CN116930808B - 一种电源环路的稳定性测试方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例公开了一种电源环路的稳定性测试方法、装置、设备及存储介质,采集注入信号和输出信号,得到第一信号和第二信号;分别对第一信号和第二信号进行傅里叶变换处理,得到第一数据和第二数据;当第一数据不满足第一预设条件时,对第一信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第一预设条件的第一数据;当第二数据不满足第二预设条件时,对第二信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第二预设条件的第二数据;根据第一数据和第二数据的增益差和相位差绘制伯德图,并根据伯德图确定电源环路的稳定性参数,能够解决稳定性测试准确性较低的问题,提升电源环路的稳定性测试的准确性。
Description
技术领域
本申请实施例涉及电源环路稳定性测试技术领域,尤其涉及一种电源环路的稳定性测试方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
稳定可靠的电源环路系统中,必须是带反馈环路的系统,即闭环系统。电源环路系统的控制器根据系统的实际输出与理想输出的偏差来设计算法,使得输出值逼近设定值。若电源环路系统中的反馈环路设计不好,对与负载的瞬态改变,电源环路系统就不能作出及时恰当的调整,则导致输出的电压瞬间会偏高或者偏低,会造成电源环路系统的振荡,对下一级系统构成损坏。因此,对电源环路系统的稳定性进行测试显得尤为重要。
伯德图是一种展示系统频率响应特性的图标,伯德图由两条曲线组成,一条是幅频特性曲线,另一条是相频特性曲线。通常通过伯德图中的相位余量、增益余量和穿越频率等来衡量衡量电源环路系统的稳定性。
现有的电源环路稳定性测试,一般是通过扫频的方式进行的,即向注入信号端不断输出一个指定频率范围内的步进频率的注入信号,然后采集注入信号和输出信号,测量注入信号和输出信号的增益比和相位差,从而绘制出一张伯德图,通过该伯德图得到对应的电源环路的稳定性情况。
现有通过扫频的方式,采样时间是固定的,这样有可能会造成信号一个周期内的点数过少,或造成采样得到的周期数太少,会造成采样精度的问题,影响得到的伯德图的准确性,并且影响后续判断电源环路系统环路稳定性的准确性。
发明内容
本申请实施例提供一种电源环路的稳定性测试方法、装置、设备及存储介质,能够解决电源环路的稳定性测试的准确性较低的问题,提高绘制的伯德图的数据准确性,提升电源环路的稳定性测试的准确性。
在第一方面,本申请实施例提供了一种电源环路的稳定性测试方法,包括:
采集注入信号和输出信号,得到第一信号和第二信号,所述第一信号包括第一采样时间,所述第二信号包括第二采样时间;
分别对所述第一信号和所述第二信号进行傅里叶变换处理,得到第一数据和第二数据,所述第一数据包括第一增益参数、第一相位参数和第一振幅参数,所述第二数据包括第二增益参数、第二相位参数和第二振幅参数;
当所述第一数据不满足第一预设条件时,对所述第一信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第一预设条件的第一数据,所述第一预设条件为第一数据的第一振幅参数在预设第一范围内和第一采样时间在预设第二范围内;
当所述第二数据不满足第二预设条件时,对所述第二信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第二预设条件的第二数据,所述第二预设条件为第二数据的第二振幅参数在预设第三范围内和第二采样时间在预设第四范围内;
对满足第一预设条件的第一数据和满足第二预设条件的第二数据进行数据处理,得到两者的增益差和相位差;
根据所述增益差和相位差绘制伯德图,并根据所述伯德图确定电源环路的稳定性参数。
进一步的,所述当所述第一数据不满足第一预设条件时,对所述第一信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第一预设条件的第一数据,包括:
当所述第一数据的第一振幅参数不在预设第一范围内时,对所述第一信号的采样增益档位进行调整处理后,重新采集新的第一信号;
对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一振幅参数在预设第一范围内的第一数据;
当第一采样时间不在预设第二范围内,对所述第一采样时间进行调整处理后,重新采集新的第一信号;
对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一采样时间在预设第二范围内的第一数据。
进一步的,所述第一信号还包括第一采样频率;
所述对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一采样时间在预设第二范围内的第一数据,包括:
根据傅里叶变换处理得到第一信号周期;
根据所述第一信号周期和所述第一采样频率得到第一信号周期点数;
根据所述第一信号周期点数调整傅里叶变换处理的运算点数,得到新的运算点数,所述新的运算点数为第一信号周期点数的整数倍;
根据所述新的运算点数对所述新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一采样时间在预设第二范围内的第一数据。
进一步的,所述当所述第二数据不满足第二预设条件时,对所述第二信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第二预设条件的第二数据,包括:
当所述第二数据的第二振幅参数不在预设第三范围内时,对所述第二信号的采样增益档位进行调整处理后,重新采集新的第二信号;
对采集到的新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二振幅参数在预设第三范围内的第二数据;
当第二采样时间不在预设第四范围内,对所述第二信号的采样时间进行调整处理后,重新采集新的第二信号;
对采集到的所述新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二采样时间在预设第四范围内的第二数据。
进一步的,所述第二信号包括第二采样频率;
所述对采集到的新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二采样时间在预设第四范围内的第二数据,包括:
根据傅里叶变换处理得到第二信号周期;
根据所述第二信号周期和所述第二采样频率得到第二信号周期点数;
根据所述第二信号周期点数调整傅里叶变换处理的运算点数,得到新的运算点数,所述新的运算点数为第二信号周期点数的整数倍;
根据所述新的运算点数对所述新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二采样时间在预设第二范围内的第二数据。
进一步的,所述采集注入信号和输出信号,得到第一信号和第二信号,包括:
采集注入信号和输出信号,分别对采集到所述注入信号和所述输出信号进行模数转换处理,得到第一信号和第二信号,所述第一信号和第二信号为数字信号。
进一步的,所述根据所述增益差和相位差绘制伯德图,并根据所述伯德图确定电源环路的稳定性参数,包括:
根据信号频率和校准数据对照表获取对应的增益校准参数和相位校准参数,每一所述增益差对应一信号频率,每一相位差对应一信号频率;
根据所述增益差和对应的增益校准参数得到实际增益差,根据所述相位差和对应的相位校准参数得到实际相位差;
根据所述实际增益差和所述实际相位差绘制伯德图;
根据所述伯德图确定电源环路的稳定性参数。
进一步的,所述根据信号频率和校准数据对照表获取对应的增益校准参数和相位校准参数之前,包括:
接收第一校准信号和第二校准信号,所述第一校准信号和所述第二校准信号为相同信号源的信号;
分别对所述第一校准信号和第二校准信号进行傅里叶变换处理,得到第一校准数据和第二校准数据,其中所述第一校准数据包括第一参考信号频率、第一增益参考参数和第一相位参考参数,所述第二校准数据包括第二参考信号频率、第二增益参考参数和第二相位参数参数;
根据所述第一增益参考参数和第二增益参考参数的差值得到对应信号频率的增益校准参数,所述信号频率为相同频率值的第一参考信号频率和第二参考信号频率;
根据所述第一相位参考参数和第二相位参考参数的差值得到对应信号频率的相位校准参数,所述信号频率为相同频率值的第一参考信号频率和第二参考信号频率;
根据所述增益校准参数和相位校准参数以及对应的信号频率得到所述校准数据对照表。
在第二方面,本申请实施例提供了一种电源环路的稳定性测试装置,包括:
信号采集模块,用于采集注入信号和输出信号,得到第一信号和第二信号,所述第一信号包括第一采样时间,所述第二信号包括第二采样时间;
第一数据处理单元,用于分别对所述第一信号和所述第二信号进行傅里叶变换处理,得到第一数据和第二数据,所述第一数据包括第一增益参数、第一相位参数和第一振幅参数,所述第二数据包括第二增益参数、第二相位参数和第二振幅参数;
第一反馈模块,用于当所述第一数据不满足第一预设条件时,对所述第一信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第一预设条件的第一数据,所述第一预设条件为第一数据的第一振幅参数在预设第一范围内和第一采样时间在预设第二范围内;
第二反馈模块,用于当所述第二数据不满足第二预设条件时,对所述第二信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第二预设条件的第二数据,所述第二预设条件为第二数据的第二振幅参数在预设第三范围内和第二采样时间在预设第四范围内;
第二数据处理模块,用于对满足第一预设条件的第一数据和满足第二预设条件的第二数据进行数据处理,得到两者的增益差和相位差;
稳定性分析模块,用于根据所述增益差和相位差绘制伯德图,并根据所述伯德图确定电源环路的稳定性参数。
进一步的,所述第一反馈模块包括第一振幅调整单元、第一数据处理单元、第一时间调整单元和第二数据处理单元;
所述第一振幅调整单元,用于当所述第一数据的第一振幅参数不在预设第一范围内时,对所述第一信号的采样增益档位进行调整处理后,重新采集新的第一信号;
所述第一数据处理单元,用于对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一振幅参数在预设第一范围内的第一数据;
所述第一时间调整单元,用于当第一采样时间不在预设第二范围内,对所述第一采样时间进行调整处理后,重新采集新的第一信号;
所述第二数据处理单元,用于对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一采样时间在预设第二范围内的第一数据。
进一步的,所述第一信号还包括第一采样频率;
所述第二数据处理单元包括第一周期获取子单元,第一周期点数获取子单元、第一点数调整子单元和第一运算子单元;
所述第一周期获取子单元,用于根据傅里叶变换处理得到第一信号周期;
所述第一周期点数获取子单元,用于根据所述第一信号周期和所述第一采样频率得到第一信号周期点数;
所述第一点数调整子单元,用于根据所述第一信号周期点数调整傅里叶变换处理的运算点数,得到新的运算点数,所述新的运算点数为第一信号周期点数的整数倍;
所述第一运算子单元,用于根据所述新的运算点数对所述新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一采样时间在预设第二范围内的第一数据。
进一步的,所述第二反馈模块包括第二振幅调整单元、第三数据处理单元、第二时间调整单元和第四数据处理单元;
所述第二振幅调整单元,用于当所述第二数据的第二振幅参数不在预设第三范围内时,对所述第二信号的采样增益档位进行调整处理后,重新采集新的第二信号;
所述第三数据处理单元,用于对采集到的新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二振幅参数在预设第三范围内的第二数据;
所述第二时间调整单元,用于当第二采样时间不在预设第四范围内,对所述第二信号的采样时间进行调整处理后,重新采集新的第二信号;
所述第四数据处理单元,用于对采集到的所述新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二采样时间在预设第四范围内的第二数据。
进一步的,所述第二信号包括第二采样频率;
所述第四数据处理单元包括第二周期获取子单元、第二周期点数获取子单元、第二点数调整子单元和第二运算子单元;
所述第二周期获取子单元,用于根据傅里叶变换处理得到第二信号周期;;
所述第二周期点数获取子单元,用于根据所述第二信号周期和所述第二采样频率得到第二信号周期点数;
所述第二点数调整子单元,用于根据所述第二信号周期点数调整傅里叶变换处理的运算点数,得到新的运算点数,所述新的运算点数为第二信号周期点数的整数倍;
所述第二运算子单元,用于根据所述新的运算点数对所述新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二采样时间在预设第二范围内的第二数据。
进一步的,所述信号采集模块,还用于采集注入信号和输出信号,分别对采集到所述注入信号和所述输出信号进行模数转换处理,得到第一信号和第二信号,所述第一信号和第二信号为数字信号。
进一步的,所述稳定性分析模块包括查表单元、校准单元、绘制单元和分析单元;
所述查表单元,用于根据信号频率和校准数据对照表获取对应的增益校准参数和相位校准参数,每一所述增益差对应一信号频率,每一相位差对应一信号频率;
所述校准单元,用于根据所述增益差和对应的增益校准参数得到实际增益差,根据所述相位差和对应的相位校准参数得到实际相位差;
所述绘制单元,用于根据所述实际增益差和所述实际相位差绘制伯德图;
所述分析单元,用于根据所述伯德图确定电源环路的稳定性参数。
进一步的,所述装置还包括校准信号接收模块、校准处理模块、增益校准模块、相位校准模块和对照表获取模块;
所述校准信号接收模块,用于接收第一校准信号和第二校准信号,所述第一校准信号和所述第二校准信号为相同信号源的信号;
所述校准处理模块,用于分别对所述第一校准信号和第二校准信号进行傅里叶变换处理,得到第一校准数据和第二校准数据,其中所述第一校准数据包括第一参考信号频率、第一增益参考参数和第一相位参考参数,所述第二校准数据包括第二参考信号频率、第二增益参考参数和第二相位参数参数;
所述增益校准模块,用于根据所述第一增益参考参数和第二增益参考参数的差值得到对应信号频率的增益校准参数,所述信号频率为相同频率值的第一参考信号频率和第二参考信号频率;
所述相位校准模块,用于根据所述第一相位参考参数和第二相位参考参数的差值得到对应信号频率的相位校准参数,所述信号频率为相同频率值的第一参考信号频率和第二参考信号频率;
所述对照表获取模块,用于根据所述增益校准参数和相位校准参数以及对应的信号频率得到所述校准数据对照表。
在第三方面,本申请实施例提供了一种电源环路的稳定性测试设备,包括:
存储器以及一个或多个处理器;
所述存储器,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如第一方面所述的电源环路的稳定性测试方法。
在第四方面,本申请实施例提供了一种存储计算机可执行指令的存储介质,所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行如第一方面所述的电源环路的稳定性测试方法。
本申请实施例通过对采集到的第一信号和第二信号分别进行傅里叶变换处理,得到第一数据和第二数据;当第一数据不满足第一预设条件时,对第一信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直到得到满足第一预设条件的第一数据;当第二数据不满足第二预设条件时,对第二信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直到得到满足第二预设条件的第二数据;根据满足第一预设条件的第一数据和满足第二预设条件的第二数据的增益差和相位差绘制伯德图,并根据伯德图确定电源环路的稳定性参数。采用上述技术手段,可以通过第一数据不满足第一预设条件时对第一信号进行采样变更处理,以及第二数据不满足第二预设条件时对第二信号进行采样变更处理,以此可避免电源环路的稳定性测试的准确性较低的问题,通过采样变更处理提升采集到的第一信号和第二信号的准确性,从而提高绘制伯德图的增益差和相位差的准确性,进而提升基于伯德图的电源环路的稳定性测试的准确性。
附图说明
图1是本申请实施例提供的一种闭环系统的环增益模型示意图;
图2是本申请实施例提供的一种电源环路的稳定性测试方法的流程图;
图3是本申请实施例提供的一种采样增益档位调节的示意图;
图4是本申请实施例提供的一种采样变更处理流程图;
图5是本申请实施例提供的另一种采样变更处理流程图;
图6是本申请实施例提供的一种电源环路的稳定性测试装置的结构示意图;
图7是本申请实施例提供的一种电源环路的稳定性测试设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面结合附图对本申请具体实施例作进一步的详细描述。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本申请,而非对本申请的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部内容。在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是,一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各项操作(或步骤)描述成顺序的处理,但是其中的许多操作可以被并行地、并发地或者同时实施。此外,各项操作的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止,但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。
稳定可靠的电源环路系统中,必须是带反馈环路的系统,即闭环系统。电源环路系统的控制器根据系统的实际输出与理想输出的偏差来设计算法,使得输出值逼近设定值。图1是本申请实施例提供的一种闭环系统的环增益模型示意图,参照图1,该环增益模型的其传递函数为:
如果电源环路系统中没有反馈控制环路,即没有图1中的H(s)部分,则传递函数变成:
由上述可以看出,当没有图1中的H(s)部分时,输出随着输入的变化而成线性变化了,没有稳压的作用。
若电源环路系统中的反馈环路设计不好,对与负载的瞬态改变,电源环路系统就不能作出及时恰当的调整,则导致输出的电压瞬间会偏高或者偏低,会造成电源环路系统的振荡,对下一级系统构成损坏。因此,对电源环路系统的稳定性进行测试显得尤为重要。
放大器的开环增益G(s)是频率的函数,会随着频率的增加而减小,同时也和放大器的相位有关,当G(s)H(s)=-1,则其传递的值为∞,即增益是无穷大的,可以认为任意小的输入扰动都能引起输出的无穷大,如果这种输出无穷大的信号在反馈到功率变换环节,势必会造成最后输出的振荡。因此,可以通过分析G(s)H(s)的增益和相位来判断系统的稳定性。可以通过环增益G(s)H(s)的频率特性来判断系统的稳定性,同时回路增益差|GH|以及回路相位差∠GH的频率特性可以用伯德图来表示。伯德图是一种展示系统频率响应特性的图标,伯德图由两条曲线组成,一条是幅频特性曲线,另一条是相频特性曲线。伯德图横坐标为对数刻度,纵坐标为幅值或相角采用线性分度。通常通过伯德图中的相位余量、增益余量和穿越频率等来衡量衡量电源环路系统的稳定性。
现有的电源环路稳定性测试,一般是通过扫频的方式进行的,即向注入信号端不断输出一个指定频率范围内的步进频率的注入信号,然后采集注入信号和输出信号,测量注入信号和输出信号的增益比和相位差,从而绘制出一张伯德图,通过该伯德图得到对应的电源环路的稳定性情况。现有通过扫频的方式,没有考虑到随着扫频频率不断变化时,信号的增益也在不断变化,如果不及时地调节采样增益电路,那采样到的数字波形数据就会出现幅值过大或过小,就会存在精度丢失的问题。现有的方式中采样时间通常是固定的,这样有可能会造成信号一个周期内的点数过少,或造成采样到的周期数太少,同样会造成采样精度的问题。现有的方式通常是用傅里叶运算来计算环路增益和相位值,如果运算的点数一直不变,则会出现傅里叶运算的频谱泄漏问题。上述问题均会影响得到的伯德图的准确性,并且影响后续判断电源环路系统环路稳定性的准确性。
本申请提供的电源环路的稳定性测试方法、装置、设备及存储介质,旨在稳定性测试时,通过第一数据不满足第一预设条件时对第一信号进行采样变更处理,以及第二数据不满足第二预设条件时对第二信号进行采样变更处理,以此提升采集到的第一信号和第二信号的准确性,提高绘制伯德图的增益差和相位差的准确性,提升基于伯德图的电源环路的稳定性测试的准确性。相对于传统的通过扫频的方式,其通常采样时间是固定的,这样有可能会造成信号一个周期内的点数过少,或造成采样得到的周期数太少,会造成采样精度的问题,影响得到的伯德图的准确性,并且影响后续判断电源环路系统环路稳定性的准确性。基于此,提供本申请实施例的电源环路的稳定性测试方法,以解决现有电源环路的稳定性测试中的准确性较低的问题。
图2给出了本申请实施例提供的一种电源环路的稳定性测试方法的流程图,本实施例中提供的电源环路的稳定性测试方法可以由电源环路的稳定性测试设备执行,该电源环路的稳定性测试设备可以通过软件和/或硬件的方式实现,该电源环路的稳定性测试设备可以是两个或多个物理实体构成,也可以是一个物理实体构成。一般而言,该电源环路的稳定性测试设备可以是终端设备,如计算机设备等。
下述以计算机设备为执行电源环路的稳定性测试方法的主体为例,进行描述。参照图2,该电源环路的稳定性测试方法具体包括:
S101、采集注入信号和输出信号,得到第一信号和第二信号,所述第一信号包括第一采样时间,所述第二信号包括第二采样时间。
采集电源环路的注入信号和输出信号,分别对采集到的注入信号和输出信号进行模数转换处理,得到第一信号和第二信号,其中注入信号和输出信号为模拟信号,第一信号和第二信号为数字信号。第一信号包括第一采样时间,第二信号包括第二采样时间。
示例性的,通过信号采集模块对注入信号和输出信号进行采集,得到第一信号和第二信号。信号采集模块包括增益控制电路、ADC(Ana log to Digita l Converter,模数转换器)采样电路和存储模块。为了可以动态调节信号采样的增益和采样时间,增益控制电路和ADC采样电路可以通过继电器或者寄存器进行控制。
需要说明的是,第一信号和第二信号分别对应一个信号采集模块,即第一信号通过第一信号采集模块进行采集,第二信号通过第二信号采集模块进行采集。第一采样时间即为第一信号采集模块的采样时间,第二采样时间即为第二信号采集模块的采样时间。
S102、分别对所述第一信号和所述第二信号进行傅里叶变换处理,得到第一数据和第二数据,所述第一数据包括第一增益参数、第一相位参数和第一振幅参数,所述第二数据包括第二增益参数、第二相位参数和第二振幅参数。
采集得到第一信号和第二信号后,分别对第一信号和第二信号进行傅里叶变换处理,得到第一数据和第二数据。其中,第一数据包括第一信号频率、第一增益参数、第一相位参数和第一振幅参数。第二数据包括第二信号频率、第二增益参数、第二相位参数和第二振幅参数。
需要说明的是,根据第一数据中的第一信号频率可以得到第一信号周期,用于后续判断采样时间是否合适,根据第二数据中的第二信号频率可以得到第二信号周期,用于后续判断采样时间是否合适。
示例性的,可以通过一个快速傅里叶变化运算模块(即FFT运算模块)对第一信号和第二信号进行傅里叶变换处理,将时域信号转换至频域上分析,得到每一频点的振幅和相位等参数。需要说明的是,每一频点是指每一信号频率。
上述,通过傅里叶变换处理可以将对应的时域信号转换成频域信号进行分析处理,以得到对应的振幅和相位等参数,有助于后续伯德图的绘制。
S103、当所述第一数据不满足第一预设条件时,对所述第一信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第一预设条件的第一数据,所述第一预设条件为第一数据的第一振幅参数在预设第一范围内和第一采样时间在预设第二范围内。
基于注入信号为模拟信号,采集得到的第一信号为数字信号,当第一数据不满足第一预设条件时,即第一数据的第一振幅参数没有在预设第一范围内或第一采样时间没有在预设第二范围内时,表明对应的采集得到的第一信号与注入信号之间存在偏差,则需要对第一信号进行采样变更处理,以得到更为准确的第一信号。
当第一数据的第一振幅参数不在预设第一范围内时,对第一信号的采样增益档位进行调整处理后,重新采集新的第一信号。对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一振幅参数在预设第一范围内的第一数据。
需要说明的是,对第一信号的采样增益档位进行调整可以理解为是调第一信号采集模块的采样增益档位。
示例性的,当第一数据的第一振幅参数大于第一阈值时,其中第一阈值为预设第一范围的最大值,则调大第一信号的采样增益档位,即调大第一信号采集模块的采样增益档位,调整完成后,重新采集新的第一信号。对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一振幅参数小于等于第一阈值的第一数据。当第一数据的第一振幅参数小于第二阈值时,其中第二阈值为预设第一范围的最小值,则调小第一信号的采样增益档位,即调小第一信号采集模块的采样增益档位,调整完成后,重新采集新的第一信号。对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直到得到第一振幅参数大于等于第二阈值的第一数据。上述,当第一数据的第一振幅参数不在预设第一范围内时,通过对第一信号的采样增益档位进行调大或调小的调节处理,直至得到第一振幅参数在预设第一范围内的第一数据。
需要说明的是,对采样增益档位进行调节时,可以逐档调节,以逐步获取最合适第一振幅参数对应的第一数据。
示例性的,将第一数据的第一振幅参数对应的振幅值以及当前第一信号采集模块的增益档位对应的ADC满量程的电压值进行比较,当第一振幅参数对应的振幅值在ADC满量程的预设范围内,例如在ADC满量程的[3/5,4/5]内,则满足第一振幅参数在预设第一范围内。当第一振幅参数对应的振幅值不在ADC满量程的预设范围内,例如不在ADC满量程的[3/5,4/5]内,则需要相应调大或调小第一信号采集模块的增益档位,以保证采集到波形足够饱满的第一信号,以满足第一振幅参数在预设第一范围内。
图3是本申请实施例提供的一种采样增益档位调节的示意图,参照图3,信号采集模块包括增益控制电路、ADC采样电路和存储模块(图中未示出)。其中增益控制电路包括固定衰减比例电路和增益衰减控制电路。通过增益控制电路可以调节对应的采样增益档位,将对应待采集的模拟信号(即注入信号)衰减至满足ADC满量程的预设第一范围内。示例性的,ADC芯片的可测量的满量程范围是一个固定值,比如图3,可测量范围是800mV,即ADC满量程的电压值为800mV。如果信号输入是4V,则需要通过中间的增益控制电路,把信号衰减,如果刚好衰减到800mV,则刚好满足ADC满量程。如果衰减到400mV范围,则只占一半的满量程,此时应该将衰减比例调小,即调小采样增益档位,则测到的波形就会占得更满,才能最终得到第一振幅在预设第一范围内的第一数据,使得数据采集更加准确,从而提升稳定性测试的整体准确性。
需要说明的是,如图3所示,信号输入是4V,通过增益控制电路的第一采样增益档位,把信号衰减到800mV时,基于数字信号的范围是0~255,则数字信号的最小单位为4V/256=0.015625V;信号输入是1V,通过增益控制电路的第二采样增益档位,把信号衰减到800mV时,基于数字信号的范围是0~255,则数字信号的最小单位为1V/256=0.0039V;因而,不同衰减档位(即采样增益档位),ADC采样电路后得到的数字信号的最小单位也会变化,所以调节衰减档位(即采样增益档位)不会改变实际的幅值(振幅),只是让波形在一个更合适的档位下更加清楚地展示,从而可以提高数据采集的准确性。
需要说明的是,ADC采样电路用于将模拟信号转为数字信号。
当第一采样时间不在预设第二范围内时,对第一信号的采样时间进行调整处理后,重新采集新的第一信号。对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一采样时间在预设第二范围内的第一数据。
需要说明的是,预设第二范围与傅里叶变换处理后得到的第一数据的第一信号周期的数量相关联,即预设第二范围为预设数量的第一信号周期范围。例如,预设第二范围为[2,6]个第一信号周期。
示例性的,本实施例通过对模拟信号进行采样而得到数字信号(即第一信号和第二信号),基于采样是有一定的采样率和采样时间的,理论上是希望数字信号能够尽可能地复原出模拟信号的模样(即波形),但是基于采样率有限,这时则需要单个周期内的波形的采样点尽可能的多。如果采样时间内的波形太密,则单个周期内的采样点就很少,会丢失很多波形的信息。因此,当第一信号的第一采样时间不在预设二范围内时,即第一采样时间不满足在预设数量的第一信号周期范围内的要求时,可以对第一信号的采样时间进行调整处理,从而使采集得到的第一信号与注入信号更加相近,即提高了数据采集的准确性。
示例性的,当第一信号的第一采样时间大于第一周期阈值时,其中第一周期阈值为预设第二范围内的最大值,例如第一周期阈值为6个第一信号周期,则将第一信号的采样时间调小,即将第一信号采集模块的采样时间调小,调整完成后,重新采集第一信号。对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一采样时间小于等于第一周期阈值。当第一信号的第一采样时间小于第二周期阈值时,其中第二周期阈值为预设第二范围内的最小值,例如第二周期阈值为2个第一信号周期,则将第一信号的采样时间调大,即将第一信号采集模块的采样时间调大,调整完成后,重新采集第一信号。对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一采样时间大于等于第二周期阈值的第一数据。上述,当第一信号的第一采样时间不在预设第二范围内时,通过对第一信号的采样时间进行调大或调小的调整处理后,直至得到第一采样时间在预设第二范围内的第一数据。
需要说明的是,对第一采样时间进行调节时,可以逐步调节,以逐步获取到最合适的第一采样时间对应的第一数据。
示例性的,根据第一数据中的第一信号频率获取第一数据的第一信号周期,根据第一数据的第一信号周期来调节对应的第一采样时间。当第一采样时间能够满足[m,n]个第一信号周期的显示范围,例如[2,6]个第一信号周期,则认为第一采样时间是合适的,不需要进行第一采样时间的调整,否则需要调节第一信号采集模块的第一采样时间,以使得到第一采样时间在预设第二范围内的第一数据。
需要说明的是,第一信号周期为第一信号频率的倒数。
当进行了第一采样时间的调整之后,根据调整前的傅里叶变换处理得到的第一数据中的第一信号频率得到第一信号周期。根据第一信号周期和第一采样频率得到第一信号周期点数。根据第一信号周期点数调整傅里叶变换处理的运算点数,得到新的运算点数,该新的运算点数为第一信号周期点数的整数倍。需要说明的是,第一信号包括第一采样频率。第一信号周期根据第一数据中的第一信号频率得到,即第一信号频率的倒数为第一信号周期。第一信号周期点数根据第一信号周期和第一采样频率得到。示例性的,第一信号周期点数=第一信号周期×第一采样频率。根据新的运算点数对新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一采样时间在预设第二范围内的第一数据。需要说明的是,该预设第二范围与傅里叶变换后的第一数据的第一信号周期相关联。
示例性的,在傅里叶变换处理时,如果运算点数不是对应的第一信号周期点数的整数倍时,就会出现频谱泄漏,因而需要将傅里叶变换处理的运算点数调整为第一信号周期点数的整数倍,从而提高傅里叶变换处理的准确性,提高傅里叶变换处理的运算处理的工作效率。
需要说明的是,当第一振幅参数在预设第一范围内以及第一采样时间同时在预设第二范围内时,第一数据满足第一预设条件。其中,第一振幅参数对应的预设第一范围和第一采样时间对应的预设第二范围的具体数据值范围均可以根据实际情况而设定。
上述,通过动态调节采样增益档位,使得信号波形的振幅参数能够满足在较好的区间,从而保证了采样得到的数字信号(即第一信号)的准确定性和完整性。通过动态调节采样时间,使得采样得到的波形的周期能够保持在一个较好的区间,从而保证了波形周期内的采样点数足够多,有助于提高后续傅里叶运算处理得到第一数据的准确性。通过动态调节傅里叶变换处理的运算的点数,使得运算的点数为对应的第一信号周期点数的整数倍,从而提高傅里叶变换处理的运算准确性,并且提高傅里叶变换处理的运算处理的工作效率。
S104、当所述第二数据不满足第二预设条件时,对所述第二信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第二预设条件的第二数据,所述第二预设条件为第二数据的第二振幅参数在预设第三范围内和第二采样时间在预设第四范围内。
基于输出信号为模拟信号,采集得到的第二信号为数字信号,当第二数据不满足第二预设条件时,即第二数据的第二振幅参数没有在预设第三范围内和第二采样时间没有在预设第四范围内时,表明对应的采集得到的第二信号与输出信号之间存在偏差,则需要对第二信号进行采样变更处理,以得到更为准确的第二信号。
当第二数据的第二振幅参数不在预设第三范围内时,对第二信号的采样增益档位进行调整处理后,重新采集新的第二信号。对采集到的新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二振幅参数在预设第三范围内的第二数据。
需要说明的是,对第二信号的采样增益档位进行调整可以理解为是调第二信号采集模块的采样增益档位。
示例性的,当第二数据的第二振幅参数大于第三阈值时,其中第三阈值为预设第二范围的最大值,则调大第二信号的采样增益档位,即调大第二信号采集模块的采样增益档位,调整完成后,重新采集新的第二信号。对采集到的新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二振幅参数小于等于第三阈值的第二数据。当第二数据的第二振幅参数小于第四阈值时,其中第四阈值为预设第二范围的最小值,则调小第二信号的采样增益档位,即调小第二信号采集模块的采样增益档位,调整完成后,重新采集新的第二信号。对采集到的新的第二信号进行傅里叶变换处理,直到得到第二振幅参数大于等于第四阈值的第二数据。上述,当第二数据的第二振幅参数不在预设第三范围内时,通过对第二信号的采样增益档位进行调大或调小的调节处理,直至得到第二振幅参数在预设第三范围内的第二数据。
需要说明的是,对采样增益档位进行调节时,可以逐档调节,以逐步获取最合适第二振幅参数对应的第二数据。
示例性的,将第二数据的第二振幅参数对应的振幅值与当前第二信号采集模块的采样增益档位对应的ADC满量程的电压值进行比较,当第二振幅参数对应的振幅值在ADC满量程的预设范围内,例如在ADC满量程的[3/5,4/5]内,则满足第二振幅参数在预设第三范围内。当第二振幅参数对应的振幅值不在ADC满量程的预设范围内,例如不在ADC满量程的[3/5,4/5]内,则需要相应调大或调小第二信号采集模块的增益档位,以保证采集到波形足够饱满的第二信号,以满足第二振幅参数在预设第三范围内。
参照图3,信号采集模块包括增益控制电路、ADC采样电路和存储模块(图中未示出)。其中增益控制电路包括固定衰减比例电路和增益衰减控制电路。通过增益控制电路可以调节对应的采样增益档位,将对应待采集的模拟信号(即输出信号)衰减至满足ADC满量程的预设第三范围内。示例性的,ADC芯片的可测量的满量程范围是一个固定值,如图3所示,可测量范围是800mV,即ADC满量程的电压值为800mV。如果信号输入是4V,则需要通过中间的增益控制电路,把信号衰减,如果刚好衰减到800mV,则刚好满足ADC满量程。如果衰减到400mV范围,则只占一半的满量程,此时应该将衰减比例调小,即调小采样增益档位,则测到的波形就会占得更满,才能最终得到第二振幅在预设第三范围内的第二数据,使得数据采集更加准确,从而提升稳定性测试的整体准确性。
需要说明的是,如图3所示,信号输入是4V,通过增益控制电路的第一采样增益档位,把信号衰减到800mV时,基于数字信号的范围是0~255,则数字信号的最小单位为4V/256=0.015625V;信号输入是1V,通过增益控制电路的第二采样增益档位,把信号衰减到800mV时,基于数字信号的范围是0~255,则数字信号的最小单位为1V/256=0.0039V;因而,不同衰减档位(即采样增益档位),ADC采样电路后得到的数字信号的最小单位也会变化,所以调节衰减档位(即采样增益档位)不会改变实际的幅值(振幅),只是让波形在一个更合适的档位下更加清楚地展示,从而可以提高数据采集的准确性。
需要说明的是,ADC采样电路用于将模拟信号转为数字信号。
当第二信号的第二采样时间不在预设第四范围内时,对第二信号的第二采样时间进行调整处理后,重新采集新的第二信号。对采集到的新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二采样时间在预设第四范围内的第二数据。
需要说明的是,预设第四范围与傅里叶变换处理后得到的第二数据的第二信号周期的数量相关联,即预设第四范围为预设数量的第二信号周期范围。例如,预设第四范围为[2,6]个第二信号周期。
示例性的,本实施例通过对模拟信号进行采样而得到数字信号(即第一信号和第二信号),基于采样是有一定的采样频率和采样时间的,理论上是希望数字信号能够尽可能地复原出模拟信号的模样(即波形),但是基于采样率有限,这时则需要单个周期内的波形的采样点尽可能的多。如果采样时间内的波形太密,则单个周期内的采样点就很少,会丢失很多波形的信息。因此,当第二信号的第二采样时间不在预设第四范围内时,可以对第二信号的第二采样时间进行调整处理,从而使采集得到的第二信号与输出信号更加相近,即提高了数据采集的准确性。
示例性的,当第二信号的第二采样时间大于第三周期阈值时,其中第三周期阈值为预设第四范围内的最大值,例如第三周期阈值为6个第二信号周期,则将第二信号的第二采样时间调小,即将第二信号采集模块的采样时间调小,调整完成后,重新采集第二信号。对采集到的新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二采样时间小于等于第三周期阈值。当第二信号的第二采样时间小于第四周期阈值时,其中第四周期阈值为预设第四范围内的最小值,例如第四周期阈值为2个第二信号周期,则将第二信号的采样时间调大,即将第二信号采集模块的采样时间调大,调整完成后,重新采集第二信号。对采集到的新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二采样时间大于等于第四周期阈值的第二数据。上述,当第二信号的第二采样时间不在预设第四范围内时,通过对第二信号的第二采样时间进行调大或调小的调整处理后,直至得到第二采样时间在预设第四范围内的第二数据。
需要说明的是,对第二采样时间进行调节时,可以逐步调节,以逐步获取到最合适的第二采样时间对应的第二数据。
示例性的,获取第二数据的第二信号周期,根据第二数据的第二信号周期来调节对应的第二采样时间。当第二采样时间能够满足[m,n]个第二信号周期的显示范围,例如[2,6]个第二信号周期,则认为采样时间是合适的,不需要进行第二采样时间的调整,否则需要调节第二信号采集模块的第二采样时间,以使得到第二采样时间在预设第四范围内的第二数据。
当进行了第二采样时间的调整之后,根据调整前的傅里叶变换处理得到的第二数据中的第二信号频率得到第二信号周期。根据第二信号周期和第二采样频率得到第二信号周期点数。根据第二信号周期点数调整傅里叶变换处理的运算点数,得到新的运算点数,该运算点数为第二信号周期点数的整数倍,该第二信号周期点数根据对应的第二信号周期和第二采样频率得到。需要说明的是,第二信号包括第二采样频率。第二信号周期点数根据第二信号周期和第二采样频率得到,示例性的,第二信号周期点数=第二信号周期×第二采样频率。根据新的运算点数对新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二采样时间在预设第四范围内的第二数据,其中该预设第四范围与傅里叶变换后的第二信号周期相关联。
示例性的,在傅里叶变换处理时,如果运算点数不是对应的第二信号周期点数的整数倍时,就会出现频谱泄漏,因而需要将傅里叶变换处理的运算点数调整为第二信号周期点数的整数倍,从而提高傅里叶变换处理的准确性,提高傅里叶变换处理的运算处理的工作效率。
需要说明的是,当第二振幅参数在预设的第三范围内以及第二采样时间同时在预设第四范围内时,则第二数据满足第二预设条件。其中第二振幅参数对应的预设第三范围和第二采样时间对应的预设第四范围的具体数据值范围可以根据实际情况而设定。
上述,通过动态调节采样增益档位,使得信号波形的振幅参数能够满足在较好的区间,从而保证了采样得到的数字信号(即第二信号)的准确定性和完整性。通过动态调节采样时间,使得采样得到的波形的周期能够保持在一个较好的区间,从而保证了波形周期内的采样点数足够多,有助于提高后续傅里叶运算处理得到第二数据的准确性。通过动态调节傅里叶变换处理的运算的点数,使得运算的点数为对应的第二信号周期点数的整数倍,从而提高傅里叶变换处理的运算准确性,并且提高傅里叶变换处理的运算处理的工作效率。
图4是本申请实施例提供的一种采样变更处理流程图,参照图4,该采样变更处理流程包括:
S1311、将振幅参数与当前信号采集模块的ADC满量电压值进行对比。
将第一数据的第一振幅参数与当前第一信号采集模块的ADC满量程的电压值进行对比,以判断是否需要对采样电路的采样增益档位进行调节。将第二数据的第二振幅参数与当前第二信号采集模块的ADC满量程的电压值进行对比,以判断是否需要对采样电路的采样增益档位进行调节。
S1312、振幅参数是否大于第五阈值。
第五阈值可以设置为ADC满量程的电压值的4/5。判断第一数据的第一振幅参数或第二数据的第二振幅参数是否大于第五阈值,即判断第一数据的第一振幅参数或第二数据的第二振幅参数是否大于ADC满量程的电压值的4/5。当第一数据的第一振幅参数或第二数据的第二振幅参数大于ADC满量程的电压值的4/5时,则执行S1313。当第一数据的第一振幅参数或第二数据的第二参数小于等于ADC满量程的电压值的4/5时,则执行S1314。
需要说明的是,第五阈值的具体数值可以根据实际情况设置,上述第五阈值设置为ADC满量程的电压值的4/5仅为举例说明。
S1313、调大信号采集模块的采样增益档位。
当第一数据的第一振幅参数大于第五阈值,例如当第一数据的第一振幅参数大于ADC满量程的电压值的4/5时,调大第一信号采集模块的采样增益档位。当第二数据的第二振幅参数大于第五阈值时,例如当第二数据的第二振幅参数大于ADC满量程的电压值的4/5时,调大第二信号采集模块的采样增益档位。调整完成后,重新执行S1311。
S1314、振幅参数是否小于第六阈值。
第六阈值可以设置为ADC满量程的电压值的3/5。判断第一数据的第一振幅参数或第二数据的第二振幅参数是否小于第六阈值,即第一数据的第一振幅参数或第二数据的第二振幅参数是否小于ADC满量程的电压值的3/5。当第一数据的第一振幅参数或第二数据的第二振幅参数小于等于ADC满量程的电压值的4/5时,则进一步判断第一数据的第一振幅参数或第二数据的第二振幅参数是否小于ADC满量程的电压值的3/5。档第一数据的第一振幅参数或第二数据的第二振幅参数小于ADC满量程的电压值的3/5时,则执行S1315。第一数据的第一振幅参数或第二数据的第二振幅参数大于等于ADC满量程的电压值的3/5时,即第一数据的第一振幅参数或第二数据的第二振幅参数大于等于ADC满量程的电压值的3/5且小于等于ADC满量程的电压值的4/5时,则执行S1316。
需要说明的是,第六阈值的具体数值可以根据实际情况设置,上述第六阈值设置为ADC满量程的电压值的3/5仅为举例说明。
S1315、调小信号采集模块的采样增益档位。
当第一数据的第一振幅参数小于第六阈值,例如当第一数据的第一振幅参数小于ADC满量程的电压值的3/5时,调小第一信号采集模块的采样增益档位。当第二数据的第二振幅参数小于第六阈值时,例如当第二数据的第二振幅参数小于ADC满量程的电压值的3/5时,调小第二信号采集模块的采样增益档位。调整完成后,重新执行S1311。
S1316、振幅参数满足要求。
通过上述步骤对信号采集模块的采样增益档位进行调节,直至第一数据的第一振幅参数和第二数据的第二振幅参数大于等于ADC满量程的电压值的3/5且小于等于ADC满量程的电压值的4/5时,对应的第一振幅参数和第二振幅参数满足要求,即第一数据满足第一预设条件,第二数据满足第二预设条件,即可完成该采样变更处理流程。
上述,通过动态调节采样增益档位,使得信号波形的振幅参数能够满足在较好的区间,从而保证了采样得到的数字信号(即第一信号和第二信号)的准确定性和完整性。
图5是本申请实施例提供的另一种采样变更处理流程图,参照图5,该采样变更流程具体包括:
S1321、将当前信号采集模块的采样时间与傅里叶变换处理后的信号周期对比。
第一信号的第一采样时间对应当前第一信号采集模块的采样时间,第二信号的第二采样时间对应当前第二信号采集模块的采样时间。将第一信号的第一采样时间与傅里叶变换处理后的第一数据对应的第一信号周期进行对比,以判断是否需要调整第一信号采集模块的采样时间。将第二信号的第二采样时间与傅里叶变换处理后的第二数据对应的第二信号周期进行对比,以判断是否调整第二信号采集模块的采样时间。
S1322、当前信号采集模块的采样时间是否大于第五周期阈值。
第五周期阈值可以设置为预设数量的第一信号周期或预设数量的第二信号周期,例如可以设置为6个第一信号周期或6个第二信号周期。判断第一信号的第一采样时间或第二信号的第二采样时间是否大于第五周期阈值,即判断第一信号的第一采样时间是否大于6个第一信号周期或第二信号的第二采样时间是否大于6个第二信号周期。当第一信号的第一采样时间大于6个第一信号周期或第二信号的第二采样时间大于6个第二信号周期时,则执行S1323。当第一信号的第一采样时间小于等于6个第一信号周期或第二信号的第二采样时间小于等于6个第二信号周期时,则执行S1324。
需要说明的是,第五周期阈值的具体数值可以根据实际情况设置,上述将第五周期阈值设置为6个第一信号周期或6个第二信号周期仅仅为举例说明。
S1323、将信号采集模块的采样时间调小。
当第一信号的第一采样时间大于第五周期阈值,例如当第一信号的第一采样时间大于6个第一信号周期,将第一信号采集模块的采样时间调小。当第二信号的第二采样时间大于第五周期阈值,例如当第二信号的第二采样时间大于6个第二信号周期,将第二信号采集模块的采样时间调小。调整完成后,重新执行S1321。
S1324、当前信号采集模块的采样时间是否小于第六周期阈值。
第六周期阈值可以设置为2个第一信号周期或2个第二信号周期。判断第一信号的第一采样周期或第二信号的第二采样周期是否小于第六周期阈值,即判断第一信号的第一采样周期是否小于2个第一信号周期或第二信号的第二采样周期是否小于2个第二信号周期。当第一信号的第一采样周期小于2个第一信号周期或第二信号的第二采样周期小于2个第二信号周期时,则执行S1325。当第一信号的第一采样周期大于等于2个第一信号周期或第二信号的第二采样周期大于等于2个第二信号周期时,则执行S1326。
S1325、将信号采集模块的采样时间调大。
当第一信号的第一采样时间小于第六周期阈值,例如当第一信号的第一采样时间小于2个第一信号周期,将第一信号采集模块的采样时间调大。当第二信号的第二采样时间小于第六周期阈值,例如当第二信号的第二采样时间小于2个第二信号周期,将第二信号采集模块的采样时间调大。调整完成后,重新执行S1321。
S1326、傅里叶变换处理的运算点数是否为信号周期点数的整数倍。
当第一信号的第一采样时间和第二信号的第二采样时间大于等于第六周期阈值且小于等于第五周期阈值时,即当第一信号的第一采样时间大于等于2个第一信号周期且小于等于6个第一信号周期,以及第二信号的第二采样时间大于等于2个第二信号周期且小于等于6个第二信号周期时,进行判断第一信号对应的傅里叶变换处理的运算点数是否为第一信号周期点数的整数倍,以及判断第二信号对应的傅里叶变换处理的运算点数是否为第二信号周期点数的整数倍。若第一信号对应的傅里叶变换处理的运算点数不是第一信号周期点数的整数倍,或第二信号对应的傅里叶变换处理的运算点数不是第二信号周期点数的整数倍,则执行S1327。若第一信号对应的傅里叶变换处理的运算点数是第一信号周期点数的整数倍,以及第二信号对应的傅里叶变换处理的运算点数是第二信号周期点数的整数倍,则执行S1328。
S1327、根据信号周期点数调整傅里叶变换的运算点数。
若第一信号对应的傅里叶变换处理的运算点数不是第一信号周期点数的整数倍时,则根据第一信号周期点数调整第一信号对应的傅里叶变换的运算点数,使得该运算点数为第一信号周期点数的整数倍。若第二信号对应的傅里叶变换处理的运算点数不是第二信号周期点数的整数倍时,则根据第二信号周期点数调整第二信号对应的傅里叶变换的运算点数,使得该运算点数为第二信号周期点数的整数倍。调整完成后,重新执行S1321。
S1328、采样时间符合要求。
通过动态调节采样时间,使得采样得到的波形的周期能够保持在一个较好的区间,从而保证了波形周期内的采样点数足够多,有助于提高后续傅里叶运算处理得到第一数据和第二数据的准确性。通过动态调节傅里叶变换处理的运算的点数,使得运算的点数为对应的信号周期点数的整数倍,从而提高傅里叶变换处理的运算准确性,并且提高傅里叶变换处理的运算处理的工作效率。
S105、对满足第一预设条件的第一数据和满足第二预设条件的第二数据进行数据处理,得到两者的增益差和相位差。
第一数据还包括第一信号频率,第二数据还包括第二信号频率,获取到满足第一预设条件的第一数据和满足第二预设条件的第二数据之后,根据第一数据对应信号频率的第一增益参数和第二数据对应信号频率的第二增益参数,得到对应信号频率两者的增益差,即得到注入信号和输出信号的增益差。需要说明的是,此处的对应信号频率为相同频率值的第一信号频率和第二信号频率。根据第一数据对应信号频率的第一相位参数和第二数据对应信号频率的第二相位参数,得到两者的相位差,即得到注入信号和输出信号的相位差。需要说明的是,此处的对应信号频率为相同频率值的第一信号频率和第二信号频率。
S106、根据所述增益差和相位差绘制伯德图,并根据所述伯德图确定电源环路的稳定性参数。
基于信号传输线的存在,会产生增益差和相位的误差。因而,因而可以预先进行对应的测试,获取每一信号频率对应的增益校准参数和相位校准参数,生成信号频率和校准数据对照表,便于后续进行稳定性测试时使用。
通过前述获取到第一数据和第二数据对应信号频率的增益差和相位差之后,根据信号频率和校准数据对照表获取对应的增益校准参数和相位校准参数。每一增益差和对应一信号频率,每一相位差对应一信号频率。根据增益差对应的信号频率(即第一信号频率或第二信号频率)参照信号频率和校准数据对照表,确定其对应的增益校准参数。根据相位差对应的信号频率(即第一信号频率或第二信号频率)参照信号频率和校准数据对照表,确定其对应的相位校准参数。
在一实施例中,提供一种测试校准数据的方法,通过接收第一校准信号和第二校准信号,其中第一校准信号和第二校准信号为相同信号源的信号。分别对第一校准信号和第二校准信号进行傅里叶变换处理,得到第一校准数据和第二校准数据,其中第一校准数据包括第一参考信号频率、第一增益参考参数和第一相位参考参数,第二校准数据包括第二参考信号频率、第二增益参考参数和第二相位参数参数。根据第一增益参考参数和第二增益参考参数的差值得到对应信号频率的增益校准参数,该信号频率为相同频率值的第一参考信号频率和第二参考信号频率。根据第一相位参考参数和第二相位参考参数的差值得到对应信号频率的相位校准参数,该信号频率为相同频率值的第一参考信号频率和第二参考信号频率。根据所述增益校准参数和相位校准参数以及对应的信号频率得到校准数据对照表。
需要说明的是,第一校准信号对应测试设备为注入信号对应的测试设备,第二校准信号对应的测试设备为输出信号对应的测试设备,因而可以根据第一校准信号和第二校准信号可以得到注入信号对应的测试设备与输出信号对应的测试设备之间的校准数据,即注入信号对应的测试设备与输出信号对应的测试设备之间的增益校准参数和相位校准参数。
示例性的,本实施例提供一种信号频率和校准数据对照表,如下表所示:
信号频率 | 增益校准 | 相位校准 |
10.000Hz | -0.034dB | 0.220° |
11.221H2 | 0.033dB | 0.219° |
12.588Hz | 0.030dB | 0.215° |
14.124Hz | -0.025dB | 0.215° |
15.848Hz | -0.023dB | 0.214° |
17.781Hz | 0.019dB | 0.221° |
19.95211z | 0.017dB | 0.227° |
22.391Hz | -0.011dB | 0.233° |
25.113Hz | -0.004dB | 0.222° |
28.185Hz | 0.004dB | 0.214° |
31.626Hz | 0.011dB | 0.194° |
35.486Hz | 0.019dB | 0.163° |
根据增益差和其对应信号频率的增益校准参数,可以得到实际增益差。示例性的,可以将增益差与对应信号频率的增益校准参数相加,得到对应的实际增益差。根据相位差和对应信号频率的相位校准参数,可以得到实际相位差。示例性的,可以将相位差与对应的相位校准参数相加,得到对应的实际相位差。
在一实施例中,在进行电源环路的稳定性测试过程中,在得到注入信号和输出信号的某个信号频率下的增益差和相位差后,需要用该信号频率的值去查找存储的信号频率和校准数据对照表,如果在信号频率和校准数据对照表中没有找到该信号频率的值(即该信号频率对应的增益校准参数和相位校准参数),则用线性插值法的方式,使用该信号频率的左右相邻的信号频率的值(即对应信号频率的增益校准参数和相位校准参数)来计算得到该信号频率的值(即增益校准参数和相位校准参数)。
需要说明的是,线性插值法是通过两点式直线方程式,来寻找两点之间的任意点的值。
上述,通过校准两个通路的固有偏差,消除了实际环路测试存在的误差,即消除了电源环路的稳定性测试中注入信号的测试通路和输出信号的测试通路之间的固有偏差,从而提高绘制的伯德图的数据的准确性,进而提高基于伯德图而得到的电源环路稳定性参数的准确性。
根据实际增益差和实际相位差绘制伯德图,根据伯德图确定电源环路的稳定性参数。通过增益校准参数和相位校准参数对前述得到的当前计算得到的增益差和相位差进行校准,使用校准后的实际增益差和实际相位差绘制伯德图,提高了绘制的伯德图的数据的准确性,从而提高基于伯德图而得到的电源环路稳定性参数的准确性。
上述,通过对采集到的第一信号和第二信号分别进行傅里叶变换处理,得到第一数据和第二数据;当第一数据不满足第一预设条件时,对第一信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直到得到满足第一预设条件的第一数据;当第二数据不满足第二预设条件时,对第二信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直到得到满足第二预设条件的第二数据;根据满足第一预设条件的第一数据和满足第二预设条件的第二数据的增益差和相位差绘制伯德图,并根据伯德图确定电源环路的稳定性参数。采用上述技术手段,可以通过第一数据不满足第一预设条件时对第一信号进行采样变更处理,以及第二数据不满足第二预设条件时对第二信号进行采样变更处理,以此可避免电源环路的稳定性测试的准确性较低的问题,通过采样变更处理提升采集到的第一信号和第二信号的准确性,从而提高绘制伯德图的增益差和相位差的准确性,进而提升基于伯德图的电源环路的稳定性测试的准确性。
在上述实施例的基础上,图6为本申请实施例提供的一种电源环路的稳定性测试装置的结构示意图。参考图6,本实施例提供的电源环路的稳定性测试装置具体包括:信号采集模块21、第一数据处理模块22、第一反馈模块23、第二反馈模块24、第二数据处理模块25和稳定性分析模块26。
其中,信号采集模块21,用于采集注入信号和输出信号,得到第一信号和第二信号,所述第一信号包括第一采样时间,所述第二信号包括第二采样时间;
第一数据处理模块22,用于分别对所述第一信号和所述第二信号进行傅里叶变换处理,得到第一数据和第二数据,所述第一数据包括第一增益参数、第一相位参数和第一振幅参数,所述第二数据包括第二增益参数、第二相位参数和第二振幅参数;
第一反馈模块23,用于当所述第一数据不满足第一预设条件时,对所述第一信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第一预设条件的第一数据,所述第一预设条件为第一数据的第一振幅参数在预设第一范围内和第一采样时间在预设第二范围内;
第二反馈模块24,用于当所述第二数据不满足第二预设条件时,对所述第二信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第二预设条件的第二数据,所述第二预设条件为第二数据的第二振幅参数在预设第三范围内和第二采样时间在预设第四范围内;
第二数据处理模块25,用于对满足第一预设条件的第一数据和满足第二预设条件的第二数据进行数据处理,得到两者的增益差和相位差;
稳定性分析模块26,用于根据所述增益差和相位差绘制伯德图,并根据所述伯德图确定电源环路的稳定性参数。
进一步的,第一反馈模块23包括第一振幅调整单元、第一数据处理单元、第一时间调整单元和第二数据处理单元;
所述第一振幅调整单元,用于当所述第一数据的第一振幅参数不在预设第一范围内时,对所述第一信号的采样增益档位进行调整处理后,重新采集新的第一信号;
所述第一数据处理单元,用于对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一振幅参数在预设第一范围内的第一数据;
所述第一时间调整单元,用于当第一采样时间不在预设第二范围内,对所述第一采样时间进行调整处理后,重新采集新的第一信号;
所述第二数据处理单元,用于对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一采样时间在预设第二范围内的第一数据。
进一步的,所述第一信号还包括第一采样频率;
所述第二数据处理单元包括第一周期获取子单元,第一周期点数获取子单元、第一点数调整子单元和第一运算子单元;
所述第一周期获取子单元,用于根据傅里叶变换处理得到第一信号周期;
所述第一周期点数获取子单元,用于根据所述第一信号周期和所述第一采样频率得到第一信号周期点数;
所述第一点数调整子单元,用于根据所述第一信号周期点数调整傅里叶变换处理的运算点数,得到新的运算点数,所述新的运算点数为第一信号周期点数的整数倍;
所述第一运算子单元,用于根据所述新的运算点数对所述新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一采样时间在预设第二范围内的第一数据。
进一步的,第二反馈模块24包括第二振幅调整单元、第三数据处理单元、第二时间调整单元和第四数据处理单元;
所述第二振幅调整单元,用于当所述第二数据的第二振幅参数不在预设第三范围内时,对所述第二信号的采样增益档位进行调整处理后,重新采集新的第二信号;
所述第三数据处理单元,用于对采集到的新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二振幅参数在预设第三范围内的第二数据;
所述第二时间调整单元,用于当第二采样时间不在预设第四范围内,对所述第二信号的采样时间进行调整处理后,重新采集新的第二信号;
所述第四数据处理单元,用于对采集到的所述新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二采样时间在预设第四范围内的第二数据。
进一步的,所述第二信号包括第二采样频率;
所述第四数据处理单元包括第二周期获取子单元、第二周期点数获取子单元、第二点数调整子单元和第二运算子单元;
所述第二周期获取子单元,用于根据傅里叶变换处理得到第二信号周期;;
所述第二周期点数获取子单元,用于根据所述第二信号周期和所述第二采样频率得到第二信号周期点数;
所述第二点数调整子单元,用于根据所述第二信号周期点数调整傅里叶变换处理的运算点数,得到新的运算点数,所述新的运算点数为第二信号周期点数的整数倍;
所述第二运算子单元,用于根据所述新的运算点数对所述新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二采样时间在预设第二范围内的第二数据。
进一步的,信号采集模块21,还用于采集注入信号和输出信号,分别对采集到所述注入信号和所述输出信号进行模数转换处理,得到第一信号和第二信号,所述第一信号和第二信号为数字信号。
进一步的,稳定性分析模块26包括查表单元、校准单元、绘制单元和分析单元;
所述查表单元,用于根据信号频率和校准数据对照表获取对应的增益校准参数和相位校准参数,每一所述增益差对应一信号频率,每一相位差对应一信号频率;
所述校准单元,用于根据所述增益差和对应的增益校准参数得到实际增益差,根据所述相位差和对应的相位校准参数得到实际相位差;
所述绘制单元,用于根据所述实际增益差和所述实际相位差绘制伯德图;
所述分析单元,用于根据所述伯德图确定电源环路的稳定性参数。
进一步的,所述装置还包括校准信号接收模块、校准处理模块、增益校准模块、相位校准模块和对照表获取模块;
所述校准信号接收模块,用于接收第一校准信号和第二校准信号,所述第一校准信号和所述第二校准信号为相同信号源的信号;
所述校准处理模块,用于分别对所述第一校准信号和第二校准信号进行傅里叶变换处理,得到第一校准数据和第二校准数据,其中所述第一校准数据包括第一参考信号频率、第一增益参考参数和第一相位参考参数,所述第二校准数据包括第二参考信号频率、第二增益参考参数和第二相位参数参数;
所述增益校准模块,用于根据所述第一增益参考参数和第二增益参考参数的差值得到对应信号频率的增益校准参数,所述信号频率为相同频率值的第一参考信号频率和第二参考信号频率;
所述相位校准模块,用于根据所述第一相位参考参数和第二相位参考参数的差值得到对应信号频率的相位校准参数,所述信号频率为相同频率值的第一参考信号频率和第二参考信号频率;
所述对照表获取模块,用于根据所述增益校准参数和相位校准参数以及对应的信号频率得到所述校准数据对照表。
本申请实施例提供的电源环路的稳定性测试装置可以用于执行上述实施例提供的电源环路的稳定性测试方法,具备相应的功能和有益效果。
本申请实施例提供了一种电源环路的稳定性测试设备,参照图7,该电源环路的稳定性测试设备包括:处理器31、存储器32、通信模块33、输入装置34及输出装置35。该电源环路的稳定性测试设备中处理器的数量可以是一个或者多个,该电源环路的稳定性测试设备中的存储器的数量可以是一个或者多个。该电源环路的稳定性测试设备的处理器、存储器、通信模块、输入装置及输出装置可以通过总线或者其他方式连接。
存储器32作为一种计算机可读存储介质,可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块,如本申请任意实施例所述的电源环路的稳定性测试方法对应的程序指令/模块(例如,电源环路的稳定性测试装置中的信号采集模块、第一数据处理模块、第一反馈模块、第二反馈模块、第二数据处理模块和稳定性分析模块)。存储器可主要包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序;存储数据区可存储根据设备的使用所创建的数据等。此外,存储器可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中,存储器可进一步包括相对于处理器远程设置的存储器,这些远程存储器可以通过网络连接至设备。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
通信模块33用于进行数据传输。
处理器31通过运行存储在存储器中的软件程序、指令以及模块,从而执行设备的各种功能应用以及数据处理,即实现上述的电源环路的稳定性测试方法。
输入装置34可用于接收输入的数字或字符信息,以及产生与设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。输出装置35可包括显示屏等显示设备。
上述提供的电源环路的稳定性测试设备可用于执行上述实施例提供的电源环路的稳定性测试方法,具备相应的功能和有益效果。
本申请实施例还提供一种存储计算机可执行指令的存储介质,所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行一种电源环路的稳定性测试方法,该电源环路的稳定性测试方法包括:采集注入信号和输出信号,得到第一信号和第二信号,所述第一信号包括第一采样时间,所述第二信号包括第二采样时间;分别对所述第一信号和所述第二信号进行傅里叶变换处理,得到第一数据和第二数据,所述第一数据包括第一增益参数、第一相位参数和第一振幅参数,所述第二数据包括第二增益参数、第二相位参数和第二振幅参数;当所述第一数据不满足第一预设条件时,对所述第一信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第一预设条件的第一数据,所述第一预设条件为第一数据的第一振幅参数在预设第一范围内和第一采样时间在预设第二范围内;当所述第二数据不满足第二预设条件时,对所述第二信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第二预设条件的第二数据,所述第二预设条件为第二数据的第二振幅参数在预设第三范围内和第二采样时间在预设第四范围内;对满足第一预设条件的第一数据和满足第二预设条件的第二数据进行数据处理,得到两者的增益差和相位差;根据所述增益差和相位差绘制伯德图,并根据所述伯德图确定电源环路的稳定性参数。
存储介质——任何的各种类型的存储器设备或存储设备。术语“存储介质”旨在包括:安装介质,例如CD-ROM、软盘或磁带装置;计算机系统存储器或随机存取存储器,诸如DRAM、DDR RAM、SRAM、EDO RAM,兰巴斯(Rambus)RAM等;非易失性存储器,诸如闪存、磁介质(例如硬盘或光存储);寄存器或其它相似类型的存储器元件等。存储介质可以还包括其它类型的存储器或其组合。另外,存储介质可以位于程序在其中被执行的第一计算机系统中,或者可以位于不同的第二计算机系统中,第二计算机系统通过网络(诸如因特网)连接到第一计算机系统。第二计算机系统可以提供程序指令给第一计算机用于执行。术语“存储介质”可以包括驻留在不同位置中(例如在通过网络连接的不同计算机系统中)的两个或更多存储介质。存储介质可以存储可由一个或多个处理器执行的程序指令(例如具体实现为计算机程序)。
当然,本申请实施例所提供的一种存储计算机可执行指令的存储介质,其计算机可执行指令不限于如上所述的电源环路的稳定性测试方法,还可以执行本申请任意实施例所提供的电源环路的稳定性测试方法中的相关操作。
上述实施例中提供的电源环路的稳定性测试装置、存储介质及电源环路的稳定性测试设备可执行本申请任意实施例所提供的电源环路的稳定性测试方法,未在上述实施例中详尽描述的技术细节,可参见本申请任意实施例所提供的电源环路的稳定性测试方法。
上述仅为本申请的较佳实施例及所运用的技术原理。本申请不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行的各种明显变化、重新调整及替代均不会脱离本申请的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本申请进行了较为详细的说明,但是本申请不仅仅限于以上实施例,在不脱离本申请构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本申请的范围由权利要求的范围决定。
Claims (11)
1.一种电源环路的稳定性测试方法,其特征在于,包括:
采集注入信号和输出信号,得到第一信号和第二信号,所述第一信号包括第一采样时间,所述第二信号包括第二采样时间;
分别对所述第一信号和所述第二信号进行傅里叶变换处理,得到第一数据和第二数据,所述第一数据包括第一增益参数、第一相位参数和第一振幅参数,所述第二数据包括第二增益参数、第二相位参数和第二振幅参数;
当所述第一数据不满足第一预设条件时,对所述第一信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第一预设条件的第一数据,所述第一预设条件为第一数据的第一振幅参数在预设第一范围内和第一采样时间在预设第二范围内;
当所述第二数据不满足第二预设条件时,对所述第二信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第二预设条件的第二数据,所述第二预设条件为第二数据的第二振幅参数在预设第三范围内和第二采样时间在预设第四范围内;
对满足第一预设条件的第一数据和满足第二预设条件的第二数据进行数据处理,得到两者的增益差和相位差;
根据所述增益差和相位差绘制伯德图,并根据所述伯德图确定电源环路的稳定性参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述当所述第一数据不满足第一预设条件时,对所述第一信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第一预设条件的第一数据,包括:
当所述第一数据的第一振幅参数不在预设第一范围内时,对所述第一信号的采样增益档位进行调整处理后,重新采集新的第一信号;
对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一振幅参数在预设第一范围内的第一数据;
当第一采样时间不在预设第二范围内,对所述第一采样时间进行调整处理后,重新采集新的第一信号;
对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一采样时间在预设第二范围内的第一数据。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一信号还包括第一采样频率;
所述对采集到的新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一采样时间在预设第二范围内的第一数据,包括:
根据傅里叶变换处理得到第一信号周期;
根据所述第一信号周期和所述第一采样频率得到第一信号周期点数;
根据所述第一信号周期点数调整傅里叶变换处理的运算点数,得到新的运算点数,所述新的运算点数为第一信号周期点数的整数倍;
根据所述新的运算点数对所述新的第一信号进行傅里叶变换处理,直至得到第一采样时间在预设第二范围内的第一数据。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述当所述第二数据不满足第二预设条件时,对所述第二信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第二预设条件的第二数据,包括:
当所述第二数据的第二振幅参数不在预设第三范围内时,对所述第二信号的采样增益档位进行调整处理后,重新采集新的第二信号;
对采集到的新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二振幅参数在预设第三范围内的第二数据;
当第二采样时间不在预设第四范围内,对所述第二信号的采样时间进行调整处理后,重新采集新的第二信号;
对采集到的所述新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二采样时间在预设第四范围内的第二数据。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述第二信号包括第二采样频率;
所述对采集到的新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二采样时间在预设第四范围内的第二数据,包括:
根据傅里叶变换处理得到第二信号周期;
根据所述第二信号周期和所述第二采样频率得到第二信号周期点数;
根据所述第二信号周期点数调整傅里叶变换处理的运算点数,得到新的运算点数,所述新的运算点数为第二信号周期点数的整数倍;
根据所述新的运算点数对所述新的第二信号进行傅里叶变换处理,直至得到第二采样时间在预设第二范围内的第二数据。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采集注入信号和输出信号,得到第一信号和第二信号,包括:
采集注入信号和输出信号,分别对采集到所述注入信号和所述输出信号进行模数转换处理,得到第一信号和第二信号,所述第一信号和第二信号为数字信号。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述增益差和相位差绘制伯德图,并根据所述伯德图确定电源环路的稳定性参数,包括:
根据信号频率和校准数据对照表获取对应的增益校准参数和相位校准参数,每一所述增益差对应一信号频率,每一相位差对应一信号频率;
根据所述增益差和对应的增益校准参数得到实际增益差,根据所述相位差和对应的相位校准参数得到实际相位差;
根据所述实际增益差和所述实际相位差绘制伯德图;
根据所述伯德图确定电源环路的稳定性参数。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述根据信号频率和校准数据对照表获取对应的增益校准参数和相位校准参数之前,包括:
接收第一校准信号和第二校准信号,所述第一校准信号和所述第二校准信号为相同信号源的信号;
分别对所述第一校准信号和第二校准信号进行傅里叶变换处理,得到第一校准数据和第二校准数据,其中所述第一校准数据包括第一参考信号频率、第一增益参考参数和第一相位参考参数,所述第二校准数据包括第二参考信号频率、第二增益参考参数和第二相位参数参数;
根据所述第一增益参考参数和第二增益参考参数的差值得到对应信号频率的增益校准参数,所述信号频率为相同频率值的第一参考信号频率和第二参考信号频率;
根据所述第一相位参考参数和第二相位参考参数的差值得到对应信号频率的相位校准参数,所述信号频率为相同频率值的第一参考信号频率和第二参考信号频率;
根据所述增益校准参数和相位校准参数以及对应的信号频率得到所述校准数据对照表。
9.一种电源环路的稳定性测试装置,其特征在于,包括:
信号采集模块,用于采集注入信号和输出信号,得到第一信号和第二信号,所述第一信号包括第一采样时间,所述第二信号包括第二采样时间;
第一数据处理单元,用于分别对所述第一信号和所述第二信号进行傅里叶变换处理,得到第一数据和第二数据,所述第一数据包括第一增益参数、第一相位参数和第一振幅参数,所述第二数据包括第二增益参数、第二相位参数和第二振幅参数;
第一反馈模块,用于当所述第一数据不满足第一预设条件时,对所述第一信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第一预设条件的第一数据,所述第一预设条件为第一数据的第一振幅参数在预设第一范围内和第一采样时间在预设第二范围内;
第二反馈模块,用于当所述第二数据不满足第二预设条件时,对所述第二信号进行采样变更处理后,重新进行傅里叶变换处理,直至得到满足第二预设条件的第二数据,所述第二预设条件为第二数据的第二振幅参数在预设第三范围内和第二采样时间在预设第四范围内;
第二数据处理模块,用于对满足第一预设条件的第一数据和满足第二预设条件的第二数据进行数据处理,得到两者的增益差和相位差;
稳定性分析模块,用于根据所述增益差和相位差绘制伯德图,并根据所述伯德图确定电源环路的稳定性参数。
10.一种电源环路的稳定性测试设备,其特征在于,包括:
存储器以及一个或多个处理器;
所述存储器,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-8任一所述的方法。
11.一种存储计算机可执行指令的存储介质,其特征在于,所述计算机可执行指令在由处理器执行时用于执行如权利要求1-8任一所述的方法。
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