JP6822555B2 - モジュール - Google Patents

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Description

本発明は、基板に実装された部品間の不要電磁波による干渉を抑える構造を有するモジュールに関する。
基板に複数の部品が実装されたモジュールでは、部品間の不要電磁波による干渉を抑えるために、部品間にシールド部が設けられる場合がある。このような部品間にシールド部が設けられたモジュールとして、例えば、図13に示す特許文献1に記載の回路モジュール100がある。
回路モジュール100は、配線基板110と、配線基板110上に配置された複数の電子部品120と、各電子部品120を封止する封止層130と、封止層130を被覆する導電性シールド140とを備える。
導電性シールド140は第1のシールド部141と第2のシールド部142と第3のシールド部143とを有する。第1のシールド部141及び第2のシールド部142は封止層130の外表面(封止層130の上面及び側面を含む表面)を被覆するように構成され、回路モジュール100の外装シールドとして機能する。第3のシールド部143は封止層130の溝部131に設けられ、回路モジュール100の内装シールドとして機能する。
特開2016−72411号公報(段落0043、0060、図2参照)
しかしながら、上記した回路モジュール100では、封止層130の溝部131に第3のシールド部143が設けられており、例えば電子部品120から発せられた不要電磁波が回路モジュール100内に留まり、他の電子部品120がその不要電磁波による影響を受けて安定して動作しない虞がある。
本発明は、上記した課題に鑑みてなされたものであり、部品が他の部品から発生した不要電磁波による影響を受けにくくして、安定した動作を行うことを可能にするモジュールを提供することを目的とする。
上記した目的を達成するために、本発明ののモジュールは、基板と、前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層とを備え、前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記第1部品の外側に、前記第1部品と前記第2部品との間を通って、当該第1部品の全周を囲むように形成されており、前記基板の前記一方主面には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記凹みの側壁面のうちの前記第1部品側の側壁面より内側であって、前記第1部品と前記第2部品との間に、実装されたシールド部品をさらに備え、前記シールド部品は、当該シールド部品の前記一方主面に対向する面から、当該シールド部品の当該対向する面と反対側の面にかけて導通部を有しており、当該導通部は前記シールド部品の前記対向する面側で前記基板に形成されたグランド電極と繋がっており、前記封止樹脂層には、さらに、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記シールド部品と重なる領域の少なくとも一部には、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記シールド部品の前記反対側の面に向かって、前記シールド部品に到達する貫通孔が形成されており、前記シールド層は、当該貫通孔において、前記シールド部品と繋がっていることを特徴としている。この構成によれば、第1部品と第2部品との間に設けられた凹みには、シールド層が設けられていない。このため、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品が発した不要電磁波が、封止樹脂層に形成された凹みから効果的にモジュール外に出て行き、第1部品及び第2部品のうちの他方の部品に到達しにくくなる。これにより、他方の部品が、一方の部品から発生した不要電磁波の影響を受けにくくなり、安定した動作を行うことが可能になる。また、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品から発生した不要電磁波が第1部品及び第2部品のうちの他方の部品に到達しにくくなり、他方の部品は、一方の部品から発生した不要電磁波の影響を受けにくくなり、安定した動作を行うことが可能になる。また、シールド層はシールド部品を介してグランド電極に接続されているため、第1部品で発生する不要電磁波が外部に漏れにくくなる。また、シールド部品とシールド層のうちの貫通孔を被覆する部分とにより、第2部品は、第1部品から発生した不要電磁波の影響をさらに受けにくくなり、さらに安定した動作を行うことが可能になる。
本発明のさらに他のモジュールは、基板と、前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層とを備え、前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記第1部品の外側に、前記第1部品と前記第2部品との間を通って、当該第1部品の全周を囲むように形成されており、前記シールド層は、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記凹みで分けられることにより形成された、前記第1部品に重なる第1領域と前記第2部品に重なる第2領域のうち、一方には設けられていないことを特徴としている。この構成によれば、第1部品と第2部品との間に設けられた凹みには、シールド層が設けられていない。このため、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品が発した不要電磁波が、封止樹脂層に形成された凹みから効果的にモジュール外に出て行き、第1部品及び第2部品のうちの他方の部品に到達しにくくなる。これにより、他方の部品が、一方の部品から発生した不要電磁波の影響を受けにくくなり、安定した動作を行うことが可能になる。また、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品から発生した不要電磁波が第1部品及び第2部品のうちの他方の部品に到達しにくくなり、他方の部品は、一方の部品から発生した不要電磁波の影響を受けにくくなり、安定した動作を行うことが可能になる。また、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品から発生した不要電磁波が凹み形成面における凹みで分けられる第1領域及び第2領域のうちのシールド層が設けられていない領域からもモジュール外に出て行き、第1部品及び第2部品のうちの他方の部品により到達しにくくなり、他方の部品はより安定した動作を行うことが可能になる。
本発明のさらに他のモジュールは、基板と、前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層とを備え、前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記封止樹脂層の一の側面から他の側面にまで前記第1部品と前記第2部品との間を通るように形成されており、前記シールド層は、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記凹みで分けられることにより形成された、前記第1部品に重なる第1領域と前記第2部品に重なる第2領域のうち、一方には設けられていないことを特徴としている。この構成によれば、第1部品と第2部品との間に設けられた凹みには、シールド層が設けられていない。このため、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品が発した不要電磁波が、封止樹脂層に形成された凹みから効果的にモジュール外に出て行き、第1部品及び第2部品のうちの他方の部品に到達しにくくなる。これにより、他方の部品が、一方の部品から発生した不要電磁波の影響を受けにくくなり、安定した動作を行うことが可能になる。また、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品から発生した不要電磁波が第1部品及び第2部品のうちの他方の部品に到達しにくくなり、他方の部品は、一方の部品から発生した不要電磁波の影響を受けにくくなり、安定した動作を行うことが可能になる。また、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品から発生した不要電磁波が凹み形成面における凹みで分けられる第1領域及び第2領域のうちのシールド層が設けられていない領域からもモジュール外に出て行き、第1部品及び第2部品のうちの他方の部品により到達しにくくなり、他方の部品はより安定した動作を行うことが可能になる。
本発明のさらに他のモジュールは、基板と、前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層とを備え、前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記封止樹脂層の一の側面から他の側面にまで前記第1部品と前記第2部品との間を通るように形成されており、前記シールド層は、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記第1部品を前記凹みとともに取り囲む第1側面部と前記第2部品を前記凹みとともに取り囲む第2側面部のうち、一方には設けられていないことを特徴としている。この構成によれば、第1部品と第2部品との間に設けられた凹みには、シールド層が設けられていない。このため、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品が発した不要電磁波が、封止樹脂層に形成された凹みから効果的にモジュール外に出て行き、第1部品及び第2部品のうちの他方の部品に到達しにくくなる。これにより、他方の部品が、一方の部品から発生した不要電磁波の影響を受けにくくなり、安定した動作を行うことが可能になる。また、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品から発生した不要電磁波が第1部品及び第2部品のうちの他方の部品に到達しにくくなり、他方の部品は、一方の部品から発生した不要電磁波の影響を受けにくくなり、安定した動作を行うことが可能になる。また、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品から発生した不要電磁波が封止樹脂層の側面における凹みで分けられる第1側面部及び第2側面部のうちのシールド層が設けられていない方からもモジュール外に出て行き、第1部品及び第2部品のうちの他方の部品により到達しにくくなり、他方の部品はより安定した動作を行うことが可能になる。
本発明のさらに他のモジュールは、基板と、前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層とを備え、前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記封止樹脂層の一の側面から他の側面に向かって当該他の側面に達しない位置にまで、前記第1部品と前記第2部品との間を通るように形成されており、前記シールド層は、前記封止樹脂層の前記一の側面には設けられていないことを特徴としている。この構成によれば、第1部品と第2部品との間に設けられた凹みには、シールド層が設けられていない。このため、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品が発した不要電磁波が、封止樹脂層に形成された凹みから効果的にモジュール外に出て行き、第1部品及び第2部品のうちの他方の部品に到達しにくくなる。これにより、他方の部品が、一方の部品から発生した不要電磁波の影響を受けにくくなり、安定した動作を行うことが可能になる。また、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品から発生した不要電磁波が封止樹脂層の一の側面からもモジュール外に出て行き、第1部品及び第2部品のうちの他方の部品により到達しにくくなり、他方の部品はより安定した動作を行うことが可能になる。
本発明によれば、封止樹脂層には一方主面に垂直な方向から見た平面視において少なくとも第1部品と第2部品との間に凹みが形成されており、封止樹脂層の凹み内部以外にシールド層が形成されている。このため、第1部品及び第2部品のうちの一方の部品が発した不要電磁波が、封止樹脂層に形成された凹みから効果的にモジュール外に出て行き、第1部品及び第2部品のうちの他方の部品に到達しにくくなる。これにより、他方の部品が、一方の部品から発生した不要電磁波の影響を受けにくくなり、安定した動作を行うことが可能になる。
(a)は本発明の第1実施形態に係るモジュールの平面図であり、(b)は(a)のA−A断面図である。 本発明の第1実施形態の変形例1に係るモジュールの平面図である。 本発明の第2実施形態に係るモジュールの断面図である。 本発明の第3実施形態に係るモジュールの平面図である。 本発明の第4実施形態に係るモジュールの平面図である。 (a)は本発明の第5実施形態に係るモジュールの平面図であり、(b)は(a)のB−B断面図である。 (a)は本発明の第6実施形態に係るモジュールの平面図であり、(b)は(a)のC−C断面図である。 (a)は本発明の第7実施形態に係るモジュールの平面図であり、(b)は(a)のD−D断面図である。 本発明の第7実施形態の変形例1に係るモジュールの平面図である。 (a)は本発明の第8実施形態に係るモジュールの平面図であり、(b)は(a)のE−E断面図である。 本発明の第9実施形態に係るモジュールの断面図である。 (a)は本発明の第10実施形態に係るモジュールの平面図であり、(b)は(a)のF−F断面図である。 従来のモジュールの断面図である。
<第1実施形態>
本発明の第1実施形態に係るモジュール1について図1を参照して説明する。なお、図1(a)は第1実施形態に係るモジュール1の平面図であり、図1(b)は図1(a)のA−A断面図である。
第1実施形態に係るモジュール1は、例えば、電子機器のマザー基板等に搭載されるものである。モジュール1は、基板2と、基板2の一方主面2aに実装された第1部品3及び第2部品4を含む複数の部品と、第1部品3及び第2部品4を含む各部品等を封止する封止樹脂層5と、封止樹脂層5の表面の一部及び基板2の側面2cを被覆するシールド層6とを有している。
基板2は、例えば低温同時焼成セラミックスやガラスエポキシ樹脂等で形成される。基板2の一方主面2aには複数のランド電極7が形成され、他方主面2bには複数の外部電極8が形成され、内部には複数の内部電極(配線電極、グランド電極)9及びビア導体10が形成されている。例えば、ランド電極7はビア導体10を介して内部電極(配線電極、グランド電極)9に接続され、外部電極8はビア導体10を介して内部電極(配線電極、グランド電極)9に接続されている。なお、グランド電極は基板2の側面2cから露出してシールド層6と接触している。
各ランド電極7、各外部電極8、各内部電極(配線電極、グランド電極)9は、それぞれ、CuやAg、Al等の電極として一般的に採用される金属で形成されている。また、各ビア導体10は、AgやCu等の金属で形成されている。
第1実施形態では、基板2の一方主面2aに実装された複数の部品のうち第1部品3は、電磁波を発生する部品であり、例えばパワーアンプ、スイッチIC、インダクタである。また、基板2の一方主面2aに実装された複数の部品のうち第2部品4は、電磁波の影響を受ける部品であり、例えばスイッチIC、ベースバンドICである。第1部品3及び第2部品4を含む各部品は、例えば接続端子が基板2の一方主面2aに形成されたランド電極7に半田11を用いて接続されることによって、基板2の一方主面2aに実装されている。
封止樹脂層5は、一方主面2a並びに第1部品3及び第2部品4を含む各部品を覆うように、封止する。封止樹脂層5は、シリカフィラー入りのエポキシ樹脂等の封止樹脂として一般的に採用される樹脂で形成することができる。また、高熱伝導のため、アルミナフィラー等の熱伝導率が高いフィラー入りのエポキシ樹脂等の樹脂を使用することもできる。
封止樹脂層5には、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、第1部品3と第2部品4との間に、封止樹脂層5の一方主面2aに対向する面と反対側の一方主面2aから最も離れた面(以下、「上面」と記載する。)5aを含む面から一方主面2aに向かって凹み15が形成されている。この凹み15の上面5aを含む面からの深さは、凹み15が一方主面2aに達しない深さとなっている。なお、この凹み15の深さは、特に限定されるものではなく、例えば、凹み15が一方主面2aに達する深さになっていてもよいし、第1部品3の回路実装面又は第2部品4の回路実装面を含む面と一方主面2aとの間の所定位置に達する深さとなっていてもよい。
シールド層6は、封止樹脂層5の上面5a及び側面5b並びに基板2の側面2cを被覆している。そして、シールド層6は、封止樹脂層5の凹み15内部以外に形成されている。すなわち、封止樹脂層5の凹み15にはシールド層6が設けられていない。
シールド層6は、例えば封止樹脂層5の上面5a及び側面5b並びに基板2の側面2cに積層された密着層と、密着層に積層された導電層と、導電層に積層された耐食層とを有する多層構造で形成することができる。密着層は、導電層と封止樹脂層5等との密着強度を高めるために設けられるものであり、例えば、SUS等の金属で形成することができる。導電層は、シールド層6の実質的なシールド機能を担う層であり、例えば、Cu、Ag、Alのうちのいずれかの金属で形成することができる。耐食層は、導電層が腐食したり、傷が付いたりするのを防止するために設けられるものであり、例えば、SUSで形成することができる。シールド層6の形成に、例えば、スパッタ方式、蒸着方式、ペースト塗布方式等を用いることができる。
(モジュールの製造方法)
次に、モジュール1の製造方法について説明する。
まず、一方主面2aに複数のランド電極7が形成され、他方主面2bに複数の外部電極8が形成されるとともに、内部に複数の内部電極(配線電極、グランド電極)9及び複数のビア導体10等が形成された基板2の集合体を用意する。各ランド電極7、各外部電極8、及び各内部電極(配線電極、グランド電極)9については、CuやAg、Al等の金属を含有する導電性ペーストをスクリーン印刷するなどしてそれぞれ形成することができる。また、各ビア導体10については、レーザ等を用いてビアホールを形成した後、周知の方法により形成することができる。
次に、基板2の一方主面2aに、周知の表面実装技術を用いて第1部品3及び第2部品4を含む複数の部品を実装する。例えば、基板2のランド電極7のうち所望のランド電極7上に半田11を形成しておき、半田11が形成されているランド電極7のうちの対応するランド電極7に各部品を実装し、各部品を実装した後、リフロー処理を行う。なお、リフロー処理後に必要に応じて基板2の集合体の洗浄を行う。
次に、基板2の一方主面2aとこの一方主面2aに実装された第1部品3及び第2部品4を含む各部品とを覆うように、基板2の一方主面2aに封止樹脂層5の元となる仮の封止樹脂層を形成する。仮の封止樹脂層の形成に、例えば、トランスファーモールド方式、コンプレッションモールド方式、液状樹脂工法、シート樹脂工法等を用いることができる。ここで、仮の封止樹脂層に、一般的なシリカフィラー入りのエポキシ樹脂等の封止樹脂として一般的に採用されている樹脂を用いることができる。なお、仮の封止樹脂層に高い熱伝導性を持たせるために、アルミナフィラー等の熱伝導率が高いフィラー入りのエポキシ樹脂等の樹脂を用いることができる。なお、仮の封止樹脂層の形成前に、必要に応じて基板2の集合体のプラズマ洗浄を行う。
次に、仮の封止樹脂層の一方主面2aに対向する面と反対側の面のうちの、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、第1部品3と第2部品4との間の所定領域にレーザを照射して樹脂を除去し、これにより凹み15が設けられた封止樹脂層5が形成される。ここで、レーザとして、例えば、UVレーザ、COレーザ、Greenレーザなどを使用することができる。
次に、ダイサーまたはレーザ加工により、モジュール1の元となるシールド層6形成前の仮のモジュールを個片化する。
次に、仮のモジュールに対して、封止樹脂層5の上面5a及び側面5b並びに基板2の側面2cを被覆するシールド層6を形成し、モジュール1の製造工程が終了する。なお、例えば、仮のモジュールに対して封止樹脂層5の凹み15にマスクをかけ、この状態で、例えば、スパッタ方式、蒸着方式、ペースト塗布方式等を用いてシールド層6を形成する。
上記した第1実施形態によれば、封止樹脂層5には一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、第1部品3と第2部品4との間に凹み15が形成されており、封止樹脂層5の凹み15にはシールド層6が設けられていない。このため、第1部品3が発した不要電磁波が、凹み15から効果的にモジュール1外に出て行き、第2部品4に到達しにくくなる。これにより、第2部品4が、第1部品3から発生した不要電磁波の影響を受けにくくなり、安定した動作を行うことが可能になる。
<変形例1>
本発明の第1実施形態の変形例1に係るモジュール1Aについて図2を参照して説明する。なお、図2は第1実施形態の変形例1に係るモジュール1Aの平面図である。
第1実施形態の変形例1に係るモジュール1Aが図1を用いて説明した第1実施形態に係るモジュール1と異なる点は、図2に示すように、封止樹脂層5Aの2箇所に凹み15,15Aが設けられている点である。なお、第1実施形態に係るモジュール1と同様の構成には同一符号を付すことによりその説明を省略する。
封止樹脂層5Aには、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、第1部品3と第2部品4との間に、封止樹脂層5Aの一方主面2aに対向する面と反対側の一方主面2aから最も離れた面(以下、「上面」と記載する。)から一方主面2aに向かって凹み15が形成されている。また、封止樹脂層5Aには、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、第1部品3と第2部品4との間以外の部分である第1部品3と第2部品4Aとの間に、封止樹脂層5Aの上面を含む面から一方主面2aに向かって凹み15Aが形成されている。なお、第2部品4Aは電磁波の影響を受ける部品であるとする。凹み15,15Aの封止樹脂層5Aの上面を含む面からの深さは、凹み15,15Aが一方主面2aに達しない深さとなっている。なお、凹み15,15Aの深さは、特に限定されるものではなく、例えば、凹み15,15Aが一方主面2aに達する深さになっていてもよいし、第1部品3の回路実装面又は第2部品4の回路実装面を含む面と一方主面2aとの間の所定位置に達する深さとなっていてもよい。
モジュール1Aのシールド層6は、封止樹脂層5Aの上面及び側面並びに基板2の側面2cを被覆している。但し、封止樹脂層5Aの凹み15,15Aにはシールド層6が設けられていない。
なお、変形例1において、第1部品3が電磁波の影響を受ける部品であるとし、第2部品4,4Aが電磁波を発生する部品であるとしてもよい。
<第2実施形態>
本発明の第2実施形態に係るモジュール1Bについて図3を参照して説明する。なお、図3は第2実施形態に係るモジュール1Bの断面図である。
第2実施形態に係るモジュール1Bが図1を用いて説明した第1実施形態に係るモジュール1と異なる点は、図3に示すように、封止樹脂層5Bには、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、基板2の一方主面2aに形成されたランド電極7Bに重なる領域に、ランド電極7Bが封止樹脂層5Bから露出するように凹み15Bが設けられている点である。なお、第1実施形態に係るモジュール1と同様の構成には同一符号を付すことによりその説明を省略する。
封止樹脂層5Bには、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、基板2の一方主面2aに形成されたランド電極7Bに重なるように、封止樹脂層5Bの一方主面2aに対向する面と反対側の一方主面2aから最も離れた面(以下、「上面」と記載する。)5Baを含む面から一方主面2aに向かって一方主面2aに達する位置にまで凹み15Bが形成されている。これにより、ランド電極7Bは封止樹脂層5Bから露出することになる。なお、ランド電極7Bは本発明の「電極」に相当する。
シールド層6は、封止樹脂層5Bの上面5Ba及び側面5Bb並びに基板2の側面2cを被覆している。但し、封止樹脂層5Bの凹み15Bと、一方主面2aのうちの封止樹脂層5Bに覆われていない領域2a1にはシールド層6が設けられていない。つまり、一方主面2aのうちの領域2a1に形成されたランド電極7Bは外部に露出している。
一方主面2aに形成され、外部に露出しているランド電極7Bは例えばビア導体11Bを介して配線電極9Bに電気的に接続されている。
上記した第2実施形態によれば、基板2の一方主面2aに形成されたランド電極7Bから発生した不要電磁波は、封止樹脂層5Bの凹み15Bからモジュール1B外に出て行きやすくなる。これにより、電磁波の影響を受ける第2部品4は、基板2の一方主面2aのうちの領域2a1に形成されたランド電極7Bから発生した不要電磁波の影響を受けにくくなり、安定した動作を行うことが可能になる。
<第3実施形態>
本発明の第3実施形態に係るモジュール1Cについて図4を参照して説明する。なお、図4は第3実施形態に係るモジュール1Cの平面図である。
第3実施形態に係るモジュール1Cが図1を用いて説明した第1実施形態に係るモジュール1と異なる点は、図4に示すように、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、封止樹脂層5Cの一の側面5Cb1から他の側面5Cb2にまで第1部品3と第2部品4,4Cとの間を通るように凹み15Cが封止樹脂層5Cに形成されている点である。なお、第1実施形態に係るモジュール1と同様の構成には同一符号を付すことによりその説明を省略する。
封止樹脂層5Cには、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、封止樹脂層5Cの一の側面5Cb1から当該一の側面5Cb1に交わる他の側面5Cb2にまで第1部品3と第2部品4、4Cとの間を通るように、封止樹脂層5Cの一方主面2aに対向する面と反対側の一方主面2aから最も離れた面(以下、「上面」と記載する。)から一方主面2aに向かって凹み15Cが形成されている。なお、第2部品4Cは電磁波の影響を受ける部品であるとする。凹み15Cの封止樹脂層5Cの上面を含む面からの深さは、凹み15Cが一方主面2aに達しない深さとなっている。なお、凹み15Cの深さは、特に限定されるものではなく、例えば、凹み15Cが一方主面2aに達する深さになっていてもよいし、第1部品3の回路実装面又は第2部品4,4Cの回路実装面を含む面と一方主面2aとの間の所定位置に達する深さとなっていてもよい。
モジュール1Cのシールド層6は、封止樹脂層5Cの上面及び側面(側面5Cb1,5Cb2を含む)並びに基板2の側面2cを被覆している。但し、封止樹脂層5Cの凹み15Cにはシールド層6が設けられていない。
上記した第3実施形態によれば、第1実施形態と同様の効果が得られる。
なお、第3実施形態において、第1部品3が電磁波の影響を受ける部品であるとし、第2部品4,4Cが電磁波を発生する部品であるとしてもよい。また、封止樹脂層5Cに、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、封止樹脂層5Cの側面5Cb1から当該側面5Cb1に対向する側面にまで第1部品3と第2部品4、4Cとの間を通るように凹み15Cが形成されるようにしてもよい。
<第4実施形態>
本発明の第4実施形態に係るモジュール1Dについて図5を参照して説明する。なお、図5は第4実施形態に係るモジュール1Dの平面図である。
第4実施形態に係るモジュール1Dが図1を用いて説明した第1実施形態に係るモジュール1と異なる点は、図5に示すように、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、第1部品3の外側に、第1部品3と第2部品4,4Dとの間を通って、第1部品3の全周を囲むように凹み15Dが設けられている点である。なお、第1実施形態に係るモジュール1と同様の構成には同一符号を付すことによりその説明を省略する。
封止樹脂層5Dには、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、第1部品3の外側に第1部品3と第2部品4,4Dとの間を通って、第1部品3の全周を囲むように、封止樹脂層5Dの一方主面2aに対向する面と反対側の一方主面2aから最も離れた面(以下、「上面」と記載する。)から一方主面2aに向かって凹み15Dが形成されている。なお、第2部品4Dは電磁波の影響を受ける部品であるとする。凹み15Dの封止樹脂層5Dの上面を含む面からの深さは、凹み15Dが一方主面2aに達しない深さとなっている。なお、凹み15Dの深さは、特に限定されるものではなく、例えば、凹み15Dが一方主面2aに達する深さになっていてもよいし、第1部品3の回路実装面又は第2部品4,4Dの回路実装面を含む面と一方主面2aとの間の所定位置に達する深さとなっていてもよい。
モジュール1Dのシールド層6は、封止樹脂層5Dの上面及び側面並びに基板2の側面2cを被覆している。但し、封止樹脂層5Dの凹み15Dにはシールド層6が設けられていない。
上記した第4実施形態によれば、第1実施形態と同様の効果が得られる。
なお、第4実施形態では、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、電磁波を発生する第1部品3の外側に、第1部品3と電磁波の影響を受ける第2部品4,4Dとの間を通って、第1部品3の全周を囲むように凹み15Dが封止樹脂層5Dに設けられているが、これに限定されるものではなく、例えば次のようなものであってもよい。一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、電磁波の影響を受ける部品の外側に、電磁波の影響を受ける部品と電磁波を発生する部品との間を通って、電磁波の影響を受ける部品の全周を囲むように凹みが封止樹脂層に設けられるようにしてもよい。
<第5実施形態>
本発明の第5実施形態に係るモジュール1Eについて図6を参照して説明する。なお、図6(a)は第5実施形態に係るモジュール1Eの平面図であり、図6(b)は図6(a)のB−B断面図である。
本発明の第5実施形態に係るモジュール1Eが図4を用いて説明した第3実施形態に係るモジュール1Cと異なる点は、図6に示すように、シールド層6Eは封止樹脂層5Cの一方主面2aに対向する面と反対側の一方主面2aから最も離れた面(以下、「上面」と記載する。)5Caの一部を覆っていない点である。なお、第3実施形態に係るモジュール1Cと同様の構成には同一符号を付すことによりその説明を省略する。
封止樹脂層5Cの上面5Caは、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、凹み15Cによって第1部品3に重なる側の第1領域5Ca1と第2部品4,4Cに重なる側の第2領域5Ca2に分かれている。
シールド層6Eは、封止樹脂層5Cの上面5Caの第2領域5Ca2及び側面5Cb(側面5Cb1,5Cb2を含む)並びに基板2の側面2cを被覆している。但し、封止樹脂層5Cの凹み15C及び封止樹脂層5Cの上面5Caの第1領域5Ca1にはシールド層6Eが設けられていない。
上記した第5実施形態によれば、第1部品3から発生した電磁波は、凹み15Cからモジュール1E外に出て行くとともに封止樹脂層5Cの上面5Caのうちのシールド層6Eが設けられていない第1領域5Ca1からもモジュール1E外に出て行き、第2部品4,4Cにより到達しにくくなる。これにより、第2部品4,4Cが第1部品3から発生した不要電磁波の影響をより受けにくくなり、より安定した動作を行うことが可能になる。
なお、第5実施形態では、封止樹脂層5Cの上面5Caにおいて、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、電磁波の影響を受ける第2部品4,4Cに重なる側の第2領域5Ca2にはシールド層6Eが設けられ、電磁波を発生する第1部品3に重なる側の第1領域5Ca1にはシールド層6Eが設けられていないが、これに限定されるものではなく、例えば次のようなものであってもよい。一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、電磁波を発生する第1部品3に重なる側の第1領域5Ca1にはシールド層6Eが設けられ、電磁波の影響を受ける第2部品4,4Cに重なる側の第2領域5Ca2にはシールド層6Eが設けられていないとしてもよい。この場合、第1部品3から発生した不要電磁波が、凹み15Cを経由して、封止樹脂層5Cの第2部品4,4Cを覆う部分に入ってきたとしても、封止樹脂層5Cの上面5Caのうちのシールド層6Eが設けられていない第2領域5Ca2からモジュール1E外に出て行き、第2部品4,4Cにより到達しにくくなる。これにより、第2部品4,4Cが第1部品3から発生した不要電磁波の影響をより受けにくくなり、より安定した動作を行うことが可能になる。
<第6実施形態>
本発明の第6実施形態に係るモジュール1Fについて図7を参照して説明する。なお、図7(a)は第6実施形態に係るモジュール1Fの平面図であり、図7(b)は図7(a)のC−C断面図である。
本発明の第6実施形態に係るモジュール1Fが図5を用いて説明した第4実施形態に係るモジュール1Dと異なる点は、図7に示すように、シールド層6Fは封止樹脂層5Dの一方主面2aに対向する面と反対側の一方主面2aから最も離れた面(以下、「上面」と記載する。)5Daの一部を覆っていない点である。なお、第4実施形態に係るモジュール1Dと同様の構成には同一符号を付すことによりその説明を省略する。
封止樹脂層5Dの上面5Daは、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、凹み15Dによって第1部品3に重なる側の第1領域5Da1と第2部品4,4Dに重なる側の第2領域5Da2に分かれている。
シールド層6Fは、封止樹脂層5Dの上面5Daの第2領域5Da2及び側面5Db並びに基板2の側面2cを被覆している。但し、封止樹脂層5Dの凹み15D及び封止樹脂層5Dの上面5Daの第1領域5Da1にはシールド層6Fが設けられていない。
上記した第6実施形態によれば、第5実施形態と同様の効果が得られる。
なお、第6実施形態では、封止樹脂層5Dの上面5Daにおいて、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、電磁波の影響を受ける第2部品4,4Dに重なる側の第2領域5Da2にはシールド層6Fが設けられ、電磁波を発生する第1部品3に重なる側の第1領域5Da1にはシールド層6Fが設けられていないが、これに限定されるものではなく、例えば次のようなものであってもよい。一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、電磁波を発生する第1部品3に重なる側の第1領域5Da1にはシールド層6Fが設けられ、電磁波の影響を受ける第2部品4,4Dに重なる側の第2領域5Da2にはシールド層6Fが設けられていないとしてもよい。
また、第6実施形態では、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、電磁波を発生する第1部品3の外側に、第1部品3と電磁波の影響を受ける第2部品4,4Dとの間を通って、第1部品3の全周を囲むように凹み15Dが封止樹脂層5Dに設けられているが、これに限定されるものではなく、例えば次のようなものであってもよい。一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、電磁波の影響を受ける部品の外側に、電磁波の影響を受ける部品と電磁波を発生する部品との間を通って、電磁波の影響を受ける部品の全周を囲むように凹みが封止樹脂層に設けられるようにしてもよい。この場合において、封止樹脂層の一方主面2aに対向する面と反対側の一方主面2aから最も離れた面(以下、「上面」と記載する。)は、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、凹みによって電磁波を発生する部品に重なる側の第1領域と電磁波の影響を受ける部品に重なる側の第2領域に分かれている。第2領域にはシールド層が設けられ、第1領域にはシールド層が設けられていないとしてもよい。または、第1領域にはシールド層が設けられ、第2領域にはシールド層が設けられていないとしてもよい。
また、第6実施形態及びその変形例において、シールド層6Fは封止樹脂層5Dの側面5Dbを被覆しないとしてもよい。
<第7実施形態>
本発明の第7実施形態に係るモジュール1Gについて図8を参照して説明する。なお、図8(a)は第7実施形態に係るモジュール1Gの平面図であり、図8(b)は図8(a)のD−D断面図である。
本発明の第7実施形態に係るモジュール1Gが図4を用いて説明した第3実施形態に係るモジュール1Cと異なる点は、図8に示すように、シールド層6Gは封止樹脂層5Cの側面のうちの、第1部品3を凹み15Cとともに取り囲んでいる部分を覆っていない点である。なお、第3実施形態に係るモジュール1Cと同様の構成には同一符号を付すことによりその説明を省略する。
封止樹脂層5Cの凹み15Cがつながっている側面5Cb1は、凹み15Cによって第1部品3側の第1領域5Cb11と第2部品4側の第2領域5Cb12に分かれている。また、封止樹脂層5Cの凹み15Cがつながっている側面5Cb2は、凹み15Cによって第1部品3側の第1領域5Cb21と第2部品4C側の第2領域5Cb22に分かれている。
シールド層6Gは、封止樹脂層5Cの上面5Caと、封止樹脂層5Cの側面5Cb1の第2領域5Cb12、側面5Cb2の第2領域5Cb22、側面5Cb3及び側面5Cb4と、基板2の側面2cの一部とを被覆している。このシールド層6Gにより被覆されている基板2の側面2cの一部は、側面2cのうちの、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、一方主面2aの側面5Cb1の第2領域5Cb12、側面5Cb2の第2領域5Cb22、側面5Cb3及び側面5Cb4と重なる部分と、他方主面2bの側面5Cb1の第2領域5Cb12、側面5Cb2の第2領域5Cb22、側面5Cb3及び側面5Cb4と重なる部分との間の領域である(図8(b)の基板2の側面2c4など)。但し、封止樹脂層5Cの凹み15Cと、封止樹脂層5Cの側面5Cb1の第1領域5Cb11及び側面5Cb2の第1領域5Cb21、並びに側面5Cb1及び側面5Cb2それぞれの凹み15Cの底面の端と一方主面2aとの間の部分と、基板2の側面2cの上記一部を除く残り部分にはシールド層6Gが設けられていない。なお、封止樹脂層5Cの側面5Cb1の第1領域5Cb11及び側面5Cb2の第1領域5Cb21を含む部分が、本発明の「第1側面部」に相当する。また、封止樹脂層5Cの側面5Cb1の第2領域5Cb12、側面5Cb2の第2領域5Cb22、側面5Cb3及び側面5Cb4を含む部分が本発明の「第2側面部」に相当する。
上記した第7実施形態によれば、第1部品3から発生した電磁波は、凹み15Cからモジュール1G外に出て行くとともに、封止樹脂層5Cの側面5Cbのうちの第1領域5Cb11及び第1領域5Cb21からもモジュール1G外に出て行き、第2部品4,4Cにより到達しにくくなる。これにより、第2部品4,4Cが第1部品3から発生した不要電磁波の影響をより受けにくくなり、より安定した動作を行うことが可能になる。
なお、第7実施形態において、シールド層6Gは、封止樹脂層5Cの側面5Cbに関して、電磁波を発生する部品である第1部品3を、凹み15Cとともに取り囲んでいる封止樹脂層5Cの側面5Cb1の第1領域5Cb11及び側面5Cb2の第1領域5Cb21には設けられておらず、電磁波の影響を受ける部品である第2部品4,4Cを、凹み15Cとともに取り囲んでいる封止樹脂層5Cの側面5Cb1の第2領域5Cb12、側面5Cb2の第2領域5Cb22、側面5Cb3及び側面5Cb4には設けられているとしているが、これに限定されるものではなく、例えば次のようなものであってもよい。シールド層6Gは、封止樹脂層5Cの側面5Cbに関して、電磁波を発生する部品である第1部品3を、凹み15Cとともに取り囲んでいる封止樹脂層5Cの側面5Cb1の第1領域5Cb11及び側面5Cb2の第1領域5Cb21には設けられ、電磁波の影響を受ける部品である第2部品4,4Cを、凹み15Cとともに取り囲んでいる封止樹脂層5Cの側面5Cb1の第2領域5Cb12、側面5Cb2の第2領域5Cb22、側面5Cb3及び側面5Cb4には設けられていないとしてもよい。この場合、第1部品3から発生する不要電磁波が、凹み15Cを経由して、封止樹脂層5Cのうちの第2部品4,4Cを覆う部分に入ってきたとしても、封止樹脂層5Cの側面5Cbのうちのシールド層6Gが設けられていない側面5Cb1の第2領域5Cb12、側面5Cb2の第2領域5Cb22、側面5Cb3及び側面5Cb4からモジュール1G外に出て行き、第2部品4,4Cに到達しにくくなる。これにより、第2部品4,4Cが第1部品3から発生した不要電磁波の影響をより受けにくくなり、より安定した動作を行うことが可能になる。
<変形例1>
本発明の第7実施形態の変形例1に係るモジュール1Hについて図9を参照して説明する。なお、図9は第7実施形態の変形例1に係るモジュール1Hの平面図である。
本発明の第7実施形態の変形例1に係るモジュール1Hが図8を用いて説明した第7実施形態に係るモジュール1Gと異なる点は、図9に示すように、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、封止樹脂層5Hの一の側面5Hb1から他の側面5Hb3に向かって、第1部品3と第2部品4との間を通るように、他の側面5Hb3に達しない位置にまで凹み15Hが封止樹脂層5Hに形成され、シールド層6Hは凹み15Hがつながった封止樹脂層5Hの側面5Hb1全体を被覆していない点である。なお、第7実施形態に係るモジュール1Gと同様の構成には同一符号を付すことによりその説明を省略する。
封止樹脂層5Hには、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、封止樹脂層5Hの一の側面5Hb1から他の側面5Hb3に向かって、第1部品3と第2部品4との間を通るように、他の側面5Hb3に達しない位置にまで、封止樹脂層5Hの一方主面2aに対向する面と反対側の一方主面2aから最も離れた面(以下、「上面」と記載する。)から一方主面2aに向かって凹み15Hが形成されている。凹み15Hの封止樹脂層5Hの上面を含む面からの深さは、凹み15Hが一方主面2aに達しない深さとなっている。なお、凹み15Hの深さは、特に限定されるものではなく、例えば、凹み15Hが一方主面2aに達する深さになっていてもよいし、第1部品3の回路実装面又は第2部品4の回路実装面を含む面と一方主面2aとの間の所定位置に達する深さとなっていてもよい。
シールド層6Hは、封止樹脂層5Hの上面及び側面5Hb2,5Hb3,5Hb4並びに基板2の側面2cの一部を被覆している。このシールド層6Hにより被覆されている基板2の側面2cの一部は、側面2cのうちの、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、一方主面2aの側面5Hb2,5Hb3,5Hb4と重なる部分と、他方主面2bの側面5Hb2,5Hb3,5Hb4と重なる部分との間の領域である。但し、封止樹脂層5Hの凹み15H、封止樹脂層5Hの側面5Hb1、及び基板2の側面2cの上記一部を除く残り部分にはシールド層6Hが設けられていない。
<第8実施形態>
本発明の第8実施形態に係るモジュール1Iについて図10を参照して説明する。なお、図10(a)は第8実施形態に係るモジュール1Iの平面図であり、図10(b)は図10(a)のE−E断面図である。
本発明の第8実施形態に係るモジュール1Iが図8を用いて説明した第7実施形態に係るモジュール1Gと異なる点は、図10に示すように、シールド層6Iは封止樹脂層5Cの上面5Caの一部を覆っていない点である。なお、第7実施形態に係るモジュール1Gと同様の構成には同一符号を付すことによりその説明を省略する。
封止樹脂層5Cの上面5Caは、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、凹み15Cによって、第1部品3に重なる側の第1領域5Ca1と第2部品4,4Cに重なる側の第2領域5Ca2に分かれている。また、封止樹脂層5Cの凹み15Cがつながっている側面5Cb1は、凹み15Cによって、第1部品3側の第1領域5Cb11と第2部品4側の第2領域5Cb12に分かれている。また、封止樹脂層5Cの凹み15Cがつながっている側面5Cb2は、凹み15Cによって、第1部品3側の第1領域5Cb21と第2部品4C側の第2領域5Cb22に分かれている。
シールド層6Iは、封止樹脂層5Cの上面5Caの第2領域5Ca2と、封止樹脂層5Cの側面5Cb1の第2領域5Cb12、側面5Cb2の第2領域5Cb22、側面5Cb3及び側面5Cb4と、基板2の側面2cの一部とを被覆している。このシールド層6Iにより被覆されている基板2の側面2cの一部は、側面2cのうちの、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、一方主面2aの側面5Cb1の第2領域5Cb12、側面5Cb2の第2領域5Cb22、側面5Cb3及び側面5Cb4と重なる部分と、他方主面2bの側面5Cb1の第2領域5Cb12、側面5Cb2の第2領域5Cb22、側面5Cb3及び側面5Cb4と重なる部分との間の領域である(図10(b)の基板2の側面2c4など)。但し、封止樹脂層5Cの凹み15Cと、封止樹脂層5Cの上面5Caの第1領域5Ca1と、封止樹脂層5Cの側面5Cb1の第1領域5Cb11及び側面5Cb2の第1領域5Cb21、並びに側面5Cb1及び側面5Cb2それぞれの凹み15Cの底面の端と一方主面2aとの間の部分と、基板2の側面2cの上記一部を除く残り部分にはシールド層6Iが設けられていない。
上記した第8実施形態によれば、第1部品3から発生した電磁波は、凹み15Cからモジュール1I外に出て行くとともに、封止樹脂層5Cの側面5Cbのうちの第1領域5Cb11及び第1領域5Cb21、並びに封止樹脂層5Cの上面5Caの第1領域5Ca1からもモジュール1I外に出て行き、第2部品4,4Cにより到達しにくくなる。これにより、第2部品4,4Cが第1部品3から発生した不要電磁波の影響をより受けにくくなり、より安定した動作を行うことが可能になる。
なお、第8実施形態において、シールド層6Iは、封止樹脂層5Cの側面5Cbに関して、電磁波を発生する部品である第1部品3を、凹み15Cとともに取り囲んでいる封止樹脂層5Cの側面5Cb1の第1領域5Cb11及び側面5Cb2の第1領域5Cb21には設けられておらず、電磁波の影響を受ける部品である第2部品4,4Cを、凹み15Cとともに取り囲んでいる封止樹脂層5Cの側面5Cb1の第2領域5Cb12、側面5Cb2の第2領域5Cb22、側面5Cb3及び側面5Cb4には設けられているとし、封止樹脂層5Cの上面5Caに関して、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、電磁波を発生する部品である第1部品3と重なる側の第1領域5Ca1には設けられておらず、電磁波の影響を受ける部品である第2部品4,4Cと重なる側の第2領域5Ca2には設けられているとしているが、これに限定されるものではなく、例えば次のようなものであってもよい。シールド層6Iは、封止樹脂層5Cの側面5Cbに関して、電磁波を発生する部品である第1部品3を、凹み15Cとともに取り囲んでいる封止樹脂層5Cの側面5Cb1の第1領域5Cb11及び側面5Cb2の第1領域5Cb21には設けられ、電磁波の影響を受ける部品である第2部品4,4Cを、凹み15Cとともに取り囲んでいる封止樹脂層5Cの側面5Cb1の第2領域5Cb12、側面5Cb2の第2領域5Cb22、側面5Cb3及び側面5Cb4には設けられていないとし、封止樹脂層5Cの上面5Caに関して、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、電磁波を発生する部品である第1部品3と重なる側の第1領域5Ca1には設けられ、電磁波の影響を受ける部品である第2部品4,4Cと重なる側の第2領域5Ca2には設けられていないとしてもよい。この場合、第1部品3から発生する不要電磁波が、凹み15Cを経由して、封止樹脂層5Cのうちの第2部品4,4Cを覆う部分に入ってきたとしても、封止樹脂層5Cの側面5Cbのうちのシールド層6Iが設けられていない側面5Cb1の第2領域5Cb12、側面5Cb2の第2領域5Cb22、側面5Cb3及び側面5Cb4、並びに、封止樹脂層5Cの上面5Caのうちのシールド層6Iが設けられていない第2領域5Ca2からモジュール1I外に出て行き、第2部品4,4Cに到達しにくくなる。これにより、第2部品4,4Cが第1部品3から発生した不要電磁波の影響をより受けにくくなり、より安定した動作を行うことが可能になる。
<第9実施形態>
本発明の第9実施形態に係るモジュール1Jについて図11を参照して説明する。なお、図11は第9実施形態に係るモジュール1Jの断面図である。
第9実施形態に係るモジュール1Jが図1を用いて説明した第1実施形態に係るモジュール1と異なる点は、図11に示すように、基板2の一方主面2a及び他方主面2bの双方に部品が実装される点である。なお、第1実施形態に係るモジュール1と同様の構成には同一符号を付すことによりその説明を省略する。
基板2の一方主面2aには複数のランド電極7が形成され、他方主面2bには複数のランド電極24が形成され、内部には複数の内部電極(配線電極、グランド電極)9及びビア導体10が形成されている。なお、各ランド電極24は、それぞれ、CuやAg、Al等の電極として一般的に採用される金属で形成されている。
第3部品21は、例えば接続端子が基板2の他方主面2bに形成されたランド電極24に半田11を用いて接続されることによって、基板2の他方主面2bに実装されている。
封止樹脂層22は、他方主面2b並びに第3部品21を覆うように、他方主面2b及び第3部品21を封止する。封止樹脂層22は、シリカフィラー入りのエポキシ樹脂等の封止樹脂として一般的に採用される樹脂で形成することができる。また、高熱伝導のため、封止樹脂層22にアルミナフィラー等の熱伝導率が高いフィラー入りのエポキシ樹脂等の樹脂を使用することもできる。なお、封止樹脂層22は本発明の「他の封止樹脂層」に相当する。
封止樹脂層22には、封止樹脂層22の他方主面2bに対向する面と反対側の面(以下、「下面」と記載する。)22aから他方主面2bに形成されたランド電極24にまで延びる複数の接続導体23が設けられている。各接続導体23の一端面は封止樹脂層22の下面22aから露出して外部機器に電気的に接続される。また、各接続導体23の他端面は他方主面2bに形成されたランド電極24に電気的に接続されている。各接続導体23は銅等の金属でできている。
シールド層6Jは、封止樹脂層5の上面5a及び側面5b、基板2の側面2c、並びに、封止樹脂層22の側面22bを被覆している。但し、封止樹脂層5の凹み15及び封止樹脂層22の下面22aにはシールド層6Jが設けられていない。
上記した第9実施形態によれば、第1実施形態と同様の効果が得られる。
なお、第9実施形態では、基板2の他方主面2b側の封止樹脂層22には凹みが設けられていないが、これに限定されるものではなく、例えば、他方主面2b側に電磁波を発する部品と電磁波の影響を受ける部品とが実装されている場合には、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、両部品の間に凹みを封止樹脂層22に設けるようにしてもよい。
<第10実施形態>
本発明の第10実施形態に係るモジュール1Kについて図12を参照して説明する。なお、図12(a)は第10実施形態に係るモジュール1Kの平面図であり、図12(b)は図12(a)のF−F断面図である。
本発明の第10実施形態に係るモジュール1Kが図5を用いて説明した第4実施形態に係るモジュール1Dと異なる点は、図12に示すように、凹み15K1より内側であって、第1部品3と第2部品4、4Dとの間に、第1部品3の上部に存在する第1シールド部6K1を基板2に設けられたグランド電極に電気的に接続するシールド部品30が設けられている点である。なお、第4実施形態に係るモジュール1Dと同様の構成には同一符号を付すことによりその説明を省略する。
基板2の一方主面2aには、第1部品3、第2部品4,4Dの他に、第1部品3と第2部品4,4Dの間にシールド部品30が実装されている。なお、シールド部品30については後述する。
封止樹脂層5Kには、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、第1部品3の外側に第1部品3と第2部品4,4Dとの間を通って第1部品3の全周を囲むように、封止樹脂層5Kの一方主面2aに対向する面と反対側の一方主面2aから最も離れた面(以下、「上面」と記載する。)5Kaから一方主面2aに向かって凹み15K1が形成されている。封止樹脂層5Kの上面5Kaは、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、凹み15K1によって第1部品3に重なる側の第1領域5Ka1と第2部品4,4Dに重なる側の第2領域5Ka2に分かれている。凹み15K1の封止樹脂層5Kの上面5Kaを含む面からの深さは、凹み15K1が一方主面2aに達しない深さとなっている。なお、凹み15K1の深さは、特に限定されるものではなく、例えば、凹み15K1が一方主面2aに達する深さになっていてもよいし、第1部品3の回路実装面又は第2部品4,4Dの回路実装面を含む面と一方主面2aとの間の所定位置に達する深さとなっていてもよい。
また、封止樹脂層5Kには、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、シールド部品30と重なる領域の少なくとも一部には、封止樹脂層5Kの第1領域5Ka1を含む面から、シールド部品30の一方主面2aと対向する面(以下、「下面」と記載する。)30aと反対側の面(以下、「上面」と記載する。)30bに向かって、上面30bに達する位置にまで貫通孔15K2が形成されている。貫通孔15K2は、一方主面2aに垂直な方向から見た平面視において、封止樹脂層5Kの第1領域5Ka1からシールド部品30の上面30bに向かうにつれて、面積が小さくなっている。
モジュール1Kには、第1シールド部6K1と第2シールド部6K2とを有するシールド層6Kが設けられている。第1シールド部6K1は、封止樹脂層5Kの第1領域5Ka1及び貫通孔15K2並びにシールド部品30の上面30bのうちの封止樹脂層5Kから露出している部分を被覆するためのものである。また、第2シールド部6K2は、封止樹脂層5Kの第2領域5Ka2及び側面5Kb並びに基板2の側面2cを被覆するためのものである。但し、封止樹脂層5Kの凹み15K1にはシールド層6Kが設けられていない。なお、第1シールド部6K1は本発明の「シールド部分」に相当する。
シールド部品30は、金属ブロックである。シールド部品30は、凹み15K1の側壁面のうちの第1部品3側の側壁面よりも内側に配置されている。シールド部品30の下面30aは半田11を用いてランド電極7に接続されて、その上面30bはシールド層6Kの第1シールド部6K1に接続されている。シールド部品30の下面30aが接続されたランド電極7は基板2に形成されたグランド電極に接続されている。このように、第1シールド部6K1はシールド部品30を介してグランド電極に電気的に繋がっている。なお、シールド部品30全体が本発明の「導通部」に相当する。
上記した第10実施形態によれば、第4実施形態と同様の効果が得られる。また、凹み15K1よりも内側にある第1シールド部6K1はシールド部品30を介してグランド電極に電気的に接続されている。これにより、第1シールド部6K1はシールド膜として機能するため、第1部品3で発生する不要電磁波が外部に漏れにくくなる。また、第1シールド部6K1と第2シールド部6K2のうちの貫通孔15K2を被覆する部分とはシールド壁として機能するため、第2部品4,4Dが、第1部品3から発生した不要電磁波の影響をさらに受けにくくなり、さらに安定した動作を行うことが可能になる。
なお、第10実施形態では、シールド部品30を金属ブロックとしているが、これに限定されるものではなく、例えば、次のようなものであってもよい。シールド部品30は、上面30bから下面30aにかけて導通部を有するものであればよい。導通部は、例えば、シールド部品30の側面に形成されていてもよいし、上面30bから下面30aにかけての貫通孔の壁面または当該貫通孔を埋めるように形成されていてもよい。この場合も、第1シールド部6K1はシールド部品30の導通部を介してグランド電極に電気的に接続されることになる。
なお、本発明は上記した各実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない限りにおいて、上記したもの以外に種々の変更を行うことができる。例えば、上記した各実施形態の内容及び変形例の内容を組み合わせてもよい。
本発明は、基板に実装された部品間の不要電磁波による干渉を抑える構造を有するモジュールに適用することができる。
1,1A〜1K モジュール
2 基板
3 第1部品
4,4C,4D 第2部品
5,5A〜5D,5H,22 封止樹脂層
6,6E〜6J,6K シールド層
6K1 第1シールド部
6K2 第1シールド部
7B ランド電極
15,15A〜15D,15H,15K1 凹み
15K2 貫通孔
30 シールド部品

Claims (5)

  1. 基板と、
    前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、
    前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、
    前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層と
    を備え、
    前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、
    前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、
    前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記第1部品の外側に、前記第1部品と前記第2部品との間を通って、当該第1部品の全周を囲むように形成されており、
    前記基板の前記一方主面には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記凹みの側壁面のうちの前記第1部品側の側壁面より内側であって、前記第1部品と前記第2部品との間に、実装されたシールド部品をさらに備え、
    前記シールド部品は、当該シールド部品の前記一方主面に対向する面から、当該シールド部品の当該対向する面と反対側の面にかけて導通部を有しており、当該導通部は前記シールド部品の前記対向する面側で前記基板に形成されたグランド電極と繋がっており、
    前記封止樹脂層には、さらに、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記シールド部品と重なる領域の少なくとも一部には、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記シールド部品の前記反対側の面に向かって、前記シールド部品に到達する貫通孔が形成されており、
    前記シールド層は、当該貫通孔において、前記シールド部品と繋がっている
    ことを特徴とするモジュール。
  2. 基板と、
    前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、
    前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、
    前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層と
    を備え、
    前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、
    前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、
    前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記第1部品の外側に、前記第1部品と前記第2部品との間を通って、当該第1部品の全周を囲むように形成されており、
    前記シールド層は、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記凹みで分けられることにより形成された、前記第1部品に重なる第1領域と前記第2部品に重なる第2領域のうち、一方には設けられていないことを特徴とするモジュール。
  3. 基板と、
    前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、
    前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、
    前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層と
    を備え、
    前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、
    前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、
    前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記封止樹脂層の一の側面から他の側面にまで前記第1部品と前記第2部品との間を通るように形成されており、
    前記シールド層は、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記凹みで分けられることにより形成された、前記第1部品に重なる第1領域と前記第2部品に重なる第2領域のうち、一方には設けられていないことを特徴とするモジュール。
  4. 基板と、
    前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、
    前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、
    前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層と
    を備え、
    前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、
    前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、
    前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記封止樹脂層の一の側面から他の側面にまで前記第1部品と前記第2部品との間を通るように形成されており、
    前記シールド層は、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記第1部品を前記凹みとともに取り囲む第1側面部と前記第2部品を前記凹みとともに取り囲む第2側面部のうち、一方には設けられていないことを特徴とするモジュール。
  5. 基板と、
    前記基板の一方主面に実装された第1部品及び第2部品と、
    前記第1部品と前記第2部品を封止する封止樹脂層と、
    前記封止樹脂層の一部を覆うシールド層と
    を備え、
    前記封止樹脂層には、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、少なくとも前記第1部品と前記第2部品との間に、前記封止樹脂層における前記一方主面に対向する面と反対側の面から、前記一方主面に向かって凹みが形成されており、
    前記シールド層は、前記封止樹脂層の凹み内部以外に形成されており、
    前記凹みは、前記一方主面に垂直な方向から見た平面視において、前記封止樹脂層の一の側面から他の側面に向かって当該他の側面に達しない位置にまで、前記第1部品と前記第2部品との間を通るように形成されており、
    前記シールド層は、前記封止樹脂層の前記一の側面には設けられていないことを特徴とするモジュール。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2020196752A1 (ja) * 2019-03-28 2020-10-01 株式会社村田製作所 モジュール
US11901307B2 (en) * 2020-03-30 2024-02-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Semiconductor device including electromagnetic interference (EMI) shielding and method of manufacture
WO2021205930A1 (ja) * 2020-04-07 2021-10-14 株式会社村田製作所 モジュール
WO2022009777A1 (ja) * 2020-07-10 2022-01-13 株式会社村田製作所 モジュール
WO2022014348A1 (ja) * 2020-07-17 2022-01-20 株式会社村田製作所 モジュールおよびその製造方法
WO2022230682A1 (ja) * 2021-04-26 2022-11-03 株式会社村田製作所 高周波モジュール及び通信装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3910045B2 (ja) 2001-11-05 2007-04-25 シャープ株式会社 電子部品内装配線板の製造方法
JP4175351B2 (ja) * 2005-08-26 2008-11-05 松下電工株式会社 凹凸多層回路板モジュール及びその製造方法
JP5552821B2 (ja) * 2010-01-28 2014-07-16 Tdk株式会社 回路モジュール
JP2011187677A (ja) * 2010-03-09 2011-09-22 Panasonic Corp モジュール
WO2015015863A1 (ja) * 2013-07-29 2015-02-05 株式会社村田製作所 アンテナ一体型無線モジュールおよびこのモジュールの製造方法
JP6387278B2 (ja) * 2014-09-30 2018-09-05 太陽誘電株式会社 回路モジュール及びその製造方法
US20170117229A1 (en) * 2015-10-22 2017-04-27 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Circuit package with trench features to provide internal shielding between electronic components
US10553542B2 (en) * 2017-01-12 2020-02-04 Amkor Technology, Inc. Semiconductor package with EMI shield and fabricating method thereof

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