JP6762184B2 - 回収配管洗浄方法および基板処理装置 - Google Patents
回収配管洗浄方法および基板処理装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6762184B2 JP6762184B2 JP2016187139A JP2016187139A JP6762184B2 JP 6762184 B2 JP6762184 B2 JP 6762184B2 JP 2016187139 A JP2016187139 A JP 2016187139A JP 2016187139 A JP2016187139 A JP 2016187139A JP 6762184 B2 JP6762184 B2 JP 6762184B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cleaning
- liquid
- pipe
- recovery pipe
- chemical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B9/00—Cleaning hollow articles by methods or apparatus specially adapted thereto
- B08B9/02—Cleaning pipes or tubes or systems of pipes or tubes
- B08B9/027—Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages
- B08B9/032—Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages by the mechanical action of a moving fluid, e.g. by flushing
- B08B9/0321—Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages by the mechanical action of a moving fluid, e.g. by flushing using pressurised, pulsating or purging fluid
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67051—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly spraying means, e.g. nozzles
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B9/00—Cleaning hollow articles by methods or apparatus specially adapted thereto
- B08B9/02—Cleaning pipes or tubes or systems of pipes or tubes
- B08B9/027—Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02041—Cleaning
- H01L21/02043—Cleaning before device manufacture, i.e. Begin-Of-Line process
- H01L21/02052—Wet cleaning only
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67023—Apparatus for fluid treatment for general liquid treatment, e.g. etching followed by cleaning
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67063—Apparatus for fluid treatment for etching
- H01L21/67075—Apparatus for fluid treatment for etching for wet etching
- H01L21/6708—Apparatus for fluid treatment for etching for wet etching using mainly spraying means, e.g. nozzles
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B3/00—Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
- B08B3/04—Cleaning involving contact with liquid
- B08B3/08—Cleaning involving contact with liquid the liquid having chemical or dissolving effect
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B3/00—Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
- B08B3/04—Cleaning involving contact with liquid
- B08B3/10—Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B9/00—Cleaning hollow articles by methods or apparatus specially adapted thereto
- B08B9/02—Cleaning pipes or tubes or systems of pipes or tubes
- B08B9/027—Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages
- B08B9/032—Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages by the mechanical action of a moving fluid, e.g. by flushing
- B08B9/0321—Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages by the mechanical action of a moving fluid, e.g. by flushing using pressurised, pulsating or purging fluid
- B08B9/0325—Control mechanisms therefor
Description
しかも、処理カップの内壁に付着している洗浄液を洗浄用薬液で置換しなくても、回収配管内に存在している洗浄液だけを洗浄用薬液に置換すれば、前記の処理レート低下抑制の効果を得ることができると、本願発明者らは考えている。
洗浄用薬液(すなわち、薬液)の消費量の低減を図ることが求められている。また、洗浄用薬液消費量の低減を図りながら、洗浄用薬液を回収配管の広範囲に行き渡らせることが求められている。
そこで、この発明の目的は、薬液回収配管に洗浄液が入り込むことを防止または抑制しながら洗浄用薬液の消費量の低減を図ることができる回収配管洗浄方法を提供することである。
さらに、この発明の他の目的は、薬液消費量の低減を図りながら回収配管の広範囲に薬液を行き渡らせることができる基板処理装置を提供することである。
これにより、薬液回収配管に洗浄液が入り込むことを防止または抑制しながら洗浄用薬液の消費量の低減を図ることができる回収配管洗浄方法を提供することができる。
この発明の一実施形態では、前記回収配管は、前記処理カップに接続され、上下方向に沿って延びる上下方向部と、前記上下方向部の下端に接続され、横方向に沿って延びる横方向部とを有する。そして、前記洗浄用薬液供給配管は前記横方向部に接続されている。そして、前記洗浄用薬液供給ユニットは前記横方向部に洗浄用薬液を供給する。
この構成によれば、洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液が横方向部に供給され、そのため、横方向部における前記洗浄用薬液供給配管の接続位置よりも下流側の部分内に洗浄用薬液が行き渡る。前述のように、配管洗浄工程の終了から所定時間が経過した後には上下方向部には洗浄液がほとんど存在していないので、横方向部に直接洗浄用薬液を供給することにより、回収配管内に存在する洗浄液の大部分を洗浄用薬液で置換することができる。この場合、洗浄用薬液に置換されるべき配管部分の長さが短いので、上下方向部および横方向部の双方に存在している洗浄液を洗浄用薬液で置換する場合と比較して、洗浄用薬液に置換するために用いる洗浄用薬液(すなわち、薬液)の量をより一層低減できる。
この構成によれば、洗浄用薬液供給配管が上下方向部の上端部に接続されているので、洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液を上下方向部の上端部に供給することができ、そのため、回収配管内の全域に洗浄用薬液を行き渡らせることができる。これにより、回収配管内の全域において洗浄用薬液の置換を実現できる。ゆえに、薬液回収配管に洗浄液が入り込むことを防止またはより効果的に抑制できる。
この発明の一実施形態では、前記薬液供給ユニットは、薬液を吐出する薬液ノズルと、前記薬液ノズルに薬液を供給する薬液配管とを含む。そして、前記洗浄用薬液供給配管は、前記回収配管に接続され、前記薬液配管から分岐する分岐配管を含む。
図1は、この発明の第1の実施形態に係る基板処理装置1を上から見た模式図である。基板処理装置1は、半導体ウエハなどの円板状の基板Wを一枚ずつ処理する枚葉式の装置である。
基板処理装置1は、基板Wを収容する複数のキャリアCを保持する複数のロードポートLPと、複数のロードポートLPから搬送された基板Wを薬液等の処理液で処理する複数(たとえば12台)の処理ユニット2と、複数のロードポートLPから複数の処理ユニット2に基板Wを搬送する搬送ロボットと、基板処理装置1を制御する制御装置3とを含む。搬送ロボットは、ロードポートLPと処理ユニット2との間の経路上で基板Wを搬送するインデクサロボットIRと、インデクサロボットIRと処理ユニット2との間の経路上で基板Wを搬送するセンターロボットCRとを含む。
図2に示すように、処理ユニット2は、内部空間を有する箱形のチャンバ8と、チャンバ8内で一枚の基板Wを水平な姿勢で保持して、基板Wの中心を通る鉛直な回転軸線A1まわりに基板Wを回転させるスピンチャック9と、スピンチャック9に保持されている基板Wの上面(表面)に薬液を供給するための薬液ノズル10と、スピンチャック9に保持されている基板Wの上面にリンス液を供給するためのリンス液供給ユニット11と、スピンチャック9に保持されている基板Wの上面に洗浄液を供給するための洗浄液供給ユニット12と、スピンチャック9を取り囲む筒状の処理カップ13とを含む。
図2に示すように、FFU15は隔壁14の上方に配置されており、隔壁14の天井に取り付けられている。FFU15は、隔壁14の天井からチャンバ8内に清浄空気を送る。排気装置(図示しない)は、処理カップ13内に接続された排気ダクト16を介して処理カップ13の底部に接続されており、処理カップ13の底部から処理カップ13の内部を吸引する。FFU15および排気装置(図示しない)により、チャンバ8内にダウンフロー(下降流)が形成される。
スピンベース19は、基板Wの外径よりも大きな外径を有する水平な円形の上面19aを含む。上面19aには、その周縁部に複数個(3個以上。たとえば6個)の挟持部材19Bが配置されている。複数個の挟持部材19Bは、スピンベース19の上面周縁部において、基板Wの外周形状に対応する円周上で適当な間隔を空けてたとえば等間隔に配置されている。
図2に示すように、薬液ノズル10には、循環配管75(図4参照)を循環している(貯留ボックス7に貯留されている)薬液を薬液ノズル10に供給するための薬液配管20が接続されている。薬液配管20には、薬液配管20を開閉するための薬液バルブ21が介装されている。
図2に示すように、リンス液供給ユニット11はリンス液ノズル24を含む。リンス液ノズル24は、たとえば、連続流の状態で液を吐出するストレートノズルであり、スピンチャック9の上方で、その吐出口を基板Wの上面中央部に向けて固定的に配置されている。リンス液ノズル24には、リンス液供給源からのリンス液が供給されるリンス液配管25が接続されている。リンス液配管25の途中部には、リンス液配管25を開閉するためのリンス液バルブ26が介装されている。リンス液バルブ26が開かれると、リンス液配管25からリンス液ノズル24に供給された連続流のリンス液が、リンス液ノズル24の下端に設定された吐出口から吐出され、基板Wの上面に供給される。また、リンス液バルブ26が閉じられると、リンス液配管25からリンス液ノズル24の洗浄液の供給が停止され、リンス液ノズル24からのリンス液の吐出が停止される。リンス液配管25からリンス液ノズル24に供給されるリンス液は、たとえば水である。水は、たとえば脱イオン水(DIW)であるが、DIWに限らず、炭酸水、電解イオン水、水素水、オゾン水および希釈濃度(たとえば、10ppm〜100ppm程度)の塩酸水のいずれかであってもよい。
図2に示すように、洗浄液供給ユニット12は洗浄液ノズル27を含む。洗浄液ノズル27は、たとえば、連続流の状態で液を吐出するストレートノズルであり、スピンチャック9の上方で、その吐出口を基板Wの上面中央部に向けて固定的に配置されている。洗浄液ノズル27には、洗浄液供給源からの洗浄液が供給される洗浄液配管28が接続されている。洗浄液配管28の途中部には、洗浄液配管28を開閉するための洗浄液バルブ29が介装されている。洗浄液バルブ29が開かれると、洗浄液配管28から洗浄液ノズル27に供給された連続流の洗浄液が、洗浄液ノズル27の下端部に設定された吐出口から吐出され、基板Wの上面に供給される。また、洗浄液バルブ29が閉じられると、洗浄液配管28から洗浄液ノズル27への洗浄液の供給が停止され、洗浄液ノズル27からの洗浄液の吐出が停止される。洗浄液配管28から洗浄液ノズル27に供給される洗浄液は、たとえば水である。水は、たとえば脱イオン水(DIW)であるが、DIWに限らず、炭酸水、電解イオン水、水素水、オゾン水および希釈濃度(たとえば、10ppm〜100ppm程度)の塩酸水のいずれかであってもよい。
また、洗浄液として、脱イオン水(DIW)等の水を用いる場合には、リンス液供給ユニット11を用いて、基板Wの上面に洗浄液を供給することができる。この場合、基板Wへのリンス液の供給と、基板Wへの洗浄液の供給とを同じ供給ユニット(リンス液供給ユニット11)で行うことができるので、洗浄液供給ユニット12を廃止することもできる。
図2に示すように、第1のカップ31は、円環状をなし、スピンチャック9と円筒部材30との間でスピンチャック9の周囲を取り囲んでいる。第1のカップ31は、基板Wの回転軸線A1に対してほぼ回転対称な形状を有している。第1のカップ31は、断面U字状をなしており、基板Wの処理に使用された処理液を集めて排液するための第1の溝40を区画している。第1の溝40の底部の最も低い箇所には、排液口41が開口しており、排液口41には、第1の排液配管42が接続されている。第1の排液配管42の下流端は、排液装置(図示しない。廃棄装置であってもよい)に接続されており、第1の排液配管42に導入される処理液は、排液装置に送られ、排液装置で排液処理(廃液処理)される。
排液バルブ49を閉じながら回収バルブ48を開くことにより、回収配管45を通る液が薬液回収配管46に導かれる。また、回収バルブ48を閉じながら排液バルブ49を開くことにより、回収配管45を通る液が第2の排液配管47に導かれる。すなわち、回収バルブ48および排液バルブ49は、回収配管45を通る液の流通先を、薬液回収配管46と第2の排液配管47との間で切り換える切り換えユニットとして機能する。
図2に示すように、最も外側の第3のガード35は、第2のガード34の外側において、スピンチャック9の周囲を取り囲み、スピンチャック9による基板Wの回転軸線A1に対してほぼ回転対称な形状を有している。第3のガード35は、第2のガード34と同軸の円筒部60と、円筒部60の上端から中心側(基板Wの回転軸線A1に近づく方向)斜め上方に延びる上端部61とを有している。上端部61の内周端は、平面視で、スピンチャック9に保持される基板Wよりも大径の円形をなしている。なお、上端部61は、図2等に示すようにその断面形状が直線状であってもよいし、また、たとえば滑らかな円弧を描きつつ延びていてもよい。
図3Bに示すように、内側から2番目の第2のガード34を基板Wの周端面に対向させる場合には、第2および第3のガード34,35が上位置(図2に示す位置)に配置され、かつ第1のガード33が下位置(図3に示す位置)に配置される。
図2に示すように、チャンバ8の底壁には、排液口91が形成されている。排液口91には、第3の排液配管92が接続されている。第3の排液配管92の下流端は、排液装置(図示しない。廃棄装置であってもよい)に接続されており、第3の排液配管92に導入される処理液は、排液装置に送られ、排液装置で排液処理(廃液処理)される。
基板処理装置1は、さらに、薬液ノズル10に供給される薬液を貯留する薬液タンク71と、処理カップ13から回収された薬液を貯留する回収タンク72と、回収タンク72に貯留されている薬液を薬液タンク71に送るための送液配管73と、回収タンク72内の薬液を送液配管73に移動させる第1の送液装置74と、薬液タンク71内の薬液を循環させる循環経路Q1を形成する循環配管75と、薬液タンク71内の薬液を循環配管75に送る第2の送液装置76と、薬液タンク71から薬液ノズル10に供給される薬液の温度を調節する温度調節器77と、薬液タンク71から薬液ノズル10に供給される薬液中の異物を除去するフィルタ78とを含む。薬液タンク71、回収タンク72、第1の送液装置74、第2の送液装置76、温度調節器77およびフィルタ78は、貯留ボックス7内に配置されている。この実施形態では、薬液ノズル10、薬液配管20、薬液タンク71、回収タンク72、送液配管73、第1の送液装置74、循環配管75、第2の送液装置76、温度調節器77およびフィルタ78によって、薬液供給ユニット100が構成されている。
回収配管45は、たとえばL字配管であり、上下方向(略鉛直方向)に沿って延びる丸管からなる上下方向部85と、上下方向部85の下流端(下端)85bから横方向(略水平方向)に沿って延びる丸管からなる横方向部86とを有している。横方向部86には、つま先下がりの微小勾配(たとえば0°〜5°)が付されていてもよい。上下方向部85の上流端は回収口44(図2参照)に接続されている。薬液回収配管46の上流端および第2の排液配管47の上流端は、それぞれ横方向部86の下流端86bに接続されている。この実施形態では、上下方向部85の寸法は、内径が約1.6cm、長さが約20cmである。横方向部86の寸法は、内径が約1.6cm、長さLが約40cmである。
上下方向部85内に存在している液(上下方向部85の内壁に付着している液)は、その自重により下方に向けて(すなわち、横方向部86に向けて)移動する。
制御装置3は、たとえばマイクロコンピュータを用いて構成されている。制御装置3はCPU等の演算ユニット、固定メモリデバイス、ハードディスクドライブ等の記憶ユニット、および入出力ユニット(図示しない)を有している。記憶ユニットには、演算ユニットが実行するプログラムが記憶されている。
未処理の円形の基板Wは、ロボットIR,CRによってキャリアCから処理ユニット2のチャンバ8内に搬入され(ステップS1)、基板Wがその表面(処理対象面)を上方に向けた状態でスピンチャック9に受け渡され、スピンチャック9に基板Wが保持される(ステップS2)。基板Wの搬入に先立って、薬液ノズル10は、スピンチャック9の側方に設定されたホーム位置に退避させられている。排液バルブ49は閉じられており、かつ回収バルブ48は開かれている。そのため、回収配管45に導かれる液が、薬液回収配管46に導かれる。
制御装置3は、ノズル移動ユニット23を制御して、薬液ノズル10を、ホーム位置から基板Wの上方に移動させる。
次いで、制御装置3は、基板Wの上面に薬液を供給する薬液工程(ステップS4)を行う。その後、制御装置3は、薬液バルブ21を開いて、薬液ノズル10から基板Wの上面中央部に向けて薬液を吐出する。基板Wの上面に供給された薬液は、基板Wの回転による遠心力を受けて基板Wの周縁部に移動し、基板Wの周縁部から基板Wの側方に向けて飛散する。
薬液の吐出開始から予め定める期間が経過すると、薬液工程S4が終了する。具体的には、制御装置3は、薬液バルブ21を閉じて、薬液ノズル10からの薬液の吐出を停止する。
また、制御装置3は、ガード昇降ユニット36を制御して、第2および第3のガード34,35をそれぞれ上位置に保ちながら、第1のガード33を上位置に上昇させて、図3Aに示すように、第1のガード33を基板Wの周端面に対向させる。
図8は、処理ユニット2によるカップ洗浄処理の処理例を説明するための流れ図である。図1〜図6および図8を参照しながらカップ洗浄処理の処理例について説明する。この実施形態では、カップ洗浄処理は、カップ洗浄工程(配管洗浄工程)E1と、洗浄用薬液供給工程T11とを含む。
カップ洗浄処理では、たとえばSiC製のダミー基板DWをスピンチャック9に保持させ、回転状態にあるダミー基板DWに対して洗浄液や洗浄用薬液(薬液と同種の洗浄用薬液)を供給させて行われる。処理ユニット2による薬液処理の対象の基板Wと同じ形状およびサイズに形成されており、そのため、ダミー基板DWの周縁から飛散する洗浄液が、薬液処理時における基板Wの周縁から飛散する処理液(薬液またはリンス液)と同じ位置で受け止められる。
スピンチャック9にダミー基板DWが保持されると、制御装置3はスピンモータ17を制御して、スピンベース19を回転開始させ、これにより、ダミー基板DWが回転開始させられる(ステップT3)。
また、制御装置3は、回収バルブ48を閉じかつ排液バルブ49を開く(ステップT5)。よって、これ以降回収配管45を通る液が、第2の排液配管47に導かれる。
この場合、ダミー基板DWの周縁部から飛散する洗浄液は、第3のガード35の外側の面に供給され、これにより、第3のガード35の外側の面が洗浄液を用いて洗浄される。
ガードの下降から予め定める期間が経過すると、制御装置3は、洗浄液バルブ29を閉じて、ダミー基板DWへの洗浄液の供給が停止される(ステップT8)。また、制御装置3は、スピンモータ17を制御して、ダミー基板DWの回転を停止させる(ステップT9)。
カップ洗浄工程E1の終了後には、次いで、回収配管45内に存在している洗浄液を洗浄用薬液に置換すべく、洗浄用薬液を回収配管45に供給する洗浄用薬液供給工程(ステップT11)が実行される。洗浄用薬液供給工程T11では、回収配管45に導かれる液を排液配管に導きながら、回収配管45に接続された接続配管84からの洗浄用薬液を回収配管45に供給する。洗浄用薬液供給工程T11が終了すると、図12のカップ洗浄処理は終了する。
洗浄用薬液供給工程T11の実行に際し、制御装置3は、薬液ノズル10がホーム位置にあることを確認し(ステップP1でYES)、その上で、薬液バルブ21を開いて、薬液ノズル10から薬液を吐出開始させる(ステップP3)。また、薬液ノズル10がホーム位置にない場合には(ステップP1でNO)、制御装置3は、ノズル移動ユニット23を制御して、薬液ノズル10をホーム位置に配置し(ステップP2)、その後、薬液バルブ21を開いて、薬液ノズル10から薬液を吐出開始させる(ステップP3)。ホーム位置にある薬液ノズル10から吐出された薬液は、開口82を介してハウジング81の内部に流入し、待機ポット80に受け止められる。待機ポット80に受け止められた薬液は、接続配管84を通して、上下方向部85を経由して、洗浄用薬液として、回収配管45の横方向部86内に供給される。これにより、横方向部86における下流側部分86c内に洗浄用薬液が行き渡り、下流側部分86c内に存在している洗浄液が洗浄用薬液に置換される。
また、回収配管45に供給された洗浄用薬液は、第2の排液配管47に導かれる。すなわち、洗浄液を含む洗浄用薬液は、第2の排液配管47に導かれる。
薬液バルブ21を開いてから予め定める期間が経過すると(ステップP4でYES)、制御装置3は、薬液バルブ21を閉じて、薬液ノズル10からの薬液の吐出を停止させる(ステップP5)。これにより、回収配管45内への、洗浄用薬液としての薬液の供給が停止される。
その後、制御装置3は、排液バルブ49を閉じかつ回収バルブ48を開く(ステップP6)。これにより、洗浄用薬液供給工程T11が終了する。
図10は、本発明の第2の実施形態に係る処理ユニット202の構成例を説明するための図解的な断面図である。
第2の実施形態に係る処理ユニット202が、第1の実施形態に係る処理ユニット2と相違する点は、接続配管84の下流端が、上下方向部85の上流端部85a(上端部。上下方向部85における上端流端を含む周囲の部分。上下方向部85のうち上端流端から、1/10〜1/5程度の領域)に接続されている点である。この場合、ホーム位置にある薬液ノズル10から吐出された薬液は、待機ポット80および接続配管84を通して、上下方向部85の上流端部85a内に供給される。
図11において、第1の実施形態に示された各部に対応する部分には、図1〜図9の場合と同一の参照符号を付して示し、説明を省略する。
第3の実施形態に係る処理ユニット302が、第1の実施形態に係る処理ユニット2と相違する点は、薬液配管20から分岐した分岐配管303を通って、洗浄用薬液として薬液が回収配管45に供給される点である。具体的には、分岐配管303の上流端は、各薬液配管20の途中部に分岐接続しており、分岐配管303の下流端は、横方向部86における接続位置86dに分岐接続している。分岐配管303の途中部には、分岐配管303を開閉するための開閉バルブ304が介装されている。開閉バルブ304は、制御装置3に接続されている。すなわち、第3の実施形態に係る洗浄用薬液供給ユニット301は、薬液供給ユニット100、分岐配管303および開閉バルブ304を含む。
この実施形態では、第1の実施形態において説明した作用効果と同等の作用効果に加えて、次に述べる作用効果を奏する。すなわち、薬液配管20からの薬液が、薬液配管20から分岐した分岐配管303を通って、洗浄用薬液として回収配管45に供給される。これにより、洗浄用薬液を回収配管45に直接供給する構成を簡単な構成で実現できる。
たとえば、第2の実施形態において、接続配管84の下流端が上下方向部85の上流端部85aではなく、上下方向部85の途中部(上下方向部85の上端から離隔した領域)に接続されていてもよい。この場合、接続配管84からの洗浄用薬液が上下方向部85の途中部に供給され、そのため、上下方向部85における接続配管84の接続位置よりも下流側の部分および横方向部86内の全域に洗浄用薬液が行き渡る。したがって、この場合においても、回収配管45内の広範囲において、回収配管45内に存在している洗浄液を洗浄用薬液に置換させることができる。
また、前述の実施形態では、洗浄液の吐出開始(図8のステップT6)の直前に、回収バルブ48を閉じかつ排液バルブ49を開く(図8のステップT5)として説明したが、カップ洗浄処理(のシーケンス)の開始後、洗浄液の吐出開始よりも前であれば、適当なタイミングで、回収バルブ48を閉じかつ排液バルブ49を開くことができる。
具体的には、洗浄用薬液供給工程T11が、カップ洗浄処理の終了後すぐに開始されずに、予め定める期間が経過したタイミングで開始されるようになっていてもよい。また、洗浄用薬液供給工程T11が、一連の薬液処理の開始に先立って実行されるようになっていてもよい。
また、カップ洗浄処理は、処理カップ13の洗浄を目的とせずに、回収配管45内の洗浄を主たる目的とするものであってもよい(回収配管洗浄)。
また、前述の各実施形態において、切り換えユニットが、2つの開閉バルブ(回収バルブ48および排液バルブ49)ではなく、三方弁によって構成されていてもよい。
また、各実施形態において、薬液回収配管46が第2の溝43だけでなく、第1の溝40に関連して設けられていてもよい。
また、前述の各実施形態では、基板処理装置1が円板状の基板を処理する装置である場合について説明したが、基板処理装置1は、液晶表示装置用ガラス基板などの多角形の基板を処理する装置であってもよい。
ある。
2 :処理ユニット
3 :制御装置
5 :流体ボックス
7 :貯留ボックス
10 :薬液ノズル
12 :洗浄液供給ユニット
13 :処理カップ
45 :回収配管
46 :薬液回収配管
47 :第2の排液配管
48 :回収バルブ(切り換えユニット)
49 :排液バルブ(切り換えユニット)
80 :待機ポット(容器)
84 :接続配管
85 :上下方向部
85a :上流端部(上端部)
85b :下流端(下端)
86 :横方向部
100 :薬液供給ユニット
101 :洗浄用薬液供給ユニット
202 :処理ユニット
301 :洗浄用薬液供給ユニット
302 :処理ユニット
303 :分岐配管
Claims (6)
- 基板の処理に用いられた薬液が処理カップを介して導かれ、導かれた薬液を予め定める薬液回収配管に導くための回収配管であって、前記処理カップに接続され、上下方向に沿って延びる上下方向部と、前記上下方向部の下端に接続され、横方向に沿って延びる横方向部とを有する回収配管を洗浄する方法であって、
前記回収配管に洗浄液を供給しながら前記回収配管に導かれる液を前記薬液回収配管とは異なる排液配管に導くことにより、洗浄液を用いて前記回収配管内を洗浄する配管洗浄工程と、
前記配管洗浄工程の後、前記回収配管内に存在している洗浄液を前記薬液と同種の洗浄用薬液に置換させるべく、前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導きながら、前記回収配管の前記上下方向部に接続された洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給工程とを含む、回収配管洗浄方法。 - 基板の処理に用いられる薬液を基板に供給するための薬液供給ユニットと、
基板に供給された薬液を受ける処理カップと、
前記処理カップによって受けられた薬液が導かれる回収配管と、
前記回収配管に導かれる薬液を回収するための薬液回収配管と、
前記回収配管に導かれる液を排液するための排液配管と、
前記回収配管に導かれる液を、前記薬液回収配管と前記排液配管とに選択的に導くための切り換えユニットと、
前記回収配管内を洗浄するための洗浄液を供給するための洗浄液供給ユニットと、
前記回収配管に接続され、前記回収配管を介して回収すべき前記薬液と同種の洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給配管を有する洗浄用薬液供給ユニットと、
前記薬液供給ユニット、前記洗浄用薬液供給ユニット、前記切り換えユニットおよび前記洗浄液供給ユニットを制御する制御装置とを含み、
前記回収配管は、前記処理カップに接続され、上下方向に沿って延びる上下方向部と、前記上下方向部の下端に接続され、横方向に沿って延びる横方向部とを含み、
前記洗浄用薬液供給配管は前記上下方向部に接続され、前記洗浄用薬液供給ユニットは、前記上下方向部に薬液を供給し、
前記制御装置は、
前記回収配管に洗浄液を供給しながら前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導くことにより、洗浄液を用いて前記回収配管内を洗浄する配管洗浄工程と、
前記配管洗浄工程の後、前記回収配管に存在している洗浄液を洗浄用薬液に置換させるべく、前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導きながら、前記洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給工程とを実行する、基板処理装置。 - 基板の処理に用いられる薬液を基板に供給するための薬液供給ユニットと、
基板に供給された薬液を受ける処理カップと、
前記処理カップによって受けられた薬液が導かれる回収配管と、
前記回収配管に導かれる薬液を回収するための薬液回収配管と、
前記回収配管に導かれる液を排液するための排液配管と、
前記回収配管に導かれる液を、前記薬液回収配管と前記排液配管とに選択的に導くための切り換えユニットと、
前記回収配管内を洗浄するための洗浄液を供給するための洗浄液供給ユニットと、
前記回収配管に接続され、前記回収配管を介して回収すべき前記薬液と同種の洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給配管を有する洗浄用薬液供給ユニットと、
前記薬液供給ユニット、前記洗浄用薬液供給ユニット、前記切り換えユニットおよび前記洗浄液供給ユニットを制御する制御装置とを含み、
前記回収配管は、前記処理カップに接続され、上下方向に沿って延びる上下方向部と、前記上下方向部の下端に接続され、横方向に沿って延びる横方向部とを有し、
前記洗浄用薬液供給配管は前記横方向部に接続され、前記洗浄用薬液供給ユニットは前記横方向部に洗浄用薬液を供給し、
前記制御装置は、
前記回収配管に洗浄液を供給しながら前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導くことにより、洗浄液を用いて前記回収配管内を洗浄する配管洗浄工程と、
前記配管洗浄工程の後、前記回収配管に存在している洗浄液を洗浄用薬液に置換させるべく、前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導きながら、前記洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給工程とを実行する、基板処理装置。 - 前記上下方向部は上端部を有し、
前記洗浄用薬液供給配管は前記上下方向部の前記上端部に接続されている、請求項2に記載の基板処理装置。 - 前記薬液供給ユニットは、薬液を吐出する薬液ノズルを含み、
前記基板処理装置は、前記処理カップ外に配置されて、前記薬液ノズルから吐出された薬液を受け止めるための容器をさらに含み、
前記洗浄用薬液供給配管は、前記回収配管に接続され、前記容器に導かれた薬液を洗浄用薬液として前記回収配管に供給する接続配管を含む、請求項2〜4のいずれか一項に記載の基板処理装置。 - 基板の処理に用いられる薬液を基板に供給するための薬液供給ユニットと、
基板に供給された薬液を受ける処理カップと、
前記処理カップによって受けられた薬液が導かれる回収配管と、
前記回収配管に導かれる薬液を回収するための薬液回収配管と、
前記回収配管に導かれる液を排液するための排液配管と、
前記回収配管に導かれる液を、前記薬液回収配管と前記排液配管とに選択的に導くための切り換えユニットと、
前記回収配管内を洗浄するための洗浄液を供給するための洗浄液供給ユニットと、
前記回収配管に接続され、前記回収配管を介して回収すべき前記薬液と同種の洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給配管を有する洗浄用薬液供給ユニットと、
前記薬液供給ユニット、前記洗浄用薬液供給ユニット、前記切り換えユニットおよび前記洗浄液供給ユニットを制御する制御装置とを含み、
前記薬液供給ユニットは、薬液を吐出する薬液ノズルと、前記薬液ノズルに薬液を供給する薬液配管とを含み、
前記洗浄用薬液供給配管は、前記回収配管に接続され、前記薬液配管から分岐する分岐配管を含み、
前記制御装置は、
前記回収配管に洗浄液を供給しながら前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導くことにより、洗浄液を用いて前記回収配管内を洗浄する配管洗浄工程と、
前記配管洗浄工程の後、前記回収配管に存在している洗浄液を洗浄用薬液に置換させるべく、前記回収配管に導かれる液を前記排液配管に導きながら、前記洗浄用薬液供給配管からの洗浄用薬液を前記回収配管に供給する洗浄用薬液供給工程とを実行する、基板処理装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016187139A JP6762184B2 (ja) | 2016-09-26 | 2016-09-26 | 回収配管洗浄方法および基板処理装置 |
KR1020170120307A KR102020712B1 (ko) | 2016-09-26 | 2017-09-19 | 회수 배관 세정 방법 및 기판 처리 장치 |
TW106132275A TWI668060B (zh) | 2016-09-26 | 2017-09-20 | 回收配管洗淨方法以及基板處理裝置 |
US15/709,533 US10639683B2 (en) | 2016-09-26 | 2017-09-20 | Recovery piping cleaning method and substrate processing apparatus |
CN201710858481.3A CN107871692B (zh) | 2016-09-26 | 2017-09-21 | 回收配管清洗方法以及基板处理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016187139A JP6762184B2 (ja) | 2016-09-26 | 2016-09-26 | 回収配管洗浄方法および基板処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018056187A JP2018056187A (ja) | 2018-04-05 |
JP6762184B2 true JP6762184B2 (ja) | 2020-09-30 |
Family
ID=61687459
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016187139A Active JP6762184B2 (ja) | 2016-09-26 | 2016-09-26 | 回収配管洗浄方法および基板処理装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10639683B2 (ja) |
JP (1) | JP6762184B2 (ja) |
KR (1) | KR102020712B1 (ja) |
CN (1) | CN107871692B (ja) |
TW (1) | TWI668060B (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7149087B2 (ja) | 2018-03-26 | 2022-10-06 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法および基板処理装置 |
KR102099105B1 (ko) * | 2018-07-18 | 2020-05-15 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치 |
JP7412134B2 (ja) * | 2019-11-01 | 2024-01-12 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置および基板処理方法 |
CN114762088A (zh) * | 2019-12-06 | 2022-07-15 | 东京毅力科创株式会社 | 基板液处理装置 |
JP7299833B2 (ja) * | 2019-12-24 | 2023-06-28 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法および基板処理装置 |
JP7364460B2 (ja) | 2019-12-25 | 2023-10-18 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
JP2022131885A (ja) * | 2021-02-26 | 2022-09-07 | 株式会社Screenホールディングス | 処理液循環方法、及び、基板処理方法 |
JP2023004684A (ja) * | 2021-06-28 | 2023-01-17 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100265286B1 (ko) * | 1998-04-20 | 2000-10-02 | 윤종용 | 반도체장치 제조용 케미컬 순환공급장치 및 이의 구동방법 |
JP2001271188A (ja) | 2000-03-24 | 2001-10-02 | Ses Co Ltd | 基板処理装置 |
JP2004267965A (ja) * | 2003-03-11 | 2004-09-30 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置及び処理液切替方法 |
JP2007149891A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP2007258462A (ja) * | 2006-03-23 | 2007-10-04 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP2008153521A (ja) | 2006-12-19 | 2008-07-03 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 回収カップ洗浄方法および基板処理装置 |
JP5006274B2 (ja) * | 2008-06-25 | 2012-08-22 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置 |
JP5401255B2 (ja) | 2008-11-05 | 2014-01-29 | 東京エレクトロン株式会社 | 洗浄装置、洗浄方法、および記憶媒体 |
KR102030681B1 (ko) * | 2014-09-02 | 2019-10-10 | 주식회사 제우스 | 기판 액처리 장치 및 기판 액처리 방법 |
JP6359925B2 (ja) * | 2014-09-18 | 2018-07-18 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
EP3035375B1 (en) | 2014-12-19 | 2017-05-03 | ATOTECH Deutschland GmbH | Treating module of an apparatus for horizontal wet-chemical treatment of large-scale substrates |
US10134615B2 (en) | 2015-02-13 | 2018-11-20 | Applied Materials, Inc. | Substrate support with improved RF return |
KR102048293B1 (ko) | 2015-02-25 | 2019-11-25 | 가부시키가이샤 코쿠사이 엘렉트릭 | 기판 처리 장치, 히터 및 반도체 장치의 제조 방법 |
-
2016
- 2016-09-26 JP JP2016187139A patent/JP6762184B2/ja active Active
-
2017
- 2017-09-19 KR KR1020170120307A patent/KR102020712B1/ko active IP Right Grant
- 2017-09-20 TW TW106132275A patent/TWI668060B/zh active
- 2017-09-20 US US15/709,533 patent/US10639683B2/en active Active
- 2017-09-21 CN CN201710858481.3A patent/CN107871692B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20180085795A1 (en) | 2018-03-29 |
TW201822903A (zh) | 2018-07-01 |
CN107871692A (zh) | 2018-04-03 |
KR102020712B1 (ko) | 2019-09-10 |
TWI668060B (zh) | 2019-08-11 |
KR20180034244A (ko) | 2018-04-04 |
JP2018056187A (ja) | 2018-04-05 |
CN107871692B (zh) | 2021-12-21 |
US10639683B2 (en) | 2020-05-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6762184B2 (ja) | 回収配管洗浄方法および基板処理装置 | |
TWI709169B (zh) | 基板處理方法及基板處理裝置 | |
US8864937B2 (en) | Substrate treatment apparatus | |
KR102262348B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
KR102189980B1 (ko) | 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치 | |
KR101975664B1 (ko) | 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치 | |
JP2012164957A (ja) | 液処理装置および液処理方法 | |
KR102525270B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
JP5265943B2 (ja) | 基板処理装置 | |
US20190043708A1 (en) | Substrate processing method and substrate processing device | |
JP6502037B2 (ja) | 基板処理装置および基板処理方法 | |
KR102223972B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
KR102240493B1 (ko) | 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190624 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200312 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200312 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200508 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200604 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200729 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200813 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200908 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6762184 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |