JP6769141B2 - 回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体 - Google Patents
回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6769141B2 JP6769141B2 JP2016133925A JP2016133925A JP6769141B2 JP 6769141 B2 JP6769141 B2 JP 6769141B2 JP 2016133925 A JP2016133925 A JP 2016133925A JP 2016133925 A JP2016133925 A JP 2016133925A JP 6769141 B2 JP6769141 B2 JP 6769141B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- comparison
- conversion
- limit value
- upper limit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/06—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
- H03M1/0617—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence
- H03M1/0675—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence using redundancy
- H03M1/069—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence using redundancy by range overlap between successive stages or steps
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/06—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/06—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
- H03M1/0617—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence
- H03M1/0675—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence using redundancy
- H03M1/0697—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence using redundancy in time, e.g. using additional comparison cycles
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/34—Analogue value compared with reference values
- H03M1/38—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
- H03M1/46—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/66—Digital/analogue converters
- H03M1/74—Simultaneous conversion
- H03M1/80—Simultaneous conversion using weighted impedances
- H03M1/802—Simultaneous conversion using weighted impedances using capacitors, e.g. neuron-mos transistors, charge coupled devices
- H03M1/804—Simultaneous conversion using weighted impedances using capacitors, e.g. neuron-mos transistors, charge coupled devices with charge redistribution
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/06—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
- H03M1/0617—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence
- H03M1/0634—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale
- H03M1/0656—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale in the time domain, e.g. using intended jitter as a dither signal
- H03M1/066—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale in the time domain, e.g. using intended jitter as a dither signal by continuously permuting the elements used, i.e. dynamic element matching
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/34—Analogue value compared with reference values
- H03M1/38—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
- H03M1/46—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter
- H03M1/466—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter using switched capacitors
- H03M1/468—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter using switched capacitors in which the input S/H circuit is merged with the feedback DAC array
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/66—Digital/analogue converters
- H03M1/68—Digital/analogue converters with conversions of different sensitivity, i.e. one conversion relating to the more significant digital bits and another conversion to the less significant bits
- H03M1/682—Digital/analogue converters with conversions of different sensitivity, i.e. one conversion relating to the more significant digital bits and another conversion to the less significant bits both converters being of the unary decoded type
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
まず本実施形態の手法について説明する。逐次比較型のA/D変換回路では、変換サイクル数に応じて速度や消費電力が決まる。ここでの変換サイクルとは、逐次比較データのD/A変換を行い、D/A変換結果とサンプル・ホールドされた入力信号との比較処理を行い、比較結果を出力する1サイクル分の動作を表す。例えばnビットのA/D変換回路において、MSBから1ビットずつデータを決定していく一般的なA/D変換処理を行う場合、変換サイクルはnサイクルとなる。
次に本実施形態の回路装置40の例について説明する。なお、以下ではA/D変換回路である回路装置40に含まれるD/A変換回路DACが、電荷再分配型のD/A変換回路であり、そのMSB側にDEM(Dynamic Element Matching)を適用する例について説明する。ただし、本実施形態に係る回路装置40は図5、図6を用いて後述する構成に限定されず、種々の変形実施が可能である。
次に本実施形態における逐次比較処理の詳細を説明する。まず同一の比較結果が所定回数出力された場合に、変換範囲を拡張する手法の詳細な流れについて説明する。その後、冗長範囲を付加することで、比較処理の精度を向上させる手法について説明する。さらに、冗長範囲を付加することが難しい場合にも、微小信号判定を行うことで対応する手法についても説明する。
まず変換範囲を拡張する手法について説明する。なお、ここでの「拡張」とは、狭義には変換範囲の更新により変換範囲の大きさ(幅、上限値−下限値の値)が大きくなることであるが、これには限定されない。変換範囲の拡張とは、それまで変換範囲に含まれていなかった範囲が、変換範囲の更新により新たに変換範囲に追加されることを含んでもよい。例えば、上限値を増加させつつ、それ以上の増加幅で下限値を増加させる場合についても、ここでは「変換範囲の拡張」と考える。
次に、変換精度を向上させるための冗長範囲付加処理について説明する。図7〜図10を用いた処理により、アナログ入力信号VINの変化が大きい場合にも、適切な変換を実行可能と考えられる。しかし、現実の回路装置40では誤差が発生する可能性を考慮しなくてはならない。具体的には、アナログ入力信号VINが比較コードのD/A変換結果以上(未満)であるにも関わらず、比較回路CPが誤ってLレベル(Hレベル)を出力する可能性がある。その場合、図10のD2又はD3の更新を行うことで、正解データが変換範囲外となってしまい、適切な変換ができなくなってしまう。上述した図7の処理フローであれば、変換範囲を拡張する機会も限定されており、誤判定の発生タイミングによっては、その後の救済が難しい。
上述したように、変換範囲の大きさが小さくなってきた場合は、冗長範囲を付加することが難しくなる。冗長範囲を付加しない場合に誤判定が生じると、適切な変換を行うことができない。そして比較回路CPにおける誤判定は、アナログ入力信号VINと、比較コードのD/A変換結果の差が小さい場合に発生する可能性が高い。
以下、幾つかの変形例について説明する。
また、本実施形態の手法は上記回路装置40を含む種々の装置に適用できる。例えば、本実施形態の手法は物理量トランスデューサーと、物理量トランスデューサーからの検出信号に基づく物理量の検出のためのA/D変換を行う回路装置を含む物理量検出装置に適用できる。また、本実施形態の手法は、回路装置40を含む電子機器や移動体にも適用できる。
CA1〜CA128,CB1〜CB9…キャパシター、
CAR1,CAR2…キャパシターアレイ、
SA1〜SA128,SB1〜SB9…スイッチ回路、
SAR1,SAR2…スイッチアレイ、SDAC…サブD/A変換回路、
SCAR…キャパシターアレイ、SSAR…スイッチアレイ、
SFLAG…微小信号フラグ、DOUT…出力データ、VDD,GND…基準電圧、
VFS…フルスケール電圧、VIN…アナログ入力信号、CP…比較回路、
VTC…V/T変換回路、ANT…アンテナ、
30…S/H回路、40…回路装置、42…D/A変換回路、50…制御回路、
52…逐次比較レジスター、53…上限値レジスター、54…下限値レジスター、
60…電圧生成回路、70…出力部、80…検出回路、82…A/D変換回路、
84…処理部、90…微小信号判定回路、200…電子機器、206…自動車、
207…車体、208…車体姿勢制御装置、209…車輪、210…通信部、
220…処理部、230…操作部、240…表示部、250…記憶部、
300…物理量検出装置、310…物理量トランスデューサー
Claims (13)
- アナログ入力信号をA/D変換する回路装置であって、
逐次比較データを保持する逐次比較レジスターを有する制御回路と、
前記逐次比較レジスターからの出力データをD/A変換するD/A変換回路と、
前記アナログ入力信号と、前記D/A変換回路からの出力信号との比較処理を行う比較回路と、
を含み、
前記制御回路は、
前記アナログ入力信号のA/D変換により得られるA/D変換結果データの変換範囲の上限値を保持する上限値レジスターと、前記変換範囲の下限値を保持する下限値レジスターを有し、
逐次比較処理において、前記比較回路が同一の比較結果を所定の回数以上出力した場合に、前記上限値を増加させる更新及び前記下限値を減少させる更新の少なくとも一方を行い、
前記制御回路は、
前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル以上であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記下限値を、更新前の前記下限値と前記逐次比較データとの間の値に更新し、
前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル未満であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記上限値を、更新前の前記上限値と前記逐次比較データとの間の値に更新する冗長範囲付加処理を行い、
前記制御回路は、
前記逐次比較処理において、前記比較回路が同一の比較結果を前記所定の回数以上出力した場合、前記冗長範囲付加処理をスキップすることを特徴とする回路装置。 - アナログ入力信号をA/D変換する回路装置であって、
逐次比較データを保持する逐次比較レジスターを有する制御回路と、
前記逐次比較レジスターからの出力データをD/A変換するD/A変換回路と、
前記アナログ入力信号と、前記D/A変換回路からの出力信号との比較処理を行う比較回路と、
を含み、
前記制御回路は、
前記アナログ入力信号のA/D変換により得られるA/D変換結果データの変換範囲の上限値を保持する上限値レジスターと、前記変換範囲の下限値を保持する下限値レジスターを有し、
逐次比較処理において、前記比較回路が同一の比較結果を所定の回数以上出力した場合に、前記上限値を増加させる更新及び前記下限値を減少させる更新の少なくとも一方を行い、
前記制御回路は、
前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル以上であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記下限値を、更新前の前記下限値と前記逐次比較データとの間の値に更新し、
前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル未満であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記上限値を、更新前の前記上限値と前記逐次比較データとの間の値に更新する冗長範囲付加処理を行い、
前記制御回路は、
前記逐次比較処理において、前記上限値及び前記下限値で設定される前記変換範囲の大きさが、所定の範囲幅よりも小さくなった場合は、前記冗長範囲付加処理をスキップすることを特徴とする回路装置。 - 請求項2に記載の回路装置において、
前記制御回路は、
前記上限値及び前記下限値で設定される前記変換範囲が前記範囲幅よりも小さくなった場合は、前記比較回路に対して、前記アナログ入力信号と前記D/A変換回路からの前記出力信号との比較処理を複数回実行させる複数回比較処理を行うことを特徴とする回路装置。 - 請求項3に記載の回路装置において、
前記アナログ入力信号の電圧レベルと、前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベルとの差の大きさを判定する微小信号判定回路を含み、
前記制御回路は、
前記微小信号判定回路により微小信号と判定された場合は、前記冗長範囲付加処理又は前記複数回比較処理を行い、
前記微小信号判定回路により非微小信号と判定された場合は、前記冗長範囲付加処理及び前記複数回比較処理をスキップすることを特徴とする回路装置。 - 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記制御回路は、
前記逐次比較処理において、前記比較回路が、1回目の比較から同一の比較結果を前記所定の回数以上出力した場合に、前記上限値を増加させる更新及び前記下限値を減少させる更新の少なくとも一方を行うことを特徴とする回路装置。 - 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記制御回路は、
前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル以上であるとの比較結果を、前記比較回路が前記所定の回数以上出力した場合に、前記上限値を増加させ、
前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル未満であるとの比較結果を、前記比較回路が前記所定の回数以上出力した場合に、前記下限値を減少させる更新を行うことを特徴とする回路装置。 - 請求項1乃至6のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記制御回路は、
前記上限値が前記逐次比較データのフルスケールの上限に達した場合、前記上限値を前記フルスケールの上限に更新し、
前記下限値が前記逐次比較データの前記フルスケールの下限に達した場合、前記下限値を前記フルスケールの下限に更新することを特徴とする回路装置。 - 請求項1乃至7のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記逐次比較処理の開始時の前記変換範囲は、前回のA/D変換結果データを含む所定の範囲であり、
前記制御回路は、
前記所定の範囲の上限値を前記上限値レジスターの値として設定し、前記所定の範囲の下限値を前記下限値レジスターの値として設定することを特徴とする回路装置。 - 請求項1乃至8のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記制御回路は、
前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル以上であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記下限値を増加させ、
前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル未満であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記上限値を減少させる更新を行うことを特徴とする回路装置。 - 請求項1乃至9のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記制御回路は、
更新後の前記上限値及び前記下限値の平均値に対応する値に、前記逐次比較データを更新することを特徴とする回路装置。 - 物理量トランスデューサーと、
前記物理量トランスデューサーからの検出信号に基づく物理量の検出のためのA/D変換を行う請求項1乃至10のいずれか一項に記載の回路装置を含むことを特徴とする物理量検出装置。 - 請求項1乃至10のいずれか一項に記載の回路装置を含むことを特徴とする電子機器。
- 請求項1乃至10のいずれか一項に記載の回路装置を含むことを特徴とする移動体。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016133925A JP6769141B2 (ja) | 2016-07-06 | 2016-07-06 | 回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体 |
CN201710485286.0A CN107592114B (zh) | 2016-07-06 | 2017-06-23 | 电路装置、物理量检测装置、电子设备和移动体 |
US15/637,073 US9954545B2 (en) | 2016-07-06 | 2017-06-29 | Circuit device, physical quantity detection device, electronic apparatus, and vehicle |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016133925A JP6769141B2 (ja) | 2016-07-06 | 2016-07-06 | 回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018007128A JP2018007128A (ja) | 2018-01-11 |
JP2018007128A5 JP2018007128A5 (ja) | 2019-06-27 |
JP6769141B2 true JP6769141B2 (ja) | 2020-10-14 |
Family
ID=60911201
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016133925A Active JP6769141B2 (ja) | 2016-07-06 | 2016-07-06 | 回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9954545B2 (ja) |
JP (1) | JP6769141B2 (ja) |
CN (1) | CN107592114B (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018088648A (ja) * | 2016-11-29 | 2018-06-07 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 固体撮像装置 |
US10680636B2 (en) | 2018-03-26 | 2020-06-09 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Analog-to-digital converter (ADC) with reset skipping operation and analog-to-digital conversion method |
WO2021040029A1 (ja) * | 2019-08-29 | 2021-03-04 | ヌヴォトンテクノロジージャパン株式会社 | 半導体回路 |
JP2021125852A (ja) | 2020-02-07 | 2021-08-30 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 逐次比較ad変換器 |
CN113484655B (zh) * | 2021-09-07 | 2022-01-25 | 西安热工研究院有限公司 | 一种冗余测量越线检测方法、系统及存储介质 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2774955B2 (ja) * | 1994-11-01 | 1998-07-09 | 富士通株式会社 | 周囲光検出装置,光源点灯制御装置および読取装置 |
JP4011377B2 (ja) * | 2002-03-22 | 2007-11-21 | 株式会社ルネサステクノロジ | A/d変換回路 |
US20050231292A1 (en) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Hiroshi Akahori | Jitter generator |
JP2006108893A (ja) | 2004-10-01 | 2006-04-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 逐次比較型ad変換方法および逐次比較型ad変換装置 |
JP4529650B2 (ja) | 2004-11-12 | 2010-08-25 | 株式会社デンソー | 逐次比較型ad変換器 |
JP4764086B2 (ja) * | 2005-07-27 | 2011-08-31 | パナソニック株式会社 | 半導体集積回路装置 |
TWI267628B (en) * | 2005-08-25 | 2006-12-01 | Analog Integrations Corp | Single-chip gyro device implemented by back-end semiconductor fabrication process |
JP4814705B2 (ja) * | 2005-10-13 | 2011-11-16 | パナソニック株式会社 | 半導体集積回路装置及び電子装置 |
JP2010063055A (ja) * | 2008-09-08 | 2010-03-18 | Sony Corp | 逐次比較型a/d変換器、逐次比較型a/d変換器の制御方法、固体撮像装置および撮像装置 |
JP5440758B2 (ja) | 2009-05-07 | 2014-03-12 | セイコーエプソン株式会社 | A/d変換回路、電子機器及びa/d変換方法 |
JP5589780B2 (ja) | 2010-11-08 | 2014-09-17 | セイコーエプソン株式会社 | A/d変換回路、電子機器及びa/d変換方法 |
JP2012119767A (ja) * | 2010-11-29 | 2012-06-21 | Toshiba Corp | 逐次比較型a/d変換器、および、dc−dc変換器 |
JP2012151561A (ja) * | 2011-01-17 | 2012-08-09 | Seiko Epson Corp | A/d変換回路、集積回路装置及び電子機器 |
JP5699674B2 (ja) * | 2011-02-22 | 2015-04-15 | セイコーエプソン株式会社 | D/a変換回路、a/d変換回路及び電子機器 |
JP6136097B2 (ja) * | 2012-03-30 | 2017-05-31 | セイコーエプソン株式会社 | A/d変換回路及び電子機器 |
JP5549824B2 (ja) | 2013-07-01 | 2014-07-16 | セイコーエプソン株式会社 | A/d変換回路、電子機器及びa/d変換方法 |
JP6287433B2 (ja) * | 2014-03-25 | 2018-03-07 | セイコーエプソン株式会社 | 逐次比較型アナログ−デジタル変換器、物理量検出センサー、電子機器及び移動体並びに逐次比較型アナログ−デジタル変換方法 |
JP5904240B2 (ja) | 2014-07-30 | 2016-04-13 | セイコーエプソン株式会社 | A/d変換回路、電子機器及びa/d変換方法 |
-
2016
- 2016-07-06 JP JP2016133925A patent/JP6769141B2/ja active Active
-
2017
- 2017-06-23 CN CN201710485286.0A patent/CN107592114B/zh active Active
- 2017-06-29 US US15/637,073 patent/US9954545B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107592114A (zh) | 2018-01-16 |
JP2018007128A (ja) | 2018-01-11 |
US9954545B2 (en) | 2018-04-24 |
US20180013441A1 (en) | 2018-01-11 |
CN107592114B (zh) | 2023-11-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6769141B2 (ja) | 回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体 | |
US9559716B1 (en) | AD converter, AD convert apparatus, and AD convert method | |
JP6638340B2 (ja) | 回路装置、発振器、電子機器及び移動体 | |
CN104052478B (zh) | 用于adc基准电压的背景校准的系统和方法 | |
CN106092360B (zh) | 电路装置、电子设备以及移动体 | |
JP6369086B2 (ja) | 物理量センサー、センサーユニット、電子機器及び移動体 | |
JP6641712B2 (ja) | 回路装置、電子機器及び移動体 | |
US20100283645A1 (en) | A/d conversion circuit, electronic apparatus, and a/d conversion method | |
US20180130606A1 (en) | Capacitor circuit, circuit device, physical quantity detecting device, electronic apparatus, and moving object | |
JP2016171493A (ja) | 回路装置、電子機器及び移動体 | |
US10704907B2 (en) | Circuit device, electronic apparatus, moving object and method of manufacturing of physical quantity detection device | |
JP6668695B2 (ja) | 回路装置、発振器、電子機器及び移動体 | |
JP2018007165A (ja) | 温度補償型発振回路、発振器、電子機器、移動体及び発振器の製造方法 | |
JP6650788B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2019121851A (ja) | 回路装置、振動デバイス、電子機器及び移動体 | |
JP6776691B2 (ja) | 回路装置、電子機器、物理量センサー及び移動体 | |
JP7077617B2 (ja) | 回路装置、振動デバイス、電子機器及び移動体 | |
KR101711542B1 (ko) | 레인지-스케일링 기반의 복합 파이프라인 아날로그-디지털 컨버터 | |
JP5549824B2 (ja) | A/d変換回路、電子機器及びa/d変換方法 | |
US10320410B2 (en) | Successive approximation type A/D conversion circuit | |
CN107017887B (zh) | 电路装置、振荡器、电子设备和移动体 | |
JP7039946B2 (ja) | 回路装置、発振器、電子機器及び移動体 | |
JP6819115B2 (ja) | コンパレーター、回路装置、物理量センサー、電子機器及び移動体 | |
JP2010109963A (ja) | 逐次比較型ad変換回路および制御用半導体集積回路 | |
JP2018007129A (ja) | 回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190523 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190523 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200303 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200228 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200423 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200825 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200907 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6769141 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |