JP6854183B2 - 硬さ試験機及びプログラム - Google Patents
硬さ試験機及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6854183B2 JP6854183B2 JP2017089055A JP2017089055A JP6854183B2 JP 6854183 B2 JP6854183 B2 JP 6854183B2 JP 2017089055 A JP2017089055 A JP 2017089055A JP 2017089055 A JP2017089055 A JP 2017089055A JP 6854183 B2 JP6854183 B2 JP 6854183B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test force
- test
- value
- indenter
- predetermined
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 194
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 50
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 5
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 17
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 238000013101 initial test Methods 0.000 description 6
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/40—Investigating hardness or rebound hardness
- G01N3/42—Investigating hardness or rebound hardness by performing impressions under a steady load by indentors, e.g. sphere, pyramid
- G01N3/44—Investigating hardness or rebound hardness by performing impressions under a steady load by indentors, e.g. sphere, pyramid the indentors being put under a minor load and a subsequent major load, i.e. Rockwell system
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/40—Investigating hardness or rebound hardness
- G01N3/42—Investigating hardness or rebound hardness by performing impressions under a steady load by indentors, e.g. sphere, pyramid
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/0014—Type of force applied
- G01N2203/0016—Tensile or compressive
- G01N2203/0019—Compressive
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/0058—Kind of property studied
- G01N2203/0076—Hardness, compressibility or resistance to crushing
- G01N2203/0078—Hardness, compressibility or resistance to crushing using indentation
- G01N2203/0082—Indentation characteristics measured during load
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
- G01N2203/0202—Control of the test
- G01N2203/0204—Safety arrangements, e.g. remote control, emergency stop
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
- G01N2203/0202—Control of the test
- G01N2203/0206—Means for supplying or positioning specimens or exchangeable parts of the machine such as indenters...
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
- G01N2203/0202—Control of the test
- G01N2203/0208—Specific programs of loading, e.g. incremental loading or pre-loading
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
- G01N2203/06—Indicating or recording means; Sensing means
- G01N2203/067—Parameter measured for estimating the property
- G01N2203/0682—Spatial dimension, e.g. length, area, angle
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
本発明は、硬さ試験機及びプログラムに関する。
従来、圧子により試料表面に試験力を負荷してくぼみを形成させ、そのくぼみに基づいて、試料の硬さを評価する硬さ試験機が知られている。
硬さ試験機の一つとしては、例えば、くぼみの深さからその試料の硬さを評価するロックウェル硬さ試験機が知られている（例えば、特許文献１参照）。
このロックウェル硬さ試験機では、まず、試料台に載置された試料に対して圧子により初試験力を加えた後、試験力を徐々に増加させ、最終的に試料に所定の試験力（全試験力）を加えた状態として、所定時間保持する。その後、試験力を徐々に低下させて初試験力の状態に戻し、この際に試料に形成されたくぼみの深さを測定する。
硬さ試験機の一つとしては、例えば、くぼみの深さからその試料の硬さを評価するロックウェル硬さ試験機が知られている（例えば、特許文献１参照）。
このロックウェル硬さ試験機では、まず、試料台に載置された試料に対して圧子により初試験力を加えた後、試験力を徐々に増加させ、最終的に試料に所定の試験力（全試験力）を加えた状態として、所定時間保持する。その後、試験力を徐々に低下させて初試験力の状態に戻し、この際に試料に形成されたくぼみの深さを測定する。
しかしながら、上記硬さ試験機においては、例えば、試料が載置されている試料台或いは圧子を支持する支持部等に対するユーザの不用意な接触、又は設置環境に起因する震動等の何らかの要因により、全試験力を加えている途中に試験力の増減が発生したとしても、実行中の試験は継続されていた。
このような場合、最終的に算出される硬さ値が適正でなくなり、硬さ試験機の測定精度を落とすこととなるが、ユーザはこれを認識できない。
このような場合、最終的に算出される硬さ値が適正でなくなり、硬さ試験機の測定精度を落とすこととなるが、ユーザはこれを認識できない。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、不適切な試験力の増減の発生により、算出される硬さ値が適正でなくなるのを認識することのできる硬さ試験機及びプログラムを提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、請求項１に記載の発明は、硬さ試験機において、
圧子と、
前記圧子に試験力を負荷して試料に押し付ける試験力負荷手段と、
前記試験力負荷手段により前記圧子に負荷される試験力の値を検出する検出手段と、
前記試験力負荷手段により前記圧子に所定の試験力が負荷された状態において、前記検出手段により検出される試験力の値が、前記所定の試験力に対して予め設定された許容範囲を超えた場合、所定の処理を実行する制御手段と、
を備え、
前記所定の処理は、実行中の試験を中止する中止処理と、試験の実行中に試験力の値が前記許容範囲を超えたことをユーザに対して報知する報知処理の少なくとも一方を含むことを特徴とする。
圧子と、
前記圧子に試験力を負荷して試料に押し付ける試験力負荷手段と、
前記試験力負荷手段により前記圧子に負荷される試験力の値を検出する検出手段と、
前記試験力負荷手段により前記圧子に所定の試験力が負荷された状態において、前記検出手段により検出される試験力の値が、前記所定の試験力に対して予め設定された許容範囲を超えた場合、所定の処理を実行する制御手段と、
を備え、
前記所定の処理は、実行中の試験を中止する中止処理と、試験の実行中に試験力の値が前記許容範囲を超えたことをユーザに対して報知する報知処理の少なくとも一方を含むことを特徴とする。
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の硬さ試験機において、
前記制御手段は、前記圧子に所定の試験力が負荷された状態において、前記検出手段により検出される試験力の値が、前記所定の試験力の値に予め設定された閾値を加算した値より大きくなった場合、前記所定の処理を実行することを特徴とする。
前記制御手段は、前記圧子に所定の試験力が負荷された状態において、前記検出手段により検出される試験力の値が、前記所定の試験力の値に予め設定された閾値を加算した値より大きくなった場合、前記所定の処理を実行することを特徴とする。
また、請求項３に記載の発明は、請求項１又は２に記載の硬さ試験機において、
前記制御手段は、前記中止処理を実行した場合、当該中止処理の実行後、前記試験力負荷手段を制御して、前記圧子に負荷される試験力を予め設定された所定値まで低減させることを特徴とする。
前記制御手段は、前記中止処理を実行した場合、当該中止処理の実行後、前記試験力負荷手段を制御して、前記圧子に負荷される試験力を予め設定された所定値まで低減させることを特徴とする。
また、請求項４に記載の発明は、請求項３に記載の硬さ試験機において、
前記試料が載置される試料台と、
前記試料台を昇降させる試料台昇降手段と、を備え、
前記制御手段は、前記圧子に負荷される試験力が前記所定値となった後、前記試料台昇降手段を制御して、前記試料台を下降させることを特徴とする。
前記試料が載置される試料台と、
前記試料台を昇降させる試料台昇降手段と、を備え、
前記制御手段は、前記圧子に負荷される試験力が前記所定値となった後、前記試料台昇降手段を制御して、前記試料台を下降させることを特徴とする。
また、請求項５に記載の発明は、請求項１から４のいずれか一項に記載の硬さ試験機において、
前記制御手段は、前記中止処理の実行及び前記報知処理を実行することを特徴とする。
前記制御手段は、前記中止処理の実行及び前記報知処理を実行することを特徴とする。
また、請求項６に記載の発明は、プログラムにおいて、
圧子と、前記圧子に試験力を負荷して試料に押し付ける試験力負荷手段と、前記試験力負荷手段により前記圧子に負荷される試験力の値を検出する検出手段と、を備えた硬さ試験機のコンピュータを、
前記試験力負荷手段により前記圧子に所定の試験力が負荷された状態において、前記検出手段により検出される試験力の値が、前記所定の試験力に対して予め設定された許容範囲を超えた場合、所定の処理を実行する制御手段として機能させるためのプログラムであって、
前記所定の処理は、実行中の試験を中止する中止処理と、試験の実行中に試験力の値が前記許容範囲を超えたことをユーザに対して報知する報知処理の少なくとも一方を含むことを特徴とする。
圧子と、前記圧子に試験力を負荷して試料に押し付ける試験力負荷手段と、前記試験力負荷手段により前記圧子に負荷される試験力の値を検出する検出手段と、を備えた硬さ試験機のコンピュータを、
前記試験力負荷手段により前記圧子に所定の試験力が負荷された状態において、前記検出手段により検出される試験力の値が、前記所定の試験力に対して予め設定された許容範囲を超えた場合、所定の処理を実行する制御手段として機能させるためのプログラムであって、
前記所定の処理は、実行中の試験を中止する中止処理と、試験の実行中に試験力の値が前記許容範囲を超えたことをユーザに対して報知する報知処理の少なくとも一方を含むことを特徴とする。
本発明によれば、不適切な試験力の増減の発生により、算出される硬さ値が適正でなくなるのを認識することができる。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。ただし、発明の範囲は、図示例に限定されない。
まず、本実施の形態における硬さ試験機１００の構成について説明する。
図１は、硬さ試験機１００を側面視した要部構成図である。図２は、硬さ試験機１００の機能的構成を示すブロック図である。
図１、２に示すように、硬さ試験機１００は、例えば、試験力負荷手段としてのアーム１１及び駆動部１２と、検出手段としてのバネ変位量センサ１３と、アーム位置センサ１４と、試料台１５と、試料台昇降手段としての試料台高さ調整部１６と、操作部１７と、記憶部１８と、制御部１９と、を備えて構成されている。
図１、２に示すように、硬さ試験機１００は、例えば、試験力負荷手段としてのアーム１１及び駆動部１２と、検出手段としてのバネ変位量センサ１３と、アーム位置センサ１４と、試料台１５と、試料台昇降手段としての試料台高さ調整部１６と、操作部１７と、記憶部１８と、制御部１９と、を備えて構成されている。
アーム１１は、試験機本体１００ａに回動可能に備えられており、先端側に各種圧子が交換可能に配設されるようになっている。
このアーム１１に取り付けられる各種圧子には、試料表面にくぼみを形成するための圧子１と、所定の対象物を傷付けることなく押圧するための平圧子（図示省略）などがある。
このアーム１１に取り付けられる各種圧子には、試料表面にくぼみを形成するための圧子１と、所定の対象物を傷付けることなく押圧するための平圧子（図示省略）などがある。
駆動部１２は、駆動源１２ａとして、例えば、ステッピングモータやサーボモータなどを備えており、その駆動源１２ａが発生する力を、板ばね部１１ａを介してアーム１１に伝達し、アーム１１を回動させることでアーム１１の先端側を試料台１５に近接させ、圧子１や平圧子を試料台１５に載置されている試料に押し付ける。
また、駆動部１２は、アーム１１を試料台１５から離間する方向に回動させて、アーム１１を所定の退避位置に移動させる。この退避位置とは、各種圧子と試料台１５との間に距離をとって、圧子や試料台１５上の試料を交換したり、所定の測定準備を行ったりするための配置である。
また、駆動部１２は、アーム１１を試料台１５から離間する方向に回動させて、アーム１１を所定の退避位置に移動させる。この退避位置とは、各種圧子と試料台１５との間に距離をとって、圧子や試料台１５上の試料を交換したり、所定の測定準備を行ったりするための配置である。
バネ変位量センサ１３は、アーム１１における板ばね部１１ａのバネ変位量を検出する。
具体的には、バネ変位量センサ１３は、例えば、ガラススケールを光学的に読み取る変位センサユニット（リニアスケール）からなり、板ばね部１１ａが、駆動部１２の駆動源１２ａから発生する力をアーム１１に伝達する際における、板ばね部１１ａの変位量を検出することができるようになっている。
バネ変位量センサ１３により検出された板ばね部１１ａの変位量は、常時、制御部１９に出力される。これにより、圧子１に負荷される試験力が、常時、検出可能となっている。
具体的には、バネ変位量センサ１３は、例えば、ガラススケールを光学的に読み取る変位センサユニット（リニアスケール）からなり、板ばね部１１ａが、駆動部１２の駆動源１２ａから発生する力をアーム１１に伝達する際における、板ばね部１１ａの変位量を検出することができるようになっている。
バネ変位量センサ１３により検出された板ばね部１１ａの変位量は、常時、制御部１９に出力される。これにより、圧子１に負荷される試験力が、常時、検出可能となっている。
アーム位置センサ１４は、アーム１１の移動量を検出する。
具体的には、アーム位置センサ１４は、例えば、ガラススケールを光学的に読み取る変位センサユニット（リニアスケール）からなり、アーム１１の移動量を検出することができるようになっている。アーム位置センサ１４により検出されたアーム１１の移動量は、制御部１９に出力される。
具体的には、アーム位置センサ１４は、例えば、ガラススケールを光学的に読み取る変位センサユニット（リニアスケール）からなり、アーム１１の移動量を検出することができるようになっている。アーム位置センサ１４により検出されたアーム１１の移動量は、制御部１９に出力される。
試料台１５は、アーム１１に配設される各種圧子の下方に備えられており、各種圧子を押し付ける試料が載置される。
試料台高さ調整部１６は、外周面に雄ネジが形成された支柱部１６ａと、内周面に雌ネジが形成されたハンドル部１６ｂとを有しており、支柱部１６ａの雄ネジとハンドル部１６ｂの雌ネジとが歯合している。そして、ハンドル部１６ｂを回すことで、支柱部１６ａをその長手方向に沿って上下方向に移動させ、支柱部１６ａの上端に配設されている試料台１５を上下に移動させて、試料台１５の高さ位置を調整することができる。
操作部１７は、表示部１７ａ及び入力部１７ｂを備えている。
表示部１７ａは、例えば、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）により構成され、制御部１９から入力される表示信号の指示に従って、各種画面を表示する。
入力部１７ｂは、例えば、表示部１７ａの表示画面上を覆うように形成されたタッチパネルや、数字ボタン、スタートボタン等の各種操作ボタンを備え、ユーザの操作に基づく操作信号を制御部１９に出力する。
表示部１７ａは、例えば、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）により構成され、制御部１９から入力される表示信号の指示に従って、各種画面を表示する。
入力部１７ｂは、例えば、表示部１７ａの表示画面上を覆うように形成されたタッチパネルや、数字ボタン、スタートボタン等の各種操作ボタンを備え、ユーザの操作に基づく操作信号を制御部１９に出力する。
記憶部１８は、不揮発性の半導体メモリやハードディスク等の記憶装置からなり、各種処理に関するデータ等を記憶する。
制御部１９は、ＣＰＵ１９ａ、ＲＡＭ１９ｂ、ＲＯＭ１９ｃを備えて構成されており、硬さ試験機１００の各部の制御を行う。
ＣＰＵ１９ａは、ＲＯＭ１９ｃに格納された処理プログラム等を読み出して、ＲＡＭ１９ｂに展開して実行することにより、硬さ試験機１００全体の制御を行う。
ＲＡＭ１９ｂは、ＣＰＵ１９ａにより実行された処理プログラム等を、ＲＡＭ１９ｂ内のプログラム格納領域に展開するとともに、入力データや上記処理プログラムが実行される際に生じる処理結果等をデータ格納領域に格納する。
ＲＯＭ１９ｃは、ＣＰＵ１９ａが硬さ試験機１００全体を制御する機能を実現させるための各種データ、各種処理プログラム等を記憶する。具体的には、ＲＯＭ１９ｃは、例えば、硬さ試験実行プログラム１９１、硬さ試験管理プログラム１９２等を格納している。
次に、本実施の形態における硬さ試験機１００の動作について説明する。
硬さ試験機１００においては、試料に圧子１を押し付けて形成されるくぼみの深さからその試料の硬さを評価する硬さ試験が実行される。
例えば、操作部１７を介してユーザから硬さ試験の実行指示が入力されたことをトリガとして、制御部１９のＣＰＵ１９ａは、ＲＯＭ１９ｃから読み出して適宜ＲＡＭ１９ｂに展開した硬さ試験実行プログラム１９１との協働で、当該硬さ試験を実行する。
例えば、操作部１７を介してユーザから硬さ試験の実行指示が入力されたことをトリガとして、制御部１９のＣＰＵ１９ａは、ＲＯＭ１９ｃから読み出して適宜ＲＡＭ１９ｂに展開した硬さ試験実行プログラム１９１との協働で、当該硬さ試験を実行する。
図３は、正常な硬さ試験において試料に加えられる試験力（Ｆ）（圧子１に負荷される試験力）の変化の一例を示すグラフである。
図３に示すように、硬さ試験においては、先ず、圧子１に初試験力（Ｆ０）を負荷して圧子１を試料表面に所定時間押し込み、その後、圧子１の試験力を徐々に増加させ、予め定められた所定の試験力（全試験力（Ｆ１））まで上げた状態として、所定時間保持する。
所定時間経過後、圧子１の試験力を徐々に低下させ、初試験力（Ｆ０）の状態まで戻す。
このとき試料表面に形成されるくぼみの深さ（押し込み深さ）は、アーム位置センサ１４により検出されたアーム１１の移動量により測定される。そして、初試験力（Ｆ０）により形成された押し込み深さと、全試験力（Ｆ１）により形成された押し込み深さとの差に基づいて、公知の演算式により試料の硬さ値（ロックウェル硬さ）が算出される。
図３に示すように、硬さ試験においては、先ず、圧子１に初試験力（Ｆ０）を負荷して圧子１を試料表面に所定時間押し込み、その後、圧子１の試験力を徐々に増加させ、予め定められた所定の試験力（全試験力（Ｆ１））まで上げた状態として、所定時間保持する。
所定時間経過後、圧子１の試験力を徐々に低下させ、初試験力（Ｆ０）の状態まで戻す。
このとき試料表面に形成されるくぼみの深さ（押し込み深さ）は、アーム位置センサ１４により検出されたアーム１１の移動量により測定される。そして、初試験力（Ｆ０）により形成された押し込み深さと、全試験力（Ｆ１）により形成された押し込み深さとの差に基づいて、公知の演算式により試料の硬さ値（ロックウェル硬さ）が算出される。
ここで、本実施の形態の硬さ試験機１００においては、上記硬さ試験の実行中、圧子１に全試験力（Ｆ１）が負荷されて保持されている状態において、試験力（Ｆ）の増減を検出し、その値が全試験力（Ｆ１）に対して予め設定された許容範囲を超えた場合に、実行中の硬さ試験を中止する中止処理と、試験の実行中に試験力の値が許容範囲を超えたことをユーザに対して報知する報知処理が実行される。
図４は、このような硬さ試験機１００の制御を示すフローチャートである。
なお、圧子１に負荷される試験力（Ｆ）が全試験力（Ｆ１）に到達したことをトリガとして、制御部１９のＣＰＵ１９ａは、ＲＯＭ１９ｃから読み出して適宜ＲＡＭ１９ｂに展開した硬さ試験管理プログラム１９２との協働で、図４の制御を実行する。
なお、圧子１に負荷される試験力（Ｆ）が全試験力（Ｆ１）に到達したことをトリガとして、制御部１９のＣＰＵ１９ａは、ＲＯＭ１９ｃから読み出して適宜ＲＡＭ１９ｂに展開した硬さ試験管理プログラム１９２との協働で、図４の制御を実行する。
図４に示すように、圧子１に負荷される試験力（Ｆ）が全試験力（Ｆ１）に到達すると（ＳＴＡＲＴ）、制御部１９は、バネ変位量センサ１３からの検出値に基づいて、圧子１に負荷される試験力（Ｆ）が、予め定められた閾値（Ｆｔｈ）を上回ったか否かを判断する（ステップＳ１）。
即ち、制御部１９は、圧子１に負荷される試験力（Ｆ）の値が、全試験力（Ｆ１）の値に閾値（Ｆｔｈ）を加算した値より大きくなっているか否かを判断する。
これにより、全試験力（Ｆ１）の保持中に、試験力（Ｆ）が大きくなり過ぎた場合に、これを検出することができる。
なお、閾値（Ｆｔｈ）は、全試験力（Ｆ１）に対して予め設定される値であるが、ユーザの任意で適宜設定変更可能である。
即ち、制御部１９は、圧子１に負荷される試験力（Ｆ）の値が、全試験力（Ｆ１）の値に閾値（Ｆｔｈ）を加算した値より大きくなっているか否かを判断する。
これにより、全試験力（Ｆ１）の保持中に、試験力（Ｆ）が大きくなり過ぎた場合に、これを検出することができる。
なお、閾値（Ｆｔｈ）は、全試験力（Ｆ１）に対して予め設定される値であるが、ユーザの任意で適宜設定変更可能である。
そして、閾値（Ｆｔｈ）を上回っていない場合（ステップＳ１：ＮＯ）、制御部１９は、バネ変位量センサ１３からの検出値に基づいて、圧子１に負荷される試験力（Ｆ）が、予め定められた閾値（Ｆｔｈ）を下回ったか否かを判断する（ステップＳ２）。
即ち、制御部１９は、圧子１に負荷される試験力（Ｆ）の値が、全試験力（Ｆ１）の値に閾値（Ｆｔｈ）を減算した値より小さくなっているか否かを判断する。
これにより、全試験力（Ｆ１）の保持中に、試験力（Ｆ）が小さくなり過ぎた場合に、これを検出することができる。
即ち、制御部１９は、圧子１に負荷される試験力（Ｆ）の値が、全試験力（Ｆ１）の値に閾値（Ｆｔｈ）を減算した値より小さくなっているか否かを判断する。
これにより、全試験力（Ｆ１）の保持中に、試験力（Ｆ）が小さくなり過ぎた場合に、これを検出することができる。
そして、閾値（Ｆｔｈ）を下回っていない場合（ステップＳ２：ＮＯ）、制御部１９は、全試験力（Ｆ１）の保持時間が経過したか否かを判断し（ステップＳ３）、経過していない場合（ステップＳ３：ＮＯ）、上記ステップＳ１に戻って以降の処理を繰り返す一方、保持時間が経過した場合（ステップＳ３：ＹＥＳ）、本処理を終了する（ＥＮＤ）。
これにより、全試験力（Ｆ１）の保持中に、試験力（Ｆ）に過度な増減がない場合には、図３に示した、正常な硬さ試験が継続されることとなる。
これにより、全試験力（Ｆ１）の保持中に、試験力（Ｆ）に過度な増減がない場合には、図３に示した、正常な硬さ試験が継続されることとなる。
また、上記ステップＳ１において、圧子１に負荷される試験力（Ｆ）が閾値（Ｆｔｈ）を上回った場合（ステップＳ１：ＹＥＳ）、或いは、上記ステップＳ２において、圧子１に負荷される試験力（Ｆ）が閾値（Ｆｔｈ）を下回った場合（ステップＳ２：ＹＥＳ）、即ち、全試験力（Ｆ１）に対して予め設定された許容範囲を超えた場合、制御部１９は、実行中の硬さ試験を中止し（中止処理：ステップＳ４）、ユーザに対して試験力の値が許容範囲を超えたことを報知する（報知処理：ステップＳ５）。
なお、「実行中の硬さ試験を中止する」とは、具体的には、駆動部１２を停止し、また、保持時間をカウントしているカウンタ（図示省略）を停止するなどの制御である。
また、「試験力の値が許容範囲を超えたことの報知」は、例えば、表示部１７ａにメッセージを表示させる等の制御が挙げられるが、これ以外にも、例えば、音声や警告音を出力する等の制御を行うこととしても良い。
なお、「実行中の硬さ試験を中止する」とは、具体的には、駆動部１２を停止し、また、保持時間をカウントしているカウンタ（図示省略）を停止するなどの制御である。
また、「試験力の値が許容範囲を超えたことの報知」は、例えば、表示部１７ａにメッセージを表示させる等の制御が挙げられるが、これ以外にも、例えば、音声や警告音を出力する等の制御を行うこととしても良い。
次いで、制御部１９は、駆動部１２を制御して、アーム１１の鉛直上方向への上昇を開始する（ステップＳ６）。
これにより、試験力（Ｆ）が徐々に低下していくこととなる。
これにより、試験力（Ｆ）が徐々に低下していくこととなる。
次いで、制御部１９は、バネ変位量センサ１３からの検出値に基づいて、試験力（Ｆ）が予め定められた所定値（Ｆ２）に達したか否かを判断し（ステップＳ７）、所定値（Ｆ２）に達していない場合（ステップＳ７：Ｎｏ）、かかるステップＳ７の処理を繰り返す。
なお、所定値（Ｆ２）とは、ハンドル部１６ｂを軽く回すことの可能な状態において試料台１５に掛かる力であって、例えば、初試験力（Ｆ０）の１／１０程度の大きさに設定されている。
なお、所定値（Ｆ２）とは、ハンドル部１６ｂを軽く回すことの可能な状態において試料台１５に掛かる力であって、例えば、初試験力（Ｆ０）の１／１０程度の大きさに設定されている。
そして、試験力（Ｆ）が予め定められた所定値（Ｆ２）に達した場合（ステップＳ７：ＹＥＳ）、制御部１９は、駆動部１２を制御して、アーム１１の鉛直上方向への上昇を停止し（ステップＳ８）、本処理を終了する（ＥＮＤ）。
これにより、圧子１に負荷される試験力（Ｆ）が十分に低下し、試験中止後、ユーザがハンドル部１６ｂを軽く回すことが可能となり、試料台１５を容易に下げることができる状態となる。
これにより、圧子１に負荷される試験力（Ｆ）が十分に低下し、試験中止後、ユーザがハンドル部１６ｂを軽く回すことが可能となり、試料台１５を容易に下げることができる状態となる。
ここで、図５は、全試験力（Ｆ１）の保持中に、試験力（Ｆ）が閾値（Ｆｔｈ）を上回った場合（ステップＳ１：ＹＥＳ）の、試験力（Ｆ）の変化の一例を示すグラフである。
図５に示すように、試験力（Ｆ）が閾値（Ｆｔｈ）を上回ると、その時点（Ｐ１）で試験が中止され、その後、アーム１１の上昇に伴って試験力（Ｆ）は低下する。そして、試験力（Ｆ）が所定値（Ｆ２）に達した時点（Ｐ２）で、アーム１１の上昇が停止し、その後、試験力（Ｆ）が所定値（Ｆ２）にて一定となる。
図５に示すように、試験力（Ｆ）が閾値（Ｆｔｈ）を上回ると、その時点（Ｐ１）で試験が中止され、その後、アーム１１の上昇に伴って試験力（Ｆ）は低下する。そして、試験力（Ｆ）が所定値（Ｆ２）に達した時点（Ｐ２）で、アーム１１の上昇が停止し、その後、試験力（Ｆ）が所定値（Ｆ２）にて一定となる。
また、図６は、全試験力（Ｆ１）の保持中に、試験力（Ｆ）が閾値（Ｆｔｈ）を下回った場合（ステップＳ２：ＹＥＳ）の、試験力（Ｆ）の変化の一例を示すグラフである。
図６に示すように、試験力（Ｆ）が閾値（Ｆｔｈ）を下回ると、その時点（Ｐ３）で試験が中止され、その後、アーム１１の上昇に伴って試験力（Ｆ）は低下する。そして、試験力（Ｆ）が所定値（Ｆ２）に達した時点（Ｐ４）で、アーム１１の上昇が停止し、その後、試験力（Ｆ）が所定値（Ｆ２）にて一定となる。
図６に示すように、試験力（Ｆ）が閾値（Ｆｔｈ）を下回ると、その時点（Ｐ３）で試験が中止され、その後、アーム１１の上昇に伴って試験力（Ｆ）は低下する。そして、試験力（Ｆ）が所定値（Ｆ２）に達した時点（Ｐ４）で、アーム１１の上昇が停止し、その後、試験力（Ｆ）が所定値（Ｆ２）にて一定となる。
以上のように、本実施の形態によれば、硬さ試験機１００は、圧子１と、圧子１に試験力を負荷して試料に押し付けるアーム１１及び駆動部１２と、圧子１に負荷される試験力の値を検出するバネ変位量センサ１３と、駆動部１２により圧子１に所定の試験力（全試験力（Ｆ１））が負荷された状態において、バネ変位量センサ１３により検出される試験力の値が、所定の試験力に対して予め設定された許容範囲を超えた場合、所定の処理を実行する制御部１９と、を備え、所定の処理は、実行中の試験を中止する中止処理と、試験の実行中に試験力の値が許容範囲を超えたことをユーザに対して報知する報知処理を含む。
このため、何らかの要因により、全試験力（Ｆ１）を加えている途中に試験力（Ｆ）の許容範囲を超える増減が発生した場合、実行中の試験が中止されると共に、試験力（Ｆ）の許容範囲を超え増減が発生したことがユーザに対して報知されることとなる。
よって、不適切な試験力の増減が発生により、算出される硬さ値が適正でなくなるのをユーザが認識することができる。また、不適切な試験力の増減が発生により、適正でない硬さ値が算出されるのを中止させることができる。
このため、何らかの要因により、全試験力（Ｆ１）を加えている途中に試験力（Ｆ）の許容範囲を超える増減が発生した場合、実行中の試験が中止されると共に、試験力（Ｆ）の許容範囲を超え増減が発生したことがユーザに対して報知されることとなる。
よって、不適切な試験力の増減が発生により、算出される硬さ値が適正でなくなるのをユーザが認識することができる。また、不適切な試験力の増減が発生により、適正でない硬さ値が算出されるのを中止させることができる。
また、本実施の形態によれば、制御部１９は、圧子１に所定の試験力（全試験力（Ｆ１））が負荷された状態において、バネ変位量センサ１３により検出される試験力（Ｆ）の値が、全試験力（Ｆ１）の値に予め設定された閾値（Ｆｔｈ）を加算した値より大きくなった場合、所定の処理を実行する。
このため、全試験力（Ｆ１）を加えている途中に、特に、試験力（Ｆ）が閾値（Ｆｔｈ）を超える程度増加した場合に、実行中の試験を中止させると共に、ユーザに対して報知することができる。
よって、誤って実際より柔らかい硬さ値が算出されるのをユーザが認識でき、その値が算出されるのを中止させることができる。
このため、全試験力（Ｆ１）を加えている途中に、特に、試験力（Ｆ）が閾値（Ｆｔｈ）を超える程度増加した場合に、実行中の試験を中止させると共に、ユーザに対して報知することができる。
よって、誤って実際より柔らかい硬さ値が算出されるのをユーザが認識でき、その値が算出されるのを中止させることができる。
また、本実施の形態によれば、制御部１９は、中止処理を実行した場合、当該中止処理の実行後、駆動部１２を制御して、圧子１に負荷される試験力を予め設定された所定値（Ｆ２）まで低減させる。
このため、試料台１５に全試験力（Ｆ１）が掛かったままとなりユーザがハンドル部１６ｂを回せないという事態の発生が防止され、実行中の試験を中止した後、試験再開までの操作を軽負荷で行うことができる。
このため、試料台１５に全試験力（Ｆ１）が掛かったままとなりユーザがハンドル部１６ｂを回せないという事態の発生が防止され、実行中の試験を中止した後、試験再開までの操作を軽負荷で行うことができる。
なお、上記実施の形態においては、試験力（Ｆ）が所定値（Ｆ２）に達したら、アーム１１の鉛直上方向への上昇を停止し、ユーザが手動で試料台１５を下げる構成を例示して説明したが、試験力（Ｆ）が所定値（Ｆ２）に達したら、制御部１９が、試料台高さ調整部１６を制御して、試料台１５を自動で下降させる構成としても良い。
また、上記実施の形態においては、中止処理の実行後、報知処理を実行する制御を例示して説明したが、報知処理の実行後、中止処理を実行しても良い。
即ち、全試験力（Ｆ１）を加えている途中に試験力（Ｆ）の許容範囲を超える増減が発生した場合、表示部１７ａにメッセージを表示させる等の報知処理が直ちに実行され、その後、駆動部１２等を停止させる中止処理が実行される。
即ち、全試験力（Ｆ１）を加えている途中に試験力（Ｆ）の許容範囲を超える増減が発生した場合、表示部１７ａにメッセージを表示させる等の報知処理が直ちに実行され、その後、駆動部１２等を停止させる中止処理が実行される。
また、中止処理を実行することなく、報知処理のみ実行することとしても良い。
即ち、全試験力（Ｆ１）を加えている途中に試験力（Ｆ）の許容範囲を超える増減が発生した場合、表示部１７ａにメッセージを表示させる等の報知処理は実行されるが、そのとき実行中の試験は最後まで継続される。
なお、報知処理は、試験力（Ｆ）の許容範囲を超える増減を検出したら直ちに実行されても良いし、試験の終了後に実行されても良い。
かかる制御であっても、不適切な試験力の増減の発生により、算出される硬さ値が適正でなくなるのをユーザが認識することができる。また、この制御によれば、ユーザは、算出される硬さ値が適正でないのを認識した上で試料を確認し、評価に使用するか否かを判断することができる。
即ち、全試験力（Ｆ１）を加えている途中に試験力（Ｆ）の許容範囲を超える増減が発生した場合、表示部１７ａにメッセージを表示させる等の報知処理は実行されるが、そのとき実行中の試験は最後まで継続される。
なお、報知処理は、試験力（Ｆ）の許容範囲を超える増減を検出したら直ちに実行されても良いし、試験の終了後に実行されても良い。
かかる制御であっても、不適切な試験力の増減の発生により、算出される硬さ値が適正でなくなるのをユーザが認識することができる。また、この制御によれば、ユーザは、算出される硬さ値が適正でないのを認識した上で試料を確認し、評価に使用するか否かを判断することができる。
さらに、中止処理を実行した場合、報知処理を実行しないこととしても良い。
即ち、全試験力（Ｆ１）を加えている途中に試験力（Ｆ）の許容範囲を超える増減が発生した場合、駆動部１２等を停止させる中止処理のみが実行される。
かかる制御であっても、試験が中止したことにより、不適切な試験力の増減の発生により、算出される硬さ値が適正でなくなるのをユーザが認識することができる。
即ち、全試験力（Ｆ１）を加えている途中に試験力（Ｆ）の許容範囲を超える増減が発生した場合、駆動部１２等を停止させる中止処理のみが実行される。
かかる制御であっても、試験が中止したことにより、不適切な試験力の増減の発生により、算出される硬さ値が適正でなくなるのをユーザが認識することができる。
また、上記実施の形態においては、硬さ試験機１００としてロックウェル硬さ試験機を例示して説明したが、例えば、ビッカース硬さ試験機などのこれ以外の硬さ試験機に本発明を適用することも可能である。
１００ 硬さ試験機
１００ａ 試験機本体
１ 圧子
１１ アーム（試験力負荷手段）
１１ａ 板ばね部
１２ 駆動部（試験力負荷手段）
１２ａ 駆動源
１３ バネ変位量センサ（検出手段）
１４ アーム位置センサ
１５ 試料台
１６ 試料台高さ調整部（試料台昇降手段）
１６ａ 支柱部
１６ｂ ハンドル部
１７ 操作部
１７ａ 表示部
１７ｂ 入力部
１８ 記憶部
１９ 制御部（制御手段）
１９ａ ＣＰＵ
１９ｂ ＲＡＭ
１９ｃ ＲＯＭ
１９１ 硬さ試験実行プログラム
１９２ 硬さ試験管理プログラム
１００ａ 試験機本体
１ 圧子
１１ アーム（試験力負荷手段）
１１ａ 板ばね部
１２ 駆動部（試験力負荷手段）
１２ａ 駆動源
１３ バネ変位量センサ（検出手段）
１４ アーム位置センサ
１５ 試料台
１６ 試料台高さ調整部（試料台昇降手段）
１６ａ 支柱部
１６ｂ ハンドル部
１７ 操作部
１７ａ 表示部
１７ｂ 入力部
１８ 記憶部
１９ 制御部（制御手段）
１９ａ ＣＰＵ
１９ｂ ＲＡＭ
１９ｃ ＲＯＭ
１９１ 硬さ試験実行プログラム
１９２ 硬さ試験管理プログラム
Claims (6)
- 圧子と、
前記圧子に試験力を負荷して試料に押し付ける試験力負荷手段と、
前記試験力負荷手段により前記圧子に負荷される試験力の値を検出する検出手段と、
前記試験力負荷手段により前記圧子に所定の試験力が負荷された状態において、前記検出手段により検出される試験力の値が、前記所定の試験力に対して予め設定された許容範囲を超えた場合、所定の処理を実行する制御手段と、
を備え、
前記所定の処理は、実行中の試験を中止する中止処理と、試験の実行中に試験力の値が前記許容範囲を超えたことをユーザに対して報知する報知処理の少なくとも一方を含むことを特徴とする硬さ試験機。 - 前記制御手段は、前記圧子に所定の試験力が負荷された状態において、前記検出手段により検出される試験力の値が、前記所定の試験力の値に予め設定された閾値を加算した値より大きくなった場合、前記所定の処理を実行することを特徴とする請求項１に記載の硬さ試験機。
- 前記制御手段は、前記中止処理を実行した場合、当該中止処理の実行後、前記試験力負荷手段を制御して、前記圧子に負荷される試験力を予め設定された所定値まで低減させることを特徴とする請求項１又は２に記載の硬さ試験機。
- 前記試料が載置される試料台と、
前記試料台を昇降させる試料台昇降手段と、を備え、
前記制御手段は、前記圧子に負荷される試験力が前記所定値となった後、前記試料台昇降手段を制御して、前記試料台を下降させることを特徴とする請求項３に記載の硬さ試験機。 - 前記制御手段は、前記中止処理の実行及び前記報知処理を実行することを特徴とする請求項１から４のいずれか一項に記載の硬さ試験機。
- 圧子と、前記圧子に試験力を負荷して試料に押し付ける試験力負荷手段と、前記試験力負荷手段により前記圧子に負荷される試験力の値を検出する検出手段と、を備えた硬さ試験機のコンピュータを、
前記試験力負荷手段により前記圧子に所定の試験力が負荷された状態において、前記検出手段により検出される試験力の値が、前記所定の試験力に対して予め設定された許容範囲を超えた場合、所定の処理を実行する制御手段として機能させるためのプログラムであって、
前記所定の処理は、実行中の試験を中止する中止処理と、試験の実行中に試験力の値が前記許容範囲を超えたことをユーザに対して報知する報知処理の少なくとも一方を含むことを特徴とするプログラム。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017089055A JP6854183B2 (ja) | 2017-04-28 | 2017-04-28 | 硬さ試験機及びプログラム |
| DE102018206429.6A DE102018206429A1 (de) | 2017-04-28 | 2018-04-25 | Härteprüfgerät und Programm |
| US15/963,308 US10914661B2 (en) | 2017-04-28 | 2018-04-26 | Hardness tester and program |
| CN201810399114.6A CN108827807A (zh) | 2017-04-28 | 2018-04-28 | 硬度测试仪和非暂时性计算机可读介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017089055A JP6854183B2 (ja) | 2017-04-28 | 2017-04-28 | 硬さ試験機及びプログラム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2018189371A JP2018189371A (ja) | 2018-11-29 |
| JP6854183B2 true JP6854183B2 (ja) | 2021-04-07 |
Family
ID=63797644
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017089055A Active JP6854183B2 (ja) | 2017-04-28 | 2017-04-28 | 硬さ試験機及びプログラム |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10914661B2 (ja) |
| JP (1) | JP6854183B2 (ja) |
| CN (1) | CN108827807A (ja) |
| DE (1) | DE102018206429A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7141296B2 (ja) * | 2018-10-03 | 2022-09-22 | 株式会社ミツトヨ | 硬さ試験機 |
| JP7144267B2 (ja) | 2018-10-03 | 2022-09-29 | 株式会社ミツトヨ | 硬さ試験機 |
| JP7198950B2 (ja) | 2019-07-12 | 2023-01-04 | ニューラリンク コーポレーション | ロボット脳外科手術用の光コヒーレンストモグラフィ |
| JP7335606B2 (ja) * | 2019-11-29 | 2023-08-30 | 学校法人 関西大学 | インデンテーション試験システム及びインデンテーション試験方法 |
Family Cites Families (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3934463A (en) * | 1974-02-28 | 1976-01-27 | Adrian Dean Venderjagt | Hardness tester |
| CH628985A5 (it) * | 1978-12-15 | 1982-03-31 | Alfred Ernst | Misuratore di durezza con dispositivo di blocco di sicurezza. |
| US4331026A (en) * | 1980-07-14 | 1982-05-25 | The Boeing Company | Indenter-type hardness testing apparatus |
| CH662887A5 (fr) * | 1984-03-01 | 1987-10-30 | Page Wilson Corp | Machine de test pour mesurer la durete d'un materiau. |
| US4667509A (en) * | 1984-03-01 | 1987-05-26 | Page-Wilson Corporation | Digital tester for measuring the hardness of the material |
| US5355721A (en) * | 1992-12-18 | 1994-10-18 | Las Navas Garcia Jose M | Method and apparatus for measuring depth and hardness |
| JP3440653B2 (ja) * | 1995-09-14 | 2003-08-25 | 株式会社島津製作所 | 微小硬度計 |
| JP4141602B2 (ja) | 1999-10-07 | 2008-08-27 | 株式会社ミツトヨ | 硬さ試験機 |
| JP3702203B2 (ja) * | 2001-01-12 | 2005-10-05 | ドンイル，クォン | 連続圧入試験のための圧入試験機、これを用いた物性測定方法及び物性計算方法 |
| JP4098503B2 (ja) * | 2001-08-08 | 2008-06-11 | 株式会社ミツトヨ | 圧痕形成機構及び硬さ試験機 |
| JP2004340657A (ja) * | 2003-05-14 | 2004-12-02 | Akashi Corp | 圧痕形成機構及び硬さ試験機 |
| JP4793445B2 (ja) * | 2006-06-20 | 2011-10-12 | 株式会社島津製作所 | 押込型材料試験機、試験方法、および試験用プログラム製品 |
| MY174861A (en) * | 2011-02-10 | 2020-05-19 | Bruker Nano Inc | Nanomechanical testing system |
| JP5932341B2 (ja) * | 2012-01-06 | 2016-06-08 | 株式会社ミツトヨ | 硬さ試験機及びプログラム |
| JP2014185949A (ja) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Mitsutoyo Corp | 硬さ試験機、及び硬さ試験方法 |
| CN104251802B (zh) * | 2013-06-26 | 2016-08-17 | 名硕电脑(苏州)有限公司 | 按键回弹时间的量测装置与量测方法 |
| WO2015069633A1 (en) * | 2013-11-06 | 2015-05-14 | Illinois Tool Works Inc. | Loadcell probe for overload protection |
| CN104297500B (zh) * | 2014-09-05 | 2016-02-10 | 嘉善耐博精密仪器有限公司 | 一种用于硬度测试的方法和装置 |
-
2017
- 2017-04-28 JP JP2017089055A patent/JP6854183B2/ja active Active
-
2018
- 2018-04-25 DE DE102018206429.6A patent/DE102018206429A1/de active Pending
- 2018-04-26 US US15/963,308 patent/US10914661B2/en active Active
- 2018-04-28 CN CN201810399114.6A patent/CN108827807A/zh active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20180313730A1 (en) | 2018-11-01 |
| CN108827807A (zh) | 2018-11-16 |
| JP2018189371A (ja) | 2018-11-29 |
| US10914661B2 (en) | 2021-02-09 |
| DE102018206429A1 (de) | 2018-10-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6854183B2 (ja) | 硬さ試験機及びプログラム | |
| JP4958754B2 (ja) | 硬さ試験機及び硬さ試験機の校正方法 | |
| US8074497B2 (en) | Indentation testing instrument and indentation testing method | |
| US9291538B2 (en) | Hardness tester and program | |
| JP4627705B2 (ja) | 板ばねの荷重測定装置、およびプログラム | |
| US9366609B2 (en) | Hardness tester and method for hardness test | |
| JP6679427B2 (ja) | 硬さ試験機 | |
| US20170122856A1 (en) | Hardness testing apparatus and hardness testing method | |
| JP2013212515A (ja) | 折り曲げ加工機における板厚測定装置 | |
| JP2020071117A (ja) | 表面性状測定方法および表面性状測定装置 | |
| JP7141296B2 (ja) | 硬さ試験機 | |
| CN108168414A (zh) | 一种金属带材弹性极限测量装置 | |
| JP4902371B2 (ja) | 硬さ試験機 | |
| US10823605B2 (en) | Method of evaluating pen input device film, apparatus for evaluating pen input device film, and pen input device film | |
| JP5962287B2 (ja) | 硬さ試験機 | |
| JP7472505B2 (ja) | 材料試験機、及び材料試験機の制御方法 | |
| US1091128A (en) | Machine for measuring directly the hardness of metals. | |
| JP2008232657A (ja) | 硬さ試験機 | |
| JP2014185949A (ja) | 硬さ試験機、及び硬さ試験方法 | |
| JP2015229176A (ja) | ワーク追従装置 | |
| JP7172841B2 (ja) | シート材判別装置及び画像形成装置 | |
| JP2006275924A (ja) | コンタクトヘッドの作業位置のティーチング方法 | |
| JP6866834B2 (ja) | 材料試験機 | |
| JP2020110837A (ja) | ディスタンスブロック調整高さ提示装置及びディスタンスブロック調整高さ提示方法 | |
| KR20220059040A (ko) | 타진 장치 및 이를 포함하는 용접 부품의 불량 검출 장치 및 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200310 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210224 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210309 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210315 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6854183 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |