JP6944730B2 - 定量分析方法、定量分析プログラム及び蛍光x線分析装置 - Google Patents
定量分析方法、定量分析プログラム及び蛍光x線分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6944730B2 JP6944730B2 JP2020021771A JP2020021771A JP6944730B2 JP 6944730 B2 JP6944730 B2 JP 6944730B2 JP 2020021771 A JP2020021771 A JP 2020021771A JP 2020021771 A JP2020021771 A JP 2020021771A JP 6944730 B2 JP6944730 B2 JP 6944730B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- component
- intensity
- rays
- sample
- fluorescent
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/2206—Combination of two or more measurements, at least one measurement being that of secondary emission, e.g. combination of secondary electron [SE] measurement and back-scattered electron [BSE] measurement
- G01N23/2208—Combination of two or more measurements, at least one measurement being that of secondary emission, e.g. combination of secondary electron [SE] measurement and back-scattered electron [BSE] measurement all measurements being of a secondary emission, e.g. combination of SE measurement and characteristic X-ray measurement
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
- G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
- G01N2223/1016—X-ray
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/303—Accessories, mechanical or electrical features calibrating, standardising
- G01N2223/3037—Accessories, mechanical or electrical features calibrating, standardising standards (constitution)
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/304—Accessories, mechanical or electrical features electric circuits, signal processing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/305—Accessories, mechanical or electrical features computer simulations
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
を含む、
Claims (8)
- 分析対象である未知試料に含まれる各分析成分の含有率で表される組成であって、前記各分析成分の含有率の代表として設定された代表組成を取得する代表組成取得ステップと、
前記代表組成に含まれる前記分析成分の含有率が1成分ずつ所定含有率だけ変更された複数の比較組成を取得する比較組成取得ステップと、
予め設定された厚さであって前記代表組成及び前記比較組成で表される仮想試料に対して1次X線を照射したとして、ジオメトリ効果の影響を受けて検出される蛍光X線の強度を表す検出強度を、ファンダメンタルパラメータ法を用いて算出する検出強度算出ステップと、
前記各分析成分に含まれる1つの成分iの質量分率を表すWiと、
定数a,b及びcと、
前記成分iについて前記検出強度算出ステップにおいて算出された前記検出強度Iiと、
前記成分iの共存成分jに対するマトリックス補正係数を表すαjと、
前記共存成分jの質量分率を表すWjと、
を含む、
を含み、
前記仮想試料に対して予め設定された厚さと、前記未知試料の厚さと、は同一である、ことを特徴とする定量分析方法。 - 前記検出強度算出ステップは、
前記仮想試料の表面から所定の位置までを一定の間隔で区分する区分ステップと、
前記区分ごとに算出した前記検出強度の総和を算出する総和算出ステップと、
を含むことを特徴とする請求項1に記載の定量分析方法。 - 前記検出強度算出ステップは、
前記代表組成及び前記比較組成で表される仮想試料に1次X線が照射されたとして、前記各分析成分から出射される蛍光X線の強度を表す出射強度を、ジオメトリ効果を無視して、仮想試料の表面からの位置の関数として算出する出射強度算出ステップと、
所与の組成で表される仮想試料に1次X線が照射されたとして、該仮想試料から出射される蛍光X線の強度を表す出射強度と、出射された蛍光X線のうちジオメトリ効果の影響を受けて検出される蛍光X線の前記検出強度と、の割合を表す検出割合を、前記表面からの位置の関数として取得する検出割合取得ステップと、
前記検出割合と前記出射強度を乗算し、前記表面からの位置の関数として前記検出強度を算出する乗算ステップと、
を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の定量分析方法。 - 前記各分析成分を含み各含有率が既知である複数の標準試料に1次X線を照射し、前記分析成分ごとに出射される蛍光X線の強度を測定する標準試料測定ステップと、
前記標準試料測定ステップで測定された蛍光X線の強度と、前記マトリックス補正係数と、に基づいて、前記分析成分ごとに前記検量線式で表される検量線を作成する検量線作成ステップと、
前記未知試料に1次X線を照射し、前記分析成分ごとに蛍光X線の強度を測定する未知試料測定ステップと、
前記未知試料測定ステップで測定された蛍光X線の強度と、前記検量線と、に基づいて、前記未知試料に含まれる前記各分析成分の含有率を算出する含有率算出ステップと、
を含み、前記複数の標準試料の全ての厚さは、前記仮想試料に対して予め設定された厚さ及び前記未知試料の厚さと、同一であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の定量分析方法。 - 前記所定の位置は、
前記未知試料の厚さが、前記表面から前記検出強度が0となる位置までの厚さよりも大きい場合、前記検出強度が0となる位置であって、
前記未知試料の厚さが、前記表面から前記検出強度が0となる位置までの厚さよりも小さい場合、前記未知試料の裏面の位置である、
ことを特徴とする請求項2に記載の定量分析方法。 - 前記検出強度算出ステップは、モンテカルロシミュレーションを用いて前記検出強度を算出するステップであって、
前記仮想試料の厚さと、前記仮想試料の表面の各位置に照射される前記1次X線の強度と、前記1次X線の前記表面に対する入射角と、をパラメータとして設定するステップと、
前記1次X線のX線管ターゲット上の発生位置と、前記1次X線の出射する方向と、前記1次X線のエネルギーと、を乱数で決定するステップと、
前記1次X線の前記発生位置から前記表面までの光路ごとに、所定の位置における蛍光X線の強度を前記検出強度として算出するステップと、
を含むことを特徴とする請求項1に記載の定量分析方法。 - 蛍光X線分析装置に用いられるコンピュータで実行される定量分析プログラムであって、
分析対象である未知試料に含まれる各分析成分の含有率で表される組成であって、前記各分析成分の含有率の代表として設定された代表組成を取得する代表組成取得ステップと、
前記代表組成に含まれる前記分析成分の含有率が1成分ずつ所定含有率だけ変更された複数の比較組成を取得する比較組成取得ステップと、
予め設定された厚さであって前記代表組成及び前記比較組成で表される仮想試料に対して1次X線を照射したとして、ジオメトリ効果の影響を受けて検出される蛍光X線の強度を表す検出強度を、ファンダメンタルパラメータ法を用いて算出する検出強度算出ステップと、
前記各分析成分に含まれる1つの成分iの質量分率を表すWiと、
定数a,b及びcと、
前記成分iについて前記検出強度算出ステップにおいて算出された前記検出強度Iiと、
前記成分iの共存成分jに対するマトリックス補正係数を表すαjと、
前記共存成分jの質量分率を表すWjと、
を含む、
を前記コンピュータに実行させ、
前記仮想試料に対して予め設定された厚さと、前記未知試料の厚さと、は同一である、ことを特徴とする定量分析プログラム。 - 分析対象である未知試料に含まれる各分析成分の含有率で表される組成であって、前記各分析成分の含有率の代表として設定された代表組成を取得する代表組成取得部と、
前記代表組成に含まれる前記分析成分の含有率が1成分ずつ所定含有率だけ変更された複数の比較組成を取得する比較組成取得部と、
予め設定された厚さであって前記代表組成及び前記比較組成で表される仮想試料に対して1次X線を照射したとして、ジオメトリ効果の影響を受けて検出される蛍光X線の強度を表す検出強度を、ファンダメンタルパラメータ法を用いて算出する検出強度算出部と、
前記各分析成分に含まれる1つの成分iの質量分率を表すWiと、
定数a,b及びcと、
前記成分iについて前記検出強度算出部において算出された前記検出強度Iiと、
前記成分iの共存成分jに対するマトリックス補正係数を表すαjと、
前記共存成分jの質量分率を表すWjと、
を含む、
を含み、
前記仮想試料に対して予め設定された厚さと、前記未知試料の厚さと、は同一である、ことを特徴とする蛍光X線分析装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020021771A JP6944730B2 (ja) | 2020-02-12 | 2020-02-12 | 定量分析方法、定量分析プログラム及び蛍光x線分析装置 |
CN202080086958.0A CN114787616B (zh) | 2020-02-12 | 2020-12-04 | 定量分析方法、定量分析程序和荧光x射线分析装置 |
EP20918376.3A EP4105649A4 (en) | 2020-02-12 | 2020-12-04 | QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD, QUANTITATIVE ANALYSIS PROGRAM AND FLUORESCENCE X-RAY ANALYZER |
US17/793,913 US11782000B2 (en) | 2020-02-12 | 2020-12-04 | Quantitative analysis method, quantitative analysis program, and X-ray fluorescence spectrometer |
PCT/JP2020/045322 WO2021161631A1 (ja) | 2020-02-12 | 2020-12-04 | 定量分析方法、定量分析プログラム及び蛍光x線分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020021771A JP6944730B2 (ja) | 2020-02-12 | 2020-02-12 | 定量分析方法、定量分析プログラム及び蛍光x線分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021128027A JP2021128027A (ja) | 2021-09-02 |
JP6944730B2 true JP6944730B2 (ja) | 2021-10-06 |
Family
ID=77292294
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020021771A Active JP6944730B2 (ja) | 2020-02-12 | 2020-02-12 | 定量分析方法、定量分析プログラム及び蛍光x線分析装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11782000B2 (ja) |
EP (1) | EP4105649A4 (ja) |
JP (1) | JP6944730B2 (ja) |
CN (1) | CN114787616B (ja) |
WO (1) | WO2021161631A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7233756B2 (ja) * | 2021-06-08 | 2023-03-07 | 株式会社リガク | 蛍光x線分析装置 |
EP4276452B1 (en) * | 2022-05-13 | 2024-07-03 | Bruker AXS GmbH | System and method for determining mass fractions in a test sample with wave-length dispersive x-ray fluorescence spectrometers |
WO2023236540A1 (zh) * | 2023-01-17 | 2023-12-14 | 山东大学 | 矿石成分分析设备及方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2626857B2 (ja) | 1992-05-15 | 1997-07-02 | 理学電機工業株式会社 | ガラスビード法を用いた蛍光x線分析方法 |
JP3069305B2 (ja) * | 1996-01-29 | 2000-07-24 | 理学電機工業株式会社 | 蛍光x線分析方法および装置 |
JP3059403B2 (ja) * | 1996-07-18 | 2000-07-04 | 理学電機工業株式会社 | X線分析方法および装置 |
JP3635337B2 (ja) * | 2001-03-16 | 2005-04-06 | 理学電機工業株式会社 | 蛍光x線分析方法および装置 |
JP4005547B2 (ja) | 2003-09-04 | 2007-11-07 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | プラスティックを分析するx線分析装置 |
JP3965191B2 (ja) * | 2005-04-06 | 2007-08-29 | 理学電機工業株式会社 | 蛍光x線分析装置およびそれに用いるプログラム |
JP5285572B2 (ja) * | 2009-10-26 | 2013-09-11 | 株式会社リガク | 蛍光x線分析装置 |
JP2011099749A (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-19 | Horiba Ltd | 濃度計測方法及び蛍光x線分析装置 |
CN107290376B (zh) * | 2017-06-26 | 2019-10-18 | 中国建材检验认证集团股份有限公司 | 一种xrf分析的基体校正系数的计算方法 |
-
2020
- 2020-02-12 JP JP2020021771A patent/JP6944730B2/ja active Active
- 2020-12-04 CN CN202080086958.0A patent/CN114787616B/zh active Active
- 2020-12-04 EP EP20918376.3A patent/EP4105649A4/en active Pending
- 2020-12-04 WO PCT/JP2020/045322 patent/WO2021161631A1/ja unknown
- 2020-12-04 US US17/793,913 patent/US11782000B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11782000B2 (en) | 2023-10-10 |
EP4105649A1 (en) | 2022-12-21 |
CN114787616A (zh) | 2022-07-22 |
CN114787616B (zh) | 2023-12-08 |
EP4105649A4 (en) | 2023-07-26 |
JP2021128027A (ja) | 2021-09-02 |
WO2021161631A1 (ja) | 2021-08-19 |
US20230060446A1 (en) | 2023-03-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2021161631A1 (ja) | 定量分析方法、定量分析プログラム及び蛍光x線分析装置 | |
US8582717B2 (en) | Concentration measuring method and fluorescent X-ray spectrometer | |
US7595489B2 (en) | Method and apparatus for material identification | |
JP3965191B2 (ja) | 蛍光x線分析装置およびそれに用いるプログラム | |
JP3889187B2 (ja) | 蛍光x線分析方法およびその装置 | |
JP3965173B2 (ja) | 蛍光x線分析装置およびそれに用いるプログラム | |
JP5697388B2 (ja) | X線分析方法,x線分析装置及びそのプログラム | |
JP4237891B2 (ja) | 蛍光x線分析装置のバックグラウンド補正方法及びその方法を用いる蛍光x線分析装置 | |
JP2003194953A (ja) | 放射線測定プログラム及び放射線測定器 | |
JP2017020924A (ja) | 樹脂判別装置及び樹脂判別方法 | |
JP4523958B2 (ja) | 蛍光x線分析装置およびそれに用いるプログラム | |
JP2006313132A (ja) | 試料分析方法およびx線分析装置 | |
JP2014041065A (ja) | X線分析装置及びコンピュータプログラム | |
EP3885758A1 (en) | Analysis method and x-ray fluorescence analyzer | |
JP6713110B2 (ja) | バックグラウンド除去方法及び蛍光x線分析装置 | |
JP2013205080A (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
WO2024095551A1 (ja) | 蛍光x線分析方法、分析プログラム、および蛍光x線分析装置 | |
JP2021051053A (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
JP5043387B2 (ja) | 蛍光x線分析による被膜分析方法及び装置 | |
WO2023100611A1 (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
RU2375703C1 (ru) | Способ оценки величины относительной погрешности полученного экспериментально процентного содержания элемента к аттестованному процентному содержанию элемента посредством рентгенофлуоресцентного анализа | |
JP2008064541A (ja) | 放射性廃棄物の放射能測定方法及び放射能測定装置 | |
JPH09269305A (ja) | 蛍光x線分析方法および装置 | |
JP3399861B2 (ja) | X線分析装置 | |
JP2645227B2 (ja) | 蛍光x線分析方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210618 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210618 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20210618 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210831 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210906 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6944730 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
SG99 | Written request for registration of restore |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R316G99 |
|
SG99 | Written request for registration of restore |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R316G99 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
S803 | Written request for registration of cancellation of provisional registration |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R316805 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |