JP4474874B2 - アルミ電解コンデンサの製造方法及びこれを用いた接続抵抗検査装置 - Google Patents

アルミ電解コンデンサの製造方法及びこれを用いた接続抵抗検査装置 Download PDF

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本発明は各種電子機器に使用されるアルミ電解コンデンサを製造する際に、主に、電極箔にカシメ接続された引き出しリードの接続状態を検査するアルミ電解コンデンサの製造方法及びこれを用いた接続抵抗検査装置に関するものである。
アルミ電解コンデンサは従来から各種電子機器を主体に使用され続けており、現在でもその状況は変わらないものの、最近では特に車載用としての需要が急増してきている。このような車載用としてのアルミ電解コンデンサには、従来にも増して振動に対する信頼性が高いレベルで要求されるため、特にアルミ電解コンデンサにおいては電極箔にカシメ接続された引き出し用のリード線の接続状態をどのように保証するかということが重要な管理項目になってきている。
図7は従来のアルミ電解コンデンサの電極箔にカシメ接続された引き出し用のリード線の接続状態を検査するための接続抵抗検査装置の構成を示した概念図、図8は図7の等価回路を示した回路図であり、図7と図8において1はアルミニウムからなる電極箔、2はこの電極箔1にカシメ接続されたリード線、3はこのリード線2を形成する丸棒部、3aはこの丸棒部3の一部を加工することにより形成された偏平部、4はカシメ接続部であり、電極箔1が有する抵抗を極力含まないようにするためにリード線2の根元とリード線2に設けられた偏平部3aの近傍の電極箔1に抵抗計20の測定端子21,22を当接させて抵抗値を測定し、その結果を規格値と比較することによって良否判定を行うようにしているものであった。
なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1が知られている。
特開平07−240354号公報
しかしながら上記従来のアルミ電解コンデンサの製造方法では、電極箔1にカシメ接続されたリード線2の接続状態を検査するための接続抵抗検査において、測定バラツキが大きいために信頼性に欠けるという課題を有していた。
すなわち、上記従来の接続抵抗検査方法においては、図8に示すように測定するリード線2と電極箔1の接続抵抗をR1(通常0.3〜1mΩ)、リード線2間の電極箔抵抗をR2、カシメ接続部4から測定端子22までの電極箔抵抗をR3とすると、測定端子21、22間の抵抗は接続抵抗R1と電極箔抵抗R3を加えたものとなる。ここで、電極箔抵抗R3は2.5mm幅のもので3〜5mΩ/cmであり、測定端子22の当接位置により大きく変化する。また、電極箔1の表面に形成された誘電体酸化皮膜層上から測定端子22を当接させるために測定端子22と電極箔1との接触抵抗R4のバラツキが大きく、測定者によって0.5mΩ程度のバラツキが発生するのは避けられないものであり、このような理由から測定バラツキが大きくなり、そのために信頼性に欠けるというものであった。
本発明はこのような従来の課題を解決し、電極箔にカシメ接続されたリード線の接続状態を精度良く検査することにより、接続信頼性と耐振動性に優れた製品を安定して生産することができるアルミ電解コンデンサの製造方法及びこれを用いた接続抵抗検査装置を提供することを目的とするものである。
上記課題を解決するために本発明の請求項1に記載の発明は、表面に誘電体酸化皮膜層が形成された帯状の電極箔に所定の間隔で複数の引き出し用のリード線を接続し、このリード線の連続した3本を1組として中央部のリード線を被検査対象とし、電源に接続された一対の測定端子を、前記被検査対象のリード線とこの被検査対象のリード線と所定の間隔を有して隣り合う一方のリード線とにそれぞれ当接させ、前記被検査対象のリード線と前記隣り合う一方のリード線との間に電圧を印加して流れる電流を測定すると共に、電圧計に接続された一対の測定端子を、前記被検査対象のリード線とこの被検査対象のリード線と所定の間隔を有して隣り合う他方のリード線とにそれぞれ当接させ、前記被検査対象のリード線と前記隣り合う他方のリード線との間の電圧を測定し、この電圧値と上記電流値から抵抗値を求めることにより被検査対象のリード線と電極箔との接続抵抗を検査した後、このリード線が接続された電極箔を用いてコンデンサ素子を形成するようにしたアルミ電解コンデンサの製造方法というものであり、この方法により、簡単な構成で、かつ電圧計と電流計の計測値のみでリード線と電極箔との接続抵抗を精度良く測定することができるようになり、しかも電極箔にリード線をカシメ接続した後で全数の接続抵抗検査を連続して行うことが可能になるため、不良品を後工程に廻すこともなくなり、信頼性と歩留まり向上を同時に図ることができるようになるという作用効果を有する。
また、上記電源を定電流源とし、上記被検査対象のリード線と前記隣り合う一方のリード線との間に定電流を印加することにより、電流計が不要になることから装置を安価に構成することができるようになるという作用効果を有する。
また、リード線と電極箔との接続抵抗検査の結果に基づき、不良品と判定した接続部分を使用できないようにすることにより、生産性と歩留まりを同時に向上させることができるようになるという作用効果を有する。
本発明の請求項2に記載の発明は、表面に誘電体酸化皮膜層が形成された帯状の電極箔に所定の間隔で複数の引き出し用のリード線を接続し、このリード線の連続した3本を1組とした場合に、中央部のリード線とこの中央部のリード線と所定の間隔を有して隣り合う一方のリード線とにそれぞれ接触させた2つの電流供給用測定端子と、前記中央部のリード線とこの中央部のリード線と所定の間隔を有して隣り合う他方のリード線とにそれぞれ接触させた2つの電圧測定用端子とを備えた測定部と、上記中央部のリード線と上記隣り合う一方のリード線との間に接続された電源ならびに電流計と、上記中央部のリード線と上記隣り合う他方のリード線との間に接続された電圧計と、この電圧計ならびに上記電流計からの出力に基づいて被検査対象となる中央部のリード線と電極箔との接続抵抗を求めて判定する判定部からなる接続抵抗検査装置であり、これにより、簡単な構成でリード線と電極箔との接続抵抗を精度良く測定し、しかも電極箔にリード線をカシメ接続した後で全数の接続抵抗検査を連続して行うことが可能になるため、信頼性と歩留まり向上を同時に図ることができるようになるという作用効果を有する。
また、上記電源を定電流源とすることで、上記被検査対象のリード線と前記隣り合う一方のリード線との間に定電流を印加することにより、電流計が不要になることから装置を安価に構成することができるようになるという作用効果を有する。
また、リード線と電極箔との接続抵抗検査の結果に基づき、不良品と判定したリード線の先端部分を切断する切断部を設けることにより、生産性と歩留まりを同時に向上させることができるようになるという作用効果を有する。
また、リード線を構成する丸棒部に当接する測定端子を弾性を有した導電性高分子材料の一つである導電性ゴムで形成した構成とすることにより、測定時に丸棒部を傷つけることがなくなるために漏液の原因となることを防止できるという作用効果を有する。
以上のように本発明によるアルミ電解コンデンサの製造方法及びこれを用いた接続抵抗検査装置は、簡単な構成で、かつ電圧計と電流計の計測値のみでリード線と電極箔との接続抵抗を精度良く測定することができるようになり、しかも電極箔にリード線をカシメ接続した後で全数の接続抵抗検査を連続して行うことが可能になるため、不良品を後工程に廻すこともなくなり、信頼性と歩留まり向上を同時に図ることができるようになるという格別の効果を奏するものである。
(実施の形態1)
以下、実施の形態1を用いて、本発明の特に請求項1に記載の発明について説明する。
図1は本発明の実施の形態1によるアルミ電解コンデンサの製造方法の中で、電極箔にカシメ接続された引き出し用のリード線の接続状態を検査するための接続抵抗検査装置の構成を示した概念図、図2は図1の等価回路を示した回路図であり、図1、図2において1はアルミニウムからなる電極箔、2はこの電極箔1にカシメ接続されたリード線、2aはこのリード線2の上流側に所定の間隔を有して隣り合うようにカシメ接続されたリード線、2bは同下流側に所定の間隔を有して隣り合うようにカシメ接続されたリード線、3は上記リード線2を形成する丸棒部、3aはこの丸棒部3の一部を加工することにより形成された偏平部、4はカシメ接続部である。
5は上記リード線2−2a間に定電圧を印加する直流電源、6はこの直流電源5に直列に接続された電流計、7と8はリード線2と2aに夫々当接する測定端子、11は上記リード線2−2b間の電圧を測定する電圧計、9と10はリード線2と2bに夫々当接する測定端子、12は上記電流計6と電圧計11からの出力に基づいてカシメ接続部4の接続抵抗を求める変換部である。
また、R1は被検査対象となる図中中央部のリード線2のカシメ接続部4の接続抵抗、R3は上記リード線2の上流側に接続されたリード線2aのカシメ接続部4aの接続抵抗、R5は同リード線2の下流側に接続されたリード線2bのカシメ接続部4bの接続抵抗、R2は上記カシメ接続部4−4a間の電極箔抵抗、R4はカシメ接続部4−4b間の電極箔抵抗である。
このように構成された本実施の形態による接続抵抗検査装置を用いて直流電源5の電圧をV1、電流計6の電流をI1、電圧計11の電圧をV2とすると、電流計6の値は下式のように電極箔抵抗R2やカシメ接続部4,4aの接続抵抗R1,R3により変化する。
I1=V1/(R1+R2+R3)
しかしながら、カシメ接続部4の接続抵抗R1は、R1=V2/I1となるため、電圧計11と電流計6の計測値のみで被検査対象となるリード線2のカシメ接続部4の接続抵抗R1を測定することができるようになるものである。
このように本実施の形態によれば、電極箔1にカシメ接続されたリード線2のカシメ接続部4の接続抵抗R1を簡単な方法によって精度良く測定することができるようになり、しかも電極箔1にリード線2をカシメ接続した後で全数を連続して検査することが可能となるために不良品を後工程に廻すこともなくなり、信頼性と歩留まり向上を同時に図ることが可能になるものである。
(実施の形態2)
以下、実施の形態2を用いて、本発明の請求項1に記載の発明について説明する。
本実施の形態は上記実施の形態1における接続抵抗検査装置の直流電源を定電流源に置き換えた構成のものであり、これ以外の構成は実施の形態1と同様であるために同一部分には同一の符号を付与してその詳細な説明は省略し、異なる部分についてのみ以下に図面を用いて説明する。
図3は本発明の実施の形態2によるアルミ電解コンデンサの製造方法の中で、電極箔にカシメ接続された引き出し用のリード線の接続状態を検査するための接続抵抗検査装置の構成を示した概念図、図4は図3の等価回路を示した回路図であり、図3、図4において13はリード線2−2a間に定電流を印加するための定電流源である。
このように構成された本実施の形態による接続抵抗検査装置を用いた接続抵抗の測定は、電圧計11の電圧を定電流源13の設定電流で除算することにより求めることができ、特に定電流13の設定値を1Aにした場合には、電圧計11の値はそのまま抵抗値となるために上記実施の形態1で用いた変換部12は不要となり、さらに電流計6も不要になることから、装置の構成を簡素化して安価にすることができるものである。
(実施の形態3)
以下、実施の形態3を用いて、本発明の請求項2に記載の発明について説明する。
図5は本発明の実施の形態3による接続抵抗検査装置の構成を示した要部斜視図であり、図5において14は針を備えた針孔加工部、15はカシメ加工部であり、図示しないリード線供給部から電極箔1上にリード線2を供給し、このリード線2に設けられた偏平部3aの所定の位置に針孔加工部14で偏平部3aと電極箔1を貫通する孔開け加工をし、続いてこの孔を開けた部分をカシメ加工部15でカシメ加工することによりカシメ接続部4を形成してリード線2を電極箔1に接続する。
続いて、カシメ接続部4により電極箔1に接続されたリード線2は電極箔1の間欠送りに伴って間欠搬送され、測定端子7、8、9、10を備えた測定部16で上記実施の形態1または2で説明した方法により接続抵抗検査が行われ、この検査結果に基づいて接続抵抗が規格値以外のものは次の工程に設けられた切断部17によりリード線2の先端部分が切断されるように構成されており、これによって後の工程でこの先端部分が切断されたリード線2が接続された電極箔1を用いて巻回したコンデンサ素子は不良品であり、使用できないということが一目瞭然となるようにしたものである。
図6(a)〜(c)は上記図5に示した接続抵抗検査装置の測定端子の接触状態を示したものであり、同図において2はリード線を示し、このリード線2は一般に鉄線にめっき処理が施されたものを用いているために抵抗は高いものである。3はアルミ線からなる丸棒部、3aはこの丸棒部3の一部を偏平に加工した偏平部であり、断面積が大きいために抵抗は小さく、この偏平部3aを電極箔1に重ねてカシメ接続しているものである。18は測定用の受け台、19はこの受け台18に設けられた丸棒部3逃がし用の溝部である。
図6(a)はリード線2が有する抵抗を最小に抑えるようにした場合の測定方法を示したものであり、先端部を細めた測定端子9の位置が図中の右側(丸棒部3から離れる方向)に寄ると抵抗の高いリード線2の抵抗分が加算されるため、可能な限り丸棒部3に近接することが望ましい。なお、この場合、2つの測定端子7、9の一方を電流供給用、他方を電圧測定用として用いるものであるが、その分担をどのようにした場合でも測定精度は変わらないものである。
図6(b)はリード線2が有する抵抗を含まないようにした場合の測定方法を示したものであり、先端部を丸くした測定端子9を偏平部3a上に接触させるようにしたもので、このようにすることによってリード線2と丸棒部3の抵抗による電圧降下分は測定値から除外されるために接続抵抗のみを精度良く測定することができるようになるものである。
なお、この方法においては測定時に偏平部3aを介して電極箔1に圧力が加わり、測定端子9の接触圧力によっては測定値が低くなる場合があるため、上記接触圧力は10g以下が好ましい。従って、2つの測定端子のうち、接触圧力を高くできるリード線2側の測定端子7を電流供給用、偏平部3a側の測定端子9を電圧測定用に用いることが好ましい。
図6(c)は測定端子9を弾性を有した導電性高分子材料の1つである導電性ゴムで形成したものであり、アルミ電解コンデンサの場合には丸棒部3は図示しない封口ゴムに設けられた貫通孔に嵌合されて密閉構造となり、封止を行うように構成されたものであるが、上記丸棒部3に測定時に傷が入ると漏液の原因となる場合があるため、測定端子9を弾性体で構成することによって測定時に丸棒部3を傷つけることがなくなり、このような測定方法によってリード線2部分の電圧降下分は測定値から外れるため、接続抵抗のみを精度良く測定することができるようになるものである。
なお、測定端子9を導電性ゴムで構成した場合、一般的に比抵抗が数百〜数kΩあるために大電流が流せないため、導電性ゴムで構成した測定端子9を電圧測定用に、他方の測定端子7を電流供給用に用いることが好ましい。また、上記受け台18と測定端子9は硬度が70〜95程度の弾性を有するゴムやエラストマー等で構成することによりリード線2に傷がつき難く、かつ取り扱いもし易くなるために好ましいものである。
本発明によるアルミ電解コンデンサの製造方法及びこれを用いた接続抵抗検査装置は、簡単な構成で電極箔にカシメ接続されたリード線の接続抵抗を精度良く測定して信頼性と歩留まり向上を同時に図ることができるため、特に、従来にも増して振動に対する信頼性が高いレベルで要求される車載用等のアルミ電解コンデンサを製造する際に有用なものである。
本発明の実施の形態1による接続抵抗検査装置の構成を示した概念図 図1の等価回路を示した回路図 本発明の実施の形態2による接続抵抗検査装置の構成を示した概念図 図3の等価回路を示した回路図 本発明の実施の形態3による接続抵抗検査装置の構成を示した要部斜視図 同測定端子の接触状態を示した要部断面図 従来の接続抵抗検査装置の構成を示した概念図 図7の等価回路を示した回路図
1 電極箔
2,2a,2b リード線
3 丸棒部
3a 偏平部
4 カシメ接続部
5 直流電源
6 電流計
7,8,9,10 測定端子
11 電圧計
12 変換部
13 定電流源
14 針孔加工部
15 カシメ加工部
16 測定部
17 切断部
18 受け台
19 溝部

Claims (2)

  1. 表面に誘電体酸化皮膜層が形成された帯状の電極箔に所定の間隔で複数の引き出し用のリード線を接続し、このリード線の連続した3本を1組として中央部のリード線を被検査対象とし、電源に接続された一対の測定端子を、前記被検査対象のリード線とこの被検査対象のリード線と所定の間隔を有して隣り合う一方のリード線とにそれぞれ当接させ、上記被検査対象のリード線と上記隣り合う一方のリード線との間に電圧を印加して流れる電流を測定すると共に、電圧計に接続された一対の測定端子を、前記被検査対象のリード線とこの被検査対象のリード線と所定の間隔を有して隣り合う他方のリード線とにそれぞれ当接させ、上記被検査対象のリード線と前記隣り合う他方のリード線との間の電圧を測定し、この電圧値と上記電流値から抵抗値を求めることにより被検査対象のリード線と電極箔との接続抵抗を検査した後、このリード線が接続された電極箔を用いてコンデンサ素子を形成するようにしたアルミ電解コンデンサの製造方法。
  2. 表面に誘電体酸化皮膜層が形成された帯状の電極箔に所定の間隔で複数の引き出し用のリード線を接続し、このリード線の連続した3本を1組とした場合に、中央部のリード線とこの中央部のリード線と所定の間隔を有して隣り合う一方のリード線とにそれぞれ接触させた2つの電流供給用測定端子と、前記中央部のリード線とこの中央部のリード線と所定の間隔を有して隣り合う他方のリード線とにそれぞれ接触させた2つの電圧測定用端子とを備えた測定部と、上記中央部のリード線と上記隣り合う一方のリード線との間に接続された電源ならびに電流計と、上記中央部のリード線と上記隣り合う他方のリード線との間に接続された電圧計と、この電圧計ならびに上記電流計からの出力に基づいて被検査対象となる中央部のリード線と電極箔との接続抵抗を求めて判定する判定部からなる接続抵抗検査装置。
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