JP6822555B2 - モジュール - Google Patents
モジュール Download PDFInfo
- Publication number
- JP6822555B2 JP6822555B2 JP2019513625A JP2019513625A JP6822555B2 JP 6822555 B2 JP6822555 B2 JP 6822555B2 JP 2019513625 A JP2019513625 A JP 2019513625A JP 2019513625 A JP2019513625 A JP 2019513625A JP 6822555 B2 JP6822555 B2 JP 6822555B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- component
- sealing resin
- resin layer
- main surface
- shield
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 245
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 239
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 239
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 73
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 307
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 12
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 12
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 12
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 7
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 5
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 3
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000000748 compression moulding Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 238000001721 transfer moulding Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/552—Protection against radiation, e.g. light or electromagnetic waves
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/31—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
- H01L23/3107—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
- H01L23/3121—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed a substrate forming part of the encapsulation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/065—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L25/0652—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the devices being arranged next and on each other, i.e. mixed assemblies
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/065—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L25/0655—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the devices being arranged next to each other
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/16—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/18—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K9/00—Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/12—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
- H01L2224/13—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/13001—Core members of the bump connector
- H01L2224/13099—Material
- H01L2224/131—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/16227—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the bump connector connecting to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
- H01L2224/8119—Arrangement of the bump connectors prior to mounting
- H01L2224/81192—Arrangement of the bump connectors prior to mounting wherein the bump connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
- H01L2224/818—Bonding techniques
- H01L2224/81801—Soldering or alloying
- H01L2224/81815—Reflow soldering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/10—Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/12—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
- H01L24/13—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/10—Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L24/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15313—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a land array, e.g. LGA
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
- H01L2924/1815—Shape
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/19—Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/191—Disposition
- H01L2924/19101—Disposition of discrete passive components
- H01L2924/19106—Disposition of discrete passive components in a mirrored arrangement on two different side of a common die mounting substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3025—Electromagnetic shielding
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
Description
本発明のさらに他のモジュールは、基板と、前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層とを備え、前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記封止樹脂層の一の側面から他の側面にまで前記第1部品と前記第2部品との間を通るように形成されており、前記シールド層は、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記凹みで分けられることにより形成された、前記第1部品に重なる第1領域と前記第2部品に重なる第2領域のうち、一方には設けられていないことを特徴としている。この構成によれば、第1部品と第2部品との間に設けられた凹みには、シールド層が設けられていない。このため、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品が発した不要電磁波が、封止樹脂層に形成された凹みから効果的にモジュール外に出て行き、第1部品及び第2部品のうちの他方の部品に到達しにくくなる。これにより、他方の部品が、一方の部品から発生した不要電磁波の影響を受けにくくなり、安定した動作を行うことが可能になる。また、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品から発生した不要電磁波が第1部品及び第2部品のうちの他方の部品に到達しにくくなり、他方の部品は、一方の部品から発生した不要電磁波の影響を受けにくくなり、安定した動作を行うことが可能になる。また、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品から発生した不要電磁波が凹み形成面における凹みで分けられる第1領域及び第2領域のうちのシールド層が設けられていない領域からもモジュール外に出て行き、第1部品及び第2部品のうちの他方の部品により到達しにくくなり、他方の部品はより安定した動作を行うことが可能になる。
本発明の第1実施形態に係るモジュール1について図1を参照して説明する。なお、図1(a)は第1実施形態に係るモジュール1の平面図であり、図1(b)は図1(a)のA−A断面図である。
次に、モジュール1の製造方法について説明する。
本発明の第1実施形態の変形例1に係るモジュール1Aについて図2を参照して説明する。なお、図2は第1実施形態の変形例1に係るモジュール1Aの平面図である。
本発明の第2実施形態に係るモジュール1Bについて図3を参照して説明する。なお、図3は第2実施形態に係るモジュール1Bの断面図である。
本発明の第3実施形態に係るモジュール1Cについて図4を参照して説明する。なお、図4は第3実施形態に係るモジュール1Cの平面図である。
本発明の第4実施形態に係るモジュール1Dについて図5を参照して説明する。なお、図5は第4実施形態に係るモジュール1Dの平面図である。
本発明の第5実施形態に係るモジュール1Eについて図6を参照して説明する。なお、図6(a)は第5実施形態に係るモジュール1Eの平面図であり、図6(b)は図6(a)のB−B断面図である。
本発明の第6実施形態に係るモジュール1Fについて図7を参照して説明する。なお、図7(a)は第6実施形態に係るモジュール1Fの平面図であり、図7(b)は図7(a)のC−C断面図である。
本発明の第7実施形態に係るモジュール1Gについて図8を参照して説明する。なお、図8(a)は第7実施形態に係るモジュール1Gの平面図であり、図8(b)は図8(a)のD−D断面図である。
本発明の第7実施形態の変形例1に係るモジュール1Hについて図9を参照して説明する。なお、図9は第7実施形態の変形例1に係るモジュール1Hの平面図である。
本発明の第8実施形態に係るモジュール1Iについて図10を参照して説明する。なお、図10(a)は第8実施形態に係るモジュール1Iの平面図であり、図10(b)は図10(a)のE−E断面図である。
本発明の第9実施形態に係るモジュール1Jについて図11を参照して説明する。なお、図11は第9実施形態に係るモジュール1Jの断面図である。
本発明の第10実施形態に係るモジュール1Kについて図12を参照して説明する。なお、図12(a)は第10実施形態に係るモジュール1Kの平面図であり、図12(b)は図12(a)のF−F断面図である。
2 基板
3 第1部品
4,4C,4D 第2部品
5,5A〜5D,5H,22 封止樹脂層
6,6E〜6J,6K シールド層
6K1 第1シールド部
6K2 第1シールド部
7B ランド電極
15,15A〜15D,15H,15K1 凹み
15K2 貫通孔
30 シールド部品
Claims (5)
- 基板と、
前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、
前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、
前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層と
を備え、
前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、
前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、
前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記第1部品の外側に、前記第1部品と前記第2部品との間を通って、当該第1部品の全周を囲むように形成されており、
前記基板の前記一方主面には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記凹みの側壁面のうちの前記第1部品側の側壁面より内側であって、前記第1部品と前記第2部品との間に、実装されたシールド部品をさらに備え、
前記シールド部品は、当該シールド部品の前記一方主面に対向する面から、当該シールド部品の当該対向する面と反対側の面にかけて導通部を有しており、当該導通部は前記シールド部品の前記対向する面側で前記基板に形成されたグランド電極と繋がっており、
前記封止樹脂層には、さらに、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記シールド部品と重なる領域の少なくとも一部には、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記シールド部品の前記反対側の面に向かって、前記シールド部品に到達する貫通孔が形成されており、
前記シールド層は、当該貫通孔において、前記シールド部品と繋がっている
ことを特徴とするモジュール。 - 基板と、
前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、
前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、
前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層と
を備え、
前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、
前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、
前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記第1部品の外側に、前記第1部品と前記第2部品との間を通って、当該第1部品の全周を囲むように形成されており、
前記シールド層は、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記凹みで分けられることにより形成された、前記第1部品に重なる第1領域と前記第2部品に重なる第2領域のうち、一方には設けられていないことを特徴とするモジュール。 - 基板と、
前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、
前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、
前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層と
を備え、
前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、
前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、
前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記封止樹脂層の一の側面から他の側面にまで前記第1部品と前記第2部品との間を通るように形成されており、
前記シールド層は、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記凹みで分けられることにより形成された、前記第1部品に重なる第1領域と前記第2部品に重なる第2領域のうち、一方には設けられていないことを特徴とするモジュール。 - 基板と、
前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、
前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、
前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層と
を備え、
前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、
前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、
前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記封止樹脂層の一の側面から他の側面にまで前記第1部品と前記第2部品との間を通るように形成されており、
前記シールド層は、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記第1部品を前記凹みとともに取り囲む第1側面部と前記第2部品を前記凹みとともに取り囲む第2側面部のうち、一方には設けられていないことを特徴とするモジュール。 - 基板と、
前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、
前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、
前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層と
を備え、
前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、
前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、
前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記封止樹脂層の一の側面から他の側面に向かって当該他の側面に達しない位置にまで、前記第1部品と前記第2部品との間を通るように形成されており、
前記シールド層は、前記封止樹脂層の前記一の側面には設けられていないことを特徴とするモジュール。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017082754 | 2017-04-19 | ||
JP2017082754 | 2017-04-19 | ||
PCT/JP2018/015651 WO2018194012A1 (ja) | 2017-04-19 | 2018-04-16 | モジュール |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2018194012A1 JPWO2018194012A1 (ja) | 2020-02-27 |
JP6822555B2 true JP6822555B2 (ja) | 2021-01-27 |
Family
ID=63855676
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019513625A Active JP6822555B2 (ja) | 2017-04-19 | 2018-04-16 | モジュール |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11398436B2 (ja) |
JP (1) | JP6822555B2 (ja) |
CN (1) | CN110537397B (ja) |
WO (1) | WO2018194012A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020196752A1 (ja) * | 2019-03-28 | 2020-10-01 | 株式会社村田製作所 | モジュール |
US11901307B2 (en) * | 2020-03-30 | 2024-02-13 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Semiconductor device including electromagnetic interference (EMI) shielding and method of manufacture |
WO2021205930A1 (ja) * | 2020-04-07 | 2021-10-14 | 株式会社村田製作所 | モジュール |
WO2022009777A1 (ja) * | 2020-07-10 | 2022-01-13 | 株式会社村田製作所 | モジュール |
WO2022014348A1 (ja) * | 2020-07-17 | 2022-01-20 | 株式会社村田製作所 | モジュールおよびその製造方法 |
WO2022230682A1 (ja) * | 2021-04-26 | 2022-11-03 | 株式会社村田製作所 | 高周波モジュール及び通信装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3910045B2 (ja) | 2001-11-05 | 2007-04-25 | シャープ株式会社 | 電子部品内装配線板の製造方法 |
JP4175351B2 (ja) * | 2005-08-26 | 2008-11-05 | 松下電工株式会社 | 凹凸多層回路板モジュール及びその製造方法 |
JP5552821B2 (ja) * | 2010-01-28 | 2014-07-16 | Tdk株式会社 | 回路モジュール |
JP2011187677A (ja) * | 2010-03-09 | 2011-09-22 | Panasonic Corp | モジュール |
WO2015015863A1 (ja) * | 2013-07-29 | 2015-02-05 | 株式会社村田製作所 | アンテナ一体型無線モジュールおよびこのモジュールの製造方法 |
JP6387278B2 (ja) * | 2014-09-30 | 2018-09-05 | 太陽誘電株式会社 | 回路モジュール及びその製造方法 |
US20170117229A1 (en) * | 2015-10-22 | 2017-04-27 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Circuit package with trench features to provide internal shielding between electronic components |
US10553542B2 (en) * | 2017-01-12 | 2020-02-04 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with EMI shield and fabricating method thereof |
-
2018
- 2018-04-16 JP JP2019513625A patent/JP6822555B2/ja active Active
- 2018-04-16 WO PCT/JP2018/015651 patent/WO2018194012A1/ja active Application Filing
- 2018-04-16 CN CN201880025995.3A patent/CN110537397B/zh active Active
-
2019
- 2019-10-15 US US16/601,777 patent/US11398436B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110537397A (zh) | 2019-12-03 |
CN110537397B (zh) | 2021-05-14 |
WO2018194012A1 (ja) | 2018-10-25 |
JPWO2018194012A1 (ja) | 2020-02-27 |
US20200043866A1 (en) | 2020-02-06 |
US11398436B2 (en) | 2022-07-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6822555B2 (ja) | モジュール | |
JP6806166B2 (ja) | 高周波モジュール | |
US10849257B2 (en) | Module | |
JP7067609B2 (ja) | 高周波モジュール | |
WO2018101382A1 (ja) | 高周波モジュール | |
WO2019156051A1 (ja) | 高周波モジュール | |
WO2019026902A1 (ja) | 高周波モジュール | |
US20150235966A1 (en) | Wiring board and semiconductor device using the same | |
WO2018101381A1 (ja) | 高周波モジュール | |
US10999956B2 (en) | Module | |
CN104080280B (zh) | 一种封装基板单元及其制作方法和基板组件 | |
JP2018088460A (ja) | シールド層を有するモジュール | |
JP2874595B2 (ja) | 高周波回路装置 | |
JP7320923B2 (ja) | モジュール | |
KR102518174B1 (ko) | 전자 소자 모듈 | |
WO2018181871A1 (ja) | モジュール | |
WO2018164160A1 (ja) | モジュール | |
JP7130958B2 (ja) | モジュール | |
JP6511947B2 (ja) | 高周波モジュール | |
JP2019021856A (ja) | モジュール | |
JP2000278041A (ja) | 電圧制御発振器 | |
JP2008124273A (ja) | シールド構造基板とその製造方法 | |
TW201810548A (zh) | 電子單元 | |
JPWO2017002775A1 (ja) | 高周波モジュールおよびその製造方法 | |
TW201802970A (zh) | 封裝基板及其製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191009 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20191009 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200602 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200722 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20200818 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201113 |
|
C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60 Effective date: 20201113 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20201120 |
|
C21 | Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21 Effective date: 20201124 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20201208 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20201221 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6822555 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |