JP6624232B2 - エレベーターのシーブ溝測定装置およびシーブ溝測定方法 - Google Patents

Description

この発明は、エレベーターのシーブ溝測定装置およびシーブ溝測定方法に関する。

エレベーターの巻上機のシーブは、複数のシーブ溝を有する。かごおよび釣合おもりを吊り下げるロープは、シーブ溝に巻き掛けられる。シーブ溝が摩耗すると、ロープに振動が発生することがある。下記特許文献１には、シーブ溝の点検に関する技術が記載されている。

特開２００７−３０２４１３号公報

従来、シーブ溝の点検では、例えば、ダイヤルゲージを用いてシーブ溝の深さが測定される。この場合、複数のシーブ溝を１本ずつ測定するため、時間を要する。また、測定結果を手動で記録するため、時間を要する。

この発明は、上記の課題を解決するためになされた。その目的は、一度に複数のシーブ溝の測定を行うとともに、測定結果を自動で記録することができるエレベーターのシーブ溝測定装置およびシーブ溝測定方法を提供することである。

この発明に係るエレベーターのシーブ溝測定装置は、保持具によってシーブの上方で同じ高さに並んだ状態で保持され、複数のシーブ溝のそれぞれに対向して配置され、保持具に対して鉛直上下方向に移動可能な支持体に支持された測定子が接触したシーブ溝の深さを測定し、少なくとも１つは保持具に対して水平方向に移動可能である複数の測定器と、複数の測定器と電気的に接続され、複数の測定器のうち保持具に対して水平方向に移動可能な測定器で測定されたシーブの外周面の高さに基づく基準を設定し、複数の測定器による測定結果を記録するデータ収集装置と、を備える。

この発明に係るエレベーターのシーブ溝測定方法は、データ収集装置と電気的に接続される複数の測定器を保持具によってシーブの上方で同じ高さに並んだ状態で保持させる設置工程と、設置工程の後に、複数の測定器のうち保持具に対して水平方向に移動可能な測定器でシーブの外周面の高さを測定し、当該測定に基づく基準をデータ収集装置に設定させる較正工程と、較正工程の後に、保持具に対して鉛直上下方向に移動可能な支持体に支持された複数の測定器の測定子を複数のシーブ溝のそれぞれに接触させることでシーブ溝の深さを測定し、複数の測定器による測定結果をデータ収集装置に記録させる測定工程と、を備える。

これらの発明によれば、複数の測定器による測定結果がデータ収集装置に記録される。このため、一度に複数のシーブ溝の測定を行うとともに、測定結果を自動で記録することができる。

エレベーターの構造の一例を示す模式図である。 実施の形態１におけるエレベーターのシーブ溝測定装置を示す第１の模式図である。 実施の形態１におけるエレベーターのシーブ溝測定装置を示す第２の模式図である。 実施の形態１におけるデータ収集装置の機能ブロック図である。 データ収集装置のハードウェア構成図である。

以下、添付の図面を参照して実施の形態について説明する。各図において、同一または相当する部分には同一の符号が付される。重複する説明は、適宜簡略化あるいは省略する。

実施の形態１．
図１は、エレベーターの構造の一例を示す模式図である。図１は、機械室なしタイプのロープ式エレベーターの昇降路内における構造を例示している。

図１に示すように、エレベーターは、巻上機１、ロープ２、かご３および釣合おもり４を備える。エレベーターは、昇降路内に設けられた複数のシーブを備える。昇降路内のシーブとしては、例えば、かご吊り車５、おもり吊り車６、返し車７および巻上機シーブ８が設けられる。かご吊り車５は、例えば、かご３の下に複数設けられる。返し車７は、例えば、昇降路の上部に複数設けられる。一部の返し車７は、他の返し車７と大きさが異なり得る。

ロープ２は、例えば、かご吊り車５、おもり吊り車６、返し車７および巻上機シーブ８に巻き掛けられる。ロープ２の端部は、例えば、昇降路内の図示しない梁などに支持される。かご３は、かご吊り車５を介して、ロープ２によって昇降路内に吊り下げられる。釣合おもり４は、おもり吊り車６を介して、ロープ２によって昇降路内に吊り下げられる。かご３および釣合おもり４は、巻上機１が駆動することにより昇降する。巻上機１は、図示しない制御装置によって制御される。

図２は、実施の形態１におけるエレベーターのシーブ溝測定装置を示す第１の模式図である。図３は、実施の形態１におけるエレベーターのシーブ溝測定装置を示す第２の模式図である。

図２および図３には、巻上機シーブ８の上部が示されている。巻上機シーブ８は、複数のシーブ溝９を有する。図２は、巻上機シーブ８が３本のシーブ溝９を有する場合を例示している。シーブ溝９の底部には、例えば、断面がＶ字状のアンダーカットが形成されている。

シーブ溝測定装置は、保持具１０、複数の測定器１１およびデータ収集装置１２を備える。測定器１１は、例えば、シーブ溝９と同じ数だけ設けられる。

保持具１０は、例えば、台座部１３、支柱部１４、アーム部１５および関節部１６を備える。台座部１３は、任意の場所に固定可能である。台座部１３は、例えば、マグネットベースである。支柱部１４は、台座部１３に支持される。アーム部１５は、支柱部１４から横向きに突出する。アーム部１５は、関節部１６を介して支柱部１４に支持される。アーム部１５の高さは、支柱部１４の長手方向に沿って関節部１６を移動させることで変更可能である。アーム部１５の角度は、関節部１６によって変更可能である。

測定器１１は、例えば、本体１７、スピンドル１８および測定子１９を備える。本体１７は、アーム部１５に取り付けられる。本体１７は、例えば、アーム部１５に対して着脱可能であってもよい。スピンドル１８は、本体１７の内部に出入りするように移動可能である。測定子１９は、スピンドル１８の先端に設けられている。

測定子１９は、例えば、球状に形成されている。測定子１９の径は、例えば、シーブ溝９のアンダーカットの最も広い部分の幅よりも大きく、ロープ２の径以下である。

保持具１０の台座部１３は、例えば、巻上機１の筐体等に固定される。複数の測定器１１は、例えば、水平に固定されたアーム部１５によって、巻上機シーブ８の上方で同じ高さに並んだ状態で保持される。複数の測定器１１は、例えば、図２に示すように、複数のシーブ溝９のそれぞれに対向して配置される。

測定器１１は、スピンドル１８の移動量を測定する。測定器１１は、例えば、デジタル式のダイヤルゲージである。例えば、図２に示すように測定子１９をシーブ溝９に接触させると、測定器１１によってシーブ溝９の深さに対応する値が測定される。

複数の測定器１１のうち少なくとも１つの本体１７は、例えば、アーム部１５の長手方向に沿って移動可能であってもよい。この場合、例えば、図３に示すように測定子１９を巻上機シーブ８の外周面に接触させると、測定器１１によって外周面の高さに対応する値が測定される。

測定器１１は、測定結果を外部出力することが可能である。測定器１１は、例えば、ケーブルでデータ収集装置１２と電気的に接続される。データ収集装置１２は、接続されている測定器１１から測定結果を取得する。

データ収集装置１２は、例えば、表示部２０および操作部２１を備える。表示部２０は、文字、画像または図形等の情報を表示する。操作部２１は、人による操作を受け付ける。データ収集装置１２は、例えば、専用の装置であってもよい。データ収集装置１２は、例えば、ノートパソコン、スマートフォンまたはタブレット端末等であってもよい。

図４は、実施の形態１におけるデータ収集装置の機能ブロック図である。

図４に示すように、データ収集装置１２は、例えば、表示部２０、操作部２１、記憶部２２、較正部２３および判定部２４を備える。

記憶部２２は、測定器１１から取得された測定結果を記憶する。記憶部２２は、異なる測定器１１による測定結果を区別して記憶する。つまり、データ収集装置１２は、複数の測定器１１のそれぞれによる測定結果を個別に記録する。

記憶部２２は、例えば、操作部２１に対する操作に応じて、測定結果を記憶する方式を変更してもよい。記憶部２２は、例えば、操作部２１に対して特定の操作が行われた場合に、その時点での測定値を記憶してもよい。記憶部２２は、例えば、操作部２１に対して開始操作が行われてから終了操作が行われるまでの期間における測定値を経時的に記憶してもよい。

較正部２３は、測定器１１による測定結果を評価するための基準を設定する。較正部２３は、例えば、操作部２１に対して特定の操作が行われた場合に、その時点での測定値に基づいて基準を設定する。

判定部２４は、測定器１１によるシーブ溝９の深さの測定結果に基づいて、シーブ溝９に問題があるか否かを判定する。判定部２４による判定結果は、表示部２０に表示される。

判定部２４は、例えば、複数の測定器１１によるシーブ溝９の深さの測定結果同士を比較することで判定を行う。判定部２４は、例えば、複数のシーブ溝９間での深さの差が一定値を超えている場合に、問題があると判定する。判定部２４は、例えば、複数のシーブ溝９間での深さの差が一定値以下である場合に、問題がないと判定する。当該一定値は、例えば、予め設定されてもよいし、操作部２１を用いて入力されてもよい。

判定部２４は、例えば、複数の測定器１１による個々のシーブ溝９の深さの測定結果を較正部２３によって設定された基準と比較することで判定を行う。判定部２４は、例えば、個々のシーブ溝９の深さが当該基準を超えている場合に、問題があると判定する。判定部２４は、例えば、個々のシーブ溝９の深さが当該基準以下である場合に、問題がないと判定する。

以下、エレベーターのシーブ溝測定方法の一例を説明する。

シーブ溝９の点検時には、設置工程が行われる。設置工程において、保守員は、データ収集装置１２と電気的に接続される複数の測定器１１を保持具１０によって巻上機シーブ８の上方で同じ高さに並んだ状態で保持させる。この際に、複数の測定器１１は、例えば、上下方向から見て複数のシーブ溝９に直交する直線状に配置される。

設置工程の後に、較正工程が行われる。較正工程において、保守員は、複数の測定器１１のうち保持具１０に対して水平方向に移動可能な測定器１１で巻上機シーブ８の外周面の高さを測定し、当該測定に基づく基準をデータ収集装置１２に設定させる。この場合、例えば、外周面の高さを基点とした下向きの一定距離が基準として設定される。

較正工程の後に、測定工程が行われる。測定工程において、保守員は、複数の測定器１１の測定子１９を複数のシーブ溝９のそれぞれに接触させることでシーブ溝９の深さを測定し、複数の測定器１１による測定結果をデータ収集装置１２に記録させる。

測定工程では、保守員は、例えば、複数の測定器１１の測定子１９が複数のシーブ溝９のそれぞれに接触している状態で巻上機シーブ８を低速回転させることで、シーブ溝９の深さを巻上機シーブ８の全周にわたって測定する。

その後、保守員は、判定部２４による判定結果を確認する。

以上で説明した実施の形態１によれば、複数の測定器１１は、保持具１０によってシーブの上方で同じ高さに並んだ状態で保持され、複数のシーブ溝９のそれぞれに対向して配置され、測定子１９が接触したシーブ溝９の深さを測定する。データ収集装置１２は、複数の測定器１１と電気的に接続され、複数の測定器１１による測定結果を記録する。このため、一度に複数のシーブ溝９の測定を行うとともに、測定結果を自動で記録することができる。その結果、シーブ溝９の点検作業の効率を向上させることができる。また、記録された測定結果を電子データとして出力すれば、シーブ溝９の状態を容易に分析することができる。

また、複数の測定器１１の測定子１９は、球状を呈し、シーブ溝９のアンダーカットの幅よりも大きくロープ径以下の径を持つ。このため、測定子１９をシーブ溝９に巻き掛けられたロープ２に近い状態にして測定を行うことができる。

また、データ収集装置１２は、複数の測定器１１によるシーブ溝９の深さの測定結果同士を比較することでシーブ溝９に問題があるか否かを判定し、判定結果を表示する。このため、複数のシーブ溝９間の摩耗量に著しい差があるか否かを判定できる。

また、データ収集装置１２は、複数の測定器１１のうち保持具１０に対して水平方向に移動可能な測定器１１で測定されたシーブの外周面の高さに基づいて基準を設定し、複数の測定器１１による個々のシーブ溝９の深さの測定結果を当該基準と比較することでシーブ溝９に問題があるか否かを判定し、判定結果を表示する。このため、個々のシーブ溝９について、著しく摩耗しているか否かを判定できる。

また、測定工程では、例えば、複数の測定器１１の測定子１９が複数のシーブ溝９のそれぞれに接触している状態でシーブを回転させることで、シーブ溝９の深さがシーブの全周にわたって測定される。この場合、シーブ溝９の限られた箇所でなく、シーブ溝９全体の深さを測定することができる。その結果、シーブ溝９の状態を詳細に分析することができる。

また、保持具１０または測定器１１は、可視光を照射する照射部を備えてもよい。照射部としては、例えば、電球またはＬＥＤライト等を用いられる。照射部は、例えば、少なくともアーム部１５の下方を照らすように設けられる。この場合、シーブ溝９の点検作業における視認性を向上させることができる。

また、シーブ溝測定装置は、図２に示す複数の測定器１１とは別に、基準用測定器を備えてもよい。基準用測定器は、例えば、図２に示す複数の測定器１１よりも台座部１３に近い位置でアーム部１５に取り付けられる。この場合、較正部２３は、例えば、基準用測定器によって測定された巻上機シーブ８の外周面の高さに基づく基準を設定してもよい。この場合、図２に示す複数の測定器１１は、シーブ溝９同士の間隔に対応する間隔で予めアーム部１５に固定しておくことができる。

また、シーブ溝測定装置は、巻上機シーブ８以外のシーブに対して使用してもよい。この場合にも、一度に複数のシーブ溝の深さを測定することができる。

図５は、データ収集装置のハードウェア構成図である。

データ収集装置１２における表示部２０、操作部２１、記憶部２２、較正部２３および判定部２４は、処理回路により実現される。処理回路は、専用ハードウェア５０であってもよい。処理回路は、プロセッサ５１およびメモリ５２を備えていてもよい。処理回路は、一部が専用ハードウェア５０として形成され、更にプロセッサ５１およびメモリ５２を備えていてもよい。図５は、処理回路が、その一部が専用ハードウェア５０として形成され、プロセッサ５１およびメモリ５２を備えている場合の例を示している。

処理回路の少なくとも一部が、少なくとも１つの専用ハードウェア５０である場合、処理回路は、例えば、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ＡＳＩＣ、ＦＰＧＡ、またはこれらを組み合わせたものが該当する。

処理回路が少なくとも１つのプロセッサ５１および少なくとも１つのメモリ５２を備える場合、データ収集装置１２の各機能は、ソフトウェア、ファームウェア、またはソフトウェアとファームウェアとの組み合わせにより実現される。ソフトウェアおよびファームウェアはプログラムとして記述され、メモリ５２に格納される。プロセッサ５１は、メモリ５２に記憶されたプログラムを読み出して実行することにより、各部の機能を実現する。プロセッサ５１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、中央処理装置、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＤＳＰとも呼ぶ。メモリ５２は、例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭ、フラッシュメモリー、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ等の、不揮発性または揮発性の半導体メモリ、磁気ディスク、フレキシブルディスク、光ディスク、コンパクトディスク、ミニディスク、ＤＶＤ等が該当する。

このように、処理回路は、ハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア、またはこれらの組み合わせによって、データ収集装置１２の各機能を実現することができる。

１ 巻上機
２ ロープ
３ かご
４ 釣合おもり
５ かご吊り車
６ おもり吊り車
７ 返し車
８ 巻上機シーブ
９ シーブ溝
１０ 保持具
１１ 測定器
１２ データ収集装置
１３ 台座部
１４ 支柱部
１５ アーム部
１６ 関節部
１７ 本体
１８ スピンドル
１９ 測定子
２０ 表示部
２１ 操作部
２２ 記憶部
２３ 較正部
２４ 判定部
５０ 専用ハードウェア
５１ プロセッサ
５２ メモリ

Claims (6)

1. 保持具によってシーブの上方で同じ高さに並んだ状態で保持され、複数のシーブ溝のそれぞれに対向して配置され、前記保持具に対して鉛直上下方向に移動可能な支持体に支持された測定子が接触したシーブ溝の深さを測定し、少なくとも１つは前記保持具に対して水平方向に移動可能である複数の測定器と、
   前記複数の測定器と電気的に接続され、前記複数の測定器のうち前記保持具に対して水平方向に移動可能な測定器で測定された前記シーブの外周面の高さに基づく基準を設定し、前記複数の測定器による測定結果を記録するデータ収集装置と、
   を備えたエレベーターのシーブ溝測定装置。
2. 前記複数の測定器の測定子は、球状を呈し、シーブ溝のアンダーカットの幅よりも大きくロープ径以下の径を持つ請求項１に記載のエレベーターのシーブ溝測定装置。
3. 前記データ収集装置は、前記複数の測定器によるシーブ溝の深さの測定結果同士を比較することでシーブ溝に問題があるか否かを判定し、判定結果を表示する請求項１または請求項２に記載のエレベーターのシーブ溝測定装置。
4. 前記データ収集装置は、前記複数の測定器による個々のシーブ溝の深さの測定結果を基準と比較することでシーブ溝に問題があるか否かを判定し、判定結果を表示する請求項１から請求項３のいずれか１項に記載のエレベーターのシーブ溝測定装置。
5. データ収集装置と電気的に接続される複数の測定器を保持具によってシーブの上方で同じ高さに並んだ状態で保持させる設置工程と、
   前記設置工程の後に、前記複数の測定器のうち前記保持具に対して水平方向に移動可能な測定器で前記シーブの外周面の高さを測定し、当該測定に基づく基準を前記データ収集装置に設定させる較正工程と、
   前記較正工程の後に、前記保持具に対して鉛直上下方向に移動可能な支持体に支持された前記複数の測定器の測定子を複数のシーブ溝のそれぞれに接触させることでシーブ溝の深さを測定し、前記複数の測定器による測定結果を前記データ収集装置に記録させる測定工程と、
   を備えたエレベーターのシーブ溝測定方法。
6. 前記測定工程では、前記複数の測定器の測定子が複数のシーブ溝のそれぞれに接触している状態でシーブを回転させることでシーブ溝の深さを全周にわたって測定する請求項５に記載のエレベーターのシーブ溝測定方法。

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