JP6651697B2 - 電子回路、電源回路、回路の特性測定方法、及び振幅及び位相特性の演算プログラム - Google Patents

電子回路、電源回路、回路の特性測定方法、及び振幅及び位相特性の演算プログラム Download PDF

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Description

本願開示は、電子回路、電源回路、回路の特性測定方法、及び振幅及び位相特性の演算プログラムに関する。
負帰還回路において、帰還経路に設けられる回路部分は一般に抵抗やコンデンサ等の素子を含み、負帰還回路の安定性を補償するよう機能する。しかしながらそれらの抵抗やコンデンサ等の素子を半導体で製造した場合、素子の定数ばらつきが比較的大きくなってしまう。これを考慮して、負帰還回路の設計においては、帰還部分の回路の特性がばらついても安定性が補償できるように、周波数帯域を絞っている。しかしながら周波数帯域を絞った場合、その代償として、応答速度が遅くなる即ち収束に時間がかかるという弊害が発生する。例えば、電源制御ICに用いられる負帰還回路において周波数帯域を絞ると、負荷電流の急激な変化に対する出力電圧の変動が大きくなってしまう。
帰還部分における素子の定数のばらつきが比較的大きい場合であっても、ループゲイン特性を見ながら抵抗やコンデンサの値を調整することにより、所望の安定性と応答速度とを実現できる。具体的には、抵抗やコンデンサの値を調整する際に、ループゲインの測定を行い位相余裕及びゲイン余裕を求め、それらを考慮しながら、抵抗やコンデンサの補正量を決定していく。ループゲイン特性を測定するためには、測定対象の回路の出力端と、その出力端が接続される帰還経路の回路の入力端との間に信号源を挿入し、入力端に印加する信号と出力端に現れる信号とを測定し、それらの信号間の電圧の比率及び位相差を求めればよい。
ゲイン特性を測定するため、即ち、入力端に印加する信号と出力端に現れる信号との間の電圧比率及び位相差を測定するために、ダイレクトコンバージョンを用いることができる。ダイレクトコンバージョンは高周波無線(数百MHz〜GHz以上)の分野でよく用いられる信号処理方法である。入力信号の周波数と同一の周波数の局部発振信号を入力信号に対して乗算することにより、入力信号を直接にベースバンド信号に変換する。ダイレクトコンバージョンでは、AFE(アナログフロントエンド)、ミキサ回路、及びベースバンド信号を取り出すローパスフィルタは、アナログ回路で実現する。何故ならば、ADコンバータにより高速な信号を精度よく変換することは困難なためである。
アナログ回路として実現するAFE、ミキサー回路、ローパスフィルタ回路は設計が難しく、回路特性が、温度変化や経時変化によりばらつきやすい。それらアナログ回路の特性が信号パス間でばらつくと、測定結果の精度が悪化してしまう。またダウンコンバージョンにおいて局部発振信号の位相を90度ずらす際、様々な周波数に対してアナログ処理により精度良く位相を90度ずらすことが困難である、という問題もある。
特開平10−164164号公報 特表2009−506311号公報
以上を鑑みると、測定対象の入力信号と出力信号との間のゲイン特性を高精度で測定可能とする電子回路及び測定方法が望まれる。
電子回路は、所望の周波数のアナログ発振信号に応じたアナログ入力信号が印加されアナログ出力信号を出力する測定対象回路と、前記アナログ発振信号、前記アナログ入力信号、及び前記アナログ出力信号をAD変換することによりデジタル発振信号、デジタル入力信号、及びデジタル出力信号を出力するAD変換器と、前記AD変換器から出力される前記デジタル発振信号、前記デジタル入力信号、及び前記デジタル出力信号を用いて演算処理を実行する演算ユニットとを含み、前記演算ユニットは、前記デジタル発振信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する少なくとも1つの第1の位相調整器と、前記デジタル入力信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第2の位相調整器と、前記デジタル出力信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第3の位相調整器と、前記第1の位相調整器の出力と前記第2の位相調整器の出力とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第1の乗算結果を生成する第1のミキサ回路と、前記第1の位相調整器の出力と前記第3の位相調整器の出力とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第2の乗算結果を生成する第2のミキサ回路とを含み、前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記アナログ入力信号の振幅と前記アナログ出力信号の振幅との振幅比率を求め、前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記アナログ入力信号の位相と前記アナログ出力信号の位相との位相差を求める
電源回路は、一定電圧を出力する基準電圧発生回路と、前記一定電圧に応じて電源電圧を生成する増幅器と、前記増幅器の入力に負帰還信号を供給するための帰還回路と、第1のアナログ信号、第2のアナログ信号、及び第3のアナログ信号をAD変換することにより第1のデジタル信号、第2のデジタル信号、及び第3のデジタル信号を出力するAD変換器と、前記AD変換器から出力される前記第1のデジタル信号、前記第2のデジタル信号、及び前記第3のデジタル信号を用いて演算処理を行い、前記AD変換器の出力に応じて前記帰還回路の特性を可変に調整する演算ユニットとを含み、前記演算ユニットは、前記第1のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第1の位相調整器と、前記第2のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第2の位相調整器と、前記第3のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第3の位相調整器と、前記第1の位相調整器の出力と前記第2の位相調整器の出力とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第1の乗算結果を生成する第1のミキサ回路と、前記第1の位相調整器の出力と前記第3の位相調整器の出力とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第2の乗算結果を生成する第2のミキサ回路とを含み、前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記第2のアナログ信号の振幅と前記第3のアナログ信号の振幅との振幅比率を求め、前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記第2のアナログ信号の位相と前記第3のアナログ信号の位相との位相差を求め、前記振幅比率と前記位相差とに応じて前記帰還回路の特性を可変に調整する。
回路の特性測定方法は、所望の周波数のアナログ発振信号に応じたアナログ入力信号を測定対象回路に入力することにより前記測定対象回路にアナログ出力信号を出力させ、前記アナログ発振信号、前記アナログ入力信号、及び前記アナログ出力信号をAD変換することによりデジタル発振信号、デジタル入力信号、及びデジタル出力信号を生成し、前記デジタル発振信号をヒルベルト変換により位相調整し、前記デジタル入力信号をヒルベルト変換により位相調整し、前記デジタル出力信号をヒルベルト変換により位相調整し、前記位相調整後のデジタル発振信号と前記位相調整後のデジタル入力信号とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第1の乗算結果を生成し、前記位相調整後のデジタル発振信号と前記位相調整後のデジタル出力信号とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第2の乗算結果を生成し、前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記アナログ入力信号の振幅と前記アナログ出力信号の振幅との比率を求め、前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記アナログ入力信号の位相と前記アナログ出力信号の位相との差を求める各段階を含む。
少なくとも1つの実施例によれば、測定対象の入力信号と出力信号との間のゲイン特性を高精度で測定することが可能となる。
測定対象回路のゲイン特性を測定するシステムの構成の一例を示す図である。 測定対象回路の構成の一例を示す図である。 測定対象回路の詳細な構成の一例を示す図である。 ダイレクトコンバージョンユニットである電子回路の構成の一例を示す図である。 位相調整器の構成の一例を示す図である。 ヒルベルト変換を計算するFIRフィルタの構成の一例を示す図である。 電源回路を含むシステムの構成の一例を示す図である。 電源回路を含むシステムの構成の別の一例を示す図である。
以下に、本発明の実施例を添付の図面を用いて詳細に説明する。なお以下に示す図面において、同一又は対応する構成要素は同一又は対応する番号で参照し、その説明は適宜省略する。
図1は、測定対象回路のゲイン特性を測定するシステムの構成の一例を示す図である。図1に示すシステムは、測定対象回路10、ダイレクトコンバージョンユニット11、トランス12、発振回路13、及び定電圧源14を含む。この測定システムは、測定対象回路10の入力信号と出力信号との間のゲイン特性を高精度で測定するために用いられる。
図1及び以降の図において、各ボックスで示される各回路又は機能ブロックと他の回路又は機能ブロックとの境界は、基本的には機能的な境界を示すものであり、物理的な位置の分離、電気的な信号の分離、制御論理的な分離等に対応するとは限らない。各回路又は機能ブロックは、他のブロックと物理的にある程度分離された1つのハードウェアモジュールであってもよいし、或いは他のブロックと物理的に一体となったハードウェアモジュール中の1つの機能を示したものであってもよい。
図2は、測定対象回路10の構成の一例を示す図である。この例において測定対象回路10は、増幅器21、帰還回路22、及び減算回路23を含み、減算回路23のプラス側入力端AIN1に印加される外部からの入力信号を増幅する増幅回路として機能する。増幅器21の出力端AOUTに出力される信号は、帰還回路22の入力端HINに印加される。帰還回路22の出力は、減算回路23のマイナス側入力端AIN2に印加される。減算回路23は、外部からの入力信号から帰還回路22を介するフィードバック信号を減算し、減算により得られる信号を増幅器21に入力する。増幅器21のゲインはAであり、帰還回路22のゲインはHであり、ループゲインはAHとなる。このループゲインの特性を測定し、ゲイン余裕及び位相余裕を計算することにより、安定性と応答性とを両立するように帰還回路22の特性を調整することができる。
図1に戻り、図1に示す測定対象回路10の入力端PIN1及びPIN2及び出力端POUTが、図2に示す入力端AIN1及びHIN及び出力端AOUTにそれぞれ相当する。定電圧源14は、一定電圧を出力する基準電圧発生回路として機能する。測定対象回路10の増幅器21は、定電圧源14が出力する一定電圧に応じて増幅電圧を生成する。特性測定時ではない通常動作時には、測定対象回路10は、所望の電源電圧を生成する電源回路として機能することになる。通常動作時に測定対象回路10を電源回路として動作させる場合には、測定対象回路10の出力端POUTを反転入力端PIN2に直接に接続してよい。これにより、帰還回路22(図2参照)は、増幅器21の入力に負帰還信号を供給することができる。
なお図1に示されるシステム構成により測定する対象である測定対象回路10は、電源回路に限定されない。測定対象回路10が電源回路でない場合、定電圧源14は設けられなくてよい。また測定対象回路10は、増幅器を含む増幅回路に限定されない。図1に示されるシステム構成は、測定対象回路10の意図される機能に関わらず、測定対象回路10の入力信号と出力信号との間のゲイン特性を測定するために用いることができる。
特性測定のために、測定対象回路10の出力端POUT(図2のAOUT)と入力端PIN2(図2の帰還回路22の入力端HIN)との間に信号源としてトランス12の二次側コイル12Bが挿入されている。トランス12の一次側コイル12Aには発振回路13が接続される。発振回路13は、可変に周波数が設定される正弦波形信号を生成してよい。発振回路13が生成する所望の周波数のアナログ発振信号に応じたアナログ入力信号が、トランス12を介して測定対象回路10に入力される。
ダイレクトコンバージョンユニット11は、発振回路13の生成するアナログ発振信号と、測定対象回路10の入力端PIN2に印加されるアナログ入力信号と、測定対象回路10の出力端POUTに出力されるアナログ出力信号とを受け取る。ダイレクトコンバージョンユニット11は、アナログ発振信号、アナログ入力信号、及びアナログ出力信号をAD変換することによりデジタル発振信号、デジタル入力信号、及びデジタル出力信号を生成する。ダイレクトコンバージョンユニット11は、これらのデジタル信号を用いてダイレクトコンバージョンを実行することにより、測定対象回路10のゲイン特性、即ち測定対象回路10の入力信号と出力信号との間の電圧比及び位相差を求める。
具体的には、ダイレクトコンバージョンユニット11は、デジタル発振信号をヒルベルト変換により位相調整し、デジタル入力信号をヒルベルト変換により位相調整し、デジタル出力信号をヒルベルト変換により位相調整する。ダイレクトコンバージョンユニット11は更に、位相調整後のデジタル発振信号と位相調整後のデジタル入力信号とを乗算して第1の乗算結果を生成し、位相調整後のデジタル発振信号と位相調整後のデジタル出力信号とを乗算して第2の乗算結果を生成する。これら第1の乗算結果と第2の乗算結果とに応じて、後述するように、アナログ入力信号の振幅とアナログ出力信号の振幅との比率を求めることができる。また第1の乗算結果と第2の乗算結果とに応じて、後述するように、アナログ入力信号の位相とアナログ出力信号の位相との差を求めることができる。
図3は、測定対象回路10の詳細な構成の一例を示す図である。図3に示す測定対象回路10は、増幅器31、抵抗素子32及び33、n個(n:2以上の整数)の容量素子34−1乃至34−n、n個のスイッチ回路35−1乃至35−nを含む。増幅器31は、図2の増幅器21及び減算回路23に相当する。抵抗素子32及び33、容量素子34−1乃至34−n、及びスイッチ回路35−1乃至35−nは、図2の帰還回路22に相当する。
図3に示す構成では、帰還回路部分の容量値を可変に設定可能となっている。具体的には、スイッチ回路35−1乃至35−nのうちで所望の数のスイッチ回路を選択的に導通状態とし、それ以外のスイッチ回路を非導通状態とすることにより、抵抗素子32に並列に接続される容量値を所望の値に設定することができる。なお図3に示す構成において、抵抗素子32及び33の少なくとも1つの素子について可変抵抗素子としてよい。
図1のダイレクトコンバージョンユニット11により求めたループゲイン特性に基づいて、図3に示す回路の容量値及び抵抗値の少なくとも一方を調整してよい。より具体的には、ダイレクトコンバージョンユニット11により求めたアナログ入力信号とアナログ出力信号との間の振幅の比率(電圧比)及び位相の差に基づいて、ループゲインのゲイン余裕と位相余裕とを求めればよい。そして図3に示す回路の容量値及び抵抗値の少なくとも一方を調整することにより、十分なゲイン余裕と位相余裕とを確保できるように、帰還回路部分の特性を設定すればよい。
図4は、ダイレクトコンバージョンユニット11である電子回路の構成の一例を示す図である。図4に示す電子回路は、AD変換器(ADC)41−1乃至41−3、位相調整器42−1A、42−1B、42−2及び42−3、ミキサ回路43A及び43B、並びにミキサ回路44A及び44Bを含む。図4に示す回路は更に、FIR(Finite Impulse Response)フィルタ45A及び45B、FIRフィルタ46A及び46B、振幅演算回路47、位相演算回路48、振幅演算回路49、位相演算回路50、振幅比演算回路51、及び位相差演算回路52を含む。
AD変換器41−1、41−2、及び41−3は、アナログ発振信号Ref、アナログ入力信号Sig1、及びアナログ出力信号Sig2をAD変換することにより、デジタル発振信号、デジタル入力信号、及びデジタル出力信号をそれぞれ出力する。ここでアナログ発振信号Refは図1の発振回路13の発振信号であり、アナログ入力信号Sig1は測定対象回路10の入力端PIN2への入力信号であり、アナログ出力信号Sig2は測定対象回路10の出力端POUTからの出力信号である。
高周波無線(数百MHz〜GHz以上)のダイレクトコンバージョンの場合、高速な信号を精度良くAD変換できるAD変換器が存在しないため、アナログ領域においてダウンコンバート処理を実行し、その後AD変換する構成が用いられる。それに対して、図1のようにして測定対象回路のゲイン特性を測定する場合、0Hzから10MHz程度迄の周波数について測定すればよく、初段においてAD変換を実行し、残りの処理をデジタル信号の領域で実行することができる。これにより、アナログ回路として実現するAFE、ミキサー回路、ローパスフィルタ回路の特性が、温度変化や経時変化によりばらつきやすいという問題を回避することができる。また以下に説明するようにヒルベルト変換に基づく位相調整器を用いることで、アナログ処理の場合と異なり、様々な周波数に対して精度良く位相を90度ずらすことが容易となる。また更に、ヒルベルト変換を用いることで、位相調整処理と同時にDCオフセットを効率的に除去することが可能となる。
位相調整器42−1A、42−1B、42−2及び42−3は、同一構成の回路であり、ヒルベルト変換を利用することにより、入力されるデジタル信号に対して位相調整とDCオフセット除去とを行う。具体的には、位相調整器42−1Aは、AD変換器41−1が生成するデジタル発振信号に対して、一定の遅延時間の遅れに加えヒルベルト変換により0度の位相遅れをもたらすと共にDCオフセットを除去する。位相調整器42−1Bは、AD変換器41−1が生成するデジタル発振信号に対して、一定の遅延時間の遅れに加えヒルベルト変換により90度の位相遅れをもたらすと共にDCオフセットを除去する。位相調整器42−2は、AD変換器41−2が生成するデジタル入力信号に対して、一定の遅延時間の遅れに加えヒルベルト変換により0度の位相遅れをもたらすと共にDCオフセットを除去する。位相調整器42−3は、AD変換器41−3が生成するデジタル出力信号に対して、一定の遅延時間の遅れに加えヒルベルト変換により0度の位相遅れをもたらすと共にDCオフセットを除去する。各位相調整器がもたらす上記の一定の遅延時間の遅れは、各位相調整器が同一構成の回路であるために何れの位相調整器においても同一の長さであり、この遅れに起因する信号間での位相のずれは生じない。以下の説明では、この一定の遅延時間の遅れは無視する。
デジタル発振信号Refが、
Ref = A0 + A1cos(ωt)
であるとする。位相調整器42−1Aにより、信号Refに対して0度の位相遅れをもたらすと共にDCオフセットを除去した信号Ref_0は、以下のようになる。
Ref_0 = A1cos(ωt)
また位相調整器42−1Bにより、信号Refに対して90度の位相遅れをもたらすと共にDCオフセットを除去した信号Ref_90は、以下のようになる。
Ref_90 = A1sin(ωt)
同様に、デジタル入力信号Sig1が、
Sig1 = B0 + B1cos(ωt + θ1)
であるとする。位相調整器42−2により、信号Sig1に対して0度の位相遅れをもたらすと共にDCオフセットを除去した信号Sig1_0は、以下のようになる。
Sig1_0 = B1cos(ωt + θ1)
同様に、デジタル出力信号Sig2が、
Sig2 = C0 + C1cos(ωt + θ2)
であるとする。位相調整器42−3により、信号Sig2に対して0度の位相遅れをもたらすと共にDCオフセットを除去した信号Sig2_0は、以下のようになる。
Sig2_0 = C1cos(ωt + θ2)
ミキサ回路43A及び43Bは、位相調整器42−1A及び42−1Bの出力と位相調整器42−2の出力とを乗算する。具体的には、ミキサ回路43Aは信号Ref_0と信号Sig1_0との乗算を行い、ミキサ回路43Bは信号Ref_90と信号Sig1_0との乗算を行う。同様に、ミキサ回路44A及び44Bは、位相調整器42−1A及び42−1Bの出力と位相調整器42−3の出力とを乗算する。具体的には、ミキサ回路44Aは信号Ref_0と信号Sig2_0との乗算を行い、ミキサ回路44Bは信号Ref_90と信号Sig2_0との乗算を行う。
ミキサ回路43Aの出力X1’は以下のように表される。
X1’ = Ref_0・Sig1_0
= A1cos(wt)・B1cos(wt + q1)
= - (1/2)・A1・B1・(cos(2wt + q1) + cos(q1))
またミキサ回路43Bの出力Y1’は以下のように表される。
Y1’ = Ref_90・Sig1_0
= A1sin(wt)・B1cos(wt + q1)
= (1/2)・A1・B1・(sin(2wt + q1) - sin(q1))
ミキサ回路44A及び44Bの出力については、上記の式においてSig1_0をSig2_0に置き換えたものとなる。
FIRフィルタ45A及び45Bは、ミキサ回路43A及び43Bの出力信号をそれぞれローパスフィルタリングすることにより、信号中の高周波成分を除去又は減衰させる。FIRフィルタ46A及び46Bは、ミキサ回路44A及び44Bの出力信号をそれぞれローパスフィルタリングすることにより、信号中の高周波成分を除去又は減衰させる。FIRフィルタ45A及び45B及びFIRフィルタ46A及び46Bは、周波数2ωの点において減衰率が例えば1/100〜1/1000となるように周波数特性を有してよい。
具体的には、ミキサ回路43Aの出力信号X1’をローパスフィルタリングすることに得られる信号X1は以下のように表される。
X1 = (1/2)・A1・B1・cos(q1)
またミキサ回路43Bの出力信号Y1’をローパスフィルタリングすることに得られる信号Y1は以下のように表される。
Y1 = -(1/2)・A1・B1・sin(q1)
ミキサ回路44A及び44Bの出力をローパスフィルタリングすることにより得られる信号X2及びY2については、上記の式においてB1をC1で置き換え、θ1をθ2で置き換えたものとなる。即ち、
X2 = (1/2)・A1・C1・cos(q2)
Y2 = -(1/2)・A1・C1・sin(q2)
となる。
振幅演算回路47は、FIRフィルタ45A及び45Bによりローパスフィルタリングして得られる信号から前述のアナログ入力信号の振幅に応じた値V1を求める。位相演算回路48は、FIRフィルタ45A及び45Bによりローパスフィルタリングして得られる信号から前述のアナログ入力信号の位相に応じた値P1を求める。振幅演算回路49は、FIRフィルタ46A及び46Bによりローパスフィルタリングして得られる信号から前述のアナログ出力信号の振幅に応じた値V2を求める。位相演算回路50は、FIRフィルタ46A及び46Bによりローパスフィルタリングして得られる信号から前述のアナログ出力信号の位相に応じた値P2を求める。
具体的には、V1、P1、V2、及びP2は以下のように求められる。
V1 = (X12 + Y12)1/2
= (1/2)・A1・B1
P1 = tan-1(-Y1/X1) = tan-1(sin(q1)/cos(q1)) = q1
V2 = (X22 + Y22)1/2
= (1/2)・A1・C1
P2 = tan-1(-Y2/X2) = tan-1(sin(q2)/cos(q2)) = q2
振幅比演算回路51は、上記の値V1と値V2とから前記アナログ入力信号の振幅と前記アナログ出力信号の振幅との比率を求める。比率Gainは、以下のように表される。
Gain = V2/V1 = C1/B1
位相差演算回路52は、上記の値P1と値P2とから前記アナログ入力信号の位相と前記アナログ出力信号の位相との差を求める。位相差Phaseは、以下のように表される。
Phase = P1 - P2 = q1 - q2
以上のようにして、図4に示す電子回路は、ダイレクトコンバージョンにより、アナログ入力信号の振幅とアナログ出力信号の振幅との比率、及び、アナログ入力信号の位相とアナログ出力信号の位相との差を求めることができる。その際、同一回路構成の位相調整器を各信号経路において用いることにより、信号経路間に特性やタイミングのずれをもたらすことなく、様々な周波数に対する正確な位相調整と確実なDCオフセットの除去を実現することができる。
図5は、位相調整器の構成の一例を示す図である。図5に示す位相調整器が、図4に示す位相調整器42−1A、42−1B、42−2及び42−3として用いられてよい。図5に示す位相調整器は、FIRフィルタ61、乗算回路62、乗算回路63、減算回路64、FIRフィルタ65、乗算回路66、乗算回路67、及び減算回路68を含む。
FIRフィルタ61及び65は、互いに同一の構成であってよい。FIRフィルタ61は、入力信号INのヒルベルト変換を計算するフィルタである。ヒルベルト変換は、以下の周波数特性を有する。
Figure 0006651697
ヒルベルト変換は、入力信号に対して直交する信号を出力する変換であり、入力信号が解析信号の同相成分(実数部)であると考えたときに、その解析信号の直交成分(虚数部)にあたる信号を生成することができる。図5に示すFIRフィルタ61は、入力信号INをFIRフィルタの遅延Dだけ遅らせた信号ROUT1と、入力信号INを遅延Dだけ遅らせると共にヒルベルト変換により90度位相を遅らせて得られた信号IOUT1とを出力する。乗算回路62は信号ROUT1とcos(θ1)とを乗算し、乗算回路63は信号IOUT1とsin(θ1)とを乗算する。ここでθ1は任意に設定可能な位相である。減算回路64は、乗算回路62の乗算結果から乗算回路63の乗算結果を減算する。減算回路64による減算結果が信号IMとしてFIRフィルタ65に入力される。FIRフィルタ65は、信号IMをFIRフィルタの遅延Dだけ遅らせた信号ROUT2と、信号IMを遅延Dだけ遅らせると共にヒルベルト変換により90度位相を遅らせて得られた信号IOUT2とを出力する。乗算回路66は信号ROUT2とcos(θ2)とを乗算し、乗算回路67は信号IOUT2とsin(θ2)とを乗算する。ここでθ2は任意に設定可能な位相である。減算回路68は、乗算回路66の乗算結果から乗算回路67の乗算結果を減算する。減算回路68による減算結果が位相調整器の出力信号OUTとして出力される。
例えば入力信号INがcos(ωt)である場合、信号ROUT1、信号IOUT1、及び信号IMはそれぞれ以下のようになる。
ROUT1 = cos(wt + D)
IOUT1 = sin(wt + D)
IM = cos(wt + D)・cos(q1) - sin(wt + D)・sin(q1)
= (1/2)[cos(wt + D + q1) + cos(wt + D - q1)]+(1/2)[cos(wt + D + q1) - cos(wt + D - q1)]
= cos(wt + D + q1)
同様にして計算すると、出力信号OUTは以下のようになる。
IM = cos(wt + 2D + q1 + q2)
ここで、θ1又はθ2の何れか一方を90度に設定すれば、直流成分がゼロであるヒルベルト変換の特性により、入力信号INにDCオフセットが含まれていても、出力信号OUTにおける直流成分はゼロとなる。
図4において、位相調整器42−1A、42−1B、42−2及び42−3のうち位相遅れが0度である位相調整器については、図5のθ1又はθ2の何れか一方(例えばθ1)を90度に設定し、他方(例えばθ2)を0度に設定すればよい。また位相調整器42−1A、42−1B、42−2及び42−3のうち位相遅れが90度である位相調整器については、図5のθ1又はθ2の何れか一方(例えばθ1)を90度に設定し、他方(例えばθ2)も90度に設定すればよい。図4のダイレクトコンバージョンユニット11における各位相調整器に要求される位相遅れ量は、各位相調整器間での相対的な位相遅れ量である。従って、第1の位相調整器の位相遅れを90度に設定し、第2の位相調整器の位相遅れを180度(90度+90度)に設定すれば、第1の位相調整器の位相遅れが0度であり、第2の位相調整器の位相遅れが90度である場合と同一の結果が得られる。更に、このように位相遅れを設定することにより、第1の位相調整器と第2の位相調整器との両方においてヒルベルト変換を実行することになるので、DCオフセットを除去することができる。
図6は、ヒルベルト変換を計算するFIRフィルタの構成の一例を示す図である。図6に示すFIRフィルタが、図5に示すFIRフィルタ61及び65として用いられてよい。
図6に示すFIRフィルタは、M個(M:2以上の偶数)の遅延素子71−1乃至71−M、M+1個の乗算器72−0乃至72−M、及び加算器73を含む奇数次のFIRフィルタである。遅延素子71−1乃至71−Mは一列に縦続接続される。一番端の遅延素子に入力された入力信号INは、各遅延素子により単位時間(例えばクロック1周期分)の長さだけ順次遅延される。乗算器72−0乃至72−Mは、入力信号INに対して遅延量ゼロ乃至Mだけ遅れた信号をそれぞれ入力として受け取り、それぞれの係数値に等しい倍率で入力された信号を定数倍する。加算器73は、乗算器72−0乃至72−Mの出力の総和を計算し、計算された総和を出力信号IOUTとして出力する。この出力信号IOUTは、図5のIOUT1及びIOUT2に相当する。
M個の遅延素子71−1乃至71−Mのうちの最初のM/2個の遅延素子71−1乃至71−M/2を通過した信号は、出力信号ROUTとして出力される。この出力信号ROUTは、図5のROUT1及びROUT2に相当する。
乗算器72−0乃至72−Mの係数値は、それぞれh[0]乃至h[M]である。係数値h[0]乃至h[M]は、以下のように定義される。
Figure 0006651697
但し、mは−M/2からM/2の範囲の整数である。図6に示されるFIRフィルタの出力ROUTに関する伝達関数は、以下のように求められる。
Figure 0006651697
なお上記の式の展開においては、h[m+M/2]がm=0の点を中心に奇関数であることを利用している。フィルタの周波数特性を求めるためにzにejωtを代入すると、以下のようになる。
Figure 0006651697
図7は、電源回路を含むシステムの構成の一例を示す図である。図7に示すシステムは、SoC(System on Chip)81、トランス82、発振回路83、及びコンデンサ84を含む。SoC81は、例えば集積回路であって、AD変換器(ADC)91−1乃至91−3、演算ユニット92、帰還回路93、増幅器94、定電圧源95、メモリ96、及びプロセッサ97を含む。
発振回路83は入力のデジタルデータに応じた周波数の発振波形を作り出す回路であるDirect Digital Synthesizer(DDS)等であってよい。発振回路83が生成した発振信号はトランス82の一次側に印加される。発振回路83のグランド側の出力端子とは反対側の出力端子に現れる電圧信号(第1のアナログ信号)は、SoC81の端子T1を介してAD変換器91−1に印加される。トランス82の二次側のコイルの第1の端子に現れる電圧信号(第2のアナログ信号)は、SoC81の端子T2を介してAD変換器91−2に印加される。トランス82の二次側のコイルの第2の端子に現れる電圧信号(第3のアナログ信号)は、SoC81の端子T3を介してAD変換器91−3に印加される。トランス82の二次側のコイルの第2の端子は、コンデンサ84の一方の端子に接続され、コンデンサ84の他方の端子はグランドに接続される。
トランス82の二次側のコイルの第1の端子は更に、SoC81の端子T4を介して帰還回路93の一端に接続される。トランス82の二次側のコイルの第2の端子は更に、SoC81の端子T5を介して増幅器94の出力端に接続される。帰還回路93の他端は増幅器94の反転入力端に接続される。増幅器94の非反転入力端とグランドに接続されるSoC81の端子T6との間には定電圧源95が接続される。
定電圧源95は、一定電圧を出力する基準電圧発生回路であり、例えばBGR(Band Gap Reference)であってよい。増幅器94は、定電圧源95の生成する一定電圧に応じて電源電圧を生成する。帰還回路93は、増幅器94の入力に負帰還信号を供給する。
AD変換器91−1乃至91−3は、第1のアナログ信号、第2のアナログ信号、及び第3のアナログ信号をAD変換することにより第1のデジタル信号、第2のデジタル信号、及び第3のデジタル信号を出力する。演算ユニット92は、AD変換器91−1乃至91−3の出力に応じて帰還回路93の特性を可変に調整する。
演算ユニット92は、図4に示す電子回路のうちAD変換器41−1乃至41−3以外の部分の構成を含む回路であってよい。具体的には、演算ユニット92は、第1のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第1の位相調整器と、第2のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第2の位相調整器とを含んでよい。演算ユニット92は更に、第3のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第3の位相調整器を含んでよい。演算ユニット92は更に、第1の位相調整器の出力と第2の位相調整器の出力とを乗算する第1のミキサ回路と、第1の位相調整器の出力と第3の位相調整器の出力とを乗算する第2のミキサ回路とを含んでよい。演算ユニット92は、第1のミキサ回路の出力と第2のミキサ回路の出力とに応じて、帰還回路93の特性を可変に調整してよい。
演算ユニット92によるループゲイン特性の測定動作については、図4に示す電子回路について説明した動作と同様である。演算ユニット92は、測定したループゲイン特性に基づいて、帰還回路93の容量値及び抵抗値の少なくとも一方を調整してよい。より具体的には、アナログ入力信号(第2のアナログ信号)とアナログ出力信号(第3のアナログ信号)との間の振幅の比率(電圧比)及び位相の差に基づいて、ループゲインのゲイン余裕と位相余裕とを求めればよい。そして帰還回路93の容量値及び抵抗値の少なくとも一方を調整することにより、十分なゲイン余裕と位相余裕とを確保できるように、帰還回路93の特性を設定すればよい。
演算ユニット92は、図4に示すような電子回路ではなく、ソフトウェアに基づいて動作するCPU(Central Processing Unit)等の演算装置であってもよい。この場合であっても、演算ユニット92の実行する処理については、上記説明した処理と同様である。演算ユニット92が実行する振幅及び位相特性の演算プログラムは例えばメモリ96に格納されていてよい。
トランス82及び発振回路83は、帰還回路93及び増幅器94が構成するフィードバックループの特性を測定するために、SoC81に外付けされる回路部品である。SoC81を通常動作状態で使用する際には、トランス82及び発振回路83はSoC81から取り外され、端子T5を端子T4に直接に接続し、帰還回路93、増幅器94、及び定電圧源95を電源回路として使用する。SoC81に内蔵されるメモリ96やプロセッサ97等の回路モジュールは、増幅器94が出力する電源電圧を駆動電圧として動作してよい。増幅器94の出力は、SoC81の内部において直接にメモリ96及びプロセッサ97に接続されて駆動電圧を供給してもよいし、端子T5を電源電圧入力用の端子(図示せず)に接続することにより、メモリ96及びプロセッサ97に駆動電圧を供給してもよい。また端子T5から出力される電源電圧は、SoC81以外の他のチップに対し、駆動電圧として供給されてもよい。
図8は、電源回路を含むシステムの構成の別の一例を示す図である。図8に示すシステムは、SoC(System on Chip)81A、トランス82、発振回路83、コンデンサ84、及びコンデンサ104を含む。SoC81Aは、AD変換器(ADC)91−1乃至91−3、演算ユニット92、帰還回路93、増幅器94、定電圧源95、帰還回路113、増幅器114、及び定電圧源115を含む。SoC81Aは、SoC81と同様に、メモリ96及びプロセッサ97等の他の回路モジュールを含んでよい。帰還回路93、増幅器94、及び定電圧源95は、それぞれ帰還回路113、増幅器114、及び定電圧源115と同一の回路であり、設計上同一の特性を有する。
SoC81Aの端子T7と端子T8とが互いに接続されることにより増幅器114の出力が帰還回路113の一端に印加され、更に、帰還回路113の他端が増幅器114の反転入力に接続される。これにより、帰還回路113と増幅器114とでフィードバックループが形成される。また増幅器114の非反転入力とグランドに接続されるSoC81Aの端子T9との間には、定電圧源115が接続される。更に、端子T9と端子T8との間にはコンデンサ104が接続される。以上の接続により、帰還回路113、増幅器114、定電圧源115、及びコンデンサ84の部分は、電源電圧を供給する電源回路として機能する。即ち、増幅器114が出力する電源電圧はSoC81Aの内部の回路モジュールに駆動電圧として供給されてよいし、SoC81Aの外部の回路モジュールに駆動電圧として供給されてもよい。
図8に示すシステムでは、トランス82、発振回路83、コンデンサ84、AD変換器91−1乃至91−3、演算ユニット92A、帰還回路93、増幅器94、定電圧源95の部分が、フィードバックループ特性測定用のモニタ回路として機能する。演算ユニット92Aは、AD変換器91−1乃至91−3からのデジタル信号に基づいて、図7の演算ユニット92と同様にして帰還回路93及び増幅器94を含むフィードバックループの特性を測定し、測定結果に基づいて帰還回路93の特性を可変に調整する。即ち、演算ユニット92Aは、測定したループゲインのゲイン余裕と位相余裕とに基づいて、帰還回路93の容量値及び抵抗値の少なくとも一方を調整することにより、十分なゲイン余裕と位相余裕とを確保できるように、帰還回路93の特性を設定する。
演算ユニット92Aは更に、帰還回路93及び増幅器94を含むフィードバックループの特性の測定結果に基づいて、帰還回路113の特性を可変に調整する。即ち、演算ユニット92Aは、測定したループゲインのゲイン余裕と位相余裕とに基づいて、帰還回路113の容量値及び抵抗値の少なくとも一方を調整することにより、十分なゲイン余裕と位相余裕とを確保できるように、帰還回路113の特性を設定する。
以上の構成及び動作により、図8に示すシステムは、モニタ回路部分でのフィードバックループの特性の測定結果に基づいて、モニタ回路部分の帰還回路の特性を可変に調整すると共に、電源回路部分の帰還回路の特性を可変に調整する。これにより、電源回路部分の電源電圧出力に接続される回路に実際の動作用の電源電圧を供給しながら、電源回路部分の特性を動的に調整することが可能となり、温度変化等による回路特性の変動の影響が軽減された安定した電源電圧を供給することができる。
以上、本発明を実施例に基づいて説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載の範囲内で様々な変形が可能である。
10 測定対象回路
11 ダイレクトコンバージョンユニット
12 トランス
13 発振回路
14 定電圧源

Claims (10)

  1. 所望の周波数のアナログ発振信号に応じたアナログ入力信号が印加されアナログ出力信号を出力する測定対象回路と、
    前記アナログ発振信号、前記アナログ入力信号、及び前記アナログ出力信号をAD変換することによりデジタル発振信号、デジタル入力信号、及びデジタル出力信号を出力するAD変換器と、
    前記AD変換器から出力される前記デジタル発振信号、前記デジタル入力信号、及び前記デジタル出力信号を用いて演算処理を実行する演算ユニットと、
    を含み、前記演算ユニットは、
    前記デジタル発振信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する少なくとも1つの第1の位相調整器と、
    前記デジタル入力信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第2の位相調整器と、
    前記デジタル出力信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第3の位相調整器と、
    前記第1の位相調整器の出力と前記第2の位相調整器の出力とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第1の乗算結果を生成する第1のミキサ回路と、
    前記第1の位相調整器の出力と前記第3の位相調整器の出力とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第2の乗算結果を生成する第2のミキサ回路と
    を含み、
    前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記アナログ入力信号の振幅と前記アナログ出力信号の振幅との振幅比率を求め、
    前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記アナログ入力信号の位相と前記アナログ出力信号の位相との位相差を求める
    電子回路。
  2. 前記位相調整器はヒルベルト変換を計算する奇数次のFIRフィルタを含む請求項1記載の電子回路。
  3. 前記位相調整器はヒルベルト変換を計算する複数の奇数次のFIRフィルタを含み、それぞれの前記FIRフィルタに異なる位相遅れを設定することが可能である請求項1記載の電子回路。
  4. 前記演算ユニットは、
    前記第1のミキサ回路の出力をローパスフィルタリングして得られる信号から前記アナログ入力信号の振幅に応じた第1の値と位相に応じた第2の値とを求める第1の演算回路と、
    前記第2のミキサ回路の出力をローパスフィルタリングして得られる信号から前記アナログ出力信号の振幅に応じた第3の値と位相に応じた第4の値とを求める第2の演算回路と、
    前記第1の値と前記第3の値とから前記振幅比率を求める第3の演算回路と、
    前記第2の値と前記第4の値とから前記位相差を求める第4の演算回路と
    を更に含む請求項1記載の電子回路。
  5. 前記測定対象回路は、
    増幅器と、
    帰還回路と
    を含み、前記アナログ入力信号は前記帰還回路への入力であり、前記アナログ出力信号は前記増幅器の出力である請求項1記載の電子回路。
  6. 前記帰還回路の特性は可変に調整可能である請求項5記載の電子回路。
  7. 一定電圧を出力する基準電圧発生回路と、
    前記一定電圧に応じて電源電圧を生成する増幅器と、
    前記増幅器の入力に負帰還信号を供給するための帰還回路と、
    第1のアナログ信号、第2のアナログ信号、及び第3のアナログ信号をAD変換することにより第1のデジタル信号、第2のデジタル信号、及び第3のデジタル信号を出力するAD変換器と、
    前記AD変換器から出力される前記第1のデジタル信号、前記第2のデジタル信号、及び前記第3のデジタル信号を用いて演算処理を行い、前記AD変換器の出力に応じて前記帰還回路の特性を可変に調整する演算ユニットと、
    を含み、前記演算ユニットは、
    前記第1のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第1の位相調整器と、
    前記第2のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第2の位相調整器と、
    前記第3のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第3の位相調整器と、
    前記第1の位相調整器の出力と前記第2の位相調整器の出力とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第1の乗算結果を生成する第1のミキサ回路と、
    前記第1の位相調整器の出力と前記第3の位相調整器の出力とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第2の乗算結果を生成する第2のミキサ回路と
    を含み、
    前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記第2のアナログ信号の振幅と前記第3のアナログ信号の振幅との振幅比率を求め、
    前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記第2のアナログ信号の位相と前記第3のアナログ信号の位相との位相差を求め、
    前記振幅比率と前記位相差とに応じて前記帰還回路の特性を可変に調整する電源回路。
  8. 一定電圧を出力する基準電圧発生回路と、
    前記一定電圧に応じて電源電圧を生成する増幅器と、
    前記増幅器の入力に負帰還信号を供給するための帰還回路と、
    第1のアナログ信号、第2のアナログ信号、及び第3のアナログ信号をAD変換することにより第1のデジタル信号、第2のデジタル信号、及び第3のデジタル信号を出力するAD変換器と、
    前記AD変換器から出力される前記第1のデジタル信号、前記第2のデジタル信号、及び前記第3のデジタル信号を用いて演算処理を行い、前記AD変換器の出力に応じて前記帰還回路の特性を可変に調整する演算ユニットと、
    を含み、前記演算ユニットは、
    前記第1のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第1の位相調整器と、
    前記第2のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第2の位相調整器と、
    前記第3のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整して出力する第3の位相調整器と、
    前記第1の位相調整器の出力と前記第2の位相調整器の出力とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第1の乗算結果を生成する第1のミキサ回路と、
    前記第1の位相調整器の出力と前記第3の位相調整器の出力とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第2の乗算結果を生成する第2のミキサ回路と
    前記電源電圧を駆動電圧として動作する内部回路と
    を含み、
    前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記第2のアナログ信号の振幅と前記第3のアナログ信号の振幅との振幅比率を求め、
    前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記第2のアナログ信号の位相と前記第3のアナログ信号の位相との位相差を求め、
    前記振幅比率と前記位相差とに応じて前記帰還回路の特性を可変に調整する集積回路。
  9. 所望の周波数のアナログ発振信号に応じたアナログ入力信号を測定対象回路に入力することにより前記測定対象回路にアナログ出力信号を出力させ、
    前記アナログ発振信号、前記アナログ入力信号、及び前記アナログ出力信号をAD変換することによりデジタル発振信号、デジタル入力信号、及びデジタル出力信号を生成し、
    前記デジタル発振信号をヒルベルト変換により位相調整し、
    前記デジタル入力信号をヒルベルト変換により位相調整し、
    前記デジタル出力信号をヒルベルト変換により位相調整し、
    前記位相調整後のデジタル発振信号と前記位相調整後のデジタル入力信号とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第1の乗算結果を生成し、
    前記位相調整後のデジタル発振信号と前記位相調整後のデジタル出力信号とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第2の乗算結果を生成し、
    前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記アナログ入力信号の振幅と前記アナログ出力信号の振幅との比率を求め、
    前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記アナログ入力信号の位相と前記アナログ出力信号の位相との差を求める
    各段階を含む回路の特性測定方法。
  10. 第1のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整し、
    第2のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整し、
    第3のデジタル信号をヒルベルト変換により位相調整し、
    前記位相調整後の第1のデジタル信号と前記位相調整後の第2のデジタル信号とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第1の乗算結果を生成し、
    前記位相調整後の第1のデジタル信号と前記位相調整後の第3のデジタル信号とを乗算することによりダイレクトコンバージョンを実行して第2の乗算結果を生成し、
    前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記第2のデジタル信号の振幅と前記第3のデジタル信号の振幅との比率を求め、
    前記第1の乗算結果と前記第2の乗算結果とに応じて前記第2のデジタル信号の位相と前記第3のデジタル信号の位相との差を求める
    各段階を演算装置に実行させる振幅及び位相特性の演算プログラムであって、
    前記第1のデジタル信号は所望の周波数のアナログ発振信号をAD変換したデジタル発振信号であり、前記第2のデジタル信号は測定対象回路に対する前記アナログ発振信号に応じたアナログ入力信号をAD変換したデジタル入力信号であり、前記第3のデジタル信号は前記測定対象回路が前記アナログ入力信号に応じて出力するアナログ出力信号をAD変換したデジタル出力信号であることを特徴とする演算プログラム。
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