JP2626857B2 - ガラスビード法を用いた蛍光ｘ線分析方法 - Google Patents
ガラスビード法を用いた蛍光ｘ線分析方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、試料と融剤との混合
物を加熱溶融して調製したガラスビードを用いた蛍光Ｘ
線分析方法に関するものである。
物を加熱溶融して調製したガラスビードを用いた蛍光Ｘ
線分析方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】蛍光Ｘ線分析は、試料に一次Ｘ線のよう
な放射線を照射し、試料から発生する蛍光Ｘ線の強度を
測定して、試料の元素や組成を分析する方法である。こ
の種の蛍光Ｘ線分析では、試料が粉状物または粒状物で
ある場合、ガラスビード法を用いる。このガラスビード
法の一例を図２に示す。
な放射線を照射し、試料から発生する蛍光Ｘ線の強度を
測定して、試料の元素や組成を分析する方法である。こ
の種の蛍光Ｘ線分析では、試料が粉状物または粒状物で
ある場合、ガラスビード法を用いる。このガラスビード
法の一例を図２に示す。
【０００３】図２（ａ）のように、試料がたとえば鉄鉱
石である場合、まず、この試料１を１００メッシュ以下
の粉状物に粉砕する。ついで、図２（ｂ）のように、極
く微量（０．３ｍｇ程度）の試料１を計量器２に載せて
秤量する。この後、図２（ａ−１）の予め秤量した所定
量の融剤（たとえば、ホウ酸ナトリウム）３を、上記試
料１に加えて、図２（ｃ）のように、試料１と融剤３の
混合物をるつぼ５内で1,000℃〜 1,300℃まで加熱して
溶融する。これにより、試料１と融剤３が均一に混じっ
た図２（ｄ）のガラスビード４を得る。
石である場合、まず、この試料１を１００メッシュ以下
の粉状物に粉砕する。ついで、図２（ｂ）のように、極
く微量（０．３ｍｇ程度）の試料１を計量器２に載せて
秤量する。この後、図２（ａ−１）の予め秤量した所定
量の融剤（たとえば、ホウ酸ナトリウム）３を、上記試
料１に加えて、図２（ｃ）のように、試料１と融剤３の
混合物をるつぼ５内で1,000℃〜 1,300℃まで加熱して
溶融する。これにより、試料１と融剤３が均一に混じっ
た図２（ｄ）のガラスビード４を得る。
【０００４】このガラスビード４を蛍光Ｘ線分析装置に
搬入し、図２（ｅ）のように、図示しないＸ線源から一
次Ｘ線（放射線）Ｂ１をガラスビード４に照射し、この
ガラスビード４から発生した各元素固有の蛍光Ｘ線Ｂ２
をＸ線検出器６で検出する。検出された蛍光Ｘ線Ｂ２
は、図示しない計数回路部でＸ線強度が測定され、これ
らの各元素についての蛍光Ｘ線Ｂ２の測定強度に基づい
て各元素の濃度比を演算することにより、試料１の組成
が分析される。このガラスビード法は、試料１中の各元
素が均一な分布になることから、鉄鉱石のような酸化物
の粉末についての分析に利用されている。
搬入し、図２（ｅ）のように、図示しないＸ線源から一
次Ｘ線（放射線）Ｂ１をガラスビード４に照射し、この
ガラスビード４から発生した各元素固有の蛍光Ｘ線Ｂ２
をＸ線検出器６で検出する。検出された蛍光Ｘ線Ｂ２
は、図示しない計数回路部でＸ線強度が測定され、これ
らの各元素についての蛍光Ｘ線Ｂ２の測定強度に基づい
て各元素の濃度比を演算することにより、試料１の組成
が分析される。このガラスビード法は、試料１中の各元
素が均一な分布になることから、鉄鉱石のような酸化物
の粉末についての分析に利用されている。
【０００５】しかし、ガラスビード法は、前述のよう
に、試料１を高い温度で加熱溶融することから、試料１
中の結晶水（Ｈ2 Ｏ）やＣＯ2 がガラスビード４の調製
時に揮散して、試料１の重量が減少する（以下、この試
料の重量の減少を「ＬＯＩ」という。）。このＬＯＩを
無視すると、分析精度が低下する。
に、試料１を高い温度で加熱溶融することから、試料１
中の結晶水（Ｈ2 Ｏ）やＣＯ2 がガラスビード４の調製
時に揮散して、試料１の重量が減少する（以下、この試
料の重量の減少を「ＬＯＩ」という。）。このＬＯＩを
無視すると、分析精度が低下する。
【０００６】また、従来は、一般に、ガラスビード４の
調製前に、試料１に対する融剤３の比Ｆ／Ｓ（以下、
「希釈率」という。）を一定値にして演算の処理を行っ
ていた。しかし、希釈率Ｆ／Ｓを一定値にすることは、
希釈率Ｆ／Ｓについて極めて高い精度が要求される一方
で、秤量を行う試料１の重量が極めて微量であることか
ら、困難である。
調製前に、試料１に対する融剤３の比Ｆ／Ｓ（以下、
「希釈率」という。）を一定値にして演算の処理を行っ
ていた。しかし、希釈率Ｆ／Ｓを一定値にすることは、
希釈率Ｆ／Ｓについて極めて高い精度が要求される一方
で、秤量を行う試料１の重量が極めて微量であることか
ら、困難である。
【０００７】このような問題を解決する方法として、こ
の発明者は、ＬＯＩおよび希釈率の補正について、マト
リックス補正（たとえば「鉄鋼の工業けい光Ｘ線分析方
法（ＪＩＳＧ１２５６−１９７３）参照）を用いた分析
方法を発明し、既に学会において発表している。以下、
この公知の分析方法について説明する。
の発明者は、ＬＯＩおよび希釈率の補正について、マト
リックス補正（たとえば「鉄鋼の工業けい光Ｘ線分析方
法（ＪＩＳＧ１２５６−１９７３）参照）を用いた分析
方法を発明し、既に学会において発表している。以下、
この公知の分析方法について説明する。
【０００８】
【数１】
【０００９】
【数２】
【００１０】
【数３】
【００１１】
【数４】
【００１２】
【数５】
【００１３】
【数６】
【００１４】
【数７】
【００１５】
【数８】
【００１６】
【数９】
【００１７】
【数１０】
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記公知
（従来）の方法では、前述の下記の（２）式のように、
Ｂ＝Ｓ＋Ｆ−Ｌであるとして演算を行っている。 Ｗj ＝Ｓ・Ｃj ／Ｂ＝Ｓ・Ｃj ／（Ｓ＋Ｆ−Ｌ） …（２） Ｗj ：各成分のガラスビード中の濃度比 Ｓ：元の粉末試料の重量 Ｃj ：元の粉末試料中の各成分の濃度比 Ｆ：元の融剤の重量 Ｂ：ビード重量 Ｌ：ＬＯＩの重量
（従来）の方法では、前述の下記の（２）式のように、
Ｂ＝Ｓ＋Ｆ−Ｌであるとして演算を行っている。 Ｗj ＝Ｓ・Ｃj ／Ｂ＝Ｓ・Ｃj ／（Ｓ＋Ｆ−Ｌ） …（２） Ｗj ：各成分のガラスビード中の濃度比 Ｓ：元の粉末試料の重量 Ｃj ：元の粉末試料中の各成分の濃度比 Ｆ：元の融剤の重量 Ｂ：ビード重量 Ｌ：ＬＯＩの重量
【００１９】しかし、ガラスビード法は、前述の図２
（ｃ）のように、試料１と融剤３の混合物を高い温度で
加熱溶融するので、試料１中の結晶水だけでなく、融剤
３中の成分も、ガラスビード４の調製時に揮散する。そ
のため、ビード重量Ｂについて、元の粉末試料１および
融剤３の重量Ｓ，Ｆから、ＬＯＩの重量Ｌの他に融剤３
の揮散量ΔＦを減算しなければ、正確なビード重量Ｂが
得られず、したがって、上記（２）式に基づいて、濃度
比Ｃj を求めても、正確な濃度比Ｃj が得られない。
（ｃ）のように、試料１と融剤３の混合物を高い温度で
加熱溶融するので、試料１中の結晶水だけでなく、融剤
３中の成分も、ガラスビード４の調製時に揮散する。そ
のため、ビード重量Ｂについて、元の粉末試料１および
融剤３の重量Ｓ，Ｆから、ＬＯＩの重量Ｌの他に融剤３
の揮散量ΔＦを減算しなければ、正確なビード重量Ｂが
得られず、したがって、上記（２）式に基づいて、濃度
比Ｃj を求めても、正確な濃度比Ｃj が得られない。
【００２０】以上は、ＬＯＩの場合について述べたが、
試料１と融剤３を加熱溶融する際に、ガラスビード４中
に空気中の元素が化合することでビード重量Ｂが増加す
る強熱増量（ＧＯＩ）の場合についても、同様な問題が
生じる。
試料１と融剤３を加熱溶融する際に、ガラスビード４中
に空気中の元素が化合することでビード重量Ｂが増加す
る強熱増量（ＧＯＩ）の場合についても、同様な問題が
生じる。
【００２１】この発明は、上記従来の問題に鑑みてなさ
れたもので、ガラスビード法を用いた蛍光Ｘ線分析方法
において、試料の揮散量や強熱増量の他に融剤の揮散量
をも考慮して、試料の組成を分析することで、分析精度
を向上させることを目的とする。
れたもので、ガラスビード法を用いた蛍光Ｘ線分析方法
において、試料の揮散量や強熱増量の他に融剤の揮散量
をも考慮して、試料の組成を分析することで、分析精度
を向上させることを目的とする。
【００２２】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、ＬＯＩが生じる場合、この発明は、ガラスビード調
製後の融剤の重量をＦ１としたとき、 Ｆ１／Ｓ＝｛（Ｂ／Ｓ）−１｝＋Ｌ／Ｓ であることを利用することで、試料および融剤の揮散量
Ｌ，ΔＦによる分析誤差を補正して、試料の組成を分析
する。一方、ＧＯＩが生じる場合には、ガラスビード調
製時のＧＯＩの重量をＧとしたとき、上式に代えて、下
記の式を用いる。 Ｆ１／Ｓ＝｛（Ｂ／Ｓ）−１｝−Ｇ／Ｓ
に、ＬＯＩが生じる場合、この発明は、ガラスビード調
製後の融剤の重量をＦ１としたとき、 Ｆ１／Ｓ＝｛（Ｂ／Ｓ）−１｝＋Ｌ／Ｓ であることを利用することで、試料および融剤の揮散量
Ｌ，ΔＦによる分析誤差を補正して、試料の組成を分析
する。一方、ＧＯＩが生じる場合には、ガラスビード調
製時のＧＯＩの重量をＧとしたとき、上式に代えて、下
記の式を用いる。 Ｆ１／Ｓ＝｛（Ｂ／Ｓ）−１｝−Ｇ／Ｓ
【００２３】
【作用】以下、この発明の原理について説明する。ま
ず、前述のように、ビード重量Ｂは、 Ｂ＝Ｓ＋Ｆ−（Ｌ＋ΔＦ）＝（Ｓ−Ｌ）＋Ｆ１ で表される。したがって、希釈率ＲF ＝Ｆ１／Ｓは、下
記の（１０）式で表される。 Ｆ１／Ｓ＝｛（Ｂ／Ｓ）−１｝＋Ｌ／Ｓ ＝｛（Ｂ／Ｓ）−１｝＋Ｃ0 …（１０） 但し、Ｃ0 ：ＬＯＩの濃度比
ず、前述のように、ビード重量Ｂは、 Ｂ＝Ｓ＋Ｆ−（Ｌ＋ΔＦ）＝（Ｓ−Ｌ）＋Ｆ１ で表される。したがって、希釈率ＲF ＝Ｆ１／Ｓは、下
記の（１０）式で表される。 Ｆ１／Ｓ＝｛（Ｂ／Ｓ）−１｝＋Ｌ／Ｓ ＝｛（Ｂ／Ｓ）−１｝＋Ｃ0 …（１０） 但し、Ｃ0 ：ＬＯＩの濃度比
【００２４】
【数１１】
【００２５】
【数１２】
【００２６】
【数１３】
【００２７】
【数１４】
【００２８】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図面にしたがっ
て説明する。まず、図１（ａ）のように、たとえば鉄鉱
石のような試料１を１００メッシュ以下の粉状物に粉砕
する。ついで、図１（ｂ）のように、微量の試料１を計
量器２に載せてガラスビード調製前の試料１の重量Ｓを
秤量し、一方、図１（ａ−１）のように、るつぼ５のみ
の重量を秤量する。この秤量後、おおよその量を計った
融剤３を試料１に加えて、図１（ｃ）のように、試料１
と融剤３との混合物をるつぼ５内で 1,000℃〜 1,300℃
まで加熱して溶融する。こうして得たガラスビード４と
るつぼ５の合計重量を、図１（ｄ）のように、計量器２
で計り、図１（ａ−１）のるつぼ重量を差し引いて、ビ
ード重量Ｂを得る。この後、図１（ｅ）のように、前述
の従来例で述べたと同様に各元素ｉについての蛍光Ｘ線
Ｂ２の強度Ｉi を測定し、この測定強度Ｉi に基づい
て、所定の演算式を用いた検量線法により試料１の組成
の分析を行う。
て説明する。まず、図１（ａ）のように、たとえば鉄鉱
石のような試料１を１００メッシュ以下の粉状物に粉砕
する。ついで、図１（ｂ）のように、微量の試料１を計
量器２に載せてガラスビード調製前の試料１の重量Ｓを
秤量し、一方、図１（ａ−１）のように、るつぼ５のみ
の重量を秤量する。この秤量後、おおよその量を計った
融剤３を試料１に加えて、図１（ｃ）のように、試料１
と融剤３との混合物をるつぼ５内で 1,000℃〜 1,300℃
まで加熱して溶融する。こうして得たガラスビード４と
るつぼ５の合計重量を、図１（ｄ）のように、計量器２
で計り、図１（ａ−１）のるつぼ重量を差し引いて、ビ
ード重量Ｂを得る。この後、図１（ｅ）のように、前述
の従来例で述べたと同様に各元素ｉについての蛍光Ｘ線
Ｂ２の強度Ｉi を測定し、この測定強度Ｉi に基づい
て、所定の演算式を用いた検量線法により試料１の組成
の分析を行う。
【００２９】かかる所定の演算式を求めるには、ガラス
ビード調製後の融剤の重量をＦ１としたとき、前述の
〔作用〕の項で述べたように、 Ｆ１／Ｓ＝｛（Ｂ／Ｓ）−１｝＋Ｌ／Ｓ であることを利用することで、ＬＯＩの重量Ｌおよび融
剤３の揮散量ΔＦによる分析誤差を補正する。ここで、
前述の〔作用〕の項では、下記の（１０）式のＦ１／Ｓ
の値を（４２）式のＦ／Ｓに代入して、前述の補正式
（１２），（１３−１）および（１３−２）を求めた
が、以下、上記補正式を順を追って求め、この発明の原
理を分かり易く説明する。
ビード調製後の融剤の重量をＦ１としたとき、前述の
〔作用〕の項で述べたように、 Ｆ１／Ｓ＝｛（Ｂ／Ｓ）−１｝＋Ｌ／Ｓ であることを利用することで、ＬＯＩの重量Ｌおよび融
剤３の揮散量ΔＦによる分析誤差を補正する。ここで、
前述の〔作用〕の項では、下記の（１０）式のＦ１／Ｓ
の値を（４２）式のＦ／Ｓに代入して、前述の補正式
（１２），（１３−１）および（１３−２）を求めた
が、以下、上記補正式を順を追って求め、この発明の原
理を分かり易く説明する。
【００３０】
【数１５】
【００３１】
【数１６】
【００３２】
【数１７】
【００３３】
【数１８】
【００３４】
【数１９】
【００３５】
【数２０】
【００３６】
【数２１】
【００３７】
【数２２】
【００３８】
【数２３】
【００３９】上記（１２）式は、濃度が未知のｉ元素の
数だけ得られ、一方、見かけの希釈率偏差ΔＲ１F は、
試料１とガラスビード４を秤量することにより前述の
（６１）式から分かるので、周知のマトリックス補正を
（１２）式の連立方程式に基づいて行うことにより、Ｌ
ＯＩおよび見かけの希釈率について補正できる。したが
って、各元素の元の粉末試料１中の濃度比Ｃi を求める
ことができる。
数だけ得られ、一方、見かけの希釈率偏差ΔＲ１F は、
試料１とガラスビード４を秤量することにより前述の
（６１）式から分かるので、周知のマトリックス補正を
（１２）式の連立方程式に基づいて行うことにより、Ｌ
ＯＩおよび見かけの希釈率について補正できる。したが
って、各元素の元の粉末試料１中の濃度比Ｃi を求める
ことができる。
【００４０】ここで、上記のようにして求めた補正式
（１２），（１３−１），（１３−２）式は、（２）式
の融剤３の重量Ｆに代えて、（２１）式および（３１）
式のように、ガラスビード４中の融剤の重量Ｆ１として
Ｆ−ΔＦ（ΔＦ：融剤の揮散量）を用いている。また、
ビード重量Ｂとして、Ｂ＝Ｓ＋Ｆ−（ΔＦ＋Ｌ）を用い
ている。すなわち、Ｆ１＝Ｆ−ΔＦおよびＢ＝Ｓ＋Ｆ−
（ΔＦ＋Ｌ）を前提に蛍光Ｘ線の吸収量を求める補正式
（１２），（１３−１），（１３−２）式を用いて、Ｌ
ＯＩの他に融剤３の揮散量ΔＦによる分析誤差を補正し
ているので、各成分のガラスビード中の濃度比Ｗj がよ
り正確に求められる。その結果、元の試料１中の各成分
の濃度比Ｃj も正確に求めることができる。
（１２），（１３−１），（１３−２）式は、（２）式
の融剤３の重量Ｆに代えて、（２１）式および（３１）
式のように、ガラスビード４中の融剤の重量Ｆ１として
Ｆ−ΔＦ（ΔＦ：融剤の揮散量）を用いている。また、
ビード重量Ｂとして、Ｂ＝Ｓ＋Ｆ−（ΔＦ＋Ｌ）を用い
ている。すなわち、Ｆ１＝Ｆ−ΔＦおよびＢ＝Ｓ＋Ｆ−
（ΔＦ＋Ｌ）を前提に蛍光Ｘ線の吸収量を求める補正式
（１２），（１３−１），（１３−２）式を用いて、Ｌ
ＯＩの他に融剤３の揮散量ΔＦによる分析誤差を補正し
ているので、各成分のガラスビード中の濃度比Ｗj がよ
り正確に求められる。その結果、元の試料１中の各成分
の濃度比Ｃj も正確に求めることができる。
【００４１】また、この発明では、図１のように、融剤
３の重量Ｆを正確に秤量する必要がなく、おおよその量
を加えればよい。したがって、ガラスビード４を作成す
る工程も簡単になる。
３の重量Ｆを正確に秤量する必要がなく、おおよその量
を加えればよい。したがって、ガラスビード４を作成す
る工程も簡単になる。
【００４２】ところで、上記実施例では、二次励起を無
視してマトリックス補正式の補正係数αj,αF を求め
た。しかし、この発明は、電子計算機による周知のファ
ンダメンタルパラメータ法を用いて、一次Ｘ線Ｂ１の分
布と二次励起をも考慮して、補正係数αj,αF を求めて
もよい。
視してマトリックス補正式の補正係数αj,αF を求め
た。しかし、この発明は、電子計算機による周知のファ
ンダメンタルパラメータ法を用いて、一次Ｘ線Ｂ１の分
布と二次励起をも考慮して、補正係数αj,αF を求めて
もよい。
【００４３】また、上記実施例では、ＬＯＩ（強熱減
量）の場合について述べたが、強熱増量（ＧＯＩ）の場
合についても、この発明を同様に適用することができ、
この発明の範囲に含まれる。ＧＯＩの場合については、
ガラスビード調製時の増加重量をＧとしたとき、Ｆ１／
Ｓ＝｛（Ｂ／Ｓ）−１｝−Ｇ／Ｓであることを利用する
ことで、試料１の増加重量Ｇおよび融剤の揮散量ΔＦに
よる分析誤差を補正して、試料１の組成を分析する。す
なわち、この場合は、Ｆ１＝Ｆ−ΔＦおよびＢ＝Ｓ＋Ｆ
−（ΔＦ−Ｇ）を前提に蛍光Ｘ線の吸収量を求める補正
式を用いて、ＧＯＩの他に融剤３の揮散量ΔＦによる分
析誤差を補正している。
量）の場合について述べたが、強熱増量（ＧＯＩ）の場
合についても、この発明を同様に適用することができ、
この発明の範囲に含まれる。ＧＯＩの場合については、
ガラスビード調製時の増加重量をＧとしたとき、Ｆ１／
Ｓ＝｛（Ｂ／Ｓ）−１｝−Ｇ／Ｓであることを利用する
ことで、試料１の増加重量Ｇおよび融剤の揮散量ΔＦに
よる分析誤差を補正して、試料１の組成を分析する。す
なわち、この場合は、Ｆ１＝Ｆ−ΔＦおよびＢ＝Ｓ＋Ｆ
−（ΔＦ−Ｇ）を前提に蛍光Ｘ線の吸収量を求める補正
式を用いて、ＧＯＩの他に融剤３の揮散量ΔＦによる分
析誤差を補正している。
【００４４】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、ＬＯＩまたはＧＯＩの重量の他に融剤の揮散量によ
る分析誤差を補正するので、ガラスビード法を用いた粉
末試料の分析精度が向上する。
ば、ＬＯＩまたはＧＯＩの重量の他に融剤の揮散量によ
る分析誤差を補正するので、ガラスビード法を用いた粉
末試料の分析精度が向上する。
【図１】この発明の一実施例にかかる分析方法を示す工
程図である。
程図である。
【図２】公知の分析方法を示す工程図である。
１…試料、３…融剤、４…ガラスビード、Ｂ１…一次Ｘ
線（放射線）、Ｂ２…蛍光Ｘ線。
線（放射線）、Ｂ２…蛍光Ｘ線。
Claims (2)
- 【請求項１】 試料と融剤との混合物を加熱溶融して調
製したガラスビードに放射線を照射し、このガラスビー
ドから発生した各元素の蛍光Ｘ線の強度を測定し、これ
らの蛍光Ｘ線の測定強度に基づいて各元素の濃度比を演
算することにより、上記試料の組成を分析するガラスビ
ード法を用いた蛍光Ｘ線分析方法において、 ガラスビード調製前の試料の重量Ｓと、ガラスビードの
重量Ｂとを予め秤量し、 ガラスビード調製時の上記試料の揮散量をＬとし、ガラ
スビード調製前の上記融剤の重量をＦとし、ガラスビー
ド調製時の上記融剤の揮散量をΔＦとし、ガラスビード
調製後の上記融剤の重量をＦ１としたとき、Ｆ１＝Ｆ−
ΔＦおよびＢ＝Ｓ＋Ｆ−（ΔＦ＋Ｌ）を前提に蛍光Ｘ線
の吸収量を求める補正式を用いて、 上記試料および融剤の揮散量Ｌ、ΔＦによる分析誤差を
補正して上記試料の組成を分析することを特徴とするガ
ラスビード法を用いた蛍光Ｘ線分析方法。 - 【請求項２】 試料と融剤との混合物を加熱溶融して調
製したガラスビードに放射線を照射し、このガラスビー
ドから発生した各元素の蛍光Ｘ線の強度を測定し、これ
らの蛍光Ｘ線の測定強度に基づいて各元素の濃度比を演
算することにより、上記試料の組成を分析するガラスビ
ード法を用いた蛍光Ｘ線分析方法において、 ガラスビード調製前の試料の重量Ｓと、ガラスビードの
重量Ｂとを予め秤量し、 ガラスビード調製時の上記試料の増加重量をＧとし、ガ
ラスビード調製前の上記融剤の重量をＦとし、ガラスビ
ード調製時の上記融剤の揮散量をΔＦとし、ガラスビー
ド調製後の上記融剤の重量をＦ１としたとき、Ｆ１＝Ｆ
−ΔＦおよびＢ＝Ｓ＋Ｆ−（ΔＦ−Ｇ）を前提に蛍光Ｘ
線の吸収量を求める補正式を用いて、 上記試料の増加重量Ｇおよび融剤の揮散量ΔＦによる分
析誤差を補正して上記試料の組成を分析することを特徴
とするガラスビード法を用いた蛍光Ｘ線分析方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4148871A JP2626857B2 (ja) | 1992-05-15 | 1992-05-15 | ガラスビード法を用いた蛍光ｘ線分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4148871A JP2626857B2 (ja) | 1992-05-15 | 1992-05-15 | ガラスビード法を用いた蛍光ｘ線分析方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05322810A JPH05322810A (ja) | 1993-12-07 |
| JP2626857B2 true JP2626857B2 (ja) | 1997-07-02 |
Family
ID=15462590
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4148871A Expired - Fee Related JP2626857B2 (ja) | 1992-05-15 | 1992-05-15 | ガラスビード法を用いた蛍光ｘ線分析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2626857B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011089952A (ja) * | 2009-10-26 | 2011-05-06 | Rigaku Corp | 蛍光ｘ線分析装置 |
| JP2011089953A (ja) * | 2009-10-26 | 2011-05-06 | Rigaku Corp | 蛍光ｘ線分析装置 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AU674784B2 (en) | 1993-10-15 | 1997-01-09 | Nippondenso Co. Ltd. | Electric rotating machine |
| US6800574B2 (en) | 2001-10-24 | 2004-10-05 | 3M Innovative Properties Company | Glass beads and uses thereof |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5920841A (ja) * | 1982-07-28 | 1984-02-02 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 「けい」光ｘ線分析方法 |
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1992
- 1992-05-15 JP JP4148871A patent/JP2626857B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
| JP2011089952A (ja) * | 2009-10-26 | 2011-05-06 | Rigaku Corp | 蛍光ｘ線分析装置 |
| JP2011089953A (ja) * | 2009-10-26 | 2011-05-06 | Rigaku Corp | 蛍光ｘ線分析装置 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05322810A (ja) | 1993-12-07 |
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