JP6730781B2 - 光学測定機器の較正のための装置 - Google Patents
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Description
2 キャリア
2a 上部
4 較正体
4a 表面
6 ガイドデバイス
8 凹部
10 測定機器
14 側縁
16 保護機構
18 締結要素
22 支持体
24 突起
42 散乱要素
44 本体の部分
52 ハウジング
54 ホイール
56 ディスプレイ
62 球状本体
B 移動方向
Claims (11)
- キャリア(2)を有するとともに、前記キャリア(2)上に配置される較正体(4)を有する、光学測定機器(10)の較正及び/又は検査のための装置(1)であって、前記較正体(4)は、少なくとも1つの散乱要素(42)を有するガラス体(44)を有し、この散乱要素(42)が前記ガラス体(44)によって完全に取り囲まれ、前記散乱要素(42)および前記ガラス体(44)の透過度または散乱度がそれぞれ互いに異なり、前記装置は球状本体(62)及び照明デバイスを有し、前記照明デバイスは、調査されるべきサンプルまたは前記較正体(4)のそれぞれを介して前記球状本体(62)の内壁を照らすことを特徴とする装置(1)。
- 前記散乱要素(42)は、前記ガラス体(44)のレーザ処理によって形成される散乱要素(42)であることを特徴とする請求項1に記載の装置(1)。
- 前記キャリアは、較正されるべき測定機器を、該測定機器が前記キャリア(2)に対して所定のラインに沿って移動できるように案内するガイドデバイス(6)を有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の装置(1)。
- 前記較正体(4)は、該較正体(4)の表面(4a)が前記所定のラインに沿って較正されるべき測定機器(10)へ向けて対向するように前記キャリア(2)上に配置されることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の装置(1)。
- 前記較正体は、前記キャリアに対する測定機器(10)の位置に依存する態様で該測定機器の照明デバイスが前記散乱要素(42)または前記ガラス体の更なる領域を照らすように前記キャリア上に配置され、前記ガラス体の透過率が前記散乱要素(42)の透過率とは異なることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の装置(1)。
- 前記較正体(4)は、該較正体(4)の1つの表面(4a)だけが接触され得るように前記キャリア上に配置されることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の装置(1)。
- 光学測定機器(10)の較正及び/又は検査のための較正体(4)であって、この較正体(4)は、少なくとも1つの散乱要素(42)を有するガラス体(44)を有し、この散乱要素(42)が前記ガラス体(44)によって完全に取り囲まれ、前記散乱要素(42)および前記ガラス体(44)の透過度が互いに異なり、前記較正体(4)が一体部品を成して形成され、前記散乱要素(42)が前記ガラス体(44)のレーザ処理によって形成される散乱要素(42)であり、前記散乱要素(42)が前記較正体(4)の内側にバーコードの態様で配置されることを特徴とする較正体(4)。
- 前記ガラス体(44)の少なくとも1つの表面(4a)が平面であることを特徴とする請求項7に記載の較正体(4)。
- 前記散乱要素(42)が実質的に均質な構造を有することを特徴とする請求項7に記載の較正体(4)。
- 前記較正体(4)の少なくとも1つの表面にはコーティングが設けられていることを特徴とする請求項7に記載の較正体(4)。
- 自動車表面の特性を調査するために使用される光学測定機器の較正及び/又は検査のためのレーザ処理されたガラス体の使用であって、
前記ガラス体(44)は少なくとも1つの散乱要素(42)を有し、当該散乱要素(42)は当該ガラス体(44)によって完全に取り囲まれ、前記散乱要素(42)および前記ガラス体(44)の透過度が互いに異なり、前記散乱要素(42)が前記ガラス体(44)のレーザ処理によって形成される散乱要素(42)である、ガラス体の使用。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102014100774.3A DE102014100774A1 (de) | 2014-01-23 | 2014-01-23 | Vorrichtung zum Kalibrieren von optischen Messgeräten |
DE102014100774.3 | 2014-01-23 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015138028A JP2015138028A (ja) | 2015-07-30 |
JP6730781B2 true JP6730781B2 (ja) | 2020-07-29 |
Family
ID=53497689
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014258738A Active JP6730781B2 (ja) | 2014-01-23 | 2014-12-22 | 光学測定機器の較正のための装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9417184B2 (ja) |
JP (1) | JP6730781B2 (ja) |
CN (1) | CN104807400B (ja) |
DE (1) | DE102014100774A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102016218360B4 (de) * | 2016-09-23 | 2019-08-29 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Kalibrierstruktur und Kalibrierverfahren zur Kalibrierung von optischen Messgeräten |
USD949713S1 (en) * | 2019-11-27 | 2022-04-26 | Byk-Gardner Gmbh | Appearance measurement instrument |
USD949032S1 (en) * | 2019-11-27 | 2022-04-19 | Byk-Gardner Gmbh | Color appearance measurement instrument |
JP2024513848A (ja) * | 2021-03-31 | 2024-03-27 | コーニング インコーポレイテッド | オンライン検査カメラ認定用のレーザー刻印された較正基準と使用法 |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS54133179A (en) * | 1978-04-05 | 1979-10-16 | Kyoto Daiichi Kagaku Kk | Standard scattering member for calibrating scattering photometer |
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US9115022B2 (en) * | 2013-02-21 | 2015-08-25 | Matthew R. Holloway | Process to attach thermal stencils to a glass substrate and permanently etch a mark therein |
CN203364675U (zh) * | 2013-07-31 | 2013-12-25 | 东莞市宏诚光学制品有限公司 | 一种高精度线纹尺 |
-
2014
- 2014-01-23 DE DE102014100774.3A patent/DE102014100774A1/de active Pending
- 2014-12-22 JP JP2014258738A patent/JP6730781B2/ja active Active
-
2015
- 2015-01-22 CN CN201510033333.9A patent/CN104807400B/zh active Active
- 2015-01-23 US US14/604,182 patent/US9417184B2/en active Active
-
2016
- 2016-07-21 US US15/216,567 patent/US9506860B1/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9417184B2 (en) | 2016-08-16 |
DE102014100774A1 (de) | 2015-07-23 |
US20160327481A1 (en) | 2016-11-10 |
CN104807400B (zh) | 2021-02-05 |
US20150204780A1 (en) | 2015-07-23 |
JP2015138028A (ja) | 2015-07-30 |
CN104807400A (zh) | 2015-07-29 |
US9506860B1 (en) | 2016-11-29 |
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