JP2017044699A - 劣化検知装置、誘導加熱装置、画像形成装置及び劣化検知方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】装置が動作中でも、サービスマンが手間をかけることなく部品の劣化を把握できるようにする。【解決手段】交流電源1から、通電を開閉するリレー2を介して負荷3に給電する回路に設けられる劣化検知部に、交流電源1からリレー2を介して負荷3に給電される電圧値を検出する電圧検出部5と、同じくその電流値を検出する電流検出部6と、劣化判定手段の機能を有する制御IC7とを備えている。そして、負荷3が駆動を停止しているときに電圧検出部5によって検出された電圧値Vsと、負荷3が駆動しているときに電圧検出部5及び電流検出部6によって検出された電圧値Vd及び電流値Idとに基づいて、制御IC7がリレー2の接触抵抗値Rcを、Rc=(Vs−Vd)/Idによって算出し、その接触抵抗値Rcを閾値と比較してリレー2の劣化具合を判定する。【選択図】 図1
Description
この発明は、劣化検知装置、誘導加熱装置、画像形成装置及び劣化検知方法に関する。
画像形成装置等の各種の装置において、それを構成している部品が劣化すると、装置の動作に支障をきたす場合がある。
そこで、例えば特許文献1には、部品の劣化を検知する目的で、部品の接触抵抗値を測定し、その接触抵抗値に基づいて部品の劣化を判定する劣化診断方法及びその装置が開示されている。
そこで、例えば特許文献1には、部品の劣化を検知する目的で、部品の接触抵抗値を測定し、その接触抵抗値に基づいて部品の劣化を判定する劣化診断方法及びその装置が開示されている。
しかしながら、特許文献1に開示されている手法では、装置の停止時にサービスマンが劣化診断装置を用いて診断を行う必要があり、手間が生じるという問題があった。
この発明は上記の問題を解決するためになされたものであり、装置が動作中でも、サービスマンが手間をかけることなく部品の劣化を把握できるようにすることを目的とする。
この発明は上記の問題を解決するためになされたものであり、装置が動作中でも、サービスマンが手間をかけることなく部品の劣化を把握できるようにすることを目的とする。
この発明による劣化検知装置は上記の目的を達成するため、電源から、通電を開閉する通電遮断手段を介して負荷に給電する回路に設けられ、上記電源から上記通電遮断手段を介して上記負荷に給電される電圧値を検出する電圧検出部と、上記負荷が駆動を停止しているときに上記電圧検出部によって検出された電圧値と上記負荷が駆動しているときに上記電圧検出部によって検出された電圧値に基づいて、上記通電遮断手段の劣化具合を判定する劣化判定手段とを備えたことを特徴とする。
この発明によれば、装置が動作中でも、サービスマンが手間をかけることなく部品の劣化を把握することができる。
以下、この発明を実施するための形態を図面に基づいて具体的に説明する。
図1は、この発明による劣化検知装置の第1の実施形態を備えた装置の例を示すブロック図である。
この図1に示す装置は、電源である交流電源1から、通電を開閉する通電遮断手段であるリレー2を介して負荷3に給電する回路を備えており、そのリレー2と負荷3との間に破線で囲んで示す劣化検知部4を設けている。この劣化検知部4が、この発明による劣化検知装置の一実施形態である。
図1は、この発明による劣化検知装置の第1の実施形態を備えた装置の例を示すブロック図である。
この図1に示す装置は、電源である交流電源1から、通電を開閉する通電遮断手段であるリレー2を介して負荷3に給電する回路を備えており、そのリレー2と負荷3との間に破線で囲んで示す劣化検知部4を設けている。この劣化検知部4が、この発明による劣化検知装置の一実施形態である。
負荷3は、装置の種類によって種々のものがあり、画像形成装置の場合は、例えばエンジン部の定着ヒータやモータ等の交流負荷である。電源が直流電源の場合は、負荷も直流負荷とする。
画像形成装置のような装置は、省エネルギーモード時の省エネルギー性能の悪化防止のために、リレー2のような通電遮断装置を有する。そして、省エネルギーモード時には、リレー2をOFF(遮断状態)にすることによって、リレー2の後段への通電が遮断され、省エネルギー性能の悪化を防止する。その通電遮断手段であるリレー2の接点の劣化を検知するために、劣化検知部4を設けている。
画像形成装置のような装置は、省エネルギーモード時の省エネルギー性能の悪化防止のために、リレー2のような通電遮断装置を有する。そして、省エネルギーモード時には、リレー2をOFF(遮断状態)にすることによって、リレー2の後段への通電が遮断され、省エネルギー性能の悪化を防止する。その通電遮断手段であるリレー2の接点の劣化を検知するために、劣化検知部4を設けている。
劣化検知部4は、電圧検出部5と電流検出部6と制御IC7及びリレー駆動回路8を備えている。
電圧検出部5は、交流電源1からリレー2を介して負荷3に給電される電圧値を検出する。電流検出部6は、交流電源1からリレー2を介して負荷3に給電される電流値を検出する。
電圧検出部5は、交流電源1からリレー2を介して負荷3に給電される電圧値を検出する。電流検出部6は、交流電源1からリレー2を介して負荷3に給電される電流値を検出する。
その電圧検出部5によって検出した電圧値と電流検出部6によって検出した電流値を制御IC7に入力し、制御IC7が目的の電力値になるように負荷3の制御を行う。負荷3は制御IC7からの指示電力で駆動される。
リレー駆動回路8は、制御IC7からの指示に従ってリレー2のON(導通)/OFF(遮断)の切り替えを行う。制御IC7は、特定用途用集積回路で構成してもよいが、CPUとROM及びRAMを含むマイクロコンピュータで構成してもよい。
リレー駆動回路8は、制御IC7からの指示に従ってリレー2のON(導通)/OFF(遮断)の切り替えを行う。制御IC7は、特定用途用集積回路で構成してもよいが、CPUとROM及びRAMを含むマイクロコンピュータで構成してもよい。
制御IC7は劣化判定手段の機能も有しており、リレー駆動回路8にリレー2をONにさせ、負荷3が駆動を停止しているときに、電圧検出部5によって検出された電圧値Vsを、基準値として内部のメモリに格納しておく。その後、制御IC7は負荷3を駆動させ、負荷3が駆動しているときに電圧検出部5によって検出された電圧値Vdと、電流検出部6によって検出された電流値Idとに基づいて、通電遮断手段であるリレー2の劣化具合を判定する。
その判定は、負荷3が停止しているときの電圧値Vsと負荷3が駆動しているときの電圧値Vdとの差(Vs−Vd)によって、電圧値の降下分を算出する。その電圧降下分と、負荷3が駆動しているときの電流値Idからリレー2の接触抵抗値を算出して、リレー2の劣化具合を判定する。その詳細は図3によって後述する。
図2は、この発明による劣化検知装置又は後述する誘導加熱装置を備えた画像形成装置の一実施形態の外観を示す正面図である。
この画像形成装置10はデジタル複合機のような多機能の画像形成装置であり、8つのユニットから構成されている。その各ユニットは、画像形成装置本体11、自動原稿送り装置(ADF)12、フィニッシャ13、両面反転ユニット14、拡張給紙トレイ15、大容量給紙トレイ(LCT)16、1ビン排紙トレイ17、およびインサートフィーダ18である。フィニッシャ13は、ステープラ及びシフトトレイ付きのフィニッシャである。
この画像形成装置10はデジタル複合機のような多機能の画像形成装置であり、8つのユニットから構成されている。その各ユニットは、画像形成装置本体11、自動原稿送り装置(ADF)12、フィニッシャ13、両面反転ユニット14、拡張給紙トレイ15、大容量給紙トレイ(LCT)16、1ビン排紙トレイ17、およびインサートフィーダ18である。フィニッシャ13は、ステープラ及びシフトトレイ付きのフィニッシャである。
画像形成装置本体11は、スキャナ部、書き込み部、感光体、現像部、給紙部ならびに図1によって説明した劣化検知部4を構成する各部などを備えている。
この場合、図1に示した劣化検知部4の制御IC7は、画像形成装置本体11内のエンジン部(画像形成部)を制御するマイクロコンピュータを備えたエンジン制御部が兼ねることができる。また、定着装置に後述する誘導加熱装置を備えてもよい。
この場合、図1に示した劣化検知部4の制御IC7は、画像形成装置本体11内のエンジン部(画像形成部)を制御するマイクロコンピュータを備えたエンジン制御部が兼ねることができる。また、定着装置に後述する誘導加熱装置を備えてもよい。
図1に示した劣化検知部4による劣化判定処理の流れを、図3のフローチャートによって説明する。この処理は図1に示した劣化検知部4の制御IC7が他の各部を制御して実行する。
制御IC7が図3に示す劣化判定処理を開始すると、まずステップS1でリレー2をONにし、ステップS2で負荷3を停止(0W駆動)させ、ステップS3で電圧検出部5によって検出される電圧値を基準値として検知し、ステップS4でメモリに格納する。
制御IC7が図3に示す劣化判定処理を開始すると、まずステップS1でリレー2をONにし、ステップS2で負荷3を停止(0W駆動)させ、ステップS3で電圧検出部5によって検出される電圧値を基準値として検知し、ステップS4でメモリに格納する。
その後、制御IC7はステップS5で、負荷3を駆動させる。負荷起動の一例としては1500Wの電力で駆動(稼動)させるが、その電力値は重要ではなく、負荷3を駆動状態にすればよい。
そして、制御IC7はステップS6で、電圧検出部5によって検出される電圧値と電流検出部6によって検出される電流値を、それぞれ経時値として検知し、ステップS7でリレー2の接点の接触抵抗値を算出する。
そして、制御IC7はステップS6で、電圧検出部5によって検出される電圧値と電流検出部6によって検出される電流値を、それぞれ経時値として検知し、ステップS7でリレー2の接点の接触抵抗値を算出する。
その算出方法は、ステップS4でメモリに格納した電圧値(基準電圧)をVsとし、ステップS6で検知した経時値の電圧値をVd、電流値をIdとしたとき、電圧値Vdが電圧値(基準電圧)Vsに対してどれだけ電圧降下したかを算出する。その電圧降下をΔV[V]とすると、ΔV=(Vs−Vd)[V]である。この電圧降下ΔVと経時値の電流値Idから、オームの法則(R=V/I)によって、リレー2の接触抵抗値Rcを、Rc=ΔV/Id=(Vs−Vd)/Idの演算によって算出する。
そして、制御IC7は次のステップS8で、ステップS7で算出した接触抵抗値Rcからリレー劣化判定を行って、この一連の処理を終了する。このリレー劣化判定の処理は、算出した接触抵抗値Rcを予め設定された閾値(例えば100mΩ)と比較し、接触抵抗値Rcが閾値を超えた場合に、通電遮断手段であるリレー2が劣化していると判定する。
図4は、この発明による誘導加熱装置を備えた画像形成装置の第1の実施形態の要部を示すブロック図である。
この誘導加熱装置は、誘導加熱電源20と、その誘導加熱電源20から給電される負荷である誘導加熱部(負荷)30とからなる。誘導加熱部は画像形成装置の定着装置に備えている。
この誘導加熱装置は、誘導加熱電源20と、その誘導加熱電源20から給電される負荷である誘導加熱部(負荷)30とからなる。誘導加熱部は画像形成装置の定着装置に備えている。
誘導加熱電源20は、図1に示した劣化検知装置の実施形態と同様に、電源である交流電源1から、通電を開閉する通電遮断手段であるリレー2を介して給電される。
誘導加熱電源20内には、交流電源1からリレー2を介して給電される電圧値を検出する電圧検出部21と、交流電源1からリレー2を介し給電される電流値を検出する電流検出部22と、マイクロコンピュータ(「CPU」と略称する)23とを備えている。CPU23は、負荷である誘導加熱部30を制御すると共に、前述した劣化検知部4の制御IC7と同様に劣化検知処理も行う。
誘導加熱電源20内には、交流電源1からリレー2を介して給電される電圧値を検出する電圧検出部21と、交流電源1からリレー2を介し給電される電流値を検出する電流検出部22と、マイクロコンピュータ(「CPU」と略称する)23とを備えている。CPU23は、負荷である誘導加熱部30を制御すると共に、前述した劣化検知部4の制御IC7と同様に劣化検知処理も行う。
さらに、この図4に示す画像形成装置は、コントローラ部25とエンジン制御部26を備えている。そのエンジン制御部26と誘導加熱電源20内のCPU23及びコントローラ部25とは、それぞれ通信線で接続されている。これらのコントローラ部25及びエンジン制御部26と誘導加熱電源20内のCPU23には、交流電源1から図示を省略した電源ユニットによって直流化された所定の直流電圧が供給されている。
コントローラ部25はマイクロコンピュータ(CPU)を備えており、スキャナ部で読み取った画像データ又は外部のホスト装置から受信する印刷データを各種の処理を行って画像形成用のデータを生成する。
エンジン制御部26は、スキャナ部を動作させて原稿の画像を読み取らせたり、プリンタエンジンを制御して、コントローラ部25から受け取った画像形成用のデータによって、プリンタエンジンに用紙に画像を形成(印刷)させたりするための制御を実行する。
コントローラ部25はマイクロコンピュータ(CPU)を備えており、スキャナ部で読み取った画像データ又は外部のホスト装置から受信する印刷データを各種の処理を行って画像形成用のデータを生成する。
エンジン制御部26は、スキャナ部を動作させて原稿の画像を読み取らせたり、プリンタエンジンを制御して、コントローラ部25から受け取った画像形成用のデータによって、プリンタエンジンに用紙に画像を形成(印刷)させたりするための制御を実行する。
誘導加熱電源20に負荷である誘導加熱部30が繋がっており、エンジン制御部26から誘導加熱電源20のCPU23に電力指示値が送られることによって、CPU23がその電力指示値に応じて誘導加熱部30を駆動させる。その際に、誘導加熱電源20は、電圧検出部21と電流検出部22によって、誘導加熱部30に供給する電圧値と電流値を検出し、誘導加熱電源20自身でエンジン制御部26からの電力指示値に対して正確な値になるように誘導加熱部30の稼働を行う。
例えば、定着電力が1500Wの時には、エンジン制御部26から1500Wの電力指示値を誘導加熱電源20のCPU23へ送り、誘導加熱電源20がCPU23の制御により負荷である誘導加熱部(負荷)30を、その消費電力が1500Wになるように稼働する。
例えば、定着電力が1500Wの時には、エンジン制御部26から1500Wの電力指示値を誘導加熱電源20のCPU23へ送り、誘導加熱電源20がCPU23の制御により負荷である誘導加熱部(負荷)30を、その消費電力が1500Wになるように稼働する。
省エネルギーモード時には、そのコントローラ部25によって、エンジン制御部26に対してOFF状態になるように指示が送られる。それによって、エンジン制御部26がOFF状態になるので、エンジン制御部26からリレー2へ供給されるコイル電圧がOFFになり、リレー2がOFFになる。
誘導加熱電源20は、リレー2の後段に接続されているので、リレー2がOFFになることによって誘導加熱部30への給電が停止し、省エネルギー性能を維持することが可能である。
誘導加熱電源20は、リレー2の後段に接続されているので、リレー2がOFFになることによって誘導加熱部30への給電が停止し、省エネルギー性能を維持することが可能である。
この実施形態においても、リレー2がONの状態で、誘導加熱電源20が負荷である誘導加熱部30の駆動(加熱動作)を停止させているときに電圧検出部21によって検出された電圧値を、CPU23が基準値として内部のメモリに格納する。そして、誘導加熱電源20が誘導加熱部30を駆動(加熱動作)させているときに電圧検出部21及び電流検出部22によって検出された電圧値及び電流値と、格納している基準値とに基づいて、CPU23が通電遮断手段であるリレー2の劣化具合を判定する。そのCPU23による劣化判定処理は、前述の実施形態における図1の制御IC7による図3のフローチャートによって説明した処理と同様であるので、説明を省略する。
この実施形態では、誘導加熱装置の誘導加熱電源20内に元々備えている電圧検出部21と電流検出部22とを用いて、リレー2の後段における誘導加熱部30が駆動を停止しているときと駆動しているときの電圧値及び電流値を検出する。そして、誘導加熱電源20を制御するCPU23によって、リレー2の劣化具合を判定することができる。
したがって、新たに劣化検知のためのハード部品や回路を追加する必要がないため、コストをかけずに通電遮断手段であるリレーの劣化検知を行うことができる。
したがって、新たに劣化検知のためのハード部品や回路を追加する必要がないため、コストをかけずに通電遮断手段であるリレーの劣化検知を行うことができる。
この実施形態では、定着装置に誘導加熱部と誘導加熱電源を備えた誘導加熱装置を使用した場合の例を説明したが、定着装置にハロゲンヒータ等のヒータとそれを駆動制御するヒータ電源とを備えた装置を使用してもよい。その場合も、ヒータ電源に元々備えている電圧制御部と電流制御部及びCPU等の演算制御部を使用して、この発明による劣化検知を行えば、上述の実施形態と同様の効果を得ることが可能である。
図5は、この発明による劣化検知装置の第2の実施形態の機能を有する画像形成装置の制御部の構成例を示すブロック図である。
この図5に示す画像形成装置の制御部は、電源制御部40とエンジン制御部50とコントローラ部60とからなる。その電源制御部40はCPU41を、エンジン制御部50はCPU51を、コントローラ部60はCPU61とネットワーク制御部62をそれぞれ備えている。電源制御部40はCPU41には電圧検出部と電流検出部も備えている。図5において、図1と対応する部分には同一の符号を付している。
この図5に示す画像形成装置の制御部は、電源制御部40とエンジン制御部50とコントローラ部60とからなる。その電源制御部40はCPU41を、エンジン制御部50はCPU51を、コントローラ部60はCPU61とネットワーク制御部62をそれぞれ備えている。電源制御部40はCPU41には電圧検出部と電流検出部も備えている。図5において、図1と対応する部分には同一の符号を付している。
この実施形態では、交流電源1からリレー2を介して電源制御部40に給電され、電源制御部40がエンジン制御部50からの電力指示値に従って負荷3を駆動する。
エンジン制御部50がリレー2をONにしていて、電源制御部40が負荷を駆動していないときに、電源制御部40内の電圧検出部が検出した電圧値をエンジン制御部50のCPU51へ送り、その内部のメモリに基準値として格納させる。
エンジン制御部50がリレー2をONにしていて、電源制御部40が負荷を駆動していないときに、電源制御部40内の電圧検出部が検出した電圧値をエンジン制御部50のCPU51へ送り、その内部のメモリに基準値として格納させる。
そして、エンジン制御部50が負荷3を駆動した後、電源制御部40内の電圧検出部と電流検出部が検出した電圧値及び電流値をエンジン制御部50のCPU51へ送る。CPU51は、その新たな電圧値及び電流値とメモリに格納している電圧値(基準値)とに基いて、前述した各実施形態の場合と同様にしてリレー2の接点の接触抵抗値を算出し、接触抵抗値に基いて劣化具合を判定する。
そのCPU51による劣化具合の判定結果である部品劣化情報を、エンジン制御部50がコントローラ部60に通知する。
そのCPU51による劣化具合の判定結果である部品劣化情報を、エンジン制御部50がコントローラ部60に通知する。
コントローラ部60は、エンジン制御部50からその判定結果の通知を受け取ると、ネットワーク制御部62に制御されるネットワークを介して、部品(この場合はリレー2)の劣化具合をサービスマン等が携行するかサービス拠点の端末装置に通知する。
サービスマン等が携行する端末装置やサービス拠点の端末装置がその通知を受信すると、その内容を表示したり、音声で通知してサービスマンに知らせたりする。それによって、サービスマンは部品(リレー2)の劣化具合を把握することができ、部品の故障前に部品の交換作業を行うことが可能になる。そのため、画像形成装置のダウンタイムの低減につながる。
サービスマン等が携行する端末装置やサービス拠点の端末装置がその通知を受信すると、その内容を表示したり、音声で通知してサービスマンに知らせたりする。それによって、サービスマンは部品(リレー2)の劣化具合を把握することができ、部品の故障前に部品の交換作業を行うことが可能になる。そのため、画像形成装置のダウンタイムの低減につながる。
図6は、この発明による劣化検知における部品劣化具合判定について説明するための図であり、算出される接触抵抗値とその閾値(しきい値)、および検知回数の関係を示している。
この発明の各実施形態では、劣化判定手段は前述したように、負荷が駆動を停止しているときに電圧検出部によって検出された電圧値Vsを基準値として記憶する。そして、負荷が駆動しているときに電圧検出部及び電流検出部によって検出された電圧値Vd,電流値Idと、基準値の電圧値Vsとによって、通電遮断手段であるリレーの接触抵抗値Rcを、Rc=(Vs−Vd)/Idによって算出する。
この発明の各実施形態では、劣化判定手段は前述したように、負荷が駆動を停止しているときに電圧検出部によって検出された電圧値Vsを基準値として記憶する。そして、負荷が駆動しているときに電圧検出部及び電流検出部によって検出された電圧値Vd,電流値Idと、基準値の電圧値Vsとによって、通電遮断手段であるリレーの接触抵抗値Rcを、Rc=(Vs−Vd)/Idによって算出する。
その接触抵抗値Rcが予め設定された閾値、例えば図6に太線で示す100mΩを超えた場合に、部品(リレー2)が劣化していると判定する。
図5に示した実施形態では、接触抵抗値Rcが閾値である100mΩを超えた場合に、部品が劣化していると判定すると、その判定結果の部品劣化情報をネットワークを介して、サービスマン等が携行する端末装置やサービス拠点の端末装置に通知をする。
図5に示した実施形態では、接触抵抗値Rcが閾値である100mΩを超えた場合に、部品が劣化していると判定すると、その判定結果の部品劣化情報をネットワークを介して、サービスマン等が携行する端末装置やサービス拠点の端末装置に通知をする。
なお、接触抵抗値が閾値を超えた検知回数が、予め設定した回数を超えた場合に部品劣化と判定し、部品劣化通知を行うようにしてもよい。
また、通電遮断手段がリレーである場合の実施形態について説明したが、通電遮断手段としてACスイッチやトライアック等を使用してもよい。この発明は、特に通電遮断手段として機械的な接点を有する部品を使用する場合に好適である。
また、通電遮断手段がリレーである場合の実施形態について説明したが、通電遮断手段としてACスイッチやトライアック等を使用してもよい。この発明は、特に通電遮断手段として機械的な接点を有する部品を使用する場合に好適である。
図7は、この発明による劣化検知装置の第3の実施形態を備えた装置の例を示すブロック図である。図7において、図1に示した各部と対応する部分には同一の符号を付している。
この図7に示す装置は、図1に示した装置における電流検出部6を備えておらず、制御IC7に代えて制御IC70を備えている。
そして、図1に示した装置と同様に、電源である交流電源1から、通電を開閉する通電遮断手段であるリレー2を介して負荷3に給電する回路を備えている。
この図7に示す装置は、図1に示した装置における電流検出部6を備えておらず、制御IC7に代えて制御IC70を備えている。
そして、図1に示した装置と同様に、電源である交流電源1から、通電を開閉する通電遮断手段であるリレー2を介して負荷3に給電する回路を備えている。
負荷3は、装置の種類によって種々のものがあり、画像形成装置の場合は、例えばエンジン部の定着ヒータやモータ等の交流負荷である。
画像形成装置のような装置は、省エネルギーモード時の省エネルギー性能の悪化防止のために、リレー2のような通電遮断装置を有する。そして、省エネルギーモード時には、リレー2をOFF(遮断状態)にすることによって、リレー2の後段への通電が遮断され、省エネルギー性能の悪化を防止する。
画像形成装置のような装置は、省エネルギーモード時の省エネルギー性能の悪化防止のために、リレー2のような通電遮断装置を有する。そして、省エネルギーモード時には、リレー2をOFF(遮断状態)にすることによって、リレー2の後段への通電が遮断され、省エネルギー性能の悪化を防止する。
電圧検出部5は、交流電源1からリレー2を介して負荷3に給電される電圧値を検出する。その電圧値を制御IC70に入力し、制御IC70が目的の電力値になるように負荷3の制御を行う。負荷3は制御IC70からの指示電力で駆動される。
リレー駆動回路8は、制御IC70からの指示に従ってリレー2のON(導通)/OFF(遮断)の切り替えを行う。制御IC70は、特定用途用集積回路で構成してもよいが、CPUとROM及びRAMを含むマイクロコンピュータで構成してもよい。
リレー駆動回路8は、制御IC70からの指示に従ってリレー2のON(導通)/OFF(遮断)の切り替えを行う。制御IC70は、特定用途用集積回路で構成してもよいが、CPUとROM及びRAMを含むマイクロコンピュータで構成してもよい。
この実施形態の装置は、制御IC70とは別に、この実施形態に特有の電力検知及び劣化判定の処理を行うためのCPU71と表示部72を備えている。
電圧検出部5によって検出した電圧値は、制御IC70に入力すると共にCPU71にも入力する。
CPU71は、負荷3が駆動を停止しているときに電圧検出部5によって検出された電圧値と負荷3が駆動しているときに電圧検出部5によって検出された電圧値に基づいて、通電遮断手段であるリレー2の劣化具合を判定する劣化判定手段としての機能を有する。
電圧検出部5によって検出した電圧値は、制御IC70に入力すると共にCPU71にも入力する。
CPU71は、負荷3が駆動を停止しているときに電圧検出部5によって検出された電圧値と負荷3が駆動しているときに電圧検出部5によって検出された電圧値に基づいて、通電遮断手段であるリレー2の劣化具合を判定する劣化判定手段としての機能を有する。
また、このCPU71は、負荷3が駆動を停止しているときに電圧検出部5によって検出された電圧値と、負荷3が駆動しているときに電圧検出部5によって検出された電圧値との差による電圧降下値を算出する電圧降下値算出手段としての機能も有している。さらに、その検出した電圧降下値と予め設定した基準値との差分値に対応する電力値を電力テーブルから選択する選択手段と、それによって選択した電力値を表示部72に表示させる電力値表示手段としての機能も有している。これらが電力検知機能である。
このCPU71と制御IC70とは相互に信号のやり取りが可能な通信線で接続されている。この実施形態では、図7における交流電源1とリレー2及び負荷3を除く部分が、劣化検知装置に相当する。
このCPU71と制御IC70とは相互に信号のやり取りが可能な通信線で接続されている。この実施形態では、図7における交流電源1とリレー2及び負荷3を除く部分が、劣化検知装置に相当する。
図8と図9によって、この第3の実施形態による電力検知に関する動作を説明する。
図8は、図7に示した制御IC70とCPU71による出荷前の工程における基準値格納処理の流れを示すフローチャートであり、図9は、同じく使用開始後における電力検知処理の流れを示すフローチャートである。
図8に示す処理は、工場内で出荷検査等の工程で実施させる。
この処理を開始すると、まずステップS11で制御IC70がリレー駆動回路8にリレー2をONにさせる。しかし、負荷3は駆動しない。
図8は、図7に示した制御IC70とCPU71による出荷前の工程における基準値格納処理の流れを示すフローチャートであり、図9は、同じく使用開始後における電力検知処理の流れを示すフローチャートである。
図8に示す処理は、工場内で出荷検査等の工程で実施させる。
この処理を開始すると、まずステップS11で制御IC70がリレー駆動回路8にリレー2をONにさせる。しかし、負荷3は駆動しない。
その状態で、ステップS12で電圧検出部5が検出した、交流電源1からリレー2を介して負荷3に給電される電圧をCPU71が検知し、その電圧値を確認してメモリに一時記憶する。
次いで、ステップS13で、例えば印刷指示により制御IC70が負荷3を駆動させる。その後、ステップS14で、CPU71が一時記憶している電圧値と負荷3の駆電後に電圧検出部5が検出した電圧値との差による印刷時の電圧降下値を算出する。
次いで、ステップS13で、例えば印刷指示により制御IC70が負荷3を駆動させる。その後、ステップS14で、CPU71が一時記憶している電圧値と負荷3の駆電後に電圧検出部5が検出した電圧値との差による印刷時の電圧降下値を算出する。
そして、ステップS15で、CPU71はその算出した電圧降下値を基準値として不揮発性メモリに格納して、処理を終了する。
このようにして、CPU71は予め印刷時の電圧降下値の基準値をメモリに格納しておく基準値格納手段の機能を果す。また、このCPU71は、負荷3が駆動しているときの電圧降下値と上記基準値との差分値に対応する電力値を予め電力テーブルとしてROM又は不揮発性メモリに格納しており、電力テーブル格納手段としての機能も果たす。
このようにして、CPU71は予め印刷時の電圧降下値の基準値をメモリに格納しておく基準値格納手段の機能を果す。また、このCPU71は、負荷3が駆動しているときの電圧降下値と上記基準値との差分値に対応する電力値を予め電力テーブルとしてROM又は不揮発性メモリに格納しており、電力テーブル格納手段としての機能も果たす。
この装置の使用開始後、図9に示す電力検知処理を開始すると、ステップS21で制御IC70がリレー駆動回路8にリレー2をONにさせる。そして、ステップS22で、まだ負荷3が駆動を停止しているときに電圧検出部5によって検出された電圧を、CPU71が検知し、その電圧値を確認してメモリに一時記憶する。
次いで、ステップS23で、例えば印刷指示により制御IC70が負荷3を駆動させる。その後、ステップS24で、CPU71が一時記憶している電圧値と負荷3の駆電後に電圧検出部5が検出した電圧値との差による印刷時の電圧降下値を算出する。
そして、ステップS25でCPU71は、算出した電圧降下値を予め記憶した基準値と比較し、差分値を算出する。次いで、ステップS26でCPU71は、算出した差分値に対応する電力値を、格納している電力テーブルから選択し、ステップS27でその選択した電力値を表示部72に表示させて、処理を終了する。
そして、ステップS25でCPU71は、算出した電圧降下値を予め記憶した基準値と比較し、差分値を算出する。次いで、ステップS26でCPU71は、算出した差分値に対応する電力値を、格納している電力テーブルから選択し、ステップS27でその選択した電力値を表示部72に表示させて、処理を終了する。
従来の電力表示は、例えば待機時は「※※」W、モノクロ印刷時は「○○」W、フルカラー設定では「××」Wを常時表示するだけなので、印刷等の動作設定が変わらないと表示される電力値も変化しなかった。この実施形態によれば、各動作状態での電圧降下値に応じた合算電力が表示部72の表示画面にリアルタイムで表示される。したがって、ユーザが装置の実動作状態に応じた、より正しい実電力値を常に確認できるようになる。
次に、図10と図11によって、この第3の実施形態による劣化判定に関する動作を説明する。図10は、図7に示した制御IC70とCPU71による出荷前の工程における電圧降下値の閾値格納処理の流れを示すフローチャートである。図11は、同じく使用開始後における劣化判定処理の流れを示すフローチャートである。
図10に示す処理は、工場内で出荷検査等の工程で実施させる。そのステップS31〜S34における各処理は、前述した図8のステップS11〜S14における各処理と同じである。
図10に示す処理は、工場内で出荷検査等の工程で実施させる。そのステップS31〜S34における各処理は、前述した図8のステップS11〜S14における各処理と同じである。
その後、ステップS35で、CPU71はステップS34で算出した印刷時の電圧降下値から異常電圧降下値を算出する。ステップS36で、CPU71は算出した値を劣化判定のための閾値と設定して、不揮発性メモリに格納して、処理を終了する。異常電圧降下値は、部品劣化等の故障を予測するための閾値となる値である。
なお、制御IC70とCPU71が図8に示したステップS11〜S15の基準値格納処理を実行した後、続けて図10に示したステップS35及びS36の処理を行って、劣化判定のための電圧降下値の閾値をメモリに格納することもできる。
なお、制御IC70とCPU71が図8に示したステップS11〜S15の基準値格納処理を実行した後、続けて図10に示したステップS35及びS36の処理を行って、劣化判定のための電圧降下値の閾値をメモリに格納することもできる。
この装置の使用開始後、図11に示す劣化判定処理を開始する。そのステップS41〜S44における各処理は、前述した図9のステップS21〜S24における各処理と同じである。
CPU71は、ステップS44で印刷時の電圧降下値を算出した後、ステップS45で、算出した電圧降下値がメモリに格納している閾値に達したか否かを判断する。
すなわち、このステップS45が劣化判定手段に相当する。そのため、負荷3が駆動を停止しているときに電圧検出部5によって検出された電圧値と、負荷3が駆動しているときに検出された電圧値との差によって算出した電圧降下値と閾値とを比較して、通電遮断手段であるリレー2の劣化具合を判定する。
CPU71は、ステップS44で印刷時の電圧降下値を算出した後、ステップS45で、算出した電圧降下値がメモリに格納している閾値に達したか否かを判断する。
すなわち、このステップS45が劣化判定手段に相当する。そのため、負荷3が駆動を停止しているときに電圧検出部5によって検出された電圧値と、負荷3が駆動しているときに検出された電圧値との差によって算出した電圧降下値と閾値とを比較して、通電遮断手段であるリレー2の劣化具合を判定する。
CPU71がこのステップS45で、電圧降下値が閾値に達したと判断した場合は部品劣化と判定し、ステップS46へ進んで部品劣化情報を表示部72に表示させてユーザに告知した後、処理を終了する。それと同時にあるいはその表示に代えて、部品劣化を外部に通知する通知手段を設け、故障予測日等の通知を行うようにしてもよい。
その判定結果の部品劣化情報や故障予測日を、ネットワークを介してサービスマン等が携行する端末装置やサービス拠点の端末装置に通知をすることができる。
その判定結果の部品劣化情報や故障予測日を、ネットワークを介してサービスマン等が携行する端末装置やサービス拠点の端末装置に通知をすることができる。
ステップS45で、CPU71が算出した電圧降下値が閾値に達していないと判断した場合は、ステップS44へ戻って、CPU71は再び電圧検出部5が検出した電圧値を取り込んで、一時記憶している電圧値との差による印刷時の電圧降下値を算出する。そして、ステップS45の判断を繰り返す。
突入電流の発生回数等から故障を検知するシステムは、例えば特開2003−075492号公報などに開示されているが、単電源に対するものである。また、突入電流が発生する電源OFF/ONに依存した故障予測となっているので、突入電流を測定するための電流検知回路等を含む、複数の回路が必要となる。
さらに、単一電源でもインターロックシステム機能(リレー等による出力遮断機能)等が搭載されている場合や、1製品内で複数の電源が搭載されている場合には、各電源によって電源のON/OFF回数も異なり、突入電流の発生回数も異なる。
さらに、単一電源でもインターロックシステム機能(リレー等による出力遮断機能)等が搭載されている場合や、1製品内で複数の電源が搭載されている場合には、各電源によって電源のON/OFF回数も異なり、突入電流の発生回数も異なる。
そのため、1製品内であっても、特に複数枚の電源基板を使用する場合には、各電源基板よって実寿命が異なるため、最短寿命となる基板を予測して検出することはできない。
さらに、上記公報に開示された構成で複数基板の寿命検知を行うには、電流検知回路等が電源基板の枚数分必要になるため、コストが増大する。
これを解決するために上述の実施形態を応用すれば、各電源基板の電圧検知回路で測定される電圧降下を利用し、その電圧降下測定値から部品劣化閾値(ソフトウェアのパラメータとして持っておく)と比較することによって寿命予測を行うことができる。そして、故障発生前に部品劣化情報や故障予測の通知を行うことができる。
さらに、上記公報に開示された構成で複数基板の寿命検知を行うには、電流検知回路等が電源基板の枚数分必要になるため、コストが増大する。
これを解決するために上述の実施形態を応用すれば、各電源基板の電圧検知回路で測定される電圧降下を利用し、その電圧降下測定値から部品劣化閾値(ソフトウェアのパラメータとして持っておく)と比較することによって寿命予測を行うことができる。そして、故障発生前に部品劣化情報や故障予測の通知を行うことができる。
例えば、サービスの定期点検時に「次回は故障予測月になります」など、定期点検に合わせるような事前通告を行うこともできる。また、測定用の回路が別途必要にならないことから複数枚の電源基板を使用したときでも、コストの増大を抑制する事ができる。
それによって、装置のダウンタイム低減、サービス性向上、コスト低減を図ることができる。
なお、上述した実施形態における電力合算表示と故障予測判定とは、一見全く異なる機能のように見えるが、ハードウェアとしては同じ回路で実現可能であり、ソフトウェアも算出処理と格納データが若干異なるだけであるから、制御フローも共通部分が多い。
それによって、装置のダウンタイム低減、サービス性向上、コスト低減を図ることができる。
なお、上述した実施形態における電力合算表示と故障予測判定とは、一見全く異なる機能のように見えるが、ハードウェアとしては同じ回路で実現可能であり、ソフトウェアも算出処理と格納データが若干異なるだけであるから、制御フローも共通部分が多い。
上記実施形態では、負荷を駆動しない場合に検出される電圧に対して、負荷を駆動させた場合に検出される電圧の降下に基づいて、電力検知及び部品劣化の判定を行った。しかし、図7に破線で示すように、通電遮断手段であるリレー2より交流電源1側の電圧も電圧検出部5で検出できるようにすれば、ただの電圧検知でも同様の制御を実現できる。
図12は、この発明による誘導加熱装置を備えた画像形成装置の第2の実施形態の要部を示すブロック図である。
この誘導加熱装置は、誘導加熱電源20Aと、その誘導加熱電源20Aから給電される負荷である誘導加熱部(負荷)30とからなる。誘導加熱部は画像形成装置の定着装置に備えている。
この図12において、図4に示した各部と同じ部分には同一の符号を付しており、それらの説明は省略するか簡略にする。
この誘導加熱装置は、誘導加熱電源20Aと、その誘導加熱電源20Aから給電される負荷である誘導加熱部(負荷)30とからなる。誘導加熱部は画像形成装置の定着装置に備えている。
この図12において、図4に示した各部と同じ部分には同一の符号を付しており、それらの説明は省略するか簡略にする。
誘導加熱電源20Aは、図4に示した実施形態と同様に、電源である交流電源1から、通電を開閉する通電遮断手段であるリレー2を介して給電される。
誘導加熱電源20A内には、交流電源1からリレー2を介して給電される電圧値を検出する電圧検出部21と、マイクロコンピュータ(「CPU」と略称する)23Aとを備えているが、電流検出部は備えていない。
CPU23Aは、負荷である誘導加熱部30を制御すると共に、図7によって前述した劣化検知装置の第3の実施形態のCPU71と同様に電力検知及び劣化判定の処理も行う。
誘導加熱電源20A内には、交流電源1からリレー2を介して給電される電圧値を検出する電圧検出部21と、マイクロコンピュータ(「CPU」と略称する)23Aとを備えているが、電流検出部は備えていない。
CPU23Aは、負荷である誘導加熱部30を制御すると共に、図7によって前述した劣化検知装置の第3の実施形態のCPU71と同様に電力検知及び劣化判定の処理も行う。
さらに、この図12に示す画像形成装置は、コントローラ部25とエンジン制御部26及び表示部72も備えている。
この画像形成装置は、誘導加熱電源20A内のCPU23Aが図7のCPU71と同様に、図8〜図11のフローチャートによって説明した処理を行う。そして、負荷である誘導加熱部30の駆動(加熱動作中)に選択した電力値を表示部72に表示し、部品の劣化を判定した場合には、部品劣化情報を表示部72に表示する。また、故障予測日等の情報を、ネットワークを介してサービスマン等が携行する端末装置やサービス拠点の端末装置に通知をすることもできる。その他の点については、図4によって説明した誘導加熱装置を備えた画像形成装置の第1の実施形態と同様である。
この画像形成装置は、誘導加熱電源20A内のCPU23Aが図7のCPU71と同様に、図8〜図11のフローチャートによって説明した処理を行う。そして、負荷である誘導加熱部30の駆動(加熱動作中)に選択した電力値を表示部72に表示し、部品の劣化を判定した場合には、部品劣化情報を表示部72に表示する。また、故障予測日等の情報を、ネットワークを介してサービスマン等が携行する端末装置やサービス拠点の端末装置に通知をすることもできる。その他の点については、図4によって説明した誘導加熱装置を備えた画像形成装置の第1の実施形態と同様である。
以上、この発明の各実施形態について説明してきたが、その各実施形態の各部の具体的な構成や処理の内容等は、そこに記載したものに限るものではない。
また、この発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲の各請求項に記載された技術的特徴を有する以外は、何ら限定されるものではないことは言うまでもない。
さらに、以上説明してきた各実施形態の構成例、動作例及び変形例等は、適宜変更又は追加したり、一部を削除してもよく、相互に矛盾しない限り任意に組み合わせて実施することも可能であることは勿論である。
また、この発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲の各請求項に記載された技術的特徴を有する以外は、何ら限定されるものではないことは言うまでもない。
さらに、以上説明してきた各実施形態の構成例、動作例及び変形例等は、適宜変更又は追加したり、一部を削除してもよく、相互に矛盾しない限り任意に組み合わせて実施することも可能であることは勿論である。
1:交流電源(電源) 2:リレー(通電遮断手段) 3:負荷
4:劣化検知部(劣化検知装置) 5,21:電圧検出部 6,22:電流検出部
7:制御IC 8:リレー駆動回路
10:画像形成装置 11:画像形成装置本体 12:自動原稿送り装置(ADF)
13:フィニッシャ 14:両面反転ユニット 15:拡張給紙トレイ
16:大容量給紙トレイ(LCT) 17:1ビン排紙トレイ
18:インサートフィーダ 20,20A:誘導加熱電源
23,23A:マイクロコンピュータ(CPU) 25,60:コントローラ部
26,50:エンジン制御部 30:誘導加熱部 40:電源制御部
41,51,61:マイクロコンピュータ(CPU) 62:ネットワーク制御部
70:制御IC 71:マイクロコンピュータ(CPU) 72:表示部
4:劣化検知部(劣化検知装置) 5,21:電圧検出部 6,22:電流検出部
7:制御IC 8:リレー駆動回路
10:画像形成装置 11:画像形成装置本体 12:自動原稿送り装置(ADF)
13:フィニッシャ 14:両面反転ユニット 15:拡張給紙トレイ
16:大容量給紙トレイ(LCT) 17:1ビン排紙トレイ
18:インサートフィーダ 20,20A:誘導加熱電源
23,23A:マイクロコンピュータ(CPU) 25,60:コントローラ部
26,50:エンジン制御部 30:誘導加熱部 40:電源制御部
41,51,61:マイクロコンピュータ(CPU) 62:ネットワーク制御部
70:制御IC 71:マイクロコンピュータ(CPU) 72:表示部
Claims (21)
- 電源から、通電を開閉する通電遮断手段を介して負荷に給電する回路に設けられ、
前記電源から前記通電遮断手段を介して前記負荷に給電される電圧値を検出する電圧検出部と、
前記負荷が駆動を停止しているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値と前記負荷が駆動しているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値に基づいて、前記通電遮断手段の劣化具合を判定する劣化判定手段と、
を備えたことを特徴とする劣化検知装置。 - 請求項1に記載の劣化検知装置において、
前記電源から前記通電遮断手段を介して前記負荷に給電される電流値を検出する電流検出部をさらに備え、
前記劣化判定手段は、前記負荷が駆動を停止しているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値と、前記負荷が駆動しているときに前記電圧検出部及び前記電流検出部によって検出された電圧値及び電流値とに基づいて、前記通電遮断手段の劣化具合を判定することを特徴とする劣化検知装置。 - 前記劣化判定手段は、前記負荷が駆動を停止しているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値をVs、前記負荷が駆動しているときに前記電圧検出部及び前記電流検出部によって検出された電圧値をVd、電流値をIdとしたとき、前記通電遮断手段の接触抵抗値Rcを、Rc=(Vs−Vd)/Idによって算出し、該接触抵抗値Rcが予め設定された閾値を超えた場合に、前記通電遮断手段が劣化していると判定する手段であることを特徴とする請求項2に記載の劣化検知装置。
- 請求項1に記載の劣化検知装置において、
予め劣化判定のための電圧降下値の閾値を格納する閾値格納手段をさらに備え、
前記劣化判定手段は、前記負荷が駆動を停止しているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値と、前記負荷が駆動しているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値との差によって算出した電圧降下値と前記閾値とを比較して、前記通電遮断手段の劣化具合を判定することを特徴とする劣化検知装置。 - 請求項4に記載の劣化検知装置において、
前記劣化判定手段が前記通電遮断手段が劣化していると判定した場合に部品劣化を表示する表示手段を備えたことを特徴とする劣化検知装置。 - 請求項4又は5に記載の劣化検知装置において、
前記劣化判定手段が前記通電遮断手段が劣化していると判定した場合に部品劣化を外部に通知する通知手段を備えたことを特徴とする劣化検知装置。 - 請求項4から6のいずれか一項に記載の劣化検知装置において、
予め電圧降下値の基準値を格納する基準値格納手段と、
前記負荷が駆動しているときの電圧降下値と前記基準値との差分値に対応する電力値を電力テーブルとして格納した電力テーブル格納手段と、
前記負荷が駆動を停止しているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値と、前記負荷が駆動しているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値との差による電圧降下値を算出する電圧降下値算出手段と、
該手段によって算出した電圧降下値と前記基準値との差分値に対応する電力値を前記電力テーブルから選択する選択手段と、
該選択手段によって選択した電力値を表示する電力値表示手段と
を備えたことを特徴とする劣化検知装置。 - 電源からの通電を開閉する通電遮断手段と、前記電源から該通電遮断手段を介して給電される誘導加熱電源と、該誘導加熱電源から給電される誘導加熱部とを備えた誘導加熱装置であって、
前記誘導加熱電源内に、
前記電源から前記通電遮断手段を介して給電される電圧値を検出する電圧検出部と、
前記誘導加熱部が加熱動作を停止しているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値と前記誘導加熱部が加熱動作しているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値とに基づいて、前記通電遮断手段の劣化具合を判定する劣化判定手段とを備えたことを特徴とする誘導加熱装置。 - 請求項8に記載の誘導加熱装置において、
前記電源から前記通電遮断手段を介して給電される電流値を検出する電流検出部をさらに備え、
前記劣化判定手段は、前記誘導加熱部が加熱動作を停止しているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値と、前記誘導加熱部が加熱動作をしているときに前記電圧検出部及び前記電流検出部によって検出された電圧値及び電流値とに基づいて、前記通電遮断手段の劣化具合を判定することを特徴とする誘導加熱装置。 - 前記劣化判定手段は、前記誘導加熱部が加熱動作を停止しているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値をVs、前記誘導加熱部が加熱動作しているときに前記電圧検出部及び前記電流検出部によって検出された電圧値をVd、電流値をIdとしたとき、前記通電遮断手段の接触抵抗値Rcを、Rc=(Vs−Vd)/Idによって算出し、該接触抵抗値Rcが予め設定された閾値を超えた場合に、前記通電遮断手段が劣化していると判定する手段であることを特徴とする請求項9に記載の誘導加熱装置。
- 請求項8に記載の誘導加熱装置において、
予め劣化判定のための電圧降下値の閾値を格納する閾値格納手段をさらに備え、
前記劣化判定手段は、前記誘導加熱部が加熱動作を停止しているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値と、前記誘導加熱部が加熱動作をしているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値との差によって算出した電圧降下値と前記閾値とを比較して、前記通電遮断手段の劣化具合を判定することを特徴とする誘導加熱装置。 - 請求項11に記載の誘導加熱装置において、
前記劣化判定手段が前記通電遮断手段が劣化していると判定した場合に部品劣化を表示する表示手段を備えたことを特徴とする誘導加熱装置。 - 請求項11又は12に記載の誘導加熱装置において、
前記劣化判定手段が前記通電遮断手段が劣化していると判定した場合に部品劣化を外部に通知する通知手段を備えたことを特徴とする誘導加熱装置。 - 請求項11から13のいずれか一項に記載の誘導加熱装置において、
予め電圧降下値の基準値を格納する基準値格納手段と、
前記誘導加熱部が加熱動作をしているときの電圧降下値と前記基準値との差分値に対応する電力値を電力テーブルとして格納した電力テーブル格納手段と、
前記誘導加熱部が加熱動作を停止しているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値と、前記誘導加熱部が加熱動作をしているときに前記電圧検出部によって検出された電圧値との差による電圧降下値を算出する電圧降下値算出手段と、
該手段によって算出した電圧降下値と前記基準値との差分値に対応する電力値を前記電力テーブルから選択する選択手段と、
該選択手段によって選択した電力値を表示する電力値表示手段と
を備えたことを特徴とする誘導加熱装置。 - 請求項1から7のいずれか一項に記載の劣化検知装置を備えたことを特徴とする画像形成装置。
- 請求項8から14のいずれか一項に記載の誘導加熱装置を備えたことを特徴とする画像形成装置。
- 請求項15又は16に記載の画像形成装置において、前記劣化判定手段が前記通電遮断手段の劣化と判定した場合に、部品劣化情報を外部に通知する手段を設けたことを特徴とする画像形成装置。
- 電源から、通電を開閉する通電遮断手段を介して負荷に給電する回路における前記通電遮断手段の劣化を検知する劣化検知方法であって、
前記負荷が駆動を停止しているときに、前記電源から前記通電遮断手段を介して前記負荷に給電される電圧値を検出し、
前記負荷が駆動しているときに、前記電源から前記通電遮断手段を介して前記負荷に給電される電圧値を検出して、
検出された2つの電圧値に基づいて、前記通電遮断手段の劣化具合を判定することを特徴とする劣化検知方法。 - 請求項18に記載の劣化検知方法において、
前記負荷が駆動を停止しているときに、前記電源から前記通電遮断手段を介して前記負荷に給電される電流値も検出し、
検出された前記2つの電圧値と1つの電流値とに基づいて前記通電遮断手段の劣化具合を判定することを特徴とする劣化検知方法。 - 前記負荷が駆動を停止しているときに検出した電圧値をVs、前記負荷が駆動しているときに検出した電圧値をVd、電流値をIdとしたとき、前記通電遮断手段の接触抵抗値Rcを、Rc=(Vs−Vd)/Idによって算出し、該接触抵抗値Rcが予め設定された閾値を超えた場合に、前記通電遮断手段が劣化していると判定して、前記通電遮断手段の劣化を検知することを特徴とする請求項19に記載の劣化検知方法。
- 請求項18に記載の劣化検知方法において、
予め劣化判定のための電圧降下値の閾値を格納しておき、
前記負荷が駆動を停止しているときに検出された電圧値と、前記負荷が駆動しているときに検出された電圧値との差によって電圧降下値を算出し、該電圧降下値と前記閾値とを比較して、前記通電遮断手段の劣化具合を判定することを特徴とする劣化検知方法。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108692963A (zh) * | 2017-03-31 | 2018-10-23 | 阿自倍尔株式会社 | 劣化诊断装置以及方法 |
CN109737464A (zh) * | 2018-12-31 | 2019-05-10 | 广州三拓识别技术有限公司 | 电磁炉测试设备 |
JP2020003293A (ja) * | 2018-06-27 | 2020-01-09 | 矢崎総業株式会社 | 電気的接続部の劣化度合診断装置、及び、劣化度合診断方法 |
-
2016
- 2016-08-25 JP JP2016165151A patent/JP2017044699A/ja active Pending
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