JP6819559B2 - 硫化物固体電解質材料の製造方法 - Google Patents
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Description
上述したように、硫化物固体電解質がX元素(Xはハロゲンである)を含有する場合、硫化物固体電解質である粗粒材料にエーテル化合物を添加して粗粒材料を微粒化すると、イオン伝導度が低下してしまうという問題がある。その理由は、以下の通りであると推測される。すなわち、X元素を含有する硫化物固体電解質である粗粒材料に、分散媒としてエーテル化合物を添加すると、微粒化工程において粗粒材料からX−イオンがエーテル化合物に溶出してしまう。そうすると、微粒化工程により、硫化物固体電解質からX元素が失われ、仕込み時の組成からずれてしまうことで、硫化物固体電解質材料のイオン伝導度が低下すると推測される。具体的には、硫化物固体電解質からX元素が失われた量に相当する分だけ、硫化物固体電解質材料のイオン伝導度が低下すると推測される。
準備工程は、Li元素、P元素、S元素およびX元素(Xはハロゲンである)を含む硫化物固体電解質である粗粒材料を準備する工程である。
微粒化工程は、粗粒材料に、エーテル化合物を含有する分散媒にX元素が溶解した溶液を添加し、上記粗粒材料を微粒化する工程である。すなわち、微粒化工程においては、分散媒に対してX元素を溶解させ、当該X元素が溶解した溶液を粗粒材料に添加する。
本開示においては、微粒化工程の後に、微粒化した硫化物固体電解質材料を熱処理する熱処理工程を有していてもよい。熱処理により、例えば微粒化された結晶化硫化物ガラス(ガラスセラミック)を得ることができる。特に、硫化物ガラスが結晶化することによってイオン伝導度が向上する場合には、熱処理工程を行うことが好ましい。熱処理工程における熱処理温度は、結晶化温度以上の温度であることが好ましく、イオン伝導度の高い結晶相が生成するように(不要な結晶相が生成しないように)調整することが好ましい。なお、熱処理工程における熱処理時間についても同様である。
微粒化工程により微粒化した硫化物固体電解質材料の平均粒径(D50)は、粗粒材料よりも小さければよく、例えば0.1μm以上であり、0.5μm以上であってもよい。一方、硫化物固体電解質材料の平均粒径(D50)は、例えば5μm以下であり、4μm以下であってもよい。なお、硫化物固体電解質材料の平均粒径(D50)は、例えば、粒度分布計により決定することができる。
なお、原料および混合物、硫化物固体電解質を扱う際には、Arガス雰囲気下で露点−70℃以下に雰囲気調整されたグローブボックス内で作業を行った。
図2に示すフローチャートに従い、微粒化した硫化物固体電解質材料を合成した。以下、図2に示すフローチャートに基づいて、詳細な手順を説明する。
出発原料として、Li2S(三津和化学工業製)、P2S5(Aldrich製)、SiS2(三津和化学工業製)、LiCl(三津和化学工業製)を用いた。次に、それぞれの原料をLi3.18Si0.58P0.48S3.9Cl0.1の組成比で2gとなるように秤量し、混合した。その混合物をジルコニア製ボール(φ5mm、53g)とともに、ジルコニア製ボールポット容器(容積45ml)に入れ、容器を密閉した。この容器を遊星型ボールミル機(フリッチュ製 PULVERISETTE7)に取り付け、台盤回転数500rpmで、40時間メカニカルミリング処理を行った。これにより、硫化物固体電解質のガラス前駆体(粗粒材料)を得た。
得られた粗粒材料を、ジルコニア製ボール(φ0.3mm、53g)、ヘプタン4g、ジブチルエーテル2g、LiClを溶解させたヘプタン−ジブチルエーテル混合溶液とともに、ジルコニア製ボールポット容器(容積45ml)に入れ、容器を密閉した。LiClを溶解させたヘプタン−ジブチルエーテル混合溶液は、ジルコニア製ボール(φ0.3mm、53g)、ヘプタン4g、ジブチルエーテル2g、LiCl2gを、回転数300rpmで、20時間メカニカルミリング処理を行い、溶液を静置し、上澄み液を分取することで作製した。したがって、得られた上記溶液は、LiCl飽和溶液である。この容器を遊星型ボールミル機に取り付け、台盤回転数300rpmで、20時間メカニカルミリング処理を行い、硫化物固体電解質のガラス前駆体(粗粒材料)を微粒化した。これにより、その後、微粒化した粗粒材料はヘプタンで十分に洗浄し、100℃の環境下で乾燥させた。
微粒化させた粗粒材料を、石英管に真空封入し、475℃の環境下で3時間熱処理した。これにより、結晶性硫化物固体電解質材料を合成した。
微粒化工程において用いられる分散媒がX元素(LiCl)を含まないこと以外は、実施例と同様にして硫化物固体電解質材料を合成した。
微粒化工程を行わないこと以外は、実施例と同様にして硫化物固体電解質材料を合成した。
(XRD測定)
実施例および比較例1、2で得られた硫化物固体電解質材料に対して、X線回折測定(XRD測定)を行った。測定には、粉末X線回折装置(Uttma IV、リガク製)を用い、線源としてCuKα線(2θ=10°〜60°の範囲)を使用した。その結果を、図3(a)、(b)に示す。なお、図3(b)は図3(a)の拡大図である。
実施例および比較例1、2で得られた硫化物固体電解質材料を100mg秤量し、シリンダ(マコール製)に入れてプレス(6ton)した。次に、SUSピンでペレットの両端をはさみ、ボルトにて6.0N/mで拘束することで評価セルを構築した。得られた評価セルを25℃に保った状態で交流インピーダンス測定を行った。これにより、硫化物固体電解質材料のLiイオン伝導度を算出した。なお、測定にはBiologic社製VMP3を用い、印加電圧10mV、測定周波数域0.01MHz〜1MHzとした。その結果を表1に示す。
実施例および比較例1、2で得られた硫化物固体電解質材料、ならびに粗粒材料の準備工程で得られた粗粒材料を少量サンプリングし、レーザー散乱・回折式粒度分布測定機(日機装製マイクロトラックMT 3300EXII)で粒度分布測定を行い、平均粒径(D50)を決定した。その結果を表1に示す。
Claims (1)
- Li元素、P元素、S元素およびX元素(Xはハロゲンである)を含む硫化物固体電解質である粗粒材料を準備する工程と、
前記粗粒材料に、エーテル化合物を含有する分散媒に前記X元素が溶解した溶液を添加し、前記粗粒材料を微粒化する微粒化工程と、を有する硫化物固体電解質材料の製造方法。
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