JP6958863B2 - 電気的接続部の劣化度合診断装置、及び、劣化度合診断方法 - Google Patents

電気的接続部の劣化度合診断装置、及び、劣化度合診断方法 Download PDF

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Description

本発明は、電気的接続部の劣化度合診断装置、及び、劣化度合診断方法に関する。
一般に、例えばコネクタの雄・雌端子のように、2つの金属部材が電気的接続部を介して電気的に接続される構造では、電気的接続部近傍の酸化反応に起因する経年劣化により、電気的接続部の接触抵抗が増大することが知られている。この経年劣化が過度に進行すると、電気的接続部が絶縁状態に達することで、2つの金属部材間に導通不良が発生する場合もある。従って、電気的接続部の劣化度合を診断する技術を確立することは重要である。
例えば、2つの金属部材間の電気的接続部の劣化度合を診断するための手法の一つとして、特許文献1に記載されたものがある。この文献では、電気的接続部の接触抵抗が直流信号を用いて計測され、計測された抵抗値のデータが時系列的に蓄積され、蓄積された時系列データに基づいて、電気的接続部の劣化度合が診断されるようになっている。
特開2002−277494号公報
ところで、コネクタの雄・雌端子は、通常、銅合金等の卑金属製の板状の母材を所定のプレス加工及び曲げ加工等によって成形し、成形された卑金属母材の表面に、錫メッキ等の卑金属メッキを施すことで形成される場合が多い。
このように、卑金属メッキが施された卑金属母材で構成された2つの金属部材が電気的接続部を介して電気的に接続される構造では、一般に、電気的接続部の接触抵抗(より具体的には、直流信号を用いて計測される電気抵抗値)は、時間経過に応じて(従って、電気的接続部近傍の酸化反応の進行に応じて)大略的には増加する一方で、その増加傾向は単調増加とはならない(詳細については後述する)。従って、電気的接続部の接触抵抗の値に基づいて電気的接続部の劣化度合を正確に診断することは、困難である。以上より、例えば、卑金属メッキが施された卑金属母材で構成された2つの金属部材が電気的接続部を介して電気的に接続される構造においても、電気的接続部の劣化度合を正確に診断することが望まれていたところである。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、2つの金属部材間の電気的接続部の劣化度合を正確に診断可能な電気的接続部の劣化度合診断装置及び劣化度合診断方法を提供することにある。
前述した目的を達成するために、本発明に係る電気的接続部の劣化度合診断装置は、下記(1)〜(4)を特徴としている。
(1)
電気的接続部を介して接触する2つの金属部材間を繋ぐ電気回路に所定の周波数の交流信号を印加した状態で、前記金属部材間の交流電圧及び前記金属部材間を流れる交流電流を測定することで、前記電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンスを測定する測定手段と、
前記測定手段により測定された前記インピーダンスにおけるリアクタンス成分の値に基づいて、前記電気的接続部の劣化度合を診断する診断手段と、
を備え
前記診断手段は、新品の前記2つの金属部材について前記測定手段により事前に測定された前記リアクタンス成分の値を初期値として記憶し、且つ、前記電気的接続部の劣化度合と前記リアクタンス成分の値の前記初期値からの偏差との相関関係を記憶しており、
前記診断手段は、前記測定手段により測定された前記リアクタンス成分の値と前記初期値との偏差を算出し、前記算出した偏差と前記相関関係とに基づいて、前記電気的接続部の劣化度合を診断するように構成された、電気的接続部の劣化度合診断装置であること。
(2)
上記(1)に記載の劣化度合診断装置において、
記診断手段は、前記リアクタンス成分の値の前記初期値からの偏差が大きいほど、前
記電気的接続部の劣化度合が大きくなるように、前記電気的接続部の劣化度合を診断する
ように構成された、電気的接続部の劣化度合診断装置であること。
(3)
上記(1)又は上記(2)に記載の劣化度合診断装置において、
前記金属部材は、メッキが施された金属母材で構成される、電気的接続部の劣化度合診
断装置であること。
(4)
上記(1)乃至上記(3)の何れか1つに記載の劣化度合診断装置において、
前記所定の周波数は、500kHz〜2MHzである、電気的接続部の劣化度合診断装
置であること。
本発明者の検討によれば、本発明者は、所定の周波数の交流信号を用いて測定した電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(複素数)におけるリアクタンス成分(虚数成分)の値が、電気的接続部の劣化度合と強い相関関係を有することを見出した(詳細については後述する)。従って、上記(1)に記載の劣化度合診断装置によれば、上記相関関係と、上記リアクタンス成分の値とに基づいて、2つの金属部材間の電気的接続部の劣化度合を正確に診断することができる。
具体的には、本発明者は、上記相関関係として、電気的接続部の劣化度合がゼロ(金属部材が新品の状態)から進行するにつれて、リアクタンス成分の値が、初期値(金属部材が新品の状態での値)から一方向に(より具体的には、負方向に)徐々に離れていく(従って、リアクタンス成分の値の初期値からの偏差が単調に増大していく)ことを見出した。
なお、これは、電気的接続部近傍の酸化反応の進行に応じて、電気的接続部近傍に生成される高誘電率を有する金属酸化物による静電容量が電気的接続部近傍に付加される程度が単調に増大していくことにより、リアクタンス成分(より具体的には、容量性リアクタンス成分)が一方向に変化することに因る、と考えられる。即ち、リアクタンス成分の値は、電気的接続部の劣化度合の進行に応じた電気的接続部近傍の構造変化の程度(金属酸化物による静電容量が付加される程度)を精度良く表す値になり得る、と考えられる。
以上より、上記(2)に記載の劣化度合診断装置によれば、リアクタンス成分の値の初期値からの偏差が大きいほど、電気的接続部の劣化度合が大きくなるように、電気的接続部の劣化度合が診断されるので、2つの金属部材間の電気的接続部の劣化度合を正確に診断することができる。
本発明者は、上記(3)に記載の劣化度合診断装置のように、金属部材がメッキが施された金属母材で構成される場合においても、電気的接続部の劣化度合がゼロから進行するにつれて、リアクタンス成分の値の初期値からの偏差が単調に増大していくことを見出した。これは、金属部材がメッキが施された金属母材で構成される場合においても、電気的接続部近傍の酸化反応の進行に応じて、メッキ及び金属母材それぞれの酸化物による静電容量が電気的接続部近傍に付加される程度が単調に増大していくことに因る、と考えられる。従って、上記(3)に記載の劣化度合診断装置によれば、金属部材がメッキが施された金属母材で構成される場合においても、2つの金属部材間の電気的接続部の劣化度合を正確に診断することができる。
本発明者は、電気回路に印加する交流信号の周波数が大きいほど、電気的接続部の劣化度合がゼロから進行するにつれて増加していく「リアクタンス成分の値の初期値からの偏差」の増加勾配が大きくなることを見出した。従って、例えば、上記(4)に記載の劣化度合診断装置のように、電気回路に印加する交流信号の周波数として、十分に大きい500kHz〜2MHzを採用すれば、電気的接続部の劣化度合の進行に応じた「リアクタンス成分の値の初期値からの偏差」の増加勾配が十分に大きくなる。このため、インピーダンスの測定装置として、測定レンジが十分に大きい(逆にいえば、ノイズの影響を受け難い)装置を使用することができる。換言すれば、ノイズが比較的大きい環境下においても、リアクタンス成分の値を精度良く測定でき、従って、電気的接続部の劣化度合を正確に診断することができる。
前述した目的を達成するために、本発明に係る電気的接続部の劣化度合診断方法は、下記(5)を特徴としている。
(5)
電気的接続部を介して接触する2つの金属部材間を繋ぐ電気回路に所定の周波数の交流信号を印加した状態で、前記金属部材間の交流電圧及び前記金属部材間を流れる交流電流を測定することで、前記電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンスを測定する測定工程と、
前記測定工程により測定された前記インピーダンスにおけるリアクタンス成分の値に基づいて、前記電気的接続部の劣化度合を診断する診断工程と、
を含み、
前記診断工程では、新品の前記2つの金属部材について前記測定工程により事前に測定された前記リアクタンス成分の値が初期値として記憶され、且つ、前記電気的接続部の劣化度合と前記リアクタンス成分の値の前記初期値からの偏差との相関関係が記憶され、
前記診断工程では、前記測定工程により測定された前記リアクタンス成分の値と前記初期値との偏差が算出され、前記算出した偏差と前記相関関係とに基づいて、前記電気的接続部の劣化度合が診断されるように構成された、電気的接続部の劣化度合診断方法であること。
本発明者の検討によれば、本発明者は、所定の周波数の交流信号を用いて測定した電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(複素数)におけるリアクタンス成分(虚数成分)の値が、電気的接続部の劣化度合と強い相関関係を有することを見出した(詳細については後述する)。従って、上記(5)に記載の劣化度合診断方法によれば、上記相関関係と、上記リアクタンス成分の値とに基づいて、2つの金属部材間の電気的接続部の劣化度合を正確に診断することができる。
本発明によれば、2つの金属部材間の電気的接続部の劣化度合を正確に診断可能な電気的接続部の劣化度合診断装置及び劣化度合診断方法を提供できる。
以上、本発明について簡潔に説明した。更に、以下に説明される発明を実施するための形態(以下、「実施形態」という。)を添付の図面を参照して通読することにより、本発明の詳細は更に明確化されるであろう。
図1は、本実施形態に係る劣化度合診断装置を示す模式図である。 図2は、2つの金属部材間を繋ぐ電気回路の一例を示す図である。 図3は、比較例として、直流電源により直流信号を電気回路に印加した場合における、加速試験装置による微振動回数と、電気的接続部の接触抵抗の値(レジスタンス成分の値)との関係の一例を示すグラフである。 図4は、交流電源により2MHzの交流信号を電気回路に印加した場合における、加速試験装置による微振動回数と、電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(レジスタンス成分+リアクタンス成分)との関係の一例を示すグラフである。 図5は、交流電源により1.5MHzの交流信号を電気回路に印加した場合における、加速試験装置による微振動回数と、電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(レジスタンス成分+リアクタンス成分)との関係の一例を示すグラフである。 図6は、交流電源により1.2MHzの交流信号を電気回路に印加した場合における、加速試験装置による微振動回数と、電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(レジスタンス成分+リアクタンス成分)との関係の一例を示すグラフである。 図7は、交流電源により1.0MHzの交流信号を電気回路に印加した場合における、加速試験装置による微振動回数と、電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(レジスタンス成分+リアクタンス成分)との関係の一例を示すグラフである。 図8は、交流電源により800kHzの交流信号を電気回路に印加した場合における、加速試験装置による微振動回数と、電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(レジスタンス成分+リアクタンス成分)との関係の一例を示すグラフである。 図9は、交流電源により500kHzの交流信号を電気回路に印加した場合における、加速試験装置による微振動回数と、電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(レジスタンス成分+リアクタンス成分)との関係の一例を示すグラフである。 図10は、交流電源により200kHzの交流信号を電気回路に印加した場合における、加速試験装置による微振動回数と、電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(レジスタンス成分+リアクタンス成分)との関係の一例を示すグラフである。 図11は、交流電源により100kHzの交流信号を電気回路に印加した場合における、加速試験装置による微振動回数と、電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(レジスタンス成分+リアクタンス成分)との関係の一例を示すグラフである。 図12は、交流電源により50kHzの交流信号を電気回路に印加した場合における、加速試験装置による微振動回数と、電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(レジスタンス成分+リアクタンス成分)との関係の一例を示すグラフである。 図13は、交流電源により10kHzの交流信号を電気回路に印加した場合における、加速試験装置による微振動回数と、電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(レジスタンス成分+リアクタンス成分)との関係の一例を示すグラフである。 図14は、交流電源により1kHzの交流信号を電気回路に印加した場合における、加速試験装置による微振動回数と、電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(レジスタンス成分+リアクタンス成分)との関係の一例を示すグラフである。
<実施形態>
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態に係る劣化度合診断装置1について説明する。図1に示すように、劣化度合診断装置1は、測定装置10と、診断装置20と、加速試験装置30と、を備える。劣化度合診断装置1は、電気的接続部を介して接触する2つの金属部材40,50における当該電気的接続部の劣化度合を診断する装置である。
以下、劣化度合診断装置1を説明するにあたり、2つの金属部材40,50の一例として、図2に示すように、コネクタの雌端子40及び雄端子50が使用される。図2に示すように、雌端子40のタブ収容部41に雄端子50のタブ51が挿入された状態では、タブ収容部41の内周面の所定位置から内側に隆起する隆起部42と、タブ51の側面とが接触することで、雌端子40及び雄端子50が電気的に接続されている。即ち、雌端子40の隆起部42と雄端子50のタブ51側面とが接触する箇所が、雌端子40及び雄端子50の電気的接続部を構成している。
雌端子40及び雄端子50は共に、銅合金の板状の母材を所定のプレス加工及び曲げ加工等によって成形し、成形された銅合金母材の表面に錫メッキを施すことで形成されている。従って、新品の雌端子40及び雄端子50では、電気的接続部において、雌端子40の錫メッキ層と雄端子50の錫メッキ層とが接触している。
測定装置10は、図2に示すように、雌端子40及び雄端子50を繋ぐ電気回路に介挿された交流電源11により当該電気回路に所定の周波数の交流信号を印加した状態で、図1に示すように四端子測定法を利用して、雌端子40及び雄端子50間の交流電圧(V−V間の交流電圧)、及び、雌端子40及び雄端子50間を流れる交流電流(I−I間を流れる交流電流)を測定することで、当該電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(レジスタンス成分+リアクタンス成分)を測定するようになっている。
診断装置20は、測定装置10により測定されたインピーダンスにおけるリアクタンス成分の値に基づいて、雌端子40及び雄端子50間の電気的接続部の劣化度合を診断するようになっている。
以下、測定装置10及び診断装置20のこのような動作について説明するための準備として、雌端子40及び雄端子50間の電気的接続部の劣化度合と、当該電気的接続部の接触抵抗の値(直流信号を用いて計測される電気抵抗値)と、の関係を得るために行った2種類の予備試験について説明する。
先ず、1つ目の予備試験について説明する。1つ目の予備試験では、測定装置10において、図2に示す電気回路において、交流電源11に代えて直流電源が介挿され、直流電源により当該電気回路に所定の直流信号を印加した状態で、図1に示すように四端子測定法を利用して、雌端子40及び雄端子50間の直流電圧(V−V間の直流電圧)、及び、雌端子40及び雄端子50間を流れる直流電流(I−I間を流れる直流電流)を測定することで、当該電気的接続部の接触抵抗の値(直流信号を用いて計測される電気抵抗値)が測定された。
測定装置10の測定対象となる雌端子40及び雄端子50として、電気的接続部の劣化度合が異なる種々のサンプルが準備された。電気的接続部の劣化度合が異なる雌端子40及び雄端子50の種々のサンプルを準備するため、加速試験装置30が利用された。
加速試験装置30は、雌端子40及び雄端子50間の電気的接続部の劣化を加速させるための加速試験を行う装置である。加速試験としては、電気的接続部を介して接触した状態にある雌端子40及び雄端子50の一方に対して他方を、1秒間に1回の割合で、軸方向(嵌合方向)に所定の微小振幅(例えば、50μm)で微振動させる試験が行われた。この加速試験において、微振動回数が大きいほど、雌端子40及び雄端子50間の電気的接続部の劣化度合が大きいことを意味している。
1つ目の予備試験では、加速試験装置30による微振動回数が異なる雌端子40及び雄端子50の種々のサンプルが準備された。そして、加速試験装置30による微振動回数と、電気的接続部の接触抵抗の値(直流信号を用いて計測される電気抵抗値)と、の関係を得るため、各サンプルについて、上述のように直流電源を用いた測定装置10を利用して、電気的接続部の接触抵抗の値(直流信号を用いて計測される電気抵抗値)が測定された。その測定結果を図3に示す。
図3から理解できるように、電気的接続部の接触抵抗の値は、微振動回数がゼロから10回程度までは初期値(微振動回数がゼロのときの値)にほぼ維持され、その後、100回程度までは徐々に上昇し、100回程度で一度ピークに達し、その後、数100回程度までは徐々に減少し、その後、急激に上昇し、電気的接続部が絶縁状態に近づいていく。
ここで、微振動回数が10回程度から100回程度までにおいて、電気的接続部の接触抵抗の値が上昇していくのは、微振動により次第に削られていく電気的接続部近傍の錫メッキ層において、電気的接続部近傍に生成される錫の酸化物の量の増大に起因して、錫の新生面の面積が減少していくことに因ると考えられる。電気的接続部の接触抵抗の値が一度ピークに達した頃には、電気的接続部近傍において、錫メッキ層が消滅して銅合金母材が露出開始しているものと考えられる。微振動回数が100回程度から数100回程度までにおいて、電気的接続部の接触抵抗の値が減少していくのは、微振動により次第に削られていく電気的接続部近傍の銅合金母材の新生面の面積が増大していくことに因ると考えられる。微振動回数が数100回程度以降において、電気的接続部の接触抵抗の値が上昇していくのは、微振動により次第に削られていく電気的接続部近傍の銅合金母材において、電気的接続部近傍に生成される銅合金の酸化物の量の増大に起因して、銅合金母材の新生面の面積が減少していくことに因ると考えられる。
図3に示すように、電気的接続部の接触抵抗(直流信号を用いて計測される電気抵抗値)は、加速試験装置30による微振動回数の増大に応じて(即ち、電気的接続部の劣化度合の進行に応じて、或いは、電気的接続部近傍の酸化反応の進行に応じて)大略的には増加する一方で、その増加傾向は単調増加とはならない。このため、電気的接続部の接触抵抗の値に基づいて電気的接続部の劣化度合を正確に診断することは、困難である。以上、1つ目の予備試験について説明した。
次に、2つ目の予備試験について説明する。2つ目の予備試験では、測定装置10において、図2に示すように、電気回路に介挿された交流電源11により当該電気回路に所定の周波数の交流信号を印加した状態で、図1に示すように四端子測定法を利用して、雌端子40及び雄端子50間の交流電圧(V−V間の交流電圧)、及び、雌端子40及び雄端子50間を流れる交流電流(I−I間を流れる交流電流)を測定することで、当該電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(レジスタンス成分+リアクタンス成分)が測定された。所定の周波数としては、2MHzが採用された。
1つ目の予備試験と同様、2つ目の予備試験においても、加速試験装置30による微振動回数が異なる雌端子40及び雄端子50の種々のサンプルが準備された。具体的には、微振動回数が、ゼロ(即ち、新品の雌端子40及び雄端子50)、10回、70回、200回、2000回のサンプルが、それぞれ、10個ずつ準備された。そして、加速試験装置30による微振動回数と、電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(レジスタンス成分+リアクタンス成分)と、の関係を得るため、各サンプルについて、上述のように周波数が2MHzの交流電源11を用いた測定装置10を利用して、当該インピーダンスが測定された。その測定結果を図4に示す。図4において、横軸が、インピーダンスのレジスタンス成分(実数成分)に対応し、縦軸が、インピーダンスのリアクタンス成分(虚数成分)に対応している。
図4から理解できるように、レジスタンス成分は、加速試験装置30による微振動回数(即ち、電気的接続部の劣化度合、或いは、電気的接続部近傍の酸化反応の進行度合)とは殆ど無関係である。これに対し、リアクタンス成分は、加速試験装置30による微振動回数の増大に応じて(即ち、電気的接続部の劣化度合の進行に応じて、或いは、電気的接続部近傍の酸化反応の進行に応じて)、初期値(雌端子40及び雄端子50が新品の状態での値)から一方向に(より具体的には、負方向に)徐々に離れていく(従って、リアクタンス成分の値の初期値からの偏差(の絶対値)が単調に増大していく)。換言すれば、電気的接続部の劣化度合の進行に応じて、リアクタンス成分の値の初期値からの偏差は単調に増加している。この結果、この偏差を利用して、リアクタンス成分の値の初期値からの偏差が大きいほど、電気的接続部の劣化度合が大きくなるように、電気的接続部の劣化度合を診断することができる。
なお、この結果は、電気的接続部近傍の酸化反応の進行に応じて、電気的接続部近傍に生成される高誘電率を有する金属酸化物(より具体的には、錫メッキ及び銅合金母材それぞれの酸化物)による静電容量が電気的接続部近傍に付加される程度が単調に増大していくことにより、リアクタンス成分(より具体的には、容量性リアクタンス成分)が一方向に変化することに因る、と考えられる。即ち、リアクタンス成分の値は、電気的接続部の劣化度合の進行に応じた電気的接続部近傍の構造変化の程度(金属酸化物による静電容量が付加される程度)を精度良く表す値になり得る、と考えられる。
以上の知見に基づき、図1に示す劣化度合診断装置1では、診断装置20において、新品の2つの金属部材40,50について測定装置10により事前に測定されたインピーダンスにおけるリアクタンス成分の値を初期値として記憶している。更に、診断装置20は、図4に示す結果から得られる「電気的接続部の劣化度合と、リアクタンス成分の値の初期値からの偏差と、の相関関係」を記憶している。
そして、診断装置20は、測定対象となった2つの金属部材40,50について測定装置10により今回測定されたインピーダンスにおけるリアクタンス成分の値と、記憶している初期値との偏差を求め、その偏差と、上記相関関係とに基づいて、電気的接続部の劣化度合を診断(判定)する。この結果、当該偏差が大きいほど、電気的接続部の劣化度合が大きくなるように、電気的接続部の劣化度合が診断される。なお、測定対象となり得る2つの金属部材40,50は、診断装置20が記憶している初期値及び相関関係の測定に使用された2つの金属部材40,50と、同じ形状及び材質を有しているものに限られる。
以下、測定装置10が用いる交流電源11の周波数について付言する。本発明者は、上述した2つ目の予備試験と同じ内容の追加の試験を、交流電源11の周波数を2MHzとは異なる周波数に種々変更しながら繰り返し行った。具体的には、1.5MHz、1.2MHz、1MHz、800kHz、500kHz、200kHz、100kHz、50kHz、10kHz、及び、1kHzについて、追加の試験が行われた。これらの結果を、図5〜図14に示す。
図4〜図14から理解できるように、電気回路に印加する交流信号の周波数が大きいほど、電気的接続部の劣化度合がゼロから進行するにつれて増加していく「リアクタンス成分の値の初期値からの偏差」の増加勾配が大きくなる。
従って、例えば、上記のように、電気回路に印加する交流信号の周波数として、十分に大きい500kHz〜2MHzを採用すれば、図4に示すように、電気的接続部の劣化度合の進行に応じた「リアクタンス成分の値の初期値からの偏差」の増加勾配が十分に大きくなる。このため、測定装置10として、測定レンジが十分に大きい(逆にいえば、ノイズの影響を受け難い)装置を使用することができる。換言すれば、ノイズが比較的大きい環境下においても、リアクタンス成分の値を精度良く測定でき、従って、電気的接続部の劣化度合を正確に診断することができる。
逆に、ノイズが比較的小さい環境下に測定装置10が配置されている場合、測定装置10として、測定レンジが比較的小さい(逆にいえば、ノイズの影響を受け易い)装置を使用することができる。このように、電気回路に印加する交流信号の周波数は、測定装置10の測定レンジ、及び、測定装置10が配置される環境におけるノイズの大小に基づいて適宜最適な値に決定することができる。
以上、本発明の実施形態に係る劣化度合診断装置1及びその劣化度合診断方法によれば、所定の周波数の交流信号を用いて測定した電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンス(複素数)におけるリアクタンス成分(虚数成分)の値が、電気的接続部の劣化度合と強い相関関係(図4参照)を有することを利用して、上記相関関係と、上記リアクタンス成分の値とに基づいて、2つの金属部材40,50間の電気的接続部の劣化度合を正確に診断することができる。
<他の形態>
なお、本発明は上記各実施形態に限定されることはなく、本発明の範囲内において種々の変形例を採用することができる。例えば、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。その他、上述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数、配置箇所、等は本発明を達成できるものであれば任意であり、限定されない。
上記実施形態では、2つの金属部材40,50として、銅合金母材の表面に錫メッキが施された雌端子40及び雄端子50が採用されているが、2つの金属部材40,50として、銅合金母材とは異なる金属母材の表面に、錫メッキとは異なるメッキが施された雌端子40及び雄端子50が採用された場合においても、更には、2つの金属部材40,50として、金属母材の表面に何らのメッキ層が形成されていない雌端子40及び雄端子50が採用された場合においても、図4に示す相関関係と同様の相関関係が得られることが別途判明している。なお、金属母材としては、典型的には、銅合金に加えて、銅、アルミニウム、アルミニウム合金が挙げられる。また、メッキとしては、典型的には、錫メッキを含む卑金属メッキが挙げられる。従って、これらの構成を有する金属部材40,50についても、本発明が適用可能である。
更に、上記実施形態では、2つの金属部材40,50として、コネクタの雌端子40及び雄端子50が採用されているが、電気的接続部を介して電気的に接続される構造を有するものである限りにおいて、例えば、電線の端部と端子との電気的接続部などのように、2つの金属部材40,50としてどのような形式のものが採用されてもよい。また、2つの金属部材40,50は、車両に搭載される部材であっても、車両に搭載されない部材であってもかまわない。
更に、上記実施形態では、測定装置10が、四端子測定法を利用してインピーダンスを測定しているが、測定装置10が、ニ端子測定法を利用してインピーダンスを測定してもよいことはもちろんである。
ここで、上述した本発明に係る劣化度合診断装置1及び劣化度合診断方法の実施形態の特徴をそれぞれ以下(1)〜(5)に簡潔に纏めて列記する。
(1)
電気的接続部を介して接触する2つの金属部材(40,50)間を繋ぐ電気回路に所定の周波数の交流信号を印加した状態で、前記金属部材(40,50)間の交流電圧及び前記金属部材(40,50)間を流れる交流電流を測定することで、前記電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンスを測定する測定手段(10)と、
前記測定手段(10)により測定された前記インピーダンスにおけるリアクタンス成分の値に基づいて、前記電気的接続部の劣化度合を診断する診断手段(20)と、
を備えた電気的接続部の劣化度合診断装置(1)。
(2)
上記(1)に記載の劣化度合診断装置(1)において、
前記診断手段(20)は、新品の前記2つの金属部材(40,50)について前記測定手段(10)により事前に測定された前記インピーダンスにおけるリアクタンス成分の値を初期値として記憶しており、
前記診断手段(20)は、前記リアクタンス成分の値の前記初期値からの偏差が大きいほど、前記電気的接続部の劣化度合が大きくなるように、前記電気的接続部の劣化度合を診断するように構成された、電気的接続部の劣化度合診断装置(1)。
(3)
上記(1)又は上記(2)に記載の劣化度合診断装置(1)において、
前記金属部材(40,50)は、メッキが施された金属母材で構成される、電気的接続部の劣化度合診断装置(1)。
(4)
上記(1)乃至上記(3)の何れか1つに記載の劣化度合診断装置(1)において、
前記所定の周波数は、500kHz〜2MHzである、電気的接続部の劣化度合診断装置(1)。
(5)
電気的接続部を介して接触する2つの金属部材(40,50)間を繋ぐ電気回路に所定の周波数の交流信号を印加した状態で、前記金属部材(40,50)間の交流電圧及び前記金属部材(40,50)間を流れる交流電流を測定することで、前記電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンスを測定する測定工程と、
前記測定工程により測定された前記インピーダンスにおけるリアクタンス成分の値に基づいて、前記電気的接続部の劣化度合を診断する診断工程と、
を含む電気的接続部の劣化度合診断方法。
1 劣化度合診断装置
10 測定装置(測定手段)
20 診断装置(診断手段)
40 雌端子(金属部材)
50 雄端子(金属部材)

Claims (5)

  1. 電気的接続部を介して接触する2つの金属部材間を繋ぐ電気回路に所定の周波数の交流信号を印加した状態で、前記金属部材間の交流電圧及び前記金属部材間を流れる交流電流を測定することで、前記電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンスを測定する測定手段と、
    前記測定手段により測定された前記インピーダンスにおけるリアクタンス成分の値に基づいて、前記電気的接続部の劣化度合を診断する診断手段と、
    を備え
    前記診断手段は、新品の前記2つの金属部材について前記測定手段により事前に測定された前記リアクタンス成分の値を初期値として記憶し、且つ、前記電気的接続部の劣化度合と前記リアクタンス成分の値の前記初期値からの偏差との相関関係を記憶しており、
    前記診断手段は、前記測定手段により測定された前記リアクタンス成分の値と前記初期値との偏差を算出し、前記算出した偏差と前記相関関係とに基づいて、前記電気的接続部の劣化度合を診断するように構成された、電気的接続部の劣化度合診断装置。
  2. 請求項1に記載の劣化度合診断装置において、
    記診断手段は、前記リアクタンス成分の値の前記初期値からの偏差が大きいほど、前記電気的接続部の劣化度合が大きくなるように、前記電気的接続部の劣化度合を診断するように構成された、電気的接続部の劣化度合診断装置。
  3. 請求項1又は請求項2に記載の劣化度合診断装置において、
    前記金属部材は、メッキが施された金属母材で構成される、電気的接続部の劣化度合診断装置。
  4. 請求項1乃至請求項3の何れか一項に記載の劣化度合診断装置において、
    前記所定の周波数は、500kHz〜2MHzである、電気的接続部の劣化度合診断装置。
  5. 電気的接続部を介して接触する2つの金属部材間を繋ぐ電気回路に所定の周波数の交流信号を印加した状態で、前記金属部材間の交流電圧及び前記金属部材間を流れる交流電流を測定することで、前記電気的接続部の接触抵抗に関するインピーダンスを測定する測定工程と、
    前記測定工程により測定された前記インピーダンスにおけるリアクタンス成分の値に基づいて、前記電気的接続部の劣化度合を診断する診断工程と、
    を含み、
    前記診断工程では、新品の前記2つの金属部材について前記測定工程により事前に測定された前記リアクタンス成分の値が初期値として記憶され、且つ、前記電気的接続部の劣化度合と前記リアクタンス成分の値の前記初期値からの偏差との相関関係が記憶され、
    前記診断工程では、前記測定工程により測定された前記リアクタンス成分の値と前記初期値との偏差が算出され、前記算出した偏差と前記相関関係とに基づいて、前記電気的接続部の劣化度合が診断されるように構成された、電気的接続部の劣化度合診断方法。
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