JP6908133B2 - Probe pins, inspection jigs, inspection units and inspection equipment - Google Patents
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Description
本開示は、プローブピン、このプローブピンを備えた検査治具、この検査治具を備えた検査ユニット、および、この検査ユニットを備えた検査装置に関する。 The present disclosure relates to a probe pin, an inspection jig provided with the probe pin, an inspection unit provided with the inspection jig, and an inspection device provided with the inspection unit.
カメラあるいは液晶パネル等の電子部品モジュールでは、一般に、その製造工程において、導通検査および動作特性検査等が行われる。これらの検査は、プローブピンを用いて、電子部品モジュールに設置されている本体基板と接続するためのFPC接触電極、あるいは、実装された基板対基板コネクタ等の電極部と検査装置とを接続することにより行われる。 In electronic component modules such as cameras and liquid crystal panels, continuity inspection, operating characteristic inspection, and the like are generally performed in the manufacturing process. In these inspections, probe pins are used to connect the FPC contact electrode for connecting to the main board installed in the electronic component module, or the electrode part such as the mounted board-to-board connector to the inspection device. It is done by.
このようなプローブピンとしては、例えば、特許文献1に記載されたものがある。このプローブピンは、電子部品の電極端子および被接続電子部品の電極端子に対してそれぞれ接触可能な一対のコンタクトと、一対のコンタクト間に介在して一対のコンタクトを接続する蛇行部とを備えている。前記プローブピンでは、蛇行部により、各コンタクトと電子部品の電極端子および被接続電子部品の電極端子との間の接圧を確保して、電子部品の電極端子および被接続電子部品の電極端子に対する接触信頼性を高めている。 As such a probe pin, for example, there is one described in Patent Document 1. This probe pin includes a pair of contacts that can contact the electrode terminals of the electronic component and the electrode terminals of the connected electronic component, respectively, and a meandering portion that connects the pair of contacts by interposing between the pair of contacts. There is. In the probe pin, the meandering portion secures the contact pressure between each contact and the electrode terminal of the electronic component and the electrode terminal of the connected electronic component, and the electrode terminal of the electronic component and the electrode terminal of the connected electronic component are pressed. Increases contact reliability.
近年、電子部品モジュール間で送受信される情報量の増大などに伴って、電子部品モジュールの検査に用いるプローブピンにも高周波領域の信号に対応することが要請されている。 In recent years, as the amount of information transmitted and received between electronic component modules has increased, it has been required that probe pins used for inspecting electronic component modules also support signals in the high frequency region.
しかし、特許文献1のプローブピンでは、高周波領域の信号に必ずしも十分に対応できているとはいえず、電子部品モジュールの検査時にプローブピンを流れる高周波領域の信号の損失が大きくなる場合があった。 However, it cannot be said that the probe pin of Patent Document 1 can sufficiently correspond to the signal in the high frequency region, and the loss of the signal in the high frequency region flowing through the probe pin may be large when inspecting the electronic component module. ..
本開示は、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性を確保しつつ、高周波領域の信号の損失を低減できるプローブピン、このプローブピンを備えた検査治具、この検査治具を備えた検査ユニット、および、この検査ユニットを備えた検査装置を提供することを目的とする。 The present disclosure discloses a probe pin capable of reducing signal loss in a high frequency region while ensuring contact reliability with respect to an inspection object and an inspection device, an inspection jig equipped with this probe pin, and an inspection unit provided with this inspection jig. , And an inspection device equipped with this inspection unit.
本開示の一例のプローブピンは、
長手方向に沿って伸縮する弾性部と、
前記弾性部の前記長手方向の第1端部に接続された板状の第1接触部と、
前記第1接触部に対して直列的に配置され、前記弾性部の前記長手方向の第2端部に接続された板状の第2接触部と
を備え、
前記弾性部が、
前記長手方向に交差する方向に延びると共に、その延在方向の一端部が前記第1接触部に接続された第1直線部と、
前記長手方向に交差する方向でかつ前記第1接触部から離れる方向に突出した円弧状に延びていると共に、その延在方向の一端部が前記第1直線部のその延在方向の他端部に接続された湾曲部と、
前記長手方向に交差する方向に延びると共に、その延在方向の一端部が前記湾曲部のその延在方向の他端部に接続された第2直線部と
を有し、
前記湾曲部の中心角が、90度よりも大きく180度よりも小さくなるように構成されている。The probe pin of the example of the present disclosure is
An elastic part that expands and contracts along the longitudinal direction,
A plate-shaped first contact portion connected to the first end portion in the longitudinal direction of the elastic portion,
A plate-shaped second contact portion arranged in series with the first contact portion and connected to the second end portion in the longitudinal direction of the elastic portion is provided.
The elastic part
A first straight line portion extending in a direction intersecting the longitudinal direction and having one end portion in the extending direction connected to the first contact portion.
It extends in an arc shape protruding in a direction intersecting the longitudinal direction and away from the first contact portion, and one end portion in the extending direction is the other end portion of the first straight line portion in the extending direction. With curved parts connected to
Along with extending in a direction intersecting the longitudinal direction, one end portion in the extending direction has a second straight portion connected to the other end portion in the extending direction of the curved portion.
The central angle of the curved portion is configured to be larger than 90 degrees and smaller than 180 degrees.
また、本開示の一例の検査治具は、
前記プローブピンと、
前記プローブピンを収容可能な収容部を有するハウジングと
を備え、
前記プローブピンが、前記湾曲部の中心角が、90度よりも大きく180度よりも小さくなるように、前記収容部に収容されている。Further, the inspection jig of the example of the present disclosure is
With the probe pin
A housing having an accommodating portion capable of accommodating the probe pin is provided.
The probe pin is housed in the housing so that the central angle of the curved portion is greater than 90 degrees and less than 180 degrees.
また、本開示の一例の検査ユニットは、
前記検査治具を少なくとも1つ備えた。In addition, the inspection unit of the example of the present disclosure is
At least one of the inspection jigs was provided.
また、本開示の一例の検査装置は、
前記検査ユニットを少なくとも1つ備えた。In addition, the inspection device of the example of the present disclosure is
At least one of the inspection units was provided.
前記プローブピンによれば、弾性部が、プローブピンの長手方向に交差する方向に延びて延在方向の一端部が第1接触部に接続された第1直線部と、プローブピンの長手方向に交差する方向でかつ第1接触部から離れる方向に突出した円弧状に延びて延在方向の一端部が第1直線部のその延在方向の他端部に接続された湾曲部と、プローブピンの長手方向に交差する方向に延びて延在方向の一端部が湾曲部のその延在方向の他端部に接続された第2直線部とを有し、湾曲部の中心角が、90度よりも大きく180度よりも小さくなるように構成されている。これにより、プローブピンの長手方向における第1直線部と第2直線部との間に距離を設けることができるので、例えば、第1直線部を流れる高周波領域の信号の第2直線部を流れる高周波領域の信号に対する干渉を低減できる。その結果、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性を確保しつつ、高周波領域の信号の損失を低減できるプローブピンを実現できる。 According to the probe pin, the elastic portion extends in the direction intersecting the longitudinal direction of the probe pin, and one end portion in the extending direction is connected to the first contact portion in the longitudinal direction of the probe pin. A curved portion extending in an arc shape extending in an intersecting direction and protruding in a direction away from the first contact portion, and one end in the extending direction connected to the other end in the extending direction of the first straight portion, and a probe pin. One end in the extending direction extends in the direction intersecting the longitudinal direction of the curved portion and has a second straight portion connected to the other end in the extending direction of the curved portion, and the central angle of the curved portion is 90 degrees. It is configured to be larger than and less than 180 degrees. As a result, a distance can be provided between the first straight line portion and the second straight line portion in the longitudinal direction of the probe pin. Therefore, for example, the high frequency flowing through the second straight line portion of the signal in the high frequency region flowing through the first straight line portion. Interference with signals in the region can be reduced. As a result, it is possible to realize a probe pin capable of reducing signal loss in the high frequency region while ensuring contact reliability with respect to the inspection object and the inspection device.
また、前記検査治具によれば、前記プローブピンにより、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の高周波領域の信号の損失が少ない検査治具を実現できる。 Further, according to the inspection jig, the probe pin has high contact reliability with respect to the inspection object and the inspection device, and the inspection jig has a small signal loss in the high frequency region when connected to the inspection object and the inspection device. Can be realized.
また、前記検査ユニットによれば、前記検査治具により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の高周波領域の信号の損失が少ない検査ユニットを実現できる。 Further, according to the inspection unit, the inspection jig provides an inspection unit having high contact reliability to the inspection object and the inspection device and little signal loss in the high frequency region when connected to the inspection object and the inspection device. realizable.
また、前記検査装置によれば、前記検査ユニットにより、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の高周波領域の信号の損失が少ない検査装置を実現できる。 Further, according to the inspection device, the inspection unit realizes an inspection device having high contact reliability with respect to the inspection object and the inspection device and having a small signal loss in a high frequency region when connected to the inspection object and the inspection device. can.
以下、本開示の一例を添付図面に従って説明する。なお、以下の説明では、必要に応じて特定の方向あるいは位置を示す用語(例えば、「上」、「下」、「右」、「左」を含む用語)を用いるが、それらの用語の使用は図面を参照した本開示の理解を容易にするためであって、それらの用語の意味によって本開示の技術的範囲が限定されるものではない。また、以下の説明は、本質的に例示に過ぎず、本開示、その適用物、あるいは、その用途を制限することを意図するものではない。さらに、図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは必ずしも合致していない。 Hereinafter, an example of the present disclosure will be described with reference to the accompanying drawings. In the following description, terms indicating a specific direction or position (for example, terms including "top", "bottom", "right", and "left") are used as necessary, but the use of these terms is used. Is for facilitating the understanding of the present disclosure with reference to the drawings, and the meaning of those terms does not limit the technical scope of the present disclosure. In addition, the following description is merely an example and is not intended to limit the present disclosure, its application, or its use. Furthermore, the drawings are schematic, and the ratio of each dimension does not always match the actual one.
本開示の一実施形態のプローブピン10は、導電性を有し、例えば、図1および図2に示すように、ソケット3に収容された状態で使用され、ソケット3と共に検査治具2を構成する。この検査治具2には、一例として、複数の細長い薄板状のプローブピン10が収容されている。
The
また、検査治具2は、検査ユニット1の一部を構成している。検査ユニット1は、図1に示すように、一例として、複数の検査治具2が組み込まれた略直方体状のベースハウジング4を備えている。このベースハウジング4は、略矩形板状の第1ハウジング5と、この第1ハウジング5の板厚方向に積み重ねられた第2ハウジング6とで構成されている。
Further, the
ソケット3は、図2に示すように、各プローブピン10を収容可能な複数の収容部7を有し、第1ハウジング5および第2ハウジング6で保持されている。各収容部7は、ソケット3とベースハウジング4の第2ハウジング6とで取り囲まれており、後述する第1接点部121および第2接点部131がソケット3およびベースハウジング4の外部にそれぞれ露出した状態で、各プローブピン10を収容可能に構成されている。
As shown in FIG. 2, the
なお、図2に示すように、第1接点部121は、一例として、検査装置の基板(例えば、PCBパッド)100に設けられた端子に接触可能に構成されている。また、第2接点部131は、一例として、検査対象物(例えば、基板対基板(BtoB)コネクタ)110の端子120に接触可能に構成されている。
As shown in FIG. 2, the
各プローブピン10は、図3に示すように、その長手方向(すなわち、図3の上下方向)に沿って伸縮する弾性部11と、弾性部11の長手方向の第1端部111に接続された板状の第1接触部12と、弾性部11の長手方向の第2端部112に接続された板状の第2接触部13とを備えている。このプローブピン10では、例えば、電鋳法で形成され、弾性部11、第1接触部12および第2接触部13が一体に構成されている。
As shown in FIG. 3, each
弾性部11は、図4に示すように、第1接触部12の板厚方向(すなわち、図4の紙面貫通方向)から見て、蛇行形状を有し、相互に隙間23を空けて配置された複数の帯状弾性片(この実施形態では、2つの帯状弾性片)21、22を有している。各帯状弾性片21、22は、細長い帯状を有し、プローブピン10の長手方向における一端部である第1端部211が第1接触部12に接続され、プローブピン10の長手方向における他端部である第2端部212が第2接触部13に接続されている。
As shown in FIG. 4, the
詳しくは、図5に示すように、各帯状弾性片21、22は、4つの帯状の直線部(すなわち、第1直線部31、32と、第2直線部51、52と、第3直線部71、72と、第4直線部91、92)と、3つの帯状の湾曲部(すなわち、第1湾曲部41、42と、第2湾曲部61、62と、第3湾曲部81、82)とを有している。
Specifically, as shown in FIG. 5, each strip-shaped
第1直線部31、32は、プローブピン10の長手方向に交差する方向(例えば、直交方向)に延びていると共に、その延在方向の一端部が第1接触部12に接続されて、第1端部211、221を構成している。なお、第1直線部31、32は、プローブピン10の長手方向に交差する方向(例えば、直交する方向)から第1接触部12に接続されている。
The first
第1湾曲部41、42は、プローブピン10の長手方向に交差する方向でかつ第1接触部12から離れる方向に突出し、かつ、90度よりも大きく180度よりも小さい中心角θ1に対する円弧に沿って延びている。また、第1湾曲部41、42は、その延在方向の一端部が第1直線部31、32のその延在方向の他端部に接続されている。
The first
第2直線部51、52は、プローブピン10の長手方向に交差する方向に延びていると共に、その延在方向の一端部が第1湾曲部41、42のその延在方向の他端部に接続されている。この第2直線部51、52は、その延在方向の一端部から他端部に向かうにつれて(すなわち、第1湾曲部41、42から離れるにつれて)、プローブピン10の長手方向において、第1直線部31、32から離れる方向に延びている。
The second
第2湾曲部61、62は、プローブピン10の長手方向に交差する方向でかつ第1接触部12に接近する方向に突出し、かつ、90度よりも大きく180度よりも小さい中心角θ2に対する円弧に沿って延びている。また、第2湾曲部61、62は、その延在方向の一端部が第2直線部51、52のその延在方向の他端部に接続されている。
The second
第3直線部71、72は、プローブピン10の長手方向に交差する方向に延びていると共に、その延在方向の一端部が第2湾曲部61、62のその延在方向の他端部に接続されている。この第3直線部71、72は、その延在方向の一端部から他端部に向かうにつれて(すなわち、第2湾曲部61、62から離れるにつれて)、プローブピン10の長手方向において、第2直線部51、52から離れる方向に延びている。
The third
第3湾曲部81、82は、プローブピン10の長手方向に交差する方向でかつ第1接触部12から離れる方向に突出し、かつ、90度よりも大きく180度よりも小さい中心角θ3に対する円弧に沿って延びている。また、第3湾曲部81、82は、その延在方向の一端部が第3直線部71、72のその延在方向の他端部に接続されている。
The third
第4直線部91、92は、プローブピン10の長手方向に交差する方向(例えば、直交方向)に延びていると共に、その延在方向の一端部が第3湾曲部81、82のその延在方向の他端部に接続されている。この第4直線部91、92は、その延在方向の一端部から他端部に向かうにつれて(すなわち、第3湾曲部81、82から離れるにつれて)、プローブピン10の長手方向において、第3直線部71、72から離れる方向に延びている。また、第4直線部91、92は、その延在方向の他端部が第2接触部13に接続されて、第2端部212、222を構成している。なお、第4直線部91、92は、プローブピン10の長手方向から第2接触部13に接続されている。
The fourth
前記プローブピン10では、第1直線部31、32および第4直線部91、92は、第2湾曲部61、62の曲率中心を通りかつプローブピン10の長手方向に直交する方向に延びる直線L1に対して対称に配置されている。また、第2直線部51、52および第3直線部71、72は、直線L1に対して対称に配置され、第1湾曲部41、42および第3湾曲部81、82は、直線L1に対して対称に配置されている。
In the
また、各帯状弾性片21、22の幅(すなわち、各帯状弾性片21、22の第1端部211、221および第2端部212、222間の経路の延在方向に直交する幅方向の長さ)W1、W2が、隣接する帯状弾性片21、22間の最短距離W3よりも小さくなるように構成されている。なお、図5には、一例として、第1湾曲部41、42間の直線距離を最短距離W5として示している。
Further, the width of the strip-shaped
第1接触部12は、図4に示すように、プローブピン10の長手方向に沿って延び、その延在方向の一端部が弾性部11の第1端部111に接続されている。第1接触部12の延在方向の他端部には、第1接点部121が設けられている。また、第2接触部13は、図4に示すように、プローブピン10の長手方向に沿って延び、その延在方向の一端部が弾性部11の第2端部112に接続されている。第2接触部13の延在方向の他端部には、第2接点部131が設けられている。
As shown in FIG. 4, the
第1接触部12および第2接触部13の各々は、プローブピン10の長手方向沿いに延びる仮想直線L2に沿って直列的に配置されている。すなわち、図5に示すように、弾性部11の各直線部31、32、51、52、71、72、91、92と、第1湾曲部41、42および第3湾曲部81、82は、仮想直線L2に対して同じ側(すなわち、第1接触部12の幅方向の一方側)に配置され、第2湾曲部61、62は、第1接触部12および第2接触部13の間でかつ仮想直線L2に沿って直列的に配置されている。
Each of the
図4に示すように、第1接触部12のその延在方向の中間部における幅方向の一方側には、支持部122が設けられている。支持部122は、第1接触部12の板厚方向から見て、第1接触部1から、プローブピン10の長手方向に交差する方向(例えば、直交方向)でかつ仮想直線L3に対する第1直線部31、32側に向かって突出している。
As shown in FIG. 4, a
図2に示すように、ソケット3の収容部7にプローブピン10を収容したとき、第1接触部12の支持部122は、プローブピン10の長手方向における第1接点部121側の面が、収容部7を構成する第2ハウジング6の第1ハウジング5に対向する面に当接するように構成されている。また、プローブピン10は、その長手方向における第2接点部131側の面が収容部7を構成するソケット3の第2ハウジング6に対向する面に、帯状弾性片21の第4直線部91が当接するように構成されている。すなわち、第1接触部12の支持部122および帯状弾性片21の第4直線部91により、プローブピン10が収容部7の内部で支持されるように構成されている。
As shown in FIG. 2, when the
ソケット3の収容部7に収容された状態においても、各湾曲部41、42、61、62、81、82の中心角θ1、θ2、θ3は、90度よりも大きく180度よりも小さくなるように構成されている。
Even in the state of being accommodated in the
なお、第1接触部12の支持部122を省略して、帯状弾性片21の第1直線部31が、第2ハウジング6の第1ハウジング5に対向する面に当接するように構成してもよい。すなわち、帯状弾性片21の第1直線部31および第4直線部91により、プローブピン10が収容部7の内部で支持されるように構成してもよい。
Even if the
また、図4に示すように、第2接触部13のプローブピン10の長手方向における弾性部11側の端部には、第2接触部13を板厚方向に貫通する貫通孔部132が設けられている。この貫通孔部132は、プローブピン10の長手方向に延びて、帯状弾性片21、22の間の隙間23に接続されている。この貫通孔部132により、第2接触部13に発生する応力を分散させている。
Further, as shown in FIG. 4, a through
ところで、第1湾曲部41、42の中心角θ1が、90度以下であった場合、第1接触部12および第2接触部13を直列的に配置することができず、また、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性を確保できる弾性力を備えた弾性部11を得ることが困難になる。
By the way, when the central angle θ1 of the first
また、第1湾曲部41、42の中心角θ1が、180度以上であった場合、第1直線部31、32と第2直線部51、52との間に十分な距離を設けることができないため、例えば、第1直線部31、32を流れる高周波領域の信号が、第2直線部51、52を流れる高周波領域の信号に対して干渉し、高周波領域の信号の損失を低減するのが困難になる。
Further, when the central angle θ1 of the first
これに対して、前記プローブピン10では、弾性部11が、プローブピン10の長手方向に交差する方向に延びて延在方向の一端部111が第1接触部12に接続された第1直線部31、32と、プローブピン10の長手方向に交差する方向でかつ第1接触部12から離れる方向に突出した円弧状に延びて延在方向の一端部が第1直線部31、32のその延在方向の他端部に接続された第1湾曲部41、42と、プローブピン10の長手方向に交差する方向に延びて延在方向の一端部が第1湾曲部41、42のその延在方向の他端部に接続された第2直線部51、52とを有し、第1湾曲部41、42の中心角θ1が、90度よりも大きく180度よりも小さくなるように構成されている。これにより、プローブピン10の長手方向における第1直線部31、32と第2直線部51、52との間に距離を設けることができるので、例えば、第1直線部31、32を流れる高周波領域の信号の第2直線部51、52を流れる高周波領域の信号に対する干渉を低減できる。その結果、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性を確保しつつ、高周波領域の信号の損失を低減できるプローブピン10を実現できる。
On the other hand, in the
ここで、各湾曲部41、42、61、62、81、82の中心角θ1、θ2、θ3が全て180度のプローブピン10(以下、比較例のプローブピンという)と、各湾曲部41、42、61、62、81、82の中心角θ1、θ2、θ3が全て150度のプローブピン10(以下、実施例のプローブピンという)とについて、インサーションロスおよびリターンロスを測定した。
Here, the probe pins 10 (hereinafter, referred to as probe pins of the comparative example) in which the central angles θ1, θ2, and θ3 of the
図6に示すように、比較例のプローブピンでは、14.28Gbpsの信号に対して−1dBのインサーションロスが発生し、13.40Gbpsの信号に対して−10dBのリターンロスが発生した。一方、図7に示すように、実施例のプローブピンでは、30.60Gbpsの信号に対して−1dBのインサーションロスが発生し、30.24Gbpsの信号に対して−10dBのリターンロスが発生した。すなわち、第1湾曲部41、42の中心角θ1が、90度よりも大きく180度よりも小さくなるようにプローブピン10を構成することで、高周波領域の信号の損失を低減できることができた。
As shown in FIG. 6, in the probe pin of the comparative example, an insertion loss of -1 dB was generated for a signal of 14.28 Gbps, and a return loss of -10 dB was generated for a signal of 13.40 Gbps. On the other hand, as shown in FIG. 7, in the probe pin of the example, an insertion loss of -1 dB was generated for a signal of 30.60 Gbps, and a return loss of -10 dB was generated for a signal of 30.24 Gbps. .. That is, by configuring the
また、前記プローブピン10によれば、弾性部11が、相互に隙間23を空けて配置された複数の帯状弾性片で構成され、各帯状弾性片21、22の幅W1、W2が、隣接する帯状弾性片21、22間の最短距離W3よりも小さくなるように構成されている。これにより、例えば、第1接点部121および第2接点部131の各々が検査対象物および検査装置に対して接触して各帯状弾性片21、22がプローブピン10の長手方向に圧縮されたときでも、各帯状弾性片21、22同士の接触を防止することができ、高い接触信頼性を確保できるプローブピン10を実現できる。
Further, according to the
また、前記検査治具2によれば、プローブピン10により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の高周波領域の信号の損失が少ない検査治具2を実現できる。
Further, according to the
また、前記検査ユニット1によれば、検査治具2により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の高周波領域の信号の損失が少ない検査ユニット2を実現できる。
Further, according to the inspection unit 1, the
なお、前記検査ユニット1は、検査装置の一部を構成することができる。このような検査装置によれば、検査ユニット1により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の高周波領域の信号の損失が少ない検査装置を実現できる。 The inspection unit 1 can form a part of the inspection device. According to such an inspection device, the inspection unit 1 realizes an inspection device having high contact reliability with respect to the inspection object and the inspection device and having a small signal loss in a high frequency region when connected to the inspection object and the inspection device. can.
弾性部11は、第1直線部31、32、第1湾曲部41、42および第2直線部51、52を有し、第1湾曲部41、42の中心角が90度よりも大きく180度よりも小さくなるように構成されていればよい。
The
例えば、弾性部11は、図8に示すように、第1直線部31、32、第1湾曲部41、42および第2直線部51、52のみで構成してもよい。
For example, as shown in FIG. 8, the
また、弾性部11は、相互に隙間23を空けて配置された2つの帯状弾性片21、22を有する場合に限らない。弾性部11は、例えば、図9に示すように、相互に隙間を空けて配置された4つの帯状弾性片21、22、24、25を有していてもよいし、図示していないが、1つの帯状弾性片を有していてもよい。
Further, the
各帯状弾性片21、22の幅W1、W2は、隣接する帯状弾性片21、22間の最短距離W3よりも小さい場合に限らず、大きくてもよい。
The widths W1 and W2 of the strip-shaped
第1接触部12および第2接触部13は、プローブピン10の設計等に応じて、その形状等を適宜変更できる。例えば、第2接触部13は、図9に示すように、プローブピン10の長手方向に沿って延びる一対の脚部133、134の先端部のそれぞれに設けてもよい。すなわち、第1接点部121および第2接点部131の各々は、検査装置あるいは検査対象物の様々な態様に応じて、形状および位置などを適宜変更することができる。
The shapes and the like of the
検査治具2およびベースハウジング4は、検査装置あるいは検査対象物の様々な態様に応じて、その構成を適宜変更することができる。すなわち、検査治具2およびベースハウジング4を汎用化して、検査ユニット1(ひいては検査装置)の生産性を向上させることができる。
The configurations of the
以上、図面を参照して本開示における種々の実施形態を詳細に説明したが、最後に、本開示の種々の態様について説明する。なお、以下の説明では、一例として、参照符号も添えて記載する。 The various embodiments of the present disclosure have been described in detail with reference to the drawings, and finally, various aspects of the present disclosure will be described. In the following description, a reference reference numeral is also provided as an example.
本開示の第1態様のプローブピン10は、
長手方向に沿って伸縮する弾性部11と、
前記弾性部11の前記長手方向の第1端部111に接続された板状の第1接触部12と、
前記第1接触部12に対して直列的に配置され、前記弾性部11の前記長手方向の第2端部112に接続された板状の第2接触部13と
を備え、
前記弾性部11が、
前記長手方向に交差する方向に延びると共に、その延在方向の一端部が前記第1接触部に接続された第1直線部31と、
前記長手方向に交差する方向でかつ前記第1接触部12から離れる方向に突出した円弧状に延びていると共に、その延在方向の一端部が前記第1直線部31のその延在方向の他端部に接続された湾曲部41と、
前記長手方向に交差する方向に延びると共に、その延在方向の一端部が前記湾曲部41のその延在方向の他端部に接続された第2直線部51と
を有し、
前記湾曲部41の中心角θ1が、90度よりも大きく180度よりも小さくなるように構成されている。The
An
A plate-shaped
A plate-shaped
The
A first
It extends in an arc shape protruding in a direction intersecting the longitudinal direction and in a direction away from the
It has a second
The central angle θ1 of the
第1態様のプローブピン10によれば、プローブピン10の長手方向における第1直線部31と第2直線部51との間に距離を設けることができるので、例えば、第1直線部31を流れる高周波領域の信号の第2直線部51を流れる高周波領域の信号に対する干渉を低減できる。その結果、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性を確保しつつ、高周波領域の信号の損失を低減できるプローブピン10を実現できる。
According to the
本開示の第2態様のプローブピン10は、
前記弾性部11が、相互に隙間23を空けて配置された複数の帯状弾性片21、22で構成され、
前記複数の帯状弾性片21、22の各々の幅W1、W2が、隣接する前記複数の帯状弾性片21、22間の最短距離W3よりも小さくなるように構成されている。The
The
The widths W1 and W2 of the plurality of strip-shaped
第2態様のプローブピン10によれば、例えば、第1接点部121および第2接点部131の各々が検査対象物および検査装置に対して接触して各帯状弾性片21、22がプローブピン10の長手方向に圧縮されたときでも、各帯状弾性片21、22同士の接触を防止することができ、高い接触信頼性を確保できるプローブピン10を実現できる。
According to the
本開示の第3態様の検査治具2は、
前記プローブピン10と、
前記プローブピン10を収容可能な収容部7を有するソケット3と
を備え、
前記プローブピン10が、前記湾曲部41の中心角が、90度よりも大きく180度よりも小さくなるように、前記収容部7に収容されている。The
With the
A
The
第3態様の検査治具2によれば、プローブピン10により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の高周波領域の信号の損失が少ない検査治具2を実現できる。
According to the
本開示の第4態様の検査ユニット1は、
前記検査治具を少なくとも1つ備えた。The inspection unit 1 of the fourth aspect of the present disclosure is
At least one of the inspection jigs was provided.
第4態様の検査ユニット1によれば、検査治具2により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の高周波領域の信号の損失が少ない検査ユニット2を実現できる。
According to the inspection unit 1 of the fourth aspect, the
本開示の第5態様の検査装置は、
前記検査ユニット1を少なくとも1つ備えた。The inspection device of the fifth aspect of the present disclosure is
At least one of the inspection units 1 was provided.
第4態様の検査装置によれば、検査ユニット1により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の高周波領域の信号の損失が少ない検査装置を実現できる。 According to the inspection device of the fourth aspect, the inspection unit 1 provides an inspection device having high contact reliability to the inspection object and the inspection device and having a small signal loss in the high frequency region when connected to the inspection object and the inspection device. realizable.
なお、前記様々な実施形態または変形例のうちの任意の実施形態または変形例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。また、実施形態同士の組み合わせまたは実施例同士の組み合わせまたは実施形態と実施例との組み合わせが可能であると共に、異なる実施形態または実施例の中の特徴同士の組み合わせも可能である。 By appropriately combining any of the various embodiments or modifications, the effects of each can be achieved. In addition, combinations of embodiments or examples or combinations of embodiments and examples are possible, and features in different embodiments or examples are also possible.
本開示のプローブピンは、例えば、液晶パネルの検査に用いる検査治具に適用できる。 The probe pin of the present disclosure can be applied to, for example, an inspection jig used for inspecting a liquid crystal panel.
本開示の検査治具は、例えば、液晶パネルの検査に用いる検査ユニットに適用できる。 The inspection jig of the present disclosure can be applied to, for example, an inspection unit used for inspecting a liquid crystal panel.
本開示の検査ユニットは、例えば、液晶パネルの検査装置に適用できる。 The inspection unit of the present disclosure can be applied to, for example, an inspection device for a liquid crystal panel.
本開示の検査装置は、例えば、液晶パネルの検査に用いることができる。 The inspection device of the present disclosure can be used, for example, for inspecting a liquid crystal panel.
1 検査ユニット
2 検査治具
3 ソケット
4 ベースハウジング
5 第1ハウジング
6 第2ハウジング
7 収容部
10 プローブピン
11 弾性部
111 第1端部
112 第2端部
12 第1接触部
121 第1接点部
13 第2接触部
131 第2接点部
132 貫通孔部
133、134 脚部
21、22、24、25 帯状弾性片
211、221 第1端部
212、222 第2端部
23 隙間
31、32 第1直線部
41、42 第1湾曲部
51、52 第2直線部
61、62 第2湾曲部
71、72 第3直線部
81、82 第3湾曲部
91、92 第4直線部
100 基板
110 検査対象物
120 端子
θ1、θ2、θ3 中心角
L1、L2 直線
W1、W2 幅
W3 最短距離1
Claims (4)
前記弾性部の前記長手方向の第1端部に接続された板状の第1接触部と、
前記第1接触部に対して直列的に配置され、前記弾性部の前記長手方向の第2端部に接続された板状の第2接触部と
を備え、
前記弾性部が、
前記長手方向に直交する方向に延びると共に、その延在方向の一端部が前記第1接触部に接続された第1直線部と、
前記第1直線部のその延在方向の他端部に接続された第1湾曲部と、
前記長手方向に交差する方向に延びると共に、その延在方向の一端部が前記第1湾曲部のその延在方向の他端部に接続された第2直線部と、
前記第2直線部のその延在方向の他端部に接続された第2湾曲部と、
前記長手方向に交差する方向に延びると共に、その延在方向の一端部が前記第2湾曲部のその延在方向の他端部に接続された第3直線部と、
前記第3直線部のその延在方向の他端部に接続された第3湾曲部と、
前記長手方向に直交する方向に延びると共に、その延在方向の一端部が前記第3湾曲部のその延在方向の他端部に接続され、その延在方向の他端部が前記第2接触部に接続された第4直線部と
を有し、
前記第1湾曲部、前記第2湾曲部および前記第3湾曲部の各々の中心角が、90度よりも大きく180度よりも小さくなるように構成されており、
前記弾性部が、相互に隙間を空けて配置された複数の帯状弾性片で構成され、
前記複数の帯状弾性片の各々の幅が、隣接する前記複数の帯状弾性片間の最短距離よりも小さくなるように構成されている、プローブピン。 An elastic part that expands and contracts along the longitudinal direction,
A plate-shaped first contact portion connected to the first end portion in the longitudinal direction of the elastic portion,
A plate-shaped second contact portion arranged in series with the first contact portion and connected to the second end portion in the longitudinal direction of the elastic portion is provided.
The elastic part
A first straight line portion extending in a direction orthogonal to the longitudinal direction and having one end portion in the extending direction connected to the first contact portion.
The first curved portion connected to the other end of the first straight portion in the extending direction, and the first curved portion.
A second straight line portion extending in a direction intersecting the longitudinal direction and having one end portion in the extending direction connected to the other end portion in the extending direction of the first curved portion.
A second curved portion connected to the other end of the second straight portion in the extending direction, and a second curved portion.
A third straight line portion extending in a direction intersecting the longitudinal direction and having one end portion in the extending direction connected to the other end portion in the extending direction of the second curved portion.
A third curved portion connected to the other end of the third straight portion in the extending direction, and a third curved portion.
While extending in a direction orthogonal to the longitudinal direction, one end in the extending direction is connected to the other end in the extending direction of the third curved portion, and the other end in the extending direction is the second contact. It has a fourth straight part connected to the part,
The central angles of the first curved portion, the second curved portion, and the third curved portion are each larger than 90 degrees and smaller than 180 degrees .
The elastic portion is composed of a plurality of strip-shaped elastic pieces arranged so as to be spaced apart from each other.
A probe pin configured such that the width of each of the plurality of strip-shaped elastic pieces is smaller than the shortest distance between the plurality of strip-shaped elastic pieces adjacent to each other.
前記プローブピンを収容可能な収容部を有するソケットと
を備え、
前記プローブピンが、前記第1湾曲部、前記第2湾曲部および前記第3湾曲部の各々の中心角が、90度よりも大きく180度よりも小さくなるように、前記収容部に収容されている、検査治具。 The probe pin of claim 1 and
A socket having an accommodating portion capable of accommodating the probe pin is provided.
The probe pin is housed in the housing so that the central angles of the first curved portion, the second curved portion, and the third curved portion are larger than 90 degrees and smaller than 180 degrees. There is an inspection jig.
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KR102086390B1 (en) * | 2019-11-05 | 2020-03-09 | 주식회사 플라이업 | Probe pin |
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JP2021128055A (en) * | 2020-02-13 | 2021-09-02 | オムロン株式会社 | Inspection socket |
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CN111579837B (en) * | 2020-05-18 | 2022-09-20 | 武汉精毅通电子技术有限公司 | Probe and connector suitable for high-current high-speed signal test |
KR102431964B1 (en) * | 2020-09-11 | 2022-08-12 | 주식회사 오킨스전자 | Multi-layer contact pin |
KR102606892B1 (en) * | 2021-06-15 | 2023-11-29 | (주)포인트엔지니어링 | Supporting plate for electrical test socket, socket pin for electrical test socket, and electrical test socket |
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JP2023141024A (en) * | 2022-03-23 | 2023-10-05 | 株式会社日本マイクロニクス | Probe, probe holding device, and method for manufacturing probe |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0434380A (en) * | 1990-05-30 | 1992-02-05 | Toshiba Chem Corp | Ic socket |
JP3072071B2 (en) * | 1997-11-26 | 2000-07-31 | 日本航空電子工業株式会社 | contact |
JP2002134202A (en) | 2000-10-27 | 2002-05-10 | Otax Co Ltd | Receptacle for electronic parts |
JP2002164134A (en) * | 2000-11-27 | 2002-06-07 | Yamaichi Electronics Co Ltd | Socket for ic package |
JP2004138405A (en) * | 2002-10-15 | 2004-05-13 | Renesas Technology Corp | Probe for measuring semiconductor device |
JP5005195B2 (en) * | 2005-07-13 | 2012-08-22 | 東京エレクトロン株式会社 | Probe card manufacturing method |
JP4842733B2 (en) * | 2006-08-18 | 2011-12-21 | 日本発條株式会社 | Conductive contact and conductive contact unit |
WO2009084906A2 (en) | 2008-01-02 | 2009-07-09 | Nakamura, Toshiyuki | The proble pin composed in one body and the method of making it |
US20090326402A1 (en) * | 2008-06-30 | 2009-12-31 | Nellcor Puritan Bennett Ireland | Systems and methods for determining effort |
TWM350159U (en) * | 2008-06-30 | 2009-02-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector |
JP2010156595A (en) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Nhk Spring Co Ltd | Probe unit |
JP2011191187A (en) * | 2010-03-15 | 2011-09-29 | Nhk Spring Co Ltd | Contact probe and probe unit |
US8970238B2 (en) * | 2011-06-17 | 2015-03-03 | Electro Scientific Industries, Inc. | Probe module with interleaved serpentine test contacts for electronic device testing |
JP2013007700A (en) * | 2011-06-27 | 2013-01-10 | Japan Electronic Materials Corp | Electric contact |
JP2013142689A (en) * | 2012-01-06 | 2013-07-22 | Isao Kimoto | Probe assembly for simultaneous measurement of plural chips |
JP6107234B2 (en) * | 2013-03-01 | 2017-04-05 | 山一電機株式会社 | Inspection probe and IC socket including the same |
KR102018784B1 (en) * | 2013-08-13 | 2019-09-05 | (주)위드멤스 | Method for testing electrode circuit pin and electrode circuit testing pin using the same |
JP6737002B2 (en) * | 2016-06-17 | 2020-08-05 | オムロン株式会社 | Probe pin |
JP6515877B2 (en) * | 2016-06-17 | 2019-05-22 | オムロン株式会社 | Probe pin |
-
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