JP6838528B2 - 基板の製造方法と発光装置の製造方法 - Google Patents

基板の製造方法と発光装置の製造方法 Download PDF

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Description

本開示は、発光装置用基板の製造方法に関する。
近年、発光ダイオード等の発光素子を含む発光装置が種々の用途に使用されており、より安価に提供することが求められている。このような要求に応えるために、例えば、特許文献1には、基板上に発光素子と樹脂シートとを備える発光装置の製造する方法が開示されている。具体的には、格子状の反射材含有部と、前記反射材含有部の格子の開口部を覆う膜状の蛍光体含有部と、を有する樹脂シートを準備し、複数の発光素子が搭載された基板上に、複数の発光素子の各々の周囲を反射材含有部が囲み、かつ上方を蛍光体含有部が覆うように、樹脂シートを被せる。次に、樹脂シートを加熱により軟化させ、複数の発光素子の各々の上面に蛍光体含有部を、側面に反射材含有部又は前記蛍光体含有部を密着させ、基板と樹脂シートを切断することにより、発光装置を製造することが開示されている。
特開2017−076719号公報
しかしながら、今後ますます安価であるとともにより小型軽量の発光装置が求められており、基板上に複数の発光素子を配列して所定の工程を経た後に切断することにより発光装置を製造する場合には、発光素子を所定の位置に精度よく実装した上で所定の位置で精度よく切断することが必要とされる。例えば、特許文献1に記載された発光素子と蛍光体含有部の周りが反射材含有部により覆われた発光装置では、小型化を図るために反射材含有部を最小限の厚さにすることが考えられるが、発光素子と樹脂シートの実装位置に対する切断位置のバラツキが大きくなると、そのバラツキの量を考慮して反射材含有部を厚くする必要があるために小型化が制限される。また、発光素子と樹脂シートの実装位置に対する切断位置のバラツキが大きくなると、製造歩留まりが悪くなり安価にできない。
そこで、本発明に係る実施形態は、基準となる発光素子の実装位置に対して切断位置を高い精度で調整が可能な基板の製造方法を提供することを目的とする。
また、本発明に係る実施形態は、安価でかつ小型の発光装置を提供することを目的とする。
本発明に係る実施形態の基板の製造方法は、発光装置用の基板の製造方法であって、
基体の上面に、第1配線部と第2配線部とを複数形成する配線形成工程と、
前記第1配線部上の少なくとも一部と前記第2配線部上の少なくとも一部とを含む領域上に第1の金属膜を形成して前記第1の金属膜を所定の形状に形成された凸部形成用レジストを用いてエッチングすることにより、前記第1配線上に第1凸部と前記第2配線上に第2凸部とを形成する凸部形成工程と、
前記基板上に第2の金属膜を形成して前記第2の金属膜上にアライメントマーク形成用レジストを用いてエッチングすることにより、アライメントマークを形成するアライメントマーク形成工程と、
を含み、
前記凸部形成用レジストと前記アライメントマーク形成用レジストとを同一の露光工程により露光することを特徴とする。
また、本発明に係る実施形態の発光装置の製造方法は、
上記基板の製造方法と、
前記各単位実装領域において、同一面側にp側電極とn側電極とを備えた発光素子を、前記p側電極を前記第1凸部の上面に接合し、前記n側電極を前記第2凸部に接合する発光素子実装工程と、
を含む。
以上の本発明に係る実施形態の基板の製造方法によれば、基準となる発光素子の実装位置に対して切断位置を高い精度で調整可能な基板の製造方法を提供することができる。
また、本発明に係る実施形態の発光装置によれば、安価でかつ小型の発光装置を提供することができる。
本発明の実施形態1に係る発光装置用の基板の平面図である。 本発明の実施形態1に係る発光装置の断面図である。 本発明の実施形態1に係る発光装置用の基板の製造方法において、準備する基体の、図1のA−A線における切断部端面図である。 実施形態1に係る基板の製造方法において、基体に貫通スリットを形成し配線用金属膜を形成した後の、図1のA−A線における切断部端面図である。 実施形態1に係る基板の製造方法において、配線用金属膜の上に第1レジストを形成した後の、図1のA−A線における切断部端面図である。 実施形態1に係る基板の製造方法において、第1レジストを露光し現像した後の、図1のA−A線における切断部端面図である。 実施形態1に係る基板の製造方法において、現像した第1レジストをマスクとして配線用金属膜をエッチングして第1レジストを除去した後の、図1のA−A線における切断部端面図である。 実施形態1に係る基板の製造方法において、第1配線部と第2配線部上を含む基体15上に凸部用金属膜を形成した後の、図1のA−A線における切断部端面図である。 実施形態1に係る基板の製造方法において、凸部用金属膜の上に第2レジストを形成した後の、図1のA−A線における切断部端面図である 実施形態1に係る基板の製造方法において、第2レジストを露光した後の、図1のA−A線における切断部端面図である。 実施形態1に係る基板の製造方法において、露光した第2レジストを現像した後の、図1のA−A線における切断部端面図である。 実施形態1に係る基板の製造方法において、現像した第2レジストをマスクとして凸部用金属膜をエッチングして第2レジストを除去した後の、図1のA−A線における切断部端面図である。 本発明の実施形態1に係る発光装置の製造方法において、基板上に発光素子を実装する様子を示す、図1のB−B線における切断部端面図である。 実施形態1に係る発光装置の製造方法において、実装した発光素子上に透光性部材を実装する様子を示す、図1のB−B線における切断部端面図である。 実施形態1に係る発光装置の製造方法において、実装した透光性部材を形状加工する様子を示す、図1のB−B線における切断部端面図である。 実施形態1に係る発光装置の製造方法において、実装した発光素子及び透光性部材を覆う被覆部材を形状する様子を示す、図1のB−B線における切断部端面図である。 実施形態1に係る発光装置の製造方法において、発光装置ごとに切断する様子を示す、図1のB−B線における切断部端面図である。 実施形態1に係る発光装置の製造方法により製造された発光装置の斜視図である。 実施形態1に係る基板の変形例を示す平面図である。 実施形態1に係る発光装置の変形例を示す断面図である。
以下、図面を参照しながら本発明に係る実施形態について説明する。
実施形態1.
実施形態1は、それぞれ発光素子が接続される配線を有する単位実装領域が配置された発光装置用の基板10とその製造方法に係る。
<実施形態1の発光装置用基板>
実施形態1の発光装置用の基板10は、基体15の一方の主面に複数の単位実装領域が集合状態で設けられた基板である。単位実装領域は、第1配線部の少なくとも1つと第2配線部の少なくとも1つを含む。図1に示す例では、単位実装領域はそれぞれ、一方の主面上で対向するように設けられた1対の第1配線1と第2配線2とを含み、単位実装領域にはそれぞれ1つの発光素子が実装される。単位実装領域は、6行×3列のマトリクス状に配置されている。そして、単位実装領域が横方向に配列された各行に対応させてアライメントマーク3が基体15の一辺にそって設けられている。アライメントマーク3は、例えば、基体表面に形成された金属膜を、矩形、円形、楕円形等の所定の形状に除去して基体15の表面を露出させた開口部が挙げられる。実施形態1の基板10では、基体15の表面が露出したアライメントマーク3の周りの金属膜を厚くしてアライメントマーク3を囲む金属枠3aを形成して、アライメントマーク3の認識を容易にしている。
以下の説明において、単位実装領域が縦方向に配列された列について、アライメントマーク3に近い側から第1列、第2列、第3列という。
単位実装領域は、1つの行又は1つの列を構成するように配列されていてもよく、更に、複数の行と複数の列を含むマトリクス状に配置されていることが好ましい。また、本明細書において列方向及び行方向のいずれか一方の方向を一方向ということもある。
また、各単位実装領域において、第1配線1は、第1配線部1bと第1配線部1bの上に形成された第1凸部1aとを有し、第2配線2は、第2配線部2bと第2配線部2bの上に形成された第2凸部2aとを有している。この第1凸部1aと第2凸部2aはそれぞれ、発光素子が実装されたとき、発光素子のp側電極31とn側電極32に対向するように設けられている。以上のように、第1配線部1bと第2配線部2bの上にそれぞれ第1凸部1aと第2凸部2aを設けることにより、発光素子を実装する際、第1凸部1aと第2凸部2aとに基づくセルフアライメント効果を利用して第1凸部1aと第2凸部2aに対して発光素子を高い位置精度で実装することが可能になる。
実施形態1の基板10では、さらに、基板10において、アライメントマーク3が縦方向に配列された列と単位実装領域の第1列の間、第1列と第2列の間、第2列と第3列の間及び第3列の外側には、基体15を貫通する貫通スリットSが設けられている。ここで、第1配線部1bと第2配線部2bはそれぞれ貫通スリットSの側面及び基体15の他方の主面(下面)の一部に延在して設けられており、他方の主面の一部に設けられた第1配線部1b及び第2配線部2bにより発光装置の外部接続電極が構成される。また、図1において、破線で示す線は、基板10上にそれぞれ発光素子を含む発光装置を集合状態で形成した後に、切断する切断線C10を示している。以上説明したことから理解されるように、基板10において、単位実装領域は、貫通スリットSと切断線C10に囲まれた領域により定義される。
実施形態1の発光装置用の基板10では、特に、後述する製造方法で作製することにより、第1凸部1a及び第2凸部2aに対してアライメントマーク3が高い位置精度で形成されている。これにより、基板10上に複数の発光装置を集合状態で作製した後、第1凸部1a及び第2凸部2aに対して高い位置精度で形成されたアライメントマーク3を基準に切断位置を設定して切断することにより、実装された発光素子に対して、精度よく切断位置を設定して切断することができる。したがって、実施形態1の発光装置用の基板10を用いて発光素子を含む発光装置を製造すると、発光素子の側面と切断位置との間隔を高い精度で確保でき、発光素子の側面と切断位置との間隔を必要最低限の距離に設定できるので、発光装置の小型化が可能になる。
<実施形態1の基板10を用いて作製した発光装置の構成例>
図2は、実施形態1に係る発光装置用の基板10を用いて作製した発光装置100の構成を示す断面図である。尚、図2において、幅方向をX方向、厚さ方向をY方向、前後(奥行き)方向をZ方向として示しているが、X方向は基板10の行方向であり、Y方向は基板10の列方向であり、Z方向は厚さ(高さ)方向である。
図2の発光装置100は、小片基板101と発光素子30と透光性部材50と被覆部材70とを含む。小片基板101は、基板10が切断されてなり、第1配線部1bの上に第1凸部1aを有してなる第1配線1と、第2配線部2bの上に第2凸部2aを有してなる第2配線2とを備える。発光素子30は、同一面側にp側電極31とn側電極32とを有してなり、そのp側電極31が第1凸部1aに導電性接着部材20を介して接続され、n側電極32が第2凸部2aに導電性接着部材20を介して接続されるようにフリップチップ実装されている。尚、発光素子30において、p側電極31とn側電極32とが形成された面側の反対側の表面が発光面である。また、発光素子30は、X方向に長くY方向に短い発光ダイオードチップである。透光性部材50は、X方向に長くY方向に短い直方体状の小片であり、例えば、発光素子30より一回り大きくなっており、発光素子30の発光面に導光部材40を介して接合される。透光性部材50は、母材55中に第1蛍光体61と第2蛍光体62とを含む波長変換物質60を含有している。被覆部材70は、母材75中に白色顔料77を含む反射性部材であり、小片基板101上において発光素子30の側面、導光部材40の側面及び透光性部材50の側面を被覆している。被覆部材70は、発光素子30及び透光性部材50等の側面を全周にわたって包囲している。また、透光性部材50の上面と被覆部材70の上面は、実質的に同一面を構成している。
以上のように構成された発光装置100は、発光素子30及び透光性部材50から側方に出射される光が被覆部材70によって反射されて上方(前方)から出射されるので上方(前方)からの光の取り出し効率を高くできる。このように構成される発光装置100では、被覆部材70を透過する光量を抑えて被覆部材70によって反射される光の光量を大きくするために、被覆部材70を一定以上の厚さに形成する必要がある。このとき、発光素子30及び透光性部材50の実装位置に対する切断位置の位置精度が悪いと、切断位置の位置精度のバラツキを考慮して被覆部材70を必要以上の厚さに形成する必要があり、小型化に制限がある。しかしながら、実施形態1の発光装置用の基板10を用いて発光装置100を製造すると、発光素子30の実装位置に対する切断位置の位置精度を高くできるので、被覆部材70を必要以上の厚さに形成する必要がなく、小型の発光装置を製造することが可能になる。
<実施形態1の発光装置用基板の製造方法>
以下、実施形態1の発光装置用基板の製造方法について説明する。
(1)基体準備工程
まず、基板10上に形成する発光装置の個数及び発光装置の最終形状に基づいて形状が設定された基体15を準備する(図3A)。具体的には、基体15の平面形状は、発光装置の取り個数及び個々の発光装置の平面形状に基づいて設定され、基体の厚さは発光装置の高さに基づいて設定される。基体15は、樹脂若しくは繊維強化樹脂、セラミックス、ガラス等により構成することができる。樹脂若しくは繊維強化樹脂としては、エポキシ、ガラスエポキシ、ビスマレイミドトリアジン(BT)、ポリイミドなどが挙げられる。セラミックスとしては、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、酸化ジルコニウム、窒化ジルコニウム、酸化チタン、窒化チタン、若しくはこれらの混合物などが挙げられる。基体15は、可撓性を有していてもよく、例えば、それぞれ可撓性を有する、ポリイミド、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、液晶ポリマー、シクロオレフィンポリマーなどを用いて構成することができる。なお、これらの基体のうち、特に発光素子の線膨張係数に近い物性を有する基体を使用することが好ましい。これにより、発光素子が基体の熱膨張係数との差によって破壊されるおそれを低減することができる。基体15の線膨張係数は、15ppm/℃以下であることが好ましく、10ppm/℃以下であることがより好ましい。基体15の線膨張係数の下限値については、例えば1ppm/℃以上である。尚、発光素子の線膨張係数は、用いる半導体材料の種類等によって変動するが、発光素子において、支配的な体積を有する材料の線膨張係数に近似する。従って、発光素子が、サファイア基板を伴う場合は、通常、サファイア基板の体積が支配的であるために、その線膨張係数はサファイア基板の線膨張係数に近似し、例えば、7.7ppm/℃程度である。発光素子が、サファイア基板を伴わず、半導体層のみで構成される場合には、その線膨張係数は用いる半導体層の線膨張係数に近似し、GaN系半導体層からなる発光素子では、例えば、5.5ppm/℃程度である。また、基体15の線膨張係数が、10ppm/℃以下であることにより、基体が熱により変形しにくくなる。これにより、基体上に形成する第1凸部、第2凸部、及び/又は、アライメントマークの位置精度を向上させることができる。
(2)溝加工工程
次に、例えば、ルーター加工及び/又はレーザー加工を用いて、アライメントマークが縦方向に配列される領域と第1列の単位実装領域が配列される領域の間、第1列の単位実装領域が配列される領域と第2列の実装領域が配列される領域の間、第2列の実装領域が配列される領域と第3列の実装領域が配列される領域の間及び第3列の実装領域の外側に、基体15を貫通する貫通スリットSを形成してもよい。例えば、貫通スリットSは、単位実装領域の列のうち最も外側に位置する列の外側及び単位実装領域の列の間にそれぞれ形成することが好ましい。このようにすることで、単位実装領域の両側に貫通スリットSが位置するので基体を切断することが容易になる。貫通スリットを備える場合には、第1配線部及び第2配線部をそれぞれ、貫通スリットの内面を経て基体の下面に延在するように形成することが好ましい。このようにすることで、第1配線部及び第2配線部と基体との接合強度が向上する。尚、貫通スリットSの両端は基体の側面からは離れており、貫通スリットSが形成された後も、複数の単位実装領域は、基体15の外周部により支持されている。
(3)配線用金属膜形成工程
次に、第1配線部及び第2配線部を形成するための配線用金属膜11を、基体15の一方の主面(上面)、他方の主面(下面)及び貫通スリットSの側面を含む基体15の表面に形成する(図3B)。実施形態1の製造方法では、配線用金属膜11は、図3Bに示すように、アライメントマークを形成する領域を含む基体15の表面全体に形成する。配線用金属膜11は、例えば、無電解銅メッキ層の上に電解銅メッキ層を形成することにより、所定の厚さに形成する。配線用金属膜11の厚さは、製造する発光装置に応じて適宜設定されるが、例えば、5μm〜30μm、好ましくは、10μm〜25μm、より好ましくは、15μm〜20μmの厚さに形成する。配線用金属膜11の材料は、製造する発光装置に応じて適宜選択することができるが、好ましくは、銅、ニッケル等の金属材料から選択される。
(4)第1フォトリソグラフィー工程
4−1.第1レジスト形成工程
まず、配線用金属膜11上全体にレジストR11を塗布する(図3C)。レジストR11としては、例えば、露光した部分が硬化するドライフィルムレジストを用いることができる。ドライフィルムレジストとしては、例えば、キャリアフィルム、感光層、又は、カバーフィルムからなり、キャリアフィルムはPET、感光層はアクリル系樹脂、カバーフィルムはポリエチレンを用いることができる。キャリアフィルム及びカバーフィルムはそれぞれ、例えば、20〜50μmの厚さのものを使用することができる。
4−2.第1露光工程
次に、例えば、第1配線部1b及び第2配線部2bの配線パターンデータに基づいてレジストR11に直接光を照射して、第1配線部1b及び第2配線部2bに対応した部分(第1配線部1b及び第2配線部2bの上に位置する部分)を硬化させる。ここでは、配線パターンデータに基づいてレジストR11に直接光を照射する直接描画装置による例を示したが、第1配線部1b及び第2配線部2bに対応したパターンが形成されたマスクを介して露光するようにしてもよい。
4−3.第1現像工程
次に、未硬化のレジストR11を除去する。例えば、現像液としては、トリクロロエタン、NaOH水溶液を用いることができる。この現像により、第1配線部1b及び第2配線部2bのパターンに対応したパターン形成されたレジストR11が形成される(図3D)。
4−4.配線用金属膜除去工程
次に、パターン形成されたレジストR11を用いて配線用金属膜11をエッチングすることにより、第1配線部1b及び第2配線部2bを形成する(図3E)。単位実装領域が一方向に配列されるように、第1配線部と第2配線部とを形成することが好ましい。このようにすることで、基板における小片基板の取り数を増加させやすくなる。また、単位実装領域を一方向に配置した列が一方向に直交する方向に複数並置されるように、第1配線部と前記第2配線部とを形成することが好ましい。このようにすることで、更に、基板における小片基板の取り数を増加させやすくなる。尚、本明細書において直交とは、90±5°を意味する。
アライメントマーク3が形成される部分は、配線用金属膜11の一部を除去して開口部を形成することにより、基体15が露出した部分とすることが好ましい。これにより、アライメントマーク3を基体15が露出した部分とすることができるため、後述する第3工程または第5工程において基体の露出部分とそれを囲む金属枠3aとの外観等の違いにより、良好に装置の認識を行うことができる。
以上の第1フォトグラフィー工程により、第1配線部1b及び第2配線部2bが形成される。以上の説明では、露光して除去した後に露光部分が残る、いわゆるネガタイプを使用した例を示したが、露光して除去した後に露光部分が除去されるポジタイプのレジストを用いてもよい。
(5)凸部用金属膜形成工程
次に、第1凸部、第2凸部及びアライメントマークを囲む金属枠を形成するための凸部用金属膜12を、基体15の一方の主面、他方の主面及び貫通スリットの側面を含む基体15の表面に形成する(図3F)。凸部用金属膜12は、図3Fに示すように、第1配線部1b及び第2配線部2bが形成されていない部分については、基体15の表面に直接形成する。第1配線部1b及び第2配線部2bが形成されている部分については、第1配線部1b及び第2配線部2bを介して形成する。尚、本実施形態1の製造方法では、凸部用金属膜12をアライメントマークが形成される領域を含む基体15の表面全体に形成するようにしたが、凸部用金属膜とは別の工程により、アライメントマークを囲む金属枠用の金属膜を形成するようにしてもよい。凸部用金属膜とは別に金属枠用の金属膜を形成する場合には、凸部用金属膜を第1の金属膜といい、金属枠用の金属膜を第2の金属膜という。言い換えると、実施形態1の凸部用金属膜形成工程における凸部用金属膜12は、第1の金属膜と第2の金属膜とを同一の金属膜形成工程により形成したものである。また、凸部用金属膜は、例えば無電解銅めっき層の上に電界銅めっきする事により、所定の厚さに形成する。凸部用金属膜12は、例えば8μm〜50μm、好ましくは10μm〜40μm、より好ましくは15μm〜30μmの厚さに形成する。凸部用金属膜12の材料は、製造する発光装置に応じて適宜選択することができるが、好ましくは、銅、ニッケル等の金属材料から選択される。
(6)第2フォトリソグラフィー工程
6−1.第2レジスト形成工程
まず、凸部用金属膜12の上全体にレジストR12を塗布する(図3G)。レジストR12としては、例えば、露光した部分が硬化するドライフィルムレジストを用いることができる。ドライフィルムレジストとしては、上記と同様の部材を用いることができる。第1凸部、第2凸部を形成するためのレジストを凸部形成用レジストとし、第2凸部を形成するためのレジストをアライメントマーク形成用レジストとすると、レジストR12は、凸部形成用レジストとアライメントマーク形成用レジストとを備える。
6−2.第2露光工程
次に、例えば、第1凸部、第2凸部及びアライメントマークを囲む金属枠のパターンデータに基づいてレジストR12に直接光を照射して、第1凸部、第2凸部及び金属枠に対応した部分を硬化させる(図3H)。このレジストR12に直接光を照射する直接描画は、第1凸部のパターンに対応する照射と第2凸部のパターンに対応する照射との間、第1凸部及び/または第2凸部のパターンに対応する照射と金属枠3aのパターンに対応する照射の間で、例えば、照射位置の再設定を行うことなく、一連の連続した光照射により行う。換言すると、凸部形成用レジストとアライメントマーク形成用レジストとを同一の露光工程により露光する。尚、実施形態1の製造方法では、直接描画による例を示したが、第1凸部、第2凸部及び金属枠に対応したパターンが一体で形成されたフォトマスクを介して露光するようにしてもよい。
6−3.第2現像工程
次に、未硬化のレジストR12を除去する(図3I)。例えば、現像液としては、上記と同様の部材を用いることができる。この現像により、第1凸部1a、第2凸部2a及び金属枠3aに対応したパターンに形成されたレジストR12が形成される。
6−4.凸部用金属膜除去工程
次に、パターン形成されたレジストR12を用いて凸部用金属膜12をエッチングすることにより、第1凸部1a、第2凸部2a及び金属枠3aを形成する(図3J)。尚、本実施形態1の製造方法では、レジストR12を用いて第1凸部1a、第2凸部2a及び金属枠3aを形成したが、第1凸部、第2凸部を形成するための凸部形成用レジストと、金属枠3aを形成するためのアライメントマーク形成用レジストが別のレジストでもよい。ただし、凸部形成用レジストとアライメントマーク形成用レジストとを同一の露光工程により露光している。
以上の第2フォトグラフィー工程により、第1凸部1a、第2凸部2a及び金属枠3aが形成される。この第2フォトグラフィー工程では、第2露光工程において、第1凸部1aのパターンに対応する照射、第2凸部2aのパターンに対応する照射及び金属枠3aのパターンに対応する照射を、一連の連続した光照射により行っているので、アライメントマークを第1凸部1a及び第2凸部2aに対して高い位置精度で形成することができる。また、実施形態1の製造方法において、第1凸部1a、第2凸部2a及び金属枠3aに対応したパターンが一体で形成されたフォトマスクを介して露光するようにした場合も、同様に、アライメントマークを第1凸部1a及び第2凸部2aに対して高い位置精度で形成することができる。単位実装領域が一方向に配列している場合には、アライメントマークを単位実装領域にそれぞれ対応するように一方向に形成することが好ましい。このようにすることで、アライメントマークを狭いスペースでも形成しやすくなる。
以下、実施形態1の発光装置100の製造方法について図4A〜図4Eを参照しながら説明する。図4A〜図4Eは、単位実装領域が配列された基板10の列方向の端面図により示しており、それぞれ第1配線1が図示されている。
<第1工程(発光素子実装工程)>
第1工程では、図4Aに示すように、基板10上に発光素子30をフリップチップ実装する。具体的には、ペースト状態の導電性接着部材20を第1凸部1a上と第2凸部2a上とに塗布し、発光素子30のp側電極31とn側電極32とがそれぞれ第1凸部1aと第2凸部2aに対向するように発光素子30を載置して、導電性接着部材20をリフロー炉などで加熱して溶融させた後、冷却して固化させる。このとき、第1凸部1aと第2凸部2aとによるセルフアライメント効果により、第1凸部1aと第2凸部2aに対して、高い精度で発光素子30が実装される。ここで、導電性接着部材20は、例えば、半田である。
<第2工程(透光性部材接着工程)>
第2工程では、図4Bに示すように、透光性部材50を発光素子30上にそれぞれ接着する。具体的には、発光素子30の上に液状の導光部材40を塗布して、その上に透光性部材50を載置して、導光部材40を加熱処理により硬化させる。以下、本明細書における「液状」は、ゾル状、スラリー状を含むものとする。
<第3工程(透光性部材加工工程)>
第3工程では、図4Cに示すように、透光性部材50の側面を削って透光性部材50を所定の寸法に加工する。具体的には、例えば、所定の厚さの回転刃を回転させながらX方向及びY方向に走査することにより、例えば、隣接する透光性部材50の一方の透光性部材50の側面と他方の透光性部材50の側面とを同時に研削して、透光性部材50を発光装置ごとに所定の形状に加工する。この回転刃を走査する際、アライメントマークを基準に回転刃を位置あわせするが、実施形態1の基板においてはアライメントマークが第1凸部及び第2凸部に対して高い位置精度で形成されており、第1凸部及び第2凸部に対してセルフアライメント効果により位置精度よく発光素子が実装されるので、発光素子に対して精度よく回転刃を位置あわせして回転刃を走査できる。したがって、透光性部材50を実装された発光素子に対して、精度よく加工することができる。
<第4工程(被覆部材形成工程)>
第4工程では、図4Dに示すように、例えば、基板上に、発光素子30及び透光性部材50の周囲に、液状の被覆部材70を充填して加熱することにより硬化させる。これにより、基板上で透光性部材50及び発光素子30を被覆する光反射性の被覆部材70を基板上に形成する。このとき、例えば、透光性部材50が被覆部材70内に完全に埋め込まれるように被覆部材70を形成して硬化させた後、研削若しくはブラストなどによって透光性部材50の上面を被覆部材70から露出させる。ここで、被覆部材70は、アライメントマーク3が露出するように形成することが好ましい。以上のようにして、前記発光素子の間に、発光素子30が埋設されアライメントマーク3が露出する被覆部材を形成する。
<第5工程(個片化工程)>
第5工程は、図4Eに示すように、透光性部材50の側面及び発光素子30の側面を所定の幅で被覆する被覆部材70が形成されるように基板及び被覆部材70を切断ブレードにより切断する。基板及び被覆部材70を切断する際、アライメントマークを基準に切断ブレードを位置決めして切断位置を設定するが、実施形態1の基板10においてはアライメントマークが第1凸部1a及び第2凸部2aに対して高い位置精度で形成されており、第1凸部及び第2凸部に対してセルフアライメント効果により位置精度よく発光素子が実装されるので、発光素子30、任意に透光性部材50に対して精度よく、個々の発光装置に切断することができる。単位実装領域が一方向に配置されている場合には、一方向に直交する方向に切断して、少なくとも一つの発光素子を含む個々の発光装置に分離する。
以上、実施の形態1に係る発光装置100の製造方法では、アライメントマーク3が第1凸部1a及び第2凸部2aに対して高い位置精度で形成された基板10を用いて発光装置100を製造しているので、発光素子30の実装位置に対する切断位置の位置精度を高くできる。これにより、被覆部材70を必要以上の厚さに形成する必要がなく、小型の発光装置を製造することが可能になる。
また、アライメントマーク3が、発光素子30が実装される第1凸部1a及び第2凸部2aに対して高い位置精度で形成され、該アライメントマーク3に対して発光素子30の上に搭載された透光性部材50を成形することで、成形後の透光性部材50と切断位置の位置精度を高くできる。これにより、例えば、図4Fに示すように、透光性部材50の長手方向の側面を覆う被覆部材70の厚さを必要以上の厚さにする必要がなく、薄型の発光装置を製造することができる。
実施の形態1に係る発光装置100の基板及び発光装置100の製造方法では、アライメントマーク3を切断線C10の間に配置するようにした。しかしながら、実施の形態1に係る発光装置100の基板及び発光装置100の製造方法では、アライメントマーク3を切断線C10上、具体的には例えば、図5に示すように、アライメントマーク3の長手方向の中心線と切断線C10とが一致するようにアライメントマーク3を配置するようにしてもよい。このようにすると、アライメントマーク3を基準にして精度よく切断位置を設定することができる。
実施の形態1に係る発光装置100の基板及び発光装置100の製造方法において、アライメントマーク3は各第1配線及び第2配線の行に1つずつ設けられているが、例えば、複数行について1つ設けられていてもよい。これにより、露光のパターンを簡易にすることが可能となる。この時、1つのアライメントマーク3を認識して装置を位置決めした後に、複数行に対して加工を行う。このようにすることで、基板の複数行に対してアライメントマーク3の認識及び装置の位置決めの回数を減らすことができ、量産性を高めることができる。
実施の形態1に係る発光装置100の基板及び発光装置100の製造方法において、アライメントマーク3は、金属枠に囲われた凹部であるが、凸部用金属膜又は第2の金属膜によって形成された凸部であってもよい。ただし、アライメントマーク3は凹部であることが、アライメントマーク3の剥離の防止や密着性等の観点から好ましい。
実施の形態1に係る発光装置100は、一つの発光素子30を有するが、複数の発光素子30が発光素子に搭載されてもよい。これにより、一つの発光装置から取り出すことができる光の量を増やすことができる。この場合、基板は、複数の発光素子に対応する第1配線、第2配線、第1凸部及び第2凸部を備えることがそれぞれ好ましい。
実施形態1では、図2に示すように、実施の形態1に係る発光装置100は、透光性部材の短手方向において被覆部材の側面と小片基板の側面とは異なる平面上に位置するようにし、発光装置の側面において被覆部材の側面と小片基板の側面の間に段差が形成されるようにした。しかしながら、図6の変形例に示すように、透光性部材の短手方向(x軸方向)において被覆部材の側面と小片基板の側面とを略同一平面上に位置するようにして発光装置の側面に段差が形成されないようにしてもよい。また、図6の変形例の発光装置200では、例えば、小片基板101の側面に第1配線部及び第2配線部を形成することなく、小片基板101に貫通孔を形成し、その貫通孔に形成した貫通配線により小片基板101の上面に形成した第1配線1及び第2配線2をそれぞれ小片基板101の下面に形成した第1配線1(第1外部接続電極)及び第2配線2(第2外部接続電極)に接続するようにしている。このように、透光性部材の短手方向(x軸方向)において被覆部材の側面と小片基板の側面とを略同一平面上に位置するようにすると、発光装置を小型化することができる。図6において、1c及び2cの符号を付して示す部材は、貫通孔に充填された樹脂である。図6の変形例の発光装置200のように、被覆部材の側面と小片基板の側面とを略同一平面上に位置するようにするためには、例えば、個片化工程において、被覆部材の側面と小片基板の側面を切断ブレードにより連続して切断するようにすればよい。本明細書において略同一平面上に位置するとは、±10μm程度の段差は許容されることを意味する。
1…第1配線
1a…第1凸部
2…第2配線
2a…第2凸部
3…アライメントマーク
10…基板
15…基体
20…導電性接着部材
30…発光素子
40…導光部材
50…透光性部材
55…透光性部材の母材
60…波長変換物質
61…第1蛍光体
62…第2蛍光体
70…光反射性の被覆部材
75…光反射性の被覆部材の母材
77…白色顔料
100…発光装置
101…小片基板
151…基体(個片化後)
S…貫通スリット

Claims (16)

  1. 発光装置用の基板の製造方法であって、
    基体の上面に、配線用金属膜を形成して該配線用金属膜をエッチングすることにより第1配線部と第2配線部とを複数形成するとともにアライメントマークを形成する部分に基体の表面を露出させる開口部を形成する配線形成工程と、
    前記第1配線部上の少なくとも一部と前記第2配線部上の少なくとも一部とを含む領域上に第1の金属膜を形成して前記第1の金属膜を所定の形状に形成された凸部形成用レジストを用いてエッチングすることにより、前記第1配線上に第1凸部と前記第2配線上に第2凸部とを形成する凸部形成工程と、
    前記開口部により露出させた基体の表面及び前記開口部の周りの配線用金属膜上に第2の金属膜を形成し、該第2の金属膜上に、枠形状のアライメントマーク形成用レジストを、枠形状の内周が前記開口部の開口端より内側に位置し、枠形状の外周が前記開口部の開口端の外側に位置するように前記開口部の外周端に跨って形成して、前記第2の金属膜をエッチングすることにより、前記内周の内側に前記基体の表面を露出させたアライメントマークとアライメントマークを囲む金属枠とを形成するアライメントマーク形成工程と、
    を含み、
    前記凸部形成用レジストと前記アライメントマーク形成用レジストとを同一の露光工程により露光することを特徴とする基板の製造方法。
  2. 前記第1の金属膜と前記第2の金属膜とを同一の金属膜形成工程により形成することを特徴とする請求項1に記載の基板の製造方法。
  3. 前記第1配線部の少なくとも1つと前記第2配線部の少なくとも1つを含む単位実装領域が一方向に配列されるように、前記第1配線部と前記第2配線部とを形成する請求項1または2に記載の基板の製造方法。
  4. 前記アライメントマークを、前記一方向に配列された単位実装領域にそれぞれ対応するように前記一方向に形成する請求項3に記載の基板の製造方法。
  5. 前記単位実装領域を前記一方向に配置した列が前記一方向に直交する方向に複数並置されるように、前記第1配線部と前記第2配線部とを形成する請求項3又は4に記載の基板の製造方法。
  6. 前記列のうちの最も外側の列の外側及び前記列の間にそれぞれ貫通スリットを形成する工程を含む請求項5に記載の基板の製造方法。
  7. 前記第1配線部及び前記第2配線部をそれぞれ、前記貫通スリットの内面を経て基体の下面に延在するように形成する請求項6に記載の基板の製造方法。
  8. (1)発光装置用の基板の製造工程であって、
    (i)基体の上面に、第1配線部と第2配線部とを複数形成する配線形成工程と、
    (ii)前記第1配線部上の少なくとも一部と前記第2配線部上の少なくとも一部とを含む領域上に第1の金属膜を形成して前記第1の金属膜を所定の形状に形成された凸部形成用レジストを用いてエッチングすることにより、前記第1配線上に第1凸部と前記第2配線上に第2凸部とを形成する凸部形成工程と、
    (iii)前記基体上に第2の金属膜を形成して前記第2の金属膜上にアライメントマーク形成用レジストを用いてエッチングすることにより、アライメントマークを形成するアライメントマーク形成工程と、
    を含み、
    前記第1配線部の少なくとも1つと前記第2配線部の少なくとも1つを含む単位実装領域が一方向に配列されるように、前記第1配線部と前記第2配線部とを形成し、
    前記凸部形成用レジストと前記アライメントマーク形成用レジストとを同一の露光工程により露光する基板の製造工程と、
    (2)前記各単位実装領域において、同一面側にp側電極とn側電極とを備えた発光素子を、前記p側電極を前記第1凸部の上面に接合し、前記n側電極を前記第2凸部に接合する発光素子実装工程と、
    (3)透光性部材を前記発光素子上にそれぞれ接着する透光性部材接着工程と、
    (4)前記透光性部材を前記アライメントマークの位置に基づいて、切断ブレードを位置決めし、前記透光性部材の側面を削って所定の形状に加工する透光性部材加工工程と、
    (5)前記透光性部材加工工程後、前記アライメントマークの位置に基づいて切断ブレードを位置決めし、前記一方向に直交する方向に前記基板を切断し、少なくとも一つの前記発光素子を含む個々の発光装置に分離する分離工程と、
    を含む発光装置の製造方法。
  9. 前記第1の金属膜と前記第2の金属膜とを同一の金属膜形成工程により形成することを特徴とする請求項8に記載の発光装置の製造方法。
  10. 前記アライメントマークは、前記基体を露出させて設けられた開口部である、請求項8または9に記載の発光装置の製造方法。
  11. 前記アライメントマークを、前記一方向に配列された単位実装領域にそれぞれ対応するように前記一方向に形成する請求項8〜10のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。
  12. 前記単位実装領域を前記一方向に配置した列が前記一方向に直交する方向に複数並置されるように、前記第1配線部と前記第2配線部とを形成する請求項8〜11のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。
  13. 前記列のうちの最も外側の列の外側及び前記列の間にそれぞれ貫通スリットを形成する工程を含む請求項12に記載の発光装置の製造方法。
  14. 前記第1配線部及び前記第2配線部をそれぞれ、前記貫通スリットの内面を経て基体の下面に延在するように形成する請求項13に記載の発光装置の製造方法。
  15. 前記発光素子の電極と前記第1凸部と第2凸部とを半田で接合する、請求項8〜14のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。
  16. 前記発光素子の間に、前記発光素子が埋設され前記アライメントマークが露出するように被覆部材を形成する被覆部材形成工程をさらに含む、請求項請求項8〜15のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2022044709A1 (ja) * 2020-08-31 2022-03-03

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05261971A (ja) * 1992-03-18 1993-10-12 Kyocera Corp 画像装置
JP4477213B2 (ja) 2000-10-04 2010-06-09 古河電気工業株式会社 回路基板及び回路基板の製造方法
JP4657689B2 (ja) 2004-12-01 2011-03-23 新藤電子工業株式会社 Cofテープの製造方法
JP2006237088A (ja) 2005-02-22 2006-09-07 Sumitomo Metal Electronics Devices Inc 多層プリント配線板の製造方法
JP4777731B2 (ja) * 2005-03-31 2011-09-21 富士通セミコンダクター株式会社 半導体装置の製造方法
JP2010192606A (ja) * 2009-02-17 2010-09-02 Toshiba Lighting & Technology Corp 発光装置
KR101537795B1 (ko) * 2009-03-31 2015-07-22 서울반도체 주식회사 Led 패키지 제조 방법 및 그 led 패키지
JP5443334B2 (ja) * 2010-12-30 2014-03-19 株式会社エレメント電子 実装基板およびその製造方法
US9673363B2 (en) * 2011-01-31 2017-06-06 Cree, Inc. Reflective mounting substrates for flip-chip mounted horizontal LEDs
JP5830347B2 (ja) 2011-10-25 2015-12-09 日本特殊陶業株式会社 配線基板の製造方法
EP2775808A4 (en) * 2011-10-31 2015-05-27 Meiko Electronics Co Ltd METHOD FOR MANUFACTURING A SUBSTRATE HAVING AN INTEGRATED COMPONENT, AND SUBSTRATE HAVING AN INTEGRATED COMPONENT MANUFACTURED BY SAID METHOD
JP6096413B2 (ja) * 2012-01-25 2017-03-15 新光電気工業株式会社 配線基板、発光装置及び配線基板の製造方法
JP2014011403A (ja) * 2012-07-02 2014-01-20 Shindo Denshi Kogyo Kk 配線基板の製造方法
US9214610B2 (en) * 2012-08-24 2015-12-15 Tsmc Solid State Lighting Ltd. Method and apparatus for fabricating phosphor-coated LED dies
US9287472B2 (en) 2013-06-27 2016-03-15 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing the same
JP6171749B2 (ja) * 2013-09-05 2017-08-02 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
JP6277860B2 (ja) * 2013-07-19 2018-02-14 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
JP6244130B2 (ja) * 2013-07-26 2017-12-06 新光電気工業株式会社 発光素子搭載用パッケージ及び発光素子パッケージ
WO2015053706A1 (en) * 2013-10-08 2015-04-16 Heptagon Micro Optics Pte. Ltd. Partial spacers for wafer-level fabricated modules
JP6202566B2 (ja) * 2013-10-29 2017-09-27 日東電工株式会社 光電気混載基板およびその製法
JP2015119096A (ja) * 2013-12-19 2015-06-25 株式会社タムラ製作所 発光装置
US9437793B2 (en) * 2014-02-21 2016-09-06 Xiamen Sanan Optoelectronics Technology Co., Ltd. Package support, fabrication method and LED package
JP6305168B2 (ja) * 2014-04-07 2018-04-04 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP6318844B2 (ja) * 2014-05-20 2018-05-09 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP2016018806A (ja) 2014-07-04 2016-02-01 新光電気工業株式会社 配線基板、配線基板の製造方法
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