JP6688219B2 - 物体視野を像視野内に結像するための投影光学ユニット及びそのような投影光学ユニットを含む投影露光装置 - Google Patents

物体視野を像視野内に結像するための投影光学ユニット及びそのような投影光学ユニットを含む投影露光装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6688219B2
JP6688219B2 JP2016530459A JP2016530459A JP6688219B2 JP 6688219 B2 JP6688219 B2 JP 6688219B2 JP 2016530459 A JP2016530459 A JP 2016530459A JP 2016530459 A JP2016530459 A JP 2016530459A JP 6688219 B2 JP6688219 B2 JP 6688219B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirrors
optical unit
projection
projection optical
mirror
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016530459A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2016525720A (ja
JP2016525720A5 (ja
Inventor
マルクス シュバープ
マルクス シュバープ
Original Assignee
カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー filed Critical カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー
Publication of JP2016525720A publication Critical patent/JP2016525720A/ja
Publication of JP2016525720A5 publication Critical patent/JP2016525720A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6688219B2 publication Critical patent/JP6688219B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B17/00Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
    • G02B17/02Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system
    • G02B17/06Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror
    • G02B17/0647Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror using more than three curved mirrors
    • G02B17/0663Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror using more than three curved mirrors off-axis or unobscured systems in which not all of the mirrors share a common axis of rotational symmetry, e.g. at least one of the mirrors is warped, tilted or decentered with respect to the other elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/08Mirrors
    • G02B5/0891Ultraviolet [UV] mirrors
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70008Production of exposure light, i.e. light sources
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70233Optical aspects of catoptric systems, i.e. comprising only reflective elements, e.g. extreme ultraviolet [EUV] projection systems
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • G21K1/067Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators using surface reflection, e.g. grazing incidence mirrors, gratings

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Lenses (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

ドイツ特許出願第10 2013 214 770.8号明細書、第10 2014 203 190.7号明細書、及び第10 2014 208 770.8号明細書の内容は、引用によって本明細書に組み込まれている。
本発明は、物体視野を像視野内に結像するための投影光学ユニットに関する。更に、本発明は、そのような投影光学ユニットを含む光学系、そのような光学系を含む投影露光装置、そのような投影露光装置を用いて微細構造化又はナノ構造化構成要素を生成する方法、及び本方法によって生成された微細構造化又はナノ構造化構成要素に関する。
冒頭に示したタイプの投影光学ユニットは、DE 10 2012 202 675 A1、DE 10 2009 011 328 A1、US 8 027 022 B2、及びUS 6 577 443 B2から公知である。投影露光装置のための照明光学ユニットは、DE 10 2009 045 096 A1から公知である。
ドイツ特許出願第10 2013 214 770.8号明細書 ドイツ特許出願第10 2014 203 190.7号明細書 ドイツ特許出願第10 2014 208 770.8号明細書 DE 10 2012 202 675 A1 DE 10 2009 011 328 A1 US 8 027 022 B2 US 6 577 443 B2 DE 10 2009 045 096 A1 WO 2012/126867 A DE 101 55 711 A US 2007−0058269 A1 US 2013/0128251 A1
本発明の目的は、十分に補正され、同時に高い結像光スループットを有する結像可能視野をもたらすような冒頭に示したタイプの投影光学ユニットを開発することである。
本発明により、上述の目的は、当初請求項1に指定している特徴を含む投影光学ユニット、及び当初請求項10に指定している特徴を含むEUV投影光学ユニットによって達成される。
本発明により、投影光学ユニット内のかすめ入射に向けて互いに直接前後して配置された2つのミラーが、結像される全視野にわたって均一な高い結像光スループットを有する投影光学ユニットを設計する可能性を誘導し、同時に、かすめ入射を有するミラーを用いて像視野内の像を補正するための自由度が更に与えられることが見出された。
投影光学ユニットのミラーは、結像光反射率を高めるコーティングを担持することができる。これらのコーティングに対するコーティング材料としてルテニウム及び/又はモリブデンを使用することができる。
かすめ入射ミラーは、75%と95%の間にあり、特に少なくとも80%とすることができる反射率を有することができる。かすめ入射ミラーは、入射角に線形に依存する反射率を有することができる。そのような直線依存性は、同じく入射角への反射率の対応する直線依存性を有するかすめ入射のための少なくとも1つの更に別のミラーの使用によって補償することができる。投影光学ユニットは、特に5nmと30nmの間の範囲のEUV結像光波長に適している。かすめ入射ミラー上への結像光の入射角は、65°よりも大きいとすることができ、70°よりも大きいとすることができ、72°よりも大きいとすることができ、75°よりも大きいとすることができ、80°よりも大きいとすることができ、又は同じく85°よりも大きいとすることができる。
投影光学ユニットは、反射レチクルの一部分を結像するように具現化することができる。この目的に対して、中心物体視野点の主光線は、物体平面の法線の間に3°よりも大きく、例えば、5.5°に等しい角度を含むことができる。
少なくとも2つのかすめ入射ミラーの一方は、結像ビーム経路内で物体視野の下流にある投影光学ユニットの最初のミラーとすることができる。かすめ入射ミラーは、平面から偏位する反射面を有することができ、特に像収差補正面形状を有することができる。かすめ入射ミラーの反射面は、非球面として又は他に回転対称性を持たない自由曲面として具現化することができる。
かすめ入射ミラー上の反射領域内には、中間像平面を配置することができる。それによってかすめ入射ミラーの領域内で結像光ビームの有利な収縮が引き起こされ、従って、かすめ入射ミラーが不適切に大きい反射面を必要とすることが回避される。
投影光学ユニットは、反射光学ユニットとして具現化することができる。
投影光学ユニットは、照明光のための通過開口部を有する少なくとも1つのミラーを含むことができる。投影光学ユニットは、掩蔽光学ユニットとして具現化することができる。
これに代えて、投影光学ユニットは、投影光学ユニットの全てのミラーの反射面が全体を通じて使用されるように具現化することができる。投影光学ユニットは、非掩蔽光学ユニットとして具現化することができる。
投影光学ユニットの少なくとも1つのミラーの照明光による光学入射を受ける反射面、すなわち、使用反射面のx/yアスペクト比は、1よりも小さいとすることができ、0.8よりも小さいとすることができ、0.7に等しいとすることができ、0.7よりも小さいとすることができ、0.6よりも小さいとすることができ、かつ0.5に等しいとすることができる。この場合に、y座標は、それぞれ観察されるミラーの入射平面に位置する。x座標は、それぞれ観察されるミラーの入射平面と垂直に位置する。物体が結像されることになる走査方向、及び/又はその上で結像が発生する基板も、y座標に沿って延びることができる。
投影光学ユニットの少なくとも1つのミラーの照明光による光学入射を受ける反射面、すなわち、使用反射面のx/yアスペクト比は、1よりも大きいとすることができ、2に等しいとすることができ、2よりも大きいとすることができ、2.5に等しいとすることができ、2.5よりも大きいとすることができ、3よりも大きいとすることができ、4よりも大きいとすることができ、5よりも大きいとすることができ、6よりも大きいとすることができ、7.5に等しいとすることができ、10よりも大きいとすることができ、かつ15に等しいとすることができる。
投影光学ユニットは、互いに直接前後して配置された少なくとも1つのGIミラー対(GI mirror pair:GIミラーペア)、すなわち、2つのかすめ入射ミラーに加えて、更に単一GIミラーが存在するミラーシーケンスを有することができる。投影光学ユニットは、3つの連続するGIミラーを有することができる。
投影光学ユニットは、鞍面の実施形態を有し、すなわち、1つの平面内で正の屈折力を有し、この平面に対して垂直な平面内で負の屈折力を有する少なくとも1つのミラーを含むことができる。投影光学ユニットは、複数のそのような鞍形ミラーを有することができる。
当初請求項2に記載の正確に2つのかすめ入射ミラーは、投影光学ユニットに特に適することが見出されている。
当初請求項3に記載の物体平面と像平面の間の角度は、結像光ビーム経路又は結像ビーム経路の特に小型の案内を可能にする。この角度は、1°よりも大きいとすることができ、2°よりも大きいとすることができ、3°よりも大きいとすることができ、5°よりも大きいとすることができ、7°よりも大きいとすることができ、10°よりも大きいとすることができ、20°よりも大きいとすることができ、30°よりも大きいとすることができ、かつ39°に等しいとすることができる。
当初請求項4に記載の正確に4つのかすめ入射ミラーも、特に適切であることが見出されている。
当初請求項5に記載のかすめ入射ミラーの対配置は、入射角依存性反射を補償するのに適することが見出されている。かすめ入射ミラー対の間には、少なくとも1つの法線入射ミラーが位置することができる。かすめ入射ミラーの対は、連続して配置された2つのミラーの偏向効果が合算されるように、すなわち、反射角が加算されるように配置することができる。そのような実施形態は、かすめ入射ミラー上での入射角依存性反射の補償を可能にする。これに代えて、かすめ入射ミラーには、投影光学ユニットを通る結像光のビーム経路内の異なる点にある補償かすめ入射ミラーを割り当てることができ、かすめ入射ミラー上に比較的大きい入射角で入射する個々の光線は、相応に補償ミラー上にそれよりも小さい入射角で入射し、その逆も同様である。かすめ入射を受けるミラーとそれに割り当てられた補償ミラーとの間には、更に別のかすめ入射ミラー及び/又は法線入射ミラーを配置することができる。投影光学ユニット内に2つよりも多いかすめ入射ミラーが設けられる限りにおいて、補償ミラーの補償効果は、他のかすめ入射ミラーのうちの1つよりも多いものに付与することができる。従って、例えば、3つのかすめ入射ミラーの場合に、2つの更に別のかすめ入射ミラーに関する反射の入射角依存性を補償する1つの補償かすめ入射ミラーを設けることができる。
当初請求項6に記載の実施形態は、投影光学ユニットに対して課せられる境界条件を満たすのに特に適することが見出されている。少なくとも2つの法線入射ミラーは、40°よりも小さく、35°よりも小さく、30°よりも小さく、25°よりも小さく、20°よりも小さく、かつそれよりも更に小さいとすることができる結像光の入射角による入射を受けることができる。
当初請求項7に記載の4つの法線入射ミラーは、特に良好な像補正を有する投影光学ユニットのオプションをもたらす。
投影光学ユニットの像側開口数は、少なくとも0.4又は0.5又は0.6とすることができる。そのような投影光学ユニットは、特に高い分解能を可能にする。
当初請求項8に記載の投影光学ユニットの全体反射率は、9.75%とすることができ、10%よりも高いとすることができ、11%よりも高いとすることができ、11.97%に等しいとすることができ、12%よりも高いとすることができ、かつ特に12.2%に等しいとすることができる。特にミラー上の反射強化コーティングの実施形態に基づいて、より高い全体反射率も可能である。
当初請求項9に記載のEUV投影光学ユニットは、EUV結像光に対して高い構造分解能と高いスループットとを同時に有する。すなわち、投影中に使用光は殆ど失われず、それによって露光所要時間が短縮され、従って、そのようなEUV投影光学ユニットが装備された投影露光装置のウェーハスループットが高まる。全体反射率は、8%よりも高いとすることができ、9%よりも高いとすることができ、10%よりも高いとすることができ、又は更に高いとすることができる。
当初請求項10に記載の歪像光学ユニットとして具現化された投影光学ユニットは、特に有利であることが見出されている。
歪像光学ユニットは、異なる視野座標、特に直交視野座標に対して異なる結像スケールを有する。本明細書では、投影光学ユニットの絶対縮小率を結像スケールと呼ぶ。従って、一例として4倍だけ縮小する投影光学ユニットは、4の結像スケールを有する。この場合に、より大きい結像スケールは、縮小率の増大があることを意味する。従って、この意味の範囲では、8倍の縮小を有する投影光学ユニットは、4倍の縮小を有する投影光学ユニットよりも大きい結像スケールを有する。
歪像光学ユニットは、方向依存性、すなわち、視野座標依存性の物体側開口数を有することができる。
物体側開口数が増大する場合に、物体側主光線角度を大きくする必要があり、それによって時に吸収体構造による遮蔽効果がもたらされ、層の伝達率に関する問題、特にレチクルコーティングによる強いアポディゼーション効果がもたらされることが明らかになっている。更に、歪像結像光学ユニット、特に歪像結像投影レンズを用いて、定められたサイズを有するレチクルは、物体視野から定められた結像スケールで定められた照明視野に結像することができ、この場合に、照明視野は、第1の結像スケールの方向には完全に照明され、一方、第2の方向の高い結像スケールは、投影露光装置のスループットに対して悪影響を持たず、適切な対策によって補償することができることが明らかになっている。
従って、歪像レンズは、第1の方向の大きい物体側開口数による像区域の完全な照明を結像レチクルの広がりをこの第1の方向に拡大する必要なく、更にそれによって投影露光装置のスループットの低下をもたらすことなく可能にし、それと共に照明光の斜方入射によって引き起こされる結像品質の損失の最小化をも可能にする。
2つの主断面の方向に同じ符号を有する結像スケールを有する結果として、像反転(「像フリップ」)が回避される。光学ユニットは、特に2つの主断面の方向に正の結像スケールを有する。
歪像光学ユニットは、反射物体上への結像光の可能な限り小さい入射角の生成を助ける。物体上への結像光の入射平面と垂直に、大きい物体側開口数が存在することができる。円筒形光学ユニットの使用は、歪像光学ユニットを構成するのに必須ではない。異なる結像スケールは、両方の視野座標に対して正号を有することができる。異なる結像スケールは、両方の視野座標に対して縮小効果を有することができる。歪像光学ユニットは、楕円形入射瞳及び/又は楕円形射出瞳を有することができる。歪像投影光学ユニットは、回転対称射出瞳及びn回回転対称射出瞳を有することができる。直交視野座標に対して異なる結像スケールは、少なくとも1.1倍だけ、少なくとも1.2倍だけ、少なくとも1.3倍だけ、少なくとも1.4倍だけ、少なくとも1.5倍だけ、少なくとも1.7倍だけ、少なくとも2倍だけ、少なくとも2.5倍だけ、少なくとも3倍だけ、又は他に更に大きい倍数だけ異なるとすることができる。
当初請求項11、当初請求項12、及び当初請求項16の利点は、上記に既に解説したものに対応する。小さい結像スケールは、小さい縮小効果に対応する。
当初請求項13及び当初請求項14に記載の結像スケールは、特に適切であることが見出されている。一例として、2つの異なる結像スケールのうちの小さい方は、5.4とすることができ、5よりも小さいとすることができ、4に等しいとすることができ、又は更に小さいとすることができる。2つの異なる結像スケールのうちの大きい方は、7に等しいとすることができ、8に等しいとすることができ、又は更に大きいとすることができる。
自由曲面として具現化される当初請求項15に記載のミラー反射面は、投影光学ユニットに関する設計自由度の拡張を可能にする。特に歪像効果を複数のミラー面上に分散させることができる。
当初請求項17から当初請求項19に記載の開口数及び像視野寸法は、投影露光装置において使用中の結像品質及びウェーハ露光に関する要件に非常に適合されたものである。
投影光学ユニットは、開口絞りを有することができる。この開口絞りは、平面に位置するか、又は他に3次元実施形態を有することができる。開口絞りの広がりは、走査方向にそれに対して垂直な方向よりも小さいとすることができる。
投影光学ユニットは、掩蔽絞りを有することができる。開口絞りに関して上述したことは、掩蔽絞りの実施形態に関して適用される。
当初請求項20に記載の広がり比を有する絞りは、投影光学ユニットの歪像効果に適合されたものである。絞りは、投影光学ユニットの入射瞳平面に配置することができる。短い物体視野寸法に沿った広がりと長い物体視野寸法に沿った広がりとの比は、長い物体視野寸法における縮小結像スケールと短い物体視野寸法における縮小結像スケールとの比に対応することができる。
投影光学ユニットに関して上記に解説した特徴は、互いとのあらゆる組合せで実現することができる。
当初請求項20に記載の光学系の利点は、投影光学ユニットに関して上述したものに対応する。歪像投影光学ユニットが使用される場合に、照明光学ユニットは、投影光学ユニットの非回転対称入射瞳に適応させることができる。
投影光学ユニットの利点は、当初請求項21に記載の光学系において特に有意である。EUV光源に対して可能な作動波長は、13.5nmとすることができる。これに代えて、DUV光源、すなわち、例えば、193nmの波長を有する光源を使用することができる。
当初請求項22に記載の投影露光装置の利点は、投影光学ユニットに関して上述したものに対応する。
当初請求項23に記載の投影露光装置は、歪像投影光学ユニットの利点を使用する。
当初請求項24に記載のレチクルは、歪像投影光学ユニットに適合されたものである。
当初請求項25に記載の生成方法、当初請求項26に記載の微細構造化及びナノ構造化構成要素の利点は、投影光学ユニット、光学系、及び投影露光装置に関して上述したものに対応する。
[当初請求項1]
物体視野(4)を像視野(8)内に結像するための投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)であって、
前記物体視野(4)から前記像視野(8)に結像光(3)を案内するための複数のミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)を含み、
前記ミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)のうちの少なくとも2つが、60°よりも大きい前記結像光(3)の入射角を有するかすめ入射のために該結像光(3)のビーム経路に互いに直接に前後して配置されるミラー(M2,M3;M5,M6;M1,M2;M1,M2,M3;M3,M4;M6,M7;M4,M5;M2からM6;M1からM4,M6からM9)として具現化される、
ことを特徴とする投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)。
[当初請求項2]
正確に2つのかすめ入射のためのミラー(M1,M2)を特徴とする当初請求項1に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項3]
前記像視野(8)が配置された像平面(9)との0°とは異なる角度を含み、前記物体視野(4)が配置された物体平面(5)を特徴とする当初請求項1又は当初請求項2に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項4]
正確に4つのかすめ入射のためのミラー(M2,M3,M5,M6)を特徴とする当初請求項1又は当初請求項3に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項5]
前記4つのかすめ入射のためのミラー(M2,M3,M5,M6)は、それぞれ、前記結像光(3)の前記ビーム経路に互いに直接に前後して対方式(pairwise manner)(M2,M3;M5,M6)で配置されることを特徴とする当初請求項4に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項6]
45°よりも小さい前記結像光(3)の入射角を有する法線入射のための少なくとも2つのミラー(M1,M4,M7,M8;M3からM6;M4からM7;M2,M5,M8,M9;M1,M3,M6,M7;M1,M7,M8;M5,M10,M11)を特徴とする当初請求項1から当初請求項5のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項7]
45°よりも小さい前記結像光(3)の入射角を有する法線入射のための4つのミラー(M1,M4,M7,M8;M3からM6;M4からM7)を特徴とする当初請求項6に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項8]
9%よりも高い投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)の全てのミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)の反射率の積として出現する投影光学ユニット(7;20;21)の全体反射率を特徴とする当初請求項1から当初請求項7のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項9]
物体視野(4)を像視野(8)に結像するためのEUV投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)であって、
前記物体視野(4)から前記像視野(8)まで結像光(3)を案内するための複数のミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)を含み、
少なくとも0.4の像側開口数を有し、
7%よりも高い投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)の全てのミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)の反射率の積として出現する投影光学ユニット(7;20;21)の全体反射率を有する、
ことを特徴とするEUV投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)。
[当初請求項10]
物体視野(4)を像視野(8)に結像するための投影光学ユニット(34;35;36;37)であって、
前記物体視野(4)から前記像視野(8)まで結像光(3)を案内するための複数のミラー(M1からM8)を含み、
少なくとも1つのミラー(M2,M3,M5,M6)が、60°よりも大きい前記結像光(3)の入射角を有するかすめ入射のためのミラーとして具現化され、
投影光学ユニット(34;35;36;37)が、前記像視野(8)を張る(span)2つの異なる方向に2つの異なる結像スケール(β x ,β y )を有する、
ことを特徴とする投影光学ユニット(34;35;36;37)。
[当初請求項11]
前記物体視野(4)は、1よりも大きいxyアスペクト比を有し、投影光学ユニットの前記異なる結像スケールは、このアスペクト比のこれらの2つの物体視野寸法の方向(x,y)に存在することを特徴とする当初請求項10に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項12]
より長い物体視野寸法(x)における縮小結像スケール(β x )が、それと垂直なより短い物体視野寸法(y)におけるものよりも小さいことを特徴とする当初請求項11に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項13]
前記2つの異なる結像スケールのうちの前記より小さいもの(β x )は、6よりも小さいことを特徴とする当初請求項10から当初請求項12のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項14]
前記2つの結像スケールのうちの前記より大きいもの(β y )は、少なくとも6であることを特徴とする当初請求項10から当初請求項13のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項15]
前記ミラーのうちの少なくとも1つが、自由曲面の形態の反射面を有することを特徴とする当初請求項1から当初請求項14のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項16]
方向依存性物体側開口数を特徴とする当初請求項10から当初請求項15のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項17]
少なくとも0.4の像側開口数と、
7°よりも小さい視野中心点に対する物体側主光線角度(CRAO)と、
を特徴とし、
前記像視野(8)は、視野寸法(x)に沿って13mmよりも大きい広がりを有する、 ことを特徴とする当初請求項1から当初請求項16のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項18]
少なくとも0.5の開口数を特徴とする当初請求項17に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項19]
一方の視野寸法(x)において20mmよりも大きい前記像視野(8)の広がりを特徴とする当初請求項17又は当初請求項18に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項20]
より短い物体視野寸法(y)に沿ったその広がりがより長い物体視野寸法(x)に沿ったものよりも小さい絞り縁部を有する絞り(18)を特徴とする当初請求項11から当初請求項18のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項21]
当初請求項1から当初請求項20のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項22]
当初請求項1から当初請求項21のいずれか1項に記載の投影光学ユニットと、
照明及び結像光(3)で物体視野(4)を照明するための照明光学ユニット(6)と、 を含むことを特徴とする光学系。
[当初請求項23]
EUV光源(2)を特徴とする当初請求項22に記載の光学系。
[当初請求項24]
投影リソグラフィのための投影露光装置であって、
当初請求項22又は当初請求項23に記載の光学系、
を含むことを特徴とする投影露光装置。
[当初請求項25]
走査方向(y)に変位させることができてレチクル(10)を保持するためのレチクルホルダ(10a)を含み、
前記走査方向における投影光学ユニットの結像スケールが、それと垂直な方向におけるものよりも大きい、
ことを特徴とする当初請求項24に記載の投影露光装置。
[当初請求項26]
当初請求項24又は当初請求項25に記載の投影露光装置のためのレチクル(10)であって、
少なくとも104mmx132mmの広がりを有する、
ことを特徴とするレチクル(10)。
[当初請求項27]
構造化構成要素を生成する方法であって、
レチクル(10)及びウェーハ(11)を与える段階と、
当初請求項24又は当初請求項25に記載の投影露光装置を用いて前記レチクル(10)上の構造を前記ウェーハ(11)の感光層の上に投影する段階と、
前記ウェーハ(11)上に微細構造又はナノ構造を生成する段階と、
を含むことを特徴とする方法。
[当初請求項28]
当初請求項27に記載の方法に従って生成された構造化構成要素。
これらの投影露光装置は、特に、半導体構成要素、例えば、メモリチップを生成するのに使用することができる。
本発明の例示的実施形態を図面に基づいて以下に詳細に説明する。
EUVマイクロリソグラフィのための投影露光装置の概略図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの実施形態を示し、2つの代表的な視野点の主光線、並びに上側及び下側のコマ光線を描示する子午断面図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができ、湾曲視野と物体視野から発する発散主光線とを有する結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図14において視線方向XVから見た図14に記載の結像光学ユニットの図である。 図14及び図15に記載の結像光学ユニットのミラーの光学的使用面の縁部輪郭の図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図16において視線方向XVIIから見た図16に記載の結像光学ユニットの図である。 図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図18において視線方向XIXから見た図18に記載の結像光学ユニットの図である。 歪像光学ユニットとして構成され、図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図20において視線方向XXIから見た図20に記載の結像光学ユニットの図である。 図20及び図21に記載の結像光学ユニットのミラーの光学的使用面の縁部輪郭の図である。 歪像光学ユニットとして構成され、図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図22において視線方向XXIIIから見た図22に記載の結像光学ユニットの図である。 歪像光学ユニットとして構成され、図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図24において視線方向XXVから見た図24に記載の結像光学ユニットの図である。 瞳掩蔽のない歪像光学ユニットとして構成され、図1に記載の投影露光装置内で投影レンズとして使用することができる結像光学ユニットの更に別の実施形態を示す図2と類似の図である。 図26において視線方向XXVIIから見た図26に記載の結像光学ユニットの図である。
マイクロリソグラフィ投影露光装置1は、照明光又は結像光3のための光源2を含む。光源2は、例えば、5nmと30nmの間、特に5nmと15nmの間の波長領域の光を生成するEUV光源である。特に、光源2は、13.5nmの波長を有する光源、又は6.9nmの波長を有する光源とすることができる。他のEUV波長も可能である。一般的に、投影露光装置1内で案内される照明光3に対して、あらゆる望ましい波長、例えば、可視波長、又は他にマイクロリソグラフィにおいて用途を見出すことができ(例えば、DUV、真空紫外)、適切なレーザ光源及び/又はLED光源が利用可能な他の波長(例えば、365nm、248nm、193nm、157nm、129nm、109nm)も可能である。照明光3のビーム経路を図1に非常に概略的に描示している。
照明光学ユニット6は、照明光3を光源2から物体平面5の物体視野4に案内するように機能する。物体視野4は、投影光学ユニット又は結像光学ユニット7を用いて、定められた縮小スケールで像平面9の像視野8に結像される。
投影露光装置1及び投影光学ユニット7の様々な実施形態の説明を簡略化するために、図面内に直交xyz座標系を指定し、この座標系から、図内に描示す構成要素の間のそれぞれの位置関係が明らかになる。図1では、x方向は、作図面と垂直に、その中に入り込むように延びている。y方向は左に、z方向は上方に延びている。
物体視野4及び像視野8は矩形である。これに代えて、物体視野4及び像視野8を曲げ又は曲率を有するように、すなわち、特に部分環の形態で具現化することも可能である。物体視野4及び像視野8は、1よりも大きいx/yアスペクト比を有する。従って、物体視野4は、x方向に長い物体視野寸法を有し、y方向に短い物体視野寸法を有する。これらの物体視野寸法は、視野座標x及びyに沿って延びている。
図2及びそれ以降に描示す例示的実施形態のうちの1つを投影光学ユニット7に向けて使用することができる。図2に記載の投影光学ユニット7は、8の縮小率を有する。他の縮小スケール、例えば、4x、5x、又は他に8xよりも大きい縮小スケールも可能である。図2、並びに図5及びそれ以降に記載の実施形態において、投影光学ユニット7における像平面9は、物体平面5と平行に配置される。図1には、物体視野4と一致するレチクルとも呼ぶ反射マスク10の区画を描示している。レチクル10は、レチクルホルダ10aによって担持される。レチクルホルダ10aは、レチクル変位ドライブ10bによって変位される。
投影光学ユニット7による結像は、基板ホルダ12によって担持されるウェーハの形態にある基板11の面上に実施される。基板ホルダ12は、ウェーハ変位ドライブ又は基板変位ドライブ12aによって変位される。
図1には、レチクル10と投影光学ユニット7の間に、投影光学ユニット7に入射する照明光3のビーム13を略示しており、それと同じく投影光学ユニット7と基板11の間に、投影光学ユニット7から射出する照明光3のビーム14を略示している。図1では、投影光学ユニット7の像視野側開口数(NA)を正確な縮尺では再現していない。
投影露光装置1は、スキャナタイプ装置である。投影露光装置1の作動中に、レチクル10と基板11の両方がy方向に走査される。基板11の個々の露光間にレチクル10及び基板11のy方向の逐次変位があるステッパタイプ投影露光装置1も可能である。これらの変位は、変位ドライブ10b及び12aの適切な作動によって互いに同期される。
図2は、投影光学ユニットの第1の実施形態7の光学設計を示している。図2には、各々互いから図2のy方向に離間した2つの物体視野点から発する3つの個々の光線15のビーム経路を描示している。主光線16、すなわち、投影光学ユニット7の瞳平面内の瞳の中心を通って延びる個々の光線15と、各々これらの2つの物体視野点のものである上側及び下側のコマ光線とを描示している。物体視野4から発する主光線16は、物体平面5の法線の間に5.5°の角度CRAOを含む。
物体平面5は、像平面9と平行に位置する。
投影光学ユニット7は、0.45の像側開口数を有する。
投影光学ユニット7は、8xの縮小結像スケールを有する。
図2に記載の投影光学ユニット7は、物体視野4から発する個々の光線15のビーム経路の順番にM1からM8までの番号が順次振られた合計で8つのミラーを有する。結像光学ユニット7は、異なる個数のミラー、例えば、4つ又は6つのミラーを有することができる。
図2は、ミラーM1からM8の計算上の反射面を描示している。図2に記載の図から分るように、これらの計算上の反射面の一部分しか使用されない。反射面のうちで実際に使用されるこの領域のみが、現実のミラーM1からM8に存在する。これらの使用反射面は、ミラー本体によってそれ自体公知の方式で担持される。
図2に記載の投影光学ユニット7では、ミラーM1、M4、M7、及びM8は、法線入射ミラー、すなわち、結像光3が45°よりも小さい入射角で入射するミラーとして具現化される。従って、図2に記載の投影光学ユニット7は、合計で4つの法線入射ミラーM1、M4、M7、及びM8を有する。
ミラーM2、M3、M5、及びM6は、照明光3のかすめ入射のためのミラー、すなわち、照明光3が60°よりも大きい入射角で入射するミラーである。かすめ入射ミラーM2、M3、及びM5、M6上への結像光3の個々の光線15の典型的な入射角は、80°の領域内にある。全体的に、図2に記載の投影光学ユニット7は、正確に4つのかすめ入射ミラーM2、M3、M5、及びM6を含む。
ミラーM2及びM3は、結像光3のビーム経路内で互いに直接前後して配置されるミラー対を形成する。更に、ミラーM5及びM6も、結像光3のビーム経路内で互いに直接前後して配置されるミラー対を形成する。
一方でミラー対M2、M3、他方でM5、M6は、これら2つのミラー対のそれぞれのミラーM2、M3、又はM5、M6上での個々の光線15の反射角が加算されるように結像光3を反射する。従って、それぞれのミラー対M2、M3及びM5、M6のそれぞれの第2のミラーM3及びM6は、それぞれの最初のミラーM2、M5によってそれぞれの個々の光線15に対して作用される偏向効果を増幅する。ミラー対M2、M3及びM5、M6のミラーのこの配置は、DE 10 2009 045 096 A1に照明光学ユニットに対して記載されているものに対応する。
かすめ入射ミラーM2、M3、M5、及びM6は、各々半径に関して非常に大きい絶対値を有し、すなわち、平面からの比較的小さいずれ(deviation)を有する。従って、これらのかすめ入射ミラーM2、M3、M5、及びM6は、光学屈折力(光学パワー:optical power)を事実上持たず、すなわち、凹ミラー又は凸ミラーのように全体的なビーム形成効果を有することは事実上ないが、特定の収差補正、特に局所収差補正に寄与する。
投影光学ユニット7のミラーの偏向効果を特徴付けるために、以下に続く本文では、それぞれ描示する子午断面に基づいて偏向方向を定める。例えば、図2に記載の子午断面内でそれぞれ入射するビームの方向に見た場合に、それぞれのミラーの時計周り方向の偏向効果、すなわち、右への偏向を略記号「R」で表している。一例として、投影光学ユニット7のミラーM1は、そのような「R」偏向効果を有する。ミラー上に入射するそれぞれのビームの方向から見た場合に、このミラーの反時計周り方向、すなわち、左への偏向効果を略記号「L」で表している。投影光学ユニット7のミラーM2及びM3は、「L」偏向効果に関する例である。−1°<f<1°が適用される折り返し角fを有するミラーの弱い偏向効果又は皆無の偏向効果を略記号「0」で表している。投影光学ユニット7のミラーM7は、「0」偏向効果に関する例である。全体的に、投影光学ユニット7は、ミラーM1からM8に関してRLLLRR0Lの偏向効果の順番を有する。
原理的に、説明する投影光学ユニットの全ての例示的実施形態は、xz平面と平行に延びる平面に関して鏡像反転させることができ、この場合に、基本的な結像特性が変化しない。しかし、当然ながら、この鏡像反転は偏向効果の順番を変化させ、例えば、投影光学ユニット7から対応する鏡像反転によって出現する投影光学ユニットの場合に、LRRRLL0Rの順番を有する。
偏向効果の選択、すなわち、例えば、ミラーM4上へのそれぞれの入射ビームの方向の選択、及びミラー対M2、M3及びM5、M6の偏向方向の選択は、各々投影光学ユニット7に対して利用可能な設置空間が効率的に使用されるような選択である。
ミラーM1からM8は、結像光3に対するミラーM1からM8の反射率を最適化するコーティングを担持する。このコーティングは、ルテニウムコーティング、モリブデンコーティング、又は最上位にルテニウム層を有するモリブデンコーティングとすることができる。かすめ入射ミラーM2、M3、M5、及びM6では、例えば、モリブデン又はルテニウムから構成される段を有するコーティングを使用することができる。特に法線入射ミラーM1、M4、M7、及びM8のこれらの高反射層は、多段層として具現化することができ、この場合に、連続する層は、異なる材料から生成することができる。交替する材料層を使用することができる。典型的な多段層は、各々モリブデン層とシリコン層とで構成される二重段を50枚含むことができる。
投影光学ユニット7の全体反射率を計算するために、系伝達率が計算され、この計算は、案内光線、すなわち、中心物体視野点の主光線の入射角に依存する各ミラー面上のミラー反射率を決定し、これらを乗算によって組み合わせて系伝達率を形成するという手順で行われる。
ここで、パーセントを単位とするミラー上の反射率RMは、次式のように導出される。
Figure 0006688219
式中のxは、度を単位とするそれぞれの入射角を表している。係数ciは、一方でS偏光に関し、他方でP偏光に関するそれぞれの係数の平均値として次式から導出される。
Figure 0006688219
60°<x<88°の間の入射角度範囲では、ルテニウム層に対して下表の係数が導出され、これらの係数により、この層は、かすめ入射角の下での入射を受ける。
Figure 0006688219
NIミラーに対して、すなわち、垂直入射の領域内では、モリブデン/シリコン多段積層体に対して下表が導出される。
Figure 0006688219
GIミラー(かすめ入射ミラー)上での反射に関する更に別の情報は、WO 2012/126867 Aに見出される。NIミラー(法線入射ミラー)の反射率に関する更に別の情報は、DE 101 55 711 Aに見出される。
投影光学ユニット7の全てのミラーM1からM8の反射率の積として導出される投影光学ユニット7の全体反射率又は系伝達率は、R=10.43%である。
ミラーM8、すなわち、結像ビーム経路内で像視野8の前にある最後のミラーは、最後から3番目のミラーM6から最後から2番目のミラーM7に反射される結像光3が通過するための通過開口部17を有する。ミラーM8は、通過開口部17の周りで反射する方式に使用される。他のミラーM1からM7のうちのいかなるものも通過開口部を持たず、これらのミラーは、間隙のない連続領域内で反射する方式に使用される。
ミラーM1からM8は、回転対称関数によって表すことができない自由曲面として具現化される。ミラーM1からM8のうちの少なくとも1つが回転対称非球面として具現化される投影光学ユニット7の他の実施形態も可能である。全てのミラーM1からM8をそのような非球面として具現化することも可能である。
自由曲面は、以下の自由曲面方程式(式1)によって表すことができる。
Figure 0006688219
上式(1)のパラメータに対して、以下が適用される。
Zは、x2+y2=r2が成り立つ点x,yにおける自由曲面のサグである。式中のrは、自由曲面方程式の基準軸(x=0;y=0)からの距離である。
自由曲面方程式(1)では、C1、C2、C3、...は、x及びyのべき乗での自由曲面級数展開の係数を表している。
円錐底面の場合に、cx、cyは、対応する非球面の頂点曲率に対応する定数である。従って、cx=1/Rx及びcy=1/Ryが成り立つ。式中のkx及びkyの各々は、対応する非球面の円錐定数に対応する。従って、式(1)は、二重円錐自由曲面を表している。
別の可能な自由曲面は、回転対称基準面から生成することができる。マイクロリソグラフィ投影露光装置の投影光学ユニットのミラーの反射面のためのそのような自由曲面は、US 2007−0058269 A1から公知である。
これに代えて、自由曲面は、2次元スプライン面を用いて表すことができる。これに関する例は、ベジェ曲面又は不均一有理基底スプライン(NURBS)である。一例として、2次元スプライン面は、xy平面内の点の格子とそれに関連付けられるz値とにより、又はこれらの点とそれに関連付けられる勾配とによって表すことができる。スプライン面のそれぞれのタイプに基づいて、例えば、スプライン面の連続性及び微分可能性に関して特定の性質を有する多項式又は関数を用いた格子点の間の内挿によって完全な面が得られる。これに関する例は、解析関数である。
投影光学ユニット7のミラーM1からM8の反射面の光学設計データを以下に続く表から収集することができる。これらの光学設計データは、各々像平面9から進み、すなわち、それぞれの投影光学ユニットを像平面9と物体平面5との間で結像光3の逆伝播方向に説明する。
これらの表のうちの最初は、投影光学ユニット7の設計データの概要を提供し、開口数NA、結像光に対して計算した設計波長、像視野のx方向及びy方向の寸法、像視野曲率、並びに絞りの場所を要約している。この曲率は、視野の曲率半径の逆数として定められる。
これらの表のうちの第2のものは、光学構成要素の光学面に関する頂点半径(Radius_x=Rx、Radius_y=Ry)及び屈折力値(Power_x、Power_y)を指定している。半径に関する負の値は、頂点での表面法線とそれぞれの曲率方向(x,y)とによって張られる着目平面(xz,yz)によるそれぞれの面の断面内で入射照明光3に向く凹曲線を意味する。2つの半径Radius_x、Radius_yは、異なる符号を明示的に有することができる。
各光学面における頂点は、物体視野中心から像視野8に対称面x=0、すなわち、図2の作図面(子午平面)に沿って延びる案内光線の入射点として定められる。
頂点での屈折力Power_x(Px)、Power_y(Py)は、次式のように定められる。
Figure 0006688219
式中のAOIは、表面法線に対する案内光線の入射角を表している。
3番目の表は、ミラーM1からM8に対してmmを単位として円錐定数kx及びky、頂点半径Rx(=Radius_x)、及び自由曲面係数Cnを指定している。表内に見当たらない係数Cnは、各々0の値を有する。
4番目の表は、それぞれのミラーが、基準面から進んでy方向に偏心(DCY)され、z方向に変位(DCZ)及び傾斜(TLA、TLC)された大きさを更に指定している。これは、自由曲面設計法を実施するときの平行変位及び傾斜に対応する。この場合に、変位は、y方向とz方向とにmm単位に実施したものであり、傾斜は、x軸周りとz軸周りとに実施したものである。この場合に、傾斜角を度を単位として指定している。最初に偏心が実施され、その後に傾斜が続く。偏心する際の基準面は、各々指定している光学設計データの最初の面である。物体視野4に対してもy方向及びz方向の偏心を指定している。4番目の表は、個々のミラーに割り当てられた面に加えて、像平面を最初の面として、物体平面を最後の面として列記し、時に絞り面(「絞り」で表す)を列記している。
5番目の表は、ミラーM8からM1の伝達率データ、すなわち、それぞれのミラー上に中心で入射する照明光線の入射角に対するこれらのミラーの反射率を更に指定している。全伝達率を投影光学ユニット内の全てのミラーでの反射の後に残る強度の入射強度からの比率として指定している。
6番目の表は、絞り(面M8)の縁部を多角形鎖として局所xyz座標で指定している。この絞りは、ミラーM8の場所に配置される。絞りは、上述のように偏心及び傾斜される。

Figure 0006688219
図2に対する表1

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図2に対する表2
Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図2に対する表3a

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図2に対する表3b

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図2に対する表3c

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,物体平面)
図2に対する表4a

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,物体平面)
図2に対する表4b

Figure 0006688219

Figure 0006688219
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図2に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図2に対する表6
投影光学ユニット7の全体反射率は10.43%である。
ミラーM1からM7は、自由曲面展開が最大でx及びyの10乗に至る自由曲面である。ミラーM8では、この展開は、x及びyの12乗まで続く。
上記の表の傾斜値によって明らかになるように、非球面ミラーの回転対称軸は、総じて像平面9の法線に対して傾斜される。
ミラーM1、M2、M4、M5、及びM8は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM3、M6、及びM7は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。ミラーM2、M3、M5、及びM6は、非常に大きい絶対半径を有し、すなわち、平面反射面からの僅かな偏位しか引き起こさない。
像視野8は、2x6.5mmのx広がりと1mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット7は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
ミラーM2とM3との間の結像光3のビーム経路内には最初の瞳平面18が配置される。図2に略示しているものとは異なり、最初の瞳平面18は、中心視野点の主光線に対して傾斜され、すなわち、この主光線との間に≠90°の角度を含む。ミラーM2とM3との間の瞳平面18の領域内では、結像光3の全体ビームが全て横からアクセス可能である。従って瞳平面18の領域内には開口絞りを配置することができる。以下に続く本文では、この絞りを参照符号18によっても表す。これに代えて又はこれに加えて、図2に対する表6に関連して上記に説明したように、この絞りをミラーM8上に配置することもできる。
像側で視野中心点に向かって、完全な像側テレセントリック開口を有する絞り面の方向に伝播する照明光3の全ての光線の絞り面上の交点から、絞りの絞り面の縁部(図2に対する表6も参照されたい)が導出される。絞り18が開口絞りとして具現化される場合には、縁部は内側縁部である。
絞り18は、平面内に位置し、又はそれ以外に3次元実施形態を有することができる。絞り18の広がりは、走査直交方向(x)よりも走査方向(y)に小さいものとすることができる。
ミラーM3とM4との間の結像ビーム経路内に、投影光学ユニット7の中間像19が配置される。
ミラーM7とM8との間の結像光3の反射領域内に、投影光学ユニット7の更に別の瞳平面が配置される。ミラーM7及びM8の領域内で結像ビーム経路内の2つの位置に、一方でx寸法に対し、もう一方でy方向に対する開口絞りを分散して配置することができ、例えば、ミラーM8上で主としてy寸法に沿って制限を与え、ミラーM7上で主としてx寸法に沿って制限を与えるための開口絞りが存在することが可能である。
投影光学ユニット7のz方向の設置長さ、すなわち、物体平面5と像平面9との間の距離は約2000mmである。ミラーM8は、650mmの領域内にある直径を有する。中心物体視野点と中心像視野点との間のy距離dOISは1870mmである。
投影光学ユニット7は、5mλ弱から10mλまでの波面収差の走査RMS値を有する。投影光学ユニット7の歪曲は、0.12nmよりも小さい。像視野8にわたってx方向に測定した投影光学ユニット7のテレセントリック度値は、6mradよりも小さい。像視野8にわたってy方向に測定した投影光学ユニット7のテレセントリック度値は、0.4mradよりも小さい。
投影光学ユニット7は、像側でほぼテレセントリックである。
像視野に最も近いミラーM7と像視野8との間の作動距離は78mmである。
通過開口部17に起因して開口数の15%未満が掩蔽される。掩蔽縁部は、絞り18に関連して上記に説明したように絞り縁部が構築される手法と同様に構築される。掩蔽絞りとして具現化される場合には、縁部は、絞りの外側縁部である。投影光学ユニット7の系瞳内では、掩蔽に起因して照明することができない面は、系瞳全体の面の0.152よりも小さい。系瞳の内部の非照明面は、y方向とは異なる広がりをx方向に有することができる。系瞳内の非照明面は、円形、楕円形、正方形、又は矩形とすることができる。更に、系瞳内で照明することができないこの面は、系瞳の中心に対してx方向及び/又はy方向に偏心させることができる。
図1に記載の投影露光装置1において投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態20を図3に基づいて以下に続く本文で説明する。図1及び図2の状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。
ミラーM1からM6は、前と同様に、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面ミラーとして具現化される。投影光学ユニット20の光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。
Figure 0006688219
図3に対する表1

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図3に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図3に対する表3a

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図3に対する表3b

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M6,M5,M4,M3,M2,M1,物体平面)
図3に対する表4a

Figure 0006688219
図3に対する表4b

Figure 0006688219
(上端行、左から面,AOI(度),反射率。左端列(面)、上からM6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達。)
図3に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図3に対する表6
投影光学ユニット20の全体反射率は12.99%である。
投影光学ユニット20は、0.45の像側開口数を有する。像視野8は、2x6.5mmのx広がりと1mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット20は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
投影光学ユニット20は、8xの縮小結像スケール(β=8)を有する。
投影光学ユニット20は、正確に6つのミラーM1からM6を有する。ミラーM1及びM2は、前と同様にかすめ入射ミラーとして具現化され、ミラー対として結像ビーム経路内に互いに直接前後して配置される。投影光学ユニット20は、正確に2つのかすめ入射ミラー、すなわち、ミラーM1及びM2を有する。ミラーM3からM6は、法線入射ミラーとして具現化される。
投影光学ユニット20は、11.97%よりも高い全体反射率を有する。
絶対値において、物体平面5は、x軸回りに約39°の角度だけ像平面9に対して傾斜される。従って上記の直前の表(図3に対する表3b)において、物体視野について約219°の値TLAが明示されている。
物体視野4と像視野8との間のz距離は約1740mmである。
最も大きい直径を有するミラーは、1000mmの直径値を有するミラーM6である。
物体視野4と像視野8との間のy距離、すなわち、値dOISは、物体視野4のところにある285mmである。投影光学ユニット7と全く同様に、物体視野側主光線角度CRAOは、投影光学ユニット20では5.5°である。波面収差についての走査RMS値は、投影光学ユニット20では10.5mλよりも小さい。投影光学ユニット20における歪曲値は0.1nmよりも小さい。投影光学ユニット20のx方向のテレセントリック度値は、像視野側で5mradよりも小さい。投影光学ユニット20のy方向のテレセントリック度値は、像視野側で0.45mradよりも小さい。
投影光学ユニット20では、像視野8の上流のビーム経路内の最後から2番目のミラーM5上での結像光3の反射領域内には瞳平面が配置される。従って、ミラーM5上、又はそれ以外にミラーM6上に開口絞りを配置することができる。図3に対する表6に記載の多角形縁部は、ミラーM6上の絞りに関する。
投影光学ユニット20は、像側で実質的にテレセントリックである。像視野に最も近いミラーM5と像視野8との間の作動距離は約90mmである。
像視野8は、物体視野4の下流の投影光学ユニット20の最初の像平面内に位置する。従って投影光学ユニット20は、物体視野4と像視野8との間の結像ビーム経路内に中間像を生成しない。
最後のミラーM6の中心のすぐ手前の結像ビーム経路内への最後から3番目のミラーM4の配置によって、投影光学ユニット20の瞳掩蔽が引き起こされる。この掩蔽は、投影光学ユニット20の像側開口数の26%よりも小さい。
結像ビーム経路内の最後から2番目のミラーM5のみが、結像光3に対する通過開口部17を有する。全ての他のミラーM1からM4及びM6は、連続反射面を有する。
ミラーM5の反射面は、ミラーM5の瞳掩蔽17の周囲で用いられる。ミラーM6の反射面は連続的には用いられず、ミラーM6の反射面の手前に配置されたミラーM4による掩蔽がない場所においてのみ用いられる。
2つのかすめ入射ミラーM1及びM2は、最後のミラーM6を越えてかつその反射面の周囲に結像光3を横に偏向する。
ミラーM2は、像平面9に対してx軸の回りに90°だけ回転され、すなわち、像平面9に対して事実上垂直である。
ミラーM1、M3、及びM6は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM2、M4、及びM5は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。かすめ入射ミラーM1及びM2は、前と同様に非常に大きい半径を有し、すなわち、平面反射面から小さい偏位しか引き起こさない。
図1に記載の投影露光装置1において投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態21を図4に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図3までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。
ミラーM1からM6は、前と同様に、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面として具現化される。投影光学ユニット21の光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。
Figure 0006688219
図4に対する表1

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図4に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図4に対する表3a

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図4に対する表3b

Figure 0006688219

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M6,M5,M4,M3,M2,M1,物体平面)
図4に対する表4a

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M6,M5,M4,M3,M2,M1,物体平面)
図4に対する表4b

Figure 0006688219
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達。)
図4に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図4に対する表6
投影光学ユニット21の全体反射率は13.32%である。
投影光学ユニット21は、8xの縮小結像スケール(β=8)を有する。
像視野8は、2x6.5mmのx広がりと0.8mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット21は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
投影光学ユニット20の場合と同様に、投影光学ユニット21も、正確に6つのミラーM1からM6を有する純粋に反射結像の投影光学ユニットである。投影光学ユニット20と同様に、物体視野4の下流の結像ビーム経路内の投影光学ユニット21の最初の2つのミラーM1及びM2は、かすめ入射ミラーとして具現化される。更に別のミラーM3からM6は、法線入射ミラーとして具現化される。
投影光学ユニット7及び20のビーム案内とは異なり、主光線は、投影光学ユニット21のビーム案内において交差する。この交差は、一方でミラーM2とM3との間の部分結像ビーム経路と、もう一方でM4とM5との間の部分結像ビーム経路との間で発生し、交差領域K1を示している。一方でミラーM5とM6との間の結像部分ビームの主光線との間、もう一方でミラーM6と像視野との間の結像部分ビームの主光線とミラーM2とM3との間の結像部分ビームとの主光線の更に別の交差が発生し、これらの交差を更に別の交差領域K2及びK3で示している。
投影光学ユニット21では、物体平面5と像平面9とは、互いに対して平行に延びる。
ミラーM1、M3、及びM6は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM2、M4、及びM5は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。ミラーM1及びM2は、前と同様に非常に大きい絶対半径を有し、すなわち、平面反射面からの僅かな偏位しか引き起こさない。
投影光学ユニット20の場合と同様に、投影光学ユニット21の最後から3番目のミラーM4は、最後のミラーM6の反射面の中心の手前に配置され、従って投影光学ユニット21の瞳掩蔽を引き起こす。
投影光学ユニット21では、ミラーM1からM6のいずれのものも、結像光3に対する通過開口部を持たない。ミラーM6の場合を除き、投影光学ユニット21の全ての反射面、すなわち、ミラーM1からM5の反射面は、間隙なしで用いることができる。ミラーM6の反射面は、ミラーM4に起因する掩蔽が発生しない場所で用いられる。
投影光学ユニット21では、物体平面5と像平面9との間のz距離は約2200mmである。
最も大きいミラーM6の典型的な直径は約1200mmである。
投影光学ユニット21では、物体/像オフセットdOISは約1100mmである。投影光学ユニット21では、物体視野側主光線16は、物体平面5の法線との間に5.5°の角度CRAOを更に含む。
投影光学ユニット21は、11mλよりも小さい像視野側波面の走査RMS値を有する。投影光学ユニット21では、像視野側歪曲値は0.1nmよりも小さい。投影光学ユニット21では、x方向の像視野側テレセントリック度値は4mradよりも小さい。投影光学ユニット21では、y方向の像視野側テレセントリック度値は0.3mradよりも小さい。
投影光学ユニット21では、ミラーM6上の結像光3の反射領域内に瞳平面が配置される。従ってミラーM6上には開口絞りを設けることができる。図4に対する表6に記載の多角形縁部は、ミラーM6上のこの絞り位置に関する。投影光学ユニット20と同様に、投影光学ユニット21も中間像を持たない。
投影光学ユニット21は、像側で実質的にテレセントリックである。
像視野に最も近いミラーである、結像ビーム経路内で最後から2番目のミラーM5と像視野8との間の作動距離は36mmである。
ミラーM4は、投影光学ユニット21の像側開口数の23%よりも小さい像側掩蔽を定める。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態22を図5に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図4までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。
全体として、投影光学ユニット22は、7つのミラーM1からM7を有する。投影光学ユニット22は、3つのかすめ入射ミラー、すなわち、ミラーM1からM3と、4つの法線入射ミラー、すなわち、ミラーM4からM7とを有する。これらのミラーM1からM7は、前と同様に、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面として構成される。投影光学ユニット22からの光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。
Figure 0006688219
図5に対する表1

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」、infは「無限大」)
図5に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図5に対する表3a

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図5に対する表3b

Figure 0006688219
図5に対する表3c

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,物体平面)
図5に対する表4a

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,物体平面)
図5に対する表4b

Figure 0006688219
(上端行、左から面,AOI(度),反射率。左端列(面)、上からM7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図5に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図5に対する表6
投影光学ユニット22の全体反射率は11.89%である。
投影光学ユニット22は、8xの縮小結像スケール(β=8)を有する。
像視野8は、2x6.5mmのx広がりと1mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット22は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
一方でミラーM1及びM2の領域内、もう一方でミラーM4からM7の領域内では、投影光学ユニット22のビーム経路は、図3に記載の投影光学ユニット20からのものに定性的に対応する。投影光学ユニット20とは対照的に、投影光学ユニット22では、かすめ入射ミラーM2と法線入射ミラーM4との間に更に別のかすめ入射ミラーM3が配置される。かすめ入射ミラーM1及びM2の偏向効果と比較すると、この更に別のミラーは、投影光学ユニット20の場合とは異なり、投影光学ユニット22における物体平面5が、像平面9に対してかかる場合のような強い傾斜を伴って配置されることがないように、ミラーM4に向かって結像光3の逆偏向を引き起こす。これに代えて、投影光学ユニット22は、物体平面5が像平面9に対して平行に配置されるように具現化することもできる。ミラーM1とM2とは、前と同様に、結像光3のビーム経路内に互いに直接前後して配置されたかすめ入射ミラー対を形成する。
投影光学ユニット20内のものと比較した投影光学ユニット22内での結像光3の誘導における更に別の相違点は、ミラーM7が、一方でミラーM4とM5との間、もう一方でミラーM5とM6との間の結像光3に対する通過開口部17を含む点である。ミラーM5の反射面は、ミラーM7内のこの通過開口部17に対して陥没して配置される。
ミラーM1、M3、M4、及びM7は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM2、M5、及びM6は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。
ミラーM6及びM7は、それぞれ結像光3に対する通過開口部17を有する。他のミラーM1からM5は、結像光3に対する通過開口部を持たない。
ミラーM6及びM7の反射面は、そのそれぞれの通過開口部17の周囲で用いられる。
投影光学ユニット22では、ミラーM7上に開口絞りが配置される。図5に対する表6に記載の多角形データは、この開口絞りに関する。
投影光学ユニット22では、物体平面と像平面9との間のz距離は約2200mmである。
最も大きいミラーM7の典型的な直径は約1350mmである。投影光学ユニット22では、物体/像オフセットdOISは約1050mmである。投影光学ユニット22では、物体視野側主光線16は、物体平面5の法線との間に5.5°の角度CRAOを更に含む。
投影光学ユニット22は、約100mλの像視野側波面の走査RMS値を有する。投影光学ユニット22では、像視野側歪曲値は約2nmである。投影光学ユニット22では、x方向の像視野側テレセントリック度値は2mradよりも小さい。投影光学ユニット22では、y方向の像視野側テレセントリック度値は0.5mradよりも小さい。
投影光学ユニット22では、主光線16は、物体視野4とミラーM1との間で互いに対して発散的に伝播する。
ミラーM6は、投影光学ユニット22の像側開口数の26%よりも小さい像側掩蔽をx寸法内に定義する。y方向には、掩蔽は大幅に小さく、更には偏心される。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態23を図6に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図5までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。
全体として、投影光学ユニット23は、8つのミラーM1からM8を有する。これらのミラーのうちで、ミラーM1、M4、M7、及びM8は法線入射ミラーとして具現化され、ミラーM2、M3、並びにM5及びM6はかすめ入射ミラーとして具現化される。ミラーM1からM8は、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面として構成される。投影光学ユニット23からの光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。図6に対する表1内の細目「絞りS8」は、絞りが、像平面を含めて数えて設計面の8番目の面の場所に配置されることを意味する(この点に関しては図6に対する表4a、4bを参照されたい)。更に続く投影光学ユニットの説明する実施形態において、絞りの場所に関して対応する細目を見つけることができる。

Figure 0006688219
図6に対する表1

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図6に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図6に対する表3a

Figure 0006688219
図6に対する表3b

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図6に対する表3c

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,絞り,M2,M1,物体平面)
図6に対する表4a

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,絞り,M2,M1,物体平面)
図6に対する表4b

Figure 0006688219
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図6に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図6に対する表6
投影光学ユニット23の全体反射率は8.11%である。
投影光学ユニット23は、8xの縮小結像スケール(β=8)を有する。
像視野8は、2x6.5mmのx広がりと1mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット23は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
他の投影光学ユニットから外れて、投影光学ユニット23は、0.45の像側開口数を有する。
ミラーM6と像視野8との間で投影光学ユニット23を通る結像光3のビーム経路は、xz平面に対して平行な平面に関して鏡像反転されてはいるが、図2に記載の投影光学ユニット7におけるミラーM6と像視野8との間のビーム経路に定性的に対応する。
一方でかすめ入射ミラーM2及びM3と、もう一方でかすめ入射ミラーM5及びM6とは、これらのミラーが、それぞれの逆の偏向効果を有するように、すなわち、これらのミラー対M2、M3及びM5、M6のそれぞれの2番目のミラーM3及びM6が、それぞれの最初のミラーM2及びM5の偏向効果から減算されるように配置される。各場合にミラーM2及びM3のうちの一方に関して、ミラーM5及びM6は、結像光3のそれぞれの個別光線15に対する反射率への逆の依存性を有し、すなわち、これらのミラーは補償ミラーに相当し、従って4つのかすめ入射ミラーM2、M3、M5、及びM6は、像視野8にわたって又はその照明角度分布にわたって反射率への望ましくない総合依存性を持たない。
ミラーM2上の偏向領域内には、投影光学ユニット23の瞳平面が位置する。ミラーM1とM2との間の結像光3のビーム経路内には、x寸法に対して有効な開口絞りをM2に近接して配置することができる。ミラーM2とM3との間の結像光3のビーム経路内には、y寸法内で作用する開口絞りを前と同様にミラーM2に近接して配置することができる。ミラーM5上の偏向領域内には、投影光学ユニット23の中間像平面が位置する。ミラーM7とM8との間の結像光3のビーム経路内には、更に別の瞳平面が位置する。この場所には、x寸法に対して有効な開口絞りを配置することもできる。
各区画において、ミラーM1とM8は、背中合わせに具現化される。
ミラーM8のみが、ミラーM6とM7との間の結像ビーム経路内の結像光3の通過に向けた通過開口部17を有する。
ミラーM1、M4、M5、及びM8は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM2、M3、M6、及びM7は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。ミラーM2、M3、及びM5は、前と同様に非常に大きい絶対半径を有し、すなわち、平面反射面からの僅かな偏位しか引き起こさない。
投影光学ユニット23では、物体平面5と像平面9との間のz距離は約1840mmである。
最も大きいミラーM8の典型的な直径は約800mmである。
投影光学ユニット23では、物体/像オフセットdOISは約520mmである。投影光学ユニット23では、物体視野側主光線16は、物体平面5の法線との間に5.5°の角度CRAOを更に含む。
投影光学ユニット23は、70mλよりも小さい像視野側波面の走査RMS値を有する。投影光学ユニット23では、像視野側歪曲値は約1.2nmである。
投影光学ユニット23では、物体視野4とミラーM1との間で互いに対して発散的に伝播する。
ミラーM8は、投影光学ユニット23の像側開口数の20%よりも小さい像側掩蔽をx寸法内に定義する。y方向には、掩蔽は大幅に小さく、更には偏心される。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態24を図7に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図6までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。
投影光学ユニット24の結像ビーム経路は、図6に記載の投影光学ユニット23のものに定性的に対応する。投影光学ユニット24も8つのミラーM1からM8を含み、そのうちのミラーM1、M4、M7、及びM8は法線入射ミラーとして具現化され、ミラーM2、M3、M5、及びM6はかすめ入射ミラーとして具現化される。一方でミラーM2及びM3の偏向効果と、もう一方でM5及びM6の偏向効果とは、互いから減算される。
ミラーM1からM8は、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面として構成される。投影光学ユニット24からの光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。

Figure 0006688219
図7に対する表1

Figure 0006688219

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図7に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図7に対する表3a

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図7に対する表3b

Figure 0006688219
図7に対する表3c

Figure 0006688219

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,絞り,M3,M2,10,M1,物体平面)
図7に対する表4a

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,絞り,M3,M2,10,M1,物体平面)
図7に対する表4b

Figure 0006688219
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図7に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図7に対する表6
投影光学ユニット24の全体反射率は9.88%である。
投影光学ユニット24は、8xの縮小結像スケール(β=8)を有する。
像視野8は、2x6.5mmのx広がりと0.8mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット24は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
投影光学ユニット24では、ミラーM2とM3との間の結像光3のビーム経路内に、瞳平面18が配置される。ミラーM4とM5との間の結像ビーム経路内には中間像平面19が配置される。
ミラーM1、M3、M4、M6、及びM8は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM2、M5、及びM7は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。ミラーM3、M5、及びM6は、前と同様に非常に大きい絶対半径を有し、すなわち、平面反射面からの僅かな偏位しか引き起こさない。
投影光学ユニット24の場合にも、最後のミラーM8のみが、結像ビーム経路内でミラーM6とM7との間で案内される結像光3に対する通過開口部17を含む。
投影光学ユニット24のz方向の設置長さ、すなわち、物体平面5と像平面9との間の距離は1900mmである。ミラーM8は、投影光学ユニット24内の全てのミラーのうちで最も大きい直径を有し、この直径は、700mmの領域内にある。
投影光学ユニット24では、物体/像オフセットdOISは約360mmである。投影光学ユニット24では、物体視野側主光線16は、物体平面5の法線との間に5.5°の角度CRAOを更に含む。
投影光学ユニット24は、100mλの領域内の像視野側波面の走査RMS値を有する。投影光学ユニット24では、像視野側歪曲値は、0.6nmの領域内にある。
ミラーM2とM3との間の結像光3のビーム経路内には、y寸法に対して有効な開口絞りを配置することができる。
投影光学ユニット24では、結像光3の主光線16は、物体視野4とミラーM1との間で発散的に伝播する。
ミラーM8は、x寸法内で投影光学ユニット24の像側開口数の24%よりも小さい像側掩蔽を定める。
y方向には、掩蔽は大幅に小さく、更には偏心される。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態25を図8に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図7までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。
投影光学ユニット25の結像ビーム経路は、図6及び図7に記載の投影光学ユニット23及び24のものに定性的に対応する。投影光学ユニット25も8つのミラーM1からM8を含み、そのうちのミラーM1、M4、M7、及びM8は法線入射ミラーとして具現化され、ミラーM2、M3、M5、及びM6はかすめ入射ミラーとして具現化される。一方でミラーM2及びM3の偏向効果と、もう一方でM5及びM6の偏向効果とは、互いから減算される。
ミラーM1からM8は、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面として構成される。投影光学ユニット25からの光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。
Figure 0006688219
図8に対する表1

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図8に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図8に対する表3a

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図8に対する表3b

Figure 0006688219
図8に対する表3c

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図8に対する表4a

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図8に対する表4b

Figure 0006688219
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図8に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図8に対する表6
投影光学ユニット25の全体反射率は10.04%である。
投影光学ユニット25は、8xの縮小結像スケール(β=8)を有する。
像視野8は、2x6.5mmのx広がりと1mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット25は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
ミラーM1、M3、M4、M5、及びM8は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM2、M6、及びM7は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。ミラーM3、M5、及びM6は、非常に大きい絶対半径を有し、すなわち、平面反射面からの僅かな偏位しか引き起こさない。
投影光学ユニット25の場合にも、最後のミラーM8のみが、ミラーM6とM7との間で案内される結像光3に対する通過開口部17を含む。
投影光学ユニット25では、ミラーM2とミラーM3との間に瞳平面18が配置される。投影光学ユニット25では、かすめ入射ミラーM5上の反射領域内に中間像平面19が配置される。
投影光学ユニット25では、物体平面5と像平面9との間のz距離は1900mmである。
投影光学ユニット25では、最も大きいミラーM8の典型的な直径は約800mmである。
投影光学ユニット25では、物体/像オフセットdOISは約600mmである。投影光学ユニット25では、物体視野側主光線16は、物体平面5の法線との間に5.5°の角度CRAOを更に含む。
投影光学ユニット25は、約70mλの像視野側波面の走査RMS値を有する。投影光学ユニット25では、像視野側歪曲値は約3nmである。
投影光学ユニット25では、ミラーM2とM3との間の結像光3のビーム経路内に、開口絞りを配置することができる。
投影光学ユニット25では、主光線16は、物体視野4とミラーM1との間で発散的に伝播する。
ミラーM8は、x寸法内で投影光学ユニット25の像側開口数の20%よりも小さい像側掩蔽を定める。y方向には、掩蔽は大幅に小さく、更には偏心される。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態26を図9に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図8までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。
投影光学ユニット26は、合計で8つのミラーM1からM8を有する。これらのミラーは、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面として構成される。投影光学ユニット26の結像ビーム経路は、xz平面に対して平行な平面に関して鏡像反転された投影光学ユニット7のものに定性的に対応する。
一方でミラーM2とM3、もう一方でM5とM6とは、前と同様にかすめ入射ミラー対を構成し、結像光に対するその偏向効果は加算される。他のミラーM1、M4、M7、及びM8は法線入射ミラーである。
投影光学ユニット26からの光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。
Figure 0006688219
図9に対する表1

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図9に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図9に対する表3a

Figure 0006688219
図9に対する表3b

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図9に対する表3c

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,絞り,M2,M1,物体平面)
図9に対する表4a

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,絞り,M2,M1,物体平面)
図9に対する表4b

Figure 0006688219
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図9に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図9に対する表6
投影光学ユニット26の全体反射率は8.83%である。
投影光学ユニット26は、8xの縮小結像スケール(β=8)を有する。
像視野8は、2x6.5mmのx広がりと1mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット26は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
ミラーM1、M2、M4、及びM8は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM3、M5、M6、及びM7は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。ミラーM2、M3、M5、及びM6は、非常に大きい絶対半径を有し、すなわち、平面反射面からの僅かな偏位しか引き起こさない。
ミラーM2とM3との間のビーム経路内には、投影光学ユニット26の瞳平面18が位置する。図9に略示しているものとは異なり、この絞り平面は、中心視野点の主光線に対して傾斜される。ミラーM3上の反射領域内には、投影光学ユニット26の中間像平面19が位置する。
投影光学ユニット26の場合にも、ミラーM8が、ミラーM6とM7との間の結像光3に対する結像ビーム経路内の通過開口部17を含む唯一のミラーである。
投影光学ユニット26では、物体平面5と像平面9との間のz距離は1900mmである。
投影光学ユニット26では、最も大きいミラーM8の典型的な直径は約800mmである。
投影光学ユニット26では、物体/像オフセットdOISは約1350mmである。投影光学ユニット26では、物体視野側主光線16は、物体平面5の法線との間に5.5°の角度CRAOを更に含む。
投影光学ユニット26は、約30mλの像視野側波面の走査RMS値を有する。投影光学ユニット26では、像視野側歪曲値は約1.0nmである。
投影光学ユニット26では、ミラーM1とM2との間の結像光3のビーム経路内に、x方向に対して有効な絞りを配置することができ、ミラーM2とM3との間のビーム経路内にy寸法に対して有効な絞りを配置することができる。
投影光学ユニット26では、主光線16は、物体視野4とミラーM1との間の結像光3のビーム経路内で発散的に伝播する。
ミラーM8は、x寸法内で投影光学ユニット26の像側開口数の20%よりも小さい像側掩蔽を定める。y方向には、掩蔽は大幅に小さく、更には偏心される。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態27を図10に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図9までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。
投影光学ユニット27は、合計で9つのミラーM1からM9を有する。ミラーM1、M3、M5、M6、及びM7は、かすめ入射ミラーとして具現化される。ミラーM2、M4、M8、及びM9は、法線入射ミラーとして具現化される。投影光学ユニット27の結像ビーム経路は、ミラーM1上での反射の後に、投影光学ユニット26のその内部に設置されたミラーM1上での反射の前のものに定性的に対応する。
投影光学ユニット26とは異なり、投影光学ユニット27における物体平面5と像平面9とは互いに対して平行に延びず、互いに対する角度を有する。物体平面5と像平面9との間の角度は約25°である。物体平面5と像平面9との間の異なる角度、例えば9°の角度も可能である。
ミラーM1からM9は、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面として具現化される。投影光学ユニット27からの光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。
Figure 0006688219
図10に対する表1

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図10に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図10に対する表3a

Figure 0006688219
図10に対する表3b

Figure 0006688219
図10に対する表3c

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M9,M8,M7,M6,M5,M4,絞り,M3,M2,M1,物体平面)
図10に対する表4a

Figure 0006688219

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M9,M8,M7,M6,M5,M4,絞り,M3,M2,M1,物体平面)
図10に対する表4b

Figure 0006688219
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM9,M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図10に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図10に対する表6
投影光学ユニット27の全体反射率は7.89%である。
投影光学ユニット27は、8xの縮小結像スケール(β=8)を有する。
像視野8は、2x6.5mmのx広がりと1mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット27は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
投影光学ユニット27では、ミラーM3とM4との間の結像ビーム経路内に、瞳平面18が配置される。略示しているものとは異なり、瞳平面18は、中心視野点の主光線に対して傾斜される。ミラーM4とM5との間の結像ビーム経路内には、中間像平面19がミラーM4の近くに配置される。
投影光学ユニット27では、一方でミラーM3とM4、もう一方でM6とM7とは、かすめ入射ミラー対を形成し、結像光3に対するこれらの偏向効果は加算される。
ミラーM1、M4、M6、M7、及びM8は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。ミラーM2、M3、M5、及びM9は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM1、M3、M4、M6、及びM7は、非常に大きい絶対半径を有し、すなわち、平面反射面からの僅かな偏位しか引き起こさない。
投影光学ユニット27の場合には、ミラーM9が、ミラーM7とM8との間で案内される結像光3の通過に向けた通過開口部17を含む唯一のミラーである。
投影光学ユニット27では、物体平面5と像平面9との間のz距離は約1700mmである。
投影光学ユニット27では、最も大きいミラーM9の典型的な直径は約730mmである。
投影光学ユニット27では、物体/像オフセットdOISは約1000mmである。投影光学ユニット27では、物体視野側主光線16は、物体平面5の法線との間に5.5°の角度CRAOを更に含む。
投影光学ユニット27は、約30mλの像視野側波面の走査RMS値を有する。投影光学ユニット27では、像視野側歪曲値は約0.6nmである。
ミラーM2とM3との間の結像光3のビーム経路内には、x寸法に対して有効な絞りを配置することができる。投影光学ユニット27では、ミラーM3とM4との間のビーム経路内にy寸法に対して有効な絞りを配置することができる。
投影光学ユニット27における主光線16は、物体視野4とミラーM1との間の結像光3のビーム経路内で発散する伝播を有する。
ミラーM9は、x寸法にわたって投影光学ユニット27の像側開口数の20%よりも小さい像側掩蔽を定める。y方向には、掩蔽は大幅に小さく、更には偏心される。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態28を図11に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図10までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。
投影光学ユニット28は、合計で8つのミラーM1からM8を有する。ミラーM1、M4、M7、及びM8は、法線入射ミラーとして具現化される。ミラーM2、M3、M5、及びM6は、かすめ入射ミラーとして具現化される。ミラーM4の後に、投影光学ユニット28におけるビーム経路は、図10に記載の投影光学ユニット27におけるミラーM5の後のビーム経路に定性的に対応し、この場合、投影光学ユニット28内の最後から2番目のミラーM7は、投影光学ユニット27の最後から2番目のミラーM8の配置と比較してxz平面に対して平行な平面に関して鏡像反転されて配置される。
投影光学ユニット28のビーム案内では、ビーム経路の主光線16は、一方でミラーM1とM2との間で、もう一方でミラーM5とM6との間で交差する。
一方で2つのかすめ入射ミラーM2とM3、もう一方で2つのかすめ入射ミラーM5とM6とは、各場合にミラー対として具現化され、これらのミラーの偏向効果は加算される。
投影光学ユニット28では、最後のミラーM8のみが、ミラーM6とM7との間で案内される結像光3の通過に向けた通過開口部17を伴って具現化される。
投影光学ユニット28では、像平面9からの物体平面5のz距離は約2000mmである。投影光学ユニット28では、物体/像オフセットは約1000mmである。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態29を図12に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図11までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。
投影光学ユニット29は、合計で8つのミラーM1からM8を有する。ミラーM1、M7、及びM8は、法線入射ミラーとして具現化される。ミラーM2、M3、M4、M5、及びM6は、かすめ入射ミラーとして具現化される。従って投影光学ユニット29は、連続して配置された5つのかすめ入射ミラーを有する。投影光学ユニット29では、全てのかすめ入射ミラーM2からM6は、結像光3に対して加算偏向効果を有する。
投影光学ユニット29における結像ビーム経路は、ミラーM5の後に、図2に記載の投影光学ユニット7におけるものに定性的に対応する。
投影光学ユニット29では、前と同様に最後のミラーM8のみが、ミラーM6とM7との間で案内される結像光3の通過に向けた通過開口部17を含む。
投影光学ユニット29では、互いに対して平行な物体平面5と像平面9との間のz距離は約2500mmである。投影光学ユニット29では、物体/像オフセットは約3000mmである。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態30を図13に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図12までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。
投影光学ユニット30は、合計で11個のミラーM1からM11を有する。ミラーM5、M10、及びM11は、法線入射ミラーとして具現化される。ミラーM1、M2、M3、M4、M6、M7、M8、及びM9は、かすめ入射ミラーとして具現化される。従って投影光学ユニット30は、各場合に連続して配置された4つのかすめ入射ミラーを有する2つの群を有する。かすめ入射ミラーM1からM4の偏向効果は加算される。かすめ入射ミラーM6からM9の偏向効果は加算される。
ミラーM8の後に、投影光学ユニット30における結像ビーム経路は、xz平面に対して平行な平面に関して鏡像反転された図11に記載の投影光学ユニット28におけるその内部のミラーM4の後のものに定性的に対応する。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態31を図14及び図15に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図13までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。図14は、投影光学ユニット31の子午断面を示している。図15は、投影光学ユニット31の矢状面図を示している。
投影光学ユニット31は、合計で8つのミラーM1からM8を有し、その基本設計に関して、例えば図2に記載の投影光学ユニット7と同様である。
ミラーM1からM8は、前と同様に、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面ミラーとして具現化される。投影光学ユニット31からの光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。

Figure 0006688219
図14/図15に対する表1

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図14/図15に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図14/図15に対する表3a

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図14/図15に対する表3b

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図14/図15に対する表3c

Figure 0006688219

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図14/図15に対する表4a

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図14/図15に対する表4b

Figure 0006688219
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図14/図15に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図14/図15に対する表6
投影光学ユニット31の全体反射率は8.67%である。
投影光学ユニット31は、0.6の像側開口数を有する。像視野8は、2x6.5mmのx広がりと1.20mmのy広がりとを有する。像視野8は、例えば20.28mmの曲率半径を伴ってy軸に対して対称に湾曲したものである。従って投影光学ユニット31は、矩形視野ではなく弧形視野を有する。投影光学ユニット31は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
投影光学ユニット31は、正確に8つのミラーM1からM8を有する。一方でミラーM2及びM3、もう一方でM5、M6は、かすめ入射ミラーとして具現化され、各場合に結像ビーム経路内で互いに直接前後して配置される。投影光学ユニット31は、正確に4つのかすめ入射ミラー、すなわち、ミラーM2、M3、M5、及びM6を有する。ミラーM1、M4、M7、及びM8は、法線入射ミラーとして具現化される。
投影光学ユニット31では、ミラーM1とM2との間のビーム経路内で、ミラーM2上へのかすめ入射の近くに絞り18が配置される。これに代えて又はこれに加えて、直接ミラーM2の面上に絞りを配置することができる。
投影光学ユニット31は、縮小結像スケールβ=8.00を有する。
物体平面5内への主光線16の入射角は6.3°である。
図14に記載の子午断面内では、主光線は、物体視野4とミラーM1との間で発散方式で延びる。投影光学ユニット31の入射瞳は、yz平面内では物体視野4の手前の−3500mmのところの照明光のビーム経路内に位置する。xz平面(図15を参照されたい)内では、入射瞳は、物体視野の2100mm後ろの投影光学ユニット31の結像ビーム経路内に位置する。
絞り18は、xz断面(図15を参照されたい)内で、そのyz断面内の位置と比較してz方向に変位された位置に位置することが可能である。
物体視野4と像視野8との間のz距離は約1600mmである。
物体/像オフセット(dOIS)は約1560mmである。
ミラーM7と像視野8との間の自由作動距離は61mmである。
投影光学ユニット31では、波面収差についての走査RMS値は最大で8mλであり、平均で7mλである。
最大歪曲値は、x方向には最大で0.12nmであり、y方向には最大で0.08nmである。x方向の像視野側テレセントリック度値は、最大で0.61mradであり、y方向の像視野側テレセントリック度値は、最大で1.16mradである。
更に別のミラーデータは、以下に続く表から明らかになる。

Figure 0006688219
図14/図15に対する表7
yz平面(図14)内ではビーム経路内のミラーM5上の反射領域内に、及びxz平面(図15)内ではミラーM6とM7との間の結像ビーム経路領域内に中間像19が存在する。
ミラーM8は掩蔽され、ミラーM6とM7との間の結像ビーム経路内の照明光3の通過に向けた通過開口部17を含む。
結像ビーム経路内の最後のミラーM8のみが、結像光3に対する通過開口部17を含む。全ての他のミラーM1からM7は連続反射面を有する。ミラーM8の反射面は、その通過開口部17の周囲で用いられる。
ミラーM1、M3、M4、M6、及びM8は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM2、M5、及びM7は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。かすめ入射ミラーM2、M3、M5、及びM6は非常に大きい半径を有し、平面反射面からの僅かな偏位しか引き起こさない。
図15Aは、投影光学ユニット31のミラーM1からM8上で各場合に照明光3による入射を受ける面の縁部輪郭、すなわち、ミラーM1からM8のいわゆるフットプリントを示している。これらの縁部輪郭は、各場合にそれぞれのミラーM1からM8の局所xy座標に対応するx/yグラフ内に描示したものである。例図は、ミリメートルを単位とする正確な縮尺のものである。ミラーM1、M2、M6、及びM8は、値1から偏位しないか又は僅かにしか偏位しないx/yアスペクト比を有する。ミラーM3は、約0.55のx/yアスペクト比を有する。ミラーM4は、約7.5のx/yアスペクト比を有する。ミラーM5は、約2.5のx/yアスペクト比を有する。ミラーM7は、約2のx/yアスペクト比を有する。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態32を図16及び図17に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図15までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。図16は、投影光学ユニット32の子午断面を示している。図17は、投影光学ユニット32の矢状面図を示している。
投影光学ユニット32は、合計で8つのミラーM1からM8を有し、その基本設計に関して、例えば図2に記載の投影光学ユニット7と同様である。
ミラーM1からM8は、前と同様に、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面ミラーとして具現化される。投影光学ユニット32からの光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。
Figure 0006688219
図16/図17に対する表1

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図16/図17に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図16/図17に対する表3a

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図16/図17に対する表3b

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図16/図17に対する表3c

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図16/図17に対する表4a

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図16/図17に対する表4b

Figure 0006688219
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図16/図17に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図16/図17に対する表6
投影光学ユニット32の全体反射率は9.95%である。
投影光学ユニット32は、0.63の像側開口数を有する。像視野8は、2x6.5mmのx広がりと1.20mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット32は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
投影光学ユニット32は、正確に8つのミラーM1からM8を有する。一方でミラーM2及びM3、もう一方でM5、M6は、かすめ入射ミラーとして具現化され、各場合に結像ビーム経路内で互いに直接前後して配置される。投影光学ユニット32は、正確に4つのかすめ入射ミラー、すなわち、ミラーM2、M3、M5、及びM6を有する。ミラーM1、M4、M7、及びM8は、法線入射ミラーとして具現化される。
投影光学ユニット32では、ミラーM1とM2との間のビーム経路内で、ミラーM2上へのかすめ入射の近くに絞り18が配置される。これに代えて又はこれに加えて、直接ミラーM2の面上に絞りを配置することができる。
投影光学ユニット32は、縮小結像スケールβ=8.00を有する。
物体平面5内への主光線16の入射角は6.3°である。
投影光学ユニット32では、入射瞳は、xz平面内とyz平面内との両方において結像ビーム経路内で物体視野4の下流に位置する。従って物体視野4から発する主光線16の広がりは、図16に記載の子午断面内と図17に記載の図内との両方において収束する。
絞り18は、xz断面(図17を参照されたい)内で、そのyz断面内の位置と比較してz方向に変位された位置に位置することが可能である。
物体視野4と像視野8との間のz距離は約1680mmである。
物体/像オフセット(dOIS)は約2180mmである。
ミラーM7と像視野8との間の自由作動距離は66mmである。
投影光学ユニット32では、波面収差についての走査RMS値は最大で10mλであり、平均で10mλである。
最大歪曲値は、x方向には最大で0.05nmであり、y方向には最大で0.05nmである。x方向の像視野側テレセントリック度値は、最大で0.56mradであり、y方向の像視野側テレセントリック度値は、最大で0.90mradである。
更に別のミラーデータは、以下に続く表から明らかになる。
Figure 0006688219
図16に対する表7
yz平面(図16)内ではビーム経路内のミラーM5上の反射領域内に、及びxz平面(図17)内ではミラーM6とM7との間の結像ビーム経路領域内に中間像19が存在する。
ミラーM8は掩蔽され、ミラーM6とM7との間の結像ビーム経路内の照明光3の通過に向けた通過開口部17を含む。
結像ビーム経路内の最後のミラーM8のみが、結像光3に対する通過開口部17を含む。全ての他のミラーM1からM7は連続反射面を有する。ミラーM8の反射面は、その通過開口部17の周囲で用いられる。
ミラーM1、M3、M4、及びM8は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM2、M5、M6、及びM7は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。かすめ入射ミラーM2、M3、M5、及びM6は非常に大きい半径を有し、平面反射面からの僅かな偏位しか引き起こさない。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態33を図18及び図19に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図17までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。図18は、投影光学ユニット33の子午断面を示している。図19は、投影光学ユニット33の矢状面図を示している。
投影光学ユニット33は、合計で8つのミラーM1からM8を有し、その基本設計に関して、例えば図2に記載の投影光学ユニット7と同様である。
ミラーM1からM8は、前と同様に、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面ミラーとして具現化される。投影光学ユニット33からの光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。
Figure 0006688219
図18/図19に対する表1

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図18/図19に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図18/図19に対する表3a

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図18/図19に対する表3b

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図18/図19に対する表3c

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図18/図19に対する表4a

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図18/図19に対する表4b

Figure 0006688219

Figure 0006688219
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図18/図19に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図18/図19に対する表6
投影光学ユニット33の全体反射率は10.03%である。
投影光学ユニット33は、0.55の像側開口数を有する。像視野8は、2x6.5mmのx広がりと1.20mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット33は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
投影光学ユニット33は、正確に8つのミラーM1からM8を有する。一方でミラーM2及びM3、もう一方でM5、M6は、かすめ入射ミラーとして具現化され、各場合に結像ビーム経路内で互いに直接前後して配置される。投影光学ユニット33は、正確に4つのかすめ入射ミラー、すなわち、ミラーM2、M3、M5、及びM6を有する。ミラーM1、M4、M7、及びM8は、法線入射ミラーとして具現化される。
投影光学ユニット33では、ミラーM1とM2との間のビーム経路内で、ミラーM2上へのかすめ入射の近くに絞り18が配置される。これに代えて又はこれに加えて、直接ミラーM2の面上に絞りを配置することができる。
投影光学ユニット32は、縮小結像スケールβ=7.00を有する。
物体平面5内への主光線16の入射角は6.4°である。
投影光学ユニット33の入射瞳は、yz平面内では物体視野4の7700mm手前の照明光のビーム経路内に位置する。xy平面(図19を参照されたい)内では、入射瞳は、物体視野の1775mm後ろの投影光学ユニット33の結像ビーム経路内に位置する。従って物体視野4から発する主光線16の広がりは、図18に記載の子午断面内と図19に記載の図内との両方において収束する。
絞り18は、xz断面(図19を参照されたい)内で、そのyz断面内の位置と比較してz方向に変位された位置に位置することが可能である。
物体視野4と像視野8との間のz距離は約1290mmである。
物体/像オフセット(dOIS)は約1460mmである。
ミラーM7と像視野8との間の自由作動距離は50mmである。
投影光学ユニット33では、波面収差についての走査RMS値は最大で10mλであり、平均で8mλである。
最大歪曲値は、x方向には最大で0.03nmであり、y方向には最大で0.08nmである。x方向の像視野側テレセントリック度値は、最大で0.79mradであり、y方向の像視野側テレセントリック度値は、最大で0.37mradである。
更に別のミラーデータは、以下に続く表から明らかになる。
Figure 0006688219
図18/図19に対する表7
yz平面(図18)内ではビーム経路内のミラーM3とM4との間の結像ビーム経路領域内に、及びxz平面(図19)内ではミラーM6とM7との間の結像ビーム経路領域内に中間像19が存在する。中間像19は、yz平面でミラーM5上の反射領域内に存在することも可能である。
ミラーM8は掩蔽され、ミラーM6とM7との間の結像ビーム経路内の照明光3の通過に向けた通過開口部17を含む。
投影光学ユニット33の瞳掩蔽は、この投影光学ユニットの像側開口数の14%である。
結像ビーム経路内の最後のミラーM8のみが、結像光3に対する通過開口部17を含む。全ての他のミラーM1からM7は連続反射面を有する。ミラーM8の反射面は、その通過開口部17の周囲で用いられる。
ミラーM1、M3、M4、及びM8は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM2、M5、M6、及びM7は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。かすめ入射ミラーM2、M3、M5、及びM6は非常に大きい半径を有し、平面反射面からの僅かな偏位しか引き起こさない。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態34を図20及び図21に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図19までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。図20は、投影光学ユニット34の子午断面を示している。図21は、投影光学ユニット34の矢状面図を示している。
投影光学ユニット34は、合計で8つのミラーM1からM8を有し、その基本設計に関して、例えば図2に記載の投影光学ユニット7と同様である。
投影光学ユニット34は、歪像光学ユニットとして具現化される。投影光学ユニット34は、図20に記載のyz断面内で8.00の縮小結像スケールβyを有する。yz断面に対して垂直なxz平面(図21を参照されたい)内では、投影光学ユニット34は、4.00の縮小結像スケールβxを有する。
投影光学ユニット34の回転対称射出瞳との組み合わせで、これらの異なる結像スケールβx、βyは、図20と図21との間の比較から即座に明らかになるように、yz平面内でxz平面と比較して半分のサイズの物体側開口数を生じる。その結果、5.1°の有利に小さい主光線角度CRAOがyz平面内で得られる。
本明細書に関わる歪像投影レンズの利点は、US 2013/0128251 A1にも解説されており、この文献は、その全文が引用によって本出願に組み込まれている。
投影光学ユニット34の歪像効果は、ミラーM1からM8の全ての光学面に分散される。
ミラーM1からM8は、前と同様に、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面ミラーとして具現化される。投影光学ユニット34からの光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。

Figure 0006688219
図20/図21に対する表1

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図20/図21に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図20/図21に対する表3a

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図20/図21に対する表3b

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図20/図21に対する表3c

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図20/図21に対する表4a

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図20/図21に対する表4b

Figure 0006688219
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図20/図21に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図20/図21に対する表6
投影光学ユニット34の全体反射率は10.17%である。
投影光学ユニット34は、0.55の像側開口数を有する。像視野8は、2x13mmのx広がりと1.20mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット34は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
投影光学ユニット34は、正確に8つのミラーM1からM8を有する。一方でミラーM2及びM3、もう一方でM5、M6は、かすめ入射ミラーとして具現化され、各場合に結像ビーム経路内で互いに直接前後して配置される。投影光学ユニット34は、正確に4つのかすめ入射ミラー、すなわち、ミラーM2、M3、M5、及びM6を有する。ミラーM1、M4、M7、及びM8は、法線入射ミラーとして具現化される。
投影光学ユニット34では、ミラーM1とM2との間のビーム経路内で、ミラーM2上へのかすめ入射の近くに絞り18が配置される。これに代えて又はこれに加えて、直接ミラーM2の面上に絞りを配置することができる。
投影光学ユニット33の入射瞳は、xz平面(図21を参照されたい)内では物体視野4の2740mm手前の照明光のビーム経路内に位置する。yz平面内では、入射瞳は、物体視野の5430mm後ろの投影光学ユニット34の結像ビーム経路内に位置する。従って物体視野4から発する主光線16の広がりは、図20に記載の子午断面内と図21に記載の図内との両方において収束する。
絞り18は、xz断面(図21を参照されたい)内で、そのyz断面内の位置と比較してz方向に変位された位置に位置することが可能である。絞り18は平面であり、像視野に対して傾斜される。絞り18のx方向の長い広がりは583.18mmである。絞り18のy方向の総広がりは238.85mmである。
物体視野4と像視野8との間のz距離は約1850mmである。
物体/像オフセット(dOIS)は約2400mmである。
ミラーM7と像視野8との間の自由作動距離は83mmである。
投影光学ユニット34では、波面収差についての走査RMS値は最大で8mλであり、平均で7mλである。
最大歪曲値は、x方向には最大で0.10nmであり、y方向には最大で0.10nmである。x方向の像視野側テレセントリック度値は、最大で1.58mradであり、y方向の像視野側テレセントリック度値は、最大で0.15mradである。
更に別のミラーデータは、以下に続く表から明らかになる。
Figure 0006688219
図20/図21に対する表7
yz平面(図20)内ではビーム経路内のミラーM4上の反射領域内に、及びxz平面(図21)に対して平行なミラーM6とM7との間の結像ビーム経路領域内に中間像19が存在する。
ミラーM8は掩蔽され、ミラーM6とM7との間の結像ビーム経路内の照明光3の通過に向けた通過開口部17を含む。
結像ビーム経路内の最後のミラーM8のみが、結像光3に対する通過開口部17を含む。全ての他のミラーM1からM7は連続反射面を有する。ミラーM8の反射面は、その通過開口部17の周囲で用いられる。
ミラーM1、M3、M4、及びM8は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM2、M5、M6、及びM7は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。かすめ入射ミラーM2、M3、M5、及びM6は非常に大きい半径を有し、平面反射面からの僅かな偏位しか引き起こさない。
図21Aは、投影光学ユニット34のミラーM1からM8上で各場合に照明光3による入射を受ける面の縁部輪郭、すなわち、ミラーM1からM8のいわゆるフットプリントを示している。これらの縁部輪郭は、各場合にそれぞれのミラーM1からM8の局所xy座標に対応するx/yグラフ内に描示したものである。例図は、ミリメートルを単位とする正確な縮尺のものである。ミラーM2、M3、及びM8は、値1から偏位しないか又は僅かにしか偏位しないx/yアスペクト比を有する。ミラーM1及びM5及び同様にM7は、約2のx/yアスペクト比を有する。ミラーM4は、約15のx/yアスペクト比を有する。ミラーM6は、約0.7のx/yアスペクト比を有する。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態35を図22及び図23に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図21Aまでの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。図22は、投影光学ユニット35の子午断面を示している。図23は、投影光学ユニット35の矢状面図を示している。
投影光学ユニット35は、合計で8つのミラーM1からM8を有し、その基本設計に関して、例えば図2に記載の投影光学ユニット7と同様である。
投影光学ユニット35は歪像光学ユニットとして具現化される。投影光学ユニット35は、図22に記載のyz断面内で6.00の縮小結像スケールβyを有する。yz断面に対して垂直なxz平面(図23を参照されたい)内では、投影光学ユニット35は、4.00の縮小結像スケールβxを有する。
これらの異なる結像スケールβx、βyは、図22と図23との間の比較から即座に明らかになるように、yz平面内でxz平面よりも小さい物体側開口数を生じる。その結果、6.3°の有利に小さい主光線角度CRAOがyz平面内で得られる。
投影光学ユニット35の歪像効果は、ミラーM1からM8の全ての光学面に分散される。
ミラーM1からM8は、前と同様に、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面ミラーとして具現化される。投影光学ユニット35からの光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。
Figure 0006688219
図22/図23に対する表1

Figure 0006688219

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図22/図23に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図22/図23に対する表3a

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図22/図23に対する表3b

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図22/図23に対する表3c

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図22/図23に対する表4a

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図22/図23に対する表4b

Figure 0006688219

Figure 0006688219
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図22/図23に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図22/図23に対する表6
投影光学ユニット35の全体反射率は10.15%である。
投影光学ユニット35は、0.49の像側開口数を有する。像視野8は、2x13mmのx広がりと1.20mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット35は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
投影光学ユニット35は、正確に8つのミラーM1からM8を有する。一方でミラーM2及びM3、もう一方でM5、M6は、かすめ入射ミラーとして具現化され、各場合に結像ビーム経路内で互いに直接前後して配置される。投影光学ユニット35は、正確に4つのかすめ入射ミラー、すなわち、ミラーM2、M3、M5、及びM6を有する。ミラーM1、M4、M7、及びM8は、法線入射ミラーとして具現化される。
投影光学ユニット35では、ミラーM1とM2との間のビーム経路内で、ミラーM2上へのかすめ入射の近くに絞り18が配置される。これに代えて又はこれに加えて、直接ミラーM2の面上に絞りを配置することができる。
物体平面5内への主光線16の入射角は6.3°である。
図22に記載の子午断面内では、主光線は、物体視野4とミラーM1との間で発散方式で延びる。投影光学ユニット35の入射瞳は、yz平面内では物体視野4の手前の約−6640mmのところの照明光のビーム経路内に位置する。xz平面(図23を参照されたい)内では、入射瞳は、物体視野の約2750mm後ろの投影光学ユニット35の結像ビーム経路内に位置する。ミラーM8は、x寸法内で投影光学ユニット35の像側開口数の15%よりも小さい像側掩蔽を定める。
絞り18は、xz断面(図23を参照されたい)内で、そのyz断面内の位置と比較してz方向に変位された位置に位置することが可能である。
物体視野4と像視野8との間のz距離は約1600mmである。
物体/像オフセット(dOIS)は約2430mmである。
ミラーM7と像視野8との間の自由作動距離は88mmである。
投影光学ユニット35では、波面収差についての走査RMS値は最大で10mλであり、平均で7mλである。
最大歪曲値は、x方向には最大で0.27nmであり、y方向には最大で0.17nmである。x方向の像視野側テレセントリック度値は、最大で0.01mradであり、y方向の像視野側テレセントリック度値は、最大で0.06mradである。
更に別のミラーデータは、以下に続く表から明らかになる。
Figure 0006688219
図22/図23に対する表7
yz平面(図22)内ではビーム経路内のミラーM5上の反射領域内に、及びxz平面(図23)内ではミラーM6とM7との間の結像ビーム経路領域内に中間像19が存在する。
ミラーM8は掩蔽され、ミラーM6とM7との間の結像ビーム経路内の照明光3の通過に向けた通過開口部17を含む。掩蔽についての値は15%である。
結像ビーム経路内の最後のミラーM8のみが、結像光3に対する通過開口部17を含む。全ての他のミラーM1からM7は連続反射面を有する。ミラーM8の反射面は、その通過開口部17の周囲で用いられる。
ミラーM1、M3、M4、M5、及びM8は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM2、M6、及びM7は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。かすめ入射ミラーM2、M3、M5、及びM6は非常に大きい半径を有し、平面反射面からの僅かな偏位しか引き起こさない。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態36を図24及び図25に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図23までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。図24は、投影光学ユニット36の子午断面を示している。図25は、投影光学ユニット36の矢状面図を示している。
投影光学ユニット36は、合計で8つのミラーM1からM8を有し、その基本設計に関して、例えば図2に記載の投影光学ユニット7と同様である。
投影光学ユニット36は歪像光学ユニットとして具現化される。投影光学ユニット36は、図24に記載のyz断面内で6.00の縮小結像スケールβyを有する。yz断面に対して垂直なxz平面(図25を参照されたい)内では、投影光学ユニット36は、5.40の縮小結像スケールβxを有する。
これらの異なる結像スケールβx、βyは、図24と図25との間の比較から明らかになるように、yz平面内でxz平面よりも小さい物体側開口数を生じる。その結果、6.7°の有利に小さい主光線角度CRAOがyz平面内で得られる。
投影光学ユニット36の歪像効果は、ミラーM1からM8の全ての光学面に分散される。
ミラーM1からM8は、前と同様に、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面ミラーとして具現化される。投影光学ユニット36からの光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。
Figure 0006688219
図24/図25に対する表1

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図24/図25に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図24/図25に対する表3a

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図24/図25に対する表3b

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図24/図25に対する表3c

Figure 0006688219

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図24/図25に対する表4a

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図24/図25に対する表4b

Figure 0006688219
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図24/図25に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図24/図25に対する表6
投影光学ユニット36の全体反射率は10.11%である。
投影光学ユニット36は、0.50の像側開口数を有する。像視野8は、2x13mmのx広がりと1.20mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット36は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
投影光学ユニット36は、正確に8つのミラーM1からM8を有する。一方でミラーM2及びM3、もう一方でM5、M6は、かすめ入射ミラーとして具現化され、各場合に結像ビーム経路内で互いに直接前後して配置される。投影光学ユニット36は、正確に4つのかすめ入射ミラー、すなわち、ミラーM2、M3、M5、及びM6を有する。ミラーM1、M4、M7、及びM8は、法線入射ミラーとして具現化される。
投影光学ユニット36では、ミラーM1とM2との間のビーム経路内で、ミラーM2上へのかすめ入射の近くに絞り18が配置される。これに代えて又はこれに加えて、直接ミラーM2の面上に絞りを配置することができる。
物体平面5内への主光線16の入射角は6.7°である。
投影光学ユニット36の入射瞳は、xz平面(図25を参照されたい)内では物体視野4の2225mm手前の照明光のビーム経路内に位置する。yz平面内では、入射瞳は、物体視野の4000mm後ろの投影光学ユニット36の結像ビーム経路内に位置する。従って物体視野4から発する主光線16の広がりは、図24に記載の子午断面内と図25に記載の図内との両方において収束する。ミラーM8は、x寸法内で投影光学ユニット36の像側開口数の18%よりも小さい像側掩蔽を定める。
絞り18は、xz断面(図25を参照されたい)内で、そのyz断面内の位置と比較してz方向に変位された位置に位置することが可能である。
物体視野4と像視野8との間のz距離は約1600mmである。
物体/像オフセット(dOIS)は約2000mmである。
ミラーM7と像視野8との間の自由作動距離は71mmである。
投影光学ユニット36では、波面収差についての走査RMS値は最大で11mλであり、平均で10mλである。
最大歪曲値は、x方向には最大で0.10nmであり、y方向には最大で0.32nmである。x方向の像視野側テレセントリック度値は、最大で0.61mradであり、y方向の像視野側テレセントリック度値は、最大で0.74mradである。
更に別のミラーデータは、以下に続く表から明らかになる。

Figure 0006688219
図24/図25に対する表7
yz平面(図24)内ではビーム経路内のミラーM3とM4との間の領域内に、及びxz平面(図25)内ではミラーM6とM7との間の結像ビーム経路領域内に中間像19が存在する。
ミラーM8は掩蔽され、ミラーM6とM7との間の結像ビーム経路内の照明光3の通過に向けた通過開口部17を含む。
結像ビーム経路内の最後のミラーM8のみが、結像光3に対する通過開口部17を含む。全ての他のミラーM1からM7は連続反射面を有する。ミラーM8の反射面は、その通過開口部17の周囲で用いられる。
ミラーM1、M3、M4、及びM8は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM2、M5、M6、及びM7は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。かすめ入射ミラーM2、M3、M5、及びM6は非常に大きい半径を有し、平面反射面からの僅かな偏位しか引き起こさない。
図1に記載の投影露光装置1において例えば投影光学ユニット7の代わりに用いることができる投影光学ユニットの更に別の実施形態37を図26及び図27に基づいて以下に続く本文で説明する。図1から図25までの状況で上記に既に説明した構成要素及び機能を適宜同じ参照符号で表しており、これらについて再度詳細に解説することはしない。図26は、投影光学ユニット37の子午断面を示している。図27は、投影光学ユニット37の矢状面図を示している。
投影光学ユニット37は、合計で8つのミラーM1からM8を有し、その基本設計に関して、例えば図2に記載の投影光学ユニット7と同様である。
投影光学ユニット37は歪像光学ユニットとして具現化される。投影光学ユニット37は、図26に記載のyz断面内で8.00の縮小結像スケールβyを有する。yz断面に対して垂直なxz平面(図27を参照されたい)内では、投影光学ユニット37は、4.00の縮小結像スケールβxを有する。
これらの異なる結像スケールβx、βyは、図26と図27との間の比較から即座に明らかになるように、yz平面内でxz平面と比較して半分のサイズの物体側開口数を生じる。その結果、3.6°の有利に小さい主光線角度CRAOがyz平面内で得られる。
投影光学ユニット37の歪像効果は、ミラーM1からM8の全ての光学面に分散される。
ミラーM1からM8は、前と同様に、上記に明示した自由曲面方程式(1)が当てはまる自由曲面ミラーとして具現化される。投影光学ユニット37からの光学設計データは、それらの設計に関して図2に記載の投影光学ユニット7に対する表に対応する以下に続く表から収集することができる。
Figure 0006688219
図26/図27に対する表1

Figure 0006688219
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図26/図27に対する表2

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図26/図27に対する表3a

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図26/図27に対する表3b

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図26/図27に対する表3c

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図26/図27に対する表4a

Figure 0006688219
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図26/図27に対する表4b

Figure 0006688219
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図26/図27に対する表5

Figure 0006688219

Figure 0006688219

Figure 0006688219
図26/図27に対する表6
投影光学ユニット37の全体反射率は8.78%である。
投影光学ユニット37は、0.45の像側開口数を有する。像視野8は、2x13mmのx広がりと1.20mmのy広がりとを有する。投影光学ユニット37は、13.5nmの照明光3の作動波長に対して最適化される。
投影光学ユニット37は、正確に8つのミラーM1からM8を有する。一方でミラーM2及びM3、もう一方でM5、M6は、かすめ入射ミラーとして具現化され、各場合に結像ビーム経路内で互いに直接前後して配置される。ミラーM2とM3とは、xy平面内で反対の方向に主光線16を偏向する。投影光学ユニット37は、正確に4つのかすめ入射ミラー、すなわち、ミラーM2、M3、M5、及びM6を有する。ミラーM1、M4、M7、及びM8は、法線入射ミラーとして具現化される。
投影光学ユニット37では、ミラーM1とM2との間のビーム経路内で、ミラーM2上へのかすめ入射の近くに絞り18が配置される。これに代えて又はこれに加えて、直接ミラーM2の面上に絞りを配置することができる。
投影光学ユニット37の入射瞳は、xz平面(図27を参照されたい)内では物体視野4の3000mm後ろの照明光のビーム経路内に位置する。yz平面内では、入射瞳は、物体視野の3100mm後ろの投影光学ユニット37の結像ビーム経路内に位置する。従って物体視野4から発する主光線16の広がりは、図26に記載の子午断面内と図27に記載の図内との両方において収束する。
絞り18は、xz断面(図27を参照されたい)内で、そのyz断面内の位置と比較してz方向に変位された位置に位置することが可能である。
物体視野4と像視野8との間のz距離は約2100mmである。
物体/像オフセット(dOIS)は約3400mmである。
ミラーM7と像視野8との間の自由作動距離は86mmである。
投影光学ユニット37では、波面収差についての走査RMS値は最大で18mλであり、平均で14mλである。
最大歪曲値は、x方向には最大で0.15nmであり、y方向には最大で0.14nmである。x方向の像視野側テレセントリック度値は、最大で1.17mradであり、y方向の像視野側テレセントリック度値は、最大で2.77mradである。
更に別のミラーデータは、以下に続く表から明らかになる。
Figure 0006688219
図26/図27に対する表7
yz平面(図26)内ではビーム経路内のミラーM3上の反射領域内に、及びxz平面(図27)に対して平行なミラーM6とM7との間の結像ビーム経路領域内に中間像19が存在する。
ビーム経路内で最後のミラーM8は掩蔽されない。照明光3は、ミラーM6とM7との間の部分ビーム経路内で連続使用ミラーM8のそばを通過するように案内される。全てのミラーM1からM8は、連続使用反射面を有する。
ミラーM1、M2、M4、M6、及びM8は、半径に関して負の値を有し、すなわち、原理的に凹ミラーである。ミラーM3、M5、及びM7は、半径に関して正の値を有し、すなわち、原理的に凸ミラーである。かすめ入射ミラーM2、M3、M5、及びM6は非常に大きい半径を有し、平面反射面からの僅かな偏位しか引き起こさない。
上記に説明した投影光学ユニットのデータのうちの一部を以下に続く表I及びIIに再度要約する。それぞれの最初の列は、これらのデータをそれぞれの例示的実施形態に割り当てる役割を果たす。
以下に続く表Iは、開口数(NA)、x方向の像視野広がり(視野サイズX)、y方向の像視野広がり(視野サイズY)、像視野曲率(視野曲率)、及び全体反射率又は系伝達率(伝達率)の光学パラメータを要約している。
以下に続く表IIは、「ミラータイプの順序」(ミラータイプ順序)、「ミラー偏向効果の順序」(ミラー回転順序)、「xz平面内の屈折力順序」(x屈折力順序)、及び「yz平面内の屈折力順序」(y屈折力順序)のパラメータを明示している。これらの順番は、各場合にビーム経路内の最後のミラーを始端とし、すなわち、逆ビーム方向を辿る。例として図2に記載の実施形態では、順番「L0RRLLLR」は、M8からM1の順番の偏向効果に関するものである。
Figure 0006688219
(左から、図,NA,視野サイズX,視野サイズY,視野曲率,伝達率)
表1

Figure 0006688219

Figure 0006688219
(左から、図,ミラータイプ順序,ミラー回転順序,x屈折率順序,y屈折率順序)
表2
ミラータイプでは、細目「N」は法線入射(NI)ミラーに関し、表記「G」はかすめ入射(GI)ミラーに関する。屈折力順序では、「+」は凹ミラー面を表し、「−」は凸ミラー面を表す。屈折力順序をxとyとで比較すると、例えば図5に記載の実施形態を例外として事実上全ての例示的実施形態がxとyとで異なる屈折力順序を有することがわかる。例として、図2に記載の実施形態のミラーM1は、x方向では凸(屈折力「−」、負の屈折力)であり、y方向では凹(屈折力「+」、正の屈折力)である。xとyとで異なる符号の屈折力を有するこれらのミラーは、鞍面を構成する。
図5及び図10に記載の実施形態を例外として、GIミラーは、表IIのミラータイプ順序からわかるように、常に対で出現する。図5に記載の実施形態では、3つのGIミラーが互いに前後して、すなわち、ミラーM1からM3として位置する。図10に記載の実施形態では、単一のGIミラー、すなわち、ミラーM1が存在する。
図6から図9及び図14から図27に記載の実施形態のミラータイプ順序は、ミラーM8からM1に関して等しくNNGGNGGNである。図14から図17及び図27に記載の実施形態は、ミラーM8からM1に関して等しい偏向効果順序、すなわち、LRRRLLLRを有する。図18から図25に記載の実施形態も、ミラーM8からM1に関して等しい偏向効果順序、すなわち、L0RRLLLRを有する。
屈折力順序に関して、図7に記載の実施形態は、xz平面内で正の屈折力を有する5つの連続するミラー、すなわち、ミラーM1からM5を有する。他の実施形態は、xz平面内で正の屈折力を有する4つまでの連続するミラーを有する。図8及び図22に記載の実施形態は、各場合に正の屈折力をyz平面内に有する互いに前後に配置された3つのミラー、すなわち、各場合にミラーM3からM5を有する。上記に設計データを解説した他の例示的実施形態は、yz平面内で正の屈折力を有する2つよりも多い連続するミラーを持たない。
上記に説明した投影光学ユニットの複数の実施形態は、xz平面内又はyz平面内のいずれかにおいて正の屈折力を有する2つの連続するミラーを持たない。図5に記載の実施形態は、平面xzとyzの両方において正の屈折力を有する2つの連続するミラーを持たない。
微細構造化又はナノ構造化構成要素を生成するために、投影露光装置1は、以下のとおりに用いられる。最初に、反射マスク10又はレチクルと基板又はウェーハ11とが与えられる。続いて、投影露光装置1を用いてレチクル10上の構造がウェーハ11の感光層上に投影される。その後、感光層を現像することによって微細構造又はナノ構造がウェーハ11上に生成され、従って微細構造化構成要素が生成される。
3 結像光
4 物体視野
8 像視野
17 通過開口部
M2、M3、M5、M6 かすめ入射ミラー

Claims (27)

  1. 物体視野(4)を像視野(8)内に結像するための投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)であって、
    前記物体視野(4)から前記像視野(8)に結像光(3)を案内するための複数のミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)を含み、
    前記ミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)のうちの少なくとも2つが、60°よりも大きい前記結像光(3)の入射角を有するかすめ入射のために該結像光(3)のビーム経路に互いに直接に前後して配置されるミラー(M2,M3;M5,M6;M1,M2;M1,M2,M3;M3,M4;M6,M7;M2からM6;M1からM4,M6からM9)として具現化され、
    前記像視野(8)は、視野寸法(x)に沿って13mmよりも大きい広がりを有する、 ことを特徴とする投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)。
  2. 正確に2つのかすめ入射のためのミラー(M1,M2)を含むことを特徴とする請求項1に記載の投影光学ユニット。
  3. 前記像視野(8)が配置された像平面(9)との0°とは異なる角度を含み、前記物体視野(4)が配置された物体平面(5)を含むことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の投影光学ユニット。
  4. 正確に4つのかすめ入射のためのミラー(M2,M3,M5,M6)を含むことを特徴とする請求項1又は請求項3に記載の投影光学ユニット。
  5. 前記4つのかすめ入射のためのミラー(M2,M3,M5,M6)は、それぞれ、前記結像光(3)の前記ビーム経路に互いに直接に前後して対(ペア)をなす方式(M2,M3;M5,M6)で配置されることを特徴とする請求項4に記載の投影光学ユニット。
  6. 45°よりも小さい前記結像光(3)の入射角を有する法線入射のための少なくとも2つのミラー(M1,M4,M7,M8;M3からM6;M4からM7;M2,M5,M8,M9;M1,M7,M8;M5,M10,M11)を含むことを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
  7. 45°よりも小さい前記結像光(3)の入射角を有する法線入射のための4つのミラー(M1,M4,M7,M8;M3からM6;M4からM7)を含むことを特徴とする請求項6に記載の投影光学ユニット。
  8. 9%よりも高い投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)の全てのミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)の反射率の積として得られる投影光学ユニット(7;20;21)の全体反射率を有することを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
  9. 請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の投影光学ユニットであって、
    前記投影光学ユニットはEUV投影光学ユニットであり、
    前記投影光学ユニットは少なくとも0.4の像側開口数を有する、
    ことを特徴とする投影光学ユニット。
  10. 物体視野(4)を像視野(8)に結像するための投影光学ユニット(34;35;36;37)であって、
    前記物体視野(4)から前記像視野(8)まで結像光(3)を案内するための複数のミラー(M1からM8)を含み、
    少なくともつのミラー(M2,M3,M5,M6)が、60°よりも大きい前記結像光(3)の入射角を有するかすめ入射のためのミラーとして具現化され、
    投影光学ユニット(34;35;36;37)が、前記像視野(8)を規定する2つの異なる方向に2つの異なる結像スケール(βx,βy)を有する、
    ことを特徴とする投影光学ユニット(34;35;36;37)。
  11. 前記物体視野(4)は、1よりも大きいxyアスペクト比を有し、投影光学ユニットの前記異なる結像スケールは、このアスペクト比のこれらの2つの物体視野寸法の方向(x,y)に存在することを特徴とする請求項10に記載の投影光学ユニット。
  12. より長い物体視野寸法(x)における縮小結像スケール(βx)が、それと垂直なより短い物体視野寸法(y)におけるものよりも小さいことを特徴とする請求項11に記載の投影光学ユニット。
  13. 前記2つの異なる結像スケールのうちの前記より小さいもの(βx)は、6よりも小さいことを特徴とする請求項10から請求項12のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
  14. 前記2つの結像スケールのうちの前記より大きいもの(βy)は、少なくとも6であることを特徴とする請求項10から請求項13のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
  15. 前記ミラーのうちの少なくとも1つが、自由曲面の形態の反射面を有することを特徴とする請求項1から請求項14のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
  16. 方向依存性物体側開口数を有することを特徴とする請求項10から請求項15のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
  17. 少なくとも0.4の像側開口数と、
    7°よりも小さい視野中心点に対する物体側主光線角度(CRAO)と、
    を有することを特徴とする請求項1から請求項16のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
  18. 少なくとも0.5の開口数を有することを特徴とする請求項17に記載の投影光学ユニット。
  19. 一方の視野寸法(x)において20mmよりも大きい前記像視野(8)の広がりを有することを特徴とする請求項17又は請求項18に記載の投影光学ユニット。
  20. より短い物体視野寸法(y)に沿ったその広がりがより長い物体視野寸法(x)に沿ったものよりも小さい絞り縁部を有する絞り(18)を含むことを特徴とする請求項11から請求項18のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
  21. 請求項1から請求項20のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
  22. 請求項1から請求項21のいずれか1項に記載の投影光学ユニットと、
    照明及び結像光(3)で物体視野(4)を照明するための照明光学ユニット(6)と、 を含むことを特徴とする光学系。
  23. EUV光源(2)を含むことを特徴とする請求項22に記載の光学系。
  24. 投影リソグラフィのための投影露光装置であって、
    請求項22又は請求項23に記載の光学系、
    を含むことを特徴とする投影露光装置。
  25. 走査方向(y)に変位させることができてレチクル(10)を保持するためのレチクルホルダ(10a)を含み、
    前記走査方向における投影光学ユニットの結像スケールが、それと垂直な方向におけるものよりも大きい、
    ことを特徴とする請求項24に記載の投影露光装置。
  26. 請求項24又は請求項25に記載の投影露光装置のためのレチクル(10)であって、 少なくとも104mmx132mmの広がりを有する、
    ことを特徴とするレチクル(10)。
  27. 構造化構成要素を生成する方法であって、
    レチクル(10)及びウェーハ(11)を与える段階と、
    請求項24又は請求項25に記載の投影露光装置を用いて前記レチクル(10)上の構造を前記ウェーハ(11)の感光層の上に投影する段階と、
    前記ウェーハ(11)上に微細構造又はナノ構造を生成する段階と、
    を含むことを特徴とする方法。
JP2016530459A 2013-07-29 2014-07-25 物体視野を像視野内に結像するための投影光学ユニット及びそのような投影光学ユニットを含む投影露光装置 Active JP6688219B2 (ja)

Applications Claiming Priority (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102013214770.8 2013-07-29
DE102013214770 2013-07-29
DE102014203190 2014-02-21
DE102014203190.7 2014-02-21
DE102014208770.8A DE102014208770A1 (de) 2013-07-29 2014-05-09 Projektionsoptik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen Projektionsoptik
DE102014208770.8 2014-05-09
PCT/EP2014/066072 WO2015014753A1 (en) 2013-07-29 2014-07-25 Projection optical unit for imaging an object field into an image field, and projection exposure apparatus comprising such a projection optical unit

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020067492A Division JP2020109533A (ja) 2013-07-29 2020-04-03 物体視野を像視野内に結像するための投影光学ユニット及びそのような投影光学ユニットを含む投影露光装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2016525720A JP2016525720A (ja) 2016-08-25
JP2016525720A5 JP2016525720A5 (ja) 2019-03-14
JP6688219B2 true JP6688219B2 (ja) 2020-04-28

Family

ID=52274204

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016530459A Active JP6688219B2 (ja) 2013-07-29 2014-07-25 物体視野を像視野内に結像するための投影光学ユニット及びそのような投影光学ユニットを含む投影露光装置
JP2020067492A Pending JP2020109533A (ja) 2013-07-29 2020-04-03 物体視野を像視野内に結像するための投影光学ユニット及びそのような投影光学ユニットを含む投影露光装置
JP2022150191A Active JP7565324B2 (ja) 2013-07-29 2022-09-21 物体視野を像視野内に結像するための投影光学ユニット及びそのような投影光学ユニットを含む投影露光装置

Family Applications After (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020067492A Pending JP2020109533A (ja) 2013-07-29 2020-04-03 物体視野を像視野内に結像するための投影光学ユニット及びそのような投影光学ユニットを含む投影露光装置
JP2022150191A Active JP7565324B2 (ja) 2013-07-29 2022-09-21 物体視野を像視野内に結像するための投影光学ユニット及びそのような投影光学ユニットを含む投影露光装置

Country Status (7)

Country Link
US (2) US10146033B2 (ja)
JP (3) JP6688219B2 (ja)
KR (1) KR102402365B1 (ja)
CN (2) CN105408796B (ja)
DE (1) DE102014208770A1 (ja)
TW (2) TWI673515B (ja)
WO (1) WO2015014753A1 (ja)

Families Citing this family (68)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014208770A1 (de) * 2013-07-29 2015-01-29 Carl Zeiss Smt Gmbh Projektionsoptik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen Projektionsoptik
JP2017506358A (ja) * 2014-02-24 2017-03-02 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. リソグラフィ装置および方法
DE102015226531A1 (de) * 2015-04-14 2016-10-20 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik
DE102015221983A1 (de) * 2015-11-09 2017-05-11 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik
DE102015221984A1 (de) 2015-11-09 2017-05-11 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik
DE102015225262A1 (de) * 2015-12-15 2017-06-22 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System, insbesondere für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage
DE102015226529A1 (de) * 2015-12-22 2017-06-22 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik
DE102016225220A1 (de) 2016-02-09 2017-08-10 Carl Zeiss Smt Gmbh Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie sowie optisches System mit einer derartigen Beleuchtungsoptik
WO2017202976A1 (en) * 2016-05-25 2017-11-30 Carl Zeiss Smt Gmbh Position measurement of optical elements in a lithographic apparatus
DE102016212578A1 (de) * 2016-07-11 2018-01-11 Carl Zeiss Smt Gmbh Projektionsoptik für die EUV-Projektionslithographie
DE102016217633A1 (de) 2016-09-15 2018-03-15 Carl Zeiss Smt Gmbh Optische Anordnung, insbesondere in einer Projektionsbelichtungsanlage für die EUV-Lithographie
DE102017200935A1 (de) 2017-01-20 2018-07-26 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik zur Führung von EUV-Abbildungslicht sowie Justageanordnung für eine derartige abbildende Optik
DE102017205130A1 (de) 2017-03-27 2017-07-06 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik
DE102017205548A1 (de) * 2017-03-31 2018-10-04 Carl Zeiss Smt Gmbh Optische Baugruppe zum Führen eines Ausgabestrahls eines Freie-Elektronen-Lasers
DE102017210269A1 (de) 2017-06-20 2017-08-31 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik
DE102017210990A1 (de) 2017-06-28 2017-08-31 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld mit EUV-Abbildungslicht
DE102017216401A1 (de) 2017-09-15 2018-10-11 Carl Zeiss Smt Gmbh Computer-generiertes Hologramm (CGH), sowie Verfahren zu dessen Herstellung
DE102017216893A1 (de) 2017-09-25 2019-03-28 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld
DE102017217372A1 (de) 2017-09-29 2017-11-23 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung der Oberflächenform eines optischen Elements
DE102017217371A1 (de) 2017-09-29 2019-04-04 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung der Oberflächenform eines optischen Elements
DE102017217680A1 (de) 2017-10-05 2017-11-23 Carl Zeiss Smt Gmbh Projektionsobjektiv mit einem Messstrahlengang
DE102018200167A1 (de) 2018-01-08 2019-07-11 Carl Zeiss Smt Gmbh Pupillenfacettenspiegel, Beleuchtungsoptik und optisches System für eine Projektionsbelichtungsanlage
DE102018201170A1 (de) * 2018-01-25 2019-07-25 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik für die EUV-Mikrolithographie
DE102018207081A1 (de) 2018-05-07 2019-11-07 Carl Zeiss Smt Gmbh Prüfvorrichtung und Verfahren zum Prüfen der Oberflächenform eines optischen Elements
DE102018207277A1 (de) 2018-05-09 2019-11-14 Carl Zeiss Smt Gmbh Lithografiemaske, optisches System zur Übertragung von Original Strukturabschnitten der Lithografiemaske sowie Projektionsoptik zur Abbildung eines Objektfeldes, in dem mindestens ein Original-Strukturabschnitt einer Lithografiemaske anordenbar ist
DE102018209175B4 (de) 2018-06-08 2024-01-04 Carl Zeiss Smt Gmbh Computer-generiertes Hologramm (CGH), interferometrische Prüfanordnung, sowie Verfahren zur Charakterisierung der Oberflächenform eines optischen Elements
DE102018211853A1 (de) 2018-07-17 2020-01-23 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung der Oberflächenform eines optischen Elements
DE102018214437A1 (de) 2018-08-27 2018-10-18 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik
DE102018221406A1 (de) 2018-12-11 2019-12-24 Carl Zeiss Smt Gmbh Diffraktives optisches Element sowie Verfahren zu dessen Herstellung
DE102018221405A1 (de) 2018-12-11 2019-12-24 Carl Zeiss Smt Gmbh Diffraktives optisches Element sowie Verfahren zu dessen Herstellung
EP3674797B1 (en) * 2018-12-28 2021-05-05 IMEC vzw An euvl scanner
DE102019201084A1 (de) 2019-01-29 2019-03-21 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren zur Vorhersage einer in einer vorgegebenen Einbaulage in einem optischen System zu erwartenden gravitationsbedingten Durchbiegung eines optischen Elements
DE102019201762A1 (de) 2019-02-12 2020-08-13 Carl Zeiss Smt Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Charakterisierung der Oberflächenform eines Testobjekts
DE102019202759A1 (de) 2019-02-28 2019-04-18 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projek-tionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik
DE102019205271A1 (de) 2019-04-11 2020-10-15 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik
DE102019208961A1 (de) 2019-06-19 2020-12-24 Carl Zeiss Smt Gmbh Projektionsoptik und Projektionsbelichtungsanlage mit einer solchen Projektionsoptik
DE102019214979A1 (de) 2019-09-30 2021-04-01 Carl Zeiss Smt Gmbh Messvorrichtung zur interferometrischen Bestimmung einer Oberflächenform
DE102019215707A1 (de) 2019-10-14 2021-04-15 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung der Oberflächenform eines optischen Elements
DE102019215828B4 (de) 2019-10-15 2022-12-01 Carl Zeiss Smt Gmbh Messvorrichtung und Verfahren zum Vermessen einer Oberflächenform eines optischen Elements
DE102019216447A1 (de) 2019-10-25 2019-12-19 Carl Zeiss Smt Gmbh Interferometrische Prüfanordnung zur Prüfung der Oberflächenform eines Testobjekts
DE102019219209A1 (de) 2019-12-10 2020-01-23 Carl Zeiss Smt Gmbh Oberflächenprofil-Messeinrichtung zur Vermessung der Spiegel einer abbildenden Optik
DE102020210529A1 (de) 2020-08-19 2022-02-24 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung der Oberflächenform eines optischen Elements
WO2022073610A1 (de) 2020-10-08 2022-04-14 Carl Zeiss Smt Gmbh Herstellungsverfahren und messverfahren
DE102021203123A1 (de) 2021-03-29 2022-09-29 Carl Zeiss Smt Gmbh Computer-generiertes Hologramm (CGH) sowie interferometrische Messanordnung zur Bestimmung der Oberflächenform eines Prüflings
DE102021203850A1 (de) 2021-04-19 2022-02-24 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines Computer-generierten Hologramms
DE102021205202A1 (de) 2021-05-21 2022-11-24 Carl Zeiss Smt Gmbh Messanordnung und Verfahren zur Vermessung der Oberflächenform eines optischen Elements
DE102021205774A1 (de) 2021-06-08 2022-12-08 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik
DE102021205775A1 (de) 2021-06-08 2022-12-08 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik
DE102022205887A1 (de) 2021-06-23 2022-12-29 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung der Oberflächenform eines optischen Elements
DE102022207720A1 (de) 2021-08-11 2023-02-16 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren zur Vorhersage einer Abweichung zwischen einer für ein optisches Element in einem Messzustand gemessenen und einer im Betriebszustand zu erwartenden Passe
WO2023051939A1 (en) 2021-10-01 2023-04-06 Carl Zeiss Smt Gmbh Method for characterizing the surface shape of an optical element, and interferometric test arrangement
DE102021211181A1 (de) 2021-10-05 2022-08-18 Carl Zeiss Smt Gmbh EUV-Projektionsoptik
DE102021211963A1 (de) 2021-10-25 2022-12-29 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren sowie interferometrische Messanordnung zur Bestimmung der Oberflächenform eines Prüflings
DE102021213383A1 (de) 2021-11-29 2023-06-01 Carl Zeiss Smt Gmbh Computer-generiertes Hologramm (CGH), sowie Verfahren zur Auslegung eines CGH
DE102021213959B4 (de) 2021-12-08 2024-01-25 Carl Zeiss Smt Gmbh EUV-Lichtquelle sowie Analyse- und/oder Produktionssystem mit einer derartigen EUV-Lichtquelle
DE102022203745A1 (de) 2022-04-13 2022-09-15 Carl Zeiss Smt Gmbh EUV-Kollektor für eine EUV-Projektionsbelichtungsanlage
DE102022204645B4 (de) 2022-05-12 2024-01-25 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren sowie interferometrische Messanordnung zur Bestimmung der Oberflächenform eines Prüflings
DE102022206110A1 (de) * 2022-06-20 2023-12-21 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld
DE102022206112A1 (de) 2022-06-20 2023-12-21 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld
DE102022206650A1 (de) 2022-06-30 2024-01-04 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren sowie Messanordnung zur interferometrischen Bestimmung der Oberflächenform eines Prüflings
DE102022209513A1 (de) 2022-09-12 2023-10-19 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren zum Kalibrieren einer sphärischen Welle, sowie Prüfsystem zur interferometrischen Bestimmung der Oberflächenform eines Prüflings
DE102022209791B3 (de) 2022-09-19 2023-07-06 Carl Zeiss Smt Gmbh EUV-Kollektor für eine EUV-Projektionsbelichtungsanlage
DE102022209887A1 (de) 2022-09-20 2023-08-24 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung der Oberflächenform eines optischen Elements
DE102022212382A1 (de) 2022-11-21 2023-02-23 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren zum Design einer Projektionsoptik sowie Projektionsoptik
DE102023201790A1 (de) 2023-02-28 2024-08-29 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren zur interferometrischen Bestimmung der Oberflächenform eines Prüflings
DE102023203224A1 (de) * 2023-04-06 2024-10-10 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld
DE102023203223A1 (de) * 2023-04-06 2024-10-10 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld
EP4354188A1 (en) 2023-04-19 2024-04-17 Carl Zeiss SMT GmbH Method of manufacturing a diffractive optical element and diffractive optical element

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2759106A (en) 1951-05-25 1956-08-14 Wolter Hans Optical image-forming mirror system providing for grazing incidence of rays
US2766385A (en) * 1952-09-11 1956-10-09 Herrnring Gunther Optical image-forming plural reflecting mirror systems
JPH03504271A (ja) * 1988-03-11 1991-09-19 ロッサー,ロイ,ジョナサン 光学装置及びその製造法
JP3499592B2 (ja) * 1994-01-31 2004-02-23 株式会社ルネサステクノロジ 投影露光装置及びパターン転写方法
US6577443B2 (en) 1998-05-30 2003-06-10 Carl-Zeiss Stiftung Reduction objective for extreme ultraviolet lithography
DE19923609A1 (de) * 1998-05-30 1999-12-02 Zeiss Carl Fa Ringfeld-4-Spiegelsysteme mit konvexem Primärspiegel für die EUV-Lithographie
GB0006330D0 (en) * 2000-03-17 2000-05-03 Kemp Malcolm H D Superresolving/high numerical aperture imaging devices
DE10155711B4 (de) 2001-11-09 2006-02-23 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Im EUV-Spektralbereich reflektierender Spiegel
US7481544B2 (en) * 2004-03-05 2009-01-27 Optical Research Associates Grazing incidence relays
CN1954406B (zh) * 2004-06-23 2011-07-06 株式会社尼康 投影光学系统、曝光装置以及曝光方法
KR101127346B1 (ko) 2005-09-13 2012-03-29 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 마이크로리소그라피 투영 광학 시스템, 디바이스 제작 방법 및 광학 표면을 설계하기 위한 방법
CN101416117B (zh) * 2006-04-07 2014-11-05 卡尔蔡司Smt有限责任公司 微光刻投影光学系统、工具及其制造方法
DE102008033341A1 (de) 2007-07-24 2009-01-29 Carl Zeiss Smt Ag Projektionsobjektiv
DE102009032751A1 (de) 2008-09-16 2010-04-15 Carl Zeiss Smt Ag Reflektives optisches Element für die EUV-Lithographie
DE102008049586A1 (de) * 2008-09-30 2010-04-08 Carl Zeiss Smt Ag Feldfacettenspiegel zum Einsatz in einer Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage für die EUV-Mikrolithographie
DE102009011328A1 (de) 2009-03-05 2010-08-19 Carl Zeiss Smt Ag Abbildende Optik
DE102009045096A1 (de) 2009-09-29 2010-10-07 Carl Zeiss Smt Ag Beleuchtungssystem mit einer Spiegelanordnung aus zwei Spiegeln
JP5469778B2 (ja) * 2010-04-22 2014-04-16 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 結像光学系及びそのような結像光学系を有するマイクロリソグラフィのための投影露光装置
DE102010029049B4 (de) * 2010-05-18 2014-03-13 Carl Zeiss Smt Gmbh Beleuchtungsoptik für ein Metrologiesystem für die Untersuchung eines Objekts mit EUV-Beleuchtungslicht sowie Metrologiesystem mit einer derartigen Beleuchtungsoptik
CN103038690B (zh) * 2010-07-30 2016-08-03 卡尔蔡司Smt有限责任公司 成像光学系统以及具有该类型成像光学系统的用于微光刻的投射曝光设备
DE102010039927A1 (de) * 2010-08-30 2012-03-01 Carl Zeiss Smt Gmbh Substrat für Spiegel für die EUV-Lithographie
DE102010040811A1 (de) * 2010-09-15 2012-03-15 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik
CN102012558B (zh) * 2010-10-29 2012-05-09 中国科学院高能物理研究所 具有最大适用范围的同步辐射曲边聚焦镜及其获得方法
DE102011075579A1 (de) 2011-05-10 2012-11-15 Carl Zeiss Smt Gmbh Spiegel und Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie mit einem solchen Spiegel
DE102011083888A1 (de) 2011-09-30 2013-04-04 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende katoptrische EUV-Projektionsoptik
EP2579100A3 (en) * 2011-10-03 2017-12-06 ASML Holding N.V. Inspection apparatus, lithographic apparatus, and device manufacturing method
DE102012202675A1 (de) 2012-02-22 2013-01-31 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildende Optik sowie Projektionsbelichtungsanlage für die Projektionslithografie mit einer derartigen abbildenden Optik
DE102014208770A1 (de) 2013-07-29 2015-01-29 Carl Zeiss Smt Gmbh Projektionsoptik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen Projektionsoptik

Also Published As

Publication number Publication date
JP2020109533A (ja) 2020-07-16
JP2016525720A (ja) 2016-08-25
US10146033B2 (en) 2018-12-04
DE102014208770A1 (de) 2015-01-29
TW202004256A (zh) 2020-01-16
TWI673515B (zh) 2019-10-01
TWI714232B (zh) 2020-12-21
CN105408796B (zh) 2020-07-17
CN111708256B (zh) 2024-06-25
KR20160040601A (ko) 2016-04-14
JP7565324B2 (ja) 2024-10-10
JP2022176242A (ja) 2022-11-25
KR102402365B1 (ko) 2022-05-26
CN105408796A (zh) 2016-03-16
TW201520597A (zh) 2015-06-01
US20190025562A1 (en) 2019-01-24
WO2015014753A1 (en) 2015-02-05
US10558026B2 (en) 2020-02-11
CN111708256A (zh) 2020-09-25
US20160085061A1 (en) 2016-03-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7565324B2 (ja) 物体視野を像視野内に結像するための投影光学ユニット及びそのような投影光学ユニットを含む投影露光装置
KR102648040B1 (ko) 이미지 필드내에 오브젝트 필드를 이미징하기 위한 이미징 광학 유닛 및 이러한 이미징 광학 유닛을 포함하는 투영 노광 장치
JP5319789B2 (ja) 結像光学系及びこの種の結像光学系を有するマイクロリソグラフィ用の投影露光装置
US9983484B2 (en) Illumination optical unit for EUV projection lithography
TW201546564A (zh) 用於投影微影的照明光學單元
JP6886476B2 (ja) 物体視野を像視野内に結像するための結像光学ユニット及びそのような結像光学ユニットを含む投影露光装置
US9535337B2 (en) Imaging optics, microlithography projection exposure apparatus having same and related methods
CN108351499B (zh) 将物场成像到像场中的成像光学单元以及包括这样的成像光学单元的投射曝光设备
TWI461733B (zh) 成像光學系統、具有此類型成像光學系統之用於微影的投射曝光設備以及用於製造結構化組件的方法
JP2024522609A (ja) 結像光学ユニット
TWI805619B (zh) 用於將物場成像至像場的成像光學單元
US9459539B2 (en) Imaging optical unit for a projection exposure apparatus
CN117441116A (zh) 成像光学单元

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170725

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170725

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180806

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20181017

A524 Written submission of copy of amendment under article 19 pct

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524

Effective date: 20190204

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20190122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190801

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20191023

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200129

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200305

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200403

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6688219

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250