CN110716159A - 用于电连接部的劣化程度诊断装置和劣化程度诊断方法 - Google Patents

用于电连接部的劣化程度诊断装置和劣化程度诊断方法 Download PDF

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Abstract

一种劣化程度诊断装置，包括测量单元和诊断单元。所述测量单元在规定频率的AC信号被施加到连接经由电连接部接触的两个金属部件的电路的状态下，通过测量所述金属部件间的AC电压和流经所述金属部件间的AC电流来测量所述电连接部的接触电阻相关的阻抗。所述诊断单元基于所述测量单元测量的所述阻抗中的电抗分量值诊断所述电连接部的劣化程度。

Description

用于电连接部的劣化程度诊断装置和劣化程度诊断方法
技术领域
本发明涉及用于电连接部的劣化程度诊断装置和劣化程度诊断方法。
背景技术
通常，在例如连接器的阳端子和阴端子那样的、两个金属部件经由电连接部电连接的结构中，已知由于电连接部附近的氧化反应引起的老化损坏，电连接部的接触电阻增大。当老化损坏过度发展时，电连接部进入绝缘状态，以致两个金属部件之间可能产生导通不良。因此，确立用于诊断电连接部的劣化程度的技术很重要。
例如，专利文献1公开了一种诊断两个金属部件间的电连接部的劣化程度的方法。在该文献中，使用DC信号来测量电连接部的接触电阻，并且积测量的电阻值的数据按照时间序列累，以便于基于累积的时间序列数据诊断电连接部的劣化程度。
专利文献1：JP-A-2002-277494
发明内容
连接器的阳端子和阴端子通常对铜合金等的贱金属制的平板形的基材通过规定的冲压、弯曲等成形，并通常通过在成形的贱金属基材的表面执行镀锡等的贱金属电镀而形成。
如上所述，在电镀贱金属的贱金属基材制的两个金属部件经由电连接部电连接的结构中，电连接部的接触电阻(更具体而言，使用DC信号测量的电阻值)随着时间经过(并相应地，随着电连接部附近的氧化反应的进行)而大致地增长，但其增长趋势不是单调递增(详细内容将在后文叙述)。因此，难以基于电连接部的接触电阻值准确地诊断电连接部的劣化程度。如上所述，例如，即便在电镀贱金属的贱金属基材制的两个金属部件经由电连接部电连接的结构中，也期待准确地诊断电连接部的劣化程度。
本发明是鉴于上述情况而提出的，并且本发明的目的在于提供用于电连接部的劣化程度诊断装置及劣化程度诊断方法，能够准确地诊断两个金属部件间的电连接部的劣化程度。
为了实现上述目的，本发明的用于电连接部的劣化程度诊断装置以如下结构(1)至(4)为特征。
(1)一种劣化程度诊断装置，诊断两个金属部件间的电连接部的劣化程度，所述劣化程度诊断装置包括：
测量单元，被配置为在规定频率的AC信号被施加到连接经由所述电连接部接触的所述两个金属部件的电路的状态下，通过测量所述金属部件间的AC电压和流经所述金属部件间的AC电流来测量所述电连接部的接触电阻相关的阻抗；和
诊断单元，被配置为基于由所述测量单元测量的所述阻抗中的电抗分量值来诊断所述电连接部的劣化程度。
(2)根据上述结构(1)的劣化程度诊断装置，
所述诊断单元将所述测量单元针对两个新的所述金属部件预先测量的所述阻抗中的所述电抗分量值存储为初始值，并且
所述诊断单元被配置为以随着所述电抗分量值从所述初始值的偏差增大、所述电连接部的劣化程度增加的方式，诊断所述电连接部的所述劣化程度。
(3)根据上述结构(1)或(2)的劣化程度诊断装置，
所述金属部件由电镀金属基材形成。
(4)根据结构(1)至(3)中任一项的用于电连接器的劣化程度诊断装置，
所述规定的频率为500kHz至2MHz。
根据发明人对本发明的研究，发明人发现使用规定频率的AC信号测量的电连接部的接触电阻相关的阻抗(复数)中的电抗分量(虚分量)值与电连接部的劣化程度具有强相关性(详细内容将在后文叙述)。因此，根据上述结构(1)的劣化程度诊断装置，能够基于相关性和电抗分量值准确地诊断两个金属部件间的电连接部的劣化程度。
特别地，本发明的发明人发现，作为上述相关性，随着电连接部的劣化程度从0(金属部件是新的)开始发展，电抗分量值在一方向上(更具体而言，在负方向上)从初始值(金属部件是新的时的值)逐渐分离(因此，电抗分量值从初始值的偏差单调递增)。
原因被认为是以下事实：随着电连接部附近的氧化反应的进行，产生于电连接部附近的具有高介电常数的金属氧化物的静电电容被施加至电连接部附近的程度单调递增，使得电抗分量(更具体而言，电容性电抗分量)在一方向上变化。也就是说，电抗分量值能够准确地代表随着电连接部的劣化程度的发展，电连接部附近的结构性变化程度(增加金属氧化物的静电电容的程度)。
如上所述，根据上述结构(2)的劣化程度诊断装置，以电连接部的劣化程度随着电抗分量值从初始值的偏差增大而增加的方式，诊断电连接部的劣化程度，因此能够准确地诊断两个金属部件间的电连接部的劣化程度。
本发明的发明人还发现，根据上述结构(3)的劣化程度诊断装置，即便当金属部件由电镀金属基材形成时，随着电连接部的劣化程度从0开始发展，电抗分量值从初始值的偏差单调递增。原因被认为是以下事实：即便当金属部件由电镀金属基材形成，随着电连接部附近的氧化反应的发展，镀层和金属基材每个的氧化物的静电电容被施加到电连接部附近的程度单调递增。因此，根据上述结构(3)的劣化程度诊断装置，即便当金属部件由电镀金属基材形成时，也能够准确地诊断两个金属部件间的电连接部的劣化程度。
本发明的发明人还发现，随着电连接部的劣化程度从0开始增加而增加的“电抗分量值从初始值的偏差”的增加梯度，随着被施加至电路的AC信号的频率增加而增大。因此，例如，如同上述结构(4)的劣化程度诊断装置，当500kHz至2MHz的足够大的频率被应用为被施加至电路的AC信号的频率时，随着电连接部的劣化程度的发展而“电抗分量值从初始值的偏差”的增加梯度变得足够大。因此，可以使用具有足够大的测量范围的装置(即，装置较少受到噪声的影响)作为阻抗测量装置。换言之，即便在噪声相对大的环境中，可以准确地测量电抗分量值，并从而可以准确地诊断电连接部的劣化程度。
为了实现上述目标，根据本发明的用于电连接部的劣化程度诊断方法，以如下的结构(5)为特征。
(5)一种劣化程度诊断方法，诊断两个金属部件间的电连接部的劣化程度，所述劣化程度诊断方法包括：
测量步骤，在规定频率的AC信号被施加到连接经由所述电连接部接触的所述两个金属部件的电路的状态下，通过测量所述金属部件间的AC电压和流经所述金属部件间的AC电流来测量所述电连接部的接触电阻相关的阻抗；和
诊断步骤，基于由所述测量步骤测量的所述阻抗中的电抗分量值来诊断所述电连接部的劣化程度。
根据发明人对本发明的研究，发明人发现使用规定频率的AC信号测量的电连接部的接触电阻相关的阻抗(复数)中的电抗分量(虚分量)值与电连接部的劣化程度具有强相关性(详细内容将在后文叙述)。因此，根据上述结构(5)的劣化程度诊断方法，能够基于相关性和电抗分量值准确地诊断两个金属部件间的电连接部的劣化程度。
根据本发明，能够提供用于电连接部的劣化程度诊断装置和劣化程度诊断方法，能够准确地诊断两个金属部件间的电连接部的劣化程度。
在上文中，简要描述了本发明。通过阅读下面参考附图描述的用于实行本发明的方式(下文中，称为“实施方式”)，将进一步阐明本发明的细节。
附图说明
图1是说明本发明的实施方式的劣化程度诊断装置的示意图。
图2是说明连接两个金属部件的电路的一个示例的图。
图3是作为比较例示出当通过DC电源向电路施加DC信号时，通过加速度测试装置的微振动数值和电连接部的接触电阻值(电阻分量值)的关系的一个示例的图表。
图4是表示当通过AC电源向电路施加2MHz的AC信号时，通过加速度测试装置的微振动数值和电连接部的接触电阻相关的阻抗(电阻分量+电抗分量)关系的一个示例的图表。
图5是表示当通过AC电源向电路施加1.5MHz的AC信号时，通过加速度测试装置的微振动数值和电连接部的接触电阻相关的阻抗(电阻分量+电抗分量)关系的一个示例的图表。
图6是表示当通过AC电源向电路施加1.2MHz的AC信号时，通过加速度测试装置的微振动数值和电连接部的接触电阻相关的阻抗(电阻分量+电抗分量)关系的一个示例的图表。
图7是表示当通过AC电源向电路施加1.0MHz的AC信号时，通过加速度测试装置的微振动数值和电连接部的接触电阻相关的阻抗(电阻分量+电抗分量)关系的一个示例的图表。
图8是表示当通过AC电源向电路施加800kHz的AC信号时，通过加速度测试装置的微振动数值和电连接部的接触电阻相关的阻抗(电阻分量+电抗分量)关系的一个示例的图表。
图9是表示当通过AC电源向电路施加500kHz的AC信号时，通过加速度测试装置的微振动数值和电连接部的接触电阻相关的阻抗(电阻分量+电抗分量)关系的一个示例的图表。
图10是表示当通过AC电源向电路施加200kHz的AC信号时，通过加速度测试装置的微振动数值和电连接部的接触电阻相关的阻抗(电阻分量+电抗分量)关系的一个示例的图表。
图11是表示当通过AC电源向电路施加100kHz的AC信号时，通过加速度测试装置的微振动数值和电连接部的接触电阻相关的阻抗(电阻分量+电抗分量)关系的一个示例的图表。
图12是表示当通过AC电源向电路施加50kHz的AC信号时，通过加速度测试装置的微振动数值和电连接部的接触电阻相关的阻抗(电阻分量+电抗分量)关系的一个示例的图表。
图13是表示当通过AC电源向电路施加10kHz的AC信号时，通过加速度测试装置的微振动数值和电连接部的接触电阻相关的阻抗(电阻分量+电抗分量)关系的一个示例的图表。
图14是表示当通过AC电源向电路施加1kHz的AC信号时，通过加速度测试装置的微振动数值和电连接部的接触电阻相关的阻抗(电阻分量+电抗分量)关系的一个示例的图表。
具体实施方式
<实施方式>
在下文中，将参照附图叙述本发明的实施方式的劣化程度诊断装置1。如图1所示，劣化程度诊断装置1包括测量装置10、诊断装置20和加速度测试装置30。劣化程度诊断装置1是被配置为诊断经由电连接部接触的两个金属部件40、50的电连接部的劣化程度的装置。
在下文中，在劣化程度诊断装置1的叙述中，如图2所示，连接器的阴端子40和阳端子50被用作两个金属部件40、50的一个示例。如图2所示，在阳端子50的阳极片51被插入到阴端子40的阳极片接收部41的状态下，阴端子40和阳端子50通过从阳极片接收部41的内周表面上的规定位置向内突出的突出部42与阳极片51的侧表面接触而电连接。即，阴端子40的突出部42与阳端子50的阳极片51的侧表面彼此接触的位置形成阴端子40和阳端子50的电连接部。
阴端子40和阳端子50均通过规定的冲压、弯曲等成形铜合金制的板状的材，并通过在成形的铜合金制的基材表面实施镀锡形成。因此，在新的阴端子40和阳端子50，阴端子40的镀锡层和阳端子50的镀锡层在电连接部彼此接触。
如图2所示，当通过插入到连接阴端子40和阳端子50的电路中的AC电源11向电路施加规定频率的AC信号，测量装置10使用如图1所示的四端子测量法，测量阴端子40和阳端子50之间的AC电压(V+和V-间的AC电压)以及流经阴端子40和阳端子50的AC电流(流经I+和I-间的AC电流)，来测量电连接部的接触电阻相关的阻抗(电阻分量+电抗分量)。
诊断装置20被配置为基于测量装置10测量的阻抗中的电抗分量值，诊断阴端子40和阳端子50之间的电连接部的劣化程度。
下面，叙述为获得阴端子40和阳端子50间的电连接部的劣化程度与电连接部的接触电阻值(使用DC信号测量的电阻值)之间的关系而执行的两种初步测试，作为用于叙述测量装置10和诊断装置20这样的操作的准备。
首先，叙述第一初步测试。在第一初步测试中，在图2示出的电路中，当插入DC电源代替AC电源11，并通过DC电源将规定的DC信号施加至电路时，测量装置10测量阴端子40和阳端子50间的DC电压(V+和V-间的DC电压)以及流经阴端子40和阳端子50之间的DC电流(流经I+和I-间的DC电流)来测量电连接部的接触电阻值(使用DC信号测量的电阻值)。
作为要由测量装置10测量的阴端子40和阳端子50，准备了电连接部的劣化程度不同的多个试样。使用加速度测试装置30是为了准备具有电连接部的劣化程度不同的阴端子40和阳端子50的多个试样。
加速度测试装置30被配置为用于加速阴端子40和阳端子50间的电连接部的劣化而执行加速测试。在加速测试中，经由电连接部彼此接触的阴端子40和阳端子50的一个相对于阴端子40和阳端子50的另一个在轴向上(安装方向)以规定的微振幅(例如，50μm)每秒轻微振动一次。在该加速测试中，阴端子40和阳端子50间的电连接部的劣化程度随着微振动次数的数值增大而增大。
在第一初步测试中，准备了通过加速度测试装置30进行不同数值的微振动次数的阴端子40和阳端子50的多个试样。为了获得通过加速度测试装置30进行的微振动次数的数值和电连接部的接触电阻值(使用DC信号测量的电阻值)之间的关系，针对每个试样，电连接部的接触电阻值(使用DC信号测量的电阻值)使用上述的采用DC电源的测量装置10测量。在图3中示出测量结果。
从图3可以理解到，当微振动次数的数值为0至大约10时，电连接部的接触电阻值大体上维持在初始值(微振动次数的数值为0时的值)。其后，随着微振动次数的数值增长到约100，接触电阻值也逐渐上升，当微振动次数的数值约为100时，接触电阻值到达峰值一次。其后，随着微振动次数的数值增加到约几百，接触电阻值逐渐下降。其后，接触电阻值急剧上升，使得电连接部接近绝缘状态。
在此，当微振动次数的数值为10至约100时，电连接部的接触电阻值增加被认为是由于，在逐渐通过微振动刮掉的电连接部附近的镀锡层，产生于电连接部附近的锡氧化物的数量增加，以及在新形成锡的表面的区域减少。认为当电连接部的接触电阻值到达峰值时，在电连接部的附近镀锡层消失而且铜合金基材开始露出。认为当微振动次数的数值为约100至约几百时，电连接部的接触电阻值减小是由于逐渐通过微振动刮掉的电连接部附近的铜合金基材的新形成的表面的区域增大。认为当微振动次数的数值为几百或更多时，电连接部的接触电阻值增加是由于，在逐渐通过微振动刮掉的电连接部附近的铜合金基材，产生于电连接部附近的铜合金氧化物的数量增加，以及铜合金基材的新形成的表面区域减少。
如图3所示，电连接部的接触电阻(使用DC信号测量的电阻值)随着通过加速度测试装置30的微振动次数的数值增大(即，随着电连接部的劣化程度的发展或者随着电连接部附近的氧化反应的进行)而大致地增加，其中增长趋势并不是单调递增。因此，难以基于电连接部的接触电阻值准确地诊断电连接部的劣化程度。以上叙述了第一初步测试。
接着，叙述第二初步测试。在第二初步测试中，如图2所示，当通过插入至电路的AC电源11将规定频率的AC信号施加至电路时，测量装置10使用如图1所示的四端子测量法，测量阴端子40和阳端子50间的AC电压(V+和V-间的AC电压)以及流经阴端子40和阳端子50的AC电流(流经I+和I-间的AC电流)，来测量电连接部的接触电阻相关的阻抗(电阻分量+电抗分量)。所述规定的频率采用2MHz。
与第一初步测试同样地，在第二初步测试中，准备了通过加速度测试装置30的具有不同数值的微振动次数的阴端子40和阳端子50的多个试样。特别地，微振动次数的数值为0(即，新的阴端子40和新的阳端子50)、10、70、200和2000的试样每个准备了10个。为获得通过加速度测试装置30的微振动次数的数值和电连接部的接触电阻相关的阻抗(电阻分量+电抗分量)之间的关系，针对每个试样，采用上述的使用具有2MHz的频率的AC电源11的测量装置10测量阻抗。在图4中示出测量结果。图4中，水平轴对应于阻抗的电阻分量(实数分量)，垂直轴对应于阻抗的电抗分量(虚数分量)。
从图4可以理解到，电阻分量几乎与通过加速度测试装置30的微振动次数的数值(即，电连接部的劣化程度或者电连接部附近的氧化反应的进行程度)不相关。另一方面，随着通过加速度测试装置30的微振动次数的数值增加(即，随着电连接部的劣化程度的发展或者电连接部附近的氧化反应的进行)，电抗分量在一方向上(更具体而言，在负方向上)从初始值(阴端子40和阳端子50是新的时的值)逐渐分离(因此，电抗分量值从初始值的偏差(的绝对值)单调递增)。换言之，电抗分量值从初始值的偏差随着电连接部的劣化程度发展而单调递增。其结果，利用该偏差，可以以随着电抗分量值从初始值的偏差增大、电连接部的劣化程度增加的方式，诊断电连接部的劣化程度。
这种结果的原因被认为是以下事实：随着电连接部附近的氧化反应的发展，产生于电连接部附近的具有高介电常数的金属氧化物(更具体而言，镀锡和铜合金基材每个的氧化物)的静电电容被施加至电连接部附近的程度单调递增，使得电抗分量(更具体而言，电容性电抗分量)在一方向上变化。也就是说，认为电抗分量值能够准确地代表随着电连接部的劣化程度的发展，电连接部附近的结构性变化程度(增加金属氧化物的静电电容的程度)。
基于上述发现，在图1中示出的劣化程度诊断装置1中，诊断装置20将测量装置10针对两个新的金属部件40、50预先测量的阻抗中的电抗分量值存储为初始值。进一步，诊断装置20存储从图4的示出的结果中得到的“电连接部的劣化程度和电抗分量值从初始值的偏差之间的相关性”。
然后，诊断装置20被配置为获取此次测量装置10针对要被测量的两个金属部件40、50测量的阻抗中的电抗分量值和所存储的初始值的偏差，基于偏差和相关性来诊断(确定)电连接部的劣化程度。作为结果，电连接部的劣化程度被诊断，使得电连接部的劣化程度随着偏差增加而增加。可以测量的两个金属部件40、50限定于用于测量诊断装置20中存储的初始值和相关性的两个金属部件40、50，以及具有与两个金属部件40、50相同尺寸和材质的部件。
下面，叙述测量装置10使用的AC电源11的频率。本发明的发明人将AC电源11的频率更改为不同于2MHz的频率，反复进行与上述的第二初始测试内容相同的附加测试。特别地，附加测试在1.5MHz、1.2MHz、1MHz、800kHz、500kHz、200kHz、100kHz、50kHz、10kHz及1kHz进行。图5至14中示出其结果。
从图4至14可以理解到，随着电连接部的劣化程度从0开始增加而增加的、“电抗分量值从初始值的偏差”的增加梯度随着被施加至电路的AC信号的频率增加而增大。
因此，例如，如上所述，当500kHz至2MHz的足够大的频率被应用为被施加至电路的AC信号的频率时，如图4所示，随着电连接部的劣化程度的发展而“电抗分量值从初始值的偏差”的增加梯度变得足够大。因此，可以使用具有足够大的测量范围的装置(即，装置较少受到噪声的影响)作为测量装置10。换言之，即便处于噪声相对大的环境中，可以准确地测量电抗分量值，并从而可以准确地诊断电连接部的劣化程度。
相反地，当测量装置10被置于噪声相对小的环境中，具有相对小的测量范围的装置(即，装置可能受到噪声的影响)可以被用作测量装置10。如上所述，被施加至电路的AC信号的频率可以基于测量装置10的测量范围和测量装置10所处的环境中的噪声量，而适当地确定为最优值。
根据本发明的实施方式的劣化程度诊断装置1及其劣化程度诊断方法，通过使用规定频率的AC信号测量的与电连接部的接触电阻相关的阻抗(复数)中的电抗分量(虚分量)值和电连接部的劣化程度之间的强相关性(参见图4)，能够基于相关性和电抗分量值来准确地诊断两个金属部件40、50间的电连接部的劣化程度。
<其他实施方式>
本发明并不限定于上述的实施方式，而且在本发明的范围内可以采用各种修改示例。例如，本发明不限于上述实施方式，而是可以适当地修改、改进等。另外，只要能够实现本发明，上述实施方式中的每个构成要素的材料、形状、尺寸、数量、安排位置等是可选择的，本发明并不受限定。
在上述实施方式中，镀锡被施加到铜合金基材的表面的阴端子40和阳端子50被采用为两个金属部件40、50。但是，另外可知与图4示出的相关性相同的相关性还可以在如下情况中获得：不同于镀锡的镀层施加在不同于铜合金基材的金属基材的表面的阴端子40和阳端子50被采用为两个金属部件40、50的情况，或者金属基材的表面上没有形成镀层的阴端子40和阳端子50被采用为两个金属部件40、50的情况。金属基材的典型示例除铜合金之外还包括铜、铝及铝合金。镀层的典型示例包括含有镀锡的贱金属镀层。因此，本发明还可以应用于具有这些配置的金属部件40、50。
进一步地，在上述实施方式中，采用连接器的阴端子40和阳端子50作为两个金属部件40、50。但是，电线的端部和端子等之间的电连接部、金属部件40、50的任何类型，只要其具有经由电连接部电连接的结构都可以采用。进一步，两个金属部件40、50可以是安装在车辆上的部件或不是安装在车辆上的部件。
进一步地，在上述实施方式中，测量装置10使用四端子测量法测量阻抗。但是，测量装置10可以使用两端子测量法测量阻抗是不言自明的。
在此，将本发明的劣化程度诊断装置1及劣化程度诊断方法的特征简要总结并且列为如下(1)至(5)项。
(1)一种劣化程度诊断装置(1)，诊断两个金属部件间的电连接部的劣化程度，所述劣化程度诊断装置包括：
测量单元(10)，被配置为在规定频率的AC信号被施加到连接经由电连接部接触的两个金属部件(40、50)的电路的状态下，通过测量金属部件(40、50)间的AC电压和流经金属部件(40、50)间的AC电流来测量电连接部的接触电阻相关的阻抗；和
诊断单元(20)，被配置为基于由所述测量单元(10)测量的阻抗中的电抗分量值来诊断所述电连接部的劣化程度。
(2)根据(1)所述的劣化程度诊断装置(1)，
所述诊断单元(20)将测量单元(10)针对两个新的所述金属部件(40、50)预先测量的阻抗中的电抗分量值存储为初始值，并且
所述诊断单元(20)被配置为以随着电抗分量值从初始值的偏差增大、电连接部的劣化程度增加的方式，诊断所述电连接部的所述劣化程度。
(3)根据(1)或(2)所述的劣化程度诊断装置(1)，
所述金属部件(40、50)由电镀金属基材形成。
(4)根据(1)至(3)中任一项所述的劣化程度诊断装置(1)，
所述规定的频率为500kHz至2MHz。
(5)一种劣化程度诊断方法，诊断两个金属部件间的电连接部的劣化程度，所述劣化程度诊断方法包括：
测量步骤，在规定频率的AC信号被施加到连接经由电连接部接触的两个金属部件(40、50)的电路的状态下，通过测量金属部件(40、50)间的AC电压和流经金属部件(40、50)间的AC电流来测量电连接部的接触电阻相关的阻抗；和
诊断步骤，基于由所述测量步骤测量的阻抗中的电抗分量值来诊断所述电连接部的劣化程度。

Claims (5)

1.一种劣化程度诊断装置，诊断两个金属部件间的电连接部的劣化程度，所述劣化程度诊断装置包括：
测量单元，被配置为在规定频率的AC信号被施加到连接经由所述电连接部接触的所述两个金属部件的电路的状态下，通过测量所述金属部件间的AC电压和流经所述金属部件间的AC电流来测量所述电连接部的接触电阻相关的阻抗；和
诊断单元，被配置为基于由所述测量单元测量的所述阻抗中的电抗分量值来诊断所述电连接部的劣化程度。
2.根据权利要求1所述的劣化程度诊断装置，其中，
所述诊断单元将所述测量单元针对两个新的所述金属部件预先测量的所述阻抗中的所述电抗分量值存储为初始值，并且
所述诊断单元被配置为以随着所述电抗分量值从所述初始值的偏差增大、所述电连接部的劣化程度增加的方式，诊断所述电连接部的所述劣化程度。
3.根据权利要求1或2所述的劣化程度诊断装置，其中，
所述金属部件由电镀金属基材形成。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的劣化程度诊断装置，其中
所述规定的频率为500kHz至2MHz。
5.一种劣化程度诊断方法，诊断两个金属部件间的电连接部的劣化程度，所述劣化程度诊断方法包括：
测量步骤，在规定频率的AC信号被施加到连接经由所述电连接部接触的所述两个金属部件的电路的状态下，通过测量所述金属部件间的AC电压和流经所述金属部件间的AC电流来测量所述电连接部的接触电阻相关的阻抗；和
诊断步骤，基于由所述测量步骤测量的所述阻抗中的所述电抗分量值来诊断所述电连接部的劣化程度。
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