DE19919042A1 - Thermisch kompensiertes Meßsystem - Google Patents

Thermisch kompensiertes Meßsystem

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Abstract

Das erfindungsgemäße Meßsystem weist gegenüber den aus dem Stand der Technik bekannten Systemen einen wesentlich vereinfachten Abtastkopf auf, der dennoch eine Kompensation von thermisch bedingten Fehlern ermöglicht. Erfindungsgemäß wird zunächst bei einer Referenztemperatur der Abstand zwischen zwei Abtaststellen ermittelt und im späteren Betrieb aus der Änderung des Abstands zwischen den beiden Abtaststellen im Vergleich zum Referenzabstand die gegenwärtige Temperatur berechnet. Bei Kenntnis der gegenwärtigen Temperatur kann dann ein Meßwert des Meßsystems temperaturkompensiert werden.

Description

Die Erfindung betrifft ein thermisch kompensiertes Meßsystem nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 und ein Verfahren zur Durchführung der ther­ mischen Kompensation nach dem Oberbegriff des Anspruchs 5.
Aus der DE 198 57 132 ist bereits bekannt temperaturbedingte Maßabwei­ chungen parallel angeordneter Meßsysteme zu kompensieren. Insbeson­ dere bei Maschinen mit einer sogenannten Gantry-Struktur, bei denen ent­ lang den beiden Gantry-Achsen Meßsysteme parallel zueinander angeord­ net sind, kommt es aufgrund einer örtlich unterschiedlichen Temperaturver­ teilung in der Maschine zu örtlich unterschiedlichen temperaturbedingten Ausdehnungen, insbesondere der Maßstäbe. Werden die Meßwerte der Meßsysteme zur Regelung der Antriebe an den Gantry-Achsen benutzt, kann dies zu einem Verkanten der entlang den Gantry-Achsen bewegten Baugruppen führen. Um die thermisch bedingte Verschiebung der parallel angeordneten Meßsysteme zu kompensieren ist daher vorgesehen, zusätz­ liche Meßgeräte an einer temperaturstabilen Verbindungsbrücke zwischen den beiden parallel angeordneten Meßsystemen vorzusehen. Diese zusätz­ lichen Meßgeräte ermitteln dann die temperaturbedingte relative Verschie­ bung der parallel angeordneten Meßsysteme zueinander, so daß diese kompensiert werden kann.
Ein derartiges Verfahren und eine derartige Anordnung ermöglicht lediglich die Kompensation temperaturbedingter relativer Verschiebungen zwischen parallel angeordneten Meßsystemen. Eine temperaturbedingte Längenände­ rung eines Maßstabs eines einzelnen Meßsystems kann derart nicht kom­ pensiert werden.
Aus der DD 248 865 ist eine Kompensation von temperaturbedingten Län­ genänderungen bei einem Meßsystem bekannt. Es handelt sich dabei um ein Längenmeßsystem, welches aus einem Maßstab mit einer Teilung und einem Abtastkopf zur Abtastung der Teilung des Maßstabs besteht. Der Abtastkopf weist vier Abtaststellen auf, von denen jeweils zwei auf einem Abtastträger angeordnet sind, der einen definierten Abstand zwischen den Abtaststellen einstellt. Die beiden Abtastträger weisen unterschiedliche Temperaturausdehnungskoeffizienten auf. Dadurch werden bei einer Tem­ peraturänderung der beiden Abtastträger die beiden definierten Abstände zwischen den jeweils zwei auf einem Abtastträger vorgesehenen Abtaststel­ len unterschiedlich verändert. Aus dieser Differenz der temperaturbedingten Verschiebung der zwei Abtaststellen des ersten und zweiten Abtastträgers kann die Temperaturänderung berechnet werden. Auf Basis der derart berechneten Temperaturänderung kann anschließend das Meßergebnis temperaturkompensiert werden.
Diese Vorrichtung weist den Nachteil auf, daß vier Abtaststellen auf zwei Abtastträgern mit unterschiedlichen Temperaturausdehnungskoeffizienten im Abtastkopf erforderlich sind. Dadurch wird der Abtastkopf relativ groß und kostspielig in der Realisierung.
Es stellt sich daher die Aufgabe, ein temperaturkompensiertes Meßsystem anzugeben, das relativ kostengünstig und kompakt realisiert werden kann. Insbesondere soll eine möglichst geringe Anzahl Abtaststellen auf möglichst nur einem einzigen Abtastträger realisiert werden.
Diese Aufgabe wird durch ein temperaturkompensiertes Meßsystem mit den Merkmalen des Anspruchs 1 und ein Verfahren zur Temperaturkompensa­ tion bei einem Meßsystem mit den Merkmalen des Anspruchs 5 gelöst.
Vorteilhafte Ausführungsformen des erfindungsgemäßen temperaturkom­ pensierten Meßsystems und des erfindungsgemäßen Verfahrens sind den Merkmalen der jeweils abhängigen Ansprüche zu entnehmen.
Das erfindungsgemäße temperaturkompensierte Meßsystem weist den Vorteil auf, daß lediglich zwei Abtaststellen auf einem Abtastträger im Abtastkopf erforderlich sind, um eine Temperaturkompensation durchzufüh­ ren. Dadurch kann der Abtastkopf wesentlich kleiner und kostengünstiger realisiert werden.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen sind den jeweils abhängigen Ansprü­ chen und der Beschreibung zu entnehmen.
Erfindungsgemäß wird in einem Referenzierungsschritt, der beispielsweise noch beim Hersteller erfolgen kann, bei einer Referenztemperatur der Refe­ renzabstand zwischen zwei Abtaststellen eines Abtastkopfes unter Benut­ zung des Maßstabs ermittelt. Referenztemperatur und Referenzabstand werden in einer Auswerteeinheit gespeichert. Weiterhin werden dort die Temperaturausdehnungskoeffizienten des Abtastträgers und des Maßstab­ trägers gespeichert. Während dem normalen Betrieb wird dann in bestimm­ ten Zeitabständen der aktuelle Abstand zwischen den beiden Abtaststellen des Abtastkopfes bestimmt und unter Benutzung der gespeicherten Grössen die Temperatur des Meßsystems berechnet. Aufgrund dieser Temperatur kann dann die Ausdehnung des Maßstabträgers berechnet und kompensiert werden.
Weitere Vorteile und Einzelheiten des erfindungsgemäßen temperaturkom­ pensierten Meßsystems und des erfindungsgemäßen Verfahrens ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung eines Ausführungsbeispiels anhand der Zeichnungen. Dabei zeigt:
Fig. 1 die Draufsicht auf ein erfindungsgemäßes temperaturkom­ pensiertes Längenmeßsystem und
Fig. 2 einen Schnitt durch ein erfindungsgemäßes temperatur­ kompensiertes Längenmeßsystem.
Das erfindungsgemäße thermisch kompensierte Meßsystem wird im fol­ genden anhand eines Ausführungsbeispiels erläutert, das ein Längenmeß­ system beinhaltet. Es besteht jedoch die Möglichkeit, ohne wesentliche Änderungen, das erfindungsgemäße thermisch kompensierte Meßsystem auch als Winkelmeßsystem oder zweidimensionales Meßsystem auszuge­ stalten.
In Fig. 1 sind die wesentlichen Baugruppen des erfindungsgemäßen ther­ misch kompensierten Meßsystems schematisch in einer Draufsicht darge­ stellt. Der Abtastkopf 1 weist zwei Abtasteinheiten 1.1 und 1.2 auf, die in einem Abstand a0 in Meßrichtung auf einen Abtastträger 1.3 angeordnet sind. Der Abtastträger 1.3 ist aus einem Material gefertigt, welches einen Temperaturausdehnungskoeffizienten αA aufweist. Darunter ist ein Maßstab 2 angeordnet, der eine Maßstabteilung 2.1 aufweist, die in Meßrichtung auf einem Maßstabträger 2.2 angeordnet ist. Der Maßstabträger 2.2 weist einen Temperaturausdehnungskoeffizienten αM auf, der unterschiedlich ist zum Temperaturausdehnungskoeffizienten αA des Abtastträgers 1.3. Vorteilhaft wird der Abtastträger aus Zerodur gefertigt, welches einen Temperaturaus­ dehnungskoeffizienten αA von Null aufweist und der Maßstabträger 2.2 aus herkömmlichen Floatglas, das einen Temperaturausdehnungskoeffizienten αM von 7,5 K-1 aufweist.
Um eine relative Verschiebung zwischen zwei Baugruppen mit diesem Län­ genmeßsystem in Meßrichtung zu erfassen, wird der Abtastkopf 1 an einer ersten Baugruppe und der Maßstab 2 an einer zweiten Baugruppe befestigt, die in Meßrichtung relativ zueinander verschoben werden.
In Fig. 2 ist ein Schnitt durch ein erfindungsgemäßes thermisch kompen­ siertes Meßsystem dargestellt. Der Abtastkopf 1 mit seinen beiden Abtast­ einheiten 1.1 und 1.2, die in Meßrichtung mit einem Abstand a0 zueinander auf einem Abtastträger 1.3 angeordnet sind, befinden sich über einem Maß­ stab 2, der eine Teilung 2.1 aufweist, die auf einem Maßstabträger 2.2 auf­ gebracht wurde. Der Abtastträger 1.3 weist einen ersten Temperaturaus­ dehnungskoeffizienten αA und der Maßstabträger 2.2 einen zweiten Tempe­ raturausdehnungskoeffizienten αM auf. In Fig. 2 ist ein Durchlichtsystem dargestellt, bei dem insbesondere die Abtasteinheiten 1.1 und 1.2 von der dem Maßstab 2 gegenüberliegenden Seite mit Lichtbündeln h.ν bestrahlt werden, die durch den Abtastkopf 1 und den Maßstab 2 mit mehr oder weni­ ger starker Intensität hindurch treten und dann auf Detektoren 3.1 und 3.2 treffen. Die Detektoren 3.1 und 3.2 sind mit einer Auswerteeinheit 4 verbun­ den, an die sie ein zur Intensität der Lichtbündel h.ν proportionales Signal ausgeben.
Im folgenden wird das Verfahren zur Temperaturkompensation mit dem erfindungsgemäßen Meßsystem beschrieben.
In einem ersten Referenzierungsschritt, der unmittelbar nach Herstellung des Meßsystems erfolgen kann, wird der definierte Abstand a0 zwischen den beiden Abtasteinheiten 1.1 und 1.2 des Abtastkopfs 1 ermittelt. Dabei wird das gesamte Meßsystem zunächst auf eine konstante Referenztemperatur T0, vorzugsweise 20°Celsius, gebracht. Dann wird unter Verwendung des vorhandenen Maßstabs 2 der Referenzabstand a0 bestimmt. Bei Verwen­ dung von einem codierten Maßstab 2 wird dabei die Differenz aus den Abtastwerten der beiden Abtasteinheiten 1.1 und 1.2 berechnet. Diese in der Auswerteeinheit 4 berechnete Differenz ist der Referenzabstand a0 bei der Referenztemperatur T0. Wird ein inkrementaler Maßstab 2 verwendet, so wird beim Überfahren einer Referenzmarke durch eine erste Abtaststelle ein Zähler gestartet und beim Überfahren der gleichen Referenzmarke durch die zweite Abtaststelle der Zähler angehalten. Die Zähleranzeige entspricht dann dem Referenzabstand a0 bei der Referenztemperatur T0. Der Zähler kann dabei in der Auswerteeinheit 4 integriert sein. Referenzabstand a0, Referenztemperatur T0 und die Temperaturausdehnungskoeffizienten αA und αM von Abtastträger 1.3 und Maßstabträger 2.2 werden in einem vor­ zugsweise digitalen Speicher gespeichert, der vorzugsweise mit der Aus­ werteeinheit 4 verbunden ist.
Sind die Temperaturausdehnungskoeffizienten des Abtastträgers αA und des Maßstabträgers αM bekannt, kann dann im normalen Betrieb aus einem aktuell ermittelten Abstand a1 zwischen den beiden Abtasteinheiten 1.1 und 1.2 die Temperatur T1 des Meßsystems nach Gleichung (1) ermittelt werden:
Aus Gleichung (1) kann ein Korrekturwert K1 bestimmt werden zu:
Dabei wird davon ausgegangen, daß Maßstab 2 und Abtastkopf 1 die glei­ che Temperatur T, aufweisen. Aus dieser ermittelten Temperatur T1 kann anschließend der Positionswert xT0, bezogen auf einen temperaturunabhän­ gigen Fixpunkt x0 des Maßstabs 2 temperaturkompensiert auf die Tempera­ tur T0 nach Gleichung (3) ermittelt werden:
Dabei ist xT1 der bei der Temperatur T1 angezeigte Positionswert.
Sollen die Meßwerte an eine Ausdehnung eines zu bearbeitenden Werk­ stücks, das einen Temperaturausdehnungskoeffizienten αw aufweist, ange­ glichen werden, kann unter der Voraussetzung gleicher Temperatur an Werkstück und Maßstab gemäß Gleichung (4) ein thermisch kompensierter werkstückbezogener Meßwert xW0 berechnet werden:
Derart ist auch bei Werkzeugmaschinen mit Gantry-Achsen, die unter­ schiedliche Temperaturen aufweisen und bei denen jede Achse mit einem Meßsystem ausgestattet ist, eine Korrektur der Positionswerte möglich, um eine Schiefstellung des parallel zu den Gantry-Achsen verfahrenen Schlit­ tens zu verhindern. Wenn beide Meßsysteme für die Gantry-Achsen am Anfang des Maßstabs ihren Fixpunkt aufweisen, wird ohne Temperatur­ kompensation der Schlitten auf beiden Gantry-Achsen auf dem Meßwert x positioniert, was bei unterschiedlichen Temperaturen der beiden Meßsy­ steme eine Schiefstellung des Schlittens bedeutet. Um den Schlitten senk­ recht zu den Gantry-Achsen zu positionieren, muß in der ersten Achse die Position x um der Wert x1 und in der zweiten Achse die Position x um den Wert x2 korrigiert werden, bzw. eine Achse um den Betrag x1-x2 korrigiert werden. x1 und x2 berechnen sich wie folgt aus dem ursprünglichen Meßwert x und der individuellen Temperatur T, und T2, die gemäß Gleichung (2) eingeht:
Mit K1 = T1 - T0 und K2 = T2 - T0.
Die Berechnung der Werte zur thermischen Kompensation erfolgt im Meß­ system während der Messung, so daß das Meßsystem nur temperaturkom­ pensierte Werte an eine eventuell angeschlossene Steuerung ausgibt und diese derart von Rechenaufgaben entlastet.

Claims (10)

1. Thermisch kompensiertes Meßsystem,
das einen Maßstab (2) und einen Abtastkopf (1) aufweist, welcher den Maßstab (1) abtastet, um eine Relativbewegung zwischen einer Bau- gruppe, an der der Maßstab (2) befestigt ist und einer Baugruppe, an der der Abtastkopf (1) befestigt ist, zu erfassen,
bei dem der Maßstab (2) einen Maßstabträger (2.2) mit einem ersten Temperaturausdehnungskoeffizienten (αM) und mindestens eine Maß­ stabteilung (2.1) und der Abtastkopf (1) Abtasteinheiten (1.1, 1.2) und einen Abtastträger (1.3) mit einem zweiten Temperaturausdehnungs­ koeffizienten (αA) aufweist, wobei durch den Abtastträger (1.3) ein defi­ nierter Abstand (a0) zwischen den Abtasteinheiten (1.1, 1.2) eingestellt wird,
bei dem Detektoreinheiten (3.1, 3.2) für die Abtastsignale vorgesehen sind, deren Ausgangssignale einer Auswerteeinheit (4) zugeleitet wer­ den dadurch gekennzeichnet,
daß der Abtastkopf (1) zwei Abtasteinheiten (1.1, 1.2) aufweist, daß zwei Detektoreinheiten (3.1, 3.2) vorgesehen sind und daß die Auswer­ teeinheit (4) ausgestaltet ist, um aus der Relativverschiebung des Maß­ stabs (2) zu den beiden Abtaststellen (1.1, 1.2) die Temperatur (T) zu berechnen und das Meßergebnis thermisch zu kompensieren.
2. Meßsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Abtastträger (1.3) aus Zerodur besteht und einen Temperaturausdeh­ nungskoeffizienten (αA)von ungefähr Null aufweist.
3. Meßsystem nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Maßstabträger (2.2) aus Floatglas besteht und einen Temperaturaus­ dehnungskoeffizienten (αM) ungleich Null aufweist.
4. Meßsystem nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß es zur Längen- oder Winkelmessung ausgestaltet ist.
5. Verfahren zur thermischen Kompensation von Ausgangssignalen eines Meßsystems, bei dem in Meßrichtung der Unterschied in der thermisch bedingten Ausdehnung von zwei Trägern mit bekannten, unterschiedli­ chen Temperaturausdehnungskoeffizienten (αA, αM) ermittelt wird und daraus eine thermische Kompensation berechnet wird, dadurch gekennzeichnet, daß der Unterschied in der thermisch bedingten Ausdehnung zwischen Abtastträger (1.3) und Maßstabträger (2.2) ermittelt wird, daraus die Temperatur (T) berechnet wird und das Meßergebnis aufgrund der Temperatur (T) thermisch kompensiert wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß einmalig in einem Referenzierschritt bei bekannter Referenztemperatur (T0) unter Benutzung des Maßstabs (2) ein Referenzabstand (a0) zwischen den beiden Abtasteinheiten (1.1, 1.2) des Abtastkopfes (1) ermittelt wird.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß aus der bekannten Referenztemperatur (T0), dem bekannten Referenzabstand (a0), dem bekannten Temperaturausdeh­ nungskoeffizienten (αA) des Abtastträgers (1.3), dem bekannten Tempe­ raturausdehnungskoeffizienten (αM) des Maßstabträgers (2.2) und dem gemessenen Abstand (a1) die gegenwärtige Temperatur (T1) gemäß der Gleichung
berechnet wird.
8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß bei gleicher Temperatur (T1) an Werkstück und Maßstab (2) und bei bekanntem Temperaturausdehnungskoeffizienten (αw) des Werkstückmaterials eine thermische Kompensation des Meßwerts xT1 gemäß der Gleichung
erfolgt.
9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß aus der ermittelten gegenwärtigen Temperatur (T1) der detektierte Positionswert (x(T1)) in der Auswerteeinheit (4) gemäß der Gleichung
temperaturkompensiert wird.
10. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß es in einem Längen-, Winkel- oder zweidimensio­ nalen Meßsystem angewendet wird.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10313038A1 (de) * 2003-03-24 2004-10-21 Klingelnberg Gmbh Vorrichtung zur Erfassung der Lage eines Tastelements in einem Mehrkoordinatenmessgerät
CN100575886C (zh) * 2004-11-23 2009-12-30 菲高合作社 具有热膨胀补偿的光学测量装置
WO2010112082A1 (en) 2009-04-03 2010-10-07 Csem Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique Sa Recherche Et Developpement A one-dimension position encoder
FR2974897A1 (fr) * 2011-05-02 2012-11-09 Symetrie Dispositif lineaire de mesure de distance a faible sensibilite thermique.
EP2636991A1 (de) * 2012-03-07 2013-09-11 Hexagon Metrology S.p.A. Messmaschine mit kompensierten Meßsystem von thermisch bedingten Fehlern aufgrund der Dilatation des Maßstabs eines linearen Transducers
CN104807400A (zh) * 2014-01-23 2015-07-29 毕克-加特纳有限责任公司 用于校准光学测量仪器的装置
US20150233742A1 (en) * 2014-02-18 2015-08-20 Hexagon Technology Center Gmbh Linear encoder having calibration functionality
DE102021207512A1 (de) 2020-10-06 2022-04-07 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung
DE102021118091A1 (de) 2021-07-13 2023-01-19 Neura Robotics GmbH Encodersystem sowie Verfahren zur Bestimmung der Lesekopfposition in einem Encodersystem

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10313038A1 (de) * 2003-03-24 2004-10-21 Klingelnberg Gmbh Vorrichtung zur Erfassung der Lage eines Tastelements in einem Mehrkoordinatenmessgerät
DE10313038B4 (de) * 2003-03-24 2005-02-17 Klingelnberg Gmbh Vorrichtung zur Erfassung der Lage eines Tastelements in einem Mehrkoordinatenmessgerät
US7114265B2 (en) 2003-03-24 2006-10-03 Klingelnberg Gmbh Apparatus for detecting the position of a probe element in a multi-coordinate measuring device
CN100575886C (zh) * 2004-11-23 2009-12-30 菲高合作社 具有热膨胀补偿的光学测量装置
WO2010112082A1 (en) 2009-04-03 2010-10-07 Csem Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique Sa Recherche Et Developpement A one-dimension position encoder
EP2423645A2 (de) 2009-04-03 2012-02-29 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement Eindimensionaler Positionscodierer
US8698892B2 (en) 2009-04-03 2014-04-15 Csem Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique Sa - Recherche Et Developpement One-dimension position encoder
FR2974897A1 (fr) * 2011-05-02 2012-11-09 Symetrie Dispositif lineaire de mesure de distance a faible sensibilite thermique.
US20130232805A1 (en) * 2012-03-07 2013-09-12 Hexagon Metrology S.P.A. Measuring machine provided with a system for compensating measuring errors due to thermal expansion of a scale of a linear transducer
CN103307949A (zh) * 2012-03-07 2013-09-18 海克斯康测量技术有限公司 具有补偿由线性转换器的标尺的热膨胀所引起的测量误差的系统的测量机
EP2636991A1 (de) * 2012-03-07 2013-09-11 Hexagon Metrology S.p.A. Messmaschine mit kompensierten Meßsystem von thermisch bedingten Fehlern aufgrund der Dilatation des Maßstabs eines linearen Transducers
CN104807400A (zh) * 2014-01-23 2015-07-29 毕克-加特纳有限责任公司 用于校准光学测量仪器的装置
CN104807400B (zh) * 2014-01-23 2021-02-05 毕克-加特纳有限责任公司 用于校准光学测量仪器的装置
US20150233742A1 (en) * 2014-02-18 2015-08-20 Hexagon Technology Center Gmbh Linear encoder having calibration functionality
US9846063B2 (en) * 2014-02-18 2017-12-19 Hexagon Technology Center Gmbh Linear encoder having calibration functionality
DE102021207512A1 (de) 2020-10-06 2022-04-07 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung
EP3982088A1 (de) 2020-10-06 2022-04-13 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Positionsmesseinrichtung
DE102021118091A1 (de) 2021-07-13 2023-01-19 Neura Robotics GmbH Encodersystem sowie Verfahren zur Bestimmung der Lesekopfposition in einem Encodersystem

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