JP6579194B2 - 温度センサ - Google Patents

Description

本発明は温度センサに関する。

正特性サーミスタ（ＰＴＣサーミスタ）および負特性サーミスタ（ＮＴＣサーミスタ）等の温度センサは、温度補償用または温度検知用等の用途で幅広く用いられている。

例えば、特許文献１には、温度検出デバイスの製造方法であって、方法は、サーミスタ構造を定義するように、少なくとも１つのシリコン層と少なくとも１つの電極又は接点を形成することを含み、少なくともシリコン層は、印刷することにより形成され、及びシリコン層を印刷している間、シリコン層と少なくとも１つの電極又は接点のうち少なくとも１つが基板により支持されている、方法が記載されている。

特許文献２には、ニッケル及び／またはコバルトとマンガンとを少なくとも含有するスピネル構造の酸化物焼結体と、半導体化ジルコニアと、炭化ケイ素とから選択された少なくとも１種の半導体材料を含む導電性粉末を、有機高分子材料によって結合してなる成形体を感温エレメントとし、これに１組の電極を設けて構成したことを特徴とする温度センサが記載されている。

国際公開第１２／０３５４９４号 特開昭６３−０６０５０２号公報

近年、電子機器の小型化および高性能化に伴い、より高いＢ定数（サーミスタ定数）を有する温度センサが求められている。Ｂ定数は、下記式で表される。

Ｂ＝（ｌｎＲ−ｌｎＲ_０）／（１／Ｔ−１／Ｔ_０）

（Ｒ：周囲温度Ｔ（Ｋ）における抵抗値、Ｒ_０：周囲温度Ｔ_０（Ｋ）における抵抗値）

本明細書において、特段の説明がない限り、「Ｂ定数」は、Ｔ＝５０℃、Ｔ_０＝２５℃におけるＢ定数Ｂ_{２５／５０}を意味する。

また、近年、樹脂フィルム等のフレキシブル基材上にサーミスタ材料を印刷して形成されるフィルム型の温度センサの開発が進められている。サーミスタ材料は通常、サーミスタ特性を有する半導体磁器組成物の粉末と、有機高分子成分とを含む。フィルム型温度センサにおいては、フレキシブル基材上に形成されたサーミスタ材料が可とう性（フレキシブル性）を有することが必要とされる。それと同時に、フィルム型温度センサのサーミスタ特性を向上させるために、サーミスタ材料に含まれる半導体磁器組成物の量を多くすることが求められる。サーミスタ材料の可とう性を向上させ、かつサーミスタ材料に含まれる半導体磁器組成物の量を多くするためには、半導体磁器組成物の粉末を微細化することが必要とされる。

本発明の目的は、高いＢ定数を有し、可とう性に優れた温度センサを提供することにある。

本発明者らは、Ｍｎ、ＮｉおよびＦｅを特定の割合で含み、かつ特定の平均粒径を有する半導体磁器組成物の粉末を用いることにより、高いＢ定数を有し、可とう性に優れた温度センサが得られることを見出し、本発明を完成させるに至った。

本発明の第１の要旨によれば、Ｍｎ、ＮｉおよびＦｅを含むスピネル型半導体磁器組成物の粉末と、有機高分子成分とを含むサーミスタ層と、
１対の電極層と
を含む温度センサであって、
半導体磁器組成物の粉末において、ＭｎとＮｉとのモル比率が８５／１５≧Ｍｎ／Ｎｉ≧６５／３５であり、かつＭｎおよびＮｉの総モル量を１００モル部としたとき、Ｆｅの含有量が３０モル部以下であり、
半導体磁器組成物の粉末の平均粒径が２μｍ以下である、温度センサが提供される。

本発明の第２の要旨によれば、
Ｍｎ源、Ｎｉ源およびＦｅ源の粉末を含む原料混合物であって、ＭｎとＮｉとのモル比率が８５／１５≧Ｍｎ／Ｎｉ≧６５／３５であり、かつＭｎおよびＮｉの総モル量を１００モル部としたとき、Ｆｅの含有量が３０モル部以下である原料混合物を粉砕する工程と、
粉砕した原料混合物を７００℃以上９００℃以下の温度で熱処理して、半導体磁器組成物を得る工程と、
前記半導体磁器組成物を粉砕して、平均粒径が２μｍ以下の半導体磁器組成物の粉末を得る工程と、
前記半導体磁器組成物の粉末と、有機高分子成分とを含むサーミスタ層ペーストを得る工程と、
フレキシブル基材上に、電極層ペーストおよび前記サーミスタ層ペーストを印刷して、サーミスタ層と、１対の電極層と、フレキシブル基材とを含む温度センサを得る工程と
を含む、温度センサの製造方法が提供される。

本発明によれば、高いＢ定数を有し、可とう性に優れた温度センサを提供することが可能である。

図１は、本発明の一の実施形態に係る温度センサの一例を概略的に示す図である。 図２は、本発明の一の実施形態に係る温度センサのもう１つの例を概略的に示す図である。 図３は、実施例における半導体磁器組成物の粉末の粉砕時間と粒径との関係を示すグラフである。 図４は、実施例に係る温度センサのサーミスタ層における半導体磁器組成物の粉末の体積割合と、Ｂ定数との関係を示すグラフである。 図５は、実施例に係る温度センサのフレキシブル性試験結果を示すグラフである。

以下、本発明の一の実施形態に係る温度センサおよびその製造方法について、図面を参照して詳細に説明する。但し、本発明に係る温度センサならびに各構成要素の形状および配置等は、以下に説明する実施形態および図示される構成に限定されるものではない。

本発明の一の実施形態に係る温度センサは、Ｍｎ、ＮｉおよびＦｅを含むスピネル型半導体磁器組成物の粉末と、有機高分子成分とを含むサーミスタ層と、１対の電極層とを含む。図１に、本発明の一の実施形態に係る温度センサの一例を概略的に示す。図１（ａ）は、本実施形態に係る温度センサにおける１対の電極層１および３の一例を示す平面図である。図１（ｂ）は、図１（ａ）に示す電極層１および３の上に配置されたサーミスタ層５を示す平面図である。図１（ｃ）は、図１（ｂ）の温度センサの直線Ａ−Ａ’に沿った断面の一部拡大図である。図１に示す例において、１対の電極層１および３は、フレキシブル基材７の上に配置される。１対の電極層１および３は、図１（ａ）に示すように櫛型の形状であってよいが、本発明における電極層の形状はかかる形状に限定されるものではなく、例えば後述の図２に示すようにサンドイッチ構造を有してもよい。電極層１および３が櫛型の形状を有する場合、フレキシブル基材７の上に電極層ペーストを１回印刷することにより１対の電極層１および３を同時に形成することができるので、工程数を少なくすることができる。電極層１および３はそれぞれ、複数の電極線を有する。一方の電極層１の電極線と、他方の電極層３の電極線とが互いに離間して交互に配置され、それにより、電極層１と電極層３とが互いに対向する。電極層の長辺１０１および短辺１０２の長さ、電極線の幅Ｌならびに電極線間の距離Ｓは、目的とする用途に応じて適宜設定することができる。

図１（ａ）に示す電極層１および３の上に、サーミスタ層５が配置される。サーミスタ層５は、図１（ｃ）に示すように、一方の電極層１の電極線と、他方の電極層３の電極線との間に存在する。このように電極層１および３とサーミスタ層５とを配置することにより、本実施形態に係る温度センサが得られる。

図２に、本発明の一の実施形態に係る温度センサのもう１つの例を概略的に示す。図２（ａ）は、本実施形態に係る温度センサにおける１対の電極層１１および１３のもう１つの例を示す平面図である。図２（ｂ）は、図２（ａ）の温度センサの直線Ａ−Ａ’に沿った断面図である。図２に示す温度センサは、フレキシブル基材１７の上に、電極層１１、サーミスタ層１５および電極層１３を順に積層したものであり、一方の電極層１１と他方の電極層１３とが、サーミスタ層１５をはさんで配置されるサンドイッチ構造を有し、これにより１対の電極層が互いに対向する。図２（ａ）および（ｂ）において、サーミスタ層１５は、平面視においてその３辺が電極層１１の内側に配置されるように形成され、電極層１３は、平面視においてその３辺がサーミスタ層１５の内側に配置されるように形成されている。尤も、本発明に係る温度センサの構成はかかる構成に限定されるものではなく、一方の電極層１１と他方の電極層１３とが、互いに離間してサーミスタ層１５をはさんで配置される限りにおいて、任意の構成をとることができる。一方の電極層１１と他方の電極層１３とがサーミスタ層をはさんで対向する部分の寸法、即ち当該部分の長辺１１１および短辺１１２の長さは、目的とする用途に応じて適宜設定することができる。

サーミスタ層は、Ｍｎ、ＮｉおよびＦｅを含むスピネル型半導体磁器組成物の粉末と、有機高分子成分とを含む。半導体磁器組成物の粉末において、ＭｎとＮｉとのモル比率は８５／１５≧Ｍｎ／Ｎｉ≧６５／３５であり、かつＭｎおよびＮｉの総モル量を１００モル部としたとき、Ｆｅの含有量は３０モル部以下である。本実施形態における半導体磁器組成物の粉末は、上記組成を有することにより、スピネル構造を有し、かつ異相の存在量が少ない。本実施形態における半導体磁器組成物の粉末において、異相が実質的に存在しないことが好ましい。上述の半導体磁器組成物の粉末は高いＢ定数を有する。そのため、サーミスタ層における半導体磁器組成物の粉末の含有量が少ない場合であっても、Ｂ定数の値が高い温度センサを得ることができる。また、半導体磁器組成物の粉末における異相の存在量が少ないので、Ｂ定数の値のばらつきが小さい温度センサを得ることができる。

半導体磁器組成物の粉末は、Ｃｏ、ＴｉおよびＡｌからなる群から選択される１種以上を更に含むことが好ましい。この場合、ＭｎおよびＮｉの総モル量を１００モル部としたとき、Ｃｏ、ＴｉおよびＡｌの含有量の合計は、２．０モル部以上６０モル部以下であることが好ましい。半導体磁器組成物の粉末がＣｏ、ＴｉおよびＡｌからなる群から選択される１種以上を更に含むことにより、Ｂ定数が大きく、Ｂ定数のばらつきが小さい所望のサーミスタ特性を有する温度センサを得ることができる。半導体磁器組成物の粉末は更に、上述の金属元素に加えて、Ｚｎ（ＺｎＯ等）、Ｃｕ（ＣｕＯ、ＣｕＣＯ_３等）、Ｚｒ（ＺｒＯ_２等）等を含んでもよい。

半導体磁器組成物の粉末の平均粒径は、２μｍ以下であることが好ましい。半導体磁器組成物の粉末の平均粒径が上述の範囲内であると、サーミスタ層内において、半導体磁器組成物の粉末同士のつながりを効率よく形成することができ、導電パス（パーコレーションパス）を効率よく形成することができる。その結果、サーミスタ層における半導体磁器組成物の粉末の含有量が少ない場合であっても、優れたサーミスタ特性を有する温度センサを得ることができる。更に、Ｂ定数のばらつきを小さくすることができる。具体的には、例えば、Ｂ定数が２５００Ｋ以上であり、かつＢ定数のばらつきが±２．５％以内である温度センサを得ることができる。Ｂ定数のばらつきの算出方法については後述する。

また、半導体磁器組成物の粉末の平均粒径が２μｍ以下であると、サーミスタ層における半導体磁器組成物の粉末の含有量を少なくすることができるので、サーミスタ層における有機高分子成分の含有量を増加させることができる。その結果、サーミスタ層のフレキシブル性が向上し、温度センサを屈曲させた場合であっても、サーミスタ層における割れ等の発生を抑制することができ、温度センサとして機能し得る。更に、平均粒径が２μｍ以下であると、サーミスタ層の厚さを小さくすることができ、サーミスタ層のフレキシブル性をより一層向上させることができる。加えて、平均粒径が２μｍ以下であると、サーミスタ層をスクリーン印刷等の印刷手法により形成することが可能である。半導体磁器組成物の粉末の平均粒径は、より好ましくは０．４μｍ以上１．５μｍ以下である。本実施形態における半導体磁器組成物の粉末として、所定の平均粒径を有する１種類の粉末を用いてよく、あるいは、異なる平均粒径を有する２種類以上の粉末を組み合わせて用いてもよい。また、本実施形態における半導体磁器組成物の粉末は、単峰性の粒度分布を有してよく、あるいは２峰性等の多峰性の粒度分布を有してもよい。サーミスタ層中に存在する半導体磁器組成物の平均粒径は、温度センサを切削してサーミスタ層の断面を露出させ、露出面を走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）で観察し、統計解析を行うことにより算出することができる。

本実施形態における半導体磁器組成物の粉末は、後述のように、原料混合物を比較的低温で熱処理することにより得ることができる。そのため、本実施形態における半導体磁器組成物の粉末は、従来の高温焼成により得られる焼結体（例えば特許文献２に記載の焼結体）と比較して、硬度が低い傾向にある。そのため、粉砕により、２μｍ以下の平均粒径を達成することができる。本実施形態における半導体磁器組成物の粉末と、従来の高温焼成により得られる焼結体とは、例えば、ＸＲＤ測定により区別することが可能である。本実施形態における半導体磁器組成物の粉末は、Ｘ線回折パターンの２９°〜３１°付近に極大値を有するピークを有する。このピークは、スピネル型結晶構造の（２２０）面に対応するピークであり、以下、「（２２０）面のピーク」ともよぶ。本実施形態における半導体磁器組成物の粉末における（２２０）面のピークの半値幅は、従来の高温焼成により得られる焼結体における半値幅よりも大きくなる傾向にあり、例えば、０．１５以上であり得る。これに対し、従来の高温焼成により得られる焼結体における（２２０）面のピークの半値幅は、０．１５より小さくなる傾向にある。

半導体磁器組成物の粉末の比表面積は、２ｍ^２／ｇ以上１２ｍ^２／ｇ以下であることが好ましい。比表面積が２ｍ^２／ｇ以上であると、サーミスタ層内において、半導体磁器組成物の粉末同士のつながりを効率よく形成することができ、導電パス（パーコレーションパス）を効率よく形成することができる。その結果、サーミスタ層における半導体磁器組成物の粉末の含有量が少ない場合であっても、優れたサーミスタ特性を有する温度センサを得ることができる。更に、Ｂ定数のばらつきを小さくすることができる。具体的には、例えば、Ｂ定数が２５００Ｋ以上であり、かつＢ定数のばらつきが±２．５％以内である温度センサを得ることができる。比表面積が１２ｍ^２／ｇ以下であると、半導体磁器組成物の粉末をサーミスタ層内において効率よく分散することができ、粗大な凝集物の発生を抑えることができる。サーミスタ層に含まれる半導体磁器組成物の粉末の比表面積は、サーミスタ層中の有機高分子成分を熱処理等により消失させて、残分である半導体磁器組成物の比表面積をガス吸着法により測定することにより求めることができる。

サーミスタ層における半導体磁器組成物の粉末の体積割合（以下、「ＰＶＣ」とも言う）は、３０ｖｏｌ％以上７０ｖｏｌ％以下であることが好ましい。体積割合が３０ｖｏｌ％以上であると、サーミスタ層の内部において半導体磁器組成物の粉末同士が効率よくつながって導電パスが形成されるので、より一層高いＢ定数を有する温度センサを得ることができる。本実施形態において、半導体磁器組成物の粉末の平均粒径が２μｍ以下と小さいことにより、半導体磁器組成物の粉末の体積割合が３０ｖｏｌ％であっても、２５００Ｋ以上のＢ定数を有する温度センサを得ることができる。また、半導体磁器組成物の粉末の体積割合が高いほど、温度センサの抵抗値を低くすることができる。半導体磁器組成物の粉末の体積割合が７０ｖｏｌ％以下であると、サーミスタ層のフレキシブル性をより一層向上させることができる。ＰＶＣの値は、下記式

を用いることにより算出することができる。半導体磁器組成物の粉体および有機高分子成分の体積は、例えば、半導体磁器組成物の粉末および有機高分子成分の比重の値、ならびにサーミスタ層に含まれる半導体磁器組成物の粉体および有機高分子成分の重量の値に基づいて算出することができる。半導体磁器組成物の粉末の比重は、例えば、真比重測定法により測定することができ、有機高分子成分の比重は、例えば、アルキメデス法により測定することができる。

別法として、ＰＶＣの値は、イオンフォーカスビーム（ＦＩＢ）等の方法で温度センサを掘削して、サーミスタ層の断面を露出させ、露出面において半導体磁器組成物の粉末が占める領域と有機高分子が占める領域とに分けて各領域の面積（それぞれ「半導体磁器組成物の面積」および「有機高分子成分の面積」とよぶ）を算出し、下記式

を用いることにより算出することも可能である。

サーミスタ層に含まれる有機高分子成分は、サーミスタ層にフレキシブル性を付与する機能を有する。有機高分子成分は、熱硬化性樹脂を含むことが好ましい。有機高分子成分が熱硬化性樹脂を含むことにより、熱硬化時に有機高分子成分が硬化収縮し、それにより半導体磁器組成物の粉末同士が互いに押し付けられる。これにより、サーミスタ層内における半導体磁器組成物の粉末同士のつながりをより一層効率よく形成することができ、導電パスをより一層効率よく形成することができる。その結果、Ｂ定数のばらつきがより小さい温度センサを得ることができる。また、有機高分子成分が熱硬化性樹脂を含む場合、サーミスタ層において導電パスをより一層効率よく形成することができるので、温度センサの抵抗値を低くすることができる。熱硬化性樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂、エポキシアクリレート樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ウレタン樹脂、シリコーン樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミド樹脂等を用いることができる。熱硬化性樹脂は、上述のいずれか１つを単独で用いてよく、２種類以上を組み合わせて用いてもよい。熱硬化性樹脂は、エポキシ樹脂であることが好ましい。エポキシ樹脂は体積収縮率が比較的大きいので、半導体磁器組成物の粉末同士のつながりをより一層効率よく形成することができ、その結果、Ｂ定数のばらつきがより一層小さい温度センサを得ることができる。

別法として、有機高分子成分は、熱可塑性樹脂を含んでもよい。熱可塑性樹脂としては、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリスチレン、ポリ酢酸ビニル、アクリル、ポリエステル等の熱可塑性樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、フッ素系樹脂、液晶ポリマー、ポリフェニルサルファイド樹脂、ジアリルフタレート樹脂、ポリビニルアルコール樹脂、硬化剤未添加のエポキシ樹脂、硬化剤未添加のフェノキシ樹脂等を用いることができる。熱可塑性樹脂は、上述のいずれか１つを単独で用いてよく、２種類以上を組み合わせて用いてもよい。有機高分子成分が熱可塑性樹脂を含む場合、サーミスタ層のフレキシブル性をより一層向上させることができる。その結果、サーミスタ層における割れ等の発生をより一層効果的に抑制することができる。

有機高分子成分として熱硬化性樹脂を用いた場合、および熱可塑性樹脂を用いた場合のいずれにおいても、２５００Ｋ以上の高いＢ定数を有する温度センサを得ることができる。

有機高分子成分として、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂とを組み合わせて用いてもよい。熱硬化性樹脂に熱可塑性樹脂を組み合わせることで、サーミスタ層のフレキシブル性を向上させることができる。

有機高分子成分は、上述の熱硬化性樹脂または熱可塑性樹脂に加えて、フェノキシ樹脂を更に含むことが好ましい。フェノキシ樹脂は繰り返し単位ｎ＝１００（分子量１０，０００）以上のエポキシ樹脂を指し、可とう性を有し、柔軟であるという特性を有する。そのため、有機高分子成分が熱硬化性樹脂に加えてフェノキシ樹脂を含むことにより、サーミスタ層のフレキシブル性がより一層向上し、サーミスタ層における割れ等の発生をより一層効果的に抑制することができる。サーミスタ層の厚さが大きいほど、サーミスタ層において割れが発生しやすくなる傾向にある。従って、サーミスタ層の厚さが比較的大きい場合、上述のフェノキシ樹脂の添加の効果はより顕著である。有機高分子成分は、例えば、エポキシ樹脂およびフェノキシ樹脂を含むことが好ましい。また、サーミスタ層に柔軟性を付与するために、フェノキシ樹脂に代えて、またはフェノキシ樹脂に加えて、ＣＴＢＮ変性エポキシ樹脂、変性シリコーン樹脂、溶剤に可溶なゴム成分（フッ素ゴム等）などを有機高分子成分に添加してもよい。

有機高分子成分は更に、サーミスタ層に柔軟性を付与する可塑剤として、フタル酸エステル、アジピン酸エステル、脂肪族２塩基酸エステル等を含んでもよい。有機高分子成分は、上述の成分に加えて、半導体磁器組成物の分散性を向上させるための分散剤、サーミスタ層全体の抵抗を下げるための導電性助剤等を含んでもよい。

サーミスタ層の厚さは、２００μｍ以下であることが好ましい。サーミスタ層の厚さが２００μｍ以下であると、割れ等の発生をより一層抑制することができ、優れたフレキシブル性を有することができる。サーミスタ層の厚さは、より好ましくは５μｍ以上５０μｍ以下である。

電極層の組成は、フレキシブル基材との密着性が良好であり、導電性を有するものであれば、特に限定されるものではなく、一般に市販されている銀ペーストおよび銅ペーストを用いて形成することができる。電極層の厚さは、電極層を形成するのに用いる電極層ペーストの組成や、温度センサの用途等に応じて適宜設定することができ、例えば、０．１μｍ以上５０μｍ以下であってよく、好ましくは１０μｍ以上１５μｍ以下である。

本実施形態に係る温度センサは、フレキシブル基材の上に形成されてよい。フレキシブル基材は、後述する電極層ペーストおよびサーミスタ層ペーストとの密着性が良好であり、かつ平滑な表面を有することが好ましい。また、耐熱性が高いことが好ましい。フレキシブル基材としては、例えば、ポリエチレンテレフタラート、ポリエステル、ポリプロピレン、ポリエチレンナフタレート、ポリフェニレンサルファイド、ポリイミド、ポリエチレン、ポリビニルアルコール、ポリカーボネート、ポリスチレン、ポリビニルアセタール、ポリビニルブチラール、アイオノマーフィルム、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリアクリロニトリル、エチレン酢酸ビニル共重合体、エチレンビニルアルコール共重合体、ナイロン等を用いることができる。

次に、本発明の一の実施形態に係る温度センサの製造方法の一例について以下に説明する。尤も、本発明に係る温度センサの製造方法は以下に説明する製造方法に限定されるものではない。温度センサの製造方法は、概略的には、原料混合物を粉砕する工程と、原料混合物を熱処理して半導体磁器組成物を得る工程と、半導体磁器組成物を粉砕して半導体磁器組成物の粉末を得る工程と、半導体磁器組成物の粉末と、有機高分子成分とを含むサーミスタ層ペーストを得る工程と、フレキシブル基材上に電極層ペーストおよびサーミスタ層ペーストを印刷することにより、温度センサを得る工程とを含む。

まず、Ｍｎ源、Ｎｉ源およびＦｅ源の粉末を含む原料混合物を粉砕する。Ｍｎ源として、例えば、Ｍｎ_３Ｏ_４、ＭｎＣＯ_３等を用いてよい。Ｎｉ源として、例えば、ＮｉＯ、ＮｉＣＯ_３等を用いてよい。Ｆｅ源として、例えば、Ｆｅ_２Ｏ_３等を用いてよい。これらの各原料を、ＭｎとＮｉとのモル比率が８５／１５≧Ｍｎ／Ｎｉ≧６５／３５であり、かつＭｎおよびＮｉの総モル量を１００モル部としたとき、Ｆｅの含有量が３０モル部以下であるように秤量して、原料混合物を得る。なお、原料混合物における各元素の組成比は、得られる温度センサのサーミスタ層に含まれる半導体磁器組成物の粉末における各元素の組成と実質的に同一であるとみなして差し支えない。この原料混合物を粉砕する。原料混合物の粉砕方法は特に限定されるものではなく、例えば、ボールミルを用いて、粉砕媒体（例えばジルコニアからなる粉砕媒体）と共に湿式粉砕してよい。

このように粉砕した原料混合物を７００℃以上９００℃以下の温度で熱処理して、半導体磁器組成物を得る。本実施形態に係る方法において、原料混合物を構成する元素の割合を上述のように設計したことにより、１０００℃未満の比較的低い熱処理温度であっても、スピネル構造を有し、Ｂ定数が大きい半導体磁器組成物を得ることができる。更に、上述の熱処理により得られる半導体磁器組成物における異相の存在量が少ないので、得られる温度センサにおけるＢ定数のばらつきを小さくすることができる。熱処理は、大気中で行うことが好ましい。大気中で熱処理を行うことにより、半導体磁器組成物の粒子の成長を抑制することができる。別法として、異相の形成を抑制したいなどの場合には、窒素雰囲気または酸素雰囲気の下で熱処理を行ってもよい。雰囲気を変更して熱処理を行う場合、所望の半導体磁器組成物を得るために、酸素分圧を適宜変更してよい。

上述の半導体磁器組成物を粉砕して、平均粒径が２μｍ以下の半導体磁器組成物の粉末を得る。本実施形態に係る方法において、半導体磁器組成物の熱処理は比較的低温で行われるので、得られる半導体磁器組成物の硬度を低くすることができる。そのため、粉砕による半導体磁器組成物の微粒化が可能であり、平均粒径が２μｍ以下の半導体磁器組成物の粉末を得ることが可能である。半導体磁器組成物の粉砕方法は特に限定されるものではなく、例えば、ボールミル法により湿式粉砕してよく、あるいは乾式粉砕してもよい。また、粉砕の際に、必要に応じて分散剤等の添加物を配合してもよい。粉砕により得られる半導体磁器組成物の粉末は、場合により乾燥させてよい。有機高分子成分等と混合してサーミスタ層ペーストを調製する前の半導体磁器組成物（原料の半導体磁器組成物）の粉末の平均粒径は、レーザー回折・散乱法により求めることができ、メディアン径（Ｄ５０）として表される。なお、原料の半導体磁器組成物の粉末の平均粒径は、完成品の温度センサのサーミスタ層中に存在する半導体磁器組成物の平均粒径と同じであるとみなして差し支えない。

原料の半導体磁器組成物の粉末の比表面積は、２ｍ^２／ｇ以上１２ｍ^２／ｇ以下であることが好ましい。比表面積が２ｍ^２／ｇ以上であると、サーミスタ層内において、半導体磁器組成物の粉末同士のつながりを効率よく形成することができ、導電パス（パーコレーションパス）を効率よく形成することができる。その結果、サーミスタ層における半導体磁器組成物の粉末の含有量が少ない場合であっても、優れたサーミスタ特性を有する温度センサを得ることができる。更に、Ｂ定数のばらつきを小さくすることができる。具体的には、例えば、Ｂ定数が２５００Ｋ以上であり、かつＢ定数のばらつきが±２．５％以内である温度センサを得ることができる。比表面積が１２ｍ^２／ｇ以下であると、半導体磁器組成物の粉末をサーミスタ層内において効率よく分散することができ、粗大な凝集物の発生を抑えることができる。半導体磁器組成物の粉末の比表面積は、ガス吸着法により測定することができる。なお、サーミスタ層ペーストを調製する前の半導体磁器組成物の粉末の比表面積は、完成品の温度センサのサーミスタ層中に存在する半導体磁器組成物の比表面積と同じであるとみなして差し支えない。

また、半導体磁器組成物の粉末の比表面積が２ｍ^２／ｇ以上であると、サーミスタ層における半導体磁器組成物の粉末の含有量を少なくすることができるので、サーミスタ層における有機高分子成分の含有量を増加させることができる。その結果、サーミスタ層のフレキシブル性が向上し、温度センサを屈曲させた場合であっても、サーミスタ層における割れ等の発生を抑制することができ、温度センサとして機能し得る。更に、比表面積が２ｍ^２／ｇ以上であると、サーミスタ層の厚さを小さくすることができ、サーミスタ層のフレキシブル性をより一層向上させることができる。加えて、比表面積が２ｍ^２／ｇ以上であると、サーミスタ層をスクリーン印刷等の印刷手法により形成することが可能である。

このようにして得られた半導体磁器組成物の粉末と、有機高分子成分とを混合して、半導体磁器組成物の粉末と、有機高分子成分とを含むサーミスタ層ペーストを得る。半導体磁器組成物および有機高分子成分の割合は、半導体磁器組成物のＰＶＣが３０％以上７０％以下の範囲となるように設定することが好ましい。サーミスタ層ペーストの混合は、例えば、乳鉢または３本ロールミル等で混錬することにより行ってよい。得られたサーミスタ層ペーストを、ステンレスメッシュ等のふるいに通すことにより、ペーストに含まれ得る凝集物を除去してよい。メッシュの目開きは、除去したい凝集物の大きさに応じて適宜選択することができる。更に、サーミスタ層ペーストに溶剤を添加して撹拌することにより、サーミスタ層ペーストの粘度を印刷に適した粘度に調整してよい。撹拌方法は、サーミスタ層ペーストと溶剤とを一様に撹拌できる方法であれば特に限定されるものではなく、例えば、自転公転式撹拌脱泡機を用いて撹拌してよい。溶剤としては、例えば、エチレングリコール、セロソルブ、カルビトール、ブチルカルビトール、ブチルカルビトールアセテート、ジプロピレングリコールメチルエーテルアセテート等を用いてよい。溶剤の添加量は、所望のサーミスタ層ペーストの粘度に応じて適宜調節することができる。なお、サーミスタ層ペーストにおける半導体磁器組成物の粉末および有機高分子成分の含有比率と、得られる温度センサのサーミスタ層における半導体磁器組成物の粉末および有機高分子成分の含有比率とは、実質的に同一であるとみなして差し支えない。

次いで、フレキシブル基材上に、電極層ペーストおよびサーミスタ層ペーストを所定のパターンに印刷して、サーミスタ層と、１対の電極層と、フレキシブル基材とを含む温度センサを得る。電極層ペーストとして、一般に市販されている銀ペースト（例えばＴＯＹＯＣＨＥＭ社製のＲＥＸＡＬＰＨＡシリーズ等）および銅ペーストを用いることができる。電極層ペーストおよびサーミスタ層ペーストは、スクリーン印刷等の手法を用いて印刷することができる。

電極層ペーストおよびサーミスタ層ペーストの印刷厚さは、形成すべき電極層およびサーミスタ層の厚さに応じて適宜設定することができる。電極層ペーストの印刷厚さは、例えば、熱処理後の電極層の厚さが１μｍ以上５０μｍ以下となるように設定してよい。サーミスタ層ペーストの印刷厚さは、例えば、熱処理後のサーミスタ層の厚さが２００μｍ以下、より好ましくは５μｍ以上５０μｍ以下となるように設定してよい。

フレキシブル基材上に電極層ペーストおよびサーミスタ層ペーストを印刷した後に、熱処理を行うことが好ましい。熱処理を行うことにより、電極層ペーストおよびサーミスタ層ペーストに含まれる溶剤等を除去することができる。但し、電極層ペーストおよびサーミスタ層ペーストに含まれる溶剤は、印刷後のペーストを室温で放置して乾燥させることによっても除去することが可能である。また、サーミスタ層ペーストに含まれる有機高分子成分が熱硬化性樹脂である場合、熱処理を行うことにより熱硬化性樹脂を硬化することができる。また、熱硬化性樹脂を含む電極層ペーストを用いる場合、熱処理を行うことにより電極層ペーストに含まれる熱硬化性樹脂を硬化することができる。

熱処理は、いずれか一方のペーストを印刷する毎に行うことが好ましい。例えば、図１に示す構造の温度センサを製造する場合、電極層ペーストを図１（ａ）に示す電極層１および３に対応するパターンに印刷して、１回目の熱処理を行った後、サーミスタ層ペーストを図１（ｂ）に示すサーミスタ層５に対応するパターンに印刷して、２回目の熱処理を行うことにより、サーミスタ層および１対の電極層を形成することができる。また、図２に示す構造の温度センサを製造する場合、電極層ペーストを一方の電極層１１に対応するパターンに印刷して、１回目の熱処理を行い、次いで、サーミスタ層ペーストをサーミスタ層１５に対応するパターンに印刷して、２回目の熱処理を行い、その後、電極層ペーストを他方の電極層１３に対応するパターンに印刷して、３回目の熱処理を行うことにより、サーミスタ層および１対の電極層を形成することができる。別法として、熱処理は、電極層ペーストおよびサーミスタ層の両方を印刷した後に行ってもよい。このような熱処理方法により、工数を少なくすることができる。

上述の熱処理は、例えば熱風式オーブンにおいて行ってよい。熱処理条件は、使用する電極層ペーストおよびサーミスタ層ペーストの組成に応じて適宜設定することができる。例えば、サーミスタ層ペーストを印刷した後の熱処理は、サーミスタ層が十分に固定化される温度で行えばよい。また、サーミスタ層に含まれる有機高分子成分が熱硬化性樹脂である場合、熱硬化性樹脂の硬化温度以上で熱処理することが好ましい。また、各々の熱処理において、比較的低温で電極層ペーストおよび／またはサーミスタ層ペーストの乾燥を行った後、乾燥温度よりも高い温度で更に加熱を行ってよい。

このようにして、本実施形態に係る温度センサが得られる。上述の方法により調製される半導体磁器組成物の粉末は、スピネル構造を有し、未反応物の含有量が少なく、かつ異相の存在量が少なく、好ましくは実質的に存在しない。そのため、このような半導体磁器組成物の粉末を用いて作製された本実施形態に係る温度センサは、高いＢ定数を有し、可とう性に優れている。更に、上述の方法により作製された温度センサは、Ｂ定数のばらつきが小さいという利点を有する。Ｂ定数のばらつきは、好ましくは±２．５％以内である。

以下に説明する手順で例１〜３４の温度センサを作製した。まず、セラミック素原料として、Ｍｎ_３Ｏ_４、Ｆｅ_２Ｏ_３、ＮｉＯ、Ｃｏ_３Ｏ_４、Ａｌ_２Ｏ_３およびＴｉＯ_２の各粉末を用意し、これらの粉末を、表１および２に示すような組成となるように秤量して、原料混合物を得た。表１において、「Ｍｎ」および「Ｎｉ」の各欄には、Ｍｎ_３Ｏ_４およびＮｉＯをそれぞれＭｎおよびＮｉに換算したときの、ＭｎおよびＮｉの総モル量に対する、Ｍｎのモル量の百分率およびＮｉのモル量の百分率それぞれ示し、「Ｆｅ」、「Ｃｏ」、「Ａｌ」および「Ｔｉ」の欄には、Ｍｎ_３Ｏ_４（Ｍｎ換算）およびＮｉＯ（Ｎｉ換算）の総モル量を１００モル部としたときの、Ｆｅ_２Ｏ_３含有量（Ｆｅ換算）、Ｃｏ_３Ｏ_４含有量（Ｃｏ換算）、Ａｌ_２Ｏ_３含有量（Ａｌ換算）およびＴｉＯ_２含有量（Ｔｉ換算）のモル部を示す。なお、表中の「＊」は比較例を示す。

次いで、上述の原料混合物をボールミルに投入して、ジルコニアからなる粉砕媒体と共に十分に湿式粉砕した。粉砕した原料混合物を、７３０℃の温度で２時間熱処理して、半導体磁器組成物を得た。

得られた半導体磁器組成物、純水、および直径２ｍｍの玉石を１Ｌポリポットに投入し、ボールミル法により１１０ｒｐｍにて４時間粉砕した。粉砕後のスラリーと玉石とをメッシュで分離し、スラリーをホットプレート上に流し込んで水分を除去した。更にメッシュに通して粗粒を除去し、凝集体を解砕して整粒を行った。次いで、８０℃の温度で２４時間乾燥させて、半導体磁器組成物の粉末を得た。例１〜１７における半導体磁器組成物の粉末についてＸＲＤ測定を行った。各例について、スピネル構造に起因する約３５°付近のＸＲＤピーク（スピネルピーク）、未反応のＮｉＯ（異相）に起因する約４４°付近のＸＲＤピーク（ＮｉＯピーク）、および未反応のＭｎ_２Ｏ_３（異相）に起因する約３８°付近のＸＲＤピーク（Ｍｎ_２Ｏ_３ピーク）のピーク強度を求め、スピネルピークに対するＮｉＯピークのＸＲＤピーク比と、スピネルピークに対するＭｎ_２Ｏ_３ピークのＸＲＤピーク比とを求めた。結果を表１に示す。なお、表中のＸＲＤピーク比の欄において、「−」は異相のピークが検出されなかった、もしくは、他のピークと重なっていることを意味する。

更に、例２０、２４、２８および３２の半導体磁器組成物の粉末についてもＸＲＤ測定を行った。各例について、スピネル型結晶構造の（２２０）面に対応する２９°〜３１°付近のピーク（（２２０面）のピーク）の半値幅を求めた。結果を表２に示す。また、比較のため、例２４、２８および３２と同様の組成となるように調製した原料混合物を湿式粉砕し、１０００℃〜１３００℃で焼成して焼結体を得た。これらの焼結体をそれぞれ、「例２４の焼結体」、「例２８の焼結体」および「例３２の焼結体」とよぶ。例２４、２８および３２の焼結体についてＸＲＤ測定を行い、（２２０）面のピークの半値幅を求めた。結果を表２に示す。表２に示すように、７３０℃で熱処理することにより得られた例２０、２４、２８および３２の半導体磁器組成物において、（２２０）面のピークの半値幅は０．１５より大きい値であった。これに対し、１０００℃〜１３００℃の高温で焼成することにより得られた例２４、２８および３２の焼結体においては、（２２０）面のピークの半値幅は０．１５より小さい値であった。

得られた半導体磁器組成物の粉末と、有機高分子成分（エポキシ樹脂およびフェノキシ樹脂）と、溶剤とを乳鉢で混錬し、サーミスタ層ペーストを得た。溶剤として、ＤＰＭＡ（ジプロピレングリコールメチルエーテルアセテート）を用いた。サーミスタ層ペーストにおける半導体磁器組成物の粉末および有機高分子成分の割合は、半導体磁器組成物の粉末のＰＶＣが３０％以上７０％以下の範囲になるように調節した。エポキシ樹脂およびフェノキシ樹脂の含有量は、４７：５３の重量比となるように調節した。溶剤は、半導体磁器組成物の粉末および有機高分子成分の合計重量の約２５ｗｔ％の量を添加した。

電極層ペーストおよびサーミスタ層ペーストをスクリーン印刷法によりフレキシブル基材上に印刷し、熱処理して、図２に示すようなサンドイッチ構造を有する温度センサを形成した。電極層ペーストとして市販の銀ペースト（ＴＯＹＯＣＨＥＭ社製のＲＥＸＡＬＰＨＡシリーズ）を用い、フレキシブル基材として、ＰＥＴフィルムを用いた。まず、上述の銀粒子を含む電極層ペーストを、一方の電極層１１に対応するパターンに印刷して、大気雰囲気下で１３０℃にて３０分間熱処理を行った。次いで、サーミスタ層ペーストをサーミスタ層１５に対応するパターンに印刷して、大気雰囲気下で１５０℃にて１時間熱処理を行った。その上に、電極層ペーストを他方の電極層１３に対応するパターンに印刷して、大気雰囲気下で１３０℃にて３０分間熱処理を行った。このようにして、例１〜３４の温度センサを得た。

温度がそれぞれ２５℃および５０℃のフロリナート（登録商標）で満たした液槽を準備し、温度センサをそれぞれの液槽に浸漬して抵抗測定を行った。また、２５℃および５０℃における抵抗値に基づいてＢ定数を算出した。結果を下記の表１および２に示す。なお、表中の比抵抗値は２５℃における比抵抗値ρ（Ω・ｃｍ）の対数ｌｏｇρを示す。

例１〜１７の各々について、１５０ｍｍ^２のＰＥＴフィルム１枚につき５個のサーミスタを形成し、計３枚のフィルム、即ち１５個の温度センサを準備した。各温度センサのＢ定数を測定し、各例について平均値を求めた。各例について、算出した平均値を用いて下記式

によりＭＡＸ（％）およびＭＩＮ（％）を算出し、（ＭＡＸ（％）＋ＭＩＮ（％））の値をＢ定数のばらつきと定義した。Ｂ定数のばらつきの計算結果を表１に示す。

表１に示す例１〜６の結果より、半導体磁器組成物中のＭｎとＮｉとのモル比率Ｍｎ／Ｎｉが８５／１５より大きいと、Ｂ定数のばらつきが大きくなり、比抵抗の値が大きくなったことがわかる。これは、半導体磁器組成物中に未反応のＭｎ_２Ｏ_３が析出していることが原因であると考えられる。また、例１２〜１７の結果より、ＭｎとＮｉとのモル比率Ｍｎ／Ｎｉが６５／３５より小さいと、Ｂ定数のばらつきが大きくなったことがわかる。これは、半導体磁器組成物中に未反応のＮｉＯが析出していることが原因であると考えられる。更に、例７〜１１の結果より、半導体磁器組成物中のＦｅの含有量が高いほど、比抵抗値が高くなる傾向にあり、ＭｎおよびＮｉの総モル量を１００モル部としたときのＦｅの含有量が３０モル部を超えると、その傾向が特に顕著であることがわかった。

表２より、半導体磁器組成物にＣｏ、ＡｌまたはＴｉを添加した場合においても、高いＢ定数を有する温度センサが得られたことが確認された。

次に、例２４における半導体磁器組成物と同様の組成を有する半導体磁器組成物、純水、および直径２ｍｍの玉石を１Ｌポリポットに投入し、ボールミル法により１１０ｒｐｍにて粉砕した。粉砕時間は、４〜１２時間の間で変化させた。粉砕後のスラリーと玉石とをメッシュで分離し、スラリーをホットプレート上に流し込んで水分を除去した。更にメッシュに通して粗粒を除去し、凝集体を解砕して整粒を行った。次いで、８０℃の温度で２４時間乾燥させて、半導体磁器組成物の粉末を得た。半導体磁器組成物の粉末の粒度分布を、堀場製作所製のレーザー回折／散乱式粒子径分布測定装置ＬＡ−９６０を用いて、レーザー回折法により測定した。結果を図３に示す。図３より、粉砕時間を長くする事により半導体磁器組成物の粉末の粒径を小さくすることができ、２μｍ以下の平均粒径を達成できたことがわかる。

例２０、２４および２８の半導体磁器組成物の粉末について、比表面積をガス吸着法により測定した。測定の結果、例２０の半導体磁器組成物の粉末の比表面積は４．９５ｍ^２／ｇ、例２４の半導体磁器組成物の粉末の比表面積は、６．１０ｍ^２／ｇ、例２８の半導体磁器組成物の粉末の比表面積は１０．３５ｍ^２／ｇであった。いずれの半導体磁器組成物の粉末についても、比表面積が２〜１２ｍ^２／ｇであったことが確認された。

例２８と同じ組成を有する半導体磁器組成物を用いて、上述の方法でサンドイッチ型の温度センサを作製した。サーミスタ層における半導体磁器組成物の粉末のＰＶＣを３０〜５０ｖｏｌ％の間で変化させた。これらの温度センサについて、上述の方法で抵抗値測定を行い、Ｂ定数を求めた。結果を図４に示す。図４より、ＰＶＣが３０ｖｏｌ％以上５０ｖｏｌ％以下の範囲において、３３００Ｋ以上の高いＢ定数を有する温度センサが得られたことが確認された。

例２０、２４および２８の半導体磁器組成物の粉末を用いて、図１に示すような櫛型の電極層を有する温度センサを作製した。まず、銀粒子を含む電極層ペーストを、スクリーン印刷法によりフレキシブル基材上に印刷し、大気雰囲気下で１３０℃にて３０分間熱処理して、図１（ａ）に示すような櫛型の電極層を形成した。電極層ペーストとして、市販の銀ペースト（ＴＯＹＯＣＨＥＭ社製のＲＥＸＡＬＰＨＡシリーズ）を用い、フレキシブル基材として、ＰＥＴフィルムを用いた。熱処理後の電極層の厚さは約１０μｍ、電極層の長辺の長さは２．５ｍｍ、短辺の長さは１．５ｍｍ、電極線の幅は５０μｍ、電極線間の間隔は５０μｍであった。

上述の櫛型の電極層の上に、サーミスタ層をスクリーン印刷法により印刷し、大気雰囲気下で８０℃にて１０分間乾燥させた後、１５０℃にて１時間熱処理して、図１（ｂ）に示すようなサーミスタ層を形成した。熱処理後のサーミスタ層の厚さは約１５μｍであった。このようにして、櫛型の電極層を有する温度センサが得られた。

上述の３種類の温度センサについて、上述した方法と同様の手順で抵抗測定を行い、２５℃および５０℃における抵抗値に基づいてＢ定数を算出した。結果を表３に示す。表３においては、櫛型の電極層を有する温度センサに関する試験結果に加えて、上述のサンドイッチ構造を有する温度センサのＢ定数を併せて示している。表３より、櫛型の電極層を有する温度センサが、サンドイッチ構造を有する温度センサと同様に、高いＢ定数を達成することができたことがわかる。

例２８と同じ組成を有する半導体磁器組成物の粉末を用いて、サンドイッチ構造を有する例３５〜３９の温度センサを上述の方法で作製した。電極層が対向している部分の寸法（図２（ａ）に示す長辺１１１および短辺１１２の寸法）は、表４に示す値に設定した。各例について、温度センサの総厚さは約２６μｍに設定した。

これらの温度センサについて、フレキシブル性の確認を行った。まず、温度センサを形成したフレキシブル基材を平面状にした状態で、温度センサの抵抗値を測定した。次いで、φ８ｍｍの鉛筆にフレキシブル基材を巻き付けて温度センサが巻かれた状態で、温度センサの抵抗値を測定した。次いで、フレキシブル基材を再度平面状にした状態で、温度センサの抵抗値を測定した。このように、平面状態および巻かれた状態を３回ずつ繰り返し、各状態における温度センサの抵抗値を測定した。抵抗値は全て２５℃で測定した。結果を図５に示す。図５より、例３５〜３９のいずれの温度センサにおいても、巻かれた状態を繰り返した場合に抵抗値がほとんど変化せず、良好なフレキシブル性を示したことが確認された。

例２８と同じ組成を有する半導体磁器組成物の粉末を用いて、櫛型構造を有する例４０〜５２の温度センサを、上述した方法と同様の手順で作製した。各例において、サーミスタ層ペーストの熱処理は、表５に示す条件の下で行った。有機高分子成分として、表５に示す樹脂を用いた。半導体磁器組成物の粉末の体積割合（ＰＶＣ）は４６ｖｏｌ％に設定した。得られた例４０〜５２の温度センサについて、上述した方法と同様の手順で抵抗測定を行い、２５℃および５０℃における抵抗値に基づいてＢ定数を算出した。結果を表５に示す。

表５に示すように、有機高分子成分としていずれの樹脂を用いた場合であっても、３０００Ｋ以上の高いＢ定数を有する温度センサが得られた。

本発明に係る温度センサは、高いＢ定数を有し、可とう性に優れているので、小型かつ高性能の温度センサが必要とされる電子機器に適用することができる。

１ 電極層
３ 電極層
１０１ 電極層の長辺
１０２ 電極層の短辺
５ サーミスタ層
７ フレキシブル基材
Ｌ 電極線の幅
Ｓ 電極線間の間隔
１１ 電極層
１３ 電極層
１１１ 電極層の長辺
１１２ 電極層の短辺
１５ サーミスタ層
１７ フレキシブル基材

Claims (10)

1. Ｍｎ、ＮｉおよびＦｅを含むスピネル型半導体磁器組成物の粉末と、有機高分子成分とを含むサーミスタ層と、
   １対の電極層と、
   フレキシブル基材と
   を含む温度センサであって、
   前記サーミスタ層および前記１対の電極層は、前記フレキシブル基材の一方主面側に形成されており、
   前記半導体磁器組成物の粉末において、ＭｎとＮｉとのモル比率が８５／１５≧Ｍｎ／Ｎｉ≧６５／３５であり、かつＭｎおよびＮｉの総モル量を１００モル部としたとき、Ｆｅの含有量が３０モル部以下であり、
   前記半導体磁器組成物の粉末は、Ｘ線回折パターンの２９°〜３１°付近に極大値を有するピークを有し、該ピークの半値幅は０．１５以上であり、
   前記半導体磁器組成物の粉末の平均粒径が２μｍ以下であり、
   前記サーミスタ層における前記半導体磁器組成物の粉末の体積割合が３０ｖｏｌ％以上７０ｖｏｌ％以下であり、
   前記サーミスタ層の厚さが２００μｍ以下である、温度センサ。
2. 前記半導体磁器組成物の粉末がＣｏ、ＴｉおよびＡｌからなる群から選択される１種以上を更に含み、
   ＭｎおよびＮｉの総モル量を１００モル部としたとき、Ｃｏ、ＴｉおよびＡｌの含有量の合計が２．０モル部以上６０モル部以下である、請求項１に記載の温度センサ。
3. 前記半導体磁器組成物の粉末の比表面積が２ｍ^２／ｇ以上１２ｍ^２／ｇ以下である、請求項１または２に記載の温度センサ。
4. 前記有機高分子成分が、熱硬化性樹脂を含む、請求項１〜３のいずれか１項に記載の温度センサ。
5. 前記熱硬化性樹脂がエポキシ樹脂、エポキシアクリレート樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ウレタン樹脂、シリコーン樹脂、ポリアミド樹脂およびポリイミド樹脂からなる群から選択される１以上の樹脂である、請求項４に記載の温度センサ。
6. 前記有機高分子成分が、熱可塑性樹脂を含む、請求項１〜５のいずれか１項に記載の温度センサ。
7. 前記熱可塑性樹脂が、ポリビニルブチラール樹脂、硬化剤未添加のエポキシ樹脂、硬化剤未添加のフェノキシ樹脂、ポリエステルおよびポリ酢酸ビニルからなる群から選択される１以上の樹脂である、請求項６に記載の温度センサ。
8. 前記有機高分子成分が、フェノキシ樹脂を更に含む、請求項４または５に記載の温度センサ。
9. Ｍｎ源、Ｎｉ源およびＦｅ源の粉末を含む原料混合物であって、ＭｎとＮｉとのモル比率が８５／１５≧Ｍｎ／Ｎｉ≧６５／３５であり、かつＭｎおよびＮｉの総モル量を１００モル部としたとき、Ｆｅの含有量が３０モル部以下である原料混合物を粉砕する工程と、
   粉砕した原料混合物を７００℃以上９００℃以下の温度で熱処理して、半導体磁器組成物を得る工程と、
   前記半導体磁器組成物を粉砕して、平均粒径が２μｍ以下の半導体磁器組成物の粉末を得る工程と、
   前記半導体磁器組成物の粉末と、有機高分子成分とを含むサーミスタ層ペーストを得る工程と、
   フレキシブル基材の一方主面側に、電極層ペーストおよび前記サーミスタ層ペーストを印刷して、サーミスタ層と、１対の電極層と、フレキシブル基材とを含む温度センサを得る工程と
   を含み、
   前記サーミスタ層における前記半導体磁器組成物の粉末の体積割合が３０ｖｏｌ％以上７０ｖｏｌ％以下であり、
   前記サーミスタ層の厚さが２００μｍ以下である、温度センサの製造方法。
10. 前記フレキシブル基材の一方主面側に前記電極層ペーストおよび前記サーミスタ層ペーストを印刷した後に熱処理を行う、請求項９に記載の方法。

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