがって、ビルドアップ法で利用されるガス流路を提供する流量測定システムが、ガスの流量を正確に求めるのに適した状態にあるか否かを検査することが求められる。
一態様においては、基板処理システムにおいて用いられる流量測定システムを検査する方法が提供される。基板処理システムは、複数のチャンバ本体、複数のガス供給部、及び、複数の排気装置を備える。複数のガス供給部の各々は、複数のチャンバ本体のうち対応のチャンバ本体の内部空間にガスを供給するように構成されている。複数のガス供給部の各々は、筐体、複数の流量制御器、第1のガス流路、及び、第1のバルブを備える。複数の流量制御器は、筐体内に設けられている。第1のガス流路は、複数の第1の端部、第2の端部、及び、第3の端部を含む。複数の第1の端部は、複数の流量制御器の二次側にそれぞれ接続されている。複数の第1の端部、第2の端部、及び、複数の第1の端部から第2の端部まで延びる第1のガス流路の部分は、筐体内に設けられている。第3の端部は、筐体の外部に設けられており、対応のチャンバ本体の内部空間に開閉バルブを介して接続されている。第1のバルブは、筐体内に設けられており、第2の端部に接続されている。複数の排気装置は、複数のチャンバ本体の内部空間に複数の排気流路を介してそれぞれ接続されている。
流量測定システムは、第2のガス流路、第1の圧力センサ、第2の圧力センサ、温度センサ、第2のバルブ、及び、第3のガス流路を含む。第2のガス流路は、複数の第4の端部及び第5の端部を含む。複数の第4の端部の各々は、複数のガス供給部のうち対応のガス供給部の第1のバルブに接続されている。第1の圧力センサ及び第2の圧力センサは、第2のガス流路内の圧力を測定するように構成されている。温度センサは、第2のガス流路内の温度を測定するように構成されている。第2のバルブは、第2のガス流路の第5の端部に接続されている。第3のガス流路は、第6の端部及び複数の第7の端部を含む。第6の端部は、第2のバルブに接続されている。複数の第7の端部は、複数の排気流路にそれぞれ接続されている。
一態様に係る方法では、(i)複数のガス供給部のうち一つのガス供給部の第1のガス流路、第2のガス流路、及び、第3のガス流路を真空引きする工程と、(ii)真空引きする工程の実行後、一つのガス供給部の第1のガス流路及び第2のガス流路に、ガスを溜める工程であり、一つのガス供給部の第1のバルブが開かれ、第2のバルブが閉じられ、一つのガス供給部の第3の端部に接続された開閉バルブが閉じられる、該工程と、(iii)ガスを溜める工程の実行によって一つのガス供給部の第1のガス流路及び第2のガス流路にガスが溜められた状態で、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサをそれぞれ用いて、第2のガス流路内の圧力の第1の測定値及び第2の測定値を取得する工程と、(iv)第1の測定値及び第2の測定値を取得する工程の実行後、第2のガス流路内のガスを排気する工程であり、一つのガス供給部の第1のバルブが閉じられ、第2のバルブが開かれる、該工程と、(v)第2のガス流路内のガスを排気する工程の実行後に、第2のガス流路に、一つのガス供給部の第1のガス流路内のガスを拡散させる工程であり、一つのガス供給部の第1のバルブが開かれ、第2のバルブが閉じられる、該工程と、(vi)ガスを拡散させる工程の実行により一つのガス供給部の第1のガス流路内のガスが第2のガス流路に拡散した状態で、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサをそれぞれ用いて、第2のガス流路内の圧力の第3の測定値及び第4の測定値を取得する工程と、(vii)一つのガス供給部の第1のガス流路の容積の予め求められた第1の初期値、第1の測定値及び第2の測定値の一方、並びに、第3の測定値及び第4の測定値の一方から、第2のガス流路の容積の算出値を求める工程と、(viii)第2のガス流路の容積の予め求められた第2の初期値と算出値とを互いに比較する工程と、を含む。
上記基板処理システムの複数のガス供給部の各々は第1のガス流路を提供しており、上記流量測定システムは、ビルドアップ法に従ったガスの流量の算出において第1のガス流路と共に用いられる第2のガス流路を提供する。ビルドアップ法においてガスの流量を求めるためには、第1のガス流路の容積と第2のガス流路の容積が必要である。第1のガス流路は筐体内に配置されているので、第1のガス流路内の温度が周囲の環境から受ける影響は少ない。一方、第2のガス流路は、周囲の環境、例えば、複数のチャンバ本体のうち何れかの温度の影響を受け得る。第2のガス流路の容積は、第2の初期値として予め求められているが、第2の初期値が取得されたときの第2のガス流路内の温度が、ビルドアップ法でのガスの流量の算出に必要な他のパラメータが取得されるときの第2のガス流路内の温度と異なると、第2の初期値を用いる演算では高精度にガスの流量を算出することができない。一態様に係る方法では、流量測定システムの検査時に、第2のガス流路の容積の算出値が求められる。この算出値を取得するための一連の工程が実行されるときの第2のガス流路の温度が、第2の初期値が求められたときの第2のガス流路内の温度と異なっている場合には、当該算出値は第2の初期値とは異なる値となる。算出値と第2の初期値とが互いに異なる場合には、第2の初期値が求められたときの温度から第2のガス流路内の温度が変化しているので、当該第2の初期値を用いた演算では、高精度にガスの流量を求めることができない。一態様に係る方法では、かかる算出値と第2の初期値とが比較されるので、ビルドアップ法で利用される流量測定システムが、ガスの流量を正確に求めるのに適した状態にあるか否かを検査することが可能となる。
一実施形態において、方法は、一つのガス供給部の複数の流量制御器のうち選択された流量制御器によって出力されるガスの流量を求める工程を更に含む。ガスの流量を求める工程では、一つのガス供給部の第3の端部に接続された開閉バルブが閉じられ、第1のバルブが開かれ、且つ、第2のバルブが閉じられ、選択された流量制御器からガスが出力されている状態で、第2のガス流路内の圧力の上昇速度が求められ、第2のガス流路内の温度の測定値が温度センサによって取得される。第2の初期値と算出値との間の差の絶対値が所定値より小さい場合には、選択された流量制御器によって出力されたガスの流量が、上昇速度、温度の測定値、及び、第1の初期値と第2の初期値との和から、ビルドアップ法により求められる。第2の初期値と算出値との間の差の絶対値が所定値以上である場合には、選択された流量制御器によって出力された前記ガスの流量が、上昇速度、温度の測定値、及び、第1の初期値と算出値との和から、ビルドアップ法により求められる。
一実施形態において、方法は、第1の測定値と第2の測定値を互いに比較する工程を更に含む。第1の測定値及び第2の測定値は、第2のガス流路内の圧力の測定値である。したがって、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサが正常に動作してれば、第1の測定値と第2の測定値とは互いに略等しくなる。この実施形態では、かかる第1の測定値と第2の測定値とが互いに比較されるので、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサのうち少なくとも一方に異常が発生しているか否かを判定することができる。例えば、第1の測定値と第2の測定値との間に所定値以上の差がある場合には、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサのうち少なくとも一方に異常が発生していると判定することができる。第1の圧力センサ及び第2の圧力センサのうち少なくとも一方に異常が発生していると判定される場合には、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサは交換されてもよい。
一実施形態において、方法は、第3の測定値と第4の測定値を互いに比較する工程を更に含む。第3の測定値及び第4の測定値は、第2のガスの流路内の圧力の測定値である。したがって、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサが正常に動作してれば、第3の測定値と第4の測定値とは互いに略等しくなる。この実施形態では、かかる第3の測定値と第4の測定値とが互いに比較されるので、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサのうち少なくとも一方に異常が発生しているか否かを判定することができる。例えば、第3の測定値と第4の測定値との間に所定値以上の差がある場合には、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサのうち少なくとも一方に異常が発生していると判定することができる。第1の圧力センサ及び第2の圧力センサのうち少なくとも一方に異常が発生していると判定される場合には、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサは交換されてもよい。
一実施形態において、方法は、真空引きする工程の実行により第2のガス流路内のガスが排気された状態で、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサをそれぞれ用いて、第2のガス流路内の圧力の第5の測定値及び第6の測定値を取得する工程と、第5の測定値と第6の測定値とを互いに比較する工程と、を更に含む。第5の測定値及び第6の測定値は、第2のガス流路内のガスが排気されたときの第2のガスの流路内の圧力の測定値である。したがって、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサが正常に動作してれば、第5の測定値及び第6の測定値は共に略ゼロになる。この実施形態では、かかる第5の測定値と第6の測定値とが互いに比較されるので、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサのうち少なくとも一方がゼロ点のずれを有しているか否かを判定することができる。例えば、第5の測定値と第6の測定値との間に所定値以上の差がある場合には、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサのうち少なくとも一方がゼロ点のずれを有していると判定することができる。第1の圧力センサ及び第2の圧力センサのうち少なくとも一方がゼロ点のずれを有していると判定される場合には、第1の圧力センサ及び第2の圧力センサの双方のゼロ点が調整されてもよい。
一実施形態において、方法は、一つのガス供給部の複数の流量制御器のそれぞれの温度センサによって取得された温度測定値の平均値と予め定められた基準値とを互いに比較する工程を更に含む。複数のガス供給部の各々では、筐体内に複数の流量制御器が設けられているので、各ガス供給部の複数の流量制御器のそれぞれの温度センサの温度測定値は比較的安定しているべきである。この実施形態では、一つのガス供給部の複数の流量制御器のそれぞれの温度センサの温度測定値の平均値が求められ、当該平均値と基準値とが比較されるので、当該一つのガス供給部の筐体内の温度が異常な温度であるか否かを判定することが可能である。例えば、平均値と基準値との間に所定値以上の差がある場合には、当該一つのガス供給部の筐体内の温度が異常な温度であると判定することができる。
ガスを溜める工程の一実施形態において、一つのガス供給部の第1のガス流路及び第2のガス流路に溜められるガスは、液体の気化によって生成されるガスであり、第1のガス流路及び第2のガス流路に溜められる該ガスの圧力が該ガスの飽和蒸気圧より低い圧力に設定される。
以上説明したように、ビルドアップ法で利用されるガス流路を提供する流量測定システムが、ガスの流量を正確に求めるのに適した状態にあるか否かを検査することが可能となる。
一実施形態に係る流量測定システムを検査する方法を示す流れ図である。 一実施形態に係る基板処理システムを概略的に示す図である。 一例の圧力制御式の流量制御器の構造を示す図である。 第1の初期値及び第2の初期値を算出する方法を示すフローチャートである。
以下、図面を参照して種々の実施形態について詳細に説明する。なお、各図面において同一又は相当の部分に対しては同一の符号を附すこととする。
図1は、一実施形態に係る流量測定システムを検査する方法を示す流れ図である。図1に示す方法MTは、基板処理システムにおいて用いられる流量測定システムを検査するために実行される。図2は、一実施形態に係る基板処理システムを概略的に示す図である。方法MTは、図2に示す基板処理システム10に適用することが可能である。
基板処理システム10は、複数のチャンバ本体12、複数のガス供給部14、及び、複数の排気装置16を備えている。基板処理システム10において、チャンバ本体12の個数及び排気装置16の個数の各々はN個である。また、基板処理システム10において、ガス供給部14の個数は(N+1)個である。「N」は2以上の整数である。なお、以下の説明及び図面においては、基板処理システム10のN個又は(N+1)個の要素のうち一つの要素を参照する場合に、当該要素を表す参照符号の末尾に「i」の下付き文字を付加する。例えば、複数のチャンバ本体12のうち一つのチャンバ本体を参照する場合には、参照符号「12」を用いる。ここで、iは、1以上の整数である。基板処理システム10は、複数のプロセスモジュールを備えている。複数のプロセスモジュールの各々は、同一の番号iを有するチャンバ本体12、ガス供給部14、及び、排気装置16を含んでいる。
複数のチャンバ本体12の各々の内部空間の中には、基板処理のために、基板が収容される。複数のガス供給部14の各々は、複数のチャンバ本体12のうち対応のチャンバ本体の内部空間にガスを供給するように構成されている。具体的に、基板処理システム10では、ガス供給部14〜14はそれぞれ、チャンバ本体12〜12内にガスを供給するように構成されている。また、ガス供給部14N+1は、チャンバ本体12内にガスを供給するように構成されている。なお、ガス供給部14N+1は、複数のチャンバ本体12のうちチャンバ本体12以外の他のチャンバ本体の内部空間にも、ガスを供給するように構成されていてもよい。
複数のガス供給部14の各々は、筐体17、複数の流量制御器18、第1のガス流路20、及び、第1のバルブ22を有している。複数のガス供給部14の各々は、複数の一次バルブ24、及び、複数の二次バルブ26を更に有している。基板処理システム10では、N個のガス供給部14〜14の各々は、M個の流量制御器18、M個の一次バルブ24、及び、M個の二次バルブ26を有している。Mは、2以上の整数である。また、ガス供給部14N+1は、二つの流量制御器18、二つの一次バルブ24、及び、二つの二次バルブ26を有している。なお、以下の説明及び図面においては、複数のガス供給部14の各々の複数の要素のうち一つの要素を参照する場合に、当該要素を表す参照符号の末尾に「j」の下付き文字を付加する。例えば、複数の流量制御器18のうち一つの流量制御器を参照する場合には、参照符号「18」を用いる。ここで、jは、1以上の整数である。
筐体17は、内部空間を提供する容器である。複数の流量制御器18は、筐体17内に収容されている。複数のガス供給部14の複数の流量制御器18のうち、ガス供給部14N+1の流量制御器18以外の流量制御器は、マスフローコントローラ又は圧力制御式の流量制御器である。図3は、一例の圧力制御式の流量制御器の構造を示す図である。図3に示す流量制御器FCは、複数のガス供給部14の複数の流量制御器18のうち、ガス供給部14N+1の流量制御器18以外の流量制御器として用いられ得る。
流量制御器FCは、コントロールバルブCV、流路IL、オリフィス部材OF、圧力センサFP1、温度センサFT、圧力センサFP2を有している。流路ILの一端は一次バルブに接続される。流路ILの他端は二次バルブに接続される。オリフィス部材OFは、流路ILの一端と他端との間において、流路ILの断面積を部分的に縮小させている。オリフィス部材OFの上流側では、流路IL上にコントロールバルブCVが設けられている。圧力センサFP1は、コントロールバルブCVとオリフィス部材OFとの間、即ちオリフィス部材OFの一次側において、流路IL内の圧力を測定するように構成されている。温度センサFTは、コントロールバルブCVとオリフィス部材OFとの間、即ちオリフィス部材OFの一次側において、流路IL内の温度を測定するように構成されている。また、圧力センサFP2は、オリフィス部材OFと流路ILの他端との間で、流路IL内の圧力を測定するように構成されている。
流量制御器FCでは、オリフィス部材OFの一次側(上流側)における圧力がオリフィス部材OFの下流側(二次側)における流路ILの圧力の2倍以上である場合には、圧力センサFP1によって取得された圧力の測定値から求められる流量と設定流量との差を減少させるよう、制御部CUによってコントロールバルブCVの開度が制御される。一方、オリフィス部材OFの一次側(上流側)における圧力がオリフィス部材OFの下流側(二次側)における流路ILの圧力の2倍よりも小さい場合には、圧力センサFP1によって取得された圧力の測定値と圧力センサFP2によって取得された圧力の測定値との差から求められる流量と設定流量との差を減少させるよう、制御部CUによってコントロールバルブCVの開度が制御される。なお、流量制御器FCは、オリフィス部材OFの一次側(上流側)における圧力がオリフィス部材OFの下流側(二次側)における流路ILの圧力の2倍以上である状態で利用される場合には、圧力センサFP2を有していなくてもよい。
図2を再び参照する。上述したように、複数のガス供給部14の複数の流量制御器18のうち、ガス供給部14N+1の流量制御器18以外の流量制御器の各々は、マスフローコントローラであってもよい。マスフローコントローラは、圧力制御式の流量制御器と同様に温度センサを有する。ガス供給部14N+1の流量制御器18は、マスフローコントローラであり、且つ、液体を気化させる機能を有し得る。
複数の流量制御器18の一次側にはそれぞれ、複数の一次バルブ24が接続されている。複数の一次バルブ24のうちガス供給部14N+1の一次バルブ24以外の一次バルブの各々は、その一次側(上流側)に設けられた対応のガスソースに接続されている。ガス供給部14N+1の一次バルブ24は、その一次側に設けられた液体ソースに接続されている。複数の流量制御器18の二次側にはそれぞれ、複数の二次バルブ26が接続されている。
第1のガス流路20は、複数の第1の端部20a、第2の端部20b、及び、第3の端部20cを含んでいる。複数の第1の端部20aは、複数の二次バルブ26を介して複数の流量制御器18の二次側に接続されている。第1のガス流路20は、複数の第1の端部20aから延びる複数の流路を含んでおり、当該複数の流路は共通の流路に接続している。第1のガス流路20の共通の流路の一端は、第2の端部20bである。複数の第1の端部20aから第2の端部20bまで延びる第1のガス流路20の部分は、筐体17内に設けられている。第3の端部20cは、筐体17の外部に設けられている。第3の端部20cを含む流路は第1のガス流路20の上記の共通の流路に接続している。第3の端部20cは、対応の開閉バルブ30(30i)を介して複数のチャンバ本体12のうち対応のチャンバ本体の内部空間に接続されている。第2の端部20bには第1のバルブ22が接続されている。第1のバルブ22は、筐体17内に設けられている。
基板処理システム10は、複数の圧力制御弁32、複数のターボ分子ポンプ34、及び、複数の排気流路36、及び、複数のバルブ38を備えている。複数の圧力制御弁32の各々は、例えば自動圧力制御弁である。圧力制御弁32iは、対応のチャンバ本体12iの内部空間の圧力を調整するように構成されている。排気流路36iは、圧力制御弁32i及びターボ分子ポンプ34iを介して、対応のチャンバ本体12iの内部空間に接続されている。排気流路36i上には、バルブ38iが設けられている。バルブ38iの下流では、排気装置16iが排気流路36iに接続されている。複数の排気装置16の各々は例えばドライポンプであり得る。
図2に示すように、基板処理システム10には、複数の流量制御器18の各々によって出力されるガスの流量を測定するために、流量測定システム40が接続されている。流量測定システム40は、ビルドアップ法に従ったガスの流量の測定において利用されるガス流路、及び、各種センサを提供している。具体的に、流量測定システム40は、第2のガス流路42、第1の圧力センサPA、第2の圧力センサPB、温度センサTS、第2のバルブ44、及び、第3のガス流路46を備えている。
第2のガス流路42は、複数の第4の端部42a及び第5の端部42bを含んでおり、複数の第4の端部42aから第5の端部42bまで延びている。複数の第4の端部42aは、複数のガス供給部14のうち対応のガス供給部の第1のバルブ22に接続されている。第2のガス流路42は、複数の第4の端部42aをそれぞれ含む複数の流路、及び、当該複数の流路が接続する共通の流路を含んでいる。第2のガス流路42の共通の流路は、第5の端部42bを含んでいる。
第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBの各々は、第2のガス流路42内の圧力を測定するように構成されている。温度センサTSは、第2のガス流路42内の温度を測定するように構成されている。第2のバルブ44は、第2のガス流路42の第5の端部42bに接続されている。第3のガス流路46は、第6の端部46a及び複数の第7の端部46bを含んでおり、第6の端部46aから複数の第7の端部46bまで延びている。第6の端部46aは、第2のバルブ44に接続されている。第3のガス流路46は、第6の端部46aを含む共通の流路からN個の流路に分岐している。複数の第7の端部46bは、第3のガス流路46のN個の流路の端部であり、複数の排気流路36にそれぞれ接続されている。第3のガス流路46のN個の流路上には、N個のバルブ48がそれぞれ設けられている。
一実施形態において、流量測定システム40は、バルブ50を更に備え得る。バルブ50の第1のポートは第2のガス流路42に接続されている。この実施形態において、第2のガス流路42は、バルブ50の第1のポートから延びる流路を更に含んでいる。バルブ50の第2のポートには、基準器60を接続することが可能である。基準器60は、タンク62、バルブ64、圧力センサ66、及び、温度センサ68を備えている。圧力センサ66は、タンク62内の圧力を測定するように構成されている。温度センサ68は、タンク62内の温度を測定するように構成されている。バルブ64の第2ポートは、タンク62の内部空間に接続されている。バルブ64の第1ポートは、バルブ50の第2ポートに接続され得る。なお、バルブ64の第1ポートとバルブ50の第2ポートとの間の接続は解除可能である。即ち、基準器60は、流量測定システム40から切り離すことが可能である。タンク62の内部空間は、既知の容積V62を有している。この容積V62は、タンク62とバルブ50の第2ポートとの間の流路の容積を含む。或いは、タンク62とバルブ50の第2ポートの間の流路の容積は、無視できる程度に小さい。
一実施形態において、基板処理システム10は、主制御部MUを更に備え得る。主制御部MUは、CPUといったプロセッサ、メモリといった記憶装置、キーボードといった入力装置、表示装置等を有するコンピュータ装置であり得る。主制御部MUは、記憶装置に記憶されている制御プログラムをプロセッサによって実行し、記憶装置に記憶されているレシピデータに従って基板処理システム10の各部及び流量測定システム40の各部を制御する。なお、方法MTは、主制御部MUによる基板処理システム10の各部及び流量測定システム40の各部の制御によって実施されてもよい。
方法MTでは、第1の初期値VD1及び第2の初期値VD2が利用される。第1の初期値VD1は、検査対象のガス供給部14iの第1のガス流路20の容積であり、方法MTの実行前に予め求められた当該容積である。第2の初期値VD2は、方法MTの実行前に予め求められた第2のガス流路42の容積である。なお、方法MTの実行前に、全てのガス供給部14の各々について、第1の初期値、すなわち、第1のガス流路20の容積が求められてもよい。第1のガス流路20の容積はガス供給部のガスの流量制御の応答性に影響する。即ち、第1のガス流路20の容積が小さければ、ガスの流量制御の応答性は高くなる。したがって、全てのガス供給部14の第1のガス流路20の容積を予め求めることにより、ガス供給部14の各々の応答性を把握することができる。
図4は、第1の初期値及び第2の初期値を算出する方法を示すフローチャートである。図4に示す方法MTDの実行時には、基準器60が流量測定システム40に接続される。即ち、基準器60のバルブ64の第1ポートが、バルブ50の第2ポートに接続される。
図4に示すように、方法MTDでは、まず、工程STaが実行される。工程STaでは、第1の圧力センサPA、第2の圧力センサPB、及び、温度センサTSの較正が行われる。工程STaでは、複数のガス供給部14のうち一つのガス供給部14i(即ち、検査対象のガス供給部14i)の第1のバルブ22、バルブ50、及び、バルブ64が開かれ、第2のバルブ44が閉じられる。複数のガス供給部14のうち他のガス供給部の各々の第1のバルブ22は閉じられる。そして、ガス供給部14iの複数の流量制御器18のうち少なくとも一つの流量制御器によって出力されたガスが、ガス供給部14iの第1のガス流路20、第2のガス流路42、タンク62の内部空間、及び、タンク62と第2のガス流路42とを接続する流路に溜められる。次いで、ガス供給部14iの複数の流量制御器18からのガスの出力が停止される。例えば、ガス供給部14iの複数の二次バルブ26が閉じられる。そして、第2のガス流路42内の圧力及びタンク62内の圧力が安定した後に、第1の圧力センサPAの圧力の測定値及び第2の圧力センサPBの圧力の測定値が圧力センサ66の圧力の測定値に一致するように、第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBが較正され、また、温度センサTSの温度の測定値が温度センサ68の温度の測定値と一致するように、温度センサTSが較正される。しかる後に、ガス供給部14iの第1のガス流路20、第2のガス流路42、タンク62の内部空間、及び、タンク62と第2のガス流路42とを接続する流路内のガスが排気される。
方法MTDでは、次いで、工程STbが実行される。工程STbでは、ガス供給部14iの第1のガス流路20及び第2のガス流路42にガスが溜められる。工程STbでは、ガス供給部14iの第1のバルブ22が開かれる。第2のバルブ44、バルブ50、及び、複数のガス供給部14のうち他のガス供給部の各々の第1のバルブ22は閉じられる。そして、ガス供給部14iの複数の流量制御器18のうち少なくとも一つの流量制御器によって出力されたガスが、ガス供給部14iの第1のガス流路20及び第2のガス流路42に溜められる。そして、ガス供給部14iの複数の流量制御器18からのガスの出力が停止される。例えば、ガス供給部14iの複数の二次バルブ26が閉じられる。
次いで、工程STcが実行される。工程STcでは、工程STbの実行によりガス供給部14iの第1のガス流路20及び第2のガス流路42にガスが溜められた状態で、第1の圧力センサPA又は第2の圧力センサPBにより圧力の測定値PD1が取得される。
次いで、工程STdが実行される。工程STdでは、ガス供給部14iの第1のガス流路20及び第2のガス流路42に溜められているガスが、タンク62内に拡散される。具体的に、工程STdでは、バルブ50及びバルブ64が開かれる。
次いで、工程STeが実行される。工程STeでは、第1の圧力センサPA、第2の圧力センサPB、及び、圧力センサ66のうち何れかにより圧力の測定値PD2が取得される。
圧力の測定値PD1及び圧力の測定値PD2は、工程STcの実行時の第2のガス流路42内の温度と工程STeの実行時の第2のガス流路42内の温度が互いに略等しいとの前提の下では、ボイルシャルルの法則に従い、以下の(1)式の関係を満たす。
D1×VSUM=PD2×(VSUM+V62) …(1)
(1)式において、VSUMは、ガス供給部14iの第1のガス流路20の容積と第2のガス流路42の容積との和であり、V62は、タンク62の内部空間の既知の容積である。(1)式を変形すると、以下の(1a)式が得られる。
SUM=V62×PD2/(PD1−PD2) …(1a)
方法MTDの工程STfでは、(1a)式の演算により、ガス供給部14iの第1のガス流路20の容積と第2のガス流路42の容積との和VSUMが求められる。
なお、工程STeの実行中の温度センサTSの温度の測定値と温度センサ68の温度の測定値とが互いに異なる場合には、圧力の測定値PD1及び圧力の測定値PD2は、ボイルシャルルの法則に従い、以下の(1b)式の関係を満たす。
D1×VSUM/TSC=PD2×VSUM/TSE+PD2×V62/T68 …(1b)
(1b)式において、TSCは、工程STcの実行中に温度センサTSによって測定された温度の測定値であり、TSEは、工程STeの実行中に温度センサTSによって測定された温度の測定値であり、T68は、工程STeの実行中に温度センサ68によって測定された温度の測定値である。(1b)式を変形すると、以下の(1c)式が得られる。
SUM=V62×PD2/T68/(PD1/TSC−PD2/TSE) …(1c)
工程STeの実行中の温度センサTSの温度の測定値と温度センサ68の温度の測定値とが互いに異なる場合には、方法MTDの工程STfでは、(1c)式の演算により、ガス供給部14iの第1のガス流路20の容積と第2のガス流路42の容積との和VSUMが求められる。
次いで、方法MTDでは、ガス供給部14iの第1のガス流路20、第2のガス流路42、タンク62の内部空間、及び、タンク62と第2のガス流路42とを接続する流路内のガスが排気される。そして、工程STgが実行される。工程STgでは、ガス供給部14iの第1のガス流路20及び第2のガス流路42にガスが溜められる。工程STgでは、ガス供給部14iの第1のバルブ22が開かれる。第2のバルブ44、バルブ50、及び、複数のガス供給部14のうち他のガス供給部の各々の第1のバルブ22は閉じられる。そして、ガス供給部14iの複数の流量制御器18のうち少なくとも一つの流量制御器によって出力されたガスが、ガス供給部14iの第1のガス流路20及び第2のガス流路42に溜められる。そして、ガス供給部14iの複数の流量制御器18からのガスの出力が停止される。例えば、ガス供給部14iの複数の二次バルブ26が閉じられる。
次いで、工程SThが実行される。工程SThでは、工程STgの実行によりガス供給部14iの第1のガス流路20及び第2のガス流路42にガスが溜められた状態で、第1の圧力センサPA又は第2の圧力センサPBにより圧力の測定値PD3が取得される。
次いで、工程STkが実行される。工程STkでは、第2のガス流路42内のガスが排気される。具体的には、ガス供給部14iの第1のバルブ22が閉じられ、第2のバルブ44が開かれ、複数の排気装置16のうち少なくとも一つの排気装置に接続されたバルブ48が開かれる。なお、方法MT及び方法MTDの実行中には、複数のバルブ48は継続的に開かれていてもよい。
次いで、工程STmが実行される。工程STmでは、ガス供給部14iの第1のガス流路20内のガスが、第2のガス流路42に拡散される。具体的には、第2のバルブ44が閉じられ、ガス供給部14iの第1のバルブ22が開かれる。
次いで、工程STnが実行される。工程STnでは、ガス供給部14iの第1のガス流路20内のガスが、第2のガス流路42に拡散している状態で、第1の圧力センサPA又は第2の圧力センサPBにより圧力の測定値PD4が取得される。
圧力の測定値PD3及び圧力の測定値PD4は、工程SThの実行時のガス供給部14iの第1のガス流路20内の温度と工程STnの実行時の第2のガス流路42の温度が互いに略等しいとの前提の下では、ボイルシャルルの法則に従い、以下の(2)式の関係を満たす。
D3×V=PD4×(V+V) …(2)
(2)式において、Vは、ガス供給部14iの第1のガス流路20の容積であり、Vは、第2のガス流路42の容積である。(2)式を変形すると、以下の(2a)式が得られる。
=V×(PD3−PD4)/PD4 …(2a)
また、VとVとの和は、VSUMに等しいので、以下の(3)式が満たされる。
=VSUM−V …(3)
(3)式を(2a)式を用いて変形すると、以下の(3a)式が得られる。
=VSUM/(1+(PD3−PD4)/PD4) …(3a)
また、(3)式の変形として、以下の(3b)式が得られる。
=VSUM−V …(3b)
方法MTDの工程STpでは、(3a)式の演算により求められるVがガス供給部14iの第1のガス流路20の容積の第1の初期値VD1として取得される。また、(3b)式の演算により求められるVが第2のガス流路42の容積の第2の初期値VD2として取得される。
なお、工程STkでは、第2のガス流路42内のガスが完全に排気されなくてもよい。この場合には、工程ST12において排気された状態の第2のガス流路42内の圧力の測定値PD5が取得される。圧力の測定値PD5は、第1の圧力センサPAの測定値、第2の圧力センサPBの測定値、又は、これら測定値の平均値であり得る。測定値PD5が第1の圧力センサPAの測定値である場合には、測定値PD3及び測定値PD4の各々も第1の圧力センサPAの測定値である。測定値PD5が第2の圧力センサPBの測定値である場合には、測定値PD3及び測定値PD4の各々も第2の圧力センサPBの測定値である。或いは、測定値PD5が第1の圧力センサPAの測定値と第2の圧力センサPBの測定値の平均値である場合には、測定値PD3及び測定値PD4の各々も第1の圧力センサPAの測定値と第2の圧力センサPBの測定値の平均値である。ここで、ボイルシャルルの法則から、以下の(3c)式が成立する。
D3×V+PD5×V=PD4×(V+V) …(3c)
(3c)式からは、以下の(3d)式が得られる。
=VSUM/(1+(PD3−PD4)/(PD4−PD5)) …(3d)
方法MTDの工程STpでは、(3d)式の演算により求められるVがガス供給部14iの第1のガス流路20の容積の第1の初期値VD1として取得され、(3b)式の演算により求められるVが第2のガス流路42の容積の第2の初期値VD2として取得されてもよい。(3c)式によれば、同一の圧力センサによって取得された圧力の測定値の差、又は、二つの圧力センサによって取得された圧力の測定値の平均値の差が利用される。したがって、圧力センサがゼロ点のずれを有していても、(3c)式の演算において当該圧力センサのゼロ点のズレが相殺される。
以下、再び図1を参照する。方法MTの実行時には、バルブ50が閉じられ、基準器60は、流量測定システム40から切り離され得る。そして、方法MTでは、工程ST1が実行される。工程ST1では、検査を開始するか否かが判定される。検査は、基板処理システム10の複数のプロセスモジュールのうち、基板処理を実行していない一つのプロセスモジュールのガス供給部14iを用いて実行される。検査を開始するか否かは、オペレータによって(人手で)判定されてもよい。或いは、検査を開始するか否かは、主制御部MUによって自動的に判定されてもよい。例えば、前回の検査、即ち、ガス供給部14iを用いた方法MTの前回の実行からの経過時間が所定時間以上である場合に、検査が開始されるものと判定されてもよい。或いは、ガス供給部14iの流量制御器18jによって出力されるガスの流量をビルドアップ法により求め、求められたガスの流量が、流量制御器18jによって出力されたガスの以前に求められた流量に対して所定値以上異なっている場合に、検査が開始されるものと判定されてもよい。工程ST1において、検査を開始しないものと判定されると、方法MTは終了する。一方、工程ST1において、検査を開始するものと判定されると、工程ST2が実行される。
工程ST2では、ガス供給部14iの複数の流量制御器18のそれぞれの温度センサ(例えば、温度センサFT)によって取得された温度測定値の平均値Taveと予め定められた基準値Trefとが互いに比較される。工程ST2では、例えば、平均値Taveと基準値Trefとの間の差の絶対値が所定値Tthよりも小さいか否かが判定される。基準値Trefは、ガス供給部14iの筐体17の温度が安定しているか否かを判定するために予め定められた値である。複数のガス供給部14の各々では、筐体17内に複数の流量制御器18が設けられているので、各ガス供給部の複数の流量制御器18のそれぞれの温度センサの温度測定値は比較的安定しているべきである。工程ST2では、平均値Taveと基準値Trefとが比較されるので、ガス供給部14iの筐体17内の温度が異常な温度であるか否かを判定することが可能である。例えば、平均値Taveと基準値Trefとの間に所定値Tth以上の差がある場合には、ガス供給部14iの筐体17内の温度が異常な温度であると判定することができる。ガス供給部14iの筐体17内の温度が異常な温度であると判定される場合には、例えばアラーム信号が発生されて、方法MTが終了する。一方、平均値Taveと基準値Trefとの間の差が所定値Tthよりも小さい場合には、工程ST3が実行される。
工程ST3では、ガス供給部14iの第1のガス流路20、第2のガス流路42、及び、第3のガス流路46が真空引きされる。具体的には、ガス供給部14iの第1のバルブ22、及び、第2のバルブ44が開かれる。また、複数の排気装置16のうち少なくとも一つの排気装置に接続されたバルブ48、例えば、排気装置16iに接続されたバルブ48iが開かれる。なお、上述したように、方法MTの実行中には、複数のバルブ48は継続的に開かれていてもよい。また、工程ST3では、複数のガス供給部14のうちガス供給部14i以外のガス供給部の各々の第1のバルブ22が閉じられる。
次いで、工程ST4が実行される。工程ST4では、工程ST3の実行により第2のガス流路42内のガスが排気された状態で、第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBをそれぞれ用いて、第2のガス流路42内の圧力の測定値PA0(第5の測定値)及び測定値PB0(第6の測定値)が取得される。即ち、第1の圧力センサPAによって測定値PA0が取得され、第2の圧力センサPBによって測定値PB0が取得される。
続く工程ST5では、測定値PA0と測定値PB0とが互いに比較される。測定値PA0及び測定値PB0は、第2のガス流路42内のガスが排気されたときの第2のガス流路42内の圧力の測定値である。したがって、第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBが正常に動作してれば、測定値PA0及び測定値PB0は共に略ゼロになる。工程ST5では、かかる測定値PA0と測定値PB0とが互いに比較されるので、第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBのうち少なくとも一方がゼロ点のずれを有しているか否かを判定することができる。工程ST5では、例えば、測定値PA0と測定値PB0との間の差の絶対値が所定値Pth0よりも小さいか否かが判定される。測定値PA0と測定値PB0との間の差の絶対値が所定値Pth0以上である場合には、第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBのうち少なくとも一方がゼロ点のずれを有していると判定することができる。
第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBのうち少なくとも一方がゼロ点のずれを有していると判定される場合には、工程ST7において行われる第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBの各々のゼロ点の調整が1回目のゼロ点の調整か否かが、工程ST6において判定される。工程ST7において行われるゼロ点の調整が1回目のゼロ点の調整である場合には、工程ST7が実行され、第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBの各々のゼロ点の調整が行われ、工程ST4に戻る。一方、工程ST7において行われる第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBの各々のゼロ点の調整が1回目のゼロ点の調整でない場合には、工程ST8において第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBが交換され、方法MTが終了する。
工程ST5において、測定値PA0と測定値PB0との間の差の絶対値が所定値Pth0よりも小さいと判定される場合には、工程ST9が実行される。工程ST9では、ガス供給部14iの第1のガス流路20及び第2のガス流路42にガスが溜められる。工程ST9では、ガス供給部14iの第1のバルブ22が開かれ、第2のバルブ44が閉じられ、開閉バルブ30iが閉じられる。また、複数のガス供給部14のうちガス供給部14i以外のガス供給部の各々の第1のバルブ22が閉じられる。そして、ガス供給部14iの複数の流量制御器18のうち少なくとも一つの流量制御器によって出力されたガスが、ガス供給部14iの第1のガス流路20及び第2のガス流路42に溜められる。そして、ガス供給部14iの複数の流量制御器18からのガスの出力が停止される。例えば、ガス供給部14iの複数の二次バルブ26が閉じられる。
次いで、工程ST10が実行される。工程ST10では、工程ST9の実行によりガス供給部14iの第1のガス流路20及び第2のガス流路42にガスが溜められた状態で、第1の圧力センサPAによって圧力の測定値PA1(第1の測定値)が取得され、第2の圧力センサPBによって圧力の測定値PB1(第2の測定値)が取得される。
次いで、工程ST11が実行される。工程ST11では、測定値PA1と測定値PB1とが互いに比較される。第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBが正常に動作してれば、測定値PA1と測定値PB1とは互いに略等しくなる。工程ST11では、かかる測定値PA1と測定値PB1とが互いに比較されるので、第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBのうち少なくとも一方に異常が発生しているか否かを判定することができる。例えば、測定値PA1と測定値PB1との間に所定値Pth1以上の差がある場合には、第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBのうち少なくとも一方に異常が発生していると判定することができる。第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBのうち少なくとも一方に異常が発生していると判定される場合には、工程ST8において第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBが交換される。一方、測定値PA1と測定値PB1との間の差が所定値Pth1よりも小さい場合には、工程ST12が実行される。
工程ST12では、第2のガス流路42内のガスが排気される。具体的には、ガス供給部14iの第1のバルブ22が閉じられ、第2のバルブ44が開かれ、複数の排気装置16のうち少なくとも一つの排気装置に接続されたバルブ48が開かれる。例えば、排気装置16iに接続されたバルブ48iが開かれる。なお、方法MTの実行中には、複数のバルブ48は継続的に開かれていてもよい。
次いで、工程ST13が実行される。工程ST13では、ガス供給部14iの第1のガス流路20内のガスが、第2のガス流路42に拡散される。具体的には、第2のバルブ44が閉じられ、ガス供給部14iの第1のバルブ22が開かれる。
次いで、工程ST14が実行される。工程ST14では、工程ST13の実行によりガス供給部14iの第1のガス流路20のガスが第2のガス流路42に拡散した状態で、第1の圧力センサPAによって圧力の測定値PA2(第3の測定値)が取得され、第2の圧力センサPBによって圧力の測定値PB2(第4の測定値)が取得される。
次いで、工程ST15が実行される。工程ST15では、測定値PA2と測定値PB2とが互いに比較される。第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBが正常に動作してれば、測定値PA2と測定値PB2とは互いに略等しくなる。工程ST15では、かかる測定値PA2と測定値PB2とが互いに比較されるので、第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBのうち少なくとも一方に異常が発生しているか否かを判定することができる。例えば、測定値PA2と測定値PB2との間に所定値Pth2以上の差がある場合には、第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBのうち少なくとも一方に異常が発生していると判定することができる。第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBのうち少なくとも一方に異常が発生していると判定される場合には、工程ST8において第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBが交換される。一方、測定値PA2と測定値PB2との間の差が所定値Pth2よりも小さい場合には、工程ST16が実行される。
工程ST16では、第2のガス流路の容積の算出値Vが取得される。工程ST16においては、算出値Vを求めるために、測定値PA1と測定値PB1のうち一方、及び、測定値PA2と測定値PB2のうち一方が用いられる。或いは、算出値Vを求めるために、測定値PA1と測定値PB1の平均値が用いられてもよい。また、算出値Vを求めるために、測定値PA2と測定値PB2の平均値が用いられてもよい。以下の説明では、算出値Vを求めるために、測定値PA1と測定値PA2が用いられるものとする。
ガス供給部14iの第1のガス流路20の容積V、第2のガス流路の容積V、測定値PA1と測定値PA2は、ボイルシャルルの法則から、以下の(4)式の関係を満たす。
×PA1=(V+V)×PA2 …(4)
(4)式を変形すると、以下の(4a)式が得られる。
=V×(PA1−PA2)/PA2 …(4a)
したがって、(4a)式の容積Vに第1の初期値VD1を代入することにより、第2のガス流路の容積の算出値Vを、以下の(4b)式の演算で求めることができる。
=VD1×(PA1−PA2)/PA2 …(4b)
工程ST16では、(4b)式の演算により、算出値Vが求められる。
なお、工程ST12において、第2のガス流路42内のガスが完全に排気されてなくてもよい。この場合には、工程ST12において排気された状態の第2のガス流路42内の圧力の測定値PA3が第1の圧力センサPAによって取得される。ここで、ボイルシャルルの法則から、以下の(4c)式が成立する。
×PA1+V×PA3=(V+V)×PA2 …(4c)
(4c)式を変形すると、以下の(4d)式が得られる。
=V×(PA1−PA2)/(PA2−PA3) …(4d)
(4d)式の容積Vに第1の初期値VD1を代入することにより、第2のガス流路の容積の算出値Vを、以下の(4e)式の演算で求めることができる。
=VD1×(PA1−PA2)/(PA2−PA3) …(4e)
工程ST16では、(4e)式の演算により、算出値Vが求められてもよい。なお、測定値PA1、測定値PA2、測定値PA3の代わりに、工程ST10、工程ST14、工程ST12のそれぞれにおいて第2の圧力センサPBによって取得された圧力の測定値PB1、圧力の測定値PB2、圧力の測定値PB3が用いられてもよい。或いは、測定値PA1、測定値PA2、測定値PA3の代わりに、測定値PA1と測定値PB1の平均値、測定値PA2と測定値PB2の平均値、測定値PA3と測定値PB3の平均値がそれぞれ用いられてもよい。かかる算出値Vの演算によれば、同一の圧力センサによって取得された圧力の測定値の差、又は、二つの圧力センサによって取得された圧力の測定値の平均値の差が利用される。したがって、圧力センサがゼロ点のずれを有していても、算出値Vの演算において当該圧力センサのゼロ点のズレが相殺される。
次いで、工程ST17が実行される。工程ST17では、第2の初期値VD2と算出値Vとが互いに比較される。方法MTでは、後述するように、ビルドアップ法に従ったガスの流量の算出において、第1のガス流路20の容積と第2のガス流路42の容積が用いられる。第1のガス流路20は筐体17内に配置されているので、第1のガス流路20内の温度が周囲の環境から受ける影響は少ない。一方、第2のガス流路42は、周囲の環境、例えば、複数のチャンバ本体12(或いは複数のプロセスモジュール)のうち何れかの温度の影響を受け得る。第2のガス流路42の容積は、第2の初期値VD2として予め求められているが、第2の初期値VD2が取得されたときの第2のガス流路42内の温度が、ビルドアップ法でのガスの流量の算出に必要な他のパラメータが取得されるときの第2のガス流路42内の温度と異なると、第2の初期値VD2を用いる演算では高精度にガスの流量を算出することができない。方法MTでは、流量測定システム40の検査時に、第2のガス流路42の容積の算出値Vが求められる。この算出値Vを取得するための一連の工程が実行されるときの第2のガス流路42の温度が、第2の初期値VD2が求められたときの第2のガス流路42内の温度と異なっている場合には、当該算出値Vは第2の初期値VD2とは異なる値となる。算出値Vと第2の初期値VD2とが互いに異なる場合には、第2の初期値VD2が求められたときの温度から第2のガス流路42内の温度が変化しているので、当該第2の初期値VD2を用いた演算では、高精度にガスの流量を求めることができない。方法MTでは、算出値Vと第2の初期値VD2とが比較されるので、ビルドアップ法で利用される流量測定システムが、ガスの流量を正確に求めるのに適した状態にあるか否かを検査することが可能となる。
工程ST17では、例えば、算出値Vと第2の初期値VD2との間の差の絶対値が所定値Vthよりも小さいか否かが判定される。算出値Vと第2の初期値VD2との間の差の絶対値が所定値Vthよりも小さい場合には、後述の流量の算出(工程ST21)において用いられる第2のガス流路42の容積VR2として、第2の初期値VD2が設定される(工程ST18)。一方、算出値Vと第2の初期値VD2との間の差の絶対値が所定値Vth以上である場合には、容積VR2として、算出値Vが設定される(工程ST19)
次いで、工程ST20が実行される。工程ST20では、第2のガス流路42内の圧力の上昇速度(ΔP/Δt)、及び、第2のガス流路42内の温度の測定値Tが取得される。工程ST20では、ガス供給部14iの第1のバルブ22、第2のバルブ44、及び、バルブ48iが開かれる。なお、複数のバルブ48の全てが開かれていてもよい。また、工程ST20では、開閉バルブ30iが閉じられる。そして、ガス供給部14iの複数の流量制御器18のうち選択された流量制御器18jによってガスが出力されて、ガス供給部14iの第1のガス流路20及び第2のガス流路42に供給される。
工程ST20では、第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBのうち一方の圧力センサの圧力の測定値が安定していると判断されると、第2のバルブ44が閉じられる。なお、一方の圧力センサの圧力の測定値は、当該測定値の変動量が所定の変動量以下である場合に安定していると判定され得る。
そして、工程ST20では、第2のガス流路42内の圧力の上昇速度(ΔP/Δt)、即ち、第1の圧力センサPA及び第2の圧力センサPBのうち一方の圧力センサの圧力の測定値の上昇速度が求められる。また、第2のガス流路42内の温度の測定値Tが温度センサTSによって取得される。
次いで、工程ST21が実行される。工程ST21では、ガス供給部14iの選択された流量制御器18jによって出力されたガスの流量Qが以下の(5)式により求められる。
Q=(ΔP/Δt)×(VD1+VR2)×C/T …(5)
(5)式において、Cは22.4/Rであり、Rは気体定数である。方法MTでは、かかる演算により、高精度に流量Qが求められる。
なお、流量Qは、ガス供給部14iの全ての流量制御器18について求められてもよい。また、複数のガス供給部14の全てに対して、方法MTが順に実行されてもよい。ガス供給部14N+1に対して、方法MTが実行される場合には、ガス供給部14N+1の流量制御器18によって第1のガス流路20及び第2のガス流路42に溜められるガスの圧力は、当該ガスの飽和蒸気圧よりも低い圧力に設定される。なお、飽和蒸気圧よりも低い圧力に設定されるガスの圧力とは、液体の気化によって生成されたガスが単体のガスとして用いられる場合には、当該単体のガスの圧力であり得る。液体の気化によって生成されたガスと他のガスの混合ガスが用いられる場合には、飽和蒸気圧よりも低い圧力に設定されるガスの圧力とは、液体の気化によって生成されたガスの分圧である。
以上、種々の実施形態について説明してきたが、上述した実施形態に限定されることなく種々の変形態様を構成可能である。例えば、変形態様における基板処理システムは、ガス供給部14N+1を備えていなくてもよい。
10…基板処理システム、12…チャンバ本体、14…ガス供給部、16…排気装置、17…筐体、18…流量制御器、20…第1のガス流路、22…第1のバルブ、30…開閉バルブ、36…排気流路、40…流量測定システム、42…第2のガス流路、44…第2のバルブ、46…第3のガス流路、PA…第1の圧力センサ、PB…第2の圧力センサ、TS…温度センサ。

Claims (7)

  1. 基板処理システムにおいて用いられる流量測定システムを検査する方法であって、
    前記基板処理システムは、
    複数のチャンバ本体と、
    各々が前記複数のチャンバ本体のうち対応のチャンバ本体の内部空間にガスを供給するように構成された複数のガス供給部であり、各々が、
    筐体と、
    前記筐体内に設けられた複数の流量制御器と、
    前記複数の流量制御器の二次側にそれぞれ接続された複数の第1の端部、第2の端部、及び、第3の端部を含む第1のガス流路であり、前記複数の第1の端部、前記第2の端部、及び、前記複数の第1の端部から前記第2の端部まで延びる部分が前記筐体内に設けられており、前記第3の端部が前記筐体の外部に設けられており、前記対応のチャンバ本体の前記内部空間に開閉バルブを介して接続された、該第1のガス流路と、
    前記筐体内に設けられており、前記第2の端部に接続された第1のバルブと、
    を有する、該複数のガス供給部と、
    前記複数のチャンバ本体の内部空間に複数の排気流路を介してそれぞれ接続された複数の排気装置と、
    を備え、
    前記流量測定システムは、
    複数の第4の端部及び第5の端部を含む第2のガス流路であり、該複数の第4の端部の各々が前記複数のガス供給部のうち対応のガス供給部の前記第1のバルブに接続された、該第2のガス流路と、
    前記第2のガス流路内の圧力を測定するように構成された第1の圧力センサ及び第2の圧力センサと、
    前記第2のガス流路内の温度を測定するように構成された温度センサと、
    前記第2のガス流路の前記第5の端部に接続された第2のバルブと、
    前記第2のバルブに接続された第6の端部、及び、前記複数の排気流路にそれぞれ接続された複数の第7の端部を含む第3のガス流路と、
    を備え、該方法は、
    前記複数のガス供給部のうち一つのガス供給部の前記第1のガス流路、前記第2のガス流路、及び、前記第3のガス流路を真空引きする工程と、
    真空引きする前記工程の実行後、前記一つのガス供給部の前記第1のガス流路及び前記第2のガス流路に、ガスを溜める工程であり、該一つのガス供給部の前記第1のバルブが開かれ、前記第2のバルブが閉じられ、該一つのガス供給部の前記第3の端部に接続された前記開閉バルブが閉じられる、該工程と、
    ガスを溜める前記工程の実行によって前記一つのガス供給部の前記第1のガス流路及び前記第2のガス流路に前記ガスが溜められた状態で、前記第1の圧力センサ及び前記第2の圧力センサをそれぞれ用いて、前記第2のガス流路内の圧力の第1の測定値及び第2の測定値を取得する工程と、
    第1の測定値及び第2の測定値を取得する前記工程の実行後、前記第2のガス流路内のガスを排気する工程であり、前記一つのガス供給部の前記第1のバルブが閉じられ、前記第2のバルブが開かれる、該工程と、
    前記第2のガス流路内のガスを排気する前記工程の実行後に、前記第2のガス流路に、前記一つのガス供給部の前記第1のガス流路内のガスを拡散させる工程であり、前記第2のバルブが閉じられて、前記一つのガス供給部の前記第1のバルブが開かれる、該工程と、
    ガスを拡散させる前記工程の実行により前記一つのガス供給部の前記第1のガス流路内のガスが前記第2のガス流路に拡散した状態で、前記第1の圧力センサ及び前記第2の圧力センサをそれぞれ用いて、前記第2のガス流路内の圧力の第3の測定値及び第4の測定値を取得する工程と、
    前記一つのガス供給部の前記第1のガス流路の容積の予め求められた第1の初期値、前記第1の測定値及び前記第2の測定値の一方、並びに、前記第3の測定値及び前記第4の測定値の一方から、前記第2のガス流路の容積の算出値を求める工程と、
    前記第2のガス流路の容積の予め求められた第2の初期値と前記算出値とを互いに比較する工程と、
    を含む、方法。
  2. 前記一つのガス供給部の前記複数の流量制御器のうち選択された流量制御器によって出力されるガスの流量を求める工程を更に含み、
    ガスの流量を求める前記工程では、
    前記一つのガス供給部の前記第3の端部に接続された前記開閉バルブが閉じられ、前記第1のバルブが開かれ、且つ、前記第2のバルブが閉じられ、前記選択された流量制御器からガスが出力されている状態で、前記第2のガス流路内の圧力の上昇速度が求められ、前記第2のガス流路内の温度の測定値が前記温度センサによって取得され、
    前記第2の初期値と前記算出値との間の差の絶対値が所定値より小さい場合に、
    前記選択された流量制御器によって出力された前記ガスの流量が、前記上昇速度、前記温度の測定値、及び、前記第1の初期値と前記第2の初期値との和から、ビルドアップ法により求められ、
    前記第2の初期値と前記算出値との間の差の絶対値が前記所定値以上である場合に、前記選択された流量制御器によって出力された前記ガスの流量が、前記上昇速度、前記温度の測定値、及び、前記第1の初期値と前記算出値との和から、ビルドアップ法により求められる、
    請求項1に記載の方法。
  3. 前記第1の測定値と前記第2の測定値を互いに比較する工程を更に含む、請求項1又は2に記載の方法。
  4. 前記第3の測定値と前記第4の測定値を互いに比較する工程を更に含む、請求項1〜3の何れか一項に記載の方法。
  5. 真空引きする前記工程の実行により前記第2のガス流路内のガスが排気された状態で、前記第1の圧力センサ及び前記第2の圧力センサをそれぞれ用いて、前記第2のガス流路内の圧力の第5の測定値及び第6の測定値を取得する工程と、
    前記第5の測定値と前記第6の測定値とを互いに比較する工程と、
    を更に含む、請求項1〜4の何れか一項に記載の方法。
  6. 前記一つのガス供給部の前記複数の流量制御器のそれぞれの温度センサによって取得された温度測定値の平均値と予め定められた基準値とを互いに比較する工程を更に含む、
    請求項1〜5の何れか一項に記載の方法。
  7. ガスを溜める前記工程において、前記一つのガス供給部の前記第1のガス流路及び前記第2のガス流路に溜められる前記ガスは、液体の気化によって生成されるガスであり、前記第1のガス流路及び前記第2のガス流路に溜められる該ガスの圧力が該ガスの飽和蒸気圧より低い圧力に設定される、
    請求項1〜6の何れか一項に記載の方法。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9857265B2 (en) 2015-04-03 2018-01-02 Richard Andrew DeVerse Methods and systems for detecting fluidic levels and flow rate and fluidic equipment malfunctions
JP6956014B2 (ja) * 2018-01-09 2021-10-27 東京エレクトロン株式会社 ガスの流量を求める方法
JP7042134B2 (ja) * 2018-03-29 2022-03-25 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム及びガスの流量を求める方法
JP7249030B2 (ja) * 2019-07-30 2023-03-30 株式会社フジキン 流量測定装置内の容積測定方法および流量測定装置

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5467462A (en) * 1977-11-09 1979-05-30 Mitsubishi Electric Corp Gas flow meter
JP3167493B2 (ja) * 1993-03-01 2001-05-21 東京エレクトロン株式会社 圧力制御装置
JPH06318446A (ja) * 1993-05-07 1994-11-15 Hitachi Ltd 分析方法および装置
JP3055847B2 (ja) * 1993-07-02 2000-06-26 東京エレクトロン株式会社 減圧処理装置
JP3967424B2 (ja) * 1997-04-30 2007-08-29 東京エレクトロン株式会社 真空処理装置及び圧力調整方法
KR19990027295A (ko) * 1997-09-29 1999-04-15 양재신 수평조절용 정반
JP4078982B2 (ja) * 2002-04-22 2008-04-23 東京エレクトロン株式会社 処理システム及び流量測定方法
JP4421393B2 (ja) * 2004-06-22 2010-02-24 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
JP4648098B2 (ja) * 2005-06-06 2011-03-09 シーケーディ株式会社 流量制御機器絶対流量検定システム
JP4856905B2 (ja) * 2005-06-27 2012-01-18 国立大学法人東北大学 流量レンジ可変型流量制御装置
JP4718274B2 (ja) * 2005-08-25 2011-07-06 東京エレクトロン株式会社 半導体製造装置,半導体製造装置の流量補正方法,プログラム
WO2007102319A1 (ja) * 2006-03-07 2007-09-13 Ckd Corporation ガス流量検定ユニット
JP4288297B1 (ja) * 2008-01-09 2009-07-01 三菱重工業株式会社 圧力制御装置および圧力制御方法
JP5538119B2 (ja) 2010-07-30 2014-07-02 株式会社フジキン ガス供給装置用流量制御器の校正方法及び流量計測方法
JP5430621B2 (ja) * 2011-08-10 2014-03-05 Ckd株式会社 ガス流量検定システム及びガス流量検定ユニット
JP5433660B2 (ja) * 2011-10-12 2014-03-05 Ckd株式会社 ガス流量監視システム
JP5905735B2 (ja) * 2012-02-21 2016-04-20 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理方法及び基板温度の設定可能帯域の変更方法
JP6367069B2 (ja) * 2013-11-25 2018-08-01 東京エレクトロン株式会社 混合装置、基板処理装置および混合方法
KR101556888B1 (ko) * 2015-06-17 2015-10-01 주식회사 정도산업 4주식 회전 대차형 석재자동보링기

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