DE102020102302A1

DE102020102302A1 - High-frequency test contact element and test pin device

Info

Publication number: DE102020102302A1
Application number: DE102020102302.2A
Authority: DE
Inventors: Otmar Fischer; Wilhelm Schroff; Peter Breul; David Stuhldreier-Kaufmann
Original assignee: Ingun Pruefmittelbau GmbH
Current assignee: Ingun Pruefmittelbau GmbH
Priority date: 2020-01-30
Filing date: 2020-01-30
Publication date: 2021-08-05
Also published as: JP2023514814A; WO2021151524A1; DE112020006635A5; CN115485568A; KR20220134567A

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Hochfrequenz-Prüfkontaktelement (10) zum lösbaren Kontaktieren eines Kontaktpartners, insbesondere eines Board-to-Board Steckverbinders, mit einer Prüfstiftvorrichtung, aufweisend einen lamellenförmigen Grundkörper (10a) mit einen endseitigen ersten Kontaktbereich (1) zum Kontaktieren eines Kontaktpartners (30), einen gegenüberliegenden zweiten Kontaktbereich (2) zum Kontaktieren einer das Prüfkontaktelement aufnehmenden Prüfstiftvorrichtung (20) und einen dazwischenliegenden mäanderförmigen elastischen Bereich (3) mit einem vorzugsweise zentral angeordneten und sich entlang einer Verlaufsrichtung (V) des elastischen Bereichs erstreckenden Hohlraum (5) zur Federung entlang einer Längserstreckungsrichtung (L) des Prüfkontaktelements (10), wobei der mäanderförmige elastische Bereich (3) eine Mehrzahl von in Verlaufsrichtung (V) aufeinander folgende Biegeelemente (8a,8b,8c,8d) mit einem jeweiligen Biegewinkel (α1, α2, β1,β2) von 5 bis 70° aufweist.The invention relates to a high-frequency test contact element (10) for releasably contacting a contact partner, in particular a board-to-board connector, with a test pin device having a lamellar base body (10a) with a first contact area (1) at the end for contacting a contact partner (30 ), an opposite second contact area (2) for contacting a test pin device (20) receiving the test contact element and an intermediate meandering elastic area (3) with a preferably centrally arranged cavity (5) extending along a direction (V) of the elastic area for Suspension along a longitudinal direction (L) of the test contact element (10), the meander-shaped elastic region (3) having a plurality of bending elements (8a, 8b, 8c, 8d) following one another in the course direction (V) with a respective bending angle (α1, α2, β1, β2) from 5 to 70 °.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Hochfrequenz-Prüfkontaktelement und eine Prüfstiftvorrichtung zum lösbaren Kontaktieren eines Kontaktpartners im Hochfrequenzbereich.The present invention relates to a high-frequency test contact element and a test pin device for releasably contacting a contact partner in the high-frequency range.

Hochfrequenz-Prüfstiftvorrichtungen mit einem Kontaktkopf sind aus dem Stand der Technik allgemein bekannt und werden in Prüffeldern oder anderen Prüfkontexten benutzt, um einen Prüfpartner, beispielsweise eine einen geeigneten Buchsenabschnitt aufweisende Elektronikbaugruppe, auf Funktionsfähigkeit zu überprüfen. Hierbei wird die Prüfstiftvorrichtung als Stecker auf den zu prüfenden Kontaktpartner aufgesetzt bzw. kontaktiert diesen mittels endseitig angeordneter oder sich erstreckender Kontaktelemente wie beispielsweise Kontaktstiften oder Kontaktlamellen. Anschließend werden über eine geeignete Kontaktierung Prüfsignale auf den Kontaktpartner gebracht.High-frequency test pin devices with a contact head are generally known from the prior art and are used in test fields or other test contexts to test a test partner, for example an electronic assembly having a suitable socket section, for functionality. Here, the test pin device is placed as a plug on the contact partner to be tested or makes contact with it by means of contact elements arranged at the end or extending, such as contact pins or contact lamellas. Test signals are then sent to the contact partner via suitable contacting.

Im regelmäßigen Prüfbetrieb finden dann, typischerweise in periodischen Abständen, Kontaktgaben mittels einer relativen Annäherung der Prüfstiftvorrichtung und eines jeweils zu prüfenden Prüflings statt, wobei gerade im Gebiet der Hochfrequenztechnik eine hohe Kontaktgüte beim Prüfvorgang erforderlich ist, da eine mangelhafte elektrische Kontaktierung nicht nur zu höherem Verschleiß und somit einer beeinträchtigten Lebensdauer sondern auch zu einer mangelhaften Widerstands- und damit Wellenanpassung führt, mit dem Ergebnis unerwünschter Reflexionen und damit potenziell fehlerhafter Kontakt- bzw. Messergebnisse. Gleichzeitig besteht ein Bedürfnis nach einer hinsichtlich der Übertragungseigenschaften von Hochfrequenzsignalen optimierten Ausgestaltung der Kontaktelemente und der Vorrichtung, insbesondere um die Wahrscheinlichkeit möglicher Signalverluste zu minimieren.In regular testing operations, contact is then made, typically at periodic intervals, by means of a relative approach of the test pin device and a test item to be tested, whereby a high contact quality is required during the testing process, especially in the field of high-frequency technology, since poor electrical contacting not only leads to greater wear and thus an impaired service life but also leads to inadequate resistance and therefore wave adaptation, with the result of undesired reflections and thus potentially incorrect contact or measurement results. At the same time, there is a need for a configuration of the contact elements and the device that is optimized with regard to the transmission properties of high-frequency signals, in particular in order to minimize the probability of possible signal losses.

Die WO 2019/138505A1 beschreibt einen Prüfkopfstift für eine Prüfvorrichtung im Hochfrequenzbereich, aufweisend einen ersten und zweiten jeweils mit gegenüberliegenden Kontaktabschnitten verbundenen linearen lamellenartigen Bereich und einen dazwischenliegenden elastischen Bereich mit einem zentral angeordneten und sich entlang der Verlaufsrichtung erstreckenden Hohlraum. Der elastische Bereich weist mehrere in Verlaufsrichtung aneinandergereihte gebogene Abschnitte auf, wobei ein jeweiliger Krümmungs- bzw. Biegungswinkel der gebogenen Abschnitte zwischen 90 und 180° beträgt.the WO 2019 / 138505A1 describes a test head pin for a test device in the high-frequency range, having a first and second linear lamellar region connected in each case to opposing contact sections and an elastic region in between with a centrally arranged cavity extending along the direction of extension. The elastic region has a plurality of curved sections lined up in a row in the course direction, a respective angle of curvature or bending angle of the curved sections being between 90 and 180 °.

CN 109782034A beschreibt einen Prüfkopfstift und eine zugehörige Prüfvorrichtung für den Hochfrequenzbereich. Der Prüfkopfstift ist als durchgehendes Stanzteil ausgebildet und weist einen Kontaktabschnitt zum Kontaktieren eines Kontaktpartners und einen Verbindungsabschnitt zum Verbinden mit einer Platine der Prüfvorrichtung auf. Zwischen Kontaktabschnitt und Verbindungsabschnitt ist ein elastischer Arm aufweisend eine Vielzahl von stark gekrümmten bzw. gebogenen Biegeabschnitten ausgebildet. CN 109782034A describes a test head pin and an associated test device for the high frequency range. The test head pin is designed as a continuous stamped part and has a contact section for contacting a contact partner and a connection section for connecting to a circuit board of the test device. An elastic arm is formed between the contact section and the connecting section, which arm has a multiplicity of strongly curved or bent bending sections.

Basierend auf dem bekannten Stand der Technik ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung ein verbessertes Kontaktelement und eine Prüfstiftvorrichtung bereitzustellen, welches bzw. welche eine optimierte Übertragung von Hochfrequenzsignalen und gleichzeitig eine zuverlässige Kontaktierung eines zu prüfenden Kontaktpartners ermöglicht.Based on the known prior art, the object of the present invention is to provide an improved contact element and a test pin device which enables optimized transmission of high-frequency signals and, at the same time, reliable contacting of a contact partner to be tested.

Gelöst wird diese Aufgabe durch das Kontaktelement und die Prüfstiftvorrichtung gemäß den unabhängigen Ansprüchen. Die abhängigen Ansprüche beschreiben vorteilhafte Weiterbildungen der vorliegenden Erfindung. Die vorliegende Erfindung adressiert zudem weitere Probleme, wie aus der nachfolgenden Beschreibung hervorgeht.This object is achieved by the contact element and the test pin device according to the independent claims. The dependent claims describe advantageous developments of the present invention. The present invention also addresses other problems, as will be apparent from the description below.

In einem ersten Aspekt betrifft die vorliegende Erfindung ein Hochfrequenz-Prüfkontaktelement zum lösbaren Kontaktieren eines Kontaktpartners und zur Verbindung mit einer Prüfstiftvorrichtung, insbesondere eines „Board-to Board“-Steckverbinders, aufweisend einen lamellenförmigen Grundkörper mit einen endseitigen ersten Kontaktbereich zum Kontaktieren eines Kontaktpartners, einen gegenüberliegenden zweiten Kontaktbereich zum Kontaktieren einer das Prüfkontaktelement aufnehmenden Prüfstiftvorrichtung und einen dazwischenliegenden mäanderförmigen elastischen Bereich mit einem vorzugsweise zentral angeordneten und sich entlang einer Verlaufsrichtung des elastischen Bereichs erstreckenden Hohlraum zur Federung entlang einer Längserstreckungsrichtung des Prüfkontaktelements, wobei der mäanderförmige elastische Bereich eine Mehrzahl von in Verlaufsrichtung aufeinander folgende Biegeelemente des Grundkörpers mit einem jeweiligen Biegewinkel von 5 bis 70° aufweist.In a first aspect, the present invention relates to a high-frequency test contact element for releasably contacting a contact partner and for connection to a test pin device, in particular a “board-to-board” connector, having a lamellar base body with a first contact area at the end for contacting a contact partner Opposite second contact area for contacting a test pin device receiving the test contact element and an intermediate meander-shaped elastic area with a preferably centrally arranged cavity extending along a direction of extension of the elastic area for suspension along a direction of longitudinal extension of the test contact element, the meander-shaped elastic region having a plurality of one on top of the other in the direction of extension has the following bending elements of the base body with a respective bending angle of 5 to 70 °.

Durch das erfindungsgemäße Hochfrequenz-Prüfkontaktelement wird durch den mäanderförmigen elastischen Bereich eine Federwirkung in Längserstreckungsrichtung bereitgestellt, wodurch eine optimierte Kontaktierung eines Kontaktpartners erzielbar ist. Zudem weisen die erfindungsgemäßen Biegeelemente des mäanderförmigen Bereichs einen im Vergleich zum Stand der Technik relativ geringen Biegewinkel auf, so dass eine optimierte Signalübertragung mittels des Prüfkontaktelements erzielt wird. Insbesondere wird durch die relativ geringen Biegewinkel das Auftreten von Schwingungen, Abstrahlung und/oder Dämpfungen minimiert, so dass eine im Vergleich zum Stand der Technik deutlich verbesserte Signalübertragung und zudem hohe Anzahl an Lastwechseln ermöglicht wird.The high-frequency test contact element according to the invention provides a spring effect in the longitudinal direction of extension through the meander-shaped elastic region, whereby an optimized contacting of a contact partner can be achieved. In addition, the bending elements according to the invention of the meandering area have a relatively small bending angle compared to the prior art, so that an optimized signal transmission is achieved by means of the test contact element. In particular, the relatively small bending angle minimizes the occurrence of vibrations, radiation and / or damping, so that signal transmission is significantly improved compared to the prior art and, in addition, a high number of load changes is made possible.

Das Prüfkontaktelement weist in Seitenansicht einen im Wesentlichen längsgestreckten bzw. länglichen Grundkörper auf. Hierbei erstrecken sich vorzugsweise insbesondere der erste und zweite Kontaktbereich des Prüfkontaktelements im Wesentlichen entlang der Längserstreckungsrichtung des Kontaktelements. Der erste und/oder zweite Kontaktbereich sind vorzugweise im Wesentlichen linear ausgebildet. Der erste und/oder zweite Kontaktbereich können auch leicht geneigte und/oder gebogene Abschnitte aufweisen. Der dazwischen angeordnete mäanderförmige elastischen Bereich weist eine Verlaufsrichtung grundsätzlich in Längserstreckungsrichtung des Prüfkontaktelements auf, weist hierbei aber die Mehrzahl von Biegeelementen auf, d.h. welche gegenüber der Längserstreckungsrichtung gebogen angeordnet sind.In a side view, the test contact element has an essentially elongated or elongated base body. In this case, the first and second contact areas of the test contact element in particular preferably extend essentially along the direction of longitudinal extent of the contact element. The first and / or second contact area are preferably designed to be essentially linear. The first and / or second contact area can also have slightly inclined and / or curved sections. The meandering elastic region arranged in between has a direction basically in the direction of the longitudinal extent of the test contact element, but here has the plurality of bending elements, ie which are arranged bent relative to the direction of longitudinal extent.

Die jeweiligen Biegeelemente bzw. die Biegewinkel dieser Elemente beziehen sich vorzugsweise auf eine jeweilige Biegung in der gleichen Ebene, insbesondere parallel zu der Längserstreckungsrichtung des Kontaktelements. Insbesondere erstreckt sich der lamellenförmige Grundkörper des Prüfkontaktelements und somit die oben beschriebenen Bereiche davon innerhalb einer Ebene. Das Prüfkontaktelement bzw. der lamellenförmige Grundkörper ist vorzugsweise als integrales Bauteil ausgeformt bzw. ausgebildet. Das Prüfkontaktelement ist vorzugsweise aus einem leitfähigen Material, insbesondere einem Metall.The respective bending elements or the bending angles of these elements preferably relate to a respective bend in the same plane, in particular parallel to the direction of longitudinal extension of the contact element. In particular, the lamellar base body of the test contact element and thus the above-described areas thereof extend within a plane. The test contact element or the lamellar base body is preferably shaped or designed as an integral component. The test contact element is preferably made of a conductive material, in particular a metal.

Der mäanderförmige elastische Bereich weist vorzugsweise zwei in Verlaufsrichtung aufeinander folgende Biegeabschnitte mit jeweils zwei aufeinander folgenden gegenläufigen, insbesondere S-förmig angeordneten, Biegeelementen auf. Die jeweiligen aufeinanderfolgenden Biegeabschnitte sind vorzugsweise ebenfalls gegenläufig, insbesondere S-förmig, zueinander angeordnet. Die zwei Biegeelemente der Biegeabschnitte weisen vorzugsweise zwei im Wesentlichen gleiche Biegewinkel auf.The meandering elastic region preferably has two bending sections following one another in the direction of extension, each with two consecutive opposing, in particular S-shaped, bending elements. The respective successive bending sections are preferably also arranged in opposite directions, in particular in an S-shape, to one another. The two bending elements of the bending sections preferably have two essentially equal bending angles.

In einer bevorzugten Ausführungsform weisen die Biegeelemente eines ersten, vorzugsweise S-förmig ausgebildeten, Biegeabschnitts einen jeweiligen Biegewinkel von 40° bis 70°, mehr bevorzugt von 45° bis 65°, auf. Die Biegeelemente eines zweiten Biegeabschnitts weisen bevorzugt einen jeweiligen Biegewinkel von 5 bis 25°, mehr bevorzugt von 5 bis 15°, auf. Alternativ können die Biegeelemente des zweiten Biegeabschnitts auch einen jeweiligen Biegewinkel analog zum ersten Biegeabschnitt aufweisen. Der erste Biegeabschnitt ist vorzugsweise dem ersten Kontaktbereich zum Kontaktieren eines Kontaktpartners zugeordnet bzw. zu diesem nachfolgend angeordnet. Der zweite Biegeabschnitt ist vorzugsweise dem zweiten Kontaktbereich zum Kontaktieren einer Prüfstiftvorrichtung zugeordnet.In a preferred embodiment, the bending elements of a first, preferably S-shaped, bending section have a respective bending angle of 40 ° to 70 °, more preferably 45 ° to 65 °. The bending elements of a second bending section preferably have a respective bending angle of 5 to 25 °, more preferably 5 to 15 °. Alternatively, the bending elements of the second bending section can also have a respective bending angle analogous to the first bending section. The first bending section is preferably assigned to the first contact area for contacting a contact partner or is arranged following this. The second bending section is preferably assigned to the second contact area for contacting a test pin device.

In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel weist der elastische Bereich insgesamt lediglich zwei vorzugsweise gegenläufig angeordnete Biegeabschnitte auf. Diese weisen vorzugsweise jeweils lediglich zwei vorzugsweise gegenläufig angeordnete Biegeelemente auf.In a preferred exemplary embodiment, the elastic region has a total of only two bent sections, which are preferably arranged in opposite directions. These preferably each have only two bending elements, which are preferably arranged in opposite directions.

Der sich in Verlaufsrichtung des elastischen Bereichs ersteckende Hohlraum erstreckt sich vorzugsweise durch die gesamte Materialstärke des lamellenförmigen Grundkörpers und weist vorzugsweise eine im Wesentlichen homogene Breite auf. Durch den Hohlraum wird der lamellenförmige Grundkörper in Längsrichtung in zwei vorzugsweise parallel verlaufende Verbindungselemente geteilt. Diese verlaufen somit zusammen mit dem dazwischenliegenden Hohlraum vorzugsweise parallel in Verlaufsrichtung des elastischen Bereichs.The cavity extending in the direction of the elastic region preferably extends through the entire material thickness of the lamellar base body and preferably has an essentially homogeneous width. The lamellar base body is divided in the longitudinal direction into two connecting elements, which preferably run parallel, through the cavity. These thus run together with the intermediate cavity preferably parallel in the direction of the elastic region.

Die Dicke bzw. Materialstärke des lamellenförmigen Grundkörpers des Prüfkontaktelements ist vorzugsweise konstant. Die Dicke bzw. Materialstärke des Grundkörpers liegt vorzugsweise bei 0,1 bis 0,3mm.The thickness or material thickness of the lamellar base body of the test contact element is preferably constant. The thickness or material thickness of the base body is preferably 0.1 to 0.3 mm.

Der elastische Bereich weist vorzugsweise senkrecht zur Verlaufsrichtung eine im Wesentlichen homogene Gesamtquerschnittsfläche auf. Unter Gesamtquerschnittsfläche wird hierbei die Summe der Querschnittsflächen aus den parallel verlaufenden und durch den Hohlraum getrennten Verbindungselementen verstanden. Die Querschnittsflächen des ersten und zweiten Kontaktbereichs des lamellenförmigen Grundkörpers weisen vorzugsweise ebenfalls eine im Wesentlichen homogene Querschnittsfläche, senkrecht zu deren jeweiliger Verlaufsrichtung, auf.The elastic region preferably has a substantially homogeneous total cross-sectional area perpendicular to the direction of extension. The total cross-sectional area is understood here to mean the sum of the cross-sectional areas from the connecting elements that run parallel and are separated by the cavity. The cross-sectional areas of the first and second contact areas of the lamellar base body preferably also have an essentially homogeneous cross-sectional area, perpendicular to their respective direction of extension.

In einer bevorzugten Ausführungsform weist der elastischen Bereich eine vorzugsweise in Verlaufsrichtung homogene Gesamtquerschnittsfläche auf, welche weniger als 20%, mehr bevorzugt weniger als 15%, und besonders bevorzugt weniger als 10% von der Querschnittsfläche eines jeweils angrenzenden Abschnitts des ersten und/oder zweiten Kontaktbereichs abweicht. Anders ausgedrückt weist die Querschnittsfläche des elastischen Bereichs vorzugsweise eine Abweichung von weniger als 20%, mehr bevorzugt weniger als 15% und besonders bevorzugt von weniger als 10% der Querschnittsfläche eines an den elastischen Bereich angrenzenden Abschnitts des ersten und/oder zweiten Kontaktbereichs auf. Hierdurch wird eine besonders optimierte Signalübertragung auch im elastischen Bereich ermöglicht.In a preferred embodiment, the elastic area has a preferably homogeneous overall cross-sectional area in the direction of extension, which is less than 20%, more preferably less than 15%, and particularly preferably less than 10% of the cross-sectional area of an adjoining section of the first and / or second contact area deviates. In other words, the cross-sectional area of the elastic area preferably has a deviation of less than 20%, more preferably less than 15% and particularly preferably less than 10% of the cross-sectional area of a section of the first and / or second contact area adjoining the elastic area. This enables a particularly optimized signal transmission even in the elastic range.

Eine jeweilige Breite des ersten und zweiten Kontaktbereichs in Verlaufsrichtung ist vorzugsweise im Wesentlichen konstant. Eine jeweilige Breite des elastischen Bereichs in Verlaufsrichtung ist ebenfalls vorzugsweise konstant. Die Breite in Verlaufsrichtung des elastischen Bereichs ist vorzugsweise größer als die Breite des ersten und/oder zweiten Kontaktbereichs.A respective width of the first and second contact area in the direction of extension is preferably essentially constant. A respective width of the elastic region in the direction of extension is also preferably constant. The width in the direction of the gradient of the elastic region is preferably greater than the width of the first and / or second contact region.

In einer bevorzugten Ausführungsform weist der mäanderförmige elastische Bereich wenigstens eine Verbindungsbrücke auf, an welcher der sich entlang der Verlaufsrichtung erstreckende Hohlraum unterbrochen ist. Unter Verbindungsbrücke wird vorliegend eine vorzugsweise senkrecht zur Verlaufsrichtung angeordnete Verbindung der sich in Verlaufsrichtung erstreckenden Verbindungselemente verstanden. Die Verbindungsbrücke ist vorzugsweise im Grundkörper des Kontaktelements geformt und somit integral mit dem restlichen Kontaktelement ausgebildet. Die Verbindungsbrücke ist vorzugsweise eine Kurzschlussbrücke zur Verkürzung des Hohlraumbereichs in Verlaufsrichtung. Hierdurch kann eine die Signalübertragung störende Resonanzfrequenz des Kontaktelements erhöht werden und insbesondere nach oberhalb eines zu übertragenden Frequenzbandes verschoben werden. Der elastische Bereich weist vorzugsweise lediglich zwei, weiter bevorzugt lediglich eine Verbindungsbrücke auf.In a preferred embodiment, the meandering elastic region has at least one connecting bridge at which the cavity extending along the direction of extension is interrupted. In the present case, a connecting bridge is understood to mean a connection, preferably arranged perpendicular to the direction of extension, of the connecting elements extending in the direction of extension. The connecting bridge is preferably formed in the base body of the contact element and thus formed integrally with the rest of the contact element. The connecting bridge is preferably a short-circuit bridge for shortening the cavity area in the direction of its extension. In this way, a resonance frequency of the contact element that interferes with the signal transmission can be increased and, in particular, shifted above a frequency band to be transmitted. The elastic area preferably has only two, more preferably only one, connecting bridge.

In einer bevorzugten Ausführungsform weist der zweite Kontaktbereich einen wenigsten teilweise gegenüber der Längserstreckungsrichtung gebogenen Endabschnitt auf, welcher zu wenigstens teilweise federnden Kontaktierung eines Kontaktierungsabschnitts einer Leiterplatte an der Prüfstiftvorrichtung ausgebildet ist. Der Endabschnitt weist vorzugsweise eine reduzierte Querschnittsfläche gegenüber der restlichen Querschnittsfläche des zweiten Kontaktbereichs auf.In a preferred embodiment, the second contact area has an end section which is at least partially bent with respect to the direction of longitudinal extent and which is designed for at least partially resilient contacting of a contacting section of a circuit board on the test pin device. The end section preferably has a reduced cross-sectional area compared to the remaining cross-sectional area of the second contact area.

Der erste Kontaktbereich des Kontaktelements weist einen distal angeordneten Kontaktierungsabschnitt zur Kontaktierung eines Kontaktpartners auf. Dieser weist vorzugsweise eine endseitige plan ausgebildete Kontaktfläche auf. Der Kontaktierungsabschnitt weist vorzugsweise eine lamellenförmige Ausbildung analog zum restlichen ersten Kontaktbereich auf. Der Kontaktierungsabschnitt kann alternativ V-förmig oder U-förmig und somit als zulaufender Kontaktabschnitt ausgebildet sein. Der Kontaktierungsabschnitt kann weiterhin alternativ eine sich ausspreizende Form, beispielsweise umgekehrt V- oder U-förmig, aufweisen.The first contact area of the contact element has a distally arranged contacting section for contacting a contact partner. This preferably has a flat contact surface at the end. The contacting section preferably has a lamellar design analogous to the remainder of the first contact area. The contacting section can alternatively be V-shaped or U-shaped and thus designed as a tapering contact section. The contacting section can furthermore alternatively have an expanding shape, for example an inverted V or U-shaped.

In einem weiteren Aspekt betrifft die vorliegende Erfindung eine Hochfrequenz-Prüfstiftvorrichtung zum lösbaren Kontaktieren eines mehrpoligen Kontaktpartners, insbesondere eines Board-to-Board-Verbinders, aufweisend ein Innengehäuse mit einem endseitig angeordneten Kontaktabschnitt zum Zusammenwirken mit dem Kontaktpartner zu Prüfzwecken, und ein Außengehäuse in welchem das Innengehäuse wenigstens abschnittsweise und relativ zu diesem, insbesondere entlang einer Vorrichtungslängsrichtung derart bewegbar geführt ist, dass in einer ersten kontaktfreien Relativposition das Innengehäuse positionssicher angeordnet ist, und in einer zweiten einen Kontaktpartner kontaktierenden Relativposition wenigstens teilweise relativ zum Außengehäuse bewegbar, insbesondere verdrehbar und/oder verkippbar, gelagert ist, wobei die Prüfstiftvorrichtung wenigstens eine Leiterplatte mit Kontaktierungsmitteln zum externen Kontaktieren der Prüfstiftvorrichtung und eine Mehrzahl von mit der Leiterplatte kontaktierten und sich zum Kontaktabschnitt des Innengehäuses erstreckenden Hochfrequenz-Prüfkontaktelementen wie zuvor beschrieben aufweist, und wobei die Leiterplatte und die Prüfkontaktelemente derart im Innengehäuse angeordnet sind, dass diese sich im Wesentlichen in Vorrichtungslängsrichtung erstrecken.In a further aspect, the present invention relates to a high-frequency test pin device for releasably contacting a multi-pole contact partner, in particular a board-to-board connector, having an inner housing with a contact section arranged at the end for interacting with the contact partner for testing purposes, and an outer housing in which the inner housing is guided movably at least in sections and relative to this, in particular along a device longitudinal direction, in such a way that the inner housing is arranged securely in position in a first contact-free relative position, and at least partially movable relative to the outer housing, in particular rotatable and / or, in a second relative position contacting a contact partner tiltable, is mounted, the test pin device having at least one circuit board with contacting means for external contacting of the test pin device and a plurality of contacts with the circuit board erten and to the contact portion of the inner housing extending high-frequency test contact elements as described above, and wherein the circuit board and the test contact elements are arranged in the inner housing that they extend substantially in the device longitudinal direction.

Unter einer Erstreckung „im Wesentlichen in Vorrichtungslängsrichtung“ wird vorliegend insbesondere verstanden, dass sich die Leiterplatte und die Prüfkontaktelemente im Wesentlichen in eine Richtung der Längserstreckung oder parallel zur Längserstreckungsrichtung erstrecken. Insbesondere sollen weder die Leiterplatte noch die Prüfkontaktelemente deutlich abweichend von der Längserstreckungsrichtung oder sogar orthogonal dazu verlaufen.An extension “essentially in the longitudinal direction of the device” is understood here in particular to mean that the printed circuit board and the test contact elements extend essentially in one direction of the longitudinal extension or parallel to the longitudinal extension direction. In particular, neither the printed circuit board nor the test contact elements should run significantly deviating from the direction of longitudinal extent or even orthogonally to it.

Mittels der erfindungsgemäßen Anordnung von Leiterplatte und damit kontaktierten Prüfkontaktelementen wird eine optimierte Signalübertragung im Hochfrequenzbereich erzielt. Insbesondere gegenüber dem Stand der Technik, in welchem eine Leiterplattenanordnung orthogonal zur Erstreckung der Prüfkontaktelemente erfolgte, kann mittels der erfindungsgemäßen Ausrichtung eine optimierte Signalübertragung unter Minimierung des Auftretens von störenden Schwingkreisen oder Dämpfungen erzielt werden. Gleichzeitig wird durch die erfindungsgemäße Ausbildung eine präzise Ausrichtbarkeit der Vorrichtung auf einen Kontaktpartner in der ersten Relativposition sowie eine Bereitstellung einer Toleranz gegenüber etwaigen Positions- und/oder Maßabweichungen des Kontaktpartners in der zweiten Relativposition ermöglicht. Die erste Relativposition entspricht dabei vorzugsweise einer Endlage des Innengehäuses im Außengehäuse, in welchem das Innengehäuse mittels eines Kraftspeichers, insbesondere eines Federelements, in dem Außengehäuse vorgespannt ist. Die zweite Relativposition entspricht vorzugsweise einem teileingefederten Zustand des Innengehäuses im Außengehäuse in Vorrichtungslängsrichtung.An optimized signal transmission in the high-frequency range is achieved by means of the arrangement according to the invention of the printed circuit board and the test contact elements contacted with it. In particular compared to the prior art, in which a circuit board arrangement was orthogonal to the extension of the test contact elements, an optimized signal transmission can be achieved by means of the alignment according to the invention while minimizing the occurrence of disruptive oscillating circuits or damping. At the same time, the design according to the invention enables the device to be precisely aligned to a contact partner in the first relative position, as well as providing a tolerance for any positional and / or dimensional deviations of the contact partner in the second relative position. The first relative position preferably corresponds to an end position of the inner housing in the outer housing, in which the inner housing is pretensioned in the outer housing by means of an energy store, in particular a spring element. The second relative position preferably corresponds to a partially sprung state of the inner housing in the outer housing in the longitudinal direction of the device.

Die wenigstens eine Leiterplatte der Vorrichtung weist darauf angeordnete Leiterbahnen auf, insbesondere zur jeweiligen Verbindung eines Kontaktabschnitts für die Kontaktierung eines zugeordneten Prüfkontaktelements mit den Kontaktierungsmitteln zur externen Signalübertragung an und von der Prüfstiftvorrichtung. Die auf der Leiterplatte angeordneten Leiterbahnen erstrecken sich vorzugsweise im Wesentlichen in Vorrichtungslängsrichtung. Hierbei weisen die Leiterbahnen vorzugsweise keinen Biegeabschnitt oder eine Biegung bzw. Biegeelement mit einem Biegewinkel von größer als 70°, mehr bevorzugt von größer als 45° auf. Hierdurch wird eine weiterhin optimierte Signalübertragung mittels der Leiterbahnen bzw. mittels der Leiterplatte ermöglicht.The at least one circuit board of the device has conductor tracks arranged thereon, in particular for the respective connection of a contact section for contacting an assigned test contact element with the contacting means for external signal transmission to and from the test pin device. The conductor tracks arranged on the circuit board preferably extend essentially in the longitudinal direction of the device. In this case, the conductor tracks preferably have no bending section or a bend or bending element with a bending angle of greater than 70 °, more preferably of greater than 45 °. This enables a further optimized signal transmission by means of the conductor tracks or by means of the circuit board.

Ein jeweiliger Kontaktabschnitt einer Leiterbahn der Leiterplatte zur Kontaktierung des Prüfkontaktelements weist vorzugsweise eine Querschnittsfläche auf, welche auf eine Querschnittsfläche des damit kontaktierten gebogenen Endabschnitts des Prüfkontaktelements abgestimmt ist, derart, dass eine resultierende Gesamtquerschnittsfläche der kontaktierten Elemente weniger als 20%, mehr bevorzugt weniger als 15%, und weiterhin bevorzugt weniger als 10% von der Querschnittsfläche eines an den Endabschnitt angrenzenden zweiten Kontaktbereichs des Hochfrequenz-Prüfkontaktelements abweicht. Die Leiterbahn weist vorzugsweise außerhalb des Kontaktabschnitts eine gegenüber dem Kontaktabschnitt vergrößerte Querschnittsfläche auf. Diese ist über den weiteren Verlauf der Leiterbahn vorzugsweise konstant.A respective contact section of a conductor track of the circuit board for contacting the test contact element preferably has a cross-sectional area which is matched to a cross-sectional area of the bent end section of the test contact element contacted therewith, such that a resulting total cross-sectional area of the contacted elements is less than 20%, more preferably less than 15% %, and furthermore preferably less than 10% deviates from the cross-sectional area of a second contact area of the high-frequency test contact element adjoining the end section. Outside the contact section, the conductor track preferably has a cross-sectional area that is larger than the contact section. This is preferably constant over the further course of the conductor track.

Die Kontaktierungsmittel der Leiterplatte zum externen Kontaktieren der Prüfstiftvorrichtung sind vorzugsweise derart angeordnet oder ausgebildet, dass ein jeweiliger daran angeschlossener Leiter, beispielsweise ein Verbindungskabel zum externen Kontaktieren der Prüfstiftvorrichtung, sich im Wesentlichen in Vorrichtungslängsrichtung erstreckt. Die Kontaktierungsmittel umfassen vorzugsweise ein in einem Längsschlitz der Leiterplatte angeordneten, vorzugsweise in Vorrichtungslängsrichtung ausgerichteten, Verbindungsstecker oder eine entsprechend angeordnete Lötstelle zur Bereitstellung einer nicht lösbaren Verbindung mit einem vorgesehenen externen Verbinder bzw. Leiter.The contacting means of the circuit board for externally contacting the test pin device are preferably arranged or designed such that a respective conductor connected to it, for example a connecting cable for external contacting of the test pin device, extends essentially in the longitudinal direction of the device. The contacting means preferably comprise a connector which is arranged in a longitudinal slot of the printed circuit board, preferably aligned in the longitudinal direction of the device, or a correspondingly arranged soldering point for providing a non-releasable connection with a provided external connector or conductor.

In einer bevorzugten Ausführungsform weist die Prüfstiftvorrichtung zwei sich gegenüberliegende, insbesondere parallel angeordnete, Leiterplatten auf, welche vorzugsweise radial außerhalb der damit kontaktierten Prüfkontaktelemente angeordnet sind. Die Leiterplatten sind hierbei derart ausgerichtet, dass die sich darauf angeordneten Leiterbahnen gegenüberliegen, d.h. sich zugewandt sind. Eine derartige Anordnung der Leiterplatten ermöglicht insbesondere eine räumliche Trennung der Leiterplatten und somit die Reduzierung der gegenseitigen Signalbeeinflussung. Zudem ermöglicht diese Ausrichtung eine weitere Verringerung der Biegewinkel im zugeordneten Prüfkontaktelement.In a preferred embodiment, the test pin device has two opposing, in particular arranged parallel, printed circuit boards which are preferably arranged radially outside of the test contact elements with which they are contacted. The circuit boards are aligned in such a way that the conductor tracks arranged on them are opposite one another, i.e. face one another. Such an arrangement of the circuit boards enables, in particular, a spatial separation of the circuit boards and thus a reduction in the mutual influence of signals. In addition, this alignment enables a further reduction in the bending angle in the associated test contact element.

In einer alternativen Ausführungsform weist die Prüfstiftvorrichtung zwei parallel aneinander liegende oder unmittelbar benachbart angeordnete Leiterplatten auf, welche vorzugsweise im Wesentlichen zentral in der Prüfstiftvorrichtung, d.h. entlang einer Mittelachse der Vorrichtung, angeordnet sind. Die Leiterbahnen der Leiterplatten sind hierbei vorzugsweise auf zwei voneinander abgewandten Seiten angeordnet. Alternativ hierzu kann auch eine einzelne Leiterplatte mit auf gegenüberliegenden Seiten angeordneten Leiterbahnen vorgesehen sein.In an alternative embodiment, the test pin device has two parallel or directly adjacent printed circuit boards, which are preferably arranged essentially centrally in the test pin device, i.e. along a central axis of the device. The conductor tracks of the circuit boards are preferably arranged on two sides facing away from one another. As an alternative to this, a single printed circuit board with printed conductors arranged on opposite sides can also be provided.

Die Prüfstiftvorrichtung weist vorzugweise Isoliermittel auf, welche zwischen den einzelnen Hochfrequenz-Prüfkontaktelements angeordnet sind. Die Isoliermittel umfassen vorzugsweise einen zwischen den Prüfkontaktelementen angeordneten Kunststoffkörper. Dieser weist vorzugsweise eine Vielzahl von seitlichen, insbesondere schlitzartigen, Aussparungen auf, in welchen die Prüfkontaktelemente verlaufen und/oder geführt sind.The test pin device preferably has insulating means which are arranged between the individual high-frequency test contact elements. The insulating means preferably comprise a plastic body arranged between the test contact elements. This preferably has a plurality of lateral, in particular slot-like, recesses in which the test contact elements run and / or are guided.

Der Kontaktabschnitt ist vorzugsweise mehrpolig ausgebildet. Die einzelnen Pole werden hierbei durch die Kontaktelemente wie zuvor beschrieben gebildet. Die Kontaktelemente sind vorzugsweise in der Vorrichtung selektiv austauschbar angeordnet. Hierzu kann die Vorrichtung spezifisch ausgebildete Feststellmittel oder Lagermittel für die Kontaktelemente aufweisen.The contact section is preferably designed with multiple poles. The individual poles are formed here by the contact elements as described above. The contact elements are preferably arranged selectively interchangeably in the device. For this purpose, the device can have specifically designed locking means or bearing means for the contact elements.

Der Kontaktabschnitt der Prüfstiftvorrichtung weist vorzugsweise eine ovale oder vieleckförmige, insbesondere rechteckförmige Innen- und/oder Umfangskontur auf. Die Innen- und/oder Umfangskontur ist vorzugsweise zur Kontaktierung eines sogenannten „Board-to-Board“-Steckverbinders oder „Multi-Line“-Steckverbinders angepasst bzw. ausgebildet.The contact section of the test pin device preferably has an oval or polygonal, in particular rectangular, inner and / or circumferential contour. The inner and / or circumferential contour is preferably adapted or designed for contacting a so-called “board-to-board” connector or “multi-line” connector.

In einer bevorzugten Ausführungsform weist der Kontaktabschnitt einen, insbesondere gegenüber den Hochfrequenz-Prüfkontaktelementen, in Vorrichtungslängsrichtung federnd gelagerten und endseitig angeordneten Zentrierabschnitt auf. Der Zentrierabschnitt ist vorzugsweise mittels zugeordneter Kraftspeichermittel, insbesondere wenigstens einem Federelement, relativ zu dem Prüfkontaktelement federnd gelagert. Der gefederte Zentrierabschnitt ermöglicht eine weiter optimierte Lageausrichtung der Prüfstiftvorrichtung bei der Kontaktierung eines Kontaktpartners zu Prüfzwecken.In a preferred embodiment, the contact section has a centering section which is resiliently mounted in the longitudinal direction of the device and is arranged at the end, in particular with respect to the high-frequency test contact elements. The centering section is preferably resiliently mounted relative to the test contact element by means of associated energy storage means, in particular at least one spring element. The spring-loaded centering section enables a further optimized positional alignment of the test pin device when contacting a contact partner for test purposes.

In einem weiteren Aspekt betrifft die vorliegende Erfindung einen Prüfkontaktaufsatz für eine Prüfstiftvorrichtung wie zuvor beschrieben, aufweisend einen ersten in Längsrichtung verlaufenden Gehäuseabschnitt, vorzugsweise mit Verbindungsmitteln zur selektiven Verbindung mit der Prüfstiftvorrichtung, und einen davon endseitig abstehenden zweiten Gehäuseabschnitt, wobei der zweite Gehäuseabschnitt eine insbesondere in Längsrichtung verlaufende Aussparung zur Aufnahme eines endseitigen Abschnitts der Prüfstiftvorrichtung und einen radial außerhalb der Aussparung angeordneten Kontaktabschnitt zum lösbaren Kontaktieren eines Kontaktpartners aufweist, und wobei der Kontaktabschnitt wenigstens teilweise in Längsrichtung relativ zum zweiten Gehäuseabschnitt federnd ausgebildet ist.In a further aspect, the present invention relates to a test contact attachment for a test pin device as described above, having a first housing section running in the longitudinal direction, preferably with connecting means for selective connection to the test pin device, and a second housing section protruding from the end, wherein the second Housing section has a recess running in particular in the longitudinal direction for receiving an end section of the test pin device and a contact section arranged radially outside the recess for releasably contacting a contact partner, and wherein the contact section is at least partially resilient in the longitudinal direction relative to the second housing section.

Der erfindungsgemäße Kontaktaufsatz ermöglicht eine selektive Erweiterbarkeit und Adaptierbarkeit der erfindungsgemäßen Prüfstiftvorrichtung hinsichtlich zu prüfender Kontaktpartner. Durch den Kontaktaufsatz können insbesondere zusätzliche Prüfpartner, welche beispielsweise unmittelbar neben der durch die Prüfstiftvorrichtung zu testenden Kontaktpartner angeordnet sind, auf einfachste Weise gleichzeitig mit der Prüfstiftvorrichtung überprüft bzw. getestet werden.The contact attachment according to the invention enables the test pin device according to the invention to be selectively expanded and adapted with regard to the contact partners to be tested. The contact attachment allows in particular additional test partners, which are arranged, for example, directly next to the contact partners to be tested by the test pin device, to be checked or tested simultaneously with the test pin device in the simplest manner.

Der Kontaktaufsatz weist vorzugsweise ein zusammenhängendes Gehäuse auf. Der erste und zweite Gehäuseabschnitt sind vorzugsweise in Seitenansicht im Wesentlichen L-förmig ausgebildet bzw. angeordnet. Die im ersten Gehäuseabschnitt angeordneten Verbindungsmittel können beispielsweise eine Schraubverbindung aufweisen mittels welcher der Prüfkontaktaufsatz mit der Prüfstiftvorrichtung selektiv verbunden werden kann. Die Verbindungsmittel können alternativ Klemm- oder Rastmittel zum selektiven Zusammenwirken mit der Prüfstiftvorrichtung bzw. einem daran angeordneten geeigneten Aufnahmemittel aufweisen.The contact attachment preferably has a cohesive housing. The first and second housing sections are preferably designed or arranged essentially L-shaped in a side view. The connecting means arranged in the first housing section can for example have a screw connection by means of which the test contact attachment can be selectively connected to the test pin device. The connecting means can alternatively have clamping or latching means for selective cooperation with the test pin device or a suitable receiving means arranged thereon.

Der erste Gehäuseabschnitt ist vorzugsweise plattenförmig oder senkrecht zur Längsrichtung leicht gebogen ausgebildet. Der erste Gehäuseabschnitt ist vorzugsweise dünnwandig ausgebildet. Dies insbesondere um die seitliche Erstreckung des Prüfkontaktaufsatzes im verbundenen Zustand mit der Prüfstiftvorrichtung relativ gering zu halten. Eine Breite des ersten Gehäuseabschnitts, d.h. eine Erstreckung orthogonal zur Längsrichtung, liegt vorzugsweise bei weniger als 6mm, mehr bevorzugt bei weniger als 4mm.The first housing section is preferably plate-shaped or slightly curved perpendicular to the longitudinal direction. The first housing section is preferably thin-walled. This is in particular in order to keep the lateral extension of the test contact attachment relatively small in the connected state with the test pin device. A width of the first housing section, i.e. an extension orthogonal to the longitudinal direction, is preferably less than 6 mm, more preferably less than 4 mm.

Der erste Gehäuseabschnitt weist vorzugsweise Kontaktierungsmittel zum externen Kontaktieren des Prüfkontaktaufsatzes auf. Die Kontaktierungsmittel sind vorzugsweise an einem zum Kontaktabschnitt zum lösbaren Kontaktieren des Prüfpartners endseitig gegenüberliegenden Gehäusebereich angeordnet. Die Kontaktierungsmittel können insbesondere wenigstens einen Steckverbinder umfassen, welcher zu selektiven Kontaktierung des Prüfkontaktaufsatzes dient. Alternativ zu den Kontaktierungsmittel können im Gehäuse verlaufende Leiter auch direkt endseitig aus dem ersten Gehäuseabschnitt geführt sein. Ein jeweiliges Kontaktierungsmittel insbesondere eine Steckverbindung kann beispielsweise auch endseitig am Leiter und außerhalb des Gehäuses vorgesehen sein.The first housing section preferably has contacting means for external contact with the test contact attachment. The contacting means are preferably arranged on a housing area opposite the end of the contact section for releasably contacting the test partner. The contacting means can in particular comprise at least one plug connector which is used for selective contacting of the test contact attachment. As an alternative to the contacting means, conductors running in the housing can also be led out of the first housing section directly at the end. A respective contacting means, in particular a plug connection, can for example also be provided at the end of the conductor and outside the housing.

Die Aussparung im zweiten Gehäuseabschnitt ist vorzugsweise zylindrisch oder rechteckig geformt. Die Aussparung ist weiterhin bevorzugt auf eine Außenkontur eines endseitigen Abschnitts der Prüfstiftvorrichtung angepasst.The recess in the second housing section is preferably cylindrical or rectangular in shape. The recess is furthermore preferably adapted to an outer contour of an end section of the test pin device.

Der Kontaktabschnitt des Prüfkontaktaufsatzes ist vorzugsweise mehrpolig ausgebildet. Die einzelnen Pole sind vorzugsweise im Kontaktabschnitt in Reihe ausgebildet. Die Pole können jedoch auch in jeglicher anderen Anordnung angeordnet sein.The contact section of the test contact attachment is preferably multi-pole. The individual poles are preferably formed in series in the contact section. However, the poles can also be arranged in any other arrangement.

In einer bevorzugten Ausführungsform weist der Kontaktabschnitt wenigstens einen elektrischen Leiter auf, welcher in einer vorzugsweise parallel zur Aussparung verlaufenden Aufnahme im zweiten Gehäuseabschnitt, insbesondere einer Bohrung, wenigstens teilweise federnd gelagert ist. Die federnde Lagerung des elektrischen Leiters kann mittels einer wenigstens teilweise gebogenen Führung des Leiters im Gehäuse des Prüfkontaktaufsatzes und/oder durch Bereitstellung zusätzlicher Kraftspeicher ermöglicht werden, insbesondere durch auf den Leiter wirkende Federmittel.In a preferred embodiment, the contact section has at least one electrical conductor which is at least partially resiliently mounted in a receptacle, preferably running parallel to the recess, in the second housing section, in particular a bore. The resilient mounting of the electrical conductor can be made possible by means of an at least partially curved guide of the conductor in the housing of the test contact attachment and / or by providing additional energy storage devices, in particular by spring means acting on the conductor.

In einer alternativen Ausführungsform weist der Kontaktabschnitt wenigstens einen, vorzugsweise beidseitig gefederten, Kontaktstift auf, welcher in einer vorzugsweise parallel zur Aussparung angeordneten Aufnahme angeordnet, insbesondere positionssicher gelagert, ist. Der Kontaktstift kann hierbei beispielsweise in die entsprechende Aufnahme eingepasst sein.In an alternative embodiment, the contact section has at least one contact pin, preferably spring-loaded on both sides, which is arranged in a receptacle which is preferably arranged parallel to the recess, in particular is supported in a positionally secure manner. The contact pin can for example be fitted into the corresponding receptacle.

Einzelheiten, vorteilhafte Wirkungen und Details der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend anhand der rein schematischen, lediglich beispielhaften Zeichnungen erläutert.Details, advantageous effects and details of the present invention are explained below with reference to the purely schematic, merely exemplary drawings.

Darin zeigen:

1a,1b ein Hochfrequenz-Prüfkontaktelement gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung in Seitenansicht und perspektivischer Seitenansicht;
2a eine alternative bevorzugte Ausführungsform des erfindungsgemäßen Hochfrequenz-Prüfkontaktelements;
2b eine alternative Ausführungsform eines distal angeordneten Kontaktierungsabschnitts des Prüfkontaktelements;
3 eine bevorzugte Ausführungsform der Hochfrequenz-Prüfstiftvorrichtung in perspektivischer Seitenansicht;
4 eine Explosionszeichnung der Hochfrequenz-Prüfstiftvorrichtung gemäß 3;
5a,5b eine teilweise geschnittene Seitenansicht der Hochfrequenz-Prüfstiftvorrichtung gemäß 3 und 4;
6a-c eine seitliche Schnittansicht der Hochfrequenz-Prüfstiftvorrichtung gemäß 3 und 4;
7a,7b eine seitliche Schnittansicht des Kontaktabschnitts der Hochfrequenz-Prüfstiftvorrichtung zum Zusammenwirken mit einem Kontaktpartner;
8a-d eine seitliche Schnittansicht einer bevorzugten Ausführungsform der Hochfrequenz-Prüfstiftvorrichtung mit darin angeordneten Prüfkontaktelementen und zugehörige Detailansichten;
9 eine perspektivische seitliche Schnittansicht der Hochfrequenz-Prüfstiftvorrichtung gemäß 8;
10a eine perspektivische Seitenansicht einer bevorzugten Ausführungsform der Hochfrequenzprüfstiftvorrichtung mit Prüfkontaktelementen gemäß 1a, unter Weglassung einiger Bauteile zur Übersichtsverbesserung;
10b eine perspektivische Seitenansicht einer alternativen bevorzugten Ausführungsform der Hochfrequenzprüfstiftvorrichtung mit Prüfkontaktelementen gemäß 2a, unter Weglassung einiger Bauteile zur Übersichtsverbesserung;
10c eine Detailansicht einer Leiterplatte der Ausführungsform gemäß 10a;
11a-c perspektivische Ansichten einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Prüfkontaktaufsatzes und eine zugehörige Seitenansicht;
12a,12b seitliche Schnittansichten zweier bevorzugter Ausführungsformen des erfindungsgemäßen Prüfkontaktaufsatzes.

Show in it:

1a , 1b a high-frequency test contact element according to a preferred embodiment of the invention in side view and perspective side view;
2a an alternative preferred embodiment of the high-frequency test contact element according to the invention;
2 B an alternative embodiment of a distally arranged contacting section of the test contact element;
3 a preferred embodiment of the high frequency test pin device in perspective side view;
4th an exploded view of the high frequency probe device according to 3 ;
5a , 5b a partially sectioned side view of the high frequency probe device according to FIG 3 and 4th ;
6a-c FIG. 3 is a side sectional view of the high frequency probe device according to FIG 3 and 4th ;
7a , 7b a side sectional view of the contact portion of the high frequency probe device for cooperation with a contact partner;
8a-d a side sectional view of a preferred embodiment of the high-frequency test pin device with test contact elements arranged therein and associated detailed views;
9 FIG. 13 is a perspective side sectional view of the high frequency probe device according to FIG 8th ;
10a a perspective side view of a preferred embodiment of the high frequency test pin device with test contact elements according to FIG 1a , with the omission of some components to improve the overview;
10b a perspective side view of an alternative preferred embodiment of the high frequency test pin device with test contact elements according to FIG 2a , with the omission of some components to improve the overview;
10c a detailed view of a circuit board according to the embodiment 10a ;
11a-c perspective views of a preferred embodiment of the test contact attachment according to the invention and an associated side view;
12a , 12b lateral sectional views of two preferred embodiments of the test contact attachment according to the invention.

1a, 1b zeigen eine erste bevorzugte Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Hochfrequenz-Prüfkontaktelements 10. Das Prüfkontaktelement weist einen im Wesentlichen lamellenförmigen Grundkörper 10a mit einer vorzugsweise homogenen Dicke bzw. Materialstärke t auf. Das Prüfkontaktelement 10 ist als integrales, d.h. zusammenhängendes, Bauteil, vorzugsweise als ein durch Stanzen, Ätzen oder Electroforming hergestelltes Bauteil, ausgebildet und erstreckt sich entlang einer Längserstreckungsrichtung L. 1a , 1b show a first preferred embodiment of a high-frequency test contact element according to the invention 10 . The test contact element has an essentially lamellar base body 10a with a preferably homogeneous thickness or material thickness t. The test contact element 10 is designed as an integral, ie coherent, component, preferably as a component produced by stamping, etching or electroforming, and extends along a longitudinal direction L.

Das Prüfkontaktelement bzw. dessen Grundkörper 10a weist einen endseitigen, ersten Kontaktbereich 1 zum Kontaktieren eines Kontaktpartners 30 (siehe bspw. 10b), einen an einem gegenüberliegenden Ende des Grundkörpers 10b angeordneten zweiten Kontaktbereich 2 zum Kontaktieren einer das Prüfkontaktelement aufnehmenden Prüfstiftvorrichtung 20 (vgl. bspw. 3) und einen dazwischenliegenden mäanderförmigen elastischen Bereich 3 auf. Der erste und zweite Kontaktbereich 1 und 2 erstrecken sich vorzugsweise im Wesentlichen in Längserstreckungsrichtung L und weisen eine vorzugsweise homogene Breite b1,b2 in Seitenansicht auf. Die Breite b1,b2 des ersten und zweiten Kontaktbereich 1 und 2 ist vorzugsweise gleich groß und kann insbesondere zwischen 0,25 und 0,45mm liegen.The test contact element or its base body 10a has an end, first contact area 1 to contact a contact partner 30th (see e.g. 10b) , one at an opposite end of the body 10b arranged second contact area 2 for contacting a test pin device receiving the test contact element 20th (see e.g. 3 ) and an intermediate meander-shaped elastic area 3 on. The first and second contact areas 1 and 2 preferably extend essentially in the longitudinal direction L and have a preferably homogeneous width b1, b2 in side view. The width b1, b2 of the first and second contact areas 1 and 2 is preferably the same size and can in particular be between 0.25 and 0.45 mm.

Der zwischen dem ersten und zweiten Kontaktbereich 1,2 mäanderförmige Bereich 3 weist eine mäanderartige Verlaufsrichtung V auf, welche sich entlang der Längserstreckungsrichtung L schlängelt. Der Bereich 3 weist einen vorzugsweise mittig darin ausgeformten und sich in Verlaufsrichtung V erstreckenden Hohlraum 5 auf. Dieser unterteilt den Grundkörper 10a im Bereich 3 in zwei vorzugsweise gleichförmig ausgebildete und parallel verlaufende Verbindungselemente 4a, 4b. Die resultierende Gesamtdicke b3 ist vorzugsweise größer als die Breiten b1, b2 des ersten und zweiten Kontaktabschnitts 1,2 und liegt vorzugsweise zwischen 0,35 und 0,65mm. Durch die mäanderförmige Ausgestaltung mit Hohlraum 5 wird eine Elastizität des Bereichs 3 insbesondere entlang der Längserstreckungsrichtung L des Prüfkontaktelements 10 bereitgestellt.The meander-shaped area between the first and second contact areas 1, 2 3 has a meandering direction V, which meanders along the longitudinal direction L. The area 3 has a hollow space which is preferably formed in the middle and extends in the direction V 5 on. This divides the main body 10a in the area 3 in two preferably uniformly designed and parallel connecting elements 4a , 4b . The resulting total thickness b3 is preferably greater than the widths b1, b2 of the first and second contact sections 1, 2 and is preferably between 0.35 and 0.65 mm. Due to the meandering design with a cavity 5 becomes an elasticity of the area 3 in particular along the longitudinal extension direction L of the test contact element 10 provided.

Der mäanderförmige elastische Bereich 3 weist eine Mehrzahl von in Verlaufsrichtung V aufeinander folgende Biegeelemente 8a, 8b, 8c, 8d des Grundkörpers 10a mit einem jeweiligen Biegewinkel α₁, α₂, β₁, β2 auf. Der jeweilige Biegewinkel liegt vorzugsweise innerhalb eines Bereichs von 5 bis 70°. Insbesondere weist der mäanderförmige elastische Bereich 3 keinen Biegewinkel von größer als 70° auf. Die Verlaufsrichtung V des mäanderförmigen Bereichs 3 liegt vorzugsweise in einer Ebene. Dies bedeutet, dass sich die Biegeelemente 8a, 8b, 8c, 8d allesamt in der gleichen Ebene erstrecken.The meandering elastic area 3 has a plurality of bending elements following one another in the direction V 8a , 8b , 8c , 8d of the main body 10a with a respective bending angle α ₁ , α ₂ , β ₁ , β2. The respective bending angle is preferably within a range from 5 to 70 °. In particular, the meandering elastic area 3 does not have a bending angle greater than 70 °. The direction V of the meandering area 3 preferably lies in one plane. This means that the flexures 8a , 8b , 8c , 8d all extend in the same plane.

Der mäanderförmige elastische Bereich 3 weist insbesondere zwei in Verlaufsrichtung V vorzugsweise unmittelbar aufeinander folgende, d.h. hintereinander angeordnete, Biegeabschnitte 6a, 6b auf. Diese sind in Verlaufsrichtung gegenläufig, insbesondere S-förmig, gebogen bzw. angeordnet. Jedes der zwei Biegeabschnitte weist jeweils zwei Biegeelemente 8a, 8b, 8c, 8d, vorzugsweise mit jeweils gleichen Biegewinkeln α₁ und α₂, sowie β₁ und β₂ auf. Die Biegeelemente 8a, 8b des ersten Biegeabschnitts 6a weisen einen jeweiligen Biegewinkel von 40° bis 70°, bevorzugt von 45° bis 65°, auf. Die Biegeelemente 8c, 8b des zweiten Biegeabschnitts 6b weisen einen jeweiligen Biegewinkel von 5 bis 25°, bevorzugt von 5 bis 15°, auf.The meandering elastic area 3 has in particular two bending sections which are preferably directly following one another in the course direction V, that is to say arranged one behind the other 6a , 6b on. These are in opposite directions, in particular S-shaped, curved or arranged in the course. Each of the two bending sections has two bending elements 8a , 8b , 8c , 8d , preferably with the same bending angles α ₁ and α ₂ , as well as β ₁ and β ₂ . The bending elements 8a , 8b of the first bending section 6a each have a bending angle of 40 ° to 70 °, preferably 45 ° to 65 °. The bending elements 8c , 8b of the second bending section 6b each have a bending angle of 5 to 25 °, preferably 5 to 15 °.

Der ersten Kontaktbereich 1 weist an einem distalen Ende einen Kontaktierungsabschnitt 1a auf, welcher zur Kontaktierung eines Kontaktpartners 30 dient. Dieser kann eine plane Kontaktfläche orthogonal zur restlichen Erstreckung des Kontaktbereichs 1 aufweisen.The first contact area 1 has a contacting section at a distal end 1a which one to contact a contact partner 30th serves. This can be a flat contact surface orthogonal to the remaining extent of the contact area 1 exhibit.

Der zweite Kontaktbereich 2 weist einen dem Kontaktbereich 1 bzw. dessen distalen Kontaktierungsabschnitt 1a gegenüberliegenden gebogenen Endabschnitt 2a auf, welcher zur Kontaktierung eines Kontaktabschnitts 18 an der Prüfstiftvorrichtung 20 ausgebildet ist (vgl. 10c). Benachbart hierzu angeordnet weist der zweite Kontaktbereich 2 eine seitlich herausragende Nase 2b auf, welcher zur Befestigung und insbesondere Verspannung des Prüfkontaktelements in einer Aufnahme der Prüfstiftvorrichtung ausgebildet ist.The second contact area 2 indicates a contact area 1 or its distal contacting section 1a opposite curved end portion 2a on, which for contacting a contact section 18th on the test pin device 20th is trained (cf. 10c ). The second contact area is arranged adjacent thereto 2 a laterally protruding nose 2 B which is designed for fastening and in particular bracing the test contact element in a receptacle of the test pin device.

In einem vorzugsweise mittigen Abschnitt weist der elastische Bereich 3 eine Verbindungsbrücke 7 auf, an welcher der sich entlang der Verlaufsrichtung V erstreckende Hohlraum unterbrochen ist.The elastic region has a preferably central section 3 a connecting bridge 7th at which the cavity extending along the direction V is interrupted.

Die Geometrie des Grundkörpers in Verlaufsrichtung V vom ersten Kontaktbereich 1 über den elastischen Bereich 3 bis zum zweiten Kontaktbereich 2 ist vorzugsweise derart ausgebildet, dass eine jeweilige Querschnittsfläche F1, F2, F3 im Wesentlichen konstant bleibt. Vorliegende wird hierunter verstanden, dass die Querschnittsfläche weniger als 20%, bevorzugt weniger als 15% und besonders bevorzugt weniger als 10% von der restlichen Querschnittsfläche abweicht. Insbesondere weist der elastischen Bereich 3 eine Gesamtquerschnittsfläche F₃ auf, d.h. die Summe der Querschnittsflächen des ersten und dazu parallel verlaufenden zweiten Verbindungselements 4a,4b, welche weniger als 20%, weiter bevorzugt weniger als 15%, weiterhin bevorzugt von weniger als 10% von der Querschnittsfläche F₁,F₂ eines jeweils angrenzenden Abschnitts des ersten und/oder zweiten Kontaktbereichs 1,2 abweicht.The geometry of the main body in the direction V from the first contact area 1 about the elastic area 3 up to the second contact area 2 is preferably designed such that a respective cross-sectional area F1 , F2 , F3 remains essentially constant. In the present case, this is understood to mean that the cross-sectional area deviates by less than 20%, preferably less than 15% and particularly preferably less than 10% from the remaining cross-sectional area. In particular, the elastic area 3 a total cross-sectional area F ₃ , ie the sum of the cross-sectional areas of the first and second connecting element running parallel to it 4a , 4b which deviates by less than 20%, more preferably less than 15%, further preferably by less than 10% from the cross-sectional area F ₁ , F _{2 of} a respectively adjoining section of the first and / or second contact area 1, 2.

2a zeigt eine weitere bevorzugte Ausführungsform des Prüfkontaktelements 10, welches abweichend von der oben beschriebenen ersten Ausführungsform zwei im Wesentlichen gleichförmige unmittelbar aufeinander folgende Biegeabschnitte 6a, 6b aufweist. Die Biegeelemente 8a, 8b des ersten Biegeabschnitts 6a weisen einen jeweiligen Biegewinkel α₁, α₂, von 40° bis 70°, bevorzugt von 45° bis 65°, auf. Die Biegeelemente 8c',8b' des zweiten Biegeabschnitts 6b weisen ebenfalls einen jeweiligen Biegewinkel β₁' und β₂' von 40° bis 70°, bevorzugt von 45° bis 65°, auf. 2a shows a further preferred embodiment of the test contact element 10 which, unlike the first embodiment described above, has two essentially uniform, immediately successive bending sections 6a , 6b having. The bending elements 8a , 8b of the first bending section 6a have a respective bending angle α ₁ , α ₂ , from 40 ° to 70 °, preferably from 45 ° to 65 °. The bending elements 8c ' , 8b 'of the second bending section 6b likewise have a respective bending angle β ₁ 'and β ₂ ' of 40 ° to 70 °, preferably 45 ° to 65 °.

Wie in 2a gezeigt kann auch der zweite Kontaktbereich 2 einen Hohlraum 5' aufweisen. Analog zur Ausführung des elastischen Bereichs 3 ist hierbei die jeweilige geometrische Form derart gewählt, dass eine jeweilige Gesamtquerschnittsfläche im Bereich 2 nicht wesentlich von der restlichen Querschnittsfläche des Prüfkontaktelements abweicht. Obwohl nicht in der Figur dargestellt, kann das Prüfkontaktelement 10 ebenfalls eine Verbindungsbrücke 7 des Hohlraums 5 aufweisen.As in 2a the second contact area can also be shown 2 a cavity 5 ' exhibit. Analogous to the execution of the elastic area 3 the respective geometric shape is selected in such a way that a respective total cross-sectional area in the area 2 does not deviate significantly from the remaining cross-sectional area of the test contact element. Although not shown in the figure, the test contact element 10 also a connecting bridge 7th of the cavity 5 exhibit.

2b zeigt eine alternative Ausführungsform eines distal angeordneten Kontaktierungsabschnitts 1a des Prüfkontaktelements 10. Dieser kann eine wenigstens teilweise vorstehende V-förmige Kontaktspitze aufweisen. Der Kontaktierungsabschnitt 1a kann alternativ zu einer sich zuspitzenden Form eine sich ausspreizende Form, beispielsweise umgekehrt V- oder U-förmig, aufweisen. 2 B shows an alternative embodiment of a distally arranged contacting section 1a of the test contact element 10 . This can have an at least partially protruding V-shaped contact tip. The contacting section 1a As an alternative to a tapering shape, it can have a spreading shape, for example an inverted V or U shape.

3-5b zeigen eine bevorzugte Ausführungsform der Hochfrequenz-Prüfstiftvorrichtung 20 zum lösbaren Kontaktieren eines mehrpoligen Kontaktpartners 30, insbesondere eines „Board-to-Board“- oder „Multi-Line“-Steckverbinders. Die Prüfstiftvorrichtung 20 weist ein Innengehäuse 11 mit einem endseitig angeordnete Kontaktabschnitt 12 zum Zusammenwirken und insbesondere Kontaktieren des Kontaktpartners 30 zu Prüfzwecken auf, sowie ein Außengehäuse 13 auf. Das Außengehäuse 13 weist vorzugsweise einen insbesondere von einem zentralen Gehäuseabschnitt abstehenden Flansch 13a mit darin ausgebildeten Montage- und/oder Verbindungsmitteln 13b auf. Das Außengehäuse 13 kann dadurch an einer Befestigungsvorrichtung wie beispielsweise einem Befestigungsraster einer bewegbaren Prüfeinheit montiert werden. 3-5b show a preferred embodiment of the high frequency probe device 20th for detachable contact with a multi-pole contact partner 30th , especially a “board-to-board” or “multi-line” connector. The test pin device 20th has an inner housing 11 with a contact section arranged at the end 12th for cooperation and in particular contacting the contact partner 30th for testing purposes, as well as an outer housing 13th on. The outer casing 13th preferably has a flange projecting in particular from a central housing section 13a with assembly and / or connecting means formed therein 13b on. The outer casing 13th can thereby be mounted on a fastening device such as a fastening grid of a movable test unit.

Auf der Rückseite der Vorrichtung 20, an einem endseitigen Abschnitt gegenüber dem Kontaktabschnitt 12, weist das Innengehäuse 11 einen Anschlussabschnitt 9 auf, welcher zur Ein- und/oder Auskopplung von elektrischen Signalen, insbesondere mittels elektrischer Leiter bzw. Kabeln 17a,17b, dient und mit dem Kontaktabschnitt 12 in Verbindung steht.On the back of the device 20th , at an end portion opposite to the contact portion 12th , has the inner housing 11 a connection section 9 on, which for coupling and / or decoupling electrical signals, in particular by means of electrical conductors or cables 17a , 17b , serves and with the contact section 12th communicates.

Das Innengehäuse 11 ist im Außengehäuse 13 wenigstens teilweise gelagert und geführt. Hierbei ist das Innengehäuse 11 im Wesentlichen entlang einer Vorrichtungslängsrichtung L1 beweglich im Außengehäuse 13 geführt. Ein zwischen dem Innen- und Außengehäuse 11,13 angeordneter Kraftspeicher 21, vorzugsweise ein Federelement, stellt eine Vorspannungskraft bereit, welche die Vorrichtung in der in 3 und 5a gezeigten kontaktfreien Endlage bzw. ersten Relativposition zwischen Innen- und Außengehäuse 11,13 hält. In 5b ist eine zweite Relativposition von Innen- und Außengehäuse 11,13 gezeigt, in welcher das Innengehäuse 11 relativ zum Außengehäuse 13 bewegbar, insbesondere verdrehbar, verkippbar und/oder seitlich versetzbar, gelagert ist, wodurch bei einer Kontaktierung eines Prüfkontakts bzw. Kontaktpartners 30 vorzugsweise mehrere Freiheitsgrade zur Bewegung des Innengehäuses 11 bereitgestellt werden und somit ein effektiver Toleranzausgleich zwischen Kontaktabschnitt 12 des Innengehäuses 11 und Kontaktpartner 30 ermöglicht wird.The inner case 11 is in the outer case 13th at least partially stored and guided. Here is the inner housing 11 essentially along a device longitudinal direction L1 movable in the outer housing 13th guided. One between the inner and outer case 11 , 13th arranged energy store 21 , preferably a spring element, provides a pretensioning force which the device in the in 3 and 5a shown contact-free end position or first relative position between the inner and outer housing 11 , 13th holds. In 5b is a second relative position of the inner and outer housing 11 , 13th shown in which the inner housing 11 relative to the outer housing 13th movably, in particular rotatable, tiltable and / or laterally displaceable, is mounted, whereby when contacting a test contact or contact partner 30th preferably multiple degrees of freedom to move the inner case 11 are provided and thus an effective tolerance compensation between contact section 12th of the inner housing 11 and contact partners 30th is made possible.

Wie in 4 gezeigt, weist die Vorrichtung 20 weiterhin wenigstens eine, vorzugsweise zwei Leiterplatten 14a, 14b auf sowie eine Mehrzahl von mit den Leiterplatten kontaktierten und sich zum Kontaktabschnitt 12 erstreckenden Hochfrequenz-Prüfkontaktelementen 10 wie zuvor beschrieben. Die Leiterplatten sind auf einer Trägereinheit, insbesondere einem Isoliermittel 19, beispielsweise ein Kunststoffkörper, im Innengehäuse 11 angeordnet. Hierbei können die Leiterplatten 14a, 14b beispielsweise mit vorgesehenen Befestigungs- oder Montagemitteln, beispielsweise einer Schraubverbindung 22a, 22b auf der Trägereinheit 19 befestigt sein.As in 4th shown, the device 20th furthermore at least one, preferably two printed circuit boards 14a , 14b on and a plurality of contacted with the circuit boards and to the contact portion 12th extending high-frequency test contact elements 10 Like previously described. The circuit boards are on a carrier unit, in particular an insulating means 19th , for example a plastic body, in the inner housing 11 arranged. Here the circuit boards 14a , 14b for example with provided fastening or assembly means, for example a screw connection 22a , 22b on the carrier unit 19th be attached.

Der Kontaktabschnitt 12 kann einen relativ zum restlichen Innengehäuse und insbesondere relativ zu den Hochfrequenz-Prüfkontaktelementen 10 federnd gelagerten und endseitig angeordneten Zentrierabschnitt 12a aufweisen. Dieser kann mittels zugeordneter Kraftspeichermittel 23, insbesondere mehreren vorzugsweise umfangsverteilten Federelementen, an der Trägereinheit bzw. am Isoliermittel 19 gelagert sein.The contact section 12th can be relative to the rest of the inner housing and in particular relative to the high-frequency test contact elements 10 resiliently mounted centering section arranged at the end 12a exhibit. This can by means of associated energy storage means 23 , in particular several spring elements, preferably distributed around the circumference, on the carrier unit or on the insulating means 19th be stored.

Das Innengehäuse 11 umfasst vorzugsweise eine Mehrzahl insbesondere montierbarer Einzelteile 11a-11e. Diese lassen sich vorzugsweise in Vorrichtungslängsrichtung L1 zu einer Einheit verschrauben.The inner case 11 preferably comprises a plurality of individual parts that can in particular be assembled 11a-11e . These can preferably be moved in the longitudinal direction of the device L1 screw to a unit.

6a-6c zeigen mehrere seitliche Schnittansichten der Hochfrequenz-Prüfstiftvorrichtung 20 zur Veranschaulichung der ersten und zweiten Relativposition des Innen- und Außengehäuse 11,13. Wie in den Figuren gezeigt, weist das Innengehäuse 11 eine Außenkontur auf, welche mit einer Innenkontur des Außengehäuses 13 positionsabhängig zusammenwirkt. Insbesondere weist das Innengehäuse 11 einen zwischen dem Kontaktabschnitt 12 und dem anderenends ausgebildeten Anschlussabschnitt 9 axial erstreckenden Lagerachsabschnitt 24 mit variierender Außenkontur auf. Dieser ist in einer sich entlang der Vorrichtungslängsrichtung L erstreckenden Führungsausnehmung 25 des Außengehäuses 13 wenigstens teilweise aufgenommen bzw. darin geführt. Der Lagerachsabschnitt 24 weist hierbei wenigstens einen vorzugsweise im Wesentlichen kegelförmig ausgebildeten Vorsprung 24a auf, welcher in einem dazu komplementär ausgebildeten Rücksprung 25a der Führungsausnehmung 25 in der ersten Relativposition gelagert ist. Zur Verdrehsicherung in dieser Position weisen Vorsprung 24a und Rücksprung 25a in Umfangsrichtung vorzugsweise eine nichtrotationssymmetrische Formgebung auf. Beispielsweise kann der Vorsprung 24a in Draufsicht rechteckig ausgebildet sein (vgl. 4). 6a-6c Figure 13 shows several side sectional views of the high frequency probe device 20th to illustrate the first and second relative position of the inner and outer housing 11 , 13th . As shown in the figures, the inner housing 11 an outer contour, which with an inner contour of the outer housing 13th interacts depending on the position. In particular, the inner housing 11 one between the contact portion 12th and the terminal portion formed on the other end 9 axially extending bearing axle section 24 with varying outer contour. This is in a guide recess extending along the longitudinal direction L of the device 25th of the outer housing 13th at least partially received or guided therein. The bearing axle section 24 in this case has at least one, preferably essentially conical, projection 24a on, which in a complementary recess 25a the guide recess 25th is stored in the first relative position. To prevent rotation in this position, have a projection 24a and return 25a preferably a non-rotationally symmetrical shape in the circumferential direction. For example, the projection 24a be rectangular in plan view (cf. 4th ).

Innengehäuse 11 und Außengehäuse 13 sind durch Wirkung des Federelements 21, insbesondere einer Spiralfeder, gegeneinander vorgespannt und axial auseinandergedrückt, wobei die Spiralfeder 21 einends an einem ersten Ringabsatz 26a des Innengehäuses 11 und anderenends an einem zweiten, entlang der Vorrichtungslängsrichtung L1 gegenüberliegenden Ringabsatz 26b des Außengehäuses 13 angreift und Innengehäuse 1 und Außengehäuse 2 auseinandertreibt. Eine maximale Hubbewegung des Innengehäuses 11 im Außengehäuse 13 ist dabei begrenzt von einem mantelseitig angeordneten Zentrierabschnitt 24b des Lagerachsabschnitt 24 des Innengehäuses 11, welcher in eine endseitige Aufweitung des Außengehäuses 25b eingreift bzw. bei Maximalhub daran anliegt.Inner casing 11 and outer casing 13th are due to the action of the spring element 21 , in particular a spiral spring, biased against each other and axially pushed apart, the spiral spring 21 one end on a first ring heel 26a of the inner housing 11 and at the other end at a second, along the longitudinal direction of the device L1 opposite ring heel 26b of the outer housing 13th attacks and inner casing 1 and outer casing 2 drifts apart. A maximum stroke movement of the inner housing 11 in the outer housing 13th is limited by a centering section arranged on the shell side 24b of the bearing axle section 24 of the inner housing 11 , which in an end expansion of the outer housing 25b engages or rests against it at maximum stroke.

Wird das Innengehäuse 11 bei Kontakt mit einem Kontaktpartner 30 teilweise in das Außengehäuse 13 eingefedert (zweite Relativposition) wie in 6b und 6c gezeigt, werden der Vorsprung 24a und der zugeordnete Rücksprung 25a voneinander distanziert. Zudem weist der Lagerachsabschnitt 24 einen geringeren Außendurchmesser als die zugeordnete Führungsausnehmung 25 des Außengehäuses 13 auf, so dass in dieser zweiten Position nunmehr eine Rotation, ein Verkippen und/oder ein Versatz innerhalb vordefinierter Grenzen des Innengehäuses 11 im Außengehäuse 13 ermöglicht wird.Will the inner case 11 in the event of contact with a contact partner 30th partially in the outer housing 13th compressed (second relative position) as in 6b and 6c shown are the projection 24a and the associated return 25a distanced from each other. In addition, the bearing axle section 24 a smaller outer diameter than the associated guide recess 25th of the outer housing 13th so that in this second position there is now a rotation, tilting and / or offset within predefined limits of the inner housing 11 in the outer housing 13th is made possible.

6c zeigt hierbei eine Schnittansicht in einer gegenüber der 6b radial versetzten Ebene, in welcher die eingefederte Position des Zentrierabschnitt 12a des Kontaktabschnitts 12 mittels der vorzugsweise umfangsverteilten Kraftspeichermittel 23 gezeigt ist. 6c shows a sectional view in a opposite to FIG 6b radially offset plane in which the compressed position of the centering section 12a of the contact section 12th by means of the preferably circumferentially distributed energy storage means 23 is shown.

7a zeigt den Kontaktabschnitt 12 mit endseitig angeordnetem Zentrierabschnitt 12a. Letzterer ist insbesondere gegenüber dem in den Zentrierabschnitt 12a ragenden Prüfkontaktelementen 10 federnd gelagert. Der Zentrierabschnitt weist eine sich hin zu den Prüfkontaktelementen verjüngende Innenkontur vorzugsweise mit umlaufend angeordneten Zentrierfasen auf. 7b zeigt den Kontaktabschnitt 12 beim Kontakt mit einem Kontaktpartner 30. Dieser wird durch den Zentrierabschnitt 12a mit den umlaufenden Zentrierfasen 12b bei der Annäherung zwischen Kontaktabschnitt 12 und Kontaktpartner 30 zentriert und somit positionssicher an den Kontaktabschnitt 12 herangeführt. 7a shows the contact section 12th with centering section arranged at the end 12a . The latter is particularly opposite to that in the centering section 12a protruding test contact elements 10 resiliently mounted. The centering section has an inner contour that tapers towards the test contact elements, preferably with centering bevels arranged around the circumference. 7b shows the contact section 12th when making contact with a contact partner 30th . This is through the centering section 12a with the circumferential centering chamfers 12b when approaching between contact sections 12th and contact partners 30th centered and thus in a secure position on the contact section 12th introduced.

8a-d zeigen eine seitliche Schnittansicht einer bevorzugten Ausführungsform der Hochfrequenz-Prüfstiftvorrichtung 20 mit darin angeordneten Prüfkontaktelementen 10 und zugehörige Detailansichten B,C,D. 9 zeigt eine zugehörige perspektivische Schnittansicht der P rüfstiftvorrichtu ng. 8a-d Figure 13 shows a side sectional view of a preferred embodiment of the high frequency probe device 20th with test contact elements arranged therein 10 and related Detail views B, C, D. 9 shows an associated perspective sectional view of the test pin device.

Wie in 8a gezeigt, weist die Vorrichtung 20 vorzugweise zwei voneinander beabstandete und sich gegenüberliegende Leiterplatten 14a, 14b auf. Diese sind in Vorrichtungslängsrichtung L1 seitlich auf der zentral angeordneten Trägereinheit 19 angeordnet. 8b zeigt die grundsätzliche Anordnung der Prüfkontaktelemente 10, welche sich von einem jeweiligen Ende der Leiterplatten 14a, 14b, an welchem diese kontaktiert sind, zum gegenüberliegenden Kontaktbereich 12 der Vorrichtung erstrecken. Die Kontaktelemente 10 sind hierbei vorzugsweis beidseits der zentral angeordneten Trägereinheit 19 angeordnet. Die jeweiligen Kontaktelemente 10 verlaufen hierbei in jeweiligen Aussparungen 19a des Trägerelements 19 (vgl. auch 9). Die Aussparungen 19a sind dabei derart ausgebildet, dass ein Einfedern der Kontaktelemente 10 in Vorrichtungslängsrichtung L1 bzw. Längserstreckungsrichtung L des Prüfkontaktelements 10 ermöglicht wird.As in 8a shown, the device 20th preferably two spaced apart and opposite printed circuit boards 14a , 14b on. These are in the longitudinal direction of the device L1 laterally on the centrally arranged carrier unit 19th arranged. 8b shows the basic arrangement of the test contact elements 10 extending from each end of the circuit boards 14a , 14b at which they are contacted to the opposite contact area 12th the device extend. The contact elements 10 are preferably on both sides of the centrally arranged carrier unit 19th arranged. The respective contact elements 10 run in the respective recesses 19a of the carrier element 19th (see also 9 ). The recesses 19a are designed in such a way that the contact elements are deflected 10 in the longitudinal direction of the device L1 or longitudinal direction L of the test contact element 10 is made possible.

8c zeigt eine Detailansicht der Lagerung des Prüfkontaktelements 10 an der Leiterplatte 14a. Hierbei liegt das Prüfkontaktelement 10 mit dem gebogenen Endabschnitt 2a auf der Leiterplatte 14a auf und kontaktiert dabei eine jeweilige Leiterbahn 15a der Leiterplatte 14a über einen dieser zugeordneten Kontaktierungsabschnitt 18 (vgl. 10c). Eine seitlich hervorragende Nase 2b des Prüfkontaktelements 10 greift zu Verrastungszwecken in eine dafür vorgesehene Aussparung 19b der Trägereinheit 19 ein. Wie in der Detailansicht 8d gezeigt liegt ein gegenüberliegendes Ende des Prüfkontaktelements 10, insbesondere dessen erster Kontaktbereich 1, wenigstens teilweise an einem Führungsabschnitt 12c des Innengehäuses 11 an bzw. ist entlang diesem linear in Vorrichtungslängsrichtung L1 geführt. 8c shows a detailed view of the mounting of the test contact element 10 on the circuit board 14a . The test contact element is located here 10 with the curved end section 2a on the circuit board 14a and makes contact with a respective conductor track 15a the circuit board 14a via a contacting section assigned to this 18th (see. 10c ). A protruding nose on the side 2 B of the test contact element 10 engages in a recess provided for latching purposes 19b the carrier unit 19th on. As in the detailed view 8d shown is an opposite end of the test contact element 10 , especially its first contact area 1 , at least partially on a guide section 12c of the inner housing 11 at or is linear along this in the longitudinal direction of the device L1 guided.

10a,10b zeigen alternative Ausführungsformen der Hochfrequenzprüfstiftvorrichtung 20 mit erfindungsgemäßen Prüfkontaktelementen 10 unter Weglassung des Außengehäuses 13 und der außenliegenden Bauteile des Innengehäuses 11 zur Übersichtsverbesserung. 10c zeigt eine zugehörige Detailansicht einer Leiterplatte 14a der 10a. 10a , 10b show alternative embodiments of the radio frequency probe device 20th with test contact elements according to the invention 10 omitting the outer housing 13th and the external components of the inner housing 11 to improve the overview. 10c shows an associated detailed view of a circuit board 14a the 10a .

Wie in 10a, 10b gezeigt, ist jeweils eine Mehrzahl von Hochfrequenz-Prüfkontaktelementen 10 mit der Leiterplatte 14a, 14b kontaktiert. Die Prüfkontaktelemente 10 und die Leiterplatten 14a, 14b sind derart im Innengehäuse 11 angeordnet, dass diese sich im Wesentlichen in Vorrichtungslängsrichtung L1 bzw. parallel dazu erstrecken. Eine Längserstreckungsrichtung L (vgl. 1a) der jeweiligen Prüfkontaktelemente 10 verläuft hierbei insbesondere parallel zu der Vorrichtungslängsrichtung L1. Durch diese im Wesentlichen lineare Ausrichtung wird eine optimierte Signalübertragung vom Kontaktpartner 30 zum Signalabgriff am rückwärtig der Vorrichtung angeordneten Anschlussabschnitt 9 ermöglicht.As in 10a , 10b Shown is a plurality of high-frequency test contact elements in each case 10 with the circuit board 14a , 14b contacted. The test contact elements 10 and the circuit boards 14a , 14b are like this in the inner housing 11 arranged that this is essentially in the longitudinal direction of the device L1 or extend parallel to it. A longitudinal direction L (cf. 1a) of the respective test contact elements 10 runs in particular parallel to the longitudinal direction of the device L1 . This essentially linear alignment results in an optimized signal transmission from the contact partner 30th for signal tapping on the connection section arranged at the rear of the device 9 enables.

Die Leiterplatten 14a, 14b weisen jeweils darauf angeordnete Leiterbahnen 15a, 15b auf, welche zur Verbindung eines Kontaktierungsabschnitts 18 für die Kontaktierung eines zugeordneten Prüfkontaktelements 10 mit einem jeweiligen Anschlussabschnitt 9 ausgebildet sind. Die auf der Leiterplatte angeordneten Leiterbahnen 15a, 15b erstrecken sich vorzugsweise ebenfalls im Wesentlichen in Vorrichtungslängsrichtung L1 bzw. parallel dazu. Die Leiterbahnen 15a, 15b weisen vorzugsweise in Längserstreckung L1 bzw. parallel dazu keinen Biegeabschnitt oder eine Biegung bzw. Biegeelement mit einem Biegewinkel von größer als 70°, mehr bevorzugt von größer als 45° auf.The circuit boards 14a , 14b each have conductor tracks arranged thereon 15a , 15b on, which is used to connect a contacting section 18th for contacting an assigned test contact element 10 with a respective connection section 9 are trained. The conductor tracks arranged on the circuit board 15a , 15b preferably also extend essentially in the longitudinal direction of the device L1 or parallel to it. The conductor tracks 15a , 15b preferably point in the longitudinal direction L1 or parallel to this, no bending section or a bend or bending element with a bending angle of greater than 70 °, more preferably of greater than 45 °.

Ein Anschlussabschnitt 9 der Leiterplatte zum externen Kontaktieren der Prüfstiftvorrichtung ist vorzugsweise derart angeordnet oder ausgebildet, dass ein jeweiliger daran angeschlossener Leiter 17a, 17b, sich im Wesentlichen in Vorrichtungslängsrichtung L1 von der Leiterplatte 14a, 14b erstreckt. Der Anschlussabschnitt 9 umfasst dabei vorzugsweise Kontaktierungsmittel 9a, beispielsweise eine Lötkontaktstelle zur Verlötung mit einem vorgesehenen externen Verbinder bzw. Leiter 9b und damit zur Bereitstellung einer nicht lösbaren Verbindung. Der Verbinder bzw. Leiter 9b kann wenigstens teilweise in einem sich vorzugsweise in Vorrichtungslängsrichtung L1 erstreckenden Längsschlitz 16 der Leiterplatte angeordnet sein. Alternativ können die Kontaktierungsmittel 9b auch einen sich vorzugsweise in Vorrichtungslängsrichtung L1 erstreckenden Steckverbinder (nicht gezeigt) zum Kontaktieren durch einen zugehörigen externen Steckverbinder 9b aufweisen, welcher in einem Längsschlitz 16 der Leiterplatte 14a, 14b angeordnet ist. Weiterhin alternativ kann der Anschlussabschnitt 9 einen vorzugsweise endseitig auf einer Oberfläche der Leiterbahn angeordneten Steckverbinder 9a aufweisen (vgl. 10b).A connecting section 9 the circuit board for external contacting of the test pin device is preferably arranged or designed in such a way that a respective conductor connected to it 17a , 17b , essentially in the longitudinal direction of the device L1 from the circuit board 14a , 14b extends. The connection section 9 preferably comprises contacting means 9a , for example a solder contact point for soldering to an external connector or conductor provided 9b and thus to provide a non-detachable connection. The connector or conductor 9b can be at least partially in one direction, preferably in the longitudinal direction of the device L1 extending longitudinal slot 16 be arranged on the circuit board. Alternatively, the contacting means 9b also preferably in the longitudinal direction of the device L1 extending connector (not shown) for contact by an associated external connector 9b have, which in a longitudinal slot 16 the circuit board 14a , 14b is arranged. Furthermore, alternatively, the connection section 9 a connector preferably arranged at the end on a surface of the conductor track 9a have (cf. 10b) .

Gemäß der Ausführungsform nach 10a weist die Prüfstiftvorrichtung 20 zwei sich gegenüberliegende, insbesondere parallel angeordnete, Leiterplatten 14a, 14b auf, welche radial außerhalb der damit kontaktierten Prüfkontaktelemente 10 angeordnet sind. Die Leiterplatten 14a, 14b sind hierbei derart ausgerichtet, dass die sich darauf angeordneten Leiterbahnen 15a, 15b gegenüberliegen, d.h. sich zugewandt sind.According to the embodiment according to 10a has the test pin device 20th two opposing, in particular parallel arranged, printed circuit boards 14a , 14b on, which is radially outside of the test contact elements contacted thereby 10 are arranged. The circuit boards 14a , 14b are aligned in such a way that the conductor tracks arranged thereon 15a , 15b opposite, ie facing each other.

Gemäß der Ausführungsform nach 10b weist die Prüfstiftvorrichtung 20 zwei parallel aneinander liegende oder unmittelbar benachbart angeordnete Leiterplatten 14a,14b auf, welche vorzugsweise im Wesentlichen zentral in der Prüfstiftvorrichtung, d.h. entlang einer Mittelachse der Vorrichtung, angeordnet sind. Die Leiterbahnen 15a, 15b der Leiterplatten 14a, 14b sind hierbei vorzugsweise auf zwei voneinander abgewandten Seiten angeordnet. Die damit kontaktierten Prüfkontaktelemente 10 sind bezogen auf die Vorrichtung 20 radial außerhalb der Leiterplatten 14a, 14b angeordnet.According to the embodiment according to 10b has the test pin device 20th two parallel or directly adjacent printed circuit boards 14a , 14b, which are preferably located essentially centrally in the test pin device, ie along a central axis of the device, are arranged. The conductor tracks 15a , 15b of the printed circuit boards 14a , 14b are preferably arranged on two sides facing away from one another. The test contact elements contacted with it 10 are related to the device 20th radially outside the circuit boards 14a , 14b arranged.

Wie in 10c gezeigt, kontaktieren die Prüfkontaktelemente 10 einen jeweiligen Kontaktierungsabschnitt 18 einer jeweils zugehörigen Leiterbahn 15a. Der Kontaktierungsabschnitt 18 weist vorzugsweise eine Querschnittsfläche senkrecht zu einer Verlaufsrichtung der Leiterbahn bzw. des Kontaktierungsabschnitts 18 auf, welche auf eine Querschnittsfläche des damit kontaktierten gebogenen Endabschnitts 2a des Prüfkontaktelements 10 abgestimmt ist, derart, dass eine resultierende Gesamtquerschnittsfläche der kontaktierten Elemente weniger als 20%, mehr bevorzugt weniger als 15%, und weiterhin bevorzugt weniger als 10% von der Querschnittsfläche eines an den Endabschnitt 2a angrenzenden zweiten Kontaktbereichs 2 des Hochfrequenz-Prüfkontaktelements 10 abweicht. Die Leiterbahn weist vorzugsweise außerhalb des Kontaktabschnitts 18 eine gegenüber dem Kontaktabschnitt vergrößerte Querschnittsfläche auf. Über den weiteren Verlauf weist die Leiterbahn vorzugsweise eine im Wesentlichen konstante Querschnittsfläche auf.As in 10c shown, contact the test contact elements 10 a respective contacting section 18th a respective associated conductor track 15a . The contacting section 18th preferably has a cross-sectional area perpendicular to a running direction of the conductor track or of the contacting section 18th on, which is on a cross-sectional area of the bent end portion contacted therewith 2a of the test contact element 10 is matched in such a way that a resulting total cross-sectional area of the contacted elements is less than 20%, more preferably less than 15%, and further preferably less than 10% of the cross-sectional area of one of the end sections 2a adjacent second contact area 2 of the high-frequency test contact element 10 deviates. The conductor track preferably has outside the contact section 18th an enlarged cross-sectional area compared to the contact section. Over the further course, the conductor track preferably has an essentially constant cross-sectional area.

11a-c zeigen perspektivische Ansichten einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Prüfkontaktaufsatzes 40 und eine zugehörige Seitenansicht in einem auf die Prüfstiftvorrichtung aufgesetzten Zustand. Die 12a, 12b zeigen zugehörige Schnittansichten des Prüfkontaktaufsatzes 40. 11a-c show perspective views of a preferred embodiment of the test contact attachment according to the invention 40 and a corresponding side view in a state placed on the test pin device. the 12a , 12b show associated sectional views of the test contact attachment 40 .

Der Prüfkontaktaufsatz 40 weist ein in Seitenansicht im Wesentlichen L-förmiges Gehäuse auf, mit einem ersten Gehäuseabschnitt 41 und einen damit verbundenen und sich vom ersten Gehäuseabschnitt 41 wegerstreckenden zweiten Gehäuseabschnitt 42. Der erste Gehäuseabschnitt ist vorzugsweise plattenförmig und/oder dünnwandig ausgebildet und erstreckt sich entlang einer Längsrichtung L2 des Aufsatzes 40. Der zweite Gehäuseabschnitt 42 erstreckt sich vorzugsweise im Wesentlichen orthogonal zur Längsrichtung L2 und weist dabei eine in Längsrichtung L2 verlaufende Aussparung 43 zur Aufnahme eines endseitigen Abschnitts 12 der Prüfstiftvorrichtung 20 auf. Eine Innenkontur der Aussparung 43 ist hierbei vorzugsweise auf eine Außenkontur des aufzunehmenden Kontaktabschnitt 12 der Vorrichtung 20 angepasst. Der Prüfkontaktaufsatz 40 kann somit über den endseitigen Kontaktabschnitt 12 der Prüfstiftvorrichtung 20 übergestülpt und mittels im ersten Gehäuseabschnitt 41 angeordneter Verbindungsmittel 48 an der Prüfstiftvorrichtung 20 selektiv fixiert werden (vgl. 11c).The test contact attachment 40 has a housing which is substantially L-shaped in a side view, with a first housing section 41 and one connected thereto and extending from the first housing section 41 extending second housing section 42 . The first housing section is preferably plate-shaped and / or thin-walled and extends along a longitudinal direction L2 of the essay 40 . The second housing section 42 preferably extends substantially orthogonally to the longitudinal direction L2 and has one in the longitudinal direction L2 running recess 43 for receiving an end section 12th the test pin device 20th on. An inside contour of the recess 43 is preferably on an outer contour of the contact section to be received 12th the device 20th customized. The test contact attachment 40 can thus over the end-side contact section 12th the test pin device 20th slipped over and means in the first housing section 41 arranged connecting means 48 on the test pin device 20th can be selectively fixed (cf. 11c ).

Radial außerhalb der Aufnahme 43 weist der zweite Gehäuseabschnitt 42 einen Kontaktabschnitt 44 zum lösbaren Kontaktieren eines Kontaktpartners (nicht dargestellt) auf. Der Kontaktabschnitt 44 steht vorzugsweise von einer endseitigen, planen und zur Längsrichtung L2 orthogonal verlaufenden Oberfläche 46 des zweiten Gehäuseabschnitts 42 vor und ist in Längsrichtung L2 wenigstens teilweise federnd ausgebildet. Der Kontaktabschnitt 44 kann dabei wenigstens einen elektrischen Leiter 45a umfassen, welcher in einer vorzugsweise parallel zur Aussparung 43 verlaufenden Aufnahme 45b des zweiten Gehäuseabschnitts 42 federnd gelagert und/oder geführt ist. Eine axiale Elastizität des Leiters 45a wird in der Ausführungsform gemäß 12a durch einen gebogen gelagerten Abschnitt 50 des Leiters 45a erzielt, welcher innerhalb eines gebogenen Gehäuseabschnitts 51a wenigstens teilweise in Längsrichtung L2 beweglich gelagert ist. Der elektrische Leiter 45a erstreckt sich hierbei vorzugsweise durch das gesamte Gehäuse 41,42 und ist an einer gegenüberliegenden Gehäuseseite mit Kontaktierungsmittel 47 zur externen Kontaktierung des Prüfkontaktaufsatzes 40 verbunden. Die Kontaktierungsmittel 47 können beispielsweise als Steckverbindung zur externen Kontaktierung des Kontaktabschnitts 44 mit einem externen Leiter 49 ausgebildet sein.Radially outside the receptacle 43 has the second housing section 42 a contact section 44 for releasably contacting a contact partner (not shown). The contact section 44 preferably stands from an end-side, planar direction and to the longitudinal direction L2 orthogonal surface 46 of the second housing section 42 in front and is longitudinal L2 at least partially resilient. The contact section 44 can do at least one electrical conductor 45a include, which in a preferably parallel to the recess 43 ongoing recording 45b of the second housing section 42 is resiliently mounted and / or guided. An axial elasticity of the conductor 45a is in the embodiment according to 12a by a curved section 50 of the head 45a achieved, which within a curved housing section 51a at least partially in the longitudinal direction L2 is movably mounted. The electrical conductor 45a extends here preferably through the entire housing 41 , 42 and is on an opposite side of the housing with contacting means 47 for external contacting of the test contact attachment 40 connected. The contacting means 47 can, for example, be used as a plug connection for external contacting of the contact section 44 with an external leader 49 be trained.

In einer alternativen Ausführungsform gemäß 12b wird die axiale Elastizität des Kontaktabschnitts 44 durch einen vorzugsweise beidseitig gefederten Kontaktstift 45a erzielt, welcher in einer zugehörigen Aufnahme 45b angeordnet ist. Der Kontaktstift 45a kann hierbei mit einem im zweiten Gehäuseabschnitt 42 angeordneten Leiter oder einer Platine 50 kontaktiert sein. Diese kann mittels vorgesehener Kontaktierungsmittel 47 mit einem externen Leiter 49 verbunden sein.In an alternative embodiment according to 12b becomes the axial elasticity of the contact portion 44 by a contact pin, preferably spring-loaded on both sides 45a achieved, which in an associated recording 45b is arranged. The contact pin 45a can here with one in the second housing section 42 arranged conductor or a circuit board 50 be contacted. This can be done by means of contacting means provided 47 with an external leader 49 be connected.

Der erfindungsgemäße Kontaktaufsatz ermöglicht eine selektive Erweiterbarkeit und Adaptierbarkeit der erfindungsgemäßen Prüfstiftvorrichtung hinsichtlich zu prüfender Kontaktpartner. Hierbei können insbesondere zusätzliche Prüfpartner, welche beispielsweise unmittelbar neben der durch die Prüfstiftvorrichtung zu testenden Kontaktpartner angeordnet sind, auf einfachste Weise gleichzeitig mit der Prüfstiftvorrichtung überprüft bzw. getestet werden.The contact attachment according to the invention enables the test pin device according to the invention to be selectively expanded and adapted with regard to the contact partners to be tested. In particular, additional test partners, which are arranged, for example, directly next to the contact partners to be tested by the test pin device, can be checked or tested in the simplest manner at the same time as the test pin device.

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Zitierte PatentliteraturPatent literature cited

WO 2019/138505 A1 [0004]
CN 109782034 A [0005]

Claims

High-frequency test contact element (10) for releasably contacting a contact partner, in particular a board-to-board connector, with a test pin device, having a lamellar base body (10a) with an end first contact area (1) for contacting a contact partner (30), an opposite one second contact area (2) for contacting a test pin device (20) receiving the test contact element and an intermediate meandering elastic area (3) with a preferably centrally arranged cavity (5) extending along a direction (V) of the elastic area for resilience along a longitudinal direction (L) of the test contact element (10), characterized in that the meandering elastic region (3) has a plurality of bending elements (8a, 8b, 8c, 8d) following one another in the direction of extension (V) with a respective bending angle (α ₁ , α ₂ , β ₁ , β ₂ ) from 5 to 70 °.

Test contact element according to Claim 1 , characterized in that the meandering elastic region (3) has two bending sections (6a, 6b) following one another in the direction of extension (V), each with two consecutive opposing, in particular S-shaped, bending elements (8a, 8b, 8c, 8d), preferably with essentially the same bending angles (α ₁ , α ₂ , β ₁ , β ₂ ).

Test contact element according to Claim 1 or 2 , characterized in that the bending elements (8a, 8b) of a first bending section (6a) have a respective bending angle of 40 ° to 70 °, preferably 45 ° to 65 °, and / or that the bending elements (8c, 8d) of a second Bend portion (6b) have a respective bending angle of 5 to 25 °, preferably from 5 to 15 °.

Contact element according to one of the preceding claims, characterized in that the elastic region (3) has an overall cross-sectional area (F ₃ ), preferably homogeneous in the direction of extension (V), which is less than 20%, preferably less than 15%, of the cross-sectional area (F ₁ , F 2) of a respective adjacent section of the first and / or second contact area ( _{1, 2) deviates.}

Contact element according to one of the preceding claims, characterized in that the meandering elastic region has at least one connecting bridge (7) at which the cavity extending along the direction (V) is interrupted.

Contact element according to one of the preceding claims, characterized in that the second contact area (2) has a curved end section (2a) which is designed for at least partially resilient contacting of a contacting section (18) on the test pin device (20) and preferably a smaller cross-sectional area than the remainder of the second contact area (2).

High-frequency test pin device (20) for releasably contacting a multi-pole contact partner (30), in particular a board-to-board connector, having an inner housing (11) with a contact section (12) arranged at the end for interacting with the contact partner (30) for testing purposes , and an outer housing (13) in which the inner housing (11) _{is guided movably at least in sections and relative to this, in particular along a device longitudinal direction (L 1} ), in such a way that the inner housing is arranged securely in a first contact-free relative position, and in a second a contact partner (30) contacting relative position is at least partially movable, in particular rotatable and / or tiltable, relative to the outer housing (13), the test pin device (20) having at least one circuit board (14a, 14b) with contacting means (9a) for external contacting the Test pin device (20) and a plurality of with the lead er plate (14a, 14b) contacted and to the contact section (12) of the inner housing (11) extending high-frequency test contact elements (10) according to one of the Claims 1 until 6th and wherein the circuit board (14a, 14b) and the test contact elements (10) are arranged in the inner housing (11) in such a way that they extend essentially in the device longitudinal direction (L1).

Test pin device (20) Claim 7 , characterized in that conductor tracks (15a, 15b) arranged on the printed circuit board (14a, 14b) extend essentially in the device _{longitudinal direction (L 1} ) and preferably have no bending section with a bending angle of greater than 45 ° with respect to the device longitudinal direction (L1).

Test pin device (20) Claim 7 or 8th , characterized in that the contacting means (9a) are arranged such that a respective conductor (17a, 17b) connected thereto for external contacting of the test pin device (20) extends essentially in the device longitudinal direction (L ₁ ).

Test pin device according to one of the Claims 7 until 9 , characterized in that a respective contacting section (18) of a conductor track (15a, 15b) of the circuit board (14a, 14b) has a cross-sectional area which is matched to a cross-sectional area of the bent end section (2a) of the high-frequency test contact element (10) contacted therewith , such that a resulting total cross-sectional area deviates by less than 20%, preferably less than 15%, from the cross-sectional area (F ₂ ) of the adjoining second contact area (2) of the high-frequency test contact element (10).

Test pin device according to one of the Claims 7 until 10 , characterized in that the test pin device (20) has two opposing printed circuit boards (14a, 14b) which are preferably arranged radially outside of the test contact elements (10) contacted therewith.

Test pin device according to one of the Claims 7 until 10 , characterized in that the test pin device (20) has two adjacent printed circuit boards (14a, 14b) or one printed circuit board with conductor tracks (15b) arranged on opposite sides, which are arranged essentially centrally in the test pin device.

Test pin device according to one of the Claims 7 until 12th , characterized in that the test pin device (20) has insulating means (19) which are arranged between the individual high-frequency test contact elements (10), in particular a plastic body arranged between them with a large number of lateral recesses (19a) in which the test contact elements (10 ) get lost.

Test pin device according to one of the Claims 7 until 13th , characterized in that the contact section (12) of the test pin device has a centering section (12a) which is resiliently mounted _{in the device longitudinal direction (L 1} ) and is arranged at the end, in particular opposite the high-frequency test contact elements (10).

Test contact attachment (40) for a test pin device (20) according to one of the Claims 7 until 14th , having a first housing section (41) running in the longitudinal direction (L ₂ ), preferably with connecting means (48) for selective connection to the test pin device (20), and a second housing section (42) protruding from the end, the second housing section (42) has a recess (43) running in particular in the longitudinal direction (L ₂ ) for receiving an end section (12) of the test pin device (20) and a contact section (44) arranged radially outside the recess (43) for releasably contacting a contact partner, and wherein the Contact section (44) is at least partially _{resilient in the longitudinal direction (L 2} ) relative to the second housing section (42).

Test contact attachment according to Claim 15 , characterized in that the contact section (44) comprises at least one electrical conductor (45a) which is at least partially resiliently mounted in a receptacle (45b), preferably parallel to the recess (43), in the second housing section (42), in particular a bore .

Test contact attachment according to Claim 15 , characterized in that the contact section (44) comprises at least one contact pin (45a '), preferably spring-loaded on both sides, which is arranged in a receptacle (45b) preferably arranged parallel to the recess (43), in particular mounted in a secure position.

Test contact attachment according to one of the Claims 15 until 17th , characterized in that the first housing section (41) opposite to the contact section (44) and have electrically connected contacting means (47) for external contacting.

Test contact attachment according to one of the Claims 15 until 18th , characterized in that the first and second housing sections (41) are arranged substantially L-shaped in side view.