JP6623696B2 - 電源装置及び半導体装置 - Google Patents
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Description
回路部へ供給する電源電圧を目標値に下げる電源装置として、デジタル型の電圧調整回路を利用したものがある。デジタル型の電圧調整回路は、電源電圧が印加される電源線と回路部との間に並列に接続された複数のスイッチ(トランジスタで実現される)を有する。電圧調整回路は、所定の周期で目標値と回路部に供給される電源電圧とを比較し、電源電圧が目標値より上回っているときには、オフにするスイッチの数を増やし、電源電圧を下げる。
(第1の実施の形態)
図1は、第1の実施の形態の電源装置の一例を示す図である。
電圧調整回路2は、たとえば、デジタル型のLDO(Low Drop Out)電圧レギュレータであり、スイッチ2a1,2a2,…,2anと、スイッチ制御回路2bを有する。
制御回路4は、リーク電流値、電源電圧VDD、電圧Vn、時間tn、電位差ΔVに基づき、回路部6が通常状態からスタンバイ状態に遷移するときに、電圧調整回路2がオフするスイッチ数を増やすタイミングの間隔を決定する。制御回路4は、スイッチ制御回路2bに供給するクロック信号CLKの周波数を上記のパラメータに基づき決定することで、上記の間隔を決める。この間隔はクロック信号CLKの周期tに相当する。制御回路4は、周期tが、以下の式(1)を満たすようにクロック信号CLKの周波数を決定する。
式(1)において、Ileakは、電源電圧VVDDが目標値Vrefのときの、リーク電流値を示す。Cは回路部6の負荷容量値を示す。負荷容量値Cは、以下の式(2)で求められる。
式(2)においてIleaknは、電源電圧VVDDが電圧Vnのときの回路部6のリーク電流値である。
図2は、ある間隔で回路部に供給される電源電圧と目標値との比較判定とスイッチの切り替えを行う場合の、電源電圧の変化の一例を示す図である。
図2の例では、周期(間隔)t=txごとに、電源電圧VVDDと目標値Vrefとの比較が行われる例が示されている。スイッチ2a1〜2anのうち1つのスイッチがオフすることによって電源電圧VVDDが電位差ΔV下がるのにかかる時間がtx以下であれば、波形7のように、目標値Vrefに対してアンダーシュートは発生しない。
波形8a,8b,8c,8d,8e,8fは、スイッチ2a1〜2anのうち6つがそれぞれオフすることによって、生じる電位差ΔVの電圧降下の一例を示している。波形8a〜8fでは、電源電圧VVDDが電位差ΔV下がるのにかかる時間は、txより長い。そのため、txの間に、電源電圧VVDDは、電位差ΔV下がりきらず、スイッチ2a1〜2anが1つオフするごとに、図2に示すように、電位差Vlostが蓄積される。この蓄積分が波形8に示すような、アンダーシュートを生じさせる。
図1には、電源装置1が回路部6に供給する電源電圧VVDDの降圧の例が示されている。縦軸は、電源電圧VVDDを示し、横軸は、時間を示している。
制御回路4は、記憶回路3に記憶されている、電源電圧VVDDが電圧Vnのときの回路部6のリーク電流値Ileakn、電源電圧VDD、電圧Vn、時間tnに基づき、式(2)により、負荷容量値Cを算出する。そして、制御回路4は、記憶回路3に記憶されている、電位差ΔV、電源電圧VVDDが目標値Vrefのときの回路部6のリーク電流値Ileak、負荷容量値Cに基づき、式(1)を満たすように、クロック信号CLKの周期tを決定する。決定した周期tは、記憶回路3に記憶される。
図3は、第2の実施の形態の電源装置及び、それを有する半導体装置の一例を示す図である。
電力制御回路11は、たとえば、CPU(Central Processing Unit)、MPU(Micro Processing Unit)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、FPGA(Field Programmable Gate Array)などのプロセッサである。電力制御回路11は、たとえば、回路部13を通常状態とするかスタンバイ状態とするかを、電源装置12に通知するなどして、電源装置12の制御を行う。
以下、電源装置12の各回路の一例を説明する。
図4は、電圧調整回路の一例を示す図である。
電圧調整回路12aは、スイッチ20a1,20a2,…,20anと、スイッチ制御回路20bとを有している。
比較回路20b1は、クロック信号CLKの周波数に基づくタイミングで、たとえば、電力制御回路11により指定される目標値Vrefと、回路部13へ供給する電源線20dの電源電圧VVDDとを比較する。比較回路20b1は、比較結果に基づく信号UDを出力する。比較回路20b1は、電源電圧VVDDが目標値Vrefよりも大きい場合には、信号UDの論理レベルをL(Low)とし、電源電圧VVDDが目標値Vref以下の場合には、信号UDの論理レベルをH(High)レベルとする。
図5には、信号EN,Fon,UD、クロック信号CLK、電源電圧VVDDの一例の様子が示されている。
(時間検出回路の一例)
図6は、時間検出回路の一例を示す図である。
インバータ回路21は、信号Fonの論理レベルを反転する。
カウンタ25は、AND回路23の出力信号の論理レベルがLレベルからHレベルに遷移するタイミングで、比較回路24の出力信号の論理レベルがHレベルとなる回数を計数し、その計数値nを出力する。
なお、AND回路22の出力信号の論理レベルは、信号Fonの論理レベルがLレベルにならないと、Hレベルとならない。つまり、時間検出回路12dは、回路部13がスタンバイ状態となると動作する回路である。
図7は、記憶回路の一例を示す図である。
記憶回路12bは、たとえば、図7に示すようにレジスタ30とROM(Read Only Memory)31を有している。レジスタ30には、時間検出回路12dが検出した時間tnと、スイッチ20a1〜20anのうち1つのスイッチのオンオフの切り替わりで変化する電源電圧VVDDの電位差ΔV、電源電圧VDD、電圧Vnが記憶される。
なお、リーク電流値は、回路部13の温度に依存するため、温度と電源電圧VVDDの値とに対応したリーク電流値を示すテーブルデータが、ROM31に記憶されるようにしてもよい。その場合、電源電圧VVDDと、図示しない温度センサで計測された回路部13の温度とに対応するリーク電流値が、制御回路12cで用いられる。
図3に示したように、制御回路12cは、演算回路12c1と、クロック信号生成回路12c2とを有する。
fclk2=Ileak/CΔV (4)
クロック信号生成回路12c2は、周波数fclk2のクロック信号CLKを生成し、出力する。
クロック信号生成回路12c2は、ROM32、分周率決定部33、分周回路34を有する。
分周率決定部33は、演算回路12c1で算出された周波数fclk2に対応した分周率Nをテーブルデータ32aから決定し、分周回路34に供給する。
(半導体装置及び電源装置の動作例)
図9は、第2の実施の形態の半導体装置及び電源装置の動作例を示すタイミングチャートである。
上記の第2の実施の形態の電源装置12では、記憶回路12bが予め電源電圧VVDDに対応したリーク電流値を記憶しているものとした。これに対して、以下に説明する第3の実施の形態の電源装置12では、リーク電流値を検出する回路を有する。
半導体装置40の電源装置41は、電流検出回路42を有している。電流検出回路42は、電圧調整回路12aと、回路部13との間に接続されており、回路部13がスタンバイ状態のときの回路部13のリーク電流値を検出する。記憶回路43は、時間検出回路12dで検出された時間tnとともに、電流検出回路42で検出されたリーク電流値を記憶する。
図11は、電流検出回路の一例を示す図である。
電流検出回路42は、電圧調整回路12aと回路部13とを結ぶ配線50上に設けられた電流検出用の抵抗R、差動アンプ51、A/D(Analog to Digital)変換回路52、ROM53、電流変換部54を有している。
ROM53は、電圧を示すデジタル値を、電流を示すデジタル値に変換する変換テーブルデータ53aを記憶している。
図12は、第3の実施の形態の半導体装置及び電源装置の動作例を示すタイミングチャートである。
回路部13において通常状態が終了すると(タイミングt44)、信号VREFにより、目標値Vrefが電力制御回路11により指定される(タイミングt45)。
図13は、第4の実施の形態の電源装置及び、それを有する半導体装置の一例を示す図である。図3に示した要素と同じ要素については同一符号が付されている。
(半導体装置及び電源装置の動作例)
図14は、第4の実施の形態の半導体装置及び電源装置の動作例を示すタイミングチャートである。
以上、実施の形態に基づき、本発明の電源装置及び半導体装置の一観点について説明してきたが、これらは一例にすぎず、上記の記載に限定されるものではない。
2 電圧調整回路
2a1〜2an スイッチ
2b スイッチ制御回路
2c,2d 電源線
3 記憶回路
4 制御回路
5 時間検出回路
6 回路部
6a,6b 電源端子
Claims (8)
- 回路部と第1の電源電圧が印加される電源線との間に並列に接続される複数のスイッチを含み、目標値と前記回路部へ供給する第2の電源電圧との比較結果に基づき、前記複数のスイッチのうちオフするスイッチ数を変えることによって、前記第1の電源電圧を基に生成される前記第2の電源電圧の大きさを調整する電圧調整回路と、
前記回路部が第1の状態よりも低い消費電力状態となる第2の状態のときの前記回路部の第1の電源端子と第2の電源端子との間の電流値と、前記第2の電源電圧が第1の値から第2の値へ変化する第1の時間と、前記複数のスイッチのうち1つのスイッチのオンオフが切り替わった場合に生じる前記第2の電源電圧の変化量である電位差と、を記憶する記憶回路と、
前記電流値、前記第1の値、前記第2の値、前記第1の時間及び、前記電位差に基づき、前記回路部が前記第1の状態から前記第2の状態に遷移するときに前記電圧調整回路がオフする前記スイッチ数を増やすタイミングの間隔を決定する制御回路と、
を有することを特徴とする電源装置。 - 前記制御回路は、前記第2の電源電圧が前記第2の値のときの前記電流値、前記第1の時間、前記第1の値、及び前記第2の値に基づき、前記回路部の負荷容量値を算出し、前記負荷容量値、前記電位差、及び前記第2の電源電圧が前記目標値のときの前記電流値に基づき、前記間隔を決定する、ことを特徴とする請求項1に記載の電源装置。
- 前記間隔は、前記負荷容量値と前記電位差との積を前記第2の電源電圧が前記目標値のときの前記電流値で割った値である、ことを特徴とする請求項2に記載の電源装置。
- 前記制御回路は、前記複数のスイッチのオンオフを切り替えるタイミングを決めるクロック信号の周波数を、前記間隔に基づき変え、
前記第1の時間は、前記第2の電源電圧が、前記第1の状態のときの前記第1の値から、前記第2の状態のときの前記第2の値に変化するまでの時間であり、
前記第2の値は、前記第1の時間が、前記回路部が前記第1の状態のときの前記クロック信号の周期以下となるように設定されている、
ことを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の電源装置。 - 前記第1の時間を検出する時間検出回路をさらに有し、
前記制御回路は、前記時間検出回路が検出した前記第1の時間に基づき、前記間隔を決定する、ことを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の電源装置。 - 前記記憶回路は、前記第2の電源電圧の複数の値のそれぞれに対応した前記電流値を記憶し、
前記制御回路は、前記第2の状態のときの前記第2の電源電圧の値に対応した前記電流値を前記記憶回路から読み出して、前記間隔を決定する、ことを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載の電源装置。 - 前記電流値を検出する電流検出回路をさらに有し、
前記制御回路は、前記電流検出回路が検出した前記電流値に基づき、前記間隔を決定する、ことを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の電源装置。 - 回路部と、
前記回路部と第1の電源電圧が印加される電源線との間に並列に接続される複数のスイッチを含み、目標値と前記回路部へ供給する第2の電源電圧との比較結果に基づき、前記複数のスイッチのうちオフするスイッチ数を変えることによって、前記第1の電源電圧を基に生成される前記第2の電源電圧の大きさを調整する電圧調整回路と、前記回路部が第1の状態よりも低い消費電力状態となる第2の状態のときの前記回路部の第1の電源端子と第2の電源端子との間の電流値と、前記第2の電源電圧が第1の値から第2の値へ変化する第1の時間と、前記複数のスイッチのうち1つのスイッチのオンオフが切り替わった場合に生じる前記第2の電源電圧の変化量である電位差と、を記憶する記憶回路と、前記電流値、前記第1の値、前記第2の値、前記第1の時間及び、前記電位差に基づき、前記回路部が前記第1の状態から前記第2の状態に遷移するときに前記電圧調整回路がオフする前記スイッチ数を増やすタイミングの間隔を決定する制御回路と、を含む電源装置と、
前記回路部を前記第1の状態とするか、前記第2の状態とするかを、前記電源装置に通知する電力制御回路と、
を有することを特徴とする半導体装置。
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