JP6688219B2 - 物体視野を像視野内に結像するための投影光学ユニット及びそのような投影光学ユニットを含む投影露光装置 - Google Patents
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Description
[当初請求項1]
物体視野(4)を像視野(8)内に結像するための投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)であって、
前記物体視野(4)から前記像視野(8)に結像光(3)を案内するための複数のミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)を含み、
前記ミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)のうちの少なくとも2つが、60°よりも大きい前記結像光(3)の入射角を有するかすめ入射のために該結像光(3)のビーム経路に互いに直接に前後して配置されるミラー(M2,M3;M5,M6;M1,M2;M1,M2,M3;M3,M4;M6,M7;M4,M5;M2からM6;M1からM4,M6からM9)として具現化される、
ことを特徴とする投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)。
[当初請求項2]
正確に2つのかすめ入射のためのミラー(M1,M2)を特徴とする当初請求項1に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項3]
前記像視野(8)が配置された像平面(9)との0°とは異なる角度を含み、前記物体視野(4)が配置された物体平面(5)を特徴とする当初請求項1又は当初請求項2に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項4]
正確に4つのかすめ入射のためのミラー(M2,M3,M5,M6)を特徴とする当初請求項1又は当初請求項3に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項5]
前記4つのかすめ入射のためのミラー(M2,M3,M5,M6)は、それぞれ、前記結像光(3)の前記ビーム経路に互いに直接に前後して対方式(pairwise manner)(M2,M3;M5,M6)で配置されることを特徴とする当初請求項4に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項6]
45°よりも小さい前記結像光(3)の入射角を有する法線入射のための少なくとも2つのミラー(M1,M4,M7,M8;M3からM6;M4からM7;M2,M5,M8,M9;M1,M3,M6,M7;M1,M7,M8;M5,M10,M11)を特徴とする当初請求項1から当初請求項5のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項7]
45°よりも小さい前記結像光(3)の入射角を有する法線入射のための4つのミラー(M1,M4,M7,M8;M3からM6;M4からM7)を特徴とする当初請求項6に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項8]
9%よりも高い投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)の全てのミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)の反射率の積として出現する投影光学ユニット(7;20;21)の全体反射率を特徴とする当初請求項1から当初請求項7のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項9]
物体視野(4)を像視野(8)に結像するためのEUV投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)であって、
前記物体視野(4)から前記像視野(8)まで結像光(3)を案内するための複数のミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)を含み、
少なくとも0.4の像側開口数を有し、
7%よりも高い投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)の全てのミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)の反射率の積として出現する投影光学ユニット(7;20;21)の全体反射率を有する、
ことを特徴とするEUV投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)。
[当初請求項10]
物体視野(4)を像視野(8)に結像するための投影光学ユニット(34;35;36;37)であって、
前記物体視野(4)から前記像視野(8)まで結像光(3)を案内するための複数のミラー(M1からM8)を含み、
少なくとも1つのミラー(M2,M3,M5,M6)が、60°よりも大きい前記結像光(3)の入射角を有するかすめ入射のためのミラーとして具現化され、
投影光学ユニット(34;35;36;37)が、前記像視野(8)を張る(span)2つの異なる方向に2つの異なる結像スケール(β x ,β y )を有する、
ことを特徴とする投影光学ユニット(34;35;36;37)。
[当初請求項11]
前記物体視野(4)は、1よりも大きいxyアスペクト比を有し、投影光学ユニットの前記異なる結像スケールは、このアスペクト比のこれらの2つの物体視野寸法の方向(x,y)に存在することを特徴とする当初請求項10に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項12]
より長い物体視野寸法(x)における縮小結像スケール(β x )が、それと垂直なより短い物体視野寸法(y)におけるものよりも小さいことを特徴とする当初請求項11に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項13]
前記2つの異なる結像スケールのうちの前記より小さいもの(β x )は、6よりも小さいことを特徴とする当初請求項10から当初請求項12のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項14]
前記2つの結像スケールのうちの前記より大きいもの(β y )は、少なくとも6であることを特徴とする当初請求項10から当初請求項13のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項15]
前記ミラーのうちの少なくとも1つが、自由曲面の形態の反射面を有することを特徴とする当初請求項1から当初請求項14のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項16]
方向依存性物体側開口数を特徴とする当初請求項10から当初請求項15のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項17]
少なくとも0.4の像側開口数と、
7°よりも小さい視野中心点に対する物体側主光線角度(CRAO)と、
を特徴とし、
前記像視野(8)は、視野寸法(x)に沿って13mmよりも大きい広がりを有する、 ことを特徴とする当初請求項1から当初請求項16のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項18]
少なくとも0.5の開口数を特徴とする当初請求項17に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項19]
一方の視野寸法(x)において20mmよりも大きい前記像視野(8)の広がりを特徴とする当初請求項17又は当初請求項18に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項20]
より短い物体視野寸法(y)に沿ったその広がりがより長い物体視野寸法(x)に沿ったものよりも小さい絞り縁部を有する絞り(18)を特徴とする当初請求項11から当初請求項18のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項21]
当初請求項1から当初請求項20のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
[当初請求項22]
当初請求項1から当初請求項21のいずれか1項に記載の投影光学ユニットと、
照明及び結像光(3)で物体視野(4)を照明するための照明光学ユニット(6)と、 を含むことを特徴とする光学系。
[当初請求項23]
EUV光源(2)を特徴とする当初請求項22に記載の光学系。
[当初請求項24]
投影リソグラフィのための投影露光装置であって、
当初請求項22又は当初請求項23に記載の光学系、
を含むことを特徴とする投影露光装置。
[当初請求項25]
走査方向(y)に変位させることができてレチクル(10)を保持するためのレチクルホルダ(10a)を含み、
前記走査方向における投影光学ユニットの結像スケールが、それと垂直な方向におけるものよりも大きい、
ことを特徴とする当初請求項24に記載の投影露光装置。
[当初請求項26]
当初請求項24又は当初請求項25に記載の投影露光装置のためのレチクル(10)であって、
少なくとも104mmx132mmの広がりを有する、
ことを特徴とするレチクル(10)。
[当初請求項27]
構造化構成要素を生成する方法であって、
レチクル(10)及びウェーハ(11)を与える段階と、
当初請求項24又は当初請求項25に記載の投影露光装置を用いて前記レチクル(10)上の構造を前記ウェーハ(11)の感光層の上に投影する段階と、
前記ウェーハ(11)上に微細構造又はナノ構造を生成する段階と、
を含むことを特徴とする方法。
[当初請求項28]
当初請求項27に記載の方法に従って生成された構造化構成要素。
式中のxは、度を単位とするそれぞれの入射角を表している。係数ciは、一方でS偏光に関し、他方でP偏光に関するそれぞれの係数の平均値として次式から導出される。
図2に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図2に対する表2
図2に対する表3a
図2に対する表3b
図2に対する表3c
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,物体平面)
図2に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,物体平面)
図2に対する表4b
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図2に対する表5
図2に対する表6
図3に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図3に対する表2
図3に対する表3a
図3に対する表3b
(左端列(面)、上から像平面、M6,M5,M4,M3,M2,M1,物体平面)
図3に対する表4a
図3に対する表4b
(上端行、左から面,AOI(度),反射率。左端列(面)、上からM6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達。)
図3に対する表5
図3に対する表6
物体視野4と像視野8との間のy距離、すなわち、値dOISは、物体視野4のところにある285mmである。投影光学ユニット7と全く同様に、物体視野側主光線角度CRAOは、投影光学ユニット20では5.5°である。波面収差についての走査RMS値は、投影光学ユニット20では10.5mλよりも小さい。投影光学ユニット20における歪曲値は0.1nmよりも小さい。投影光学ユニット20のx方向のテレセントリック度値は、像視野側で5mradよりも小さい。投影光学ユニット20のy方向のテレセントリック度値は、像視野側で0.45mradよりも小さい。
図4に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図4に対する表2
図4に対する表3a
図4に対する表3b
(左端列(面)、上から像平面、M6,M5,M4,M3,M2,M1,物体平面)
図4に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M6,M5,M4,M3,M2,M1,物体平面)
図4に対する表4b
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達。)
図4に対する表5
図4に対する表6
図5に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」、infは「無限大」)
図5に対する表2
図5に対する表3a
図5に対する表3b
図5に対する表3c
(左端列(面)、上から像平面、M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,物体平面)
図5に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,物体平面)
図5に対する表4b
(上端行、左から面,AOI(度),反射率。左端列(面)、上からM7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図5に対する表5
図5に対する表6
図6に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図6に対する表2
図6に対する表3a
図6に対する表3b
図6に対する表3c
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,絞り,M2,M1,物体平面)
図6に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,絞り,M2,M1,物体平面)
図6に対する表4b
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図6に対する表5
図6に対する表6
図7に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図7に対する表2
図7に対する表3a
図7に対する表3b
図7に対する表3c
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,絞り,M3,M2,10,M1,物体平面)
図7に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,絞り,M3,M2,10,M1,物体平面)
図7に対する表4b
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図7に対する表5
図7に対する表6
図8に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図8に対する表2
図8に対する表3a
図8に対する表3b
図8に対する表3c
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図8に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図8に対する表4b
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図8に対する表5
図8に対する表6
図9に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図9に対する表2
図9に対する表3a
図9に対する表3b
図9に対する表3c
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,絞り,M2,M1,物体平面)
図9に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,絞り,M2,M1,物体平面)
図9に対する表4b
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図9に対する表5
図9に対する表6
図10に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図10に対する表2
図10に対する表3a
図10に対する表3b
図10に対する表3c
(左端列(面)、上から像平面、M9,M8,M7,M6,M5,M4,絞り,M3,M2,M1,物体平面)
図10に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M9,M8,M7,M6,M5,M4,絞り,M3,M2,M1,物体平面)
図10に対する表4b
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM9,M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図10に対する表5
図10に対する表6
図14/図15に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図14/図15に対する表2
図14/図15に対する表3a
図14/図15に対する表3b
図14/図15に対する表3c
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図14/図15に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図14/図15に対する表4b
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図14/図15に対する表5
図14/図15に対する表6
図16/図17に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図16/図17に対する表2
図16/図17に対する表3a
図16/図17に対する表3b
図16/図17に対する表3c
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図16/図17に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図16/図17に対する表4b
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図16/図17に対する表5
図16/図17に対する表6
図18/図19に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図18/図19に対する表2
図18/図19に対する表3a
図18/図19に対する表3b
図18/図19に対する表3c
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図18/図19に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図18/図19に対する表4b
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図18/図19に対する表5
図18/図19に対する表6
図20/図21に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図20/図21に対する表2
図20/図21に対する表3a
図20/図21に対する表3b
図20/図21に対する表3c
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図20/図21に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図20/図21に対する表4b
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図20/図21に対する表5
図20/図21に対する表6
図22/図23に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図22/図23に対する表2
図22/図23に対する表3a
図22/図23に対する表3b
図22/図23に対する表3c
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図22/図23に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図22/図23に対する表4b
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図22/図23に対する表5
図22/図23に対する表6
図24/図25に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図24/図25に対する表2
図24/図25に対する表3a
図24/図25に対する表3b
図24/図25に対する表3c
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図24/図25に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図24/図25に対する表4b
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図24/図25に対する表5
図24/図25に対する表6
図26/図27に対する表1
(左から、面,半径_x,屈折力_x,半径_y,屈折力_y,作動モード。REFLは「反射」)
図26/図27に対する表2
図26/図27に対する表3a
図26/図27に対する表3b
図26/図27に対する表3c
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図26/図27に対する表4a
(左端列(面)、上から像平面、M8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,絞り,M1,物体平面)
図26/図27に対する表4b
(上端行、左から面,入射角(度),反射率。左端列(面)、上からM8,M7,M6,M5,M4,M3,M2,M1,全伝達)
図26/図27に対する表5
図26/図27に対する表6
(左から、図,NA,視野サイズX,視野サイズY,視野曲率,伝達率)
表1
(左から、図,ミラータイプ順序,ミラー回転順序,x屈折率順序,y屈折率順序)
表2
4 物体視野
8 像視野
17 通過開口部
M2、M3、M5、M6 かすめ入射ミラー
Claims (27)
- 物体視野(4)を像視野(8)内に結像するための投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)であって、
前記物体視野(4)から前記像視野(8)に結像光(3)を案内するための複数のミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)を含み、
前記ミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)のうちの少なくとも2つが、60°よりも大きい前記結像光(3)の入射角を有するかすめ入射のために該結像光(3)のビーム経路に互いに直接に前後して配置されるミラー(M2,M3;M5,M6;M1,M2;M1,M2,M3;M3,M4;M6,M7;M2からM6;M1からM4,M6からM9)として具現化され、
前記像視野(8)は、視野寸法(x)に沿って13mmよりも大きい広がりを有する、 ことを特徴とする投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)。 - 正確に2つのかすめ入射のためのミラー(M1,M2)を含むことを特徴とする請求項1に記載の投影光学ユニット。
- 前記像視野(8)が配置された像平面(9)との0°とは異なる角度を含み、前記物体視野(4)が配置された物体平面(5)を含むことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の投影光学ユニット。
- 正確に4つのかすめ入射のためのミラー(M2,M3,M5,M6)を含むことを特徴とする請求項1又は請求項3に記載の投影光学ユニット。
- 前記4つのかすめ入射のためのミラー(M2,M3,M5,M6)は、それぞれ、前記結像光(3)の前記ビーム経路に互いに直接に前後して対(ペア)をなす方式(M2,M3;M5,M6)で配置されることを特徴とする請求項4に記載の投影光学ユニット。
- 45°よりも小さい前記結像光(3)の入射角を有する法線入射のための少なくとも2つのミラー(M1,M4,M7,M8;M3からM6;M4からM7;M2,M5,M8,M9;M1,M7,M8;M5,M10,M11)を含むことを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
- 45°よりも小さい前記結像光(3)の入射角を有する法線入射のための4つのミラー(M1,M4,M7,M8;M3からM6;M4からM7)を含むことを特徴とする請求項6に記載の投影光学ユニット。
- 9%よりも高い投影光学ユニット(7;20;21;22;23;24;25;26;27;28;29;30)の全てのミラー(M1からM8;M1からM6;M1からM7;M1からM9,M1からM11)の反射率の積として得られる投影光学ユニット(7;20;21)の全体反射率を有することを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
- 請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の投影光学ユニットであって、
前記投影光学ユニットはEUV投影光学ユニットであり、
前記投影光学ユニットは少なくとも0.4の像側開口数を有する、
ことを特徴とする投影光学ユニット。 - 物体視野(4)を像視野(8)に結像するための投影光学ユニット(34;35;36;37)であって、
前記物体視野(4)から前記像視野(8)まで結像光(3)を案内するための複数のミラー(M1からM8)を含み、
少なくとも2つのミラー(M2,M3,M5,M6)が、60°よりも大きい前記結像光(3)の入射角を有するかすめ入射のためのミラーとして具現化され、
投影光学ユニット(34;35;36;37)が、前記像視野(8)を規定する2つの異なる方向に2つの異なる結像スケール(βx,βy)を有する、
ことを特徴とする投影光学ユニット(34;35;36;37)。 - 前記物体視野(4)は、1よりも大きいxyアスペクト比を有し、投影光学ユニットの前記異なる結像スケールは、このアスペクト比のこれらの2つの物体視野寸法の方向(x,y)に存在することを特徴とする請求項10に記載の投影光学ユニット。
- より長い物体視野寸法(x)における縮小結像スケール(βx)が、それと垂直なより短い物体視野寸法(y)におけるものよりも小さいことを特徴とする請求項11に記載の投影光学ユニット。
- 前記2つの異なる結像スケールのうちの前記より小さいもの(βx)は、6よりも小さいことを特徴とする請求項10から請求項12のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
- 前記2つの結像スケールのうちの前記より大きいもの(βy)は、少なくとも6であることを特徴とする請求項10から請求項13のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
- 前記ミラーのうちの少なくとも1つが、自由曲面の形態の反射面を有することを特徴とする請求項1から請求項14のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
- 方向依存性物体側開口数を有することを特徴とする請求項10から請求項15のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
- 少なくとも0.4の像側開口数と、
7°よりも小さい視野中心点に対する物体側主光線角度(CRAO)と、
を有することを特徴とする請求項1から請求項16のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。 - 少なくとも0.5の開口数を有することを特徴とする請求項17に記載の投影光学ユニット。
- 一方の視野寸法(x)において20mmよりも大きい前記像視野(8)の広がりを有することを特徴とする請求項17又は請求項18に記載の投影光学ユニット。
- より短い物体視野寸法(y)に沿ったその広がりがより長い物体視野寸法(x)に沿ったものよりも小さい絞り縁部を有する絞り(18)を含むことを特徴とする請求項11から請求項18のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
- 請求項1から請求項20のいずれか1項に記載の投影光学ユニット。
- 請求項1から請求項21のいずれか1項に記載の投影光学ユニットと、
照明及び結像光(3)で物体視野(4)を照明するための照明光学ユニット(6)と、 を含むことを特徴とする光学系。 - EUV光源(2)を含むことを特徴とする請求項22に記載の光学系。
- 投影リソグラフィのための投影露光装置であって、
請求項22又は請求項23に記載の光学系、
を含むことを特徴とする投影露光装置。 - 走査方向(y)に変位させることができてレチクル(10)を保持するためのレチクルホルダ(10a)を含み、
前記走査方向における投影光学ユニットの結像スケールが、それと垂直な方向におけるものよりも大きい、
ことを特徴とする請求項24に記載の投影露光装置。 - 請求項24又は請求項25に記載の投影露光装置のためのレチクル(10)であって、 少なくとも104mmx132mmの広がりを有する、
ことを特徴とするレチクル(10)。 - 構造化構成要素を生成する方法であって、
レチクル(10)及びウェーハ(11)を与える段階と、
請求項24又は請求項25に記載の投影露光装置を用いて前記レチクル(10)上の構造を前記ウェーハ(11)の感光層の上に投影する段階と、
前記ウェーハ(11)上に微細構造又はナノ構造を生成する段階と、
を含むことを特徴とする方法。
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DE102019205271A1 (de) | 2019-04-11 | 2020-10-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik |
DE102019208961A1 (de) | 2019-06-19 | 2020-12-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsoptik und Projektionsbelichtungsanlage mit einer solchen Projektionsoptik |
DE102019214979A1 (de) | 2019-09-30 | 2021-04-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Messvorrichtung zur interferometrischen Bestimmung einer Oberflächenform |
DE102019215707A1 (de) | 2019-10-14 | 2021-04-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung der Oberflächenform eines optischen Elements |
DE102019215828B4 (de) | 2019-10-15 | 2022-12-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Messvorrichtung und Verfahren zum Vermessen einer Oberflächenform eines optischen Elements |
DE102019216447A1 (de) | 2019-10-25 | 2019-12-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Interferometrische Prüfanordnung zur Prüfung der Oberflächenform eines Testobjekts |
DE102019219209A1 (de) | 2019-12-10 | 2020-01-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Oberflächenprofil-Messeinrichtung zur Vermessung der Spiegel einer abbildenden Optik |
DE102020210529A1 (de) | 2020-08-19 | 2022-02-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung der Oberflächenform eines optischen Elements |
WO2022073610A1 (de) | 2020-10-08 | 2022-04-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Herstellungsverfahren und messverfahren |
DE102021203123A1 (de) | 2021-03-29 | 2022-09-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Computer-generiertes Hologramm (CGH) sowie interferometrische Messanordnung zur Bestimmung der Oberflächenform eines Prüflings |
DE102021203850A1 (de) | 2021-04-19 | 2022-02-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines Computer-generierten Hologramms |
DE102021205202A1 (de) | 2021-05-21 | 2022-11-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Messanordnung und Verfahren zur Vermessung der Oberflächenform eines optischen Elements |
DE102021205774A1 (de) | 2021-06-08 | 2022-12-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik |
DE102021205775A1 (de) | 2021-06-08 | 2022-12-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik |
DE102022205887A1 (de) | 2021-06-23 | 2022-12-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung der Oberflächenform eines optischen Elements |
DE102022207720A1 (de) | 2021-08-11 | 2023-02-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Vorhersage einer Abweichung zwischen einer für ein optisches Element in einem Messzustand gemessenen und einer im Betriebszustand zu erwartenden Passe |
WO2023051939A1 (en) | 2021-10-01 | 2023-04-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Method for characterizing the surface shape of an optical element, and interferometric test arrangement |
DE102021211181A1 (de) | 2021-10-05 | 2022-08-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Projektionsoptik |
DE102021211963A1 (de) | 2021-10-25 | 2022-12-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren sowie interferometrische Messanordnung zur Bestimmung der Oberflächenform eines Prüflings |
DE102021213383A1 (de) | 2021-11-29 | 2023-06-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Computer-generiertes Hologramm (CGH), sowie Verfahren zur Auslegung eines CGH |
DE102021213959B4 (de) | 2021-12-08 | 2024-01-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Lichtquelle sowie Analyse- und/oder Produktionssystem mit einer derartigen EUV-Lichtquelle |
DE102022203745A1 (de) | 2022-04-13 | 2022-09-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Kollektor für eine EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022204645B4 (de) | 2022-05-12 | 2024-01-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren sowie interferometrische Messanordnung zur Bestimmung der Oberflächenform eines Prüflings |
DE102022206110A1 (de) * | 2022-06-20 | 2023-12-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld |
DE102022206112A1 (de) | 2022-06-20 | 2023-12-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld |
DE102022206650A1 (de) | 2022-06-30 | 2024-01-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren sowie Messanordnung zur interferometrischen Bestimmung der Oberflächenform eines Prüflings |
DE102022209513A1 (de) | 2022-09-12 | 2023-10-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Kalibrieren einer sphärischen Welle, sowie Prüfsystem zur interferometrischen Bestimmung der Oberflächenform eines Prüflings |
DE102022209791B3 (de) | 2022-09-19 | 2023-07-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Kollektor für eine EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022209887A1 (de) | 2022-09-20 | 2023-08-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung der Oberflächenform eines optischen Elements |
DE102022212382A1 (de) | 2022-11-21 | 2023-02-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Design einer Projektionsoptik sowie Projektionsoptik |
DE102023201790A1 (de) | 2023-02-28 | 2024-08-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur interferometrischen Bestimmung der Oberflächenform eines Prüflings |
DE102023203224A1 (de) * | 2023-04-06 | 2024-10-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld |
DE102023203223A1 (de) * | 2023-04-06 | 2024-10-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende EUV-Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld |
EP4354188A1 (en) | 2023-04-19 | 2024-04-17 | Carl Zeiss SMT GmbH | Method of manufacturing a diffractive optical element and diffractive optical element |
Family Cites Families (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2759106A (en) | 1951-05-25 | 1956-08-14 | Wolter Hans | Optical image-forming mirror system providing for grazing incidence of rays |
US2766385A (en) * | 1952-09-11 | 1956-10-09 | Herrnring Gunther | Optical image-forming plural reflecting mirror systems |
JPH03504271A (ja) * | 1988-03-11 | 1991-09-19 | ロッサー,ロイ,ジョナサン | 光学装置及びその製造法 |
JP3499592B2 (ja) * | 1994-01-31 | 2004-02-23 | 株式会社ルネサステクノロジ | 投影露光装置及びパターン転写方法 |
US6577443B2 (en) | 1998-05-30 | 2003-06-10 | Carl-Zeiss Stiftung | Reduction objective for extreme ultraviolet lithography |
DE19923609A1 (de) * | 1998-05-30 | 1999-12-02 | Zeiss Carl Fa | Ringfeld-4-Spiegelsysteme mit konvexem Primärspiegel für die EUV-Lithographie |
GB0006330D0 (en) * | 2000-03-17 | 2000-05-03 | Kemp Malcolm H D | Superresolving/high numerical aperture imaging devices |
DE10155711B4 (de) | 2001-11-09 | 2006-02-23 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Im EUV-Spektralbereich reflektierender Spiegel |
US7481544B2 (en) * | 2004-03-05 | 2009-01-27 | Optical Research Associates | Grazing incidence relays |
CN1954406B (zh) * | 2004-06-23 | 2011-07-06 | 株式会社尼康 | 投影光学系统、曝光装置以及曝光方法 |
KR101127346B1 (ko) | 2005-09-13 | 2012-03-29 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 마이크로리소그라피 투영 광학 시스템, 디바이스 제작 방법 및 광학 표면을 설계하기 위한 방법 |
CN101416117B (zh) * | 2006-04-07 | 2014-11-05 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 微光刻投影光学系统、工具及其制造方法 |
DE102008033341A1 (de) | 2007-07-24 | 2009-01-29 | Carl Zeiss Smt Ag | Projektionsobjektiv |
DE102009032751A1 (de) | 2008-09-16 | 2010-04-15 | Carl Zeiss Smt Ag | Reflektives optisches Element für die EUV-Lithographie |
DE102008049586A1 (de) * | 2008-09-30 | 2010-04-08 | Carl Zeiss Smt Ag | Feldfacettenspiegel zum Einsatz in einer Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage für die EUV-Mikrolithographie |
DE102009011328A1 (de) | 2009-03-05 | 2010-08-19 | Carl Zeiss Smt Ag | Abbildende Optik |
DE102009045096A1 (de) | 2009-09-29 | 2010-10-07 | Carl Zeiss Smt Ag | Beleuchtungssystem mit einer Spiegelanordnung aus zwei Spiegeln |
JP5469778B2 (ja) * | 2010-04-22 | 2014-04-16 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 結像光学系及びそのような結像光学系を有するマイクロリソグラフィのための投影露光装置 |
DE102010029049B4 (de) * | 2010-05-18 | 2014-03-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für ein Metrologiesystem für die Untersuchung eines Objekts mit EUV-Beleuchtungslicht sowie Metrologiesystem mit einer derartigen Beleuchtungsoptik |
CN103038690B (zh) * | 2010-07-30 | 2016-08-03 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 成像光学系统以及具有该类型成像光学系统的用于微光刻的投射曝光设备 |
DE102010039927A1 (de) * | 2010-08-30 | 2012-03-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Substrat für Spiegel für die EUV-Lithographie |
DE102010040811A1 (de) * | 2010-09-15 | 2012-03-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik |
CN102012558B (zh) * | 2010-10-29 | 2012-05-09 | 中国科学院高能物理研究所 | 具有最大适用范围的同步辐射曲边聚焦镜及其获得方法 |
DE102011075579A1 (de) | 2011-05-10 | 2012-11-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel und Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie mit einem solchen Spiegel |
DE102011083888A1 (de) | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende katoptrische EUV-Projektionsoptik |
EP2579100A3 (en) * | 2011-10-03 | 2017-12-06 | ASML Holding N.V. | Inspection apparatus, lithographic apparatus, and device manufacturing method |
DE102012202675A1 (de) | 2012-02-22 | 2013-01-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik sowie Projektionsbelichtungsanlage für die Projektionslithografie mit einer derartigen abbildenden Optik |
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