JP6537787B2 - タイヤ試験器、タイヤ試験設備、及び、タイヤ試験方法 - Google Patents
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Description
更なる有利な一発展形態は、タイヤのトレッド内側面を試験するための1つ若しくは複数若しくは全ての測定ヘッド、及び/又は、タイヤの外側側面を試験するための1つ若しくは複数若しくは全ての測定ヘッドが径方向に移動可能であることを特徴とする。
Claims (24)
- タイヤを光学的に試験するためのタイヤ試験器であり、
試験しようとする前記タイヤのための搭載面を有する筐体と、
それぞれ1つの測定光学系を備え、前記タイヤのトレッド内側面を試験するために撮像する垂直に移動可能な複数の測定ヘッドと、
前記測定ヘッドを垂直に移動させて静止位置及び該静止位置とは異なる測定位置において位置決めするための位置決め装置とを備えるタイヤ試験器において、
前記測定ヘッド及び前記搭載面が回転しないように配置されていることを特徴とするタイヤ試験器。 - 請求項1に記載のタイヤ試験器において、
タイヤの干渉計測による試験のために構成され、且つ、前記筐体は、圧力室として構成されていることを特徴とするタイヤ試験器。 - 請求項1又は2に記載のタイヤ試験器において
さらに、前記タイヤの外側側面を試験するための垂直に移動可能な測定ヘッドを備えていることを特徴とするタイヤ試験器。 - 請求項1〜3のいずれか1項に記載のタイヤ試験器において、
1つ若しくは複数若しくは全ての前記測定ヘッドは、径方向に移動可能であることを特徴とするタイヤ試験器。 - 請求項1〜4のいずれか1項に記載のタイヤ試験器において、
1つ又は複数又は全ての前記測定ヘッドの前記測定光学系の画角(α)は、調整可能であることを特徴とするタイヤ試験器。 - 請求項1〜5のいずれか1項に記載のタイヤ試験器において、
前記タイヤの前記トレッド内側面を試験するための前記測定ヘッドは、前記トレッド内側面の一部を試験し、又は、
前記タイヤの前記トレッド内側面を試験するための前記測定ヘッドは、前記トレッド内側面の全体を試験することを特徴とするタイヤ試験器。 - 請求項1〜6のいずれか1項に記載のタイヤ試験器において、
前記タイヤの直径及び/又は高さを検出するための装置及び/又は記憶するための記憶装置を備えていることを特徴とするタイヤ試験器。 - 請求項7に記載のタイヤ試験器において、
前記タイヤの直径及び/又は高さに応じて、1つ又は複数又は全ての測定ヘッドを、予備位置決め及び/又は実位置決めするための装置を備えていることを特徴とするタイヤ試験器。 - 請求項1〜8に記載のタイヤ試験器において、
前記タイヤの輪郭を検出及び/又は表示及び/又は評価するための装置を備えていることを特徴とするタイヤ試験器。 - 請求項9に記載のタイヤ試験器において、
前記輪郭の内側の画像を評価するための装置を備えていることを特徴とするタイヤ試験器。 - 請求項1〜10のいずれか1項に記載のタイヤ試験器と、
タイヤ転換器とを備えるタイヤ試験設備。 - 請求項11に記載のタイヤ試験設備において、
前記タイヤ転換器は前記タイヤを反転させることを特徴とするタイヤ試験設備 - 請求項11又は12に記載のタイヤ試験設備において、
請求項1〜10のいずれか1項に記載の第2のタイヤ試験器を備えていることを特徴とするタイヤ試験設備。 - 請求項1〜10のいずれか1項に記載のタイヤ試験器を用いて、前記タイヤを複数の測定ヘッドにより試験する、筐体におけるタイヤの光学試験方法において、
前記測定ヘッド及び前記タイヤは、互いに対して回転動作を行わないことを特徴とする方法。 - 請求項14に記載の方法において、
前記タイヤの前記トレッド内側面を試験するための前記測定ヘッドは、前記トレッド内側面の一部、又は、前記トレッド内側面の全体を試験することを特徴とする方法。 - 請求項14又は15に記載の方法において、
前記タイヤを第1の試験回において試験し、転換し、第2の試験回において試験することを特徴とする方法。 - 請求項14〜16のいずれか1項に記載の方法において、
第1の試験回において前記タイヤの前記トレッド内側面の半分を試験し、
前記タイヤを反転し、
第2の試験回において前記タイヤの前記トレッド内側面の他の半分を試験することを特徴とする方法。 - 試験しようとするタイヤのための搭載面を有する筐体と、それぞれ1つの測定光学系を備え、前記タイヤのトレッド内側面及び/又は外側側面を試験するために撮像する複数の測定ヘッドと、いくつかの又は全ての測定ヘッドを静止位置及び測定位置において位置決めするための位置決め装置とを備え、前記測定ヘッド及び前記搭載面が回転しないように配置されているタイヤ試験器を用いて、前記タイヤを試験する、筐体におけるタイヤの光学試験方法において、
第1の試験回において前記タイヤの前記トレッド内側面の半分を試験し、
前記タイヤを反転し、
第2の試験回において前記タイヤの前記トレッド内側面の他の半分を試験し、
前記測定ヘッド及び前記タイヤは、互いに対して回転動作を行わないことを特徴とする方法。 - 請求項16〜18のいずれか1項に記載の方法において、
第1のタイヤが転換されている間に、第2のタイヤを第1の試験回において試験することを特徴とする方法。 - 請求項14〜19のいずれか1項に記載の方法において、
前記タイヤを圧力室において干渉計測により試験することを特徴とする方法。 - 請求項14〜20のいずれか1項に記載の方法において、
1つ若しくは複数若しくは全ての前記測定ヘッドを、垂直方向に移動させることを特徴とする方法。 - 請求項14〜21のいずれか1項に記載の方法において、
1つ若しくは複数若しくは全ての前記測定ヘッドを、径方向に移動させることを特徴とする方法。 - 請求項14〜22のいずれか1項に記載の方法において、
1つ又は複数又は全ての測定ヘッドを、前記タイヤの直径及び/又は高さに応じて、予備位置決め及び/又は実位置決めすることを特徴とする方法。 - 請求項14〜23のいずれか1項に記載の方法において、
得られた画像のうち、前記タイヤの輪郭の内側にある画素だけを評価することを特徴とする方法。
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