JP6806078B2 - 光学ガラス - Google Patents
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Description
また、本発明の光学ガラスは、原子%表示で、
Ge+Ga;7%〜25%、
Sb;0%〜35%、
Bi;0%〜20%、
Zn;0%〜20%、
Sn;0%〜20%、
Si;0%〜20%、
La;0%〜20%、
S+Se+Te;55%〜80%、
Ti;0.005%〜0.3%、
Li+Na+K+Cs;0%〜20%、
F+Cl+Br+I;0%〜20%
含有し、ガラス転移点(Tg)が140℃〜550℃であることが好ましい。
Ge+Ga;7%〜25%、
Sb;0%〜35%、
Bi;0%〜20%、
In;0%〜20%、
Zn;0%〜20%、
Sn;0%〜20%、
Si;0%〜20%、
La;0%〜20%、
Y;0%〜10%、
Gd;0%〜10%、
Ca;0%〜20%、
Sr;0%〜20%、
Ba;0%〜20%、
S+Se+Te;55%〜80%、
Ti;0.005%〜0.3%、
Li+Na+K+Cs;0%〜20%、
F+Cl+Br+I;0%〜20%
含有し、ガラス転移点(Tg)が140℃〜550℃であることが好ましい。
そして、Seを実質的に含有しないことが好ましい。
Ge+Ga;8%〜23%、
Sb;2%〜32%、
Bi;0%〜10%、
In;0%〜10%、
Zn;0%〜15%、
Sn;0%〜15%、
Si;0%〜15%、
La;0%〜15%、
Y;0%〜8%、
Gd;0%〜8%、
Ca;0%〜15%、
Sr;0%〜15%、
Ba;0%〜15%、
S;55%〜75%、
Te;0%〜20%、
S+Te;55%〜75%、
Ti;0.01%〜0.2%、
Li+Na+K+Cs;0%〜10%、
F+Cl+Br+I;0%〜10%
含有し、
C;0.001%〜0.2%含有することが好ましい。
また、本発明の赤外線センサは、前記本発明の光学素子を用いることを特徴とする。
すなわち、本発明の光学ガラスの好ましい組成は、
原子%表示で、
Ge+Ga;7%〜25%、
Sb;0%〜35%、
Bi;0%〜20%、
Zn;0%〜20%、
Sn;0%〜20%、
Si;0%〜20%、
La;0%〜20%、
S+Se+Te;55%〜80%、
Ti;0.005%〜0.3%、
Li+Na+K+Cs;0%〜20%、
F+Cl+Br+I;0%〜20%含有する組成である。そして、このガラスは、140℃〜550℃のガラス転移点(Tg)を有することが好ましい。
Ge+Ga;7%〜25%、
Sb;0%〜35%、
Bi;0%〜20%、
In;0%〜20%、
Zn;0%〜20%、
Sn;0%〜20%、
Si;0%〜20%、
La;0%〜20%、
Y;0%〜10%、
Gd;0%〜10%、
Ca;0%〜20%、
Sr;0%〜20%、
Ba;0%〜20%、
S+Se+Te;55%〜80%、
Ti;0.005%〜0.3%、
Li+Na+K+Cs;0%〜20%、
F+Cl+Br+I;0%〜20%含有する組成である。そして、このガラスについても上記と同様に、140℃〜550℃のガラス転移点(Tg)を有することが好ましい。
Ge+Ga;8%〜23%、
Sb;2%〜32%、
Bi;0%〜10%、
In;0%〜10%、
Zn;0%〜15%、
Sn;0%〜15%、
Si;0%〜15%、
La;0%〜15%、
Y;0%〜8%、
Gd;0%〜8%、
Ca;0%〜15%、
Sr;0%〜15%、
Ba;0%〜15%、
S;55%〜75%、
Te;0%〜20%、
S+Te;55%〜75%、
Ti;0.01%〜0.2%、
Li+Na+K+Cs;0%〜10%、
F+Cl+Br+I;0%〜10%
含有し、
C;0.001%〜0.2%含有する組成である。
なお、「実質的に含有しない」とは、原料調合時に意図的に含有させないという意であり、不純物レベルの混入をも排除するものではない。具体的には、成分の含有割合が、原子%で0.05%未満をいう。
溶融温度は、700〜1050℃が好ましく、750〜950℃がより好ましい。溶融時間は、内容物が十分にガラス化される時間であればよいが、一般に1〜48時間が好ましい。
表1〜4に示す化学組成(原子%)となるように、Ge、Ga、Sb、Bi、S、Te、Sn、Zn、Si、Se、TeCl4、CsCl、C、LaF3およびTiの各原料を秤量した。なお、Ge、GaおよびSbは純度99.999%の単体原料、Bi、S、Te、Zn、Si、Se、SnおよびCは純度99.99%の単体原料、TeCl4およびCsClは、純度99.99%の化合物原料、LaF3は純度99.9%の化合物原料、Tiは純度99.9%の単体原料をそれぞれ用いた。次いで、秤量した原料を均一に混合し、原料混合物を、片端が酸水素バーナーで加熱封止された後IPA洗浄を経て600℃で減圧乾燥された石英ガラス管(内径8mm)内に充填した後、10〜30Paで真空排気しながら酸水素バーナーで加熱して、石英ガラス管の他端を封止した。
上記で得られた原料封入管内の各サンプルについて、ガラス化の有無、λT10%、可視光透過性およびTgを、それぞれ以下に示すようにして測定した。得られた測定および評価結果を、表1〜表4の下欄に示す。なお、表中の「−」は未測定を示す。
各サンプルは、封管された石英ガラス管ごと切断した後研磨し、厚さ1mmの板状のサンプルを得た。得られた板状サンプルのX線回折(XRD)スペクトルを、X線回折装置を用いて測定した。そして、XRDスペクトルにおける結晶ピークの有無によって、ガラス化の有無を判断した。ガラス化したものを「○」、ガラス化しておらず結晶化しているものを「×」として、表1〜4に示した。
前記で得られた厚さ1mmの板状サンプルの赤外線透過スペクトルを、フーリエ変換型赤外分光装置(ThermoScientific社製、商品名:Nicolet iS10)を用いて測定した。そして、得られた赤外線透過スペクトルから、λT10%を求めた。
前記で得られた厚さ1mmの板状サンプルの可視光透過性を、分光光度計(PerkinElmer社製、商品名:Lambda950)により測定し評価した。波長350〜700nmの波長域において、透過率の最大値が、50%以上のものを「TH」、また50%未満のものを「TL」とし、表1〜4に示した。
前記板状サンプルとは別の箇所から得られたガラスを粉砕し、得られたガラス粉末のTgを、示差熱分析計(リガク社製、商品名:TG8110)を用いて測定した。
Claims (8)
- 原子%表示で、Ge+Ga;6%〜30%、Sb;2%〜35%、S+Se+Te;50%〜85%、Ti;0.001%〜0.5%含有し、
厚さ1mmに換算したガラス板における赤外線透過率が10%となる長波長側端部の波長(λT10%)が、12μm以上である光学ガラス。 - Asを実質的に含有しない、請求項1に記載の光学ガラス。
- 原子%表示で、
Ge+Ga;7%〜25%、
Sb;2%〜35%、
Bi;0%〜20%、
Zn;0%〜20%、
Sn;0%〜20%、
Si;0%〜20%、
La;0%〜20%、
S+Se+Te;55%〜80%、
Ti;0.005%〜0.3%、
Li+Na+K+Cs;0%〜20%、
F+Cl+Br+I;0%〜20%
含有し、ガラス転移点(Tg)が140℃〜550℃である請求項1または2に記載の光学ガラス。 - 原子%表示で、
Ge+Ga;7%〜25%、
Sb;2%〜35%、
Bi;0%〜20%、
In;0%〜20%、
Zn;0%〜20%、
Sn;0%〜20%、
Si;0%〜20%、
La;0%〜20%、
Y;0%〜10%、
Gd;0%〜10%、
Ca;0%〜20%、
Sr;0%〜20%、
Ba;0%〜20%、
S+Se+Te;55%〜80%、
Ti;0.005%〜0.3%、
Li+Na+K+Cs;0%〜20%、
F+Cl+Br+I;0%〜20%
含有し、ガラス転移点(Tg)が140℃〜550℃である請求項1〜3のいずれかに記載の光学ガラス。 - Seを実質的に含有しない、請求項1〜4のいずれかに記載の光学ガラス。
- 原子%表示で、
Ge+Ga;8%〜23%、
Sb;2%〜32%、
Bi;0%〜10%、
In;0%〜10%、
Zn;0%〜15%、
Sn;0%〜15%、
Si;0%〜15%、
La;0%〜15%、
Y;0%〜8%、
Gd;0%〜8%、
Ca;0%〜15%、
Sr;0%〜15%、
Ba;0%〜15%、
S;55%〜75%、
Te;0%〜20%、
S+Te;55%〜75%、
Ti;0.01%〜0.2%、
Li+Na+K+Cs;0%〜10%、
F+Cl+Br+I;0%〜10%
含有し、
C;0.001%〜0.2%含有する、請求項1〜5のいずれかに記載の光学ガラス。 - 請求項1〜6のいずれかに記載の光学ガラスを用いる光学素子。
- 請求項7に記載の光学素子を有する赤外線センサ。
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