JP6669667B2 - 光ファイバーの選別試験装置及びその使用方法 - Google Patents
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Description
光ファイバーの選別試験装置であって、
ファイバー搬送路と、
外周、及び該外周の周りに延びる、約40ショアA以下のデュロメータ硬度を有する、ファイバー接触領域を有するキャプスタンであって、前記光ファイバーが、前記ファイバー搬送路上に案内されたとき、前記光ファイバーが、前記キャプスタンの前記ファイバー接触領域に係合するように、前記ファイバー搬送路の近傍に配置されたキャプスタンと、
ピンチベルトであって、該ピンチベルトの少なくとも一部と前記キャプスタンの前記ファイバー接触領域との間に、前記ファイバー搬送路が延びるように、該ファイバー搬送路の近傍に配置され、前記光ファイバーが、前記ファイバー搬送路上に案内されたとき、前記光ファイバーが、前記ピンチベルトと、前記キャプスタンの前記ファイバー接触領域との間に挟み込まれるように、前記キャプスタンの前記ファイバー接触領域と係合可能なピンチベルトと、
を備えた装置。
前記ファイバー接触領域が、約35ショアA以下のデュロメータ硬度を有する、弾性材料から成る内層を備えた、実施形態1記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記弾性材料から成る内層が、約1MPa以下の剪断弾性率及び圧縮弾性率を有する、実施形態2記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記弾性材料から成る内層が、約20ショアA以下のデュロメータ硬度を有する材料から成る、実施形態2記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記ファイバー接触領域が、前記弾性材料から成る内層の上に配置された、約90ショアA以下のデュロメータ硬度を有する外層を更に備えた、実施形態2記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記外層が、約55ショアA以上約90ショアA以下のデュロメータ硬度を有する、実施形態5記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記外層が、約10マイクロメートル以上約300マイクロメートル以下の厚さを有する、実施形態5又は6記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記ファイバー接触領域が、前記弾性材料から成る内層の下に配置されたベース層を更に備え、該ベース層が、約90ショアA以下のデュロメータ硬度を有し、前記弾性材料から成る内層に接合されている、実施形態5〜7のいずれかに記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記ファイバー接触領域の圧縮弾性率及び剪断弾性率が、前記ファイバー搬送路上に案内された、前記光ファイバーの一次被覆の圧縮弾性率及び剪断弾性率と実質的に同じである、実施形態2〜8のいずれかに記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記キャプスタンが、該キャプスタンの前記外周から、半径方向内側に延びるチャンネルを更に備え、前記ファイバー接触領域が、前記チャンネルを覆って、前記キャプスタンに密閉チャンバーを形成する、前記キャプスタンの前記チャンネルの上に配置された外層を備えた、実施形態1記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記ファイバー接触領域が、前記外層の下の、前記キャプスタンの前記チャンネル内に配置された、約35ショアA以下のデュロメータ硬度を有する、弾性材料から成る内層を更に備えた、実施形態10記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記キャプスタンが、前記チャンネル内に配置された、少なくとも1つのコグを更に備えた、実施形態10又は11記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記キャプスタンの前記チャンネルが、前記キャプスタンの前記外周における幅が、前記キャプスタンの前記外周から、半径方向内側の位置における幅より狭くなるように、先細りにされて成る、実施形態10〜12いずれかに記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記弾性材料から成る内層が、少なくとも部分的に、前記キャプスタン及び前記弾性材料から成る内層を通して延びる留め具によって、前記キャプスタンの前記チャンネル内に保持される、実施形態11〜13いずれかに記載の光ファイバーの選別試験装置。
真空吸引を用いて、前記弾性材料から成る内層を、前記キャプスタンの前記チャンネル内に保持する、実施形態11〜14いずれかに記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記密閉チャンバーによって、前記外層に圧力が加わるように、前記密閉チャンバーが加圧される、実施形態10〜15いずれかに記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記ファイバー接触領域が、前記ファイバー搬送路上に案内された、前記光ファイバーの直径の10倍未満の幅を有する、実施形態10〜16いずれかに記載の光ファイバーの選別試験装置。
光ファイバーの選別試験装置であって、
ファイバー搬送路と、
外周、及び該外周の周りに延びる、約40ショアA以下のデュロメータ硬度を有する、ファイバー接触領域を有するキャプスタンであって、前記ファイバー接触領域が、
前記キャプスタンの前記外周に配置された、弾性材料から成る内層、及び
前記弾性材料から成る内層の上に配置された、約90ショアA以下のデュロメータ硬度を有する、耐摩耗性材料から成る外層
を備えた、キャプスタンと、
ピンチベルトであって、該ピンチベルトの少なくとも一部と前記キャプスタンの前記ファイバー接触領域との間に、前記ファイバー搬送路が延びるように、該ファイバー搬送路の近傍に配置され、前記光ファイバーが、前記ファイバー搬送路上に案内されたとき、前記光ファイバーが、前記ピンチベルトと、前記キャプスタンの前記ファイバー接触領域との間に挟み込まれるように、前記キャプスタンの前記ファイバー接触領域と係合可能なピンチベルトと、
を備えた装置。
前記弾性材料から成る内層が、約1MPa以下の剪断弾性率及び圧縮弾性率を有する、実施形態18記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記耐摩耗性材料から成る外層が、約10マイクロメートル以上約300マイクロメートル以下の厚さを有する、実施形態18又は19記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記ファイバー接触領域の圧縮弾性率及び剪断弾性率が、前記ファイバー搬送路上に案内された、前記光ファイバーの一次被覆の、圧縮弾性率及び剪断弾性率と実質的に同じである、実施形態18〜20のいずれかに記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記キャプスタンが、該キャプスタンの前記外周から、半径方向内側に延びるチャンネルを更に備え、前記弾性材料から成る内層が、前記耐摩耗性材料から成る外層の下の前記チャンネル内に配置され、前記耐摩耗性材料から成る外層が、前記チャンネルを覆って、前記キャプスタンに、密閉チャンバーを形成している、実施形態18〜21のいずれかに記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記キャプスタンが、前記チャンネル内に配置された、少なくとも1つのコグを更に備えた、実施形態22記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記キャプスタンの前記チャンネルが、前記キャプスタンの前記外周における幅が、前記キャプスタンの前記外周から、半径方向内側の位置における幅より狭くなるように、先細りにされている、実施形態22又は23記載の光ファイバーの選別試験装置。
前記ファイバー接触領域が、前記ファイバー搬送路上に案内された、前記光ファイバーの直径の、約10倍未満の幅を有する、実施形態22〜24いずれかに記載の光ファイバーの選別試験装置。
光ファイバーの選別試験方法であって、
光ファイバーをファイバー搬送路上に引き出すステップと、
前記光ファイバーをキャプスタンの周りに案内するステップであって、前記キャプスタンが、外周、及び該外周の周りに延びるファイバー接触領域であって、
前記キャプスタンの前記外周に配置された、弾性材料から成る内層、及び
前記弾性材料から成る内層の上に配置された、90ショアA以下のデュロメータ硬度を有する、耐摩耗性材料から成る外層
を備えたファイバー接触領域を有し、該ファイバー接触領域が、40ショアA以下のデュロメータ硬度を有する、ステップと、
前記ファイバー搬送路の近傍に配置されたピンチベルトと、前記キャプスタンの前記ファイバー接触領域との間に、前記光ファイバーを挟み込むステップであって、前記光ファイバーが挟み込まれると、前記ファイバー接触領域が弾性変形して、前記光ファイバーが前記ファイバー接触領域に押し込まれる、ステップと、
を備えた方法。
101 ファイバー搬送路
102、106、201 キャプスタン
103、107 ピンチベルト
104 光ファイバー
105、108 キャプスタンの外周
109 ロードセル
110 プーリー
111 ベルト
112 アイドラープーリー
113 ガラスファイバー
114 一次被覆
115 二次被覆
116 再被覆膜
120 ファイバー接触領域
121 内層
122 内層の外周
123 外層
124 外層の外周
125 チャンネル
126 留め具
129 コグ
Claims (7)
- 光ファイバーの選別試験装置であって、
ファイバー搬送路と、
外周、及び該外周の周りに延びる、40ショアA以下のデュロメータ硬度を有する、ファイバー接触領域を有するキャプスタンであって、前記光ファイバーが、前記ファイバー搬送路上に案内されたとき、前記光ファイバーが、前記キャプスタンの前記ファイバー接触領域に係合するように、前記ファイバー搬送路の近傍に配置されたキャプスタンと、
ピンチベルトであって、該ピンチベルトの少なくとも一部と前記キャプスタンの前記ファイバー接触領域との間に、前記ファイバー搬送路が延びるように、該ファイバー搬送路の近傍に配置され、前記光ファイバーが、前記ファイバー搬送路上に案内されたとき、前記光ファイバーが、前記ピンチベルトと、前記キャプスタンの前記ファイバー接触領域との間に挟み込まれるように、前記キャプスタンの前記ファイバー接触領域と係合可能なピンチベルトと、
を備えたことを特徴とする装置。 - 前記ファイバー接触領域が、35ショアA以下のデュロメータ硬度、並びに1MPa以下の剪断弾性率及び圧縮弾性率を有する、弾性材料から成る内層を備えたことを特徴とする、請求項1記載の光ファイバーの選別試験装置。
- 前記ファイバー接触領域が、前記弾性材料から成る内層の上に配置された、90ショアA以下のデュロメータ硬度を有する外層を更に備えたことを特徴とする、請求項2記載の光ファイバーの選別試験装置。
- 前記外層が、10マイクロメートル以上300マイクロメートル以下の厚さを有していることを特徴とする、請求項3記載の光ファイバーの選別試験装置。
- 前記ファイバー接触領域が、前記弾性材料から成る内層の下に配置されたベース層を更に備え、該ベース層が、90ショアA以下のデュロメータ硬度を有するものであって、前記弾性材料から成る内層に接合されていることを特徴とする、請求項2〜4いずれか1項記載の光ファイバーの選別試験装置。
- 前記キャプスタンが、該キャプスタンの前記外周から、半径方向内側に延びるチャンネルを更に備え、前記ファイバー接触領域が、前記チャンネルを覆って、前記キャプスタンに密閉チャンバーを形成する、前記キャプスタンの前記チャンネルの上に配置された外層を備えたことを特徴とする、請求項1〜5いずれか1項記載の光ファイバーの選別試験装置。
- 光ファイバーの選別試験方法であって、
光ファイバーをファイバー搬送路上に引き出すステップと、
前記光ファイバーをキャプスタンの周りに案内するステップであって、前記キャプスタンが、外周、及び該外周の周りに延びるファイバー接触領域であって、
前記キャプスタンの前記外周に配置された、弾性材料から成る内層、及び
前記弾性材料から成る内層の上に配置された、90ショアA以下のデュロメータ硬度を有する、耐摩耗性材料から成る外層
を備えたファイバー接触領域を有し、該ファイバー接触領域が、40ショアA以下のデュロメータ硬度を有する、ステップと、
前記ファイバー搬送路の近傍に配置されたピンチベルトと、前記キャプスタンの前記ファイバー接触領域との間に、前記光ファイバーを挟み込むステップであって、前記光ファイバーが挟み込まれると、前記ファイバー接触領域が弾性変形して、前記光ファイバーが前記ファイバー接触領域に押し込まれる、ステップと、
を備えたことを特徴とする方法。
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