JP4474874B2 - アルミ電解コンデンサの製造方法及びこれを用いた接続抵抗検査装置 - Google Patents
アルミ電解コンデンサの製造方法及びこれを用いた接続抵抗検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4474874B2 JP4474874B2 JP2003312441A JP2003312441A JP4474874B2 JP 4474874 B2 JP4474874 B2 JP 4474874B2 JP 2003312441 A JP2003312441 A JP 2003312441A JP 2003312441 A JP2003312441 A JP 2003312441A JP 4474874 B2 JP4474874 B2 JP 4474874B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead wire
- lead
- inspected
- electrode foil
- adjacent
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
以下、実施の形態1を用いて、本発明の特に請求項1に記載の発明について説明する。
しかしながら、カシメ接続部4の接続抵抗R1は、R1=V2/I1となるため、電圧計11と電流計6の計測値のみで被検査対象となるリード線2のカシメ接続部4の接続抵抗R1を測定することができるようになるものである。
以下、実施の形態2を用いて、本発明の請求項1に記載の発明について説明する。
以下、実施の形態3を用いて、本発明の請求項2に記載の発明について説明する。
2,2a,2b リード線
3 丸棒部
3a 偏平部
4 カシメ接続部
5 直流電源
6 電流計
7,8,9,10 測定端子
11 電圧計
12 変換部
13 定電流源
14 針孔加工部
15 カシメ加工部
16 測定部
17 切断部
18 受け台
19 溝部
Claims (2)
- 表面に誘電体酸化皮膜層が形成された帯状の電極箔に所定の間隔で複数の引き出し用のリード線を接続し、このリード線の連続した3本を1組として中央部のリード線を被検査対象とし、電源に接続された一対の測定端子を、前記被検査対象のリード線とこの被検査対象のリード線と所定の間隔を有して隣り合う一方のリード線とにそれぞれ当接させ、上記被検査対象のリード線と上記隣り合う一方のリード線との間に電圧を印加して流れる電流を測定すると共に、電圧計に接続された一対の測定端子を、前記被検査対象のリード線とこの被検査対象のリード線と所定の間隔を有して隣り合う他方のリード線とにそれぞれ当接させ、上記被検査対象のリード線と前記隣り合う他方のリード線との間の電圧を測定し、この電圧値と上記電流値から抵抗値を求めることにより被検査対象のリード線と電極箔との接続抵抗を検査した後、このリード線が接続された電極箔を用いてコンデンサ素子を形成するようにしたアルミ電解コンデンサの製造方法。
- 表面に誘電体酸化皮膜層が形成された帯状の電極箔に所定の間隔で複数の引き出し用のリード線を接続し、このリード線の連続した3本を1組とした場合に、中央部のリード線とこの中央部のリード線と所定の間隔を有して隣り合う一方のリード線とにそれぞれ接触させた2つの電流供給用測定端子と、前記中央部のリード線とこの中央部のリード線と所定の間隔を有して隣り合う他方のリード線とにそれぞれ接触させた2つの電圧測定用端子とを備えた測定部と、上記中央部のリード線と上記隣り合う一方のリード線との間に接続された電源ならびに電流計と、上記中央部のリード線と上記隣り合う他方のリード線との間に接続された電圧計と、この電圧計ならびに上記電流計からの出力に基づいて被検査対象となる中央部のリード線と電極箔との接続抵抗を求めて判定する判定部からなる接続抵抗検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003312441A JP4474874B2 (ja) | 2003-09-04 | 2003-09-04 | アルミ電解コンデンサの製造方法及びこれを用いた接続抵抗検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003312441A JP4474874B2 (ja) | 2003-09-04 | 2003-09-04 | アルミ電解コンデンサの製造方法及びこれを用いた接続抵抗検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005085778A JP2005085778A (ja) | 2005-03-31 |
JP4474874B2 true JP4474874B2 (ja) | 2010-06-09 |
Family
ID=34413694
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003312441A Expired - Fee Related JP4474874B2 (ja) | 2003-09-04 | 2003-09-04 | アルミ電解コンデンサの製造方法及びこれを用いた接続抵抗検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4474874B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6738138B2 (ja) * | 2015-11-17 | 2020-08-12 | セイコーインスツル株式会社 | 充電池検査装置、及び充電池検査方法 |
CN110187224A (zh) * | 2019-06-12 | 2019-08-30 | 南通海星电子股份有限公司 | 一种电极箔氧化膜质量的表征设备及方法 |
-
2003
- 2003-09-04 JP JP2003312441A patent/JP4474874B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005085778A (ja) | 2005-03-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8581598B2 (en) | Method for inspecting electrostatic chuck, and electrostatic chuck apparatus | |
US7839151B2 (en) | Solid electrolytic capacitor inspection device and inspection method | |
TW201442415A (zh) | 棒狀探針和太陽能電池單元用測量裝置 | |
JP4008173B2 (ja) | 蓄電器の絶縁抵抗測定方法および絶縁抵抗測定装置 | |
JP6155725B2 (ja) | 半導体装置の検査方法及びその方法を用いた半導体装置の製造方法 | |
JP4474874B2 (ja) | アルミ電解コンデンサの製造方法及びこれを用いた接続抵抗検査装置 | |
US10613116B2 (en) | Kelvin connection with positional accuracy | |
US7026823B2 (en) | Magnetic head smear detecting method and device | |
TW201443449A (zh) | 基板檢測裝置及基板檢測方法 | |
US11169220B2 (en) | Deterioration degree diagnosis device and deterioration degree diagnosis method for electrical connection portion | |
CN108169664B (zh) | 电路板故障检测方法和装置、计算机设备和存储介质 | |
JPH0829475A (ja) | 実装基板検査装置のコンタクトプローブ | |
JPS63119216A (ja) | 電解コンデンサの極性判別方法及びその装置 | |
JP2004259750A (ja) | 配線基板、接続配線基板及びその検査方法、電子装置及びその製造方法、電子モジュール並びに電子機器 | |
JP2005049314A (ja) | プロービングテスト法およびプローブ状態検出装置 | |
CN116540048B (zh) | 半导体测试方法及测试结构 | |
CN103811137B (zh) | 电阻装置及其制造方法 | |
US20040217762A1 (en) | Apparatus and methods for measuring resistance of conductive layers | |
JP6410426B2 (ja) | 導線加工検査装置および導線加工検査方法 | |
JP2014228459A (ja) | アルミニウム電線の抵抗測定方法 | |
JPS5917259A (ja) | 半導体素子の測定方法 | |
JP2010239099A (ja) | チップ形コンデンサの製造方法 | |
CA2464036A1 (en) | Apparatus and methods for measuring resistance of conductive layers | |
JP2005114547A (ja) | コンタクトプローブとこれを用いたコンタクト機器 | |
CN106970267B (zh) | 导体对地绝缘电阻的测量方法、控制器及控制系统 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060531 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20060613 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090421 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090617 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20091119 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100216 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100301 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4474874 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130319 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130319 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140319 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |