JP6769141B2 - 回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体 - Google Patents

回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体 Download PDF

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Description

本発明は、回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体等に関する。
従来から、アナログ信号をデジタルデータに変換するA/D変換回路として、逐次比較型のA/D変換回路が知られている。この逐次比較型のA/D変換回路は、比較回路と、逐次比較レジスターと、D/A変換回路を備え、入力信号をサンプル・ホールドした信号を逐次比較動作によりA/D変換することでデジタルデータを出力する。
入力信号をnビットのデジタルデータに変換する逐次比較型のA/D変換回路において、MSB側から1ビットずつビットデータを決定していく一般的な手法を用いた場合、変換サイクルはnサイクルとなる。サイクル数は消費電力や変換速度に影響を与えるため、変換サイクルを減らすことで、低消費電力で高速のA/D変換を実現する手法が提案されている。
例えば特許文献1には、アナログ信号毎に変換範囲を限定することで高速化を図る逐次比較A/D変換回路が開示されている。特許文献2には、前回の変換コードの上位ビットを用い、下位ビットのみの変換をすることで高速化を図る逐次比較A/D変換回路が開示されている。特許文献3には、疑似オーバーサンプリング動作を行う際に、逐次比較を行うデータ範囲を限定することで高速化を図るA/D変換回路が開示されている。
特開2006−140819号公報 特開2006−108893号公報 特開2013−211611号公報
特許文献1〜特許文献3のいずれも、変換範囲を限定することで変換サイクルを削減し、高速化を図っている。しかし、想定から大きく外れた信号が入力された場合、入力信号に対応するデジタルデータが変換範囲外となり、入力信号を適切に変換できないという課題があった。
本発明の幾つかの態様によれば、A/D変換の高速化と、変換エラーの抑制を図る回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体等を提供できる。
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態又は態様として実現することが可能である。
本発明の一態様は、アナログ入力信号をA/D変換する回路装置であって、逐次比較データを保持する逐次比較レジスターを有する制御回路と、前記逐次比較レジスターからの出力データをD/A変換するD/A変換回路と、前記アナログ入力信号と、前記D/A変換回路からの出力信号との比較処理を行う比較回路と、を含み、前記制御回路は、前記アナログ入力信号のA/D変換により得られるA/D変換結果データの変換範囲の上限値を保持する上限値レジスターと、前記変換範囲の下限値を保持する下限値レジスターを有し、逐次比較処理において、前記比較回路が同一の比較結果を所定の回数以上出力した場合に、前記上限値を増加させる更新及び前記下限値を減少させる更新の少なくとも一方を行う回路装置に関係する。
本発明の一態様では、逐次比較型のA/D変換回路である回路装置において、比較回路から同一の比較結果が所定の回数以上出力された場合に、変換範囲の上限値の増加、及び下限値の減少の少なくとも一方を行う。このようにすれば、更新前は変換範囲に含まれていなかった範囲を、新たに変換範囲に含めることが可能になる。つまり、変換範囲を設定することにより変換の高速化を実現するとともに、変換範囲の適切な更新によりエラーのない変換結果を出力すること等が可能になる。
また本発明の一態様では、前記制御回路は、前記逐次比較処理において、前記比較回路が、1回目の比較から同一の比較結果を前記所定の回数以上出力した場合に、前記上限値を増加させる更新及び前記下限値を減少させる更新の少なくとも一方を行ってもよい。
このようにすれば、逐次比較処理の1回目から同一の比較結果が出力されることを、上限値の増加や下限値の減少の条件とできるため、過剰に変換範囲を広げてしまうこと等を抑止できる。
また本発明の一態様では、前記制御回路は、前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル以上であるとの比較結果を、前記比較回路が前記所定の回数以上出力した場合に、前記上限値を増加させ、前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル未満であるとの比較結果を、前記比較回路が前記所定の回数以上出力した場合に、前記下限値を減少させる更新を行ってもよい。
このようにすれば、比較結果に応じて上限値又は下限値を更新することが可能になる。
また本発明の一態様では、前記制御回路は、前記上限値が前記逐次比較データのフルスケールの上限に達した場合、前記上限値を前記フルスケールの上限に更新し、前記下限値が前記逐次比較データの前記フルスケールの下限に達した場合、前記下限値を前記フルスケールの下限に更新してもよい。
このようにすれば、フルスケールの上限、下限を考慮するため、過剰に変換範囲を広げてしまうこと等を抑止できる。
また本発明の一態様では、前記制御回路は、前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル以上であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記下限値を、更新前の前記下限値と前記逐次比較データとの間の値に更新し、前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル未満であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記上限値を、更新前の前記上限値と前記逐次比較データとの間の値に更新する冗長範囲付加処理を行ってもよい。
このようにすれば、上限値、下限値の更新時に冗長範囲を付加でき、比較結果に誤りがある場合にも適切な変換を行うこと等が可能になる。
また本発明の一態様では、前記制御回路は、前記逐次比較処理において、前記比較回路が同一の比較結果を前記所定の回数以上出力した場合は、前記冗長範囲付加処理をスキップしてもよい。
このようにすれば、必要性が低い場合に冗長範囲付加処理をスキップできるため、変換処理の高速化が可能になる。
また本発明の一態様では、前記制御回路は、前記上限値及び前記下限値で設定される前記変換範囲の大きさが、所定の範囲幅よりも小さくなった場合は、前記冗長範囲付加処理をスキップしてもよい。
このようにすれば、A/D変換結果が収束しなくなるような過剰な冗長範囲付加処理をスキップすることが可能になる。
また本発明の一態様では、前記制御回路は、前記上限値及び前記下限値で設定される前記変換範囲が前記範囲幅よりも小さくなった場合は、前記比較回路に対して、前記アナログ入力信号と前記D/A変換回路からの前記出力信号との比較処理を複数回実行させる複数回比較処理を行ってもよい。
このようにすれば、比較処理を複数回実行するため、比較処理の精度を高くすることが可能になる。
また本発明の一態様では、前記アナログ入力信号の電圧レベルと、前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベルとの差の大きさを判定する微小信号判定回路を含み、前記制御回路は、前記微小信号判定回路により微小信号と判定された場合は、前記冗長範囲付加処理又は前記複数回比較処理を行い、前記微小信号判定回路により非微小信号と判定された場合は、前記冗長範囲付加処理及び前記複数回比較処理をスキップしてもよい。
このようにすれば、微小信号判定を行うことで、必要性が高い状況で冗長範囲付加処理や複数回比較処理を実行することが可能になる。
また本発明の一態様では、前記逐次比較処理の開始時の前記変換範囲は、前回のA/D変換結果データを含む所定の範囲であり、前記制御回路は、前記所定の範囲の上限値を前記上限値レジスターの値として設定し、前記所定の範囲の下限値を前記下限値レジスターの値として設定してもよい。
このようにすれば、前回のA/D変換結果データに基づいて、比較処理開始時の変換範囲を設定することが可能になる。
また本発明の一態様では、前記制御回路は、前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル以上であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記下限値を増加させ、前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル未満であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記上限値を減少させる更新を行ってもよい。
このようにすれば、比較結果に基づいて変換範囲を狭めていくことで、A/D変換結果データを求めることが可能になる。
また本発明の一態様では、前記制御回路は、更新後の前記上限値及び前記下限値の平均値に対応する値に、前記逐次比較データを更新してもよい。
このようにすれば、上限値、下限値の更新に合わせて、逐次比較データを適切に更新することが可能になる。
また本発明の他の態様は、物理量トランスデューサーと、前記物理量トランスデューサーからの検出信号に基づく物理量の検出のためのA/D変換を行う上記の回路装置を含む物理量検出装置に関係する。
また本発明の他の態様は、上記の回路装置を含む電子機器に関係する。
また本発明の他の態様は、上記の回路装置を含む移動体に関係する。
本実施形態の回路装置であるA/D変換回路の構成例。 変換範囲の推移を表すシミュレーション図。 変換範囲の推移を表すシミュレーション図。 入力信号振幅とサイクル数の関係図。 本実施形態の回路装置であるA/D変換回路の構成例。 A/D変換回路の詳細な構成例。 本実施形態の逐次比較処理を説明するフローチャート。 上限値、下限値、逐次比較データの更新例。 本実施形態のレジスター動作の説明図。 本実施形態のレジスター動作の説明図。 冗長範囲付加処理を行う場合の逐次比較処理を説明するフローチャート。 冗長範囲付加処理を行う場合の上限値、下限値、逐次比較データの更新例。 冗長範囲付加処理を行う場合のレジスター動作の説明図。 冗長範囲付加処理を行う場合のレジスター動作の説明図。 微小信号判定を行う場合の逐次比較処理を説明するフローチャート。 比較回路及び微小信号判定回路の構成例。 比較回路、微小信号判定回路の動作を説明する波形図。 比較回路、微小信号判定回路の動作を説明する波形図。 本実施形態の回路装置を含む物理量検出装置の構成例。 本実施形態の回路装置を含む電子機器の例。 本実施形態の回路装置を含む移動体の例。
以下、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお以下に説明する本実施形態は特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではなく、本実施形態で説明される構成の全てが本発明の解決手段として必須であるとは限らない。
1.本実施形態の手法
まず本実施形態の手法について説明する。逐次比較型のA/D変換回路では、変換サイクル数に応じて速度や消費電力が決まる。ここでの変換サイクルとは、逐次比較データのD/A変換を行い、D/A変換結果とサンプル・ホールドされた入力信号との比較処理を行い、比較結果を出力する1サイクル分の動作を表す。例えばnビットのA/D変換回路において、MSBから1ビットずつデータを決定していく一般的なA/D変換処理を行う場合、変換サイクルはnサイクルとなる。
上記一般的なA/D変換処理とは、フルスケール電圧VFSに対応するデジタルデータのフルスケール0〜2−1の全体を変換範囲として、アナログ入力信号(入力電圧)の変換を行うことになる。これに対して、変換範囲をフルスケールよりも狭い範囲に限定できれば、変換サイクルを少なくでき、A/D変換の高速化、省電力化が可能になる。
例えば特許文献2のように、上位ビットを固定し、下位ビットのみを変換範囲とする。nビットのうちの上位kビットを固定できれば、変換範囲は下位n−kビットに相当する2n−kの範囲に限定でき、変換サイクルはn−kサイクルとなる。また、変換範囲を狭い範囲に限定できればよいため、特許文献3のように、変換範囲の上限値及び下限値を設定し、当該上限値及び下限値で設定される変換範囲を対象としてA/D変換を行うことでも、高速化、省電力化を図ることができる。
しかし、これらの手法は、変換範囲外の部分を探索対象としないことで高速化等を実現する手法であるため、正解データ(アナログ入力信号に対応するデジタルデータ)が狭く限定した変換範囲内にあることが必要となる。そのため、想定から大きく外れた信号が入力され、正解データが変換範囲外となったとしても、出力されるデジタルデータの候補は変換範囲内に限定されてしまい、適切な変換ができないという課題があった。
言い換えれば、従来手法は入力信号の範囲をある程度想定可能な場合に有用な手法と言える。例えば、特許文献3の手法は、疑似オーバーサンプリングを行うため、同じ入力信号を対象として複数回の逐次比較処理を行う。所与の入力信号に対して2回目以降の逐次比較処理を行う場合、A/D変換結果データは、前回のA/D変換結果データと同等となることが期待されるため、変換範囲を狭めたとしても問題は生じにくい。これに対して、入力信号の変動を考慮しなければならない状況では、上記のように適切な変換ができないおそれがある。
これに対して、正解データが変換範囲から外れているか否かを判定し、外れている場合には変換範囲を変更する手法も考えられる。このようにすれば、想定から大きく外れた信号が入力された場合にも、適切な変換結果を取得可能である。しかしこの場合、変換範囲を外れたか否かの判定サイクルが生じることになり、変換サイクル数の増大を招く。そもそも変換範囲を限定する手法が変換サイクル数を削減し、高速化、省電力化を意図したものであるのに、判定サイクルによるサイクル数の増大はそれらの効果を損なわせてしまう。
よって本出願人は、高速化と、エラーのない変換結果を得ることとを両立する手法を提案する。本実施形態に係る回路装置40は、アナログ入力信号をA/D変換する回路装置であって、図1に示すように、逐次比較データを保持する逐次比較レジスター52を有する制御回路50と、逐次比較レジスター52からの出力データ(逐次比較データ)をD/A変換するD/A変換回路DACと、アナログ入力信号VINと、D/A変換回路DACからの出力信号DQとの比較処理を行う比較回路CPを含む。そして制御回路50は、アナログ入力信号のA/D変換により得られるA/D変換結果データの変換範囲の上限値を保持する上限値レジスター53と、変換範囲の下限値を保持する下限値レジスター54を有し、逐次比較処理において、比較回路CPが同一の比較結果を所定の回数以上出力した場合に、上限値を増加させる更新及び下限値を減少させる更新の少なくとも一方を行う。
なお、回路装置40は、図1に示したようにA/D変換の対象となるアナログ入力信号VINをサンプル・ホールドするS/H回路30と、逐次比較動作で得られたA/D変換結果データに基づいて、出力データDOUTを出力する出力部70を含んでもよい。ただし、回路装置40は図1の構成に限定されず、これらの一部の構成要素を省略したり、他の構成要素を追加するなどの種々の変形実施が可能である。例えば、図5、図6を用いて後述するように電荷再分配型のD/A変換回路DACを用いる場合には、S/H回路30の機能はD/A変換回路DACにより実現できる。
ここで、逐次比較処理とは、アナログ入力信号VINに対応するA/D変換結果データを1回求める間に行われる処理を表す。具体的には、上記変換サイクルを複数回繰り返す処理に相当し、後述する図7のフローチャート全体の処理に相当する。また本実施形態では、アナログ入力信号VINに対応するA/D変換結果データが確定し、出力データDOUTとして出力されるまでの処理をA/D変換処理とよぶ。一般的には、1回の逐次比較処理により得られたA/D変換結果データを出力データDOUTとすればよく、1回のA/D変換処理は1回の逐次比較処理により行われる。ただし、特許文献3の疑似オーバーサンプリングのように、複数のA/D変換結果データを用いて1つの出力データDOUTを取得してもよく、その場合、1回のA/D変換処理において、複数回の逐次比較処理が実行されることになる。
また、比較回路CPからの比較結果(比較結果信号CPQ)とは、2入力の比較回路であれば、第1入力≧第2入力、又は第1入力<第2入力のいずれかを表す情報である。より具体的には、アナログ入力信号VINと、逐次比較データのD/A変換結果であるD/A変換回路DACからの出力信号DQが、VIN<DQと、VIN≧DQのいずれであるかを表す情報である。
本実施形態の手法によれば、同一の比較結果が所定回数出力された場合に、上限値の増加、及び下限値の減少の少なくとも一方の更新を行う。後述するように、逐次比較処理では上限値の減少又は下限値の増加により、変換範囲を狭めることでA/D変換結果データを取得する。そのため従来手法であれば、変換範囲の初期値(初期範囲)内に正解データがなければ、変換範囲をどのように狭めようとも適切なA/D変換結果データを取得することはできない。その点、本実施形態の手法では、上限値の増加、下限値の減少という逆方向の更新処理を行う。そのため、変換範囲の初期値から外れている範囲を新たに変換範囲に含めることが可能になり、エラーのない変換結果を得ることが可能になる。
さらに本実施形態では、同一の比較結果が所定回数出力されることを、上限値の増加、及び下限値の減少の少なくとも一方の更新を行うトリガーとする。比較回路CPで行われる比較は、あくまで逐次比較データのD/A変換結果とアナログ入力信号VINとの比較処理であるため、変換範囲の拡張専用の比較処理が必須とならない。そのため、変換サイクル数の過剰な増大を抑止できる。
図2及び図3は、変換範囲の推移を説明するシミュレーション図である。縦軸がデジタルデータの値を表し、横軸が時間を表す。また、実線が上限値の推移を表し、破線が下限値の推移を表す。なお、図2、図3では、図11等を用いて後述する冗長範囲付加を行う例を示しているが、この構成は必須ではない。
図2は、アナログ入力信号VINの変化が小さく、正解データA1が変換範囲A2に含まれる場合の例である。この場合、下限値の増加(A3等)及び上限値の減少(A4等)により変換範囲が狭まっていき、A5に示したタイミングでA/D変換結果データが取得される。つまり図2は変換範囲の初期値に問題がないケースであり、変換範囲をフルスケールに比べて狭く設定することで高速化が実現されている。
図3は、アナログ入力信号VINの変化が大きく、正解データB1が変換範囲B2の範囲外となる例である。図3の例では、アナログ入力信号VINは、逐次比較データ(変換範囲内のいずれかのデジタルデータ)のD/A変換結果(DQ)に比べて大きく、VIN≧DQとの比較結果が連続する。これにより本実施形態の制御回路50では、B3に示したように変換範囲の上限値を増加させていく。これにより、正解データが変換範囲内となり、VIN<DQとの比較結果も出力される。結果として、B4に示したように上限値も減少を始め、B5に示したタイミングでA/D変換結果データが取得される。
なお、上限値の増加又は下限値の減少を行うことで、変換範囲の対象でなかった領域を新たに変換範囲に含めることになる。つまり、正解データの探索対象が増えることになり、変換サイクル数が増大する。この増大幅が過剰に大きい場合、高速化、低消費電力化の効果が損なわれてしまうため、本出願人はこの点についても検証した。
図4は、アナログ入力信号VINの振幅と変換サイクル数の関係を示す図である。横軸がアナログ入力信号VINの振幅であり、アナログ入力信号VINが変化しやすいか否かを表す。縦軸は変換サイクル数を表す。AVGは変換サイクル数の平均値を表し、MAXは変換サイクル数の最大値を表す。また図4では、後述する冗長範囲付加も考慮した結果となっている。
ここでは、16ビットのA/D変換を考えているため、フルスケールを対象とするA/D変換であれば変換サイクルは16サイクルとなる。図4に示したように、本実施形態の手法ではアナログ入力信号VINの振幅が大きいほど、変換サイクル数は平均値、最大値とも大きくなっていく。振幅が小さい範囲では、変換サイクル数は10サイクルであり、本来の16サイクルに比べて高速化が可能となっている。また、振幅が500mV程度に大きくなっても、変換サイクル数は17サイクルに留まり、本来の16サイクルに対する増大幅は大きくない。
図4からわかるように、本実施形態で想定する入力信号振幅の範囲であれば、上限値の増加又は下限値の減少を行ったとしても、高速化、省電力化の効果は大きい。すなわち本実施形態の手法は、速度と変換精度のバランスがとれた適切なA/D変換を実現することが可能である。
以下、本実施形態に係る回路装置40の具体的な構成例について説明した後、逐次比較処理の具体的な処理の流れを説明する。最後に、本実施形態の回路装置を含む種々の装置の例を説明する。
2.回路装置の構成例
次に本実施形態の回路装置40の例について説明する。なお、以下ではA/D変換回路である回路装置40に含まれるD/A変換回路DACが、電荷再分配型のD/A変換回路であり、そのMSB側にDEM(Dynamic Element Matching)を適用する例について説明する。ただし、本実施形態に係る回路装置40は図5、図6を用いて後述する構成に限定されず、種々の変形実施が可能である。
図5は、本実施形態の回路装置40である逐次比較型のA/D変換回路の構成例である。この回路装置40は、キャパシター回路(CAR1、SAR1、CAR2、SAR2)と、スイッチ制御信号(SC1、SC2)を出力する制御回路50(処理部、ロジック部)を含む。例えば回路装置40(A/D変換回路)は、キャパシターアレイ(CAR1、CAR2)が比較ノードNC(サンプリングノード)に接続される比較回路CP(コンパレーター)と、キャパシターアレイ(CAR1、CAR2)とスイッチアレイ(SAR1、SAR2)とを有し、電荷再分配型のD/A変換を行うD/A変換回路42(DAC1、DAC2)と、制御回路50を含む。そして制御回路50は、比較回路CPの比較結果(CPQ)に基づいてスイッチ制御信号(SC1、SC2)を生成して、スイッチアレイ(SAR1、SAR2)に出力する。
具体的には、D/A変換回路42(図1のDACに対応)は、MSB側(上位ビット側)のD/A変換回路DAC1と、LSB側(下位ビット側)のD/A変換回路DAC2と、サブD/A変換回路SDACと、を含む。MSB側のD/A変換回路DAC1は、キャパシターアレイCAR1とスイッチアレイSAR1を有する。LSB側のD/A変換回路DAC2は、キャパシターアレイCAR2とスイッチアレイSAR2を有する。例えばキャパシターアレイCAR1、CAR2の他端は、比較ノードNCに接続される。比較ノードNCは、比較回路CPの反転入力端子(第1の端子)に接続され、比較回路CPの非反転入力端子(第2の端子)はGND(基準電圧)に設定される。キャパシターアレイCAR1、CAR2の一端は、各々、スイッチアレイSAR1、SAR2に接続される。そしてスイッチアレイSAR1、SAR2は、各々、制御回路50からのスイッチ制御信号SC1、SC2によりスイッチ制御される。
なお、サブD/A変換回路SDACは、各種の調整用のD/A変換回路であり、キャパシターアレイSCARと、スイッチアレイSSARを有する。キャパシターアレイSCARの他端は比較ノードNCに接続され、キャパシターアレイSCARの一端はスイッチアレイSSARに接続される。スイッチアレイSSARは、制御回路50からのスイッチ制御信号SC3によりスイッチ制御される。サブD/A変換回路SDACにより、容量のバラツキのトリミング調整や、コードシフトなどの処理を実現できる。
制御回路50は、逐次比較のA/D変換のための各種の処理を行う。そしてスイッチ制御信号SC1、SC2をD/A変換回路DAC1、DAC2に出力する。例えば制御回路50は、比較回路CPからの比較結果信号CPQによりレジスター値が設定される逐次比較レジスター52を有し、逐次比較用データを生成する。D/A変換回路42は、この逐次比較用データをD/A変換する回路となる。具体的には、制御回路50からは、逐次比較用データに対応するスイッチ制御信号SC1、SC2が出力される。そしてD/A変換回路42のD/A変換回路DAC1、DAC2が、スイッチ制御信号SC1、SC2に基づいて電荷再分配型のD/A変換を行う。
この場合に制御回路50は、MSB側のD/A変換回路DAC1に対しては、DEM(Dynamic Element Matching)制御によるスイッチ制御信号SC1を出力する。DEM制御としては、例えば循環方式の手法を採用できる。このようなDEM制御を行うことで、キャパシターアレイにおいてスイッチ制御信号(逐次比較用データ)により選択されるキャパシターの組み合わせパターンにランダム性を持たせることが可能になり、キャパシターの見かけ上の容量の比精度を向上できる。
また図5の回路装置40では、電圧生成回路60が設けられている。電圧生成回路60としては、抵抗型DAC(抵抗ラダー型DAC、R2−Rラダー型DAC)を用いることができる。この電圧生成回路60は、バイナリーで重み付けされた電圧V1〜V9を生成して、LSB側のD/A変換回路DAC2に供給する。例えば、V9=VDD/2、V8=VDD/4、V7=VDD/8、V6=VDD/16・・・・V1=VDD/512というような電圧を生成して、D/A変換回路DAC2に供給する。D/A変換回路DAC2は、これらの電圧V1〜V9を用いて電荷再分配型のD/A変換を行う。
図6は、本実施形態の回路装置40であるA/D変換回路の詳細な構成例である。このA/D変換回路は16ビットの逐次比較のA/D変換を行う。この16ビットのA/D変換は、例えばMSB側のD/A変換回路DAC1による7ビットの電荷再分配型のD/A変換と、LSB側のD/A変換回路DAC2による9ビットの電荷再分配型のD/A変換により実現される。
MSB側のD/A変換回路DAC1のキャパシターアレイCAR1は、他端が比較ノードNCに接続されるキャパシターCA1〜CA128を有する。これらのキャパシターCA1〜CA128は、容量値が1Cであるユニットキャパシター(単位容量)である。スイッチアレイSAR1は、スイッチ回路SA1〜SA128を有し、キャパシターCA1〜CA128の一端は、スイッチ回路SA1〜SA128の一端に接続される。スイッチ回路SA1〜SA128の他端には、入力電圧(アナログ入力信号VIN)、高電位側の基準電圧VDD、低電位側の基準電圧GNDが供給される。スイッチ回路SA1〜SA128は、DEM制御のスイッチ制御信号SC1によりスイッチ制御される。また、比較ノードNCには低電位側の基準電圧GNDの供給/非供給を制御するスイッチ回路S0が接続される。
LSB側のD/A変換回路DAC2のキャパシターアレイCAR2は、他端が比較ノードNCに接続されるキャパシターCB1〜CB9を有する。これらのキャパシターCB1〜CB9は、容量値が1Cであるユニットキャパシターである。スイッチアレイSAR2は、スイッチ回路SB1〜SB9を有し、キャパシターCB1〜CB9の一端は、スイッチ回路SB1〜SB9の一端に接続される。スイッチ回路SB1〜SB9の他端には、電圧生成回路60(抵抗型DAC)からの電圧V1〜V9と、低電位側の基準電圧GNDが供給される。例えばスイッチ回路SB1には、電圧V1とGNDが供給され、スイッチ回路SB2には、電圧V2とGNDが供給される。他のスイッチ回路SB3〜SB9も同様である。
図6の回路装置40の動作について簡単に説明する。アナログ入力信号VINのサンプリング期間においては、スイッチ回路S0がオンとなることで比較ノードNCはGNDに接続され、MSB側のD/A変換回路DAC1のスイッチ回路SA1〜SA128がVINを選択する。この時にLSB側のスイッチ回路SB1〜SB9は例えばGNDを選択する。これによりVINが、キャパシターCA1〜CA128の一端に供給され、VINに対応する電荷がキャパシターに蓄積される。そしてサンプリング期間の終了後に、逐次比較によるA/D変換動作が行われる。
この場合に、スイッチ回路S0はオフとなり、比較ノードNCの電位は、スイッチ回路SA1〜SA128、スイッチ回路SB1〜SB9の制御状態に応じて変化する。D/A変換回路DAC1のスイッチ回路SA1〜SA128は、例えば循環方式のDEM制御によりスイッチ制御される。例えば、まず初めにDEMのポインターがキャパシターCA1の位置に設定される(例えばP=0)。そして、そのポインターの位置から逐次比較データ(特にそのうちの上位7ビット)に対応するスイッチ制御信号SC1により決定されるn個のスイッチ回路SA1〜SAnがVDDを選択し、残りの128−n個のスイッチ回路SAn+1〜SA128がGNDを選択する。これによりキャパシターCA1〜CAnの一端にはVDDが供給され、キャパシターCAn+1〜CA128の一端にはGNDが供給される。例えば逐次比較データの上位7ビットが“1000000”であればn=64となる。
そして比較回路CPの比較結果信号CPQがHレベル(アクティブレベル)か、Lレベル(非アクティブレベル)かに応じて、変換範囲の上限値及び下限値の少なくとも一方が更新され、更新後の上限値及び下限値に基づいて、逐次比較データの更新が行われる。更新の具体的な手法については後述する。D/A変換回路DAC1では、DEMポインターPと更新後の逐次比較データに基づいて、スイッチ回路SA1〜SA128のうち、VDDを選択するスイッチ回路、GNDを選択するスイッチ回路を決定すればよい。
このようにして、アナログ入力信号VINに対する逐次比較処理が行われる。そして、逐次比較処理の終了時の最後の選択キャパシター位置の次のキャパシター位置を、次の逐次比較処理で用いる。例えば逐次比較処理の終了時において、スイッチ回路SA1〜SA40がVDDを選択し(P=0)、スイッチ回路SA41〜SA128がGNDを選択した場合には、次の逐次比較処理のサイクルにおいては、DEMポインターPとして、キャパシターCA40の次のキャパシターCA41を表す値(P=40)を用いて、DEMの制御が行われる。
一方、LSB側のD/A変換回路DAC2では、このようなDEMの制御が行われない。そしてD/A変換回路DAC2は、スイッチ回路SB1〜SB9に入力されたバイナリーに重み付けらされた電圧V1〜V9を用いて、電荷再分配のD/A変換を行う。このような構成にすることで、D/A変換回路DAC1とD/A変換回路DAC2の間に直列キャパシターを設ける構成としなくても、高分解能・高精度のA/D変換を実現できるようになる。
3.逐次比較処理の詳細
次に本実施形態における逐次比較処理の詳細を説明する。まず同一の比較結果が所定回数出力された場合に、変換範囲を拡張する手法の詳細な流れについて説明する。その後、冗長範囲を付加することで、比較処理の精度を向上させる手法について説明する。さらに、冗長範囲を付加することが難しい場合にも、微小信号判定を行うことで対応する手法についても説明する。
3.1 変換範囲の拡張
まず変換範囲を拡張する手法について説明する。なお、ここでの「拡張」とは、狭義には変換範囲の更新により変換範囲の大きさ(幅、上限値−下限値の値)が大きくなることであるが、これには限定されない。変換範囲の拡張とは、それまで変換範囲に含まれていなかった範囲が、変換範囲の更新により新たに変換範囲に追加されることを含んでもよい。例えば、上限値を増加させつつ、それ以上の増加幅で下限値を増加させる場合についても、ここでは「変換範囲の拡張」と考える。
図7は制御回路50で行われる逐次比較処理を説明するフローチャートである。図8は上限値、下限値及び比較コード(逐次比較データ)の更新例である。また図9及び図10は、レジスター動作を説明する図である。以下、図7のフローチャートに沿って制御回路50で行われる処理の流れを説明しつつ、各ステップの詳細や具体例について、適宜図8〜図10を参照して説明を行う。なお、図8では16ビットのA/D変換を考えているため、フルスケール電圧VFSに対応するデジタルデータのフルスケールは、0以上65536未満となる。
逐次比較処理が開始されると、まず制御回路50は、変換範囲の上限値、下限値、拡張コードの初期化処理を行う(ステップS101)。逐次比較処理の開始時の変換範囲は、前回のA/D変換結果データを含む所定の範囲とするとよい。そして制御回路50は、当該所定の範囲の上限値を上限値レジスターの値として設定し、当該所定の範囲の下限値を下限値レジスターの値として設定する。
このようにすれば、前回のA/D変換結果データを基準として、変換範囲の初期値を設定することが可能になる。A/D変換結果データの取得レート(逐次比較処理の実行レート)や、アナログ入力信号VINの特性にも依存するが、前回の逐次比較処理から今回の逐次比較処理までの間では、アナログ入力信号VINが大きく変化しないことも多いと考えられる。よって前回のA/D変換結果データを含む変換範囲を設定することで、変換範囲内に正解データが存在する可能性を高くでき、変換処理の高速化等が可能になる。
図9は、上限値レジスター53、下限値レジスター54、拡張コードレジスターの動作を説明する図である。図9に示したように、制御回路50は、前回のA/D変換結果データに対して、片側変換範囲初期値を加算したデータを上限値として上限値レジスター53に保存し、前回のA/D変換結果データから、片側変換範囲初期値を減算したデータを下限値として下限値レジスター54に保存する。ここでの片側変換範囲初期値とは、上記所定の範囲の幅の1/2の大きさに対応する値である。すなわち、図9に示した初期化により、変換範囲の初期値を、前回のA/D変換結果データを中心とする所定の範囲とすることが可能になる。
また、ここでの拡張コードとは、上限値を増加させる場合の増加幅、又は下限値を減少させる場合の減少幅を表すデジタルデータである。拡張コードの初期値については種々の設定が可能であるが、図9の例では制御回路50は、片側変換範囲初期値を拡張コードの初期値として、拡張コードレジスターに保存する。
図8のC1〜C3がステップS101に対応する。前回のA/D変換結果データ(C1)に対して、片側変換範囲初期値だけ上側に上限値が設定され(C2)、片側変換範囲初期値だけ下側に下限値が設定される(C3)。比較回路CPでの1回目の比較処理は、C2,C3で決定される変換範囲を対象として実行される。
初期値の設定後、制御回路50は、逐次比較のループ処理を開始する(ステップS102)。まず制御回路50は比較コードを生成し、D/A変換回路DACに比較コードを入力する(ステップS103)。図10のD1に示したように、比較コードの生成は、上限値及び下限値に基づいて行う。比較コードは、上限値より小さく、且つ下限値より大きい値とすればよい。例えば制御回路50は、上限値と下限値の平均値、或いは平均値に近い値を比較コードとすればよい。
次に制御回路50は、比較回路CPの出力である比較結果(比較結果信号CPQ)に基づいて、逐次比較処理の開始時から比較結果が変化したか否かを判定する(ステップS104)。1回目の比較の場合又は比較結果に変化があった場合は、ステップS105に移行する。
制御回路50は、比較結果を判定し(ステップS105)、比較結果に応じて上限値又は下限値を更新する。具体的には、制御回路50は、アナログ入力信号VINの電圧レベルがD/A変換回路DACからの出力信号DQ(比較コードのD/A変換結果)の電圧レベル以上であるとの比較結果を、比較回路CPが出力した場合に、下限値を増加させる。また制御回路50は、アナログ入力信号VINの電圧レベルがD/A変換回路DACからの出力信号DQの電圧レベル未満であるとの比較結果を、比較回路CPが出力した場合に、上限値を減少させる更新を行う。以下、アナログ入力信号の電圧レベルがD/A変換回路DACからの出力信号DQの電圧レベル以上であるとの比較結果を「Hレベル」と表記し、アナログ入力信号の電圧レベルがD/A変換回路DACからの出力信号DQの電圧レベル未満であるとの比較結果を「Lレベル」と表記する。
図7に示したように、制御回路50は比較回路CPの出力がHレベルの場合には、下限値を更新し(ステップS106)、比較回路CPの出力がLレベルの場合には、上限値を更新する(ステップS107)。具体的には、比較結果がHレベルの場合には、正解データは比較コード以上の範囲にあると考えられる。よって制御回路50は、図10のD2に示したように、比較コードの値を下限値とする更新を行えばよい。また、比較結果がLレベルの場合には、正解データは比較コード未満の範囲にあると考えられる。よって制御回路50は、図10のD3に示したように、比較コードから1を減算した値を上限値とする更新を行えばよい。
図8では、正解データがC4の点線に対応する。よって、変換範囲の初期値(C2,C3)から設定された比較コード(C5)を用いた比較処理ではHレベルとの結果が出力される。よって制御回路50は、下限値を比較コードの値に更新する(C6)。この場合、上限値については前回の値を維持する(C7)。
上限値、下限値の更新後、制御回路50は上限値=下限値であるか否かを判定する(ステップS108)。ステップS108でYesの場合はループ処理を終了し(ステップS113)、1回の逐次比較処理についても終了する。
ステップS108でNoの場合にはステップS102からのループ処理を継続する。具体的には、制御回路50は、更新後の上限値及び下限値の平均値に対応する値に、逐次比較データを更新し(ステップS103)、比較結果について判定を行う。このようにすれば、上限値、下限値の更新結果に応じた逐次比較データを生成できるため、比較処理の繰り返しによりA/D変換結果データを求めることが可能になる。
図8の例では、下限値C6と上限値C7に基づいて、比較コードC8を生成する。ここで、C4>C8であるため、2回目の比較結果についてもHレベルとなる。つまり、逐次比較処理の開始から比較結果が変化していない、すなわち同一の比較結果が所定の回数(ここでは2回)出力されたことになる。よって制御回路50は、ステップS104で「変化無し」と判定し、変換範囲を拡張する処理を行う。
まず制御回路50は、拡張コードを増加させる更新を行う(ステップS109)。これは例えば、図10のD4に示したように、拡張コードをそれまでの値の2倍にする処理を行えばよく、ビットシフト演算等により実現できる。拡張コードは、上述したように上限値の増加幅又は下限値の減少幅に対応する。拡張コードの値が大きすぎると、変換範囲の幅が大きくなりやすいため、収束までのサイクル数(上限値=下限値となりA/D変換結果データが求まるまでのサイクル数)が多くなり、高速化の効果が損なわれるおそれがある。その一方で、拡張コードの値が小さすぎると、必要な拡張回数が増えてしまい、やはり収束までのサイクル数が多くなってしまう。よって本実施形態では、拡張コードの初期値をある程度の値に抑えておいた上で、拡張を実行する度に拡張コードを増加させていくことでバランスをとる。これにより、変換範囲に対する正解データの外れ度合いが小さければ、過剰に変換範囲を広げることがないし、変換範囲に対する正解データの外れ度合いが大きい場合にも、少ない拡張回数で適切に正解データを変換範囲内に含めることが可能になる。なお、ステップS109の処理を後段で行ったり、もしくは拡張コードの更新を行わない等、種々の変形実施も可能である。
そして、制御回路50は、比較結果の判定を行い(ステップS110)、アナログ入力信号VINの電圧レベルがD/A変換回路DACからの出力信号DQの電圧レベル以上であるとの比較結果(Hレベル)を、比較回路CPが所定の回数以上出力した場合に、上限値を増加させ、アナログ入力信号VINの電圧レベルがD/A変換回路DACからの出力信号DQの電圧レベル未満であるとの比較結果(Lレベル)を、比較回路CPが所定の回数以上出力した場合に、下限値を減少させる更新を行う。
すなわち、ステップS110でHレベルの場合には、上限値を増加させる(ステップS111)。具体的には、図10のD5に示したように、現在の上限値に拡張コードを加算した値を新たな上限値とする。またD5に示したように、ステップS111では、ステップS106と同様に、比較コードを下限値とする更新処理を合わせて行ってもよい。
また、ステップS110でLレベルの場合には、下限値を減少させる(ステップS112)。具体的には、図10のD6に示したように、現在の下限値から拡張コードを減算した値を新たな下限値とする。またD6に示したように、ステップS112では、ステップS107と同様に、比較コードから1減算した値を上限値とする更新処理を合わせて行ってもよい。なお、以上の説明からわかるように、図10のD2、D3、D5、D6は1回の更新処理においては、そのいずれか1つが行われる。
図8の例では、2回目の比較結果もHレベルとなった。そのため、ステップS111、図10のD5の処理が実行される。具体的には、制御回路50は、下限値を比較コードの値に更新し(C9)、上限値を拡張コード分だけ増加させる(C10)。
本実施形態の手法によれば、比較結果の履歴に基づいて、変換範囲を拡張することが可能になる。図8のC2とC4の比較からわかるように、正解データが変換範囲外である場合には、Hレベル或いはLレベルとの比較結果が連続することになる。よって本実施形態では、同一の比較結果が所定の回数だけ出力されたことをトリガーとして、変換範囲を拡張する。このようにすれば、専用の比較処理を行うことなく変換範囲の拡張が可能になり、高速化の効果が損なわれることを抑止可能である。例えば本実施形態の手法であれば、上限値のD/A変換結果とアナログ入力信号VINの比較、或いは下限値のD/A変換結果とアナログ入力信号VINとの比較は必須とならない。
以降の処理も同様であり、ステップS102〜ステップS112に示したループ処理を、ステップS108でYesと判定されるまで実行すればよい。図8の例であれば、3回目の比較に用いられる比較コード(C11)のD/A変換結果がアナログ入力信号VINより大きくなるため、Lレベルと判定され、ステップS107の処理により上限値が更新される(C12)。これ以降は変換範囲の拡張は不要であり、ステップS106又はステップS107の処理により変換範囲を狭めていき、上限値=下限値となったところでその際の下限値(又は上限値)の値をA/D変換結果データとすればよい。
なお、制御回路50は、図7のステップS104に示したように、逐次比較処理において、比較回路CPが、1回目の比較から同一の比較結果を所定の回数以上出力した場合に、上限値を増加させる更新及び下限値を減少させる更新の少なくとも一方を行う。
そのため、例えば上記所定の回数が2回であって、1回目から3回目の比較結果がLレベル→Hレベル→Hレベルとなった場合、Hレベルが2回出力されているが、上限値を増加させる更新を行う必要はない。同様に、1回目から3回目の比較結果がHレベル→Lレベル→Lレベルとなった場合に、下限値を減少させる更新を行う必要はない。
すでに少なくとも1回Lレベルの出力が行われているのであれば、正解データはその際の比較コード未満ということになる。つまり、現状の上限値の設定において正解データを変換範囲内に含んでいると考えることができる。よって、その後Hレベルとの判定が連続したとしても、上限値を増加させて変換範囲を拡張する意義が薄い。少なくとも1回Hレベルの出力が行われた後に、所定の回数だけLレベルが出力された場合についても同様である。以上を考慮し、本実施形態では「1回目の比較から同一の比較結果を所定の回数以上出力する」ことを変換範囲拡張の条件として用いる。これにより、必要性の低い拡張処理を抑止できるため、適切な高速化が可能になる。
後述するように、比較回路CPで誤判定が生じる場合もあり得るが、その場合も誤判定が起こる程度にアナログ入力信号VINと比較コードのD/A変換結果が近い(後述する「微小信号」である)ことになる。よって、後述する冗長範囲付加、或いは複数回判定により対応可能であり、変換範囲の拡張を行わなくてよい。
また、制御回路50は、上限値が逐次比較データのフルスケールの上限に達した場合、上限値をフルスケールの上限に更新し、下限値が逐次比較データのフルスケールの下限に達した場合、下限値をフルスケールの下限に更新する。
上述したように、上限値、下限値は拡張コード分だけ増加又は減少する。そのため、更新前の上限値、下限値と拡張コードの状態によっては、上限値+拡張コードがフルスケールの上限値を超える(16ビットであれば65536以上となる)場合や、下限値−拡張コードがフルスケールの下限値を超える(0未満となる)場合があり得る。その場合、フルスケールを超える範囲を変換範囲に含めたとしても意義が薄い。また、上限値及び下限値で決定される逐次比較データがフルスケールの上限値下限値に近づきすぎることで非効率な探索になるおそれもあるし、極端な例では逐次比較データがフルスケールの上限値下限値を超えてしまい、適切な比較とならないおそれもある。
その点、上限値及び下限値をフルスケールの上限、下限にとどめておくことで、適切な逐次比較処理を実現可能である。上述した図3の例であれば、B6に示した範囲ではHレベルの出力が連続しているが、上限値がフルスケールの上限に達しているため、それ以上増加することがない。
3.2 冗長範囲付加
次に、変換精度を向上させるための冗長範囲付加処理について説明する。図7〜図10を用いた処理により、アナログ入力信号VINの変化が大きい場合にも、適切な変換を実行可能と考えられる。しかし、現実の回路装置40では誤差が発生する可能性を考慮しなくてはならない。具体的には、アナログ入力信号VINが比較コードのD/A変換結果以上(未満)であるにも関わらず、比較回路CPが誤ってLレベル(Hレベル)を出力する可能性がある。その場合、図10のD2又はD3の更新を行うことで、正解データが変換範囲外となってしまい、適切な変換ができなくなってしまう。上述した図7の処理フローであれば、変換範囲を拡張する機会も限定されており、誤判定の発生タイミングによっては、その後の救済が難しい。
よって制御回路50は、アナログ入力信号VINの電圧レベルがD/A変換回路DACからの出力信号DQの電圧レベル以上であるとの比較結果を、比較回路CPが出力した場合に、下限値を、更新前の下限値と逐次比較データとの間の値に更新し、アナログ入力信号VINの電圧レベルがD/A変換回路DACからの出力信号DQの電圧レベル未満であるとの比較結果を、比較回路CPが出力した場合に、上限値を、更新前の上限値と逐次比較データとの間の値に更新する冗長範囲付加処理を行ってもよい。
このようにすれば、図10のD2又はD3の更新に比べて変換範囲を広くしておくことが可能になる。具体的には、D2の更新により下限値が増加した場合に変換範囲外となる領域の一部、或いはD3の更新により上限値が減少した場合に変換範囲外となる領域の一部が変換範囲内に留まる。これにより、誤判定が生じた場合であっても、正解データが変換範囲内となる可能性を高くでき、適切な変換を実現できる。
図11は冗長範囲付加処理を行う場合の逐次比較処理を説明するフローチャートである。図12は上限値、下限値及び比較コードの更新例である。図13及び図14は、レジスター動作を説明する図である。
逐次比較処理が開始されると、まず制御回路50は、変換範囲の上限値、下限値、拡張コード、冗長コードの初期化処理を行う(ステップS201)。上限値、下限値、拡張コードについては図7のステップS101と同様である。また、冗長コードとは、冗長範囲の幅(図10のD2,D3に比べて変換範囲を広くする幅)を表す情報である。
図13は、上限値レジスター、下限値レジスター、拡張コードレジスター、冗長コードレジスターの動作を説明する図である。図13に示したように、冗長コードについては何らかの初期値を設定しておき、ステップS201の処理では、制御回路50は当該冗長コード初期値を冗長コードとして冗長コードレジスターに記憶する。
図11のステップS202〜S204、ステップS209〜S214については、図7のステップS102〜S104、ステップS108〜S113と同様であるため、詳細な説明は省略する。同様に、図14のF1、F4〜F6は、図10のD1、D4〜D6と同様であるため、詳細な説明は省略する。
冗長範囲付加処理を行う場合、制御回路50は冗長コードを用いて上限値又は下限値の更新処理を行う。具体的には、ステップS204で1回目の比較の場合又は比較結果の変化があった場合、まず制御回路50は冗長コードの更新処理を行う(ステップS205)。具体的には、図14のF7に示したように、冗長コードをそれまでの値の1/2にする処理を行えばよい。
そして制御回路50は比較回路CPからの比較結果を判定し(ステップS206)、Hレベルの場合には、下限値を更新し(ステップS207)、Lレベルの場合には上限値を更新する(ステップS208)。ステップS207でのレジスター動作が図14のF2に対応し、ステップS208でのレジスター動作がF3に対応する。
F2に示したように、Hレベルと判定された場合に、制御回路50は比較コードそのものを下限値とするのではなく、比較コード−冗長コードの値を新たな下限値とする。またF3に示したように、Lレベルと判定された場合に、制御回路50は比較コード−1を上限値とするのではなく、比較コード−1+冗長コードの値を新たな上限値とする。
図12に上限値、下限値、比較コードの更新例を示す。E1が前回のA/D変換結果データに対応し、E4の点線が今回のアナログ入力信号VINに対応する正解データを表す。ステップS201及び図13の処理により、上限値の初期値(E2)及び下限値の初期値(E3)が決定され、ステップS203及び図14のF1の処理により比較コードの初期値E5が設定される。
1回目の比較結果としてHレベルが出力されたため、ステップS207による下限値の更新処理が行われる。この際、図10のD2の例であれば、新たな下限値はE5に示した逐次比較データに等しくなる(E6)ところ、冗長範囲の付加により、新たな下限値はE6に比べて冗長コード分だけ小さい値に更新される(E7)。このようにすれば、E7以上E6未満の範囲を変換範囲内としておくことができ、誤判定による影響を抑止できる。
また下限値(E7)と、上限値(E8=E2)に基づいて新たな比較コードとしてE9に示す値が設定される。そして図12に示した例では、正解データE4>比較コードE9であるが、E9とE4が非常に近いことで2回目の比較処理において誤判定が生じ、本来Hレベルを出力すべきところがLレベルと出力されてしまった。
図10のD3の例であれば、新たな上限値は比較コードE9から1を減算した値(E10)となり、変換範囲から正解データE4が外れてしまう。しかしF3に示した更新であれば、上限値はE10に比べて冗長コード分だけ大きい値(E11)に更新される。図12では、E11>E4とできるため、正解データが変換範囲内となり、誤判定による影響を抑止できている。このように、冗長範囲付加処理を行うことで、変換精度を高くすることが可能である。
しかし、冗長範囲を付加した場合、付加しない場合に比べて変換範囲の幅が大きくなる(変換範囲の縮小幅が小さくなる)ため、上限値=下限値となる状態に収束するまでのサイクル数が増えてしまう。特に、変換範囲自体が狭くなっているにもかかわらず、冗長範囲の付加を継続してしまうと、付加された冗長範囲の影響によりいつまでも収束しないおそれが出てくる。
よって制御回路50は、上限値及び下限値で設定される変換範囲の大きさが、所定の範囲幅よりも小さくなった場合は、冗長範囲付加処理をスキップするとよい。このようにすれば、変換範囲が所定範囲幅よりも狭い場合に冗長範囲を付加しないため、適切に上限値=下限値となる状態に収束させることが可能になる。また逆に言えば変換範囲が比較的広い場合には冗長範囲の付加が可能であり、当該条件下では誤判定による影響を抑止可能である。すなわち、状況に応じた冗長範囲付加が可能になる。
なお、変換範囲の大きさが所定の範囲幅よりも小さくなったか否かを判定する手法は種々考えられる。例えば、レジスターから上限値及び下限値を取得し、その差分値を変換範囲の大きさとしてもよい。そして所定範囲幅の値を別途レジスターに記憶しておき、制御回路50は、上記差分値と所定範囲幅との比較処理を行えばよい。
或いは、変換範囲の大きさは、上限値を減少させる更新又は下限値を増加させる更新により小さくなっていくことに鑑みれば、変換範囲の大きさそのものを求めるのではなく、ステップS207又はステップS208の処理の実行回数を考慮した処理を行ってもよい。具体的には、図11のステップS205に示したように、ステップS207又はステップS208の前段で冗長コードを1/2にする処理を行う。このようにすれば、変換範囲が狭まるごとに冗長コードが小さく更新されていき、所定回数の更新により冗長コードは0となる。冗長コードが0になれば、F2,F3の処理はD2,D3と同様となり、冗長範囲付加処理がスキップされる。つまりステップS205に示した処理でも、変換範囲の大きさに応じて冗長範囲付加を行うか否かを切り替え可能である。なお、ステップS205の処理をステップS207又はS208の後段で行ったり、冗長コードの更新処理を図14のF7とは異なる処理にする等、種々の変形実施も可能である。
また制御回路50は、逐次比較処理において、比較回路CPが同一の比較結果を所定の回数以上出力した場合は、冗長範囲付加処理をスキップしてもよい。ここでの「冗長範囲付加処理のスキップ」とは、冗長範囲付加処理を行わないことを表し、より具体的には、冗長範囲を付加せずに上限値又は下限値の更新処理を行うことを表す。例えば図11のフローチャートであれば、ステップS204で変化無しと判定された場合には、ステップS212又はS213の処理が行われ、ステップS212は図14のF5、ステップS213は図14のF6により実現できる。そして、F5,F6は図10のD5、D6と同様であり、F5では下限値が比較コードの値に更新され、F6では上限値が比較コード−1の値に更新され、冗長コードは用いられない。
上述したように、変換範囲を拡張する場合とは、正解データが変換範囲外にあることが疑われる場合である。例えばHレベルが連続する場合とは、正解データが変換範囲の上限値より大きい可能性がある場合である。その場合に、正解データが下限値よりも小さい方向に外れる可能性を考慮する必要は低く、下限値の更新に冗長コードを利用する意義は薄い。同様に、Lレベルが連続する場合には、正解データが下限値よりも小さいことを考えればよく、上限値よりも大きい可能性を考慮する必要は低い。
そのため、変換範囲拡張と冗長範囲付加を排他的に行うことで、過剰に変換範囲を広くすることを抑止でき、高速化の効果が損なわれることを抑止可能である。この場合、図13、図14のように冗長コードレジスターと拡張コードレジスターを別々に設けるのではなく、1つのレジスターを共通で利用してもよい。また、F4〜F6に示した拡張コードに関する更新処理と、F2,F3,F7に示した冗長コードに関する更新処理は処理内容が似ている。よって、当該処理を実行する回路の構成についても似たものとなるため、2つの回路をそれぞれ設けるのではなく、1つの回路を両方の処理に利用してもよい。
3.3 微小信号判定
上述したように、変換範囲の大きさが小さくなってきた場合は、冗長範囲を付加することが難しくなる。冗長範囲を付加しない場合に誤判定が生じると、適切な変換を行うことができない。そして比較回路CPにおける誤判定は、アナログ入力信号VINと、比較コードのD/A変換結果の差が小さい場合に発生する可能性が高い。
よって本実施形態の回路装置40は、アナログ入力信号VINの電圧レベルと、D/A変換回路DACからの出力信号DQの電圧レベルとの差の大きさを判定する微小信号判定回路90を含んでもよい。そして、微小信号判定回路90により微小信号と判定されたことを条件に、複数回比較処理を行い、微小信号判定回路により非微小信号と判定された場合は、複数回比較処理をスキップする。
このようにすれば、誤判定の可能性が高い場合に、比較処理を複数回実行し、当該複数回の比較処理に基づいて、最終的な比較結果を決定できる。つまり、比較処理の精度を高くすることができ、誤判定の発生を抑止できる。ただし、比較処理を複数回実行すれば、それだけサイクル数が増大し、高速化の効果が損なわれる。よって冗長範囲付加処理で対応可能な場合には、複数回比較処理ではなく冗長範囲付加により対応することが望ましい。
よって一例としては、制御回路50は、微小信号判定回路90により微小信号と判定され且つ冗長範囲付加処理を行わない場合に、複数回比較処理を行い、微小信号判定回路により非微小信号と判定された場合又は冗長範囲付加処理を行う場合は、複数回比較処理をスキップする。このようにすれば、複数回比較処理の実行回数が抑えられるため、サイクル数の増大を抑止可能である。
図15は、微小信号判定回路90からの出力を用いた逐次比較処理を説明するフローチャートである。図15のステップS306及びS307を除いたステップについては、図12と同様であるため詳細な説明は省略する。
制御回路50は、ステップS305の冗長コードの更新の後、冗長コード=0であり、且つ、微小信号判定回路90からの微小信号フラグSFLAGがハイレベルであるかを判定する(ステップS306)。なお、微小信号フラグSFLAGとは、微小信号判定回路90により、アナログ入力信号VINと、D/A変換回路DACからの出力信号DQとの差が所与の閾値よりも小さい、すなわち微小信号であると判定されたか否かを表すフラグである。ここでは微小信号と判定された場合にSFLAG=Hとなる例を示したが、この点は種々の変形実施が可能である。
ステップS306でNoの場合には、ステップS308〜S310の処理に移行する。ステップS306でNoの場合とは、冗長コードが0でなく冗長範囲付加処理が行われる場合、或いは冗長コード=0であるがSFLAG=Lであるため誤判定の発生のおそれが低い場合に対応する。いずれの場合であっても、1回の比較結果に基づいて上限値又は下限値を更新することによる問題が小さい。
一方、ステップS306でYesの場合には、誤判定の発生可能性が高いにもかかわらず、冗長範囲付加処理を行えない場合に対応する。よってこの場合には、比較回路CPを複数回動作させて複数の比較結果を取得し、当該複数の比較結果に基づいて最終的な比較結果を決定する(ステップS307)。一例としては、複数の比較結果の多数決を行い、Hレベルの回数>Lレベルの回数の場合にHレベルと判定し、Lレベルの回数>Hレベルの回数の場合にLレベルと判定すればよい。
ステップS307の処理を行った場合、ステップS308では多数決の結果を用いて判定を行い、ステップS309又はステップS310の更新処理を実行する。
なお上述したように、冗長範囲付加処理が行われない場合とは、変換範囲が所定範囲幅よりも小さい場合に相当する。よって制御回路50は、上限値及び下限値で設定される変換範囲が上記範囲幅よりも小さくなった場合は、比較回路CPに対して、アナログ入力信号VINとD/A変換回路DACからの出力信号DQとの比較処理を複数回実行させる複数回比較処理を行うことになる。
図16は、本実施形態の比較回路CP及び微小信号判定回路90の構成例である。比較回路CPは、入力信号PIN,NINに基づいて、出力信号POUT,NOUTを出力するV/T変換回路VTCを含む。V/T変換回路VTCの出力信号POUT,NOUTは、図17、図18を用いて後述するように、所与のタイミングでローレベルからハイレベルへの立ち上がりが生じるステップ信号であり、その立ち上がりタイミング(所与の基準タイミングに対する遅延時間)が入力信号(入力電圧)PIN,NINの大きさにより決定される。ここでは入力信号が大きいほど遅延時間が短い(早く立ち上がる)例について説明する。
PIN>NINの場合、POUTが先に立ち上がり、その後にNOUTが立ち上がる。NIN>PINの場合、NOUTが先に立ち上がり、その後にPOUTが立ち上がる。よって比較回路CPでは、POUTとNOUTのいずれの立ち上がりが早いかを表す信号を比較結果信号CPQとして出力すればよい。
一例としては、図16に示すように2つのNAND回路を用いてCPQを出力する。ND,PDをそれぞれ図16に示した端子での信号とする。図16に示したように、NDとはNOUTが遅延素子により所定の遅延時間τだけ遅延した信号であり、PDとはPOUTが遅延素子により所定の遅延時間τだけ遅延した信号である。
CPQを出力する構成はRS型のフリップフロップに準じた動作となる。すなわち、(PD,ND)=(1,0)の場合CPQ=1であり、(PD,ND)=(0,1)の場合CPQ=0である。また、(PD,ND)=(1,1)ではCPQは前の状態を保持する。
すなわち、PDがNDよりも先に立ち上がった場合にはCPQ=1であり、NDがPDよりも先に立ち上がった場合にはCPQ=0である。つまりCPQは、PDとNDのいずれの立ち上がりが早いかに応じて、ハイレベルかローレベルかが変化する信号であり、ハイレベルの場合にはPIN>NIN、ローレベルの場合にはNIN>PINを表すことになる。
また微小信号判定回路90は、AND回路と、OR回路と、2つのNAND回路を含む。AND回路にはNOUT及びPOUTが入力される。OR回路にはPD及びNDが入力される。
AND回路の出力をR’とした場合、R’はPOUTとNOUTの両方の立ち上がりが完了したタイミングに対応するタイミングでハイレベルとなるステップ信号である。OR回路の出力をS’とした場合、S’はPDとNDのいずれかが立ち上がったタイミング、すなわちPOUTとNOUTのいずれか一方が立ち上がってから遅延素子による遅延時間τの経過後のタイミングに対応するタイミングでハイレベルとなるステップ信号である。
SFLAGを出力する2つのNAND回路についても、RS型のフリップフロップに準じた動作となる。すなわち、(S’,R’)=(1,0)の場合SFLAG=0であり、(S’,R’)=(0,1)の場合SFLAG=1である。また、(S’,R’)=(1,1)ではSFLAGは前の状態を保持する。
(S’,R’)=(1,0)の場合とは、POUTとNOUTの一方が立ち上がってから遅延時間τが経過したタイミングにおいても、POUTとNOUTのうちの他方の信号の立ち上がりが発生していない場合に対応する。これは、POUTとNOUTの立ち上がりの時間差がτよりも大きい場合に相当し、PINとNINの電圧差が大きいことになる。つまりSFLAG=0は非微小信号を表すことになる。
(S’,R’)=(0,1)の場合とは、POUTとNOUTの一方が立ち上がってから遅延時間τの経過前に、POUTとNOUTのうちの他方の信号の立ち上がりも発生した場合に対応する。これは、POUTとNOUTの立ち上がりの時間差がτよりも小さい場合に相当し、PINとNINの電圧差が小さいことになる。つまりSFLAG=1は微小信号を表すことになる。
図17は、PIN>NINの場合の、各信号を表す波形図である。PINがNINに比べて十分大きい場合、POUTが先に立ち上がり(G1)、それから遅延時間τよりも長い時間の経過後にNOUTが立ち上がる(G2)。この場合、S’はG1からτ経過したタイミング(G3)で立ち上がり、R’はG2に対応するタイミングで立ち上がる。結果として、SFLAGはG3に対応するタイミングG4でローレベルに変化し、制御回路50は非微小信号であると判定できる。
一方、PINとNINの差が小さい場合、POUTが先に立ち上がり(G5)、それから遅延時間τよりも短い時間の経過後にNOUTが立ち上がる(G6)。この場合、S’はG5からτ経過したタイミング(G7)で立ち上がり、R’はG6に対応するタイミングで立ち上がる。結果として、SFLAGはハイレベルに保持され、制御回路50は微小信号であると判定できる。また、いずれの場合も、POUTが先に立ち上がり、NOUTが後に立ち上がるため、CPQはハイレベルに保持される。
図18は、NIN>PINの場合の、各信号を表す波形図である。NINがPINに比べて十分大きい場合、NOUTが先に立ち上がり(H1)、それから遅延時間τよりも長い時間の経過後にPOUTが立ち上がる(H2)。この場合、S’はH1からτ経過したタイミング(H3)で立ち上がり、R’はH2に対応するタイミングで立ち上がる。結果として、SFLAGはH3に対応するタイミングH4でローレベルに変化し、制御回路50は非微小信号であると判定できる。
一方、PINとNINの差が小さい場合、NOUTが先に立ち上がり(H5)、それから遅延時間τよりも短い時間の経過後にPOUTが立ち上がる(H6)。この場合、S’はH5からτ経過したタイミング(H7)で立ち上がり、R’はH6に対応するタイミングで立ち上がる。結果として、SFLAGはハイレベルに保持され、制御回路50は微小信号であると判定できる。また、いずれの場合も、NOUTが先に立ち上がり、POUTが後に立ち上がるため、CPQはNOUTの立ち上がりタイミングH1から遅延時間τ経過後に対応するタイミングでローレベルに変化する。
なお、微小信号判定回路90の構成は図16に限定されない。例えば、比較回路CPを複数のコンパレーターにより構成してもよい。具体的には、PINとNINを比較する第1のコンパレーターの他に、PIN+OFFSETとNINを比較する第2のコンパレーター、及びPINとNIN+OFFSETを比較する第3のコンパレーターを含む比較回路CPを用いる。すべてのコンパレーターの比較結果が同一の場合、PINとNINはオフセット電圧以上の差があることになるため、非微小信号と判定する。一方、すべてのコンパレーターの比較結果が同一とならない場合、PINとNINの電圧差がオフセット電圧未満となるため、微小信号と判定する。その他、微小信号判定回路90の構成については種々の変形実施が可能である。
3.4 変形例
以下、幾つかの変形例について説明する。
本実施形態の回路装置40は、複数の入力信号を時分割で処理してもよい。例えば図19を用いて後述する物理量検出装置300に回路装置40を適用する場合、物理量トランスデューサー310から複数の信号が出力される可能性がある。例えば物理量トランスデューサー310が3軸ジャイロセンサー素子である場合、x軸の角速度を表す信号、y軸の角速度を表す信号、z軸の角速度を表す信号が入力される。回路装置40では、これら3つの入力信号を時分割で処理する。
その場合、上述した「前回のA/D変換結果データ」が問題となる。例えばx軸の信号XINのA/D変換を行った後、y軸の信号YINのA/D変換を行う場合を考える。この際、YINのA/D変換結果データを求めるための変換範囲の初期値を、XINのA/D変換結果から設定することは不合理である。前回のA/D変換結果データを用いるのは、同一の種類の信号ではA/D変換結果データが大きく変化しないことを想定しているからであり、異なる種類の信号を対象とした場合、当該想定が成り立たないためである。
よって本実施形態における「前回のA/D変換結果データ」とは、「同一種類の入力信号に対する前回のA/D変換結果データ」を用いるとよい。具体的にはA/D変換結果データを保持するためのレジスターをデータ数分だけ用意しておき、前回のA/D変換結果データを読み出す際には、対応するレジスターを読み出し対象とする。上記の例であれば、XINのA/D変換結果を保持する第1のレジスター、YINのA/D変換結果を保持する第2のレジスター、ZINのA/D変換結果を保持する第3のレジスターを設けておき、XIN(YIN,ZIN)が入力された場合には第1(第2、第3)のレジスターから「前回のA/D変換結果データ」を読み出せばよい。
また、図15を用いて上述した例では、冗長範囲付加処理は冗長コードが0でない場合は実行され、実行するか否かに微小信号フラグSFLAGは関係しなかった。しかし、微小信号フラグSFLAG=Lの場合、比較回路CPでの誤判定の可能性が低いため、冗長範囲付加処理を行わなくてもよい。
よって制御回路50は、微小信号判定回路90により微小信号と判定された場合は、冗長範囲付加処理又は複数回比較処理を行い、微小信号判定回路により非微小信号と判定された場合は、冗長範囲付加処理及び複数回比較処理をスキップしてもよい。ここでの冗長範囲付加処理のスキップとは、冗長範囲を付加しない上限値又は下限値の更新処理を表す。また、複数回比較処理のスキップとは、所与の入力信号と逐次比較データのD/A変換結果の比較処理結果を求める際に、複数回の比較処理を行わないことを表し、具体的には1回の比較処理により所与の入力信号と逐次比較データのD/A変換結果の比較処理結果を求める処理に相当する。複数回比較処理のスキップは、図15の例であればステップS307の処理が省略される(ステップS306から直接ステップS308に遷移する)ことに相当する。
このようにすれば、非微小信号の場合には冗長コードの値によらず冗長範囲付加処理をスキップできるため、サイクル数の増大を抑止することが可能になる。
4.物理量検出装置、電子機器、移動体
また、本実施形態の手法は上記回路装置40を含む種々の装置に適用できる。例えば、本実施形態の手法は物理量トランスデューサーと、物理量トランスデューサーからの検出信号に基づく物理量の検出のためのA/D変換を行う回路装置を含む物理量検出装置に適用できる。また、本実施形態の手法は、回路装置40を含む電子機器や移動体にも適用できる。
図19に本実施形態の物理量検出装置300の構成例を示す。物理量検出装置300は、物理量トランスデューサー310と本実施形態の回路装置40(IC)を含む。本実施形態の回路装置40は、少なくとも逐次比較型のA/D変換を行うA/D変換回路82を含み、A/D変換回路82は、物理量トランスデューサー310の出力信号に基づく信号のA/D変換を行う。なお、回路装置40(A/D変換回路82)は、物理量トランスデューサー310の出力信号に基づく信号とは異なる信号のA/D変換を行う回路であってもよい。物理量トランスデューサー310と回路装置40は、例えば物理量検出装置300のパッケージ内に実装される。なお本実施形態の物理量検出装置300は、図19の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加するなどの種々の変形実施が可能である。
物理量トランスデューサー310は、例えば角速度、加速度等の物理量を検出するための素子(センサー)である。物理量トランスデューサー310は、例えば角速度センサー(ジャイロセンサー)であり、1又は複数の軸回りでの角速度を検出する。この角速度センサーは、圧電型の振動ジャイロであってもよいし、シリコン基板などから形成された静電容量検出方式の振動ジャイロであってもよい。圧電型の振動ジャイロとしては、例えばダブルT型の振動片などを用いることができる。或いは物理量トランスデューサー310は、例えば加速度センサーであり、1又は複数の軸方向での加速度を検出する。なお、物理量トランスデューサー310は、角速度や加速度以外の物理量(例えば速度、移動距離、角加速度又は圧力等)を検出するトランスデューサーであってもよい。或いは、物理量トランスデューサー310は発振器における振動子であってもよい。
回路装置40は、検出回路80、A/D変換回路82、処理部84を含む。検出回路80は、物理量トランスデューサー310からの検出信号に基づいて、角速度又は加速度等の物理量に対応する物理量信号を検出する。角速度センサーを例にとれば、検出回路80は、物理量トランスデューサー310からの検出信号を増幅する増幅回路(電荷/電圧変換回路)や同期検波回路などを含むことができる。この場合に回路装置40は、物理量トランスデューサー310(振動子)を駆動する駆動回路を含んでいてもよい。A/D変換回路82は、検出回路80により検出されたアナログの電圧(所望信号の電圧)のA/D変換を行う。A/D変換回路82としては例えば図1等で説明した構成の回路を用いることができる。処理部84は、A/D変換回路82によりA/D変換された検出データに基づいて各種の処理を行う。例えば各種の補正処理やフィルター処理(デジタルフィルター処理)などを行う。なお処理部84は、図1の制御回路50として動作してもよい。
図20に本実施形態の電子機器200の構成例を示す。電子機器200は、本実施形態の回路装置40、処理部220、記憶部250を含む。またアンテナANT、通信部210、操作部230、表示部240を含むことができる。なお本実施形態の電子機器200は、図20の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加するなどの種々の変形実施が可能である。
本実施形態の電子機器200としては、例えばデジタルカメラ(デジタルスチルカメラ、ビデオカメラ)、生体情報検出装置(脈拍計、活動量計、歩数計、健康時計等)、頭部装着型表示装置、ロボット、GPS内蔵時計、カーナビゲーション装置、ゲーム装置、各種のウェアラブル機器、携帯情報端末(スマートフォン、携帯電話機、携帯型ゲーム装置、タブレットPC等)、コンテンツを配信するコンテンツ提供端末、映像機器、オーディオ機器、或いはネットワーク関連機器(基地局、ルーター等)などの種々の機器を想定できる。例えばデジタルカメラにおいては、本実施形態の回路装置を用いることで、ジャイロセンサーや加速度センサーを利用した手ぶれ補正等を実現できる。また生体情報検出装置においては、本実施形態の回路装置を用いることで、ジャイロセンサーや加速度センサーを利用したユーザーの体動検出や、運動状態の検出を実現できる。ロボットにおいては、その可動部(アーム、関節)や本体部において本実施形態の回路装置を用いることができる。ロボットは、移動体(走行・歩行ロボット)、電子機器(非走行・非歩行ロボット)のいずれも想定できる。走行・歩行ロボットの場合には、例えば自律走行に本実施形態の回路装置を利用できる。ネットワーク関連機器においては、例えば時刻(絶対時刻等)やタイミングを計時するための装置として本実施形態の回路装置を利用できる。
図20において、通信部210(無線回路)は、アンテナANTを介して外部からのデータを受信したり、外部にデータを送信する処理を行う。CPU、MPUなどにより実現される処理部220(プロセッサー)は、記憶部250(メモリー)に記憶された情報に基づいて、各種の演算処理や電子機器200の制御処理などを行う。操作部230は、ユーザーが入力操作を行うためのものであり、操作ボタンやタッチパネルディスプレイをなどにより実現できる。表示部240は、各種の情報を表示するものであり、液晶や有機ELなどのディスプレイにより実現できる。記憶部250は、各種の情報を記憶するものであり、その機能はRAMやROMなどの半導体メモリーやHDD(ハードディスクドライブ)などにより実現できる。
また本実施形態の回路装置は、例えば、車、飛行機、バイク、自転車、或いは船舶等の種々の移動体に組み込むことができる。移動体は、例えばエンジンやモーター等の駆動機構、ハンドルや舵等の操舵機構、各種の電子機器を備えて、地上や空や海上を移動する機器・装置である。
図21は、移動体の具体例としての自動車206を概略的に示したものである。自動車206には、物理量トランスデューサーと回路装置を有する物理量検出装置300が組み込まれている。物理量検出装置300(例えばジャイロセンサー、角速度及び加速度を検出する複合センサー等)は車体207の姿勢を検出することができる。物理量検出装置300の検出信号は車体姿勢制御装置208に供給される。車体姿勢制御装置208は例えば車体207の姿勢に応じてサスペンションの硬軟を制御したり個々の車輪209のブレーキを制御したりすることができる。その他、こういった姿勢制御は二足歩行ロボットや航空機、ヘリコプター等の各種の移動体において利用できる。姿勢制御の実現にあたって物理量検出装置300(回路装置)は移動体に組み込まれることになる。
以上、本発明を適用した実施形態およびその変形例について説明したが、本発明は、各実施形態やその変形例そのままに限定されるものではなく、実施段階では、発明の要旨を逸脱しない範囲内で構成要素を変形して具体化することができる。また、上記した各実施形態や変形例に開示されている複数の構成要素を適宜組み合わせることによって、種々の発明を形成することができる。例えば、各実施形態や変形例に記載した全構成要素からいくつかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施の形態や変形例で説明した構成要素を適宜組み合わせてもよい。また、明細書又は図面において、少なくとも一度、より広義または同義な異なる用語と共に記載された用語は、明細書又は図面のいかなる箇所においても、その異なる用語に置き換えることができる。このように、発明の主旨を逸脱しない範囲内において種々の変形や応用が可能である。
DAC,DAC1,DAC2…D/A変換回路、
CA1〜CA128,CB1〜CB9…キャパシター、
CAR1,CAR2…キャパシターアレイ、
SA1〜SA128,SB1〜SB9…スイッチ回路、
SAR1,SAR2…スイッチアレイ、SDAC…サブD/A変換回路、
SCAR…キャパシターアレイ、SSAR…スイッチアレイ、
SFLAG…微小信号フラグ、DOUT…出力データ、VDD,GND…基準電圧、
VFS…フルスケール電圧、VIN…アナログ入力信号、CP…比較回路、
VTC…V/T変換回路、ANT…アンテナ、
30…S/H回路、40…回路装置、42…D/A変換回路、50…制御回路、
52…逐次比較レジスター、53…上限値レジスター、54…下限値レジスター、
60…電圧生成回路、70…出力部、80…検出回路、82…A/D変換回路、
84…処理部、90…微小信号判定回路、200…電子機器、206…自動車、
207…車体、208…車体姿勢制御装置、209…車輪、210…通信部、
220…処理部、230…操作部、240…表示部、250…記憶部、
300…物理量検出装置、310…物理量トランスデューサー

Claims (13)

  1. アナログ入力信号をA/D変換する回路装置であって、
    逐次比較データを保持する逐次比較レジスターを有する制御回路と、
    前記逐次比較レジスターからの出力データをD/A変換するD/A変換回路と、
    前記アナログ入力信号と、前記D/A変換回路からの出力信号との比較処理を行う比較回路と、
    を含み、
    前記制御回路は、
    前記アナログ入力信号のA/D変換により得られるA/D変換結果データの変換範囲の上限値を保持する上限値レジスターと、前記変換範囲の下限値を保持する下限値レジスターを有し、
    逐次比較処理において、前記比較回路が同一の比較結果を所定の回数以上出力した場合に、前記上限値を増加させる更新及び前記下限値を減少させる更新の少なくとも一方を行い、
    前記制御回路は、
    前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル以上であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記下限値を、更新前の前記下限値と前記逐次比較データとの間の値に更新し、
    前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル未満であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記上限値を、更新前の前記上限値と前記逐次比較データとの間の値に更新する冗長範囲付加処理を行い、
    前記制御回路は、
    前記逐次比較処理において、前記比較回路が同一の比較結果を前記所定の回数以上出力した場合、前記冗長範囲付加処理をスキップすることを特徴とする回路装置。
  2. アナログ入力信号をA/D変換する回路装置であって、
    逐次比較データを保持する逐次比較レジスターを有する制御回路と、
    前記逐次比較レジスターからの出力データをD/A変換するD/A変換回路と、
    前記アナログ入力信号と、前記D/A変換回路からの出力信号との比較処理を行う比較回路と、
    を含み、
    前記制御回路は、
    前記アナログ入力信号のA/D変換により得られるA/D変換結果データの変換範囲の上限値を保持する上限値レジスターと、前記変換範囲の下限値を保持する下限値レジスターを有し、
    逐次比較処理において、前記比較回路が同一の比較結果を所定の回数以上出力した場合に、前記上限値を増加させる更新及び前記下限値を減少させる更新の少なくとも一方を行い、
    前記制御回路は、
    前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル以上であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記下限値を、更新前の前記下限値と前記逐次比較データとの間の値に更新し、
    前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル未満であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記上限値を、更新前の前記上限値と前記逐次比較データとの間の値に更新する冗長範囲付加処理を行い、
    前記制御回路は、
    前記逐次比較処理において、前記上限値及び前記下限値で設定される前記変換範囲の大きさが、所定の範囲幅よりも小さくなった場合は、前記冗長範囲付加処理をスキップすることを特徴とする回路装置。
  3. 請求項に記載の回路装置において、
    前記制御回路は、
    前記上限値及び前記下限値で設定される前記変換範囲が前記範囲幅よりも小さくなった場合は、前記比較回路に対して、前記アナログ入力信号と前記D/A変換回路からの前記出力信号との比較処理を複数回実行させる複数回比較処理を行うことを特徴とする回路装置。
  4. 請求項に記載の回路装置において、
    前記アナログ入力信号の電圧レベルと、前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベルとの差の大きさを判定する微小信号判定回路を含み、
    前記制御回路は、
    前記微小信号判定回路により微小信号と判定された場合は、前記冗長範囲付加処理又は前記複数回比較処理を行い、
    前記微小信号判定回路により非微小信号と判定された場合は、前記冗長範囲付加処理及び前記複数回比較処理をスキップすることを特徴とする回路装置。
  5. 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の回路装置において、
    前記制御回路は、
    前記逐次比較処理において、前記比較回路が、1回目の比較から同一の比較結果を前記所定の回数以上出力した場合に、前記上限値を増加させる更新及び前記下限値を減少させる更新の少なくとも一方を行うことを特徴とする回路装置。
  6. 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の回路装置において、
    前記制御回路は、
    前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル以上であるとの比較結果を、前記比較回路が前記所定の回数以上出力した場合に、前記上限値を増加させ、
    前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル未満であるとの比較結果を、前記比較回路が前記所定の回数以上出力した場合に、前記下限値を減少させる更新を行うことを特徴とする回路装置。
  7. 請求項1乃至のいずれか一項に記載の回路装置において、
    前記制御回路は、
    前記上限値が前記逐次比較データのフルスケールの上限に達した場合、前記上限値を前記フルスケールの上限に更新し、
    前記下限値が前記逐次比較データの前記フルスケールの下限に達した場合、前記下限値を前記フルスケールの下限に更新することを特徴とする回路装置。
  8. 請求項1乃至のいずれか一項に記載の回路装置において、
    前記逐次比較処理の開始時の前記変換範囲は、前回のA/D変換結果データを含む所定の範囲であり、
    前記制御回路は、
    前記所定の範囲の上限値を前記上限値レジスターの値として設定し、前記所定の範囲の下限値を前記下限値レジスターの値として設定することを特徴とする回路装置。
  9. 請求項1乃至のいずれか一項に記載の回路装置において、
    前記制御回路は、
    前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル以上であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記下限値を増加させ、
    前記アナログ入力信号の電圧レベルが前記D/A変換回路からの前記出力信号の電圧レベル未満であるとの比較結果を、前記比較回路が出力した場合に、前記上限値を減少させる更新を行うことを特徴とする回路装置。
  10. 請求項1乃至のいずれか一項に記載の回路装置において、
    前記制御回路は、
    更新後の前記上限値及び前記下限値の平均値に対応する値に、前記逐次比較データを更新することを特徴とする回路装置。
  11. 物理量トランスデューサーと、
    前記物理量トランスデューサーからの検出信号に基づく物理量の検出のためのA/D変換を行う請求項1乃至10のいずれか一項に記載の回路装置を含むことを特徴とする物理量検出装置。
  12. 請求項1乃至10のいずれか一項に記載の回路装置を含むことを特徴とする電子機器。
  13. 請求項1乃至10のいずれか一項に記載の回路装置を含むことを特徴とする移動体。
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