JP6762184B2 - 回収配管洗浄方法および基板処理装置 - Google Patents

回収配管洗浄方法および基板処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6762184B2
JP6762184B2 JP2016187139A JP2016187139A JP6762184B2 JP 6762184 B2 JP6762184 B2 JP 6762184B2 JP 2016187139 A JP2016187139 A JP 2016187139A JP 2016187139 A JP2016187139 A JP 2016187139A JP 6762184 B2 JP6762184 B2 JP 6762184B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cleaning
liquid
pipe
recovery pipe
chemical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016187139A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018056187A (ja
Inventor
裕也 土橋
裕也 土橋
淳靖 三浦
淳靖 三浦
辻川 裕貴
裕貴 辻川
和宏 藤田
和宏 藤田
池田 昌秀
昌秀 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Screen Holdings Co Ltd
Original Assignee
Screen Holdings Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Screen Holdings Co Ltd filed Critical Screen Holdings Co Ltd
Priority to JP2016187139A priority Critical patent/JP6762184B2/ja
Priority to KR1020170120307A priority patent/KR102020712B1/ko
Priority to TW106132275A priority patent/TWI668060B/zh
Priority to US15/709,533 priority patent/US10639683B2/en
Priority to CN201710858481.3A priority patent/CN107871692B/zh
Publication of JP2018056187A publication Critical patent/JP2018056187A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6762184B2 publication Critical patent/JP6762184B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B9/00Cleaning hollow articles by methods or apparatus specially adapted thereto 
    • B08B9/02Cleaning pipes or tubes or systems of pipes or tubes
    • B08B9/027Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages
    • B08B9/032Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages by the mechanical action of a moving fluid, e.g. by flushing
    • B08B9/0321Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages by the mechanical action of a moving fluid, e.g. by flushing using pressurised, pulsating or purging fluid
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • H01L21/6704Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
    • H01L21/67051Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly spraying means, e.g. nozzles
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B9/00Cleaning hollow articles by methods or apparatus specially adapted thereto 
    • B08B9/02Cleaning pipes or tubes or systems of pipes or tubes
    • B08B9/027Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02041Cleaning
    • H01L21/02043Cleaning before device manufacture, i.e. Begin-Of-Line process
    • H01L21/02052Wet cleaning only
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67023Apparatus for fluid treatment for general liquid treatment, e.g. etching followed by cleaning
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67063Apparatus for fluid treatment for etching
    • H01L21/67075Apparatus for fluid treatment for etching for wet etching
    • H01L21/6708Apparatus for fluid treatment for etching for wet etching using mainly spraying means, e.g. nozzles
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B3/00Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
    • B08B3/04Cleaning involving contact with liquid
    • B08B3/08Cleaning involving contact with liquid the liquid having chemical or dissolving effect
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B3/00Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
    • B08B3/04Cleaning involving contact with liquid
    • B08B3/10Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B9/00Cleaning hollow articles by methods or apparatus specially adapted thereto 
    • B08B9/02Cleaning pipes or tubes or systems of pipes or tubes
    • B08B9/027Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages
    • B08B9/032Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages by the mechanical action of a moving fluid, e.g. by flushing
    • B08B9/0321Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages by the mechanical action of a moving fluid, e.g. by flushing using pressurised, pulsating or purging fluid
    • B08B9/0325Control mechanisms therefor

Description

この発明は、処理カップによって受けられた薬液が導かれる回収配管を洗浄する回収配管洗浄方法、およびこのような回収配管洗浄方法が実行される基板処理装置に関する。処理対象となる基板には、たとえば、半導体ウエハ、液晶表示装置用基板、プラズマディスプレイ用基板、FED(Field Emission Display)用基板、光ディスク用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板、セラミック基板、太陽電池用基板などが含まれる。
特許文献1には、基板を一枚ずつ処理する枚葉式の基板処理装置が開示されている。基板処理装置の処理ユニットは、基板を水平に保持して回転させるスピンチャックと、スピンチャックに保持されている基板の上面に向けて基板に向けて薬液を吐出する薬液ノズルと、スピンチャックを取り囲む筒状の処理カップとを含む。また、処理ユニットは、薬液の消費量の低減を図るべく、基板の処理に用いた後の薬液を回収して、その回収した薬液を以降の処理に再利用できるように構成されている。具体的には、基板処理装置は、さらに、薬液ノズルに供給される薬液を貯留する薬液タンクと、処理カップによって受けられた薬液が導かれる回収配管と、回収配管から薬液タンクに薬液を導く薬液回収配管とを含む。
特許文献1では、処理カップの内壁や回収配管の内壁で結晶化した薬液が薬液タンクに供給されることを防止または抑制するために、予め定めるタイミングで、処理カップの内壁を、洗浄液を用いて洗浄し(カップ洗浄)、その内壁に付着している付着物を除去することが提案されている。しかしながら、このカップ洗浄において薬液タンクに溜められている薬液に洗浄液が混じると薬液が希釈され、これに起因して基板処理時における処理レートが低下する問題がある。このような問題を回避すべく、特許文献1では、カップ洗浄後において、回転状態にあるダミー基板に薬液を供給しすることにより処理カップの内壁に薬液を供給し、これにより、処理カップの内壁に付着している洗浄液、および回収配管の内壁に付着している洗浄液を、それぞれ、薬液と同種の洗浄用薬液で置換させる手法が採用されている。
特開2008−153521号公報
しかしながら、特許文献1に記載の手法では、処理カップに洗浄用薬液を供給するべく、基板等(基板またはダミー基板)に洗浄用薬液を供給し基板の周縁部から洗浄用薬液を飛散させているので、処理カップへの洗浄用薬液の供給効率が低い。
しかも、処理カップの内壁に付着している洗浄液を洗浄用薬液で置換しなくても、回収配管内に存在している洗浄液だけを洗浄用薬液に置換すれば、前記の処理レート低下抑制の効果を得ることができると、本願発明者らは考えている。
したがって、特許文献1の手法では、洗浄用薬液の消費量が増大するおそれがある。
洗浄用薬液(すなわち、薬液)の消費量の低減を図ることが求められている。また、洗浄用薬液消費量の低減を図りながら、洗浄用薬液を回収配管の広範囲に行き渡らせることが求められている。
そこで、この発明の目的は、薬液回収配管に洗浄液が入り込むことを防止または抑制しながら洗浄用薬液の消費量の低減を図ることができる回収配管洗浄方法を提供することである。
また、この発明の目的は、薬液回収配管に洗浄液が入り込むことを防止または抑制しながら、薬液の消費量の低減をより一層図ることができる基板処理装置を提供することである。
さらに、この発明の他の目的は、薬液消費量の低減を図りながら回収配管の広範囲に薬液を行き渡らせることができる基板処理装置を提供することである。
の発明は、基板の処理に用いられた薬液が処理カップを介して導かれ、導かれた薬液を予め定める薬液回収配管に導くための回収配管を洗浄する方法であって、前記回収配管に洗浄液を供給しながら前記回収配管に導かれる液を前記薬液回収配管とは異なる排液配管に導くことにより、洗浄液を用いて前記回収配管内を洗浄する配管洗浄工程と、前記配管洗浄工程の後、前記回収配管内に存在している洗浄液を前記薬液と同種の洗浄用薬液に置換させるべく、前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導きながら、前記回収配管に接続された洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給工程とを含む、回収配管洗浄方法を提供する。
この方法によれば、配管洗浄工程において、洗浄回収配管内の洗浄に用いられた洗浄液は、回収配管から排液配管に導かれて排液される。配管洗浄工程後には、洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液が回収配管に供給され、回収配管内に存在している洗浄液が洗浄用薬液に置換される。洗浄液を含む洗浄用薬液は、排液配管に導かれる。これにより、回収配管内の洗浄に用いられた洗浄液が薬液回収配管に洗浄液が入り込むことを防止または抑制できる。
また、洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液を回収配管に直接供給するので、薬液供給ユニットからの薬液を、基板等および処理カップを介して洗浄用薬液として回収配管に供給する場合と比較して、回収配管への洗浄用薬液の供給効率を高めることができ、その結果、洗浄用薬液に置換するために必要な洗浄用薬液の量を低減できる。
これにより、薬液回収配管に洗浄液が入り込むことを防止または抑制しながら洗浄用薬液の消費量の低減を図ることができる回収配管洗浄方法を提供することができる。
の発明は、基板の処理に用いられる薬液を基板に供給するための薬液供給ユニットと、基板に供給された薬液を受ける処理カップと、前記処理カップによって受けられた薬液が導かれる回収配管と、前記回収配管に導かれる薬液を回収するための薬液回収配管と、前記回収配管に導かれる液を排液するための排液配管と、前記回収配管に導かれる液を、前記薬液回収配管と前記排液配管とに選択的に導くための切り換えユニットと、前記回収配管内を洗浄するための洗浄液を供給するための洗浄液供給ユニットと、前記回収配管に接続され、前記回収配管を介して回収すべき前記薬液と同種の洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給配管を有する洗浄用薬液供給ユニットと、前記薬液供給ユニット、前記洗浄用薬液供給ユニット、前記切り換えユニットおよび前記洗浄液供給ユニットを制御する制御装置とを含み、前記制御装置は、前記回収配管に洗浄液を供給しながら前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導くことにより、洗浄液を用いて前記回収配管内を洗浄する配管洗浄工程と、前記配管洗浄工程の後、前記回収配管に存在している洗浄液を洗浄用薬液に置換させるべく、前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導きながら、前記洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給工程とを実行する、基板処理装置を提供する。
この構成によれば、配管洗浄工程において、洗浄回収配管内の洗浄に用いられた洗浄液は、回収配管から排液配管に導かれて排液される。配管洗浄工程後には、洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液が回収配管に供給され、回収配管内に存在している洗浄液が洗浄用薬液に置換される。洗浄液を含む洗浄用薬液は、排液配管に導かれる。これにより、回収配管内の洗浄に用いられた洗浄液が薬液回収配管に洗浄液が入り込むことを防止または抑制できる。
また、洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液を回収配管に直接供給するので、薬液供給ユニットからの薬液を、基板等(基板またはダミー基板)および処理カップを介して洗浄用薬液として回収配管に供給する場合と比較して、回収配管への洗浄用薬液の供給効率を高めることができ、その結果、洗浄用薬液に置換するために必要な洗浄用薬液(すなわち、薬液)の量を低減できる。
これにより、薬液回収配管に洗浄液が入り込むことを抑制または防止しながら、薬液の消費量の低減をより一層図ることができる基板処理装置を提供することができる。
この発明の一実施形態では、前記回収配管は、前記処理カップに接続され、上下方向に沿って延びる上下方向部と、前記上下方向部の下端に接続され、横方向に沿って延びる横方向部とを有する。そして、前記洗浄用薬液供給配管は前記横方向部に接続されている。そして、前記洗浄用薬液供給ユニットは前記横方向部に洗浄用薬液を供給する
この構成では、上下方向部内に存在している液は、その自重により横方向部に向けて移動する。したがって、配管洗浄工程の終了から所定時間が経過した後には、回収配管内に存在する洗浄液の大半は横方向部に存在しており、上下方向部に洗浄液がほとんど存在していない。
この構成によれば、洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液が横方向部に供給され、そのため、横方向部における前記洗浄用薬液供給配管の接続位置よりも下流側の部分内に洗浄用薬液が行き渡る。前述のように、配管洗浄工程の終了から所定時間が経過した後には上下方向部には洗浄液がほとんど存在していないので、横方向部に直接洗浄用薬液を供給することにより、回収配管内に存在する洗浄液の大部分を洗浄用薬液で置換することができる。この場合、洗浄用薬液に置換されるべき配管部分の長さが短いので、上下方向部および横方向部の双方に存在している洗浄液を洗浄用薬液で置換する場合と比較して、洗浄用薬液に置換するために用いる洗浄用薬液(すなわち、薬液)の量をより一層低減できる。
この発明の一実施形態では、前記回収配管は、前記処理カップに接続され、上下方向に沿って延びる上下方向部と、前記上下方向部の下端に接続され、横方向に沿って延びる横方向部とを含む。そして、前記洗浄用薬液供給配管は前記上下方向部に接続されている。そして、前記洗浄用薬液供給ユニットは、前記上下方向部に薬液を供給する
この構成によれば、洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液が上下方向部に供給され、そのため、上下方向部における前記洗浄用薬液供給配管の接続位置よりも下流側の部分および横方向部内の全域に洗浄用薬液が行き渡る。これにより、回収配管内の広範囲において、回収配管内に存在している洗浄液を洗浄用薬液に置換させることができる。ゆえに、薬液回収配管に洗浄液が入り込むことを防止またはより効果的に抑制できる。
この発明の一実施形態では、前記上下方向部は上端部を有している。そして、前記洗浄用薬液供給配管は前記上下方向部の前記上端部に接続されている
この構成によれば、洗浄用薬液供給配管が上下方向部の上端部に接続されているので、洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液を上下方向部の上端部に供給することができ、そのため、回収配管内の全域に洗浄用薬液を行き渡らせることができる。これにより、回収配管内の全域において洗浄用薬液の置換を実現できる。ゆえに、薬液回収配管に洗浄液が入り込むことを防止またはより効果的に抑制できる。
この発明の一実施形態では、前記薬液供給ユニットは、薬液を吐出する薬液ノズルを含む。そして、前記基板処理装置は、前記処理カップ外に配置されて、前記薬液ノズルから吐出された薬液を受け止めるための容器をさらに含む。そして、前記洗浄用薬液供給配管は、前記回収配管に接続され、前記容器に導かれた薬液を洗浄用薬液として前記回収配管に供給する接続配管を含む
この構成によれば、薬液ノズルから吐出され、容器に受けられた薬液が、接続配管を通って、洗浄用薬液として回収配管に供給される。これにより、洗浄用薬液を回収配管に直接供給する構成を簡単な構成で実現できる。
この発明の一実施形態では、前記薬液供給ユニットは、薬液を吐出する薬液ノズルと、前記薬液ノズルに薬液を供給する薬液配管とを含む。そして、前記洗浄用薬液供給配管は、前記回収配管に接続され、前記薬液配管から分岐する分岐配管を含む
この構成によれば、薬液配管からの薬液が、薬液配管から分岐した分岐配管を通って、洗浄用薬液として回収配管に供給される。これにより、洗浄用薬液を回収配管に直接供給する構成を簡単な構成で実現できる
図1は、本発明の第1の実施形態に係る基板処理装置を上から見た模式図である。 図2は、前記処理ユニットの構成例を説明するための図解的な断面図である。 図3A〜3Cは、ガードの高さ位置の変化を説明するための断面図である。 図4は、薬液供給ユニットを示す模式図である。 図5は、前記基板処理装置に備えられた回収配管の構成を説明するための図である。 図6は、前記基板処理装置の主要部の電気的構成を説明するためのブロック図である。 図7は、前記処理ユニットによる基板処理例を説明するための流れ図である。 図8は、前記処理ユニットによるカップ洗浄処理の処理例を説明するための流れ図である。 図9は、図8に示す洗浄用薬液供給工程を説明するための流れ図である。 図10は、本発明の第2の実施形態に係る処理ユニットの構成例を説明するための図解的な断面図である。 図11は、本発明の第3の実施形態に係る処理ユニットの構成例を説明するための図解的な断面図である。
以下では、この発明の実施の形態を、添付図面を参照して詳細に説明する。
図1は、この発明の第1の実施形態に係る基板処理装置1を上から見た模式図である。基板処理装置1は、半導体ウエハなどの円板状の基板Wを一枚ずつ処理する枚葉式の装置である。
基板処理装置1は、基板Wを収容する複数のキャリアCを保持する複数のロードポートLPと、複数のロードポートLPから搬送された基板Wを薬液等の処理液で処理する複数(たとえば12台)の処理ユニット2と、複数のロードポートLPから複数の処理ユニット2に基板Wを搬送する搬送ロボットと、基板処理装置1を制御する制御装置3とを含む。搬送ロボットは、ロードポートLPと処理ユニット2との間の経路上で基板Wを搬送するインデクサロボットIRと、インデクサロボットIRと処理ユニット2との間の経路上で基板Wを搬送するセンターロボットCRとを含む。
センターロボットCRに対し、インデクサロボットIRと反対側には、後述するカップ洗浄処理に用いられるダミー基板DWを保持しておくためのダミー基板保持台4が配置されている。ダミー基板保持台4には、ダミー基板DWを複数枚(たとえば4枚)、積層保持可能である。センターロボットCRは、ダミー基板保持台4からダミー基板DWを取り出したり、使用済みのダミー基板DWをダミー基板保持台4に収容したりできる。さらに、センターロボットCRは、ハンドを個々の処理ユニット2にアクセスさせて、処理ユニット2に対してダミー基板DWを搬出入できる。
基板処理装置1は、薬液バルブ21(図4等参照)等を収容する複数(4台)の流体ボックス5を含む。処理ユニット2および流体ボックス5は、基板処理装置1の外壁6の中に配置されており、基板処理装置1の外壁6で覆われている。薬液タンク71(図4参照)等を収容する複数(4台)の貯留ボックス7は、基板処理装置1の外壁6の外に配置されている。貯留ボックス7は、基板処理装置1の側方に配置されていてもよいし、基板処理装置1が設置されるクリーンルームの下(地下)に配置されていてもよい。
12台の処理ユニット2は、平面視においてセンターロボットCRを取り囲むように配置された4つの塔を形成している。各塔は、上下に積層された3台の処理ユニット2を含む。4台の貯留ボックス7は、それぞれ4つの塔に対応している。同様に、4台の流体ボックス5は、それぞれ4つの塔に対応している。各貯留ボックス7内の薬液タンク71(図4参照)に貯留されている薬液は、その貯留ボックス7に対応する流体ボックス5を介して、この貯留ボックス7に対応する3台の処理ユニット2に供給される。また、同一の塔を構成する3台の処理ユニット2で基板Wに供給された薬液は、その塔に対応する流体ボックス5を介して、その塔に対応する貯留ボックス7内の薬液タンク71に回収される。また、複数の貯留ボックス7が、基板処理装置1の外壁6の内部に配置されていてもよい。
図2は、処理ユニット2の構成例を説明するための図解的な断面図である。図3A〜3Cは、ガードの高さ位置の変化を説明するための断面図である。
図2に示すように、処理ユニット2は、内部空間を有する箱形のチャンバ8と、チャンバ8内で一枚の基板Wを水平な姿勢で保持して、基板Wの中心を通る鉛直な回転軸線A1まわりに基板Wを回転させるスピンチャック9と、スピンチャック9に保持されている基板Wの上面(表面)に薬液を供給するための薬液ノズル10と、スピンチャック9に保持されている基板Wの上面にリンス液を供給するためのリンス液供給ユニット11と、スピンチャック9に保持されている基板Wの上面に洗浄液を供給するための洗浄液供給ユニット12と、スピンチャック9を取り囲む筒状の処理カップ13とを含む。
図2に示すように、チャンバ8は、箱状の隔壁14と、隔壁14の上部から隔壁14内(チャンバ8内に相当)に清浄空気を送る送風ユニットとしてのFFU(ファン・フィルタ・ユニット)15と、隔壁14の下部からチャンバ8内の気体を排出する排気装置(図示しない)とを含む。
図2に示すように、FFU15は隔壁14の上方に配置されており、隔壁14の天井に取り付けられている。FFU15は、隔壁14の天井からチャンバ8内に清浄空気を送る。排気装置(図示しない)は、処理カップ13内に接続された排気ダクト16を介して処理カップ13の底部に接続されており、処理カップ13の底部から処理カップ13の内部を吸引する。FFU15および排気装置(図示しない)により、チャンバ8内にダウンフロー(下降流)が形成される。
図2に示すように、スピンチャック9として、基板Wを水平方向に挟んで基板Wを水平に保持する挟持式のチャックが採用されている。具体的には、スピンチャック9は、スピンモータ17と、このスピンモータ17の駆動軸と一体化されたスピン軸18と、スピン軸18の上端に略水平に取り付けられた円板状のスピンベース19とを含む。
スピンベース19は、基板Wの外径よりも大きな外径を有する水平な円形の上面19aを含む。上面19aには、その周縁部に複数個(3個以上。たとえば6個)の挟持部材19Bが配置されている。複数個の挟持部材19Bは、スピンベース19の上面周縁部において、基板Wの外周形状に対応する円周上で適当な間隔を空けてたとえば等間隔に配置されている。
また、スピンチャック9としては、挟持式のものに限らず、たとえば、基板Wの裏面を真空吸着することにより、基板Wを水平な姿勢で保持し、さらにその状態で鉛直な回転軸線まわりに回転することにより、スピンチャック9に保持された基板Wを回転させる真空吸着式のもの(バキュームチャック)が採用されてもよい。
図2に示すように、薬液ノズル10には、循環配管75(図4参照)を循環している(貯留ボックス7に貯留されている)薬液を薬液ノズル10に供給するための薬液配管20が接続されている。薬液配管20には、薬液配管20を開閉するための薬液バルブ21が介装されている。
処理ユニット2は、薬液ノズル10が先端部に取り付けられたノズルアーム22と、ノズルアーム22を移動して、薬液ノズル10を移動させるノズル移動ユニット23とをさらに含む。薬液ノズル10は、その吐出口を下方または斜め下方に向けた状態で、水平方向に延びるノズルアーム22に取り付けられている。
図2に示すように、リンス液供給ユニット11はリンス液ノズル24を含む。リンス液ノズル24は、たとえば、連続流の状態で液を吐出するストレートノズルであり、スピンチャック9の上方で、その吐出口を基板Wの上面中央部に向けて固定的に配置されている。リンス液ノズル24には、リンス液供給源からのリンス液が供給されるリンス液配管25が接続されている。リンス液配管25の途中部には、リンス液配管25を開閉するためのリンス液バルブ26が介装されている。リンス液バルブ26が開かれると、リンス液配管25からリンス液ノズル24に供給された連続流のリンス液が、リンス液ノズル24の下端に設定された吐出口から吐出され、基板Wの上面に供給される。また、リンス液バルブ26が閉じられると、リンス液配管25からリンス液ノズル24の洗浄液の供給が停止され、リンス液ノズル24からのリンス液の吐出が停止される。リンス液配管25からリンス液ノズル24に供給されるリンス液は、たとえば水である。水は、たとえば脱イオン水(DIW)であるが、DIWに限らず、炭酸水、電解イオン水、水素水、オゾン水および希釈濃度(たとえば、10ppm〜100ppm程度)の塩酸水のいずれかであってもよい。
また、リンス液供給ユニット11は、リンス液ノズル24を移動させることにより、基板Wの上面に対するリンス液の着液位置を基板Wの面内で走査させるリンス液ノズル移動装置を備えていてもよい。
図2に示すように、洗浄液供給ユニット12は洗浄液ノズル27を含む。洗浄液ノズル27は、たとえば、連続流の状態で液を吐出するストレートノズルであり、スピンチャック9の上方で、その吐出口を基板Wの上面中央部に向けて固定的に配置されている。洗浄液ノズル27には、洗浄液供給源からの洗浄液が供給される洗浄液配管28が接続されている。洗浄液配管28の途中部には、洗浄液配管28を開閉するための洗浄液バルブ29が介装されている。洗浄液バルブ29が開かれると、洗浄液配管28から洗浄液ノズル27に供給された連続流の洗浄液が、洗浄液ノズル27の下端部に設定された吐出口から吐出され、基板Wの上面に供給される。また、洗浄液バルブ29が閉じられると、洗浄液配管28から洗浄液ノズル27への洗浄液の供給が停止され、洗浄液ノズル27からの洗浄液の吐出が停止される。洗浄液配管28から洗浄液ノズル27に供給される洗浄液は、たとえば水である。水は、たとえば脱イオン水(DIW)であるが、DIWに限らず、炭酸水、電解イオン水、水素水、オゾン水および希釈濃度(たとえば、10ppm〜100ppm程度)の塩酸水のいずれかであってもよい。
また、洗浄液供給ユニット12は、洗浄液ノズル27を移動させることにより、基板Wの上面に対する洗浄液の着液位置を基板Wの面内で走査させる洗浄液ノズル移動装置を備えていてもよい。
また、洗浄液として、脱イオン水(DIW)等の水を用いる場合には、リンス液供給ユニット11を用いて、基板Wの上面に洗浄液を供給することができる。この場合、基板Wへのリンス液の供給と、基板Wへの洗浄液の供給とを同じ供給ユニット(リンス液供給ユニット11)で行うことができるので、洗浄液供給ユニット12を廃止することもできる。
図2および図3A〜3Cに示すように、処理カップ13は、円筒部材30と、円筒部材30の内側においてスピンチャック9を2重に取り囲むように固定的に配置された複数のカップ31,32と、基板Wの周囲に飛散した処理液(薬液またはリンス)を受け止めるための複数のガード33〜35(第1、第2および第3のガード33,34,35)と、個々のガード33〜35を独立して昇降させるガード昇降ユニット36とを含む。ガード昇降ユニット36は、たとえはボールねじ機構を含む構成である。
処理カップ13は折り畳み可能であり、ガード昇降ユニット36が3つのガード33〜35のうちの少なくとも一方を昇降させることにより、処理カップ13の展開および折り畳みが行われる。
図2に示すように、第1のカップ31は、円環状をなし、スピンチャック9と円筒部材30との間でスピンチャック9の周囲を取り囲んでいる。第1のカップ31は、基板Wの回転軸線A1に対してほぼ回転対称な形状を有している。第1のカップ31は、断面U字状をなしており、基板Wの処理に使用された処理液を集めて排液するための第1の溝40を区画している。第1の溝40の底部の最も低い箇所には、排液口41が開口しており、排液口41には、第1の排液配管42が接続されている。第1の排液配管42の下流端は、排液装置(図示しない。廃棄装置であってもよい)に接続されており、第1の排液配管42に導入される処理液は、排液装置に送られ、排液装置で排液処理(廃液処理)される。
図2に示すように、第2のカップ32は、円環状をなし、第1のカップ31の周囲を取り囲んでいる。第2のカップ32は、基板Wの回転軸線A1に対してほぼ回転対称な形状を有している。第2のカップ32は、断面U字状をなしており、基板Wの処理に使用された処理液を集めて回収するための第2の溝43を区画している。第2の溝43の底部の最も低い箇所には、回収口44が開口しており、回収口44には、回収配管45が接続されている。回収配管45には、薬液回収配管46および第2の排液配管47がそれぞれ接続されている。薬液回収配管46の下流端は、回収タンク72(図4参照)に接続されている。薬液回収配管46には回収バルブ48が介装されている。
第2の排液配管47の下流端は、排液装置(図示しない。廃棄装置であってもよい)に接続されており、第2の排液配管47に導入される処理液は、排液装置に送られ、排液装置で排液処理(廃液処理)される。第2の排液配管47には、第2の排液配管47を開閉するための排液バルブ49が介装されている。
排液バルブ49を閉じながら回収バルブ48を開くことにより、回収配管45を通る液が薬液回収配管46に導かれる。また、回収バルブ48を閉じながら排液バルブ49を開くことにより、回収配管45を通る液が第2の排液配管47に導かれる。すなわち、回収バルブ48および排液バルブ49は、回収配管45を通る液の流通先を、薬液回収配管46と第2の排液配管47との間で切り換える切り換えユニットとして機能する。
図2に示すように、最も内側の第1のガード33は、スピンチャック9の周囲を取り囲み、スピンチャック9による基板Wの回転軸線A1に対してほぼ回転対称な形状を有している。第1のガード33は、スピンチャック9の周囲を取り囲む円筒状の下端部53と、下端部53の上端から外方(基板Wの回転軸線A1から遠ざかる方向)に延びる筒状部54と、筒状部54の上面外周部から鉛直上方に延びる円筒状の中段部55と、中段部55の上端から内方(基板Wの回転軸線A1に近づく方向)に向かって斜め上方に延びる円環状の上端部56とを含む。下端部53は、第1の溝40上に位置し、第1のガード33と第1のカップ31とが最も近接した状態で、第1の溝40の内部に収容される。上端部56の内周端は、平面視で、スピンチャック9に保持される基板Wよりも大径の円形をなしている。また、上端部56は、図2等に示すようにその断面形状が直線状であってもよいし、また、たとえば滑らかな円弧を描きつつ延びていてもよい。
図2に示すように、内側から2番目の第2のガード34は、第1のガード33の外側において、スピンチャック9の周囲を取り囲み、スピンチャック9による基板Wの回転軸線A1に対してほぼ回転対称な形状を有している。第2のガード34は、第1のガード33と同軸の円筒部57と、円筒部57の上端から中心側(基板Wの回転軸線A1に近づく方向)斜め上方に延びる上端部58とを有している。上端部58の内周端は、平面視で、スピンチャック9に保持される基板Wよりも大径の円形をなしている。なお、上端部58は、図2等に示すようにその断面形状が直線状であってもよいし、また、たとえば滑らかな円弧を描きつつ延びていてもよい。上端部58の先端は、処理カップ13の上部開口13aを区画している。
円筒部57は、第2の溝43上に位置している。また、上端部58は、第1のガード33の上端部56と上下方向に重なるように設けられ、第1のガード33と第2のガード34とが最も近接した状態で上端部56に対して微少な隙間を保って近接するように形成されている。
図2に示すように、最も外側の第3のガード35は、第2のガード34の外側において、スピンチャック9の周囲を取り囲み、スピンチャック9による基板Wの回転軸線A1に対してほぼ回転対称な形状を有している。第3のガード35は、第2のガード34と同軸の円筒部60と、円筒部60の上端から中心側(基板Wの回転軸線A1に近づく方向)斜め上方に延びる上端部61とを有している。上端部61の内周端は、平面視で、スピンチャック9に保持される基板Wよりも大径の円形をなしている。なお、上端部61は、図2等に示すようにその断面形状が直線状であってもよいし、また、たとえば滑らかな円弧を描きつつ延びていてもよい。
図2および図3A〜3Cに示すように、ガード昇降ユニット36は、ガードの上端部が基板Wより上方に位置する上位置と、ガードの上端部が基板Wより下方に位置する下位置との間で、各ガード33〜35を昇降させる。ガード昇降ユニット36は、上位置と下位置との間の任意の位置で各ガード33〜35を保持可能である。基板Wへの処理液の供給や基板Wの乾燥は、いずれかのガード33〜35が基板Wの周端面に対向している状態で行われる。
図3Aに示すように、最も内側の第1のガード33を基板Wの周端面に対向させる場合には、第1〜第3のガード33〜35の全てが上位置に配置される。
図3Bに示すように、内側から2番目の第2のガード34を基板Wの周端面に対向させる場合には、第2および第3のガード34,35が上位置(図2に示す位置)に配置され、かつ第1のガード33が下位置(図3に示す位置)に配置される。
図3Cに示すように、最も外側の第3のガード35を基板Wの周端面に対向させる場合には、図3に示すように、第3のガード35が上位置に配置され、かつ第1および第2のガード33,34が下位置に配置される。
図2に示すように、チャンバ8の底壁には、排液口91が形成されている。排液口91には、第3の排液配管92が接続されている。第3の排液配管92の下流端は、排液装置(図示しない。廃棄装置であってもよい)に接続されており、第3の排液配管92に導入される処理液は、排液装置に送られ、排液装置で排液処理(廃液処理)される。
図4は、薬液供給ユニット100を示す模式図である。
基板処理装置1は、さらに、薬液ノズル10に供給される薬液を貯留する薬液タンク71と、処理カップ13から回収された薬液を貯留する回収タンク72と、回収タンク72に貯留されている薬液を薬液タンク71に送るための送液配管73と、回収タンク72内の薬液を送液配管73に移動させる第1の送液装置74と、薬液タンク71内の薬液を循環させる循環経路Q1を形成する循環配管75と、薬液タンク71内の薬液を循環配管75に送る第2の送液装置76と、薬液タンク71から薬液ノズル10に供給される薬液の温度を調節する温度調節器77と、薬液タンク71から薬液ノズル10に供給される薬液中の異物を除去するフィルタ78とを含む。薬液タンク71、回収タンク72、第1の送液装置74、第2の送液装置76、温度調節器77およびフィルタ78は、貯留ボックス7内に配置されている。この実施形態では、薬液ノズル10、薬液配管20、薬液タンク71、回収タンク72、送液配管73、第1の送液装置74、循環配管75、第2の送液装置76、温度調節器77およびフィルタ78によって、薬液供給ユニット100が構成されている。
循環配管75の上流端75aおよび下流端75bは、薬液タンク71内に接続されている。循環配管75は、薬液タンク71内の薬液を3つの薬液配管20に導く供給部と、3つの薬液配管20が接続された接続部と、接続部を通過した薬液を薬液タンク71に導く帰還部とを含む。温度調節器77は、循環配管75の供給部に介装されている。温度調節器77は、薬液タンク71内に配置されていてもよい。温度調節器77は、室温(たとえば約23℃)よりも高い温度から室温よりも低い温度まで範囲内の温度で薬液を温度調節(加熱または冷却)する。第1の送液装置74によって薬液タンク71から循環配管75に送られた薬液は、温度調節器77によって加熱または冷却された後、薬液タンク71に戻る。第1の送液装置74は、回収タンク72内の薬液を吸い込み、その吸い込んだ薬液を吐出するポンプである。第1の送液装置74は、回収タンク72内の気圧を上昇させることにより回収タンク72内の薬液を送液配管73に送る加圧装置であってもよい。第2の送液装置76は、薬液タンク71内の薬液を吸い込み、その吸い込んだ薬液を吐出するポンプである。第2の送液装置76は、薬液タンク71内の気圧を上昇させることにより薬液タンク71内の薬液を循環配管75に送る加圧装置であってもよい。
循環配管75を循環する薬液の一例は、BHF(Buffered Hydrogen Fluoride:バッファードフッ酸)である。前述のように、循環配管75を循環する薬液は、3つの処理ユニット2に供給される。個々の処理ユニット2に備えられる薬液配管20の上流端20aは、循環配管75に接続されている。薬液配管20の下流端20bは、薬液ノズル10に接続されている。薬液バルブ21は、流体ボックス5内に配置されている。他の2つの薬液配管20についても同様である。薬液バルブ21が開かれると、循環配管75内を流れる薬液が薬液配管20を通って薬液ノズル10に供給され、薬液ノズル10の吐出口から薬液が吐出される。薬液バルブ21は、流体ボックス5内に配置されている。
3つの薬液回収配管46は、同一の塔を構成する3台の処理ユニット2にそれぞれ対応している。薬液回収配管46の下流端46bは、回収タンク72に接続されている。回収バルブ48および排液バルブ49は、流体ボックス5内に配置されている。他の2つの薬液回収配管46についても同様である。回収バルブ48が開かれると、回収配管45を流れる薬液が薬液回収配管46を通って回収タンク72に供給される。
図2に示すように、処理ユニット2は、平面視でスピンチャック9の周囲に配置された待機ポット(容器)80を含む。待機ポット80は、基板Wの上方から退避したホーム位置に配置されている薬液ノズル10から吐出される薬液を受け止めるためのポットである。待機ポット80は、箱状のハウジング81を含む。ハウジング81は、ハウジング81の上面に形成された開口82と、ハウジング81の底壁に形成された排出口83とを有する。待機ポット80の排出口83には、薬液と同種の洗浄用薬液を回収配管45に供給する洗浄用薬液供給配管としての接続配管84の上流端部が接続されている。接続配管84の下流端部は、回収配管45に接続されている。ホーム位置にある薬液ノズル10から吐出された薬液は、開口82を介してハウジング81の内部に流入し、待機ポット80に受け止められる。待機ポット80に受け止められた薬液は、接続配管84を介して回収配管45内に供給される。
この実施形態では、薬液ノズル10から待機ポット80および接続配管84を介して回収配管45に供給される薬液は、回収配管45内の洗浄液を置換するため洗浄用薬液として使用される。つまり、洗浄用薬液は、薬液と同種の液体である。また、薬液ノズル10から待機ポット80および接続配管84は、洗浄用薬液供給ユニット101に含まれる。洗浄用薬液供給ユニット101は、薬液供給ユニット100、待機ポット80および接続配管84を含む。
図5は、回収配管45の構成を説明するための図である。
回収配管45は、たとえばL字配管であり、上下方向(略鉛直方向)に沿って延びる丸管からなる上下方向部85と、上下方向部85の下流端(下端)85bから横方向(略水平方向)に沿って延びる丸管からなる横方向部86とを有している。横方向部86には、つま先下がりの微小勾配(たとえば0°〜5°)が付されていてもよい。上下方向部85の上流端は回収口44(図2参照)に接続されている。薬液回収配管46の上流端および第2の排液配管47の上流端は、それぞれ横方向部86の下流端86bに接続されている。この実施形態では、上下方向部85の寸法は、内径が約1.6cm、長さが約20cmである。横方向部86の寸法は、内径が約1.6cm、長さLが約40cmである。
また、前述のように、接続配管84の下流端は、横方向部86の下流側寄りの予め定める位置に接続されている。横方向部86における接続位置86dよりも下流側の部分(以下、単に「下流側部分」という)86cの長さL1は約7.5cmであり、その内部の容積は約15ccである。
上下方向部85内に存在している液(上下方向部85の内壁に付着している液)は、その自重により下方に向けて(すなわち、横方向部86に向けて)移動する。
図6は、基板処理装置1の主要部の電気的構成を説明するためのブロック図である。
制御装置3は、たとえばマイクロコンピュータを用いて構成されている。制御装置3はCPU等の演算ユニット、固定メモリデバイス、ハードディスクドライブ等の記憶ユニット、および入出力ユニット(図示しない)を有している。記憶ユニットには、演算ユニットが実行するプログラムが記憶されている。
また、制御装置3には、制御対象として、スピンモータ17、ノズル移動ユニット23、ガード昇降ユニット36、薬液バルブ21、リンス液バルブ26、洗浄液バルブ29、回収バルブ48、排液バルブ49等が接続されている。制御装置3は、スピンモータ17、ノズル移動ユニット23、ガード昇降ユニット36等の動作を制御する。制御装置3は、薬液バルブ21、リンス液バルブ26、洗浄液バルブ29、回収バルブ48、排液バルブ49等を開閉する。
図7は、処理ユニット2による基板処理例を説明するための流れ図である。図1〜図7を参照しながら基板処理例について説明する。この基板処理例は、基板Wの表面に薬液を供給して基板Wを処理する薬液処理の例である。薬液処理は、エッチング処理や洗浄処理を含む。
未処理の円形の基板Wは、ロボットIR,CRによってキャリアCから処理ユニット2のチャンバ8内に搬入され(ステップS1)、基板Wがその表面(処理対象面)を上方に向けた状態でスピンチャック9に受け渡され、スピンチャック9に基板Wが保持される(ステップS2)。基板Wの搬入に先立って、薬液ノズル10は、スピンチャック9の側方に設定されたホーム位置に退避させられている。排液バルブ49は閉じられており、かつ回収バルブ48は開かれている。そのため、回収配管45に導かれる液が、薬液回収配管46に導かれる。
スピンチャック9に基板Wが保持されると、制御装置3はスピンモータ17を制御して、スピンベース19を回転開始させ、これにより、基板Wが回転開始させられる(ステップS3)。基板Wの回転速度は予め定める液処理速度まで上昇させられ、その液処理速度に維持される。
制御装置3は、ノズル移動ユニット23を制御して、薬液ノズル10を、ホーム位置から基板Wの上方に移動させる。
また、制御装置3は、ガード昇降ユニット36を制御して、第2および第3のガード34,35をそれぞれ上位置に上昇させて、図3Bに示すように、第2のガード34を基板Wの周端面に対向させる。
次いで、制御装置3は、基板Wの上面に薬液を供給する薬液工程(ステップS4)を行う。その後、制御装置3は、薬液バルブ21を開いて、薬液ノズル10から基板Wの上面中央部に向けて薬液を吐出する。基板Wの上面に供給された薬液は、基板Wの回転による遠心力を受けて基板Wの周縁部に移動し、基板Wの周縁部から基板Wの側方に向けて飛散する。
基板Wの周縁部から飛散する薬液は、第2のガード34の内壁に受け止められ、第2のガード34の内壁を伝って流下し、第2の溝43を通った後、回収配管45に導かれる。回収配管45に導かれた薬液は、薬液回収配管46を通って回収タンク72へと送られる。
薬液の吐出開始から予め定める期間が経過すると、薬液工程S4が終了する。具体的には、制御装置3は、薬液バルブ21を閉じて、薬液ノズル10からの薬液の吐出を停止する。
また、制御装置3は、ノズル移動ユニット23を制御して、薬液ノズル10をホーム位置へと退避させる。
また、制御装置3は、ガード昇降ユニット36を制御して、第2および第3のガード34,35をそれぞれ上位置に保ちながら、第1のガード33を上位置に上昇させて、図3Aに示すように、第1のガード33を基板Wの周端面に対向させる。
次いで、リンス液を基板Wの上面に供給するリンス工程(ステップS5)が行われる。具体的には、制御装置3はリンス液バルブ26を開く。リンス液ノズル24から吐出されたリンス液は、基板Wの上面中央部に着液し、基板Wの回転による遠心力を受けて基板Wの上面上を基板Wの周縁部に向けて流れる。基板W上の薬液がリンス液に置換される。基板Wの上面を流れるリンス液は、基板Wの周縁部から基板Wの側方に向けて飛散し、第1のガード33の内壁に受け止められる。そして、第1のガード33の内壁を伝って流下するリンス液は、第1の溝40に集められた後第1の排液配管42に導かれ、その後、処理液を排液処理するための排液処理装置(図示しない)へと導かれる。
水の吐出開始から予め定める期間が経過すると、制御装置3は、リンス液バルブ26を閉じてリンス液ノズル24からのリンス液の吐出を停止させる。これにより、リンス工程S5が終了する。また、制御装置3は、ガード昇降ユニット36を制御して、第3のガード35を上位置に保ったまま、第1および第2のガード33,34を下位置に下降させて、図3Cに示すように、第3のガード35を基板Wの周端面に対向させる。
次いで、基板Wを乾燥させるスピンドライ工程(ステップS6)が行われる。具体的には、制御装置3はスピンモータ17を制御することにより、薬液工程S4およびリンス工程S5における回転速度よりも大きい乾燥回転速度(たとえば数千rpm)まで基板Wを加速させ、その乾燥回転速度で基板Wを回転させる。これにより、大きな遠心力が基板W上の液体に加わり、基板Wに付着している液体が基板Wの周囲に振り切られる。このようにして、基板Wから液体が除去され、基板Wが乾燥する。
基板Wの高速回転の開始から予め定める期間が経過すると、制御装置3は、スピンモータ17を制御することにより、スピンチャック9による基板Wの回転を停止させる(ステップS7)。その後、制御装置3は、制御装置3は、ガード昇降ユニット36を制御して、第1および第2のガード33,34を下位置に保ったまま、第3のガード35を下位置に下降させる。これにより、第1〜第3のガード33〜35の上端がいずれも基板Wの保持位置よりも下方に配置される(図2に示す状態)。
次に、チャンバ8内から基板Wが搬出される(ステップS8)。具体的には、制御装置3は、センターロボットCRのハンドをチャンバ8の内部に進入させる。そして、制御装置3は、センターロボットCRのハンドにスピンチャック9上の基板Wを保持させる。その後、制御装置3は、センターロボットCRのハンドをチャンバ8内から退避させる。これにより、薬液処理後の基板Wがチャンバ8から搬出される。
基板Wの搬出後においては、カップ洗浄処理が行われることがある。たとえば1ロットの基板W(1つのキャリアに収容されている全ての基板)に対する処理が終了する毎に、次に述べるカップ洗浄処理が実行される。
図8は、処理ユニット2によるカップ洗浄処理の処理例を説明するための流れ図である。図1〜図6および図8を参照しながらカップ洗浄処理の処理例について説明する。この実施形態では、カップ洗浄処理は、カップ洗浄工程(配管洗浄工程)E1と、洗浄用薬液供給工程T11とを含む。
基板処理装置1において、通常、排液バルブ49が閉じられかつ回収バルブ48が開かれた状態にあり、カップ洗浄処理の開始時にもこのような状態にある。そのため、回収配管45を通る液が、薬液回収配管46に導かれる。
カップ洗浄処理では、たとえばSiC製のダミー基板DWをスピンチャック9に保持させ、回転状態にあるダミー基板DWに対して洗浄液や洗浄用薬液(薬液と同種の洗浄用薬液)を供給させて行われる。処理ユニット2による薬液処理の対象の基板Wと同じ形状およびサイズに形成されており、そのため、ダミー基板DWの周縁から飛散する洗浄液が、薬液処理時における基板Wの周縁から飛散する処理液(薬液またはリンス液)と同じ位置で受け止められる。
センターロボットCRは、ダミー基板保持台4からダミー基板DWを取り出し、処理ユニット2のチャンバ8内に搬入し(ステップT1)、スピンチャック9に保持させる(ステップT2)。ダミー基板DWの搬入に先立って、薬液ノズル10は、スピンチャック9の側方に設定されたホーム位置に退避させられている。
スピンチャック9にダミー基板DWが保持されると、制御装置3はスピンモータ17を制御して、スピンベース19を回転開始させ、これにより、ダミー基板DWが回転開始させられる(ステップT3)。
また、制御装置3は、ガード昇降ユニット36を制御して、第1〜第3のガード33〜35のうち予め定めるガードを、ダミー基板DWの周端面に対向させる(ステップT4)。ダミー基板DWの周端面に対向しているガードが、図3Aに示すように第1のガード33である場合には、第1〜第3のガード33〜35をそれぞれ上位置に上昇させる。
また、制御装置3は、回収バルブ48を閉じかつ排液バルブ49を開く(ステップT5)。よって、これ以降回収配管45を通る液が、第2の排液配管47に導かれる。
ダミー基板DWの回転速度が予め定める速度に達すると、制御装置3は、洗浄液バルブ29を開く。そのため、洗浄液ノズル27から洗浄液が吐出され、これにより、ダミー基板DWの上面に洗浄液が供給される(ステップT6)。洗浄液ノズル27から吐出された洗浄液は、ダミー基板DWの上面中央部に着液し、ダミー基板DWの回転による遠心力を受けてダミー基板DWの上面上をダミー基板DWの周縁部に向けて流れ、ダミー基板DWの周縁部からダミー基板DWの側方に向けて飛散する。
この場合、ダミー基板DWの周縁部から飛散する洗浄液は、第1のガード33の内側の面に受け止められる。この洗浄液は、第1のガード33の内壁を伝って流下し、第1の溝40に集められた後第1の排液配管42に導かれ、その後、排液処理装置(図示しない)へと導かれる。すなわち、第1のガード33の内壁および第1の溝40が洗浄液を用いて洗浄される。
洗浄液の吐出開始から予め定める期間が経過すると、制御装置3は、ガード昇降ユニット36を制御して、ダミー基板DWの周端面に対向しているガードを変更する(ステップT7)。たとえば、ダミー基板DWの周端面に対向しているガードを、第1のガード33から第2のガード34に変更する場合には、第1のガード33を上位置から下位置に下降させる。これにより、図3Bに示すように、第2のガード34がダミー基板DWの周端面に対向する。
この場合、ダミー基板DWの周縁部から飛散する洗浄液は、第2のガード34の内壁または第1のガード33の外側の面に受け止められる。これらの洗浄液は、第2のガード34の内壁または第1のガード33の外側の面を伝って流下し、第2の溝43に集められた後、回収配管45に導かれる。すなわち、第2のガード34の内壁、第1のガード33の外側の面、第2の溝43および回収配管45が洗浄液を用いて洗浄される。処理カップ13および回収配管45内の洗浄に用いられた洗浄液は、回収配管45から第2の排液配管47に導かれ、その後、排液処理装置(図示しない)へと導かれる。
ガードの変更から予め定める期間が経過すると、制御装置3は、ガード昇降ユニット36を制御して、ダミー基板DWの周端面に対向しているガードをさらに変更する(ステップT7)。たとえば、ダミー基板DWの周端面に対向しているガードを、第2のガード34から第3のガード35に変更する場合には、第2のガード34を上位置から下位置に下降させる。これにより、図3Cに示すように、第3のガード35がダミー基板DWの周端面に対向する。
この場合、ダミー基板DWの周縁部から飛散する洗浄液は、第3のガード35の内壁または第2のガード34の外側の面に受け止められる。これらの洗浄液は、第3のガード35の内壁または第2のガード34の外側の面を伝って流下し、チャンバ8の底壁に供給された後、第3の排液配管92に導かれ、その後、排液処理装置(図示しない)へと導かれる。すなわち、第3のガード35の内壁および第2のガード34の外側の面が洗浄液を用いて洗浄される。
ガードの変更から予め定める期間が経過すると、制御装置3は、ガード昇降ユニット36を制御して、第3のガード35を上位置から下位置に下降させる。これにより、ガードが、第1〜第3のガード33〜35の全てが下位置に配置された状態になる。
この場合、ダミー基板DWの周縁部から飛散する洗浄液は、第3のガード35の外側の面に供給され、これにより、第3のガード35の外側の面が洗浄液を用いて洗浄される。
また、第1のガード33がダミー基板DWの周端面に対向している状態、第2のガード34がダミー基板DWの周端面に対向している状態、および第3のガード35がダミー基板DWの周端面に対向している状態のそれぞれにおいて、ダミー基板DWの周縁からの洗浄液の飛散方向を変化させるべく、ダミー基板DWの回転速度を変化させることが望ましい。
また、第1のガード33がダミー基板DWの周端面に対向させる工程、第2のガード34がダミー基板DWの周端面に対向させる工程、および第3のガード35がダミー基板DWの周端面に対向させる工程の順序は適宜設定することができる。
ガードの下降から予め定める期間が経過すると、制御装置3は、洗浄液バルブ29を閉じて、ダミー基板DWへの洗浄液の供給が停止される(ステップT8)。また、制御装置3は、スピンモータ17を制御して、ダミー基板DWの回転を停止させる(ステップT9)。
その後、使用済みのダミー基板DWは、センターロボットCRにより処理ユニット2外に搬出され(ステップT10)、ダミー基板保持台15に収容される。これにより、カップ洗浄工程E1が終了される。
カップ洗浄工程E1の終了後には、次いで、回収配管45内に存在している洗浄液を洗浄用薬液に置換すべく、洗浄用薬液を回収配管45に供給する洗浄用薬液供給工程(ステップT11)が実行される。洗浄用薬液供給工程T11では、回収配管45に導かれる液を排液配管に導きながら、回収配管45に接続された接続配管84からの洗浄用薬液を回収配管45に供給する。洗浄用薬液供給工程T11が終了すると、図12のカップ洗浄処理は終了する。
図9は、図8に示す洗浄用薬液供給工程T11を説明するための流れ図である。図1〜図6ならびに図8および図9を参照しながら洗浄用薬液供給工程T11について説明する。
洗浄用薬液供給工程T11の実行に際し、制御装置3は、薬液ノズル10がホーム位置にあることを確認し(ステップP1でYES)、その上で、薬液バルブ21を開いて、薬液ノズル10から薬液を吐出開始させる(ステップP3)。また、薬液ノズル10がホーム位置にない場合には(ステップP1でNO)、制御装置3は、ノズル移動ユニット23を制御して、薬液ノズル10をホーム位置に配置し(ステップP2)、その後、薬液バルブ21を開いて、薬液ノズル10から薬液を吐出開始させる(ステップP3)。ホーム位置にある薬液ノズル10から吐出された薬液は、開口82を介してハウジング81の内部に流入し、待機ポット80に受け止められる。待機ポット80に受け止められた薬液は、接続配管84を通して、上下方向部85を経由して、洗浄用薬液として、回収配管45の横方向部86内に供給される。これにより、横方向部86における下流側部分86c内に洗浄用薬液が行き渡り、下流側部分86c内に存在している洗浄液が洗浄用薬液に置換される。
カップ洗浄工程E1の終了から所定時間が経過した後には、上下方向部85の内壁に付着していた洗浄液は、その自重により横方向部86に向けて移動する。したがって、配管洗浄工程の終了から所定時間が経過した後には、回収配管45内に存在する洗浄液の大半は横方向部86に存在しており、上下方向部85に洗浄液がほとんど存在していない。しかも、回収配管45内に存在する洗浄液の大部分は、横方向部86の下流端86bの近傍の領域(すなわち、下流側部分86c)に存在している。とくに、つま先下がりの微小勾配(たとえば0°〜5°)が横方向部86に付されている場合には、その傾向が強い。
以上により、横方向部86の下流側部分86cに直接洗浄用薬液を供給することにより、回収配管45内に存在する洗浄液の大部分を洗浄用薬液で置換することができる。これにより、洗浄用薬液の消費量の低減を図ることができる。
また、回収配管45に供給された洗浄用薬液は、第2の排液配管47に導かれる。すなわち、洗浄液を含む洗浄用薬液は、第2の排液配管47に導かれる。
回収配管45内に存在する洗浄液を洗浄用薬液に置換することにより、カップ洗浄処理後の薬液処理において、薬液が希釈されることに伴う処理レートの低下を抑制することができる。
薬液バルブ21を開いてから予め定める期間が経過すると(ステップP4でYES)、制御装置3は、薬液バルブ21を閉じて、薬液ノズル10からの薬液の吐出を停止させる(ステップP5)。これにより、回収配管45内への、洗浄用薬液としての薬液の供給が停止される。
横方向部86における下流側部分86cの容積は前述のように約15ccである。そのため、これを超える量の洗浄用薬液を回収配管45に供給すれば、回収配管45内に存在している洗浄液を洗浄用薬液に置換することができる。そのため、洗浄用薬液の消費量の低減を図ることができる。
その後、制御装置3は、排液バルブ49を閉じかつ回収バルブ48を開く(ステップP6)。これにより、洗浄用薬液供給工程T11が終了する。
以上によりこの実施形態によれば、カップ洗浄工程E1において、処理カップ13および回収配管45内の洗浄に用いられた洗浄液は、回収配管45から第2の排液配管47に導かれて排液される。カップ洗浄工程E1後には、接続配管84からの洗浄用薬液が回収配管45に供給され、回収配管45内に存在している洗浄液が洗浄用薬液に置換される。洗浄液を含む洗浄用薬液は、第2の排液配管47に導かれる。これにより、回収配管45内の洗浄に用いられた洗浄液が薬液回収配管46に洗浄液が入り込むことを防止または抑制できる。
また、接続配管84からの洗浄用薬液を回収配管45に直接供給するので、薬液ノズル10からの薬液を、基板等(ダミー基板DW等)および処理カップ13を介して洗浄用薬液として回収配管45に供給する場合と比較して、回収配管45への洗浄用薬液の供給効率を高めることができ、その結果、洗浄用薬液に置換するために必要な洗浄用薬液の量を低減できる。これにより、薬液回収配管46に洗浄液が入り込むことを防止または抑制しながら洗浄用薬液の消費量の低減を図ることができる基板処理装置1を提供することができる。
また、接続配管84からの洗浄用薬液が横方向部86に供給され、そのため、横方向部86における下流側部分86c内に洗浄用薬液が行き渡る。カップ洗浄工程E1の終了から所定時間が経過した後には上下方向部85には洗浄液がほとんど存在していないので、横方向部86に直接洗浄用薬液を供給することにより、回収配管45内に存在する洗浄液の大部分を洗浄用薬液で置換することができる。この場合、洗浄用薬液に置換されるべき配管部分の長さが短いので、上下方向部85および横方向部86の双方に存在している洗浄液を洗浄用薬液で置換する場合と比較して、洗浄用薬液に置換するために用いる洗浄用薬液(すなわち、薬液)の量をより一層低減できる。
また、薬液ノズル10から吐出され、待機ポット80に受けられた薬液が、接続配管84を通って、洗浄用薬液として回収配管45に供給される。これにより、洗浄用薬液を回収配管45に直接供給する構成を簡単な構成で実現できる。
図10は、本発明の第2の実施形態に係る処理ユニット202の構成例を説明するための図解的な断面図である。
図10において、第1の実施形態に示された各部に対応する部分には、図1〜図9の場合と同一の参照符号を付して示し、説明を省略する。
第2の実施形態に係る処理ユニット202が、第1の実施形態に係る処理ユニット2と相違する点は、接続配管84の下流端が、上下方向部85の上流端部85a(上端部。上下方向部85における上端流端を含む周囲の部分。上下方向部85のうち上端流端から、1/10〜1/5程度の領域)に接続されている点である。この場合、ホーム位置にある薬液ノズル10から吐出された薬液は、待機ポット80および接続配管84を通して、上下方向部85の上流端部85a内に供給される。
この実施形態では、第1の実施形態において説明した作用効果と同等の作用効果に加えて、次に述べる作用効果を奏する。すなわち、接続配管84が上下方向部85の上流端部85aに接続されているので、接続配管84からの洗浄用薬液を上下方向部85の上流端部85aに供給することができ、そのため、回収配管45内の全域に洗浄用薬液を行き渡らせることができる。これにより、回収配管45内の全域において洗浄用薬液の置換を実現できる。ゆえに、薬液処理の開始後に薬液回収配管46に洗浄液が入り込むことを防止またはより効果的に抑制できる。
図11は、本発明の第3の実施形態に係る処理ユニット302の構成例を説明するための図解的な断面図である。
図11において、第1の実施形態に示された各部に対応する部分には、図1〜図9の場合と同一の参照符号を付して示し、説明を省略する。
第3の実施形態に係る処理ユニット302が、第1の実施形態に係る処理ユニット2と相違する点は、薬液配管20から分岐した分岐配管303を通って、洗浄用薬液として薬液が回収配管45に供給される点である。具体的には、分岐配管303の上流端は、各薬液配管20の途中部に分岐接続しており、分岐配管303の下流端は、横方向部86における接続位置86dに分岐接続している。分岐配管303の途中部には、分岐配管303を開閉するための開閉バルブ304が介装されている。開閉バルブ304は、制御装置3に接続されている。すなわち、第3の実施形態に係る洗浄用薬液供給ユニット301は、薬液供給ユニット100、分岐配管303および開閉バルブ304を含む。
洗浄用薬液供給工程T11において、回収配管45への洗浄用薬液の供給時には、制御装置3は、開閉バルブ304を開く。これにより、薬液配管20を流れる薬液は、分岐配管303を通って回収配管45へと供給される。
この実施形態では、第1の実施形態において説明した作用効果と同等の作用効果に加えて、次に述べる作用効果を奏する。すなわち、薬液配管20からの薬液が、薬液配管20から分岐した分岐配管303を通って、洗浄用薬液として回収配管45に供給される。これにより、洗浄用薬液を回収配管45に直接供給する構成を簡単な構成で実現できる。
以上、この発明の3つの実施形態について説明してきたが、この発明は、さらに他の形態で実施することもできる。この発明の範囲に含まれるいくつかの形態を以下に例示的に列挙する。
たとえば、第2の実施形態において、接続配管84の下流端が上下方向部85の上流端部85aではなく、上下方向部85の途中部(上下方向部85の上端から離隔した領域)に接続されていてもよい。この場合、接続配管84からの洗浄用薬液が上下方向部85の途中部に供給され、そのため、上下方向部85における接続配管84の接続位置よりも下流側の部分および横方向部86内の全域に洗浄用薬液が行き渡る。したがって、この場合においても、回収配管45内の広範囲において、回収配管45内に存在している洗浄液を洗浄用薬液に置換させることができる。
また、第2の実施形態と、第3の実施形態とを組み合わせてもよい。すなわち、分岐配管303の下流端が、上下方向部85の上流端部85aに接続されていてもよい。この場合、第2の実施形態に関連した作用効果、および第3の実施形態に関連した作用効果を奏する。
また、前述の実施形態では、洗浄液の吐出開始(図8のステップT6)の直前に、回収バルブ48を閉じかつ排液バルブ49を開く(図8のステップT5)として説明したが、カップ洗浄処理(のシーケンス)の開始後、洗浄液の吐出開始よりも前であれば、適当なタイミングで、回収バルブ48を閉じかつ排液バルブ49を開くことができる。
また、前述の実施形態では、洗浄用薬液供給工程T11が、カップ洗浄処理(のシーケンス)に含まれるとして説明したが、洗浄用薬液供給工程T11が、カップ洗浄処理とは別に実行されるようになっていてもよい。
具体的には、洗浄用薬液供給工程T11が、カップ洗浄処理の終了後すぐに開始されずに、予め定める期間が経過したタイミングで開始されるようになっていてもよい。また、洗浄用薬液供給工程T11が、一連の薬液処理の開始に先立って実行されるようになっていてもよい。
たとえば、薬液処理において、薬液工程(図7のステップS4)の開始に先立って、薬液ノズル10や薬液配管20内の薬液を排出するために、薬液ノズル10から薬液を吐出する(プリディスペンス)ことがある。このとき、薬液ノズル10から排出される薬液を、待機ポット80および接続配管84を介して回収配管45に洗浄用薬液として供給し、これにより、回収配管45内の洗浄液を洗浄用薬液に置換するようにしてもよい。つまり、薬液工程(図7のステップS4)の開始に先立つプリディスペンスに伴って、洗浄用薬液供給工程T11が実行される。
また、前述の各実施形態では、スピンチャック9にダミー基板DWを保持させた状態でカップ洗浄工程E1が実行されるとして説明した。しかし、スピンチャック9に基板Wを保持させた状態でカップ洗浄工程E1が実行されてもよい。この場合、カップ洗浄工程E1において、ダミー基板DWではなく基板Wに洗浄液が供給される。また、この場合、基板処理装置1からダミー基板保持台4(図1参照)の構成を廃止することもできる。
また、前述の各実施形態では、1ロットの基板Wに対する処理が終了する毎にカップ洗浄処理を実行するものとして説明したが、カップ洗浄処理の実施タイミングは、処理カップ13の汚れ度合いに応じて適宜設定可能である。たとえば1ロットの開始前にカップ洗浄処理を実行してもよいし、1ロットの開始前と開始後の両方にカップ洗浄処理を実行してもよい。また、1ロットの前後に限られず、たとえば1日の予め定める時間帯に行うようにしてもよい。
さらに、カップ洗浄処理の実行に並行して、チャンバ8内の洗浄(チャンバ洗浄)を行うようにしてもよい。この場合、さらに薬液ノズル10の洗浄や、その他の周辺部材の洗浄をも同時に行うようにしてもよい。
また、カップ洗浄処理は、処理カップ13の洗浄を目的とせずに、回収配管45内の洗浄を主たる目的とするものであってもよい(回収配管洗浄)。
また、薬液供給ユニット100から基板Wに供給される薬液として、BHF(Buffered Hydrogen Fluoride:バッファードフッ酸)を例示したが、それ以外に、SPM(sulfuric acid/hydrogen peroxide mixture:硫酸過酸化水素水混合液)、有機溶剤(NMP(N-methylpyrrolidone:N-メチル-2-ピロリドン)等)等のレジスト残渣除去液を薬液として用いると好適である。また、その他、SC1(アンモニア過酸化水素水混合液)等の洗浄用薬液や、エッチング液を薬液として用いることができる。
また、前述の各実施形態において、回収タンク72の構成が省略され、処理カップ13から回収された薬液が薬液タンク71に直接供給される構成が採用されていてもよい。
また、前述の各実施形態において、切り換えユニットが、2つの開閉バルブ(回収バルブ48および排液バルブ49)ではなく、三方弁によって構成されていてもよい。
また、各実施形態において、薬液回収配管46が第2の溝43だけでなく、第1の溝40に関連して設けられていてもよい。
また、処理カップ13が3段のものを例に挙げて説明したが、処理カップ13は、1段(単カップ)や2段であってもよいし、4段以上の多段カップであってもよい。
また、前述の各実施形態では、基板処理装置1が円板状の基板を処理する装置である場合について説明したが、基板処理装置1は、液晶表示装置用ガラス基板などの多角形の基板を処理する装置であってもよい。
その他、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能で
ある。
1 :基板処理装置
2 :処理ユニット
3 :制御装置
5 :流体ボックス
7 :貯留ボックス
10 :薬液ノズル
12 :洗浄液供給ユニット
13 :処理カップ
45 :回収配管
46 :薬液回収配管
47 :第2の排液配管
48 :回収バルブ(切り換えユニット)
49 :排液バルブ(切り換えユニット)
80 :待機ポット(容器)
84 :接続配管
85 :上下方向部
85a :上流端部(上端部)
85b :下流端(下端)
86 :横方向部
100 :薬液供給ユニット
101 :洗浄用薬液供給ユニット
202 :処理ユニット
301 :洗浄用薬液供給ユニット
302 :処理ユニット
303 :分岐配管

Claims (6)

  1. 基板の処理に用いられた薬液が処理カップを介して導かれ、導かれた薬液を予め定める薬液回収配管に導くための回収配管であって、前記処理カップに接続され、上下方向に沿って延びる上下方向部と、前記上下方向部の下端に接続され、横方向に沿って延びる横方向部とを有する回収配管を洗浄する方法であって、
    前記回収配管に洗浄液を供給しながら前記回収配管に導かれる液を前記薬液回収配管とは異なる排液配管に導くことにより、洗浄液を用いて前記回収配管内を洗浄する配管洗浄工程と、
    前記配管洗浄工程の後、前記回収配管内に存在している洗浄液を前記薬液と同種の洗浄用薬液に置換させるべく、前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導きながら、前記回収配管の前記上下方向部に接続された洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給工程とを含む、回収配管洗浄方法。
  2. 基板の処理に用いられる薬液を基板に供給するための薬液供給ユニットと、
    基板に供給された薬液を受ける処理カップと、
    前記処理カップによって受けられた薬液が導かれる回収配管と、
    前記回収配管に導かれる薬液を回収するための薬液回収配管と、
    前記回収配管に導かれる液を排液するための排液配管と、
    前記回収配管に導かれる液を、前記薬液回収配管と前記排液配管とに選択的に導くための切り換えユニットと、
    前記回収配管内を洗浄するための洗浄液を供給するための洗浄液供給ユニットと、
    前記回収配管に接続され、前記回収配管を介して回収すべき前記薬液と同種の洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給配管を有する洗浄用薬液供給ユニットと、
    前記薬液供給ユニット、前記洗浄用薬液供給ユニット、前記切り換えユニットおよび前記洗浄液供給ユニットを制御する制御装置とを含み、
    前記回収配管は、前記処理カップに接続され、上下方向に沿って延びる上下方向部と、前記上下方向部の下端に接続され、横方向に沿って延びる横方向部とを含み、
    前記洗浄用薬液供給配管は前記上下方向部に接続され、前記洗浄用薬液供給ユニットは、前記上下方向部に薬液を供給し、
    前記制御装置は、
    前記回収配管に洗浄液を供給しながら前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導くことにより、洗浄液を用いて前記回収配管内を洗浄する配管洗浄工程と、
    前記配管洗浄工程の後、前記回収配管に存在している洗浄液を洗浄用薬液に置換させるべく、前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導きながら、前記洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給工程とを実行する、基板処理装置。
  3. 基板の処理に用いられる薬液を基板に供給するための薬液供給ユニットと、
    基板に供給された薬液を受ける処理カップと、
    前記処理カップによって受けられた薬液が導かれる回収配管と、
    前記回収配管に導かれる薬液を回収するための薬液回収配管と、
    前記回収配管に導かれる液を排液するための排液配管と、
    前記回収配管に導かれる液を、前記薬液回収配管と前記排液配管とに選択的に導くための切り換えユニットと、
    前記回収配管内を洗浄するための洗浄液を供給するための洗浄液供給ユニットと、
    前記回収配管に接続され、前記回収配管を介して回収すべき前記薬液と同種の洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給配管を有する洗浄用薬液供給ユニットと、
    前記薬液供給ユニット、前記洗浄用薬液供給ユニット、前記切り換えユニットおよび前記洗浄液供給ユニットを制御する制御装置とを含み、
    前記回収配管は、前記処理カップに接続され、上下方向に沿って延びる上下方向部と、前記上下方向部の下端に接続され、横方向に沿って延びる横方向部とを有し、
    前記洗浄用薬液供給配管は前記横方向部に接続され、前記洗浄用薬液供給ユニットは前記横方向部に洗浄用薬液を供給し、
    前記制御装置は、
    前記回収配管に洗浄液を供給しながら前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導くことにより、洗浄液を用いて前記回収配管内を洗浄する配管洗浄工程と、
    前記配管洗浄工程の後、前記回収配管に存在している洗浄液を洗浄用薬液に置換させるべく、前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導きながら、前記洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給工程とを実行する、基板処理装置。
  4. 前記上下方向部は上端部を有し、
    前記洗浄用薬液供給配管は前記上下方向部の前記上端部に接続されている、請求項2に記載の基板処理装置。
  5. 前記薬液供給ユニットは、薬液を吐出する薬液ノズルを含み、
    前記基板処理装置は、前記処理カップ外に配置されて、前記薬液ノズルから吐出された薬液を受け止めるための容器をさらに含み、
    前記洗浄用薬液供給配管は、前記回収配管に接続され、前記容器に導かれた薬液を洗浄用薬液として前記回収配管に供給する接続配管を含む、請求項2〜4のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  6. 基板の処理に用いられる薬液を基板に供給するための薬液供給ユニットと、
    基板に供給された薬液を受ける処理カップと、
    前記処理カップによって受けられた薬液が導かれる回収配管と、
    前記回収配管に導かれる薬液を回収するための薬液回収配管と、
    前記回収配管に導かれる液を排液するための排液配管と、
    前記回収配管に導かれる液を、前記薬液回収配管と前記排液配管とに選択的に導くための切り換えユニットと、
    前記回収配管内を洗浄するための洗浄液を供給するための洗浄液供給ユニットと、
    前記回収配管に接続され、前記回収配管を介して回収すべき前記薬液と同種の洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給配管を有する洗浄用薬液供給ユニットと、
    前記薬液供給ユニット、前記洗浄用薬液供給ユニット、前記切り換えユニットおよび前記洗浄液供給ユニットを制御する制御装置とを含み、
    前記薬液供給ユニットは、薬液を吐出する薬液ノズルと、前記薬液ノズルに薬液を供給する薬液配管とを含み、
    前記洗浄用薬液供給配管は、前記回収配管に接続され、前記薬液配管から分岐する分岐配管を含み、
    前記制御装置は、
    前記回収配管に洗浄液を供給しながら前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導くことにより、洗浄液を用いて前記回収配管内を洗浄する配管洗浄工程と、
    前記配管洗浄工程の後、前記回収配管に存在している洗浄液を洗浄用薬液に置換させるべく、前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導きながら、前記洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給工程とを実行する、基板処理装置。
JP2016187139A 2016-09-26 2016-09-26 回収配管洗浄方法および基板処理装置 Active JP6762184B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016187139A JP6762184B2 (ja) 2016-09-26 2016-09-26 回収配管洗浄方法および基板処理装置
KR1020170120307A KR102020712B1 (ko) 2016-09-26 2017-09-19 회수 배관 세정 방법 및 기판 처리 장치
TW106132275A TWI668060B (zh) 2016-09-26 2017-09-20 回收配管洗淨方法以及基板處理裝置
US15/709,533 US10639683B2 (en) 2016-09-26 2017-09-20 Recovery piping cleaning method and substrate processing apparatus
CN201710858481.3A CN107871692B (zh) 2016-09-26 2017-09-21 回收配管清洗方法以及基板处理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016187139A JP6762184B2 (ja) 2016-09-26 2016-09-26 回収配管洗浄方法および基板処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018056187A JP2018056187A (ja) 2018-04-05
JP6762184B2 true JP6762184B2 (ja) 2020-09-30

Family

ID=61687459

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016187139A Active JP6762184B2 (ja) 2016-09-26 2016-09-26 回収配管洗浄方法および基板処理装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10639683B2 (ja)
JP (1) JP6762184B2 (ja)
KR (1) KR102020712B1 (ja)
CN (1) CN107871692B (ja)
TW (1) TWI668060B (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7149087B2 (ja) 2018-03-26 2022-10-06 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法および基板処理装置
KR102099105B1 (ko) * 2018-07-18 2020-05-15 세메스 주식회사 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치
JP7412134B2 (ja) * 2019-11-01 2024-01-12 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置および基板処理方法
CN114762088A (zh) * 2019-12-06 2022-07-15 东京毅力科创株式会社 基板液处理装置
JP7299833B2 (ja) * 2019-12-24 2023-06-28 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法および基板処理装置
JP7364460B2 (ja) 2019-12-25 2023-10-18 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置
JP2022131885A (ja) * 2021-02-26 2022-09-07 株式会社Screenホールディングス 処理液循環方法、及び、基板処理方法
JP2023004684A (ja) * 2021-06-28 2023-01-17 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100265286B1 (ko) * 1998-04-20 2000-10-02 윤종용 반도체장치 제조용 케미컬 순환공급장치 및 이의 구동방법
JP2001271188A (ja) 2000-03-24 2001-10-02 Ses Co Ltd 基板処理装置
JP2004267965A (ja) * 2003-03-11 2004-09-30 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置及び処理液切替方法
JP2007149891A (ja) * 2005-11-25 2007-06-14 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
JP2007258462A (ja) * 2006-03-23 2007-10-04 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
JP2008153521A (ja) 2006-12-19 2008-07-03 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 回収カップ洗浄方法および基板処理装置
JP5006274B2 (ja) * 2008-06-25 2012-08-22 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
JP5401255B2 (ja) 2008-11-05 2014-01-29 東京エレクトロン株式会社 洗浄装置、洗浄方法、および記憶媒体
KR102030681B1 (ko) * 2014-09-02 2019-10-10 주식회사 제우스 기판 액처리 장치 및 기판 액처리 방법
JP6359925B2 (ja) * 2014-09-18 2018-07-18 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置
EP3035375B1 (en) 2014-12-19 2017-05-03 ATOTECH Deutschland GmbH Treating module of an apparatus for horizontal wet-chemical treatment of large-scale substrates
US10134615B2 (en) 2015-02-13 2018-11-20 Applied Materials, Inc. Substrate support with improved RF return
KR102048293B1 (ko) 2015-02-25 2019-11-25 가부시키가이샤 코쿠사이 엘렉트릭 기판 처리 장치, 히터 및 반도체 장치의 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
US20180085795A1 (en) 2018-03-29
TW201822903A (zh) 2018-07-01
CN107871692A (zh) 2018-04-03
KR102020712B1 (ko) 2019-09-10
TWI668060B (zh) 2019-08-11
KR20180034244A (ko) 2018-04-04
JP2018056187A (ja) 2018-04-05
CN107871692B (zh) 2021-12-21
US10639683B2 (en) 2020-05-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6762184B2 (ja) 回収配管洗浄方法および基板処理装置
TWI709169B (zh) 基板處理方法及基板處理裝置
US8864937B2 (en) Substrate treatment apparatus
KR102262348B1 (ko) 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR102189980B1 (ko) 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치
KR101975664B1 (ko) 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치
JP2012164957A (ja) 液処理装置および液処理方法
KR102525270B1 (ko) 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
JP5265943B2 (ja) 基板処理装置
US20190043708A1 (en) Substrate processing method and substrate processing device
JP6502037B2 (ja) 基板処理装置および基板処理方法
KR102223972B1 (ko) 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR102240493B1 (ko) 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190624

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200312

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200312

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200508

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200604

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200729

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200813

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200908

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6762184

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250