JP6575391B2 - 電力変換装置 - Google Patents
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Description
該半導体モジュールに接続し、上記半導体素子のスイッチング動作を制御する制御部(4)と、
冷媒(50)が流れる流路(51)を有し、上記半導体素子を冷却する冷却器(5)と、
上記冷媒の温度である冷媒温度(Tr)を測定する温度センサ(6)とを備え、
該温度センサは、上記流路における、上記半導体モジュールが上記冷却器に接触した位置よりも上流側の上記冷媒温度を測定するよう構成されており、
上記制御部は、上記冷媒温度の測定値に基づいて上記半導体素子のオフ速度を制御しており、上記冷媒温度が上昇するほど、上記オフ速度を速くするよう構成されている、電力変換装置(1)にある。
そのため、素子温度が上限値を超えることを抑制でき、かつ、製造コストを低減することができる。すなわち、上記制御部は、冷媒温度が高いときには、オフ速度を速くする。そのため、冷媒温度が高く、半導体素子を冷却しにくいときには、半導体素子の発熱量を低減させることができる。したがって、素子温度が上限値を超えることを抑制しやすい。そのため、半導体素子の面積を小さくし、単位面積当たりの発熱量を増加させても、素子温度が上限値を超えにくくなる。したがって、半導体素子を小型化でき、製造コストを低減することが可能になる。
なお、特許請求の範囲及び課題を解決する手段に記載した括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものであり、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
上記電力変換装置に係る実施形態について、図1〜図16を用いて説明する。図10〜図12に示すごとく、本形態の電力変換装置1は、半導体素子2を内蔵した半導体モジュール3と、制御部4と、冷却器5と、温度センサ6とを備える。
Ts=Tr+ΔT ・・・(1)
である。また、温度上昇量ΔTは、損失Pに半導体素子2の熱抵抗θを乗じた値である。すなわち、ΔT=Pθである。従って、上記式(1)は、
Ts=Tr+Pθ ・・・(2)
と書き換えることができる。
そのため、素子温度Tsが上限値Tu(図6参照)を超えることを抑制でき、かつ、製造コストを低減することができる。すなわち、本形態の制御部4は、図4、図5に示すごとく、冷媒温度Trが高いとき(時刻t0〜t1の間)には、オフ速度を速くする。そのため、冷媒温度Trが高く、半導体素子2を冷却しにくいときには、半導体素子2の損失Pを低減させることができる。したがって、図6に示すごとく、素子温度Tsが上限値Tuを超えることを抑制しやすい。そのため、半導体素子2の面積を小さくし、単位面積当たりの発熱量を増加させても、素子温度Tsが上限値Tuを超えにくくなる。したがって、半導体素子2を小型化でき、製造コストを低減することが可能になる。
後述するように、冷媒温度Trが上昇するに伴って、オフ速度を連続的に速くすることも可能であるが、この場合、回路構成が複雑になりやすい。そのため、本形態のように、オフ速度を段階的に速くすれば、制御部4の回路構成を簡素にすることができ、電力変換装置1の製造コストを低減することができる。
そのため、オフ速度を、第1オフ速度又は第2オフ速度に容易に切り替えることができる。
本形態は、制御部4の回路構成を変更した例である。図17に示すごとく、本形態の制御部4は、半導体素子2の制御電極21とグランドとの間に接続した定電流回路47を備える。定電流回路47は、制御電極21からグランドに流れる電流Igの値を一定に制御すると共に、その電流値を予め定められた値に変更可能に構成されている。制御部4は、定電流回路47によって電流Igの値を変更することにより、半導体素子2のオフ速度を制御するよう構成されている。
その他、実施形態1と同様の構成および作用効果を備える。
本形態は、オフ速度を変更する回数を変更した例である。本形態では図18に示すごとく、冷媒温度Trが上昇するに伴って、オフ速度を、複数回、段階的に上昇するよう構成してある。そのため、図19に示すごとく、冷媒温度Trが上昇するに伴って、半導体素子2の損失は、複数回、段階的に低下する。
その他、実施形態1と同様の構成および作用効果を備える。
本形態は、冷媒温度Trに対する、オフ速度の変化の仕方を変更した例である。本形態では図20に示すごとく、冷媒温度Trが上昇するに伴って、オフ速度を連続的に速くするよう構成してある。そのため、図21に示すごとく、冷媒温度Trが上昇するに伴って、半導体素子2の損失は、連続的に低下する。
その他、実施形態1と同様の構成および作用効果を備える。
2 半導体素子
3 半導体モジュール
4 制御部
5 冷却器
50 冷媒
51 流路
6 温度センサ
Tr 冷媒温度
Claims (5)
- 半導体素子(2)を内蔵した半導体モジュール(3)と、
該半導体モジュールに接続し、上記半導体素子のスイッチング動作を制御する制御部(4)と、
冷媒(50)が流れる流路(51)を有し、上記半導体素子を冷却する冷却器(5)と、
上記冷媒の温度である冷媒温度(Tr)を測定する温度センサ(6)とを備え、
該温度センサは、上記流路における、上記半導体モジュールが上記冷却器に接触した位置よりも上流側の上記冷媒温度を測定するよう構成されており、
上記制御部は、上記冷媒温度の測定値に基づいて上記半導体素子のオフ速度を制御しており、上記冷媒温度が上昇するほど、上記オフ速度を速くするよう構成されている、電力変換装置(1)。 - 上記制御部は、上記冷媒温度が上昇するに伴って、上記オフ速度を段階的に速くするよう構成されている、請求項1に記載の電力変換装置。
- 上記制御部は、上記半導体素子の制御電極(21)とグランドとの間に接続した可変抵抗器(48)を備え、該可変抵抗器の抵抗値を変えることにより、上記オフ速度を制御するよう構成されている、請求項1又は請求項2に記載の電力変換装置。
- 上記制御部は、上記半導体素子の制御電極とグランドとの間に接続し、上記制御電極からグランドに流れる電流の値を一定に制御すると共に、その電流値を予め定められた値に変更可能な定電流回路(47)を備え、該定電流回路によって上記電流値を変更することにより、上記オフ速度を制御するよう構成されている、請求項1又は請求項2に記載の電力変換装置。
- 上記制御部は、上記冷媒温度が上昇するに伴って、上記オフ速度を連続的に速くするよう構成されている、請求項1に記載の電力変換装置。
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