JP6742031B2 - 硫化物固体電解質 - Google Patents

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Description

本発明は、イオン伝導性が良好なLGPS型結晶構造を有する、特にGeを含まずにSn-Siを固溶している、硫化物固体電解質に関する。
近年におけるパソコン、ビデオカメラおよび携帯電話等の情報関連機器や通信機器等の急速な普及に伴い、その電源として利用される電池の開発が重要視されている。また、自動車産業界等においても、電気自動車用あるいはハイブリッド自動車用の高出力かつ高容量の電池の開発が進められている。現在、種々の電池の中でも、エネルギー密度が高いという観点から、リチウム電池が注目を浴びている。
現在市販されているリチウム電池は、可燃性の有機溶媒を含む電解液が使用されているため、短絡時の温度上昇を抑える安全装置の取り付けや短絡防止のための構造・材料面での改善が必要となる。これに対し、電解液を固体電解質層に変えて、電池を全固体化したリチウム電池は、電池内に可燃性の有機溶媒を用いないので、安全装置の簡素化が図れ、製造コストや生産性に優れると考えられている。
全固体リチウム電池に用いられる固体電解質材料として、硫化物固体電解質材料が知られている。例えば、非特許文献1においては、Li(4−x)Ge(1−x)の組成を有するLiイオン伝導体(硫化物固体電解質材料)が開示されている。また、特許文献1においては、X線回折測定において特定のピークを有する結晶相の割合が高いLiGePS系の硫化物固体電解質材料が開示されている。さらに、非特許文献2には、LiGePS系の硫化物固体電解質材料が開示されている。
国際公開第2011/118801号
Ryoji Kanno et al., "Lithium Ionic Conductor Thio-LISICON The Li2S-GeS2-P2S5 System", Journal of The Electrochemical Society, 148 (7) A742-A746 (2001) Noriaki Kamaya et al., "A lithium superionic conductor", Nature Materials, Advanced online publication, 31 July 2011, DOI:10.1038/NMAT3066
電池の高出力化の観点から、イオン伝導性が良好な固体電解質材料が求められている。
非特許文献2は、12×10−3Scm−1という電解液に匹敵するほどの高いイオン導電率を示すLi10GeP12(以下において、「LGPS系硫化物固体電解質」、「LGPS」等と称することがある。)について報告している。しかしながら、Geはコストが高い。またGeは耐還元性のような化学的安定性が低いことが指摘されている。特許文献1に記載されたLGPS系の硫化物固体電化質材料は、還元電位がGeは0.25V(vs Li/Li)程度であり、0.25Vよりも低い作動電位を有する負極活物質とともに電池に用いると、硫化物固体電解質材料が還元分解し、劣化するという問題がある。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、Geを含まずに、優れた電気化学的安定性と高いリチウムイオン伝導性を兼ね備える硫化物固体電解質材料を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本願発明者は、鋭意検討を行い、LGPS系硫化物固体電解質材料において、GeをSnおよびSiで置換することに着想した。その結果、LiSnS−LiSiS−LiPS疑似三元系の固溶領域(図1参照)において、Li4−x[SnSi(1−y)(1−x)(LSSPS(y:1−y)x)なる組成式のイオン導電性に優れた固体導電性材料が得られること、さらにLiと[SnSi(1-y)]の比を変化させた場合でもイオン導電性に優れた固体導電性材料が得られることを見出し、本願発明を完成した。
本発明により、以下の手段が提供される。
[1]組成式 Li4-4z−x[SnSi1−y1+z−xで示され、ここで0.5≦x≦0.6、y=0.2、0≧z≧−0.2であり、
CuKα線を用いたX線回折測定における2θ=29.58°±0.50°の位置にピークを有し、CuKα線を用いたX線回折測定における2θ=27.33°±0.50°の位置にピークを有しないか、上記2θ=27.33°±0.50°の位置にピークを有する場合、上記2θ=29.58°±0.50°のピークの回折強度をIとし、上記2θ=27.33°±0.50°のピークの回折強度をIとした際に、I/Iの値が0.50未満である、硫化物固体電解質。
[2]2θ=29.58°±0.50°の位置にピークを有する結晶相において、格子定数のa軸長が8.65〜8.70Åであり、c軸長が12.55〜12.62である、[1]に記載の硫化物固体電解質。
[3]前記軸長範囲において、前記組成式中のxの増加に伴い、前記軸長が漸減する、[2]に記載の硫化物固体電解質。
本発明による、硫化物固体電解質材料は、Geを含まないにもかかわらず、LGPS系硫化物固体電解質材料に匹敵する高いイオン伝導率を示す。そして、当該硫化物固体電解質は、比較的高価なGeを含んでいないため、従来のLGPS系材料などのGeを必須成分とする固体電解質材料よりも、コストの大幅な低減が可能である。さらに、Geは、耐還元性が低いことが指摘されているが、そのGeを含まない本願の硫化物固体電解質材料は、耐還元性等の電気化学的安定性の向上も期待できる。
図1は、Li3PS4-Li4SnS4-Li4SiS4 系疑似三元図を示す。 図2は、Li4-4z-x[SnySi1-y]1+z-xPxS4 (y=0.2〜0.8、z=0)の組成式を有する合成試料のX線回折パターン例を示す。 図3は、Li4-4z-x[SnySi1-y]1+z-xPxS4 (y=0.2、z=-0.1〜−0.4)の組成式を有する合成試料のX線回折パターン例を示す。 図4は、Li4-4z-x[Sn0.2Si0.8]1+z-xPxS4 (0.50≦x≦0.60、z=0)固溶体の格子パラメータのチャートの例を示す。 図5は、Li3.45[Sn0.2Si0.8]0.45P0.55S4の結晶構造の例を示す。 図6は、Li3.45[Sn0.09Si0.36]P0.55S4のシンクロトロンX線リートベルト解析パターンの例を示す。 図7は、Li3.45[Sn0.09Si0.36]P0.55S4 (x = 0.55, Li4-x[Sn0.2Si0.8]1-xPxS4)(焼結体)のインピーダンスおよびアレニウスプロットの例を示す。 図8は、Li3.45[Sn0.09Si0.36]P0.55S4 のサイクリックボルタンメトリーの例を示す。 図9は、Li3.45[Sn0.09Si0.36]P0.55S4電解質またはLGPS電解質を用いた全固体電池の充放電カーブの例を示す。 図10は、Li4-4z-x[SnySi(1-y)](1+z-x)PxS4の合成プロセス例を示す。
本願発明者は、鋭意検討の結果、LGPS系硫化物固体電解質材料において、GeをSnおよびSiで置換することに着想し、LiSnS−LiSiS−LiPS 疑似三元系の固溶領域(図1参照)において、Li4−x[SnSi(1−y)(1−x)(LSSPS(y:1−y)x)なる組成式のイオン伝導性に優れた固体導電性材料が得られること、さらにLiと[SnSi(1-y)]の比を変化させた場合でもイオン導電性に優れた固体導電性材料が得られることを見出し、本願発明を完成した。
以下、本発明の硫化物固体電解質材料、およびその製造方法について、詳細に説明する。
本発明による硫化物固体電解質材料は、組成式 Li4-4z−x[SnSi1−y1+z−xで示される硫化物系固体電解質を含み、0.5≦x≦0.6であり、y=0.2であり、0≧z≧−0.2である。
図1は、LiSnS−LiSiS−LiPS疑似三元図であり、この三元図内にある物質の組成式はLi4−x[SnSi1−y1−xで示される。xは、LiPSの組成比に相当し、x=1のときの上記組成式の物質は三元図の上部頂点に位置し、x=0のときの上記組成式の物質は三元図の下部底辺上に位置する。yは、SnとSiの組成比に関連し、Sn:Si=y:1−yで表される。三元図の下部底辺は、目印として、Sn:Siの比率が示されている。さらに、この目印の位置から上部頂点に伸びる破線が示されており、例えば下部底辺の2:8から上部頂点伸びる破線上では、Sn:Siの比を2:8に保ちつつ、xが変動する組成が得られる。本発明の硫化物固体電解質材料は、組成式において0.5≦x≦0.6、y=0.2と規定される。
三元図内のすべての点(組成)で、良好なイオン伝導性を有する物質が得られるわけではない。Li4−x[SnSi1−y1−xの組成を有する材料が、LGPS系硫化物固体電解質と同様の結晶構造を有する場合、すなわちLGPS型結晶相を有する場合に、良好なイオン伝導性を有することを本願発明者は知見した。LGPS系硫化物固体電解質の結晶構造は、CuKα線を用いたX線回折測定における2θ=29.58°±0.50°の位置にピークを有し、CuKα線を用いたX線回折測定における2θ=27.33°±0.50°の位置にピークを有しないか、上記2θ=27.33°±0.50°の位置にピークを有する場合、上記2θ=29.58°±0.50°のピークの回折強度をIとし、上記2θ=27.33°±0.50°のピークの回折強度をIとした際に、I/Iの値が0.50未満である。本願発明による、Li4−x[SnSi1−y1−xの組成を有する材料は、上記のピーク条件を満たすものであり、すなわちLGPS系硫化物固体電解質と同様の結晶構造を有するものである。特定の理論に拘束されるものではないが、本願の電解質材料は、LGPS系硫化物固体電解質材料のGeが固溶した状態のSn-Siで置換された結晶構造を有しており、そのために、LGPS系硫化物固体電解質と同様の高いイオン伝導性を有すると考えられる。さらに、本願の電解質材料は、Siを含有することから還元電位が低い硫化物固体電解質材料とすることができる。Siは、イオン半径が小さく、Sと強固な結合をつくることから、還元分解されにくい性質を有すると考えられ、その結果、還元電位が低くなると推定される。また、Liとの合金化電位を比較すると、Siは0.35V(Li/Li)付近であり、Geの0.4V(Li/Li)付近よりも低く、Liと合金化し難いため、結果として、本願の電解質材料の還元電位が低くなると推定される。想定される、本願の電解質材料の還元電位は0.175V(vs.Li/Li)程度であり、一方、想定されるLGPS(Li3.33Ge0.330.67)の還元電位は0.255V(vs.Li/Li)程度であり、したがって、本願の電解質材料は還元分解されにくい。
LGPS系硫化物固体電解質は、イオン伝導性の高いLGPS型の結晶構造以外のものを含むことがあり、例えば、2θ=27.33°付近のピークを有する結晶相を含むことがある。2θ=27.33°付近のピークを有する結晶相は、イオン伝導性が高くない。そのため、本願の電解質材料では、イオン伝導性が低い硫化物固体電解質材料と区別するため、2θ=29.58°付近のピークの回折強度をIとし、2θ=27.33°付近のピークの回折強度をIとし、I/Iの値を0.50未満に規定している。イオン伝導性の観点からは、本願の硫化物固体電解質材料は、イオン伝導性の高い結晶相(ピーク位置が2θ=29.58°のもの)の割合が高いことが好ましい。そのため、I/Iの値はより小さいことが好ましく、具体的には、0.45以下であることが好ましく、0.25以下であることがより好ましく、0.15以下であることがさらに好ましく、0.07以下であることが特に好ましい。また、I/Iの値は0であることが好ましい。言い換えると、本願の硫化物固体電解質材料は、2θ=27.33°付近のピークを有しないことが好ましい。本発明の電解質材料では、2θ=29.58°付近のピークを有する結晶相の割合が高く、イオン電導性が良好な固体電解質材料とすることができる。
ここで、ピーク位置2θ=29.58°は実測値であり、材料組成等によって結晶格子が若干変化し、ピークの位置が2θ=29.58°から多少前後する場合がある。そのため、上記ピークを、29.58°±0.50°の位置のピークとして定義する。イオン伝導性の高いLGPS系硫化物固体電解質は、通常、2θ=17.38°、20.18°、20.44°、23.56°、23.96°、24.93°、26.96°、29.07°、29.58°、31.71°、32.66°、33.39°のピークを有すると考えられるため、本願の電解質材料でもこれらのピークを有し得る。なお、これらのピーク位置も、±0.50°の範囲で前後する場合がある。
一方、2θ=27.33°付近のピークは、上述したように、イオン伝導性の低い結晶相のピークの一つである。ここで、2θ=27.33°は実測値であり、材料組成等によって結晶格子が若干変化し、ピークの位置が2θ=27.33°から多少前後する場合がある。そのため、イオン伝導性の低い結晶相の上記ピークを、27.33°±0.50°の位置のピークとして定義する。イオン伝導性の低い結晶相は、通常、2θ=17.46°、18.12°、19.99°、22.73°、25.72°、27.33°、29.16°、29.78°のピークを有すると考えられる。なお、これらのピーク位置も、±0.50°の範囲で前後する場合がある。
さらに、本願発明者は、Liと[SnSi(1-y)]の比を変化させた場合でもイオン導電性に優れた固体導電性材料が得られることを見出した。より具体的には、上述の組成式に、Liおよび[SnSi(1-y)]の組成比に係数zを加えて、
Li4−4z−x[SnSi1−y1+z−xとした場合に、0≧z≧−0.2の範囲で、イオン導電性に優れた固体導電性材料が得られる。zは、組成物中のLiと[SnSi(1-y)]の組成比に関連し、zが小さいほど、[SnSi(1-y)]の比率が低く、Liの比率が高い。
なお、図1は、Pの変化を表現することには適さない。zを変化させる場合、つまり、Liと[SnSi(1-y)]の比を変化させる場合、図1の三元図上の点は上下方向に移動するが、これに伴ってPの比率(Pは係数zに関係しない)も変化してしまうためである。
図2は、本願の電解質材料Li4−4z−x[SnSi1−y1+z−xのX線回折強度パターンの例である(z=0)。yを変化させた、すなわちSn:Siの比を変化させた5種類のチャート(a)〜(e)を示している。さらに、各チャートにおいて、xを変化させており、すなわちPの相対量を変化させている。いずれのパターンでも、2θ=29.58°付近に大きなピークが見られており、これらの組成物がイオン伝導性の高いLGPS型の結晶構造を有することが分かる。ただし、xが低すぎたり、高すぎたりすると、LGPS型の結晶構造以外の結晶構造、例えばβ−LiPS、LiSnS、LiSiS(三元図の各頂点の組成に相当)のピークが観察されており、LGPS型の単一相が得られないことが示されている。本願発明の電解質材料は、組成式において0.5≦x≦0.6、y=0.2であり、LGPS型の単一相が得られていることが示唆される(図2(e)参照)。
さらに、各チャート(a)〜(e)の右側には、2θ=29.58°付近のピークを拡大して表示している。この拡大図では、xが大きくなるにつれて、ピーク位置がスムースに右へ移動しており、このことはLGPS型結晶相において固溶状態が生じていることが示唆される。
図3は、0.5≦x≦0.6、y=0.2として、さらにzを変化させた場合のX線回折強度パターンの例である(z=−0.1、−0.4)。いずれのパターンでも、2θ=29.58°付近に大きなピークが見られており、これらの組成物がイオン伝導性の高いLGPS型の結晶構造を有することが分かる。ただし、zが低すぎる場合(z=−0.4の場合)、2θ=27.33°付近のピークが強くなっている。上述したように、このピークはイオン伝導性の低い結晶相のピークの一つである。つまり、上述したI/Iの値が0.50以上になることがある。そのため、zの範囲は、0≧z≧−0.2に制限される。これにより、I/Iの値が0.5未満となり、イオン電導性が良好な固体電解質材料が得られる。
図4は、LGPS型結晶相を有する、本願の電解質材料Li4−4z−x[Sn0.2Si0.81+z−xにおいて、x=0.5〜0.6(z=0)まで変化させたときの、格子定数の変化を示している。格子定数を求めるためにRietveld法を用いた。Rietveld法は、粉末X線回折測定や中性子回折測定により得られた回折図形から、精度の高い多くの構造パラメータを得ることを可能とした構造解析法である。x=0.5〜0.6の範囲では、格子定数のa軸長が8.65〜8.70Åであり、c軸長が12.55〜12.62である。xがこの範囲外であっても、軸長の変化がスムースであるため、ある程度外挿して軸長を求めることができる。
図4において、xが0.5〜0.6の範囲で増加するにつれて、a軸長およびc軸長が、スムースに漸減している。このことからもLGPS型結晶相において固溶状態が生じていることが示唆される。特定の理論に拘束されるものではないが、結晶構造中には(Sn/Si/P)S四面体が含まれており(図5参照)、P4+の半径がSn4+/Si4+の平均半径より小さいために、Pの含有率に相当するxが増加するにつれて、格子定数の軸長が漸減していると考えられる。
zが0≧z≧−0.2であるときのX線回折強度パターンは、I/Iの値が0.5未満となり、イオン伝導性の高いLGPS系硫化物固体電解質を含んでいると考えられる。すなわち、zが0≧z≧−0.2で変化する場合でも、格子定数の軸長がスムースに変化しながら、LGPS型結晶相が維持されていると考えられる。
図5は、本願の電解質材料Li4−4z−x[SnSi1−y1+z−xの結晶構造の一例を説明する斜視図である。図5に示す結晶構造において、八面体は、中心元素としてLiを有し、八面体の頂点に6個のSを有しており、典型的にはLiS八面体である。(Sn/Si/P)S四面体は、中心元素としてSn/Si/Pを有し、四面体の頂点に4個のSを有しており、典型的にはSiS四面体、SnS四面体およびPS四面体である。PS四面体は、中心元素としてPを有し、四面体の頂点に4個のSを有する四面体である。さらに、(Sn/Si/P)S四面体および八面体は稜を共有し、PS四面体および八面体は頂点を共有している。図5の、四面体や八面体を結ぶ、四角形は単位格子を表している。
図6は、本願の電解質材料Li4−4z−x[SnSi1−y1+z−xのシンクロトロンX線リートベルト解析パターンの例である。観測されたデータは(+)の記号で表されており、そのデータに重ねられた実線はリートベルト解析によって得たものであり、観測データと解析結果は整合している。図6の最も下のラインは、観測値と計算値の強度の差を示したものであり、その差が非常に小さく、観測データと解析結果が整合していることを裏付けている。
上下のラインの間にプロットされている、垂直な記号(|)は、LGPS型結晶相の空間群P4/nmcの取り得るブラッグ反射の位置であり、このことからも本願の電解質材料が、LGPS型結晶相を有していることが裏付けられる。
シンクロトロンX線測定は、シンクロトロン放射光(光速に近い速度で直進する電子が、その進行方向を変えられた際に発生する電磁波)を用いた測定法である。シンクロトロン放射光は、輝度が高いため、結晶構造をより詳細に分析できる。
本願の硫化物固体電解質材料は、LGPS型結晶構造を有しており、通常、結晶質の硫化物固体電解質材料である。本願の硫化物固体電解質材料は、イオン伝導性が高いことが好ましく、25℃における硫化物固体電解質材料のイオン伝導性は、粉末状の硫化物固体電解質材料を焼結ペレットにした場合に、5.0×10−3S/cm以上であることが好ましく、より好ましくは7.0×10−3S/cm以上、さらに好ましくは9.0×10−3S/cm以上、さらにより好ましくは11.0×10−3S/cm以上であってもよい。
本願の硫化物固体電解質材料の一例である、Li3.45[Sn0.09Si0.36]P0.55の粉末を焼結ペレットにしたもので、26〜127℃におけるイオン伝導性を測定した。図7に、温度依存インピーダンスとアレニウスプロットを示したものである。各温度に於けるイオン伝導性は、バルク/粒界抵抗の合計として得られる。活性化エネルギーは19kJ/molであり、これは優れたイオン伝導体の典型的な値である。室温でのイオン伝導性は11.0×10−3S/cmと計算され、これは、LSnPS(図1の左下頂点の組成)の5.0×10−3S/cmやLSiPS(図1の右下頂点の組成)の6.7×10−3S/cmよりも優れた値である。また、従来のLGPS固体電解質で、12.0×10−3S/cmのものが報告されているが、本願の硫化物固体電解質材料は、それに匹敵するイオン伝導性を有することができる。表1に、Li4-4z−x[Sn0.09Si0.361+z-xxの粉末を焼結ペレットにしたものの、x=0.5〜0.6でのイオン伝導性を示す。また、本願の硫化物固体電解質材料の形状は特に限定されるものではないが、例えば粉末状を挙げることができる。さらに、粉末状の硫化物固体電解質材料の平均粒径は、例えば0.1μm〜50μmの範囲内であることが好ましい。
本願の硫化物固体電解質材料の電気化学的安定性は、サイクリックボルタンメトリーで評価することができる。図8は、本願の硫化物固体電解質材料の一例である、Li3.45[Sn0.09Si0.36]P0.55のサイクリックボルタンメトリーであり、Li金属とAuを電極としている。図8において、0v付近でのLi/Liに対するリチウムの溶解/析出反応によるピークを除けば、深刻な電流ピークは見られない。このことは、本願の硫化物固体電解質材料が、広い電位窓を有することを裏付けている。LGPSに含まれるGeは耐還元性が低いことが指摘されているが、そのGeを含まないために耐還元性が向上することも期待できる。
特定の理論に拘束されるものではないが、LGPS型結晶相におけるイオン伝導性には、格子定数やリチウム濃度が影響を与えていると考えられる。格子定数が大きい場合、Li4−4z−x1+z−x(M=Si,Ge,Sn)の組成式を有するLGPS型固溶体においては、Sn類が大きなイオン伝導性を示す可能性がある。しかし、LGPS型固溶体の構造的制限があるので、Mの存在比(1+z−x)は限定され、Si,Ge,Sn類の固溶領域は、それぞれ0.525≦x≦0.60,0.50≦x≦0.67,および0.70≦x≦0.75である(ただし、0≧z≧−0.2)。Mの原子半径が大きくなるにつれて、MPS四面体でのP元素の比率が高まり、体積増加効果は低下する。その結果リチウムの濃度も低下する。MPS四面体でのSn:Si比を調整することにより、高いリチウム濃度を伴う好適な格子パラメータを見出すことができる。すなわち、リチウムが移動しやすくするためのトンネルサイズを最適化するためにはSn/Si比およびSn4+,Si4+/P5+比が重要であることに本願発明者は着想し、この着想に基づきリチウムイオン伝導性に優れた領域を見出した。さらに、本発明者は、LiとMの比を変化させた場合でもイオン導電性に優れた固体導電性材料が得られることも見出した。その結果、本発明は完成された。
本願の硫化物固体電解質材料は、高いイオン伝導性を有するものであるので、イオン伝導性を必要とする任意の用途に用いることができる。中でも、本願の硫化物固体電解質材料は、電池に用いられるものであることが好ましい。電池の高出力化に大きく寄与することができるからである。
本願の硫化物固体電解質材料の一例である、Li3.45[Sn0.09Si0.36]P0.55を電解質とし、LiNbOをコーティングしたLiCoOカソード、およびLi−In合金アノードを用いた、全固体電池の充放電カーブを図9に示す。充放電レートは0.05Cである。図9より、この電池が特に問題なく良好に作動していることが分かる。
本願の硫化物固体電解質材料の製造方法について、説明する。本願の固体電解質材料の製造方法は、Li元素、Si元素、Sn元素、P元素およびS元素を粉砕混合、成形して、原料組成物を調製する原料組成物調製工程と、上記原料組成物を加熱することにより、固体電解質材料を得る加熱工程と、を有する。各元素の供給原料として、各元素の硫化物、LiS、P、SiS、SnSを用いてもよい。
図10は、本発明の固体電解質材料の製造方法の一例を示す説明図である。図10における固体電解質材料の製造方法では、まず、LiS、P、SiS、およびSnSを手で粗粉砕した後、ボールミル等により粉砕混合し、ペレット成形することにより、原料組成物を作製する。次に、原料組成物を加熱し、固相反応により固体電解質材料を得る。
粉砕混合には、メカニカルミリングを用いてもよい。メカニカルミリングは、試料を、機械的エネルギーを付与しながら粉砕する方法である。このようなメカニカルミリングとしては、例えば、振動ミル、ボールミル、ターボミル、メカノフュージョン、ディスクミル等を挙げることができる。中でも振動ミル、ボールミルが好ましい。一例である振動ミルの条件は、対象物を粉砕混合させることができるものであれば特に限定されるものではない。振動ミルの振動振幅は、例えば5mm〜15mmの範囲内、中でも6mm〜10mmの範囲内であることが好ましい。振動ミルの振動周波数は、例えば500rpm〜2000rpmの範囲内、中でも1000rpm〜1800rpmの範囲内であることが好ましい。振動ミルの試料の充填率は、例えば1体積%〜80体積%の範囲内、中でも5体積%〜60体積%の範囲内、特に10体積%〜50体積%の範囲内であることが好ましい。また、振動ミルには、振動子(例えばアルミナ製振動子)を用いることが好ましい。
ボールミルの条件は、対象物を粉砕混合させることができるものであれば特に限定されるものではない。一般的に、回転数が大きいほど、イオン伝導性材料の生成速度は速くなり、処理時間が長いほど、原料組成物からイオン伝導性材料への転化率は高くなる。遊星型ボールミルを行う際の台盤回転数としては、例えば200rpm〜500rpmの範囲内、中でも250rpm〜400rpmの範囲内であることが好ましい。また、遊星型ボールミルを行う際の処理時間は、例えば1時間〜100時間の範囲内、中でも1時間〜70時間の範囲内であることが好ましい。
加熱工程における加熱温度は、出発原料に応じて適宜調整可能であるが、おおよそ500℃〜900℃の範囲内であることが好ましい。また、加熱時間とは、昇温時間と保持時間を含んだものであり、それぞれの時間を所望の固体電解質材料が得られるように適宜調整することが好ましい。例えば、それぞれ30分間〜48時間の範囲内としてもよい。加熱時は、略真空状態で加熱してもよい。略真空とは、例えば、0.01〜100Paであってもよい。さらに、加熱後に、室温まで冷却される際には、所望の固体電解質材料が得られるように、自然冷却を採用してもよいし、またはアニーリングをおこなってもよい。
これらの一連の工程は、空気中の水分によって原料組成物、得られた固体電解質材料が劣化することを防止するために、アルゴン等の不活性ガス雰囲気下で作業することが好ましい。
以下、実施例を参照して、本発明をさらに詳細に説明する。なお、下記の実施例は本発明を限定するものではない。
(LiPS−LiSnS−LiSiS系試料の作製)
アルゴン雰囲気のグローブボックス内で、出発原料のLi2S、P、SiS、およびSnSを手で粉砕して秤量し、さらにボールミルを使用して混合試料を作製した。その試料をペレッターに入れ、一軸プレス機を用いてそのペレッターに20MPaの圧力を印加して、φ13mmのペレットを成形した。カーボンコートした石英管にこのペレットを10Paの略真空で封入した。そして、ペレットを入れた石英管を3時間で560℃まで昇温(昇温速度約3℃/分)させた後、24時間保持し、その後自然冷却した。さらに、その後の評価のために、粉砕を行った。合成した試料の組成は、概ね表1の三元図にプロットされるが、表1の三元図ではプロットされないこともある。図1のLiPS−LiSnS−LiSiS系の三元組成図を参照すると、三角形内部のグレーの丸記号の組成は、LGPS型結晶相が単一相として確認された組成である。黒の丸記号の組成は、LGPS型結晶相以外の結晶相も確認された組成である。結晶相の確認方法は、後述する。
得られた試料について、下記の測定および評価を行った。
(粉末X線回折測定)
作製した試料に含まれる結晶を同定するために、粉末X線回折装置Ulima-IV(株式会社リガク製)およびSmart Lab(株式会社リガク製)を使用して、粉末X線回折測定を行った。粉末X線回折測定には、X線波長1.5418オングストロームのCu−Kα線を使用した。10〜35°の範囲で0.01°ステップで回折角(2θ)で粉末X線回折測定を行った。
(焼結ペレットの導電率の測定)
粉砕した試料を焼結ペレット用セルに入れた後、169MPaの圧力を常温用セルに適用してペレットを作製した。その後、550℃で12時間の焼結を行って、種々の組成の固体電解質材料よりなる焼結ペレットを得た。ペレットの径はおよそ10mmであり、厚さは1〜2mmとして測定用試料を作製した。電極はAuを用いて、これを測定様試料に貼り合わせ、Au/測定用試料/Auの電池とした。測定用試料の導電率の測定には、NF社製 Frequency Response Analyzerを使用した。15MHz〜100Hzの測定範囲、26℃〜127℃の測定温度、50〜100mVの交流電圧および2秒の積算時間の条件で交流インピーダンス測定を行い、試料の導電率を測定した。また、比較例として、本発明の固体電解質とは異なる固体電解質を用いた場合の導電率についても調査を行った。
(サイクリックボルタンメトリー)
電気化学的安定性は、電位窓とも呼ばれており、例えばAu箔とリチウム箔の間にリチウムイオン伝導性無機固体電解質と高分子の複合成型体を挟んだセルを組立てて、サイクリックボルタンメトリーにより評価することができる。掃引速度1mV/secで測定をした。測定には、ポテンショスタット/ガルバノスタットSolatron1287(ソーラトロン社製)を使用した。スキャンレートは、1mV/s、スキャンレンジは−0.5〜5V vs.Li/Liとした。
(定電流充放電試験)
充放電試験では、セパレータとなるリチウムイオン伝導性固体電解質として得られた硫化物固体電解質材料を、カソードとしてニオブ酸リチウムコーティングしたコバルト酸リチウム、アノードとしてリチウム-インジウム合金を用いて、挟み込んだ全固体リチウム電池を構成した。この電池に、1/20C(=7.25mA/g)で充放電を行った。
比較例として、電解質材料としてLGPS(Li10GeP12)硫化物固体電解質を用いて、電池を構成し、上記と同条件で充放電を行った。
[評価]
(粉末X線回折)
図1の三元図中で得られた硫化物固体電解質材料を用いて、X線回折(XRD)測定を行った。その結果の一部を図2に示す。良好なイオン伝導性を有するLGPS系硫化物固体電解質の結晶構造は、CuKα線を用いたX線回折測定における2θ=29.58°±0.50°の位置にピークを有するが、図2に示すとおり、本願の硫化物固体電解質材料でも、その位置にピークを有している。さらに、本願の硫化物固体電解質材料は、2θ=27.33°±0.50°の位置にピークを有する場合、上記2θ=29.58°±0.50°のピークの回折強度をIとし、上記2θ=27.33°±0.50°のピークの回折強度をIとした際に、I/Iの値が0.50未満である。2θ=27.33°付近のピークを有するLGPS結晶相は、イオン伝導性が高くないが、本願の硫化物固体電解質材料はI/Iの値が0.50未満であるため、イオン伝導性が高いことが示唆される。ただし、本願の電解質材料Li4−x[SnSi1−y1−xの組成式において、xが低すぎたり、高すぎたりすると、LGPS型の結晶構造以外の結晶構造、例えばβ−LiPS、LiSnS、LiSiS(三元図の各頂点の組成に相当)のピークが観察されており、LGPS型の単一相が得られないことが示されている。
さらに、本願発明者は、上述の組成式に、Liおよび[SnSi(1-y)]の組成比に係数zを加えて、
Li4−4z−x[SnSi1−y1+z−xとした場合に、0≧z≧−0.2の範囲で、イオン導電性に優れた固体導電性材料が得られることを見出した。zは、組成物中のLiと[SnSi(1-y)]の組成比に関連し、zが小さいほど、[SnSi(1-y)]の比率が低く、Liの比率が高い。
図3は、0.5≦x≦0.6、y=0.2として、さらにzを変化させた場合のX線回折強度パターンの例である(z=−0.1、−0.4)。いずれのパターンでも、2θ=29.58°付近に大きなピークが見られており、これらの組成物がイオン伝導性の高いLGPS型の結晶構造を有することが分かる。ただし、zが低すぎる場合(z=−0.4の場合)、2θ=27.33°付近のピークが強くなっている。上述したように、このピークはイオン伝導性の低い結晶相のピークの一つである。つまり、上述したI/Iの値が0.50以上になることがある。そのため、zの範囲は、0≧z≧−0.2に制限される。これにより、I/Iの値が0.5未満となり、イオン電導性が良好な固体電解質材料が得られる。
図4は、LGPS型結晶相を有する、本願の電解質材料Li4−4z−x[Sn0.2Si0.81+z−xにおいて、x=0.5〜0.6(z=0)まで変化させたときの、格子定数の変化を示している。格子定数の値は、X線回折のデータをもとに、リートベルト解析によって求めた値である。x=0.5〜0.6の範囲では、格子定数のa軸長が8.65〜8.70Åであり、c軸長が12.55〜12.62である。図4において、xが0.5〜0.6の範囲で増加するにつれて、a軸長およびc軸長が、スムースに漸減しており、本願の電解質材料の有するLGPS型結晶相では、LGPSのGeの代わりにSn−Siが固溶状態で存在していることが示唆される。
zが0≧z≧−0.2であるときのX線回折強度パターンは、I/Iの値が0.5未満となり、イオン伝導性の高いLGPS系硫化物固体電解質を含んでいると考えられる。すなわち、zが0≧z≧−0.2で変化する場合でも、格子定数の軸長がスムースに変化しながら、LGPS型結晶相が維持されていると考えられる。
図6は、本願の電解質材料Li4−4z−x[SnSi1−y1+z−xのシンクロトロンX線リートベルト解析パターンである。観測されたデータは(+)の記号で表されており、そのデータに重ねられた実線はリートベルト解析によって得たものであり、観測データと解析結果は整合している。また、図6の最も下のラインは、観測値と計算値の強度の差を示したものであり、その差が非常に小さく、観測データと解析結果が整合していることを裏付けている。
上下のラインの間にプロットされている、垂直な記号(|)は、LGPS型結晶相の空間群P4/nmcの取り得るブラッグ反射の位置であり、このことからも本願の電解質材料が、LGPS型結晶相を有していることが裏付けられる。
(焼結ペレットの導電率)
図7は、本願の硫化物固体電解質材料の、Li3.45[Sn0.09Si0.36]P0.55の粉末を焼結ペレットにしたもので、26〜127℃におけるイオン伝導性を測定し、温度依存インピーダンスとアレニウスプロットを示したものである。これより求められる室温でのイオン伝導性は11.0×10−3S/cmのものもあり、従来のLGPS固体電解質で報告されている12.0×10−3S/cmに匹敵する、優れた伝導性が示された。焼結ペレットのイオン伝導性は、表1に示され、xによって変動するが、7.95×10−3S/cmから11×10−3S/cmであった。
また、比較例として、本発明の固体電解質以外を用いた場合のイオン伝導度は以下のとおりであった。
Li9.81Sn0.812.1912(LSnPS) 5×10-3 S/cm
Li7.2Si0.20.86 8.5×10-4 S/cm
Li3.225[Sn0.735Si0.99]P0.3756 3.9×10-5 S/cm
これらの比較例に対して、本願の硫化物固体電解質材料は大幅にイオン伝導度が向上している。
(サイクリックボルタンメトリー)
図8は、本願の硫化物固体電解質材料の、Li3.45[Sn0.09Si0.36]P0.55のサイクリックボルタンメトリーであり、Li金属とAuを電極としている。図8において、Li/Liに対する0v付近でのリチウムの溶解/析出反応によるピークを除けば、深刻な電流ピークは見られなかった。スキャンレンジは−0.5〜5Vであり、この範囲で電気化学的に安定であることが示唆された。
(定電流充放電試験)
定電流充放電試験では、セパレータとなるリチウムイオン伝導性固体電解質として得られた硫化物固体電解質材料を、カソードとしてニオブ酸リチウムコーティングしたコバルト酸リチウム、アノードとしてリチウム-インジウム合金を用いて、挟み込んだ全固体リチウム電池を用いた。この電池に、1/20C(=7.25mA/g)で充放電を行った。充放電結果は図9に示される。この電池は、特に問題なく作動することが示された。
さらに、LGPS電解質を用いて電池を組んだ場合の充放電データ(比較例)も図9に示しているが、LGPS電解質と比較して、本発明例における充電と放電の曲線の間は狭く、分極抵抗が小さくなっている。これは、本発明のSi−Sn固溶体と電極との間の抵抗がLGPSと電極との間の抵抗よりも小さいためであり、これは、Si−Sn固溶体の還元電位がより低いことを示唆する。また、実際に20サイクルにわたり、LGPSを用いた場合よりも大きな容量を示した。

Claims (3)

  1. 組成式Li4−4z−x[SnSi1−y1+z−xで示され、ここで0.5≦x≦0.6、y=0.2、0>z≧−0.2であり、
    CuKα線を用いたX線回折測定における2θ=29.58°±0.50°の位置にピークを有し、CuKα線を用いたX線回折測定における2θ=27.33°±0.50°の位置にピークを有しないか、上記2θ=27.33°±0.50°の位置にピークを有する場合、上記2θ=29.58°±0.50°のピークの回折強度をIとし、上記2θ=27.33°±0.50°のピークの回折強度をIとした際に、I/Iの値が0.50未満である、硫化物固体電解質。
  2. 2θ=29.58°±0.50°の位置にピークを有する結晶相において、格子定数のa軸長が8.65〜8.70Åであり、c軸長が12.55〜12.62である、請求項1に記載の硫化物固体電解質。
  3. 前記軸長範囲において、前記組成式中のxの増加に伴い、前記軸長が漸減する、請求項2に記載の硫化物固体電解質。
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